JPH1133742A - 溶接装置の検査装置 - Google Patents

溶接装置の検査装置

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JPH1133742A
JPH1133742A JP9194305A JP19430597A JPH1133742A JP H1133742 A JPH1133742 A JP H1133742A JP 9194305 A JP9194305 A JP 9194305A JP 19430597 A JP19430597 A JP 19430597A JP H1133742 A JPH1133742 A JP H1133742A
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output
input
waveform
welding
inverter
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JP9194305A
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Toshio Ozaki
利夫 尾崎
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Honda Motor Co Ltd
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K11/00Resistance welding; Severing by resistance heating
    • B23K11/24Electric supply or control circuits therefor
    • B23K11/241Electric supplies
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K11/00Resistance welding; Severing by resistance heating
    • B23K11/24Electric supply or control circuits therefor
    • B23K11/25Monitoring devices
    • B23K11/252Monitoring devices using digital means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 溶接制御装置の指示に基づいてインバータが
出力する電力を溶接トランスを介して溶接ガンに供給し
て溶接を行う溶接装置Wの検査装置において、インバー
タ及び溶接制御装置の異常の有無を個別に判定する。 【解決手段】 インバータ2の出力波形Aの正、負成分
a、bを受けて波形B、Cを出力する第1入出力部12
と、溶接制御装置1の出力波形a′、b′を受けてイン
バータの出力時と同様の波形B、Cを出力する第2入出
力部14と、第1、第2入出力部12、14の作動を択
一的に選択する手段12a,14aと、両入出力部1
2、14の出力波形B、Bが入力される第1OR回路1
5と、両入出力部の出力波形C、Cが入力される第2O
R回路16と、第1、第2OR回路15、16の出力波
形D、Eが入力される第3OR回路19と、所定時間内
で第3OR回路19の出力波形Hの数を所定値と比較す
る手段23とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、溶接制御装置の指
示に基づいてインバータが出力する電力を溶接トランス
を介して溶接ガンに供給して溶接を行う溶接装置が正常
に機能し得るか否かを判定する、溶接装置の検査装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、かゝる溶接装置が平常に機能して
いるか否かを判定するために、溶接中、溶接トランスの
1次側又は2次側の電流、電圧が規定値通りのものか否
かを測定することが知られている(例えば特開平5−1
77362号公報参照)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな検査手段では、それにより溶接装置を異常と判定し
た場合でも、溶接制御装置及びインバータの何れに異常
があるかを指摘することはできない。
【0004】本発明は、かゝる事情に鑑みてなされたも
ので、前記溶接装置における溶接制御装置及びインバー
タの各機能が正常に機能し得るか否かを簡単に判定する
ことができる検査装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、溶接制御装置の指示に基づいてインバー
タが出力する電力を溶接トランスを介して溶接ガンに供
給して溶接を行う溶接装置の検査装置であって、インバ
ータに出力波形及び溶接制御装置の出力波形を個別に受
けて、その都度同一の波形を出力する波形制御手段と、
この波形制御手段の出力波形の数を所定時間カウントす
る所定時間内カウント手段と、この所定時間内カウント
手段でカウントした波形の数を所定値と比較する判定手
段とを備えたことを第1の特徴とする。
【0006】この第1の特徴によれば、インバータ及び
溶接制御装置の各出力波形を個別に受けることにより、
インバータ及び溶接制御装置の出力周波数がそれぞれ所
定値通りのものか否か、即ちそれらの異常の有無を個別
に判定することができる。
【0007】また本発明は、溶接制御装置の指示に基づ
いてインバータが出力する電力を溶接トランスを介して
溶接ガンに供給して溶接を行う溶接装置の検査装置であ
って、インバータが出力する交流波形の正の成分及び負
の成分を受けて、同一方向の第1波形及び第2波形を出
力する第1入出力部と、前記溶接制御装置が前記交流波
形の正の成分及び負の成分に対応して出力する第1制御
波形及び第2制御波形を受けて、前記インバータの出力
時と同様に第1波形及び第2波形を出力する第2入出力
部と、第1入出力部及び第2入出力部の作動を択一的に
選択する作動選択手段と、前記第1入出力部が出力する
前記第1波形及び前記第2入出力部が出力する前記第1
波形が入力される第1OR回路と、前記第1入出力部が
出力する前記第2波形及び前記第2入出力部が出力する
前記第2波形が入力される第2OR回路と、前記第1O
R回路が出力する第3波形及び前記第2OR回路が出力
する第4波形が入力される第3OR回路と、所定時間を
計時する計時手段と、この計時手段で計時した所定時間
内に前記第3OR回路が出力する第5波形の数をカウン
トするカウント手段と、このカウント手段でカウントし
た波形の数を所定値と比較して、作動を選択された前記
第1入出力部又は前記第2入出力部に対応した前記イン
バータ又は溶接制御装置の異常の有無を個別に判定する
判定手段とを備えたことを第2の特徴とする。
【0008】この第2の特徴によれば、第1及び第2入
出力部を個別に作動させることにより、インバータ及び
溶接制御装置の出力波形各部の欠損による、それぞれの
周波数の異常を個別に的確に判定することができる。
【0009】さらに本発明は、第2の特徴に加えて、前
記作動選択手段を、前記第1入出力部及び前記第2入出
力部にそれぞれ設けられて、前記インバータ及び溶接制
御装置の各出力部に個別に接続される第1接続部及び第
2接続部により構成したことを第3の特徴とする。
【0010】この第3の特徴によれば、前記第1及び第
2接続部を前記溶接制御装置及びインバータの各出力部
に個別に接続するという、極めて簡単な操作により、第
1及び第2入出力部を択一的に作動させて、前記溶接制
御装置及びインバータの異常の有無の個別判定を容易に
行うことができる。
【0011】
【発明に実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、添
付図面に示した本発明の一実施例に基づいて説明する。
【0012】図1は溶接装置の全体構成図、図2は、そ
の溶接装置のための本発明検査装置の回路構成を示すブ
ロック図、図3は図2の第1入出力部の回路図、図4は
図2の第2入出力部の回路図、図5は図2のインバー
タ、溶接制御装置及び検査装置各部の出力波形を示す図
である。
【0013】先ず、図1に示すように、溶接装置Wは、
溶接制御装置1、インバータ2、溶接トランス3及び溶
接ガン4から構成され、溶接制御装置1には100V/
50Hzの商用電源が接続され、インバータ2には40
0V/50Hzの商用電源が接続される。溶接に際し、
先ず溶接制御装置1はクランプ信号を溶接ガン4のクラ
ンプ装置(図示せず)に送り、これを作動させて被溶接
部をクランプする。一定時間の経過後、溶接制御装置1
は15V/800Hzの溶接信号をインバータ2に所定
時間出力する。するとインバータ2は商用電源から供給
される400V/50Hzの電力を600V/800H
zの電力に変換し、更にこの600V/800Hzの電
力を溶接トランス3が7.5V乃至11.5Vに降圧及
び整流して最大値で12000Aの直流に変換し、これ
を溶接ガン4に供給する。そして溶接電力を遮断してか
ら一定時間が経過すると、溶接制御装置1がクランプ解
除信号を出力して溶接ガン4による被溶接部のクランプ
を解除する。
【0014】図2に示す本発明の検査装置Chは、上記
溶接装置Wにおけるインバータ2及び溶接制御装置1の
異常の有無を個別に判定するもので、インバータ2の出
力部2aに接続し得る第1接続部12aを有する第1入
出力部12と、溶接制御装置1の出力部1aに接続し得
る第2接続部14aを有する第2入出力部14とを備
え、インバータ2の出力部2aに第1接続部12aを接
続すると、インバータ2の第1及び第2出力端子21
2 に第1入出力部12の第1及び第2入力端子31,
32が接続され、また溶接制御装置1の出力部1aに第
2接続部14aを接続すると、溶接制御装置1の第1及
び第2出力端子11 ,12 に第2入出力部14の第1及
び第2入力端子43,44が接続される。
【0015】第1入出力部12は第1及び第2出力端子
33,34を、また第2入出力部14は第1及び第2出
力端子47,48をそれぞれ有しており、第1及び第2
入出力部2a,1aの各第1出力端子33,47は第1
OR回路15の一対の入力端子に接続され、また第1及
び第2入出力部2a,1aの各第2出力端子34,48
は、第2OR回路16の一対の入力端子に接続される。
【0016】第1及び第2OR回路15,16の各出力
端子には第1及び第2波形整形部17,18がそれぞれ
接続され、この両波形整形部17,18の各出力部は第
3OR回路19の一対の入力端子に接続される。
【0017】第3OR回路19の出力端子には入力レベ
ル検出部20及び、この入力レベル検出部20からの信
号が入力されるカウント時間発生部21(計時手段)
と、カウント時間発生部21が順次接続される。また第
3OR回路19及びカウント時間発生部21の各出力端
子はAND回路22の一対の入力端子に接続される。
【0018】AND回路22の出力端子には、カウンタ
ー部23(カウント手段)及びカウンター出力デコード
部24(判定手段)が順次接続され、またこのカウンタ
ー出力デコード部24にはカウント時間発生部21の出
力端子が接続される。
【0019】カウンター出力デコード部24の一対の出
力端子には、正常表示ランプ25及び異常表示ランプ2
6がそれぞれ接続される。さらにカウント時間発生部2
1の出力端子には、それからの信号により作動する信号
発生表示部27が接続される。
【0020】次に、図3に基づいて第1入出力部12の
構造及び作用を説明する。
【0021】第1入出力部12は、第1接続部12aに
第1、第2入力端子31,32を、また出力部に第1、
第2出力端子33,34とをそれぞれ備えており、第1
接続部12aをインバータ2の出力部2aに接続する
と、インバータ2が出力する交流波形Aが第1、第2出
力端子21 ,22 から第1、第2入力端子31,32に
入力される。上記交流波形Aは、図5のAに示す600
V/800Hzの波形である。
【0022】第1、第2入力端子31,32及び第1、
第2出力端子33,34間には、第1フォトカプラー3
5、第2フォトカプラー36、第1反転増幅回路37、
第2反転増幅回路38及び4個の抵抗39〜42が介裝
され、第1、第2反転増幅回路37,38の入力端子に
は、抵抗41,42を介して15Vの電圧が常時印加さ
れる。したがって、第1、第2フォトカプラー35,3
6がOFFしているときは、第1、第2反転増幅回路3
7,38の出力、即ち第1、第2出力端子33,34の
各出力は低レベルになる。
【0023】したがって、いま、第1入力端子31にイ
ンバータ2が出力する交流波形Aの正の成分aが入力さ
れると、第1入力端子31から抵抗39、第1フォトカ
プラー35を経て第2入力端子32へと電流が流れ、第
1フォトカプラー35がON状態となるので、第1出力
端子33の出力は高レベルとなり、また第1入力端子3
1に上記交流波形Aの負の成分bが入力されると、第2
入力端子32から第2フォトカプラー36、抵抗40を
経て第1入力端子31へと電流が流れ、第2フォトカプ
ラー36がON状態となるので、第2出力端子34の出
力は高レベルとなる。
【0024】こうして、インバータ2の出力波形Aの正
負の成分a,bに対応して、第1入出力部12の第1、
第2出力端子33,34から出力される波形B,Cは、
図5のB及びCに示すように、何れも正の波形とされ
る。
【0025】次に、図4に基づいて第2入出力部14の
構造及び作用を説明する。
【0026】第2入出力部14は、第2接続部14aに
第1、第2入力端子43,44を、また出力部に第1、
第2出力端子47,48とをそれぞれ備えており、第2
接続部14aを溶接制御装置1の出力部1aに接続する
と、溶接制御装置1が、前記インバータ2の出力波形A
の正、負の波形a,bに対応して出力する制御波形
a′,b′が第1、第2出力端子11 ,12 から第1、
第2入力端子43,44に入力される。溶接制御装置1
の出力波形a′,b′は、図5のa′,b′に示すよう
に何れも15V、800Hzであるが、波形a′は、前
記インバータ2の出力波形Aの正の成分aの発生時にゼ
ロVとなり、波形b′は、同出力波形Aの負の成分bの
発生時にゼロVとなるようになっている。
【0027】第1、第2入力端子43,44及び第1、
第2出力端子47,48間には、第1、第2フォトカプ
ラー49,50、第1反転増幅回路53、第2反転増幅
回路54及び4個の抵抗55,56,59,60が介裝
されており、第1、第2フォトカプラー49,50の入
力端子には、15Vの電圧が抵抗55,56をそれぞれ
介して常時印加され、また第1、第2反転増幅回路5
3,54の入力端子にも、15Vの電圧が抵抗59,6
0をそれぞれ介して常時入力される。
【0028】而して、第1入力端子43の入力が高レベ
ル、即ち15Vであるときは、第1フォトカプラー49
がOFF状態となり、その結果、第1反転増幅回路53
の入力が高レベルになって該第1反転増幅回路53の出
力、即ち第1出力端子47の出力が低レベルになり、同
様に、第2入力端子44の入力が高レベル、即ち15V
であるときは、第2フォトカプラー50がOFF状態と
なり、その結果、第2反転増幅回路54の入力が高レベ
ルになって該第2反転増幅回路54の出力、即ち第2出
力端子48の出力が低レベルになる。
【0029】また第1入力端子43の入力が低レベル、
即ちゼロVであるときは、抵抗55、第1フォトカプラ
ー49、第1入力端子43へと電流が流れて第1フォト
カプラー49がON状態となり、その結果、第1反転増
幅回路53の入力が低レベルになって該第1反転増幅回
路53の出力、即ち第1出力端子47の出力が高レベル
になり、同様に、第2入力端子44の入力が低レベル、
即ちゼロVであるときは、抵抗56、第2フォトカプラ
ー50、第2入力端子44へと電流が流れて第2フォト
カプラー50がON状態となり、その結果、第2反転増
幅回路54の入力が低レベルになって該第2反転増幅回
路54の出力、即ち第2出力端子48の出力が高レベル
になる。
【0030】したがって、いま、溶接制御装置1の出力
波形a′が第1入力端子43に入力されと、その入力が
ゼロVのときにのみ、第1出力端子47の出力が高レベ
ルとなり、また溶接制御装置1の出力波形b′が第2入
力端子44に入力されると、その入力がゼロVのときに
のみ、第2出力端子48の出力が高レベルとなる。こう
して、溶接制御装置1の出力波形a′,b′に対応し
て、第1、第2出力端子47,48から出力される波形
は、前記第1入出力部12の出力波形と同形、同位相の
B,Cとされる。
【0031】以上において、第1入手段部12及び第2
入手段部14は、本発明の波形制御手段を構成する。
【0032】さて、検査装置Chの使用に当たって、先
ず第1入出力部12の第1接続部12aをインバータ2
の出力部2aに接続して、第1入出力部12のみを作動
させる。即ち、この場合は、第2接続部14aの溶接制
御装置1への接続は行わず、第2入出力部14を非作動
の状態に置く。
【0033】すると、第1入出力部12の第1、第2出
力端子33,34の出力波形B,Cが第1、第2OR回
路15,16にそれぞれ入力される。このとき、インバ
ータ2の出力部2aが図5のAに示す交流波形を正しく
出力していれば、第1、第2OR回路15,16の出力
波形D,Eは、図5に示すように第1入出力部12の出
力波形B,Cと同形、同位相のものとなる。そして第1
OR回路15の出力波形Dは、第1波形整形部17にお
いて図5のFに示すように、波形幅を短く整形されて出
力される。また第2OR回路16の出力波形Eは、第2
波形整形部18において図5のGに示すように、同じく
波形幅を短く整形されて出力される。
【0034】次いで、第1、第2波形整形部17,18
の各出力波形F,Gが第3OR回路19に入力される
と、その出力波形Hは、図5のHに示すものとなる。こ
の出力波形Hは、AND回路22の一方の入力端子と入
力レベル検出部20とに入力される。入力レベル検出部
20では、第3OR回路19の出力波形Hの周波数が検
出され、検出された周波数が400Hz以上であればト
リガー信号が該検出部20からカウント時間発生部21
に出力される。入力レベル検出部20からのトリガー信
号を受けたカウント時間発生部21は高レベルの信号を
出力して、信号発生表示部27のランプを点灯させると
共に、所定時間(実施例では10msec)の間、AN
D回路22の一方の入力端子の入力を高レベルに保持す
る。
【0035】こうして、第3OR回路19及びカウント
時間発生部21の各出力信号を入力されたAND回路2
2は、前記10msecの間だけ第3OR回路19の出
力信号と同じ信号を出力する。カウンター部23は10
msecの間にAND回路22が出力する波形の数をカ
ウントしてカウンター出力デコード部24に出力し、カ
ウンター出力デコード部24は前記波形の数が所定数以
上であれば正常表示部25のランプを点灯させ、前記波
形の数が所定数以下であれば異常表示部26のランプを
点灯させる。
【0036】即ち、インバータ2の出力周波数は前述の
ように800Hz(周期1.25msec)であるか
ら、AND回路19の出力周波数は1600Hz(周期
0.625msec)になり、10msecにおける波
形の数は1600×(10/1000)=16になる。
インバータ2の出力波形Aの正負成分a,bの何処かに
欠損部が生じて、その出力周波数が800Hzより減少
すると、その減少に応じて第1波形整形部17及び第2
波形整形部18の出力周波数が800Hzよりも小さく
なるため、第3OR回路19の出力周波数は1600H
zよりも小さくなり、その結果、AND回路19が10
msecの間に出力する波形の数は16個よりも少なく
なる。そこで、AND回路19が10msecの間に出
力する波形の数が、その誤差を見込んで、例えば13個
以下になった場合には、異常表示部26のランプを点灯
させ、前記波形の数が14個以上であれば正常表示部2
5のランプを点灯させるのである。
【0037】ところで、インバータ2は、溶接制御装置
1の指令で作動するものであるから、上記検査時に正常
表示ブロック25のランプが点灯した場合は、インバー
タ2のみならず、溶接制御装置1も正常であると判定す
ることができるが、異常表示部26のランプが点灯した
場合は、インバータ2又は溶接制御装置1の何れかに異
常があることを意味する。
【0038】そこで、後者の場合は、次に、インバータ
2から第1入出力部12の第1接続部12aを外し、第
2入出力部14の第2接続部14aを溶接制御装置1の
出力部1aに接続して、第2入出力部14のみを作動さ
せる。すると、第2入出力部14の第1、第2出力端子
47,48の出力波形B,Cが第1、第2OR回路1
5,16にそれぞれ入力される。このとき、溶接制御装
置1が正しく図5のa′,b′に示す制御波形を出力し
ていれば、第1、第2OR回路15,16の出力波形
B,Cは、先刻、インバータ2を検査したとき、第1、
第2OR回路15,16が出力した波形と同形、同位相
のものである。したがって、先刻と同様に第1、第2O
R回路16は波形D,Eを第1、第2波形整形部17,
18に出力するので、それに伴い第1、第2波形整形部
17,18は、整形波形F,Gを出力する。そして以後
も先刻と同様の作用が行われることにより、溶接制御装
置1の正常時には正常表示部25のランプが点灯し、異
常時には異常表示部26のランプが点灯する。そして、
このとき正常表示部25のランプが点灯すれば、先刻の
検査時の異常表示部26のランプの点灯の原因はインバ
ータ2の異常にあると判定することができる。
【0039】尚、検査に際し、溶接制御装置1の検査を
最初に行っても良いことは、言うまでもない。
【0040】このように、第1及び第2接続部12a,
14aを択一的にインバータ2及び溶接制御装置1の出
力部2a,1aに接続する簡単な操作により、インバー
タ2及び溶接制御装置1の異常の有無を個別に判別する
ことができる。
【0041】以上、本発明の実施例を詳述したが、本発
明はその要旨を逸脱しない範囲で種々の設計変更を行う
ことが可能である。
【0042】例えば、実施例におけるインバータ2及び
溶接制御装置1の出力電圧や出力周波数、カウント時間
発生部21が出力するカウント時間、カウンター部23
が異常判断を行う際の基準となる波形の数等は、適宜設
定することが可能である。
【0043】
【発明の効果】以上のように本発明の第1の特徴によれ
ば、溶接制御装置の指示に基づいてインバータが出力す
る電力を溶接トランスを介して溶接ガンに供給して溶接
を行う溶接装置の検査装置であって、インバータに出力
波形及び溶接制御装置の出力波形を個別に受けて、その
都度同一の波形を出力する波形制御手段と、この波形制
御手段の出力波形の数を所定時間カウントする所定時間
内カウント手段と、この所定時間内カウント手段でカウ
ントした波形の数を所定値と比較する判定手段とを備え
たので、インバータ及び溶接制御装置の各出力波形を個
別に受けることにより、インバータ及び溶接制御装置の
出力周波数がそれぞれ所定値通りのものか否か、即ちそ
れらの異常の有無を個別に判定することができる。
【0044】また本発明の第2の特徴によれば、溶接制
御装置の指示に基づいてインバータが出力する電力を溶
接トランスを介して溶接ガンに供給して溶接を行う溶接
装置の検査装置であって、インバータが出力する交流波
形の正の成分及び負の成分を受けて、同一方向の第1波
形及び第2波形を出力する第1入出力部と、前記溶接制
御装置が前記交流波形の正の成分及び負の成分に対応し
て出力する第1制御波形及び第2制御波形を受けて、前
記インバータの出力時と同様に第1波形及び第2波形を
出力する第2入出力部と、第1入出力部及び第2入出力
部の作動を択一的に選択する作動選択手段と、前記第1
入出力部が出力する前記第1波形及び前記第2入出力部
が出力する前記第1波形が入力される第1OR回路と、
前記第1入出力部が出力する前記第2波形及び前記第2
入出力部が出力する前記第2波形が入力される第2OR
回路と、前記第1OR回路が出力する第3波形及び前記
第2OR回路が出力する第4波形が入力される第3OR
回路と、所定時間を計時する計時手段と、この計時手段
で計時した所定時間内に前記第3OR回路が出力する第
5波形の数をカウントするカウント手段と、このカウン
ト手段でカウントした波形の数を所定値と比較する判定
手段とを備えるので、第1及び第2入出力部を個別に作
動させることにより、インバータ及び溶接制御装置の出
力波形各部の欠損による、それぞれの周波数の異常を個
別に的確に判定することができる。
【0045】また本発明の第3の特徴によれば、前記作
動選択手段を、前記第1入出力部及び前記第2入出力部
にそれぞれ設けられて、前記インバータ及び溶接制御装
置の各出力部に個別に接続される第1接続部及び第2接
続部により構成したので、前記第1及び第2接続部を前
記溶接制御装置及びインバータの各出力部に個別に接続
するという、極めて簡単な操作により、第1及び第2入
出力部を択一的に作動させて、前記溶接制御装置及びイ
ンバータの異常の有無の個別判定を容易に行うことがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】溶接装置の全体構成図
【図2】上記溶接装置のための本発明検査装置の回路構
成を示すブロック図
【図3】図2の第1入出力部の回路図
【図4】図2の第2入出力部の回路図
【図5】図2のインバータ、溶接制御装置及び検査装置
各部の出力波形を示す図
【符号の説明】
1・・・・溶接制御装置 1a・・・出力部 2・・・・インバータ 2a・・・出力部 3・・・・トランス 4・・・・溶接ガン 12・・・波形制御手段を構成する第1入出力部 12a・・作動選択手段を構成する第1接続部 14・・・波形制御手段を構成する第2入出力部 14a・・作動選択手段を構成する第2接続部 15・・・第1OR回路 16・・・第2OR回路 19・・・第3OR回路 21,23・・・所定時間内カウント手段 21・・・計時手段としてのカウント時間発生部 23・・・カウント手段としてのカウンター部 24・・・判定手段としてのカウンター出力デコード部 Ch・・・検査装置 W・・・・溶接装置

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 溶接制御装置(1)の指示に基づいてイ
    ンバータ(2)が出力する電力を溶接トランス(3)を
    介して溶接ガン(4)に供給して溶接を行う溶接装置
    (W)の検査装置(C)であって、インバータ(2)に
    出力波形(a,b)及び溶接制御装置(1)の出力波形
    (a′,b′)を個別に受けて、その都度同一の波形
    (B,C)を出力する波形制御手段(12,14)と、
    この波形制御手段(12,14)の出力波形(B,C)
    の数を所定時間カウントする所定時間内カウント手段
    (21,23)と、この所定時間内カウント手段(2
    1,23)でカウントした波形の数を所定値と比較する
    判定手段(24)とを備えたことを特徴とする、溶接装
    置の検査装置。
  2. 【請求項2】 溶接制御装置(1)の指示に基づいてイ
    ンバータ(2)が出力する電力を溶接トランス(3)を
    介して溶接ガン(4)に供給して溶接を行う溶接装置
    (W)の検査装置(C)であって、インバータ(2)が
    出力する交流波形(A)の正の成分(a)及び負の成分
    (b)を受けて、同一方向の第1波形(B)及び第2波
    形(C)を出力する第1入出力部(12)と、前記溶接
    制御装置(1)が前記交流波形(A)の正の成分(a)
    及び負の成分(b)に対応して出力する第1制御波形
    (a′)及び第2制御波形(b′)を受けて、前記イン
    バータ(2)の出力時と同様に第1波形(B)及び第2
    波形(C)を出力する第2入出力部(14)と、第1入
    出力部(12)及び第2入出力部(14)の作動を択一
    的に選択する作動選択手段(12a,14a)と、前記
    第1入出力部(12)が出力する前記第1波形(B)及
    び前記第2入出力部(14)が出力する前記第1波形
    (B)が入力される第1OR回路(15)と、前記第1
    入出力部(12)が出力する前記第2波形(C)及び前
    記第2入出力部(14)が出力する前記第2波形(C)
    が入力される第2OR回路(16)と、前記第1OR回
    路(15)が出力する第3波形(D)及び前記第2OR
    回路(16)が出力する第4波形(E)が入力される第
    3OR回路(19)と、所定時間を計時する計時手段
    (21)と、この計時手段(21)で計時した所定時間
    内に前記第3OR回路(19)が出力する第5波形
    (H)の数をカウントするカウント手段(23)と、こ
    のカウント手段(23)でカウントした波形の数を所定
    値と比較する判定手段(24)とを備えたことを特徴と
    する、溶接装置の検査装置。
  3. 【請求項3】 請求項2記載のものにおいて、 前記作動選択手段を、前記第1入出力部(12)及び前
    記第2入出力部(14)にそれぞれ設けられて、前記イ
    ンバータ(2)及び溶接制御装置(1)の各出力部(2
    a,1a)に個別に接続される第1接続部(12a)及
    び第2接続部(14a)により構成したことを特徴とす
    る、溶接装置の検査装置。
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