JPH10111334A - 直流電圧発生器 - Google Patents
直流電圧発生器Info
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- JPH10111334A JPH10111334A JP8266299A JP26629996A JPH10111334A JP H10111334 A JPH10111334 A JP H10111334A JP 8266299 A JP8266299 A JP 8266299A JP 26629996 A JP26629996 A JP 26629996A JP H10111334 A JPH10111334 A JP H10111334A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被試験機器の各種試験を適切、迅速且つ容易
に行うこと。 【解決手段】 直流電圧発生器１０のアナログタイマ１
８は、電源スイッチ投入後、一定時間が経過した時点で
動作し、半導体スイッチ１９のベース電流を遮断してそ
の動作を停止させるカットオフ指令を行うものであっ
て、半導体スイッチ１９の動作停止によって第１の端子
としての端子Ａ，Ｂから被試験機器への直流電圧発生器
電圧の印加が一定時間にコントロールされる。また、絶
縁抵抗測定スイッチＳ2 は、それぞれの端子ａ，ｃ側か
らｂ，ｄ側に切替えられることにより、直流電圧発生器
１０の内部回路の影響を受けずに、絶縁抵抗測定器２０
による絶縁抵抗の測定が行われる。
に行うこと。 【解決手段】 直流電圧発生器１０のアナログタイマ１
８は、電源スイッチ投入後、一定時間が経過した時点で
動作し、半導体スイッチ１９のベース電流を遮断してそ
の動作を停止させるカットオフ指令を行うものであっ
て、半導体スイッチ１９の動作停止によって第１の端子
としての端子Ａ，Ｂから被試験機器への直流電圧発生器
電圧の印加が一定時間にコントロールされる。また、絶
縁抵抗測定スイッチＳ2 は、それぞれの端子ａ，ｃ側か
らｂ，ｄ側に切替えられることにより、直流電圧発生器
１０の内部回路の影響を受けずに、絶縁抵抗測定器２０
による絶縁抵抗の測定が行われる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、通信機器や電子機
器等の被試験機器の試験を行うために直流電圧を印加す
る直流電圧発生器に関する。
器等の被試験機器の試験を行うために直流電圧を印加す
る直流電圧発生器に関する。
【０００２】
【従来の技術】通信機器や電子機器等の被試験機器の試
験を行う場合、被試験機器に対し、たとえば図２に示す
ような直流電圧発生器によって直流電圧が印加されるよ
うになっている。
験を行う場合、被試験機器に対し、たとえば図２に示す
ような直流電圧発生器によって直流電圧が印加されるよ
うになっている。
【０００３】すなわち、直流電圧発生器１０の電源スイ
ッチ１２を投入すると、直流電源１１の電圧がマルチバ
イブレータ１３に印加される。マルチバイブレータ１３
が任意の周波数で発振すると、その出力がトランス１４
によって昇圧され、整流部１５により整流される。
ッチ１２を投入すると、直流電源１１の電圧がマルチバ
イブレータ１３に印加される。マルチバイブレータ１３
が任意の周波数で発振すると、その出力がトランス１４
によって昇圧され、整流部１５により整流される。
【０００４】このとき、被試験機器（図示省略）に正電
圧を印加する場合、極性切替スイッチＳ1 を端子ａ，ｃ
側に切り替えておくことにより、端子Ａ，Ｂを介して被
試験機器に正電圧が印加される。
圧を印加する場合、極性切替スイッチＳ1 を端子ａ，ｃ
側に切り替えておくことにより、端子Ａ，Ｂを介して被
試験機器に正電圧が印加される。
【０００５】一方、被試験機器に負電圧を印加する場
合、極性切替スイッチＳ1 を端子ｂ，ｄ側に切り替えて
おくことにより、整流部１５の出力が負電圧発生部１６
によって負電圧に設定され、負電圧電流増幅部１７によ
って増幅された後、端子Ａ，Ｂを介して被試験機器に印
加される。
合、極性切替スイッチＳ1 を端子ｂ，ｄ側に切り替えて
おくことにより、整流部１５の出力が負電圧発生部１６
によって負電圧に設定され、負電圧電流増幅部１７によ
って増幅された後、端子Ａ，Ｂを介して被試験機器に印
加される。
【０００６】このようにして被試験機器に印加される正
負の直流電圧により、被試験機器の良否又は欠陥が検査
される。
負の直流電圧により、被試験機器の良否又は欠陥が検査
される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の被試験機器の試験方法では、電源スイッチ２を投入
している間、正又は負の直流電圧が端子Ａ，Ｂより被試
験機器側に出力され続けることになる。
来の被試験機器の試験方法では、電源スイッチ２を投入
している間、正又は負の直流電圧が端子Ａ，Ｂより被試
験機器側に出力され続けることになる。
【０００８】このため、一定時間のみ正又は負の直流電
圧を被試験機器に印加したい場合、手動で電源スイッチ
１２をオン／オフして直流電圧の印加時間をコントロー
ルする必要があり、正確な時間の電圧印加ができず、適
切な被試験機器の試験を行うことができないという不具
合がある。
圧を被試験機器に印加したい場合、手動で電源スイッチ
１２をオン／オフして直流電圧の印加時間をコントロー
ルする必要があり、正確な時間の電圧印加ができず、適
切な被試験機器の試験を行うことができないという不具
合がある。
【０００９】また、被試験機器の絶縁抵抗を測定しよう
とする場合、被試験機器を端子Ａ，Ｂに接続した状態で
は、直流電圧発生器１０の内部回路の影響を受けてしま
うため、直流電圧発生器１０の端子Ａ，Ｂから被試験機
器を取り外し、被試験機器に絶縁抵抗測定器を接続する
必要があるため、接続切替えのための作業が煩雑であ
り、迅速な測定ができないという不具合もあった。
とする場合、被試験機器を端子Ａ，Ｂに接続した状態で
は、直流電圧発生器１０の内部回路の影響を受けてしま
うため、直流電圧発生器１０の端子Ａ，Ｂから被試験機
器を取り外し、被試験機器に絶縁抵抗測定器を接続する
必要があるため、接続切替えのための作業が煩雑であ
り、迅速な測定ができないという不具合もあった。
【００１０】本発明は、このような事情に対処してなさ
れたもので、被試験機器の各種試験を適切、迅速且つ容
易に行うことができる直流電圧発生器を提供することを
目的とする。
れたもので、被試験機器の各種試験を適切、迅速且つ容
易に行うことができる直流電圧発生器を提供することを
目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
被試験機器の試験を行うために直流電圧を印加する直流
電圧発生器であって、直流電源からの電源を投入する電
源スイッチと、この電源スイッチによって投入された前
記直流電源からの直流電圧に基づき、任意の周波数で発
振する発振手段と、この発振手段による発振出力を整流
する整流手段と、この整流手段による整流出力の出力系
の開閉を行うスイッチング素子と、前記整流手段からの
整流出力によって作動し、一定時間経過後、前記スイッ
チング素子をオフするタイマ手段と、前記整流手段の整
流出力を負電圧に設定する負電圧設定手段と、前記整流
手段によって整流された正電圧と、前記負電圧設定手段
によって設定された負電圧との出力極性を切替える極性
切替スイッチと、この極性切替スイッチによって切替え
られた前記正電圧又は負電圧の直流電圧を前記被試験機
器側に出力する第１の端子と、前記被試験機器の絶縁抵
抗を測定するための絶縁抵抗測定器を接続する第２の端
子と、この第２の端子と前記第１の端子との間、又は前
記極性切替スイッチと前記第１の端子との間の経路を切
替える経路切替スイッチとが具備されていることを特徴
とする。
被試験機器の試験を行うために直流電圧を印加する直流
電圧発生器であって、直流電源からの電源を投入する電
源スイッチと、この電源スイッチによって投入された前
記直流電源からの直流電圧に基づき、任意の周波数で発
振する発振手段と、この発振手段による発振出力を整流
する整流手段と、この整流手段による整流出力の出力系
の開閉を行うスイッチング素子と、前記整流手段からの
整流出力によって作動し、一定時間経過後、前記スイッ
チング素子をオフするタイマ手段と、前記整流手段の整
流出力を負電圧に設定する負電圧設定手段と、前記整流
手段によって整流された正電圧と、前記負電圧設定手段
によって設定された負電圧との出力極性を切替える極性
切替スイッチと、この極性切替スイッチによって切替え
られた前記正電圧又は負電圧の直流電圧を前記被試験機
器側に出力する第１の端子と、前記被試験機器の絶縁抵
抗を測定するための絶縁抵抗測定器を接続する第２の端
子と、この第２の端子と前記第１の端子との間、又は前
記極性切替スイッチと前記第１の端子との間の経路を切
替える経路切替スイッチとが具備されていることを特徴
とする。
【００１２】この発明では、整流手段による整流出力の
出力系側に系の開閉を行うスイッチング素子と、整流手
段からの整流出力によって作動し、一定時間経過後、ス
イッチング素子をオフするタイマ手段とを設け、タイマ
手段によって設定された時間でスイッチング素子をオフ
するようにしたので、第１の端子を介して被試験機器に
印加される直流電圧の印加時間が一定に維持される。
出力系側に系の開閉を行うスイッチング素子と、整流手
段からの整流出力によって作動し、一定時間経過後、ス
イッチング素子をオフするタイマ手段とを設け、タイマ
手段によって設定された時間でスイッチング素子をオフ
するようにしたので、第１の端子を介して被試験機器に
印加される直流電圧の印加時間が一定に維持される。
【００１３】また、絶縁抵抗測定器によって被試験機器
の絶縁抵抗測定を行う場合、経路切替スイッチにより、
直流電圧発生器本体の内部回路の影響を受けずに、絶縁
抵抗測定が可能とされることから、絶縁抵抗測定器の接
続作業が不要となり、迅速な測定が行える。
の絶縁抵抗測定を行う場合、経路切替スイッチにより、
直流電圧発生器本体の内部回路の影響を受けずに、絶縁
抵抗測定が可能とされることから、絶縁抵抗測定器の接
続作業が不要となり、迅速な測定が行える。
【００１４】請求項２記載の発明は、前記電源スイッチ
と前記極性切替スイッチとの間には、この極性切替スイ
ッチの切替え操作に連動して前記電源スイッチをオンさ
せる連動切替手段が具備されていることを特徴とする。
と前記極性切替スイッチとの間には、この極性切替スイ
ッチの切替え操作に連動して前記電源スイッチをオンさ
せる連動切替手段が具備されていることを特徴とする。
【００１５】この発明では、連動切替手段により、極性
切替スイッチの切替え操作に連動して電源スイッチがオ
ンされるので、電源スイッチの投入操作が省ける。
切替スイッチの切替え操作に連動して電源スイッチがオ
ンされるので、電源スイッチの投入操作が省ける。
【００１６】請求項３記載の発明は、前記タイマ手段
は、タイマ設定手段によって前記スイッチング素子をオ
フするまでの時間が設定変更可能とされていることを特
徴とする。
は、タイマ設定手段によって前記スイッチング素子をオ
フするまでの時間が設定変更可能とされていることを特
徴とする。
【００１７】タイマ設定手段によってタイマ手段のスイ
ッチング素子をオフするまでの時間が設定変更されるの
で、試験に合った直流電圧の印加時間の設定変更が容易
となる。
ッチング素子をオフするまでの時間が設定変更されるの
で、試験に合った直流電圧の印加時間の設定変更が容易
となる。
【００１８】請求項４記載の発明は、前記極性切替スイ
ッチと前記経路切替スイッチとの間には、これらのスイ
ッチの切替え状態を監視する切替スイッチ監視手段が介
在されており、前記被試験機器に対する直流電圧印加試
験と前記絶縁抵抗の測定試験を行う際の切替え状態が適
切でない場合に、警告が発せられることを特徴とする。
ッチと前記経路切替スイッチとの間には、これらのスイ
ッチの切替え状態を監視する切替スイッチ監視手段が介
在されており、前記被試験機器に対する直流電圧印加試
験と前記絶縁抵抗の測定試験を行う際の切替え状態が適
切でない場合に、警告が発せられることを特徴とする。
【００１９】この発明では、切替スイッチ監視手段によ
って、極性切替スイッチと経路切替スイッチとのスイッ
チの切替え状態が監視され、これらスイッチの切替え状
態が適切でない場合に警告が発せられるので、試験時に
おけるスイッチの切替えの誤りの認識が容易となる。
って、極性切替スイッチと経路切替スイッチとのスイッ
チの切替え状態が監視され、これらスイッチの切替え状
態が適切でない場合に警告が発せられるので、試験時に
おけるスイッチの切替えの誤りの認識が容易となる。
【００２０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態の詳細
を図面に基づいて説明する。なお、以下に説明する図に
おいて、図２と共通する部分には同一符号を付すものと
する。
を図面に基づいて説明する。なお、以下に説明する図に
おいて、図２と共通する部分には同一符号を付すものと
する。
【００２１】図１は、本発明の直流電圧発生器の一実施
の形態を示すものであって、タイマ手段としてのアナロ
グタイマ１８及びスイッチング素子としての半導体スイ
ッチ１９が備えられている点で、従来のものとは構成が
相違する。
の形態を示すものであって、タイマ手段としてのアナロ
グタイマ１８及びスイッチング素子としての半導体スイ
ッチ１９が備えられている点で、従来のものとは構成が
相違する。
【００２２】また、極性切替スイッチＳ1 の出力側に経
路切替スイッチとしての絶縁抵抗測定スイッチＳ2 を介
して絶縁抵抗測定器２０が接続される第２の端子として
の端子Ｃ，Ｄが備えられている点でも、従来のものとは
構成が相違する。
路切替スイッチとしての絶縁抵抗測定スイッチＳ2 を介
して絶縁抵抗測定器２０が接続される第２の端子として
の端子Ｃ，Ｄが備えられている点でも、従来のものとは
構成が相違する。
【００２３】すなわち、上記のアナログタイマ１８は、
電源スイッチ投入後、一定時間が経過した時点で作動
し、半導体スイッチ１９のベース電流を遮断してその動
作を停止させるカットオフ指令を行うものである。そし
て、半導体スイッチ１９の動作停止により、第１の端子
としての端子Ａ，Ｂから被試験機器（図示省略）への直
流電圧の印加が停止されることにより、被試験機器への
直流電圧の印加時間が一定となるように制御されるよう
になっている。
電源スイッチ投入後、一定時間が経過した時点で作動
し、半導体スイッチ１９のベース電流を遮断してその動
作を停止させるカットオフ指令を行うものである。そし
て、半導体スイッチ１９の動作停止により、第１の端子
としての端子Ａ，Ｂから被試験機器（図示省略）への直
流電圧の印加が停止されることにより、被試験機器への
直流電圧の印加時間が一定となるように制御されるよう
になっている。
【００２４】また、本実施の形態における絶縁抵抗測定
スイッチＳ2 は、それぞれの端子ａ，ｃ側からｂ，ｄ側
に切替えられることにより、端子Ａ−Ｃ，Ｂ−Ｄ間の経
路が直流電圧発生器１０の内部回路から隔離されるた
め、その内部回路の影響を受けずに、絶縁抵抗測定器２
０による絶縁抵抗の測定が行われるようになっている。
スイッチＳ2 は、それぞれの端子ａ，ｃ側からｂ，ｄ側
に切替えられることにより、端子Ａ−Ｃ，Ｂ−Ｄ間の経
路が直流電圧発生器１０の内部回路から隔離されるた
め、その内部回路の影響を受けずに、絶縁抵抗測定器２
０による絶縁抵抗の測定が行われるようになっている。
【００２５】続いて、以上のような構成の直流電圧発生
器１０の動作について説明する。まず、直流電圧発生器
１０による被試験機器の試験を行う場合、絶縁抵抗測定
器２０を端子Ｃ，Ｄに接続しておくとともに、絶縁抵抗
測定スイッチＳ2 を端子ａ，ｃ側に切替えておく。これ
により、直流電圧発生器１０と絶縁抵抗測定器２０と
は、共に影響を及ぼさない状態で接続されることにな
る。
器１０の動作について説明する。まず、直流電圧発生器
１０による被試験機器の試験を行う場合、絶縁抵抗測定
器２０を端子Ｃ，Ｄに接続しておくとともに、絶縁抵抗
測定スイッチＳ2 を端子ａ，ｃ側に切替えておく。これ
により、直流電圧発生器１０と絶縁抵抗測定器２０と
は、共に影響を及ぼさない状態で接続されることにな
る。
【００２６】そして、被試験機器に対して正電圧を印加
する場合、まず極性切替スイッチＳ1 を端子ａ，ｃ側に
切り替えておく。
する場合、まず極性切替スイッチＳ1 を端子ａ，ｃ側に
切り替えておく。
【００２７】この状態で、直流電圧発生器１０の電源ス
イッチ１２を投入すると、直流電源１１の電圧が発振手
段としてのマルチバイブレータ１３に印加される。マル
チバイブレータ１３が任意の周波数で発振すると、その
出力がトランス１４によって昇圧され、整流手段として
の整流部１５により整流される。
イッチ１２を投入すると、直流電源１１の電圧が発振手
段としてのマルチバイブレータ１３に印加される。マル
チバイブレータ１３が任意の周波数で発振すると、その
出力がトランス１４によって昇圧され、整流手段として
の整流部１５により整流される。
【００２８】整流部１５の出力がアナログタイマ１８に
印加され、アナログタイマ１８が作動を開始すると同時
に、半導体スイッチ１９もオン状態となり、端子Ａ，Ｂ
から被試験機器に正電圧が印加される。
印加され、アナログタイマ１８が作動を開始すると同時
に、半導体スイッチ１９もオン状態となり、端子Ａ，Ｂ
から被試験機器に正電圧が印加される。
【００２９】そして、アナログタイマ１８は、一定時間
が経過すると、半導体スイッチ１９のベース電流を遮断
してその動作を停止させる。これにより、端子Ａ，Ｂか
らの被試験機器への正電圧の印加が停止される。このと
き、被試験機器への正電圧の印加時間がアナログタイマ
１８によって設定されている時間によって制御される。
が経過すると、半導体スイッチ１９のベース電流を遮断
してその動作を停止させる。これにより、端子Ａ，Ｂか
らの被試験機器への正電圧の印加が停止される。このと
き、被試験機器への正電圧の印加時間がアナログタイマ
１８によって設定されている時間によって制御される。
【００３０】これに対し、被試験機器に負電圧を印加す
る場合、極性切替スイッチＳ1 を端子ｂ，ｄ側に切り替
えておく。
る場合、極性切替スイッチＳ1 を端子ｂ，ｄ側に切り替
えておく。
【００３１】この状態で、上述したように、電源スイッ
チ１２を投入すると、直流電源１１の電圧がマルチバイ
ブレータ１３に印加される。マルチバイブレータ１３が
任意の周波数で発振すると、その出力がトランス１４に
よって昇圧され、整流部１５により整流される。
チ１２を投入すると、直流電源１１の電圧がマルチバイ
ブレータ１３に印加される。マルチバイブレータ１３が
任意の周波数で発振すると、その出力がトランス１４に
よって昇圧され、整流部１５により整流される。
【００３２】このとき、整流部１５の出力が負電圧設定
手段としての負電圧発生部１６によって負電圧に設定さ
れ、負電圧電流増幅部１７によって増幅される。
手段としての負電圧発生部１６によって負電圧に設定さ
れ、負電圧電流増幅部１７によって増幅される。
【００３３】またこのとき、整流部１５の出力がアナロ
グタイマ１８に印加され、アナログタイマ１８が作動を
開始すると同時に、半導体スイッチ１９のオン動作によ
り、負電圧電流増幅部１７によって増幅され負電圧が端
子Ａ，Ｂを介して被試験機器に印加される。
グタイマ１８に印加され、アナログタイマ１８が作動を
開始すると同時に、半導体スイッチ１９のオン動作によ
り、負電圧電流増幅部１７によって増幅され負電圧が端
子Ａ，Ｂを介して被試験機器に印加される。
【００３４】そして、アナログタイマ１８は、一定時間
が経過すると、半導体スイッチ１９のベース電流を遮断
してその動作を停止させる。これにより、端子Ａ，Ｂか
らの被試験機器への負電圧の印加が停止される。このと
き、被試験機器への負電圧の印加時間は、上述したアナ
ログタイマ１８によって設定されている時間であって、
正電圧の印加と同じである。
が経過すると、半導体スイッチ１９のベース電流を遮断
してその動作を停止させる。これにより、端子Ａ，Ｂか
らの被試験機器への負電圧の印加が停止される。このと
き、被試験機器への負電圧の印加時間は、上述したアナ
ログタイマ１８によって設定されている時間であって、
正電圧の印加と同じである。
【００３５】一方、被試験機器の絶縁抵抗の測定を行う
場合には、絶縁抵抗測定スイッチＳ2 をｂ，ｄ側に切替
える。これにより、端子Ａ−Ｃ，Ｂ−Ｄ間の経路が直流
電圧発生器１０の内部回路から隔離されるため、その内
部回路の影響を受けずに、絶縁抵抗測定器２０による絶
縁抵抗の測定が可能となる。
場合には、絶縁抵抗測定スイッチＳ2 をｂ，ｄ側に切替
える。これにより、端子Ａ−Ｃ，Ｂ−Ｄ間の経路が直流
電圧発生器１０の内部回路から隔離されるため、その内
部回路の影響を受けずに、絶縁抵抗測定器２０による絶
縁抵抗の測定が可能となる。
【００３６】このように、この実施の形態では、整流部
１５による整流出力の出力系側に系の開閉を行う半導体
スイッチ１９と、整流部１５からの整流出力によって作
動し、一定時間経過後、半導体スイッチ１９をオフする
アナログタイマ１８とを設け、アナログタイマ１８によ
って設定された時間で半導体スイッチ１９をオフするよ
うにしたので、端子Ａ，Ｂを介して被試験機器に印加さ
れる直流電圧の印加時間が一定に維持される。
１５による整流出力の出力系側に系の開閉を行う半導体
スイッチ１９と、整流部１５からの整流出力によって作
動し、一定時間経過後、半導体スイッチ１９をオフする
アナログタイマ１８とを設け、アナログタイマ１８によ
って設定された時間で半導体スイッチ１９をオフするよ
うにしたので、端子Ａ，Ｂを介して被試験機器に印加さ
れる直流電圧の印加時間が一定に維持される。
【００３７】また、絶縁抵抗測定器２０によって被試験
機器の絶縁抵抗測定を行う場合、絶縁抵抗測定スイッチ
Ｓ2 の切替え操作により、直流電圧発生器１０の内部回
路の影響を受けずに、絶縁抵抗測定が可能とされること
から、直流電圧発生器１０の取外し作業と絶縁抵抗測定
器２０の接続作業とが不要となり、迅速な測定が行え
る。
機器の絶縁抵抗測定を行う場合、絶縁抵抗測定スイッチ
Ｓ2 の切替え操作により、直流電圧発生器１０の内部回
路の影響を受けずに、絶縁抵抗測定が可能とされること
から、直流電圧発生器１０の取外し作業と絶縁抵抗測定
器２０の接続作業とが不要となり、迅速な測定が行え
る。
【００３８】図２は、図１の直流電圧発生器１０の構成
を変えた場合の他の実施の形態を示すものである。
を変えた場合の他の実施の形態を示すものである。
【００３９】この実施の形態では、極性切替スイッチＳ
1 の切替えに連動して電源スイッチ１２をオン／オフす
る連動切替手段としての連動切替部３０が設けられてい
る。
1 の切替えに連動して電源スイッチ１２をオン／オフす
る連動切替手段としての連動切替部３０が設けられてい
る。
【００４０】すなわち、被試験機器に対して正電圧又は
負電圧を印加する場合、上述したように、極性切替スイ
ッチＳ1 の切替えが行われるため、この切替え時に連動
切替制御部３０によって電源スイッチ１２が再度オンさ
れ、正電圧の印加から負電圧の印加が電源スイッチ１２
の操作を行うことなく続行されるようになっている。
負電圧を印加する場合、上述したように、極性切替スイ
ッチＳ1 の切替えが行われるため、この切替え時に連動
切替制御部３０によって電源スイッチ１２が再度オンさ
れ、正電圧の印加から負電圧の印加が電源スイッチ１２
の操作を行うことなく続行されるようになっている。
【００４１】したがって、この実施の形態では、被試験
機器に対しての正電圧から負電圧の印加の切替時に電源
スイッチ１２の操作が省かれるので、被試験機器の試験
がさらに迅速に行われる。
機器に対しての正電圧から負電圧の印加の切替時に電源
スイッチ１２の操作が省かれるので、被試験機器の試験
がさらに迅速に行われる。
【００４２】図３は、図１の直流電圧発生器１０の構成
を変えた場合の他の実施の形態を示すものである。
を変えた場合の他の実施の形態を示すものである。
【００４３】この実施の形態では、アナログタイマ１８
における設定時間を変更するためのタイマ設定手段とし
てのタイマ設定部３１が設けられている。
における設定時間を変更するためのタイマ設定手段とし
てのタイマ設定部３１が設けられている。
【００４４】すなわち、アナログタイマ１８は、上述し
たように、電源スイッチ１２が投入された後、一定時間
が経過した時点で、半導体スイッチ１９のベース電流を
遮断することにより、被試験機器への正電圧又は負電圧
の直流電圧の印加時間を一定にするものであるが、タイ
マ設定部３１の操作によってアナログタイマ１８の設定
時間の変更が可能とされることにより、印加時間の一定
の度合いの変更が容易となる。
たように、電源スイッチ１２が投入された後、一定時間
が経過した時点で、半導体スイッチ１９のベース電流を
遮断することにより、被試験機器への正電圧又は負電圧
の直流電圧の印加時間を一定にするものであるが、タイ
マ設定部３１の操作によってアナログタイマ１８の設定
時間の変更が可能とされることにより、印加時間の一定
の度合いの変更が容易となる。
【００４５】したがって、この実施の形態では、タイマ
設定部３１の操作によってアナログタイマ１８の設定時
間の変更が可能とされるため、被試験機器への直流電圧
の印加時間を任意に変更することができ、試験に合った
直流電圧の印加時間の設定変更が容易となる。
設定部３１の操作によってアナログタイマ１８の設定時
間の変更が可能とされるため、被試験機器への直流電圧
の印加時間を任意に変更することができ、試験に合った
直流電圧の印加時間の設定変更が容易となる。
【００４６】図４は、図１の直流電圧発生器１０の構成
を変えた場合の他の実施の形態を示すものである。
を変えた場合の他の実施の形態を示すものである。
【００４７】この実施の形態では、極性切替スイッチＳ
1 と絶縁抵抗測定スイッチＳ2 との切替え状態を監視す
る切替スイッチ監視部３２と、ブザーやランプ等によっ
て構成される警告発生部３３とが設けられている。ま
た、これら切替スイッチ監視部３２及び警告発生部３３
は、切替スイッチ監視手段を構成している。
1 と絶縁抵抗測定スイッチＳ2 との切替え状態を監視す
る切替スイッチ監視部３２と、ブザーやランプ等によっ
て構成される警告発生部３３とが設けられている。ま
た、これら切替スイッチ監視部３２及び警告発生部３３
は、切替スイッチ監視手段を構成している。
【００４８】すなわち、被試験機器への直流電圧の印加
試験を行うとき、絶縁抵抗測定スイッチＳ2 が端子ｂ，
ｄ側に切替えられている状態では、端子Ａ，Ｂからの被
試験機器への直流電圧の印加が行われない。
試験を行うとき、絶縁抵抗測定スイッチＳ2 が端子ｂ，
ｄ側に切替えられている状態では、端子Ａ，Ｂからの被
試験機器への直流電圧の印加が行われない。
【００４９】この場合、切替スイッチ監視部３２によっ
てこれら極性切替スイッチＳ1 と絶縁抵抗測定スイッチ
Ｓ2 との切替え状態が適切でないと判断され、警告発生
部３３から警告音又は警告光が発せられるようになって
いる。
てこれら極性切替スイッチＳ1 と絶縁抵抗測定スイッチ
Ｓ2 との切替え状態が適切でないと判断され、警告発生
部３３から警告音又は警告光が発せられるようになって
いる。
【００５０】これにより、切替え状態の誤りが認識でき
るため、再度、絶縁抵抗測定スイッチＳ2 を切替えるこ
とにより、被試験機器への直流電圧の印加試験が迅速に
行われる。
るため、再度、絶縁抵抗測定スイッチＳ2 を切替えるこ
とにより、被試験機器への直流電圧の印加試験が迅速に
行われる。
【００５１】また、絶縁抵抗測定器２０による絶縁抵抗
の測定を行うとき、絶縁抵抗測定スイッチＳ2 の切替え
を忘れた場合であっても、同様に、切替スイッチ監視部
３２によって絶縁抵抗測定スイッチＳ2 の切替え状態が
不適切と判断され、警告発生部３３から警告音又は警告
光が発せられるため、絶縁抵抗測定スイッチＳ2 の切替
えの誤りを認識することができ、絶縁抵抗測定器２０に
よる被試験機器の絶縁抵抗の測定が迅速に行われる。
の測定を行うとき、絶縁抵抗測定スイッチＳ2 の切替え
を忘れた場合であっても、同様に、切替スイッチ監視部
３２によって絶縁抵抗測定スイッチＳ2 の切替え状態が
不適切と判断され、警告発生部３３から警告音又は警告
光が発せられるため、絶縁抵抗測定スイッチＳ2 の切替
えの誤りを認識することができ、絶縁抵抗測定器２０に
よる被試験機器の絶縁抵抗の測定が迅速に行われる。
【００５２】このように、この実施の形態では、切替ス
イッチ監視部３２によって、極性切替スイッチＳ1 と絶
縁抵抗測定スイッチＳ2 との切替え状態が監視され、こ
れらスイッチの切替え状態が適切でない場合に、警告発
生部３３から警告音又は警告光が発せられるので、試験
時におけるスイッチの切替えの誤りの認識が容易とな
り、試験の迅速化が図れる。
イッチ監視部３２によって、極性切替スイッチＳ1 と絶
縁抵抗測定スイッチＳ2 との切替え状態が監視され、こ
れらスイッチの切替え状態が適切でない場合に、警告発
生部３３から警告音又は警告光が発せられるので、試験
時におけるスイッチの切替えの誤りの認識が容易とな
り、試験の迅速化が図れる。
【００５３】なお、以上の各実施の形態では、連動切替
部３０、タイマ設定部３１、切替スイッチ監視部３２及
び警告発生部３３をそれぞれ個別に設けた場合について
説明したが、この例に限らず、これらの構成要素を適宜
組み合わせて直流電圧発生器１０を構成するようにして
もよい。
部３０、タイマ設定部３１、切替スイッチ監視部３２及
び警告発生部３３をそれぞれ個別に設けた場合について
説明したが、この例に限らず、これらの構成要素を適宜
組み合わせて直流電圧発生器１０を構成するようにして
もよい。
【００５４】また、以上の各実施の形態では、本発明の
直流電圧発生器を、通信機器や電子機器等の被試験機器
の試験を行うために適用した場合について説明したが、
この例に限らず、通信回路系の障害診断を目的とする切
替回路の試験に用いるようにしてもよい。
直流電圧発生器を、通信機器や電子機器等の被試験機器
の試験を行うために適用した場合について説明したが、
この例に限らず、通信回路系の障害診断を目的とする切
替回路の試験に用いるようにしてもよい。
【００５５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の直流電圧
発生器によれば、整流手段による整流出力の出力系側に
系の開閉を行うスイッチング素子と、整流手段からの整
流出力によって作動し、一定時間経過後、スイッチング
素子をオフするタイマ手段とを設け、タイマ手段によっ
て設定された時間でスイッチング素子をオフするように
したので、第１の端子を介して被試験機器に印加される
直流電圧の印加時間が一定に維持される。
発生器によれば、整流手段による整流出力の出力系側に
系の開閉を行うスイッチング素子と、整流手段からの整
流出力によって作動し、一定時間経過後、スイッチング
素子をオフするタイマ手段とを設け、タイマ手段によっ
て設定された時間でスイッチング素子をオフするように
したので、第１の端子を介して被試験機器に印加される
直流電圧の印加時間が一定に維持される。
【００５６】また、絶縁抵抗測定器によって被試験機器
の絶縁抵抗測定を行う場合、経路切替スイッチにより、
直流電圧発生器本体の内部回路の影響を受けずに、絶縁
抵抗測定が可能とされることから、絶縁抵抗測定器の接
続作業が不要となり、迅速な測定が行える。したがっ
て、被試験機器の各種試験を適切、迅速且つ容易に行う
ことができる。
の絶縁抵抗測定を行う場合、経路切替スイッチにより、
直流電圧発生器本体の内部回路の影響を受けずに、絶縁
抵抗測定が可能とされることから、絶縁抵抗測定器の接
続作業が不要となり、迅速な測定が行える。したがっ
て、被試験機器の各種試験を適切、迅速且つ容易に行う
ことができる。
【図１】本発明の直流電圧発生器の一実施の形態を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】図１の直流電圧発生器の構成を変えた場合の他
の実施の形態を示すブロック図である。
の実施の形態を示すブロック図である。
【図３】図１の直流電圧発生器の構成を変えた場合の他
の実施の形態を示すブロック図である。
の実施の形態を示すブロック図である。
【図４】図１の直流電圧発生器の構成を変えた場合の他
の実施の形態を示すブロック図である。
の実施の形態を示すブロック図である。
【図５】従来の直流電圧発生器を示すブロック図であ
る。
る。
１０ 直流電圧発生器 １１ 直流電源 １２ 電源スイッチ １３ マルチバイブレータ １４ トランス １５ 整流部 １６ 負電圧発生部 １７ 負電圧電流増幅部 １８ アナログタイマ １９ 半導体スイッチ １０ 絶縁抵抗測定器 ３０ 連動切替制御部 ３１ タイマ設定部 ３２ 切替スイッチ監視部 ３３ 警告発生部 Ｓ1 極性切替スイッチ Ｓ2 絶縁抵抗測定スイッチ Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ 端子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｈ０２Ｍ 3/28 Ｈ０２Ｍ 3/28 Ｚ
Claims (4)
- 【請求項１】 被試験機器の試験を行うために直流電圧
を印加する直流電圧発生器であって、 直流電源からの電源を投入する電源スイッチと、 この電源スイッチによって投入された前記直流電源から
の直流電圧に基づき、任意の周波数で発振する発振手段
と、 この発振手段による発振出力を整流する整流手段と、 この整流手段による整流出力の出力系の開閉を行うスイ
ッチング素子と、 前記整流手段からの整流出力によって作動し、一定時間
経過後、前記スイッチング素子をオフするタイマ手段
と、 前記整流手段の整流出力を負電圧に設定する負電圧設定
手段と、 前記整流手段によって整流された正電圧と、前記負電圧
設定手段によって設定された負電圧との出力極性を切替
える極性切替スイッチと、 この極性切替スイッチによって切替えられた前記正電圧
又は負電圧の直流電圧を前記被試験機器側に出力する第
１の端子と、 前記被試験機器の絶縁抵抗を測定するための絶縁抵抗測
定器を接続する第２の端子と、 この第２の端子と前記第１の端子との間、又は前記極性
切替スイッチと前記第１の端子との間の経路を切替える
経路切替スイッチとが具備されていることを特徴とする
直流電圧発生器。 - 【請求項２】 前記電源スイッチと前記極性切替スイッ
チとの間には、この極性切替スイッチの切替え操作に連
動して前記電源スイッチをオンさせる連動切替手段が具
備されていることを特徴とする請求項１記載の直流電圧
発生器。 - 【請求項３】 前記タイマ手段は、タイマ設定手段によ
って前記スイッチング素子をオフするまでの時間が設定
変更可能とされていることを特徴とする請求項１又は２
記載の直流電圧発生器。 - 【請求項４】 前記極性切替スイッチと前記経路切替ス
イッチとの間には、これらのスイッチの切替え状態を監
視する切替スイッチ監視手段が介在されており、前記被
試験機器に対する直流電圧印加試験と前記絶縁抵抗の測
定試験を行う際の切替え状態が適切でない場合に、警告
が発せられることを特徴とする請求項１、２又は３記載
の直流電圧発生器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8266299A JPH10111334A (ja) | 1996-10-07 | 1996-10-07 | 直流電圧発生器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8266299A JPH10111334A (ja) | 1996-10-07 | 1996-10-07 | 直流電圧発生器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10111334A true JPH10111334A (ja) | 1998-04-28 |
Family
ID=17429018
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8266299A Pending JPH10111334A (ja) | 1996-10-07 | 1996-10-07 | 直流電圧発生器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10111334A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005069470A1 (en) * | 2004-01-14 | 2005-07-28 | Euicheol Nho | Sag-swell and outage generator for performance test of custom power devices |
| CN102798782A (zh) * | 2012-08-13 | 2012-11-28 | 伍俊 | 一种高压绝缘电阻监测报警仪 |
-
1996
- 1996-10-07 JP JP8266299A patent/JPH10111334A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005069470A1 (en) * | 2004-01-14 | 2005-07-28 | Euicheol Nho | Sag-swell and outage generator for performance test of custom power devices |
| CN102798782A (zh) * | 2012-08-13 | 2012-11-28 | 伍俊 | 一种高压绝缘电阻监测报警仪 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050725 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050809 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20051206 |