JP4437057B2

JP4437057B2 - 少なくとも１つの低圧放電ランプの作動方法、及び、少なくとも１つの低圧放電ランプ用の作動装置

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Publication number: JP4437057B2
Application number: JP2004136513A
Authority: JP
Inventors: ロットイェルク
Original assignee: Patent Treuhand Gesellschaft fuer Elektrische Gluehlampen mbH
Current assignee: Osram GmbH
Priority date: 2003-06-25
Filing date: 2004-04-30
Publication date: 2010-03-24
Anticipated expiration: 2024-04-30
Also published as: CA2465633A1; EP1492393B1; EP1492393B8; US7064499B2; DE10328718A1; EP1492393A1; US20040263096A1; JP2005019386A

Description

本発明は、インバータを有する、少なくとも１つの低圧放電ランプの作動方法であって、少なくとも１つの低圧放電ランプの作動中、少なくとも１つの低圧放電ランプでの整流効果（ｒｅｃｔｉｆｉｅｒｅｆｆｅｃｔ）の生起が監視されて、当該低圧放電ランプの寿命が求められる方法、及び、少なくとも１つの低圧放電ランプ用の作動装置に関する。

このような作動方法は、公知刊行物に、放電ランプ用の端子が設けられた負荷回路が接続されたハーフブリッジインバータを有する回路装置を使用する低圧放電ランプの作動について記載されている（例えば、特許文献１参照）。低圧放電ランプでの整流効果の生起を検出するために、ハーフブリッジコンデンサでの電圧降下が監視され、所定の上方限界値の超過の際、乃至、所定の下方限界値の下回りの際、ハーフブリッジインバータ用の遮断装置が作動される。
国際特許出願、世界知的所有権機関特許出願公開第９９／５６５０６号

本発明の課題は、少なくとも１つの低圧放電ランプでの整流効果を高い信頼度で検出することができ、殊に、整流器作用を誤って検出して作動装置が遮断されてしまうのを回避するようにした、少なくとも１つの低圧放電ランプ用の作動方法を提供することにある。更に、本発明の課題は、この方法を実施するための少なくとも１つの低圧放電ランプ用の作動装置を提供することにある。

この課題は、本発明によると、少なくとも１つの低圧放電ランプでの整流効果の監視のために、少なくとも１つの低圧放電ランプの電気端子の直流電圧降下と、少なくとも１つの低圧放電ランプを流れる電流、又は、当該電流に比例する量を評価することにより解決される。

本発明の、少なくとも１つの低圧放電ランプ用の作動装置は、
ハーフブリッジインバータと、第１の測定装置と、第２の測定装置と、第３の測定装置と、評価ユニットとを有しており、
ハーフブリッジインバータには、負荷回路が接続されており、該負荷回路には、少なくとも１つの低圧放電ランプ及び少なくとも１つのハーフブリッジコンデンサ用の電気端子が設けられており、
第１の測定装置は、少なくとも１つの低圧放電ランプを流れる電流に比例する第１の電圧を測定し、
第２の測定装置は、少なくとも１つのハーフブリッジコンデンサでの電圧降下に比例する第２の電圧を測定し、
第３の測定装置は、ハーフブリッジインバータの給電電圧に比例する第３の電圧を測定し、
評価ユニットは、プログラム制御されて作動するマイクロコントローラを有する測定装置の各出力側と接続されており第１、第２、及び第３の電圧を評価するため、並びに、当該評価結果に依存して、ハーフブリッジインバータを制御するために用いられる。

本発明の、インバータでの、少なくとも１つの低圧放電ランプの作動方法では、少なくとも１つの低圧放電ランプでの整流効果の生起の監視のために、少なくとも１つの低圧放電ランプの電気端子の直流電圧降下と、少なくとも１つの低圧放電ランプを流れる電流、又は、当該電流に比例する量が評価され、この評価から、少なくとも１つの低圧放電ランプでの整流効果が生じていることを判定する基準が定義され、従って、少なくとも１つの低圧放電ランプの寿命が終わったことを判定する基準が定義される。前述の量を監視して評価することによって、整流効果の生起について、使用されている放電ランプや、実際の調光とは無関係に充分な精度で決めることができる。本発明の方法によると、少なくとも１つの放電ランプと作動装置とから構成されたシステムの信頼度を高めることができる。つまり、少なくとも１つの低圧放電ランプの寿命の終わりを決定する許容偏差範囲は、前述の量を用いて正確に特定することができ、このようにして、整流効果を誤って検出して作動装置を遮断してしまうのが回避されるからである。

上述の作動装置により、本発明の作動方法を実施することができる。

前述の量を評価するために、有利には、少なくとも１つの低圧放電ランプを流れる電流と、少なくとも１つの低圧放電ランプの電気端子の直流電圧降下との積が、所定の電力値と比較される。つまり、この積により、直接、放電ランプ電極の放射特性と、高い信頼度の最大値（国際電気標準ＩＥＣ６１３４７−２−３に対する補足、テスト２”ＡｓｙｍｍｅｔｒｉｃＰｏｗｅｒＤｉｓｓｉｐａｔｉｏｎ”の”Ｐａｒｔｉｃｕｌａｒｒｅｑｕｉｒｅｍｅｎｔｆｏｒａ．ｃ．ｓｕｐｐｌｉｅｄｅｌｅｃｔｏｎｉｃｓｂａｌｌａｓｔｓｆｏｒｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｔｌａｍｐｓ”に記載されている）と直接比較することができる電力値を示す結果とが非対称となる程度が示されるからである。この最大値は、Ｔ５ランプでは７．５ワット、Ｔ４ランプでは５．０ワットである。

整流効果生起時に、放電ランプ電極の加熱を回避するために、放電ランプの作動期間全体に亘って、前述の量のアクチュエートされた値との比較が連続的に繰り返される。整流効果を高い信頼度で検出することができるために、従って、許容可能な値を偶然に１回でも超過して、少なくとも１つの低圧放電ランプが遮断されないようにするために、有利には、比較結果に依存してカウンタ過程を実行し、カウンタのオーバーフローの場合、又は、上側のカウンタ限界値の超過時には、ステータスビットをセットしたりリセットしたりするとよい。従って、ステータスビットの状態は、少なくとも１つの放電ランプが既にその寿命の終わりに達しているかどうかを示すインジケータである。

有利には、比較を実行する相応のプログラムが実行されるマイクロコントローラを用いて評価が行われる。マイクロコントローラは、付加的に、インバータのトランジスタスイッチ用のドライバ回路の制御も行う。評価のために、有利には、放電ランプ寿命の種々異なる時点で求められた、所定の電力値と、少なくとも１つの低圧放電ランプの電気端子の直流電圧降下と少なくとも１つの低圧放電ランプを流れる電流、又は、当該電流に比例する量との積との差の値が加算される。

少なくとも１つの低圧放電ランプを流れる電流、又は、それに比例する量は、有利には、抵抗を用いて求められ、この抵抗は、少なくとも１つの放電ランプを流れる電流の半波の間、例えば、正の半波の間、少なくとも１つの低圧放電ランプと直列に接続される。この抵抗での電圧降下から、有利には、抵抗の後ろ側に接続されたローパスフィルタを用いて平滑した後、少なくとも１つの低圧放電ランプを流れる電流が求められる。前述の抵抗での電圧降下は、少なくとも１つの低圧放電ランプの明るさ調整に付加的に使うことができる。従って、同じ測定値を、例えば、マイクロコントローラを用いて、明るさ調整のためにも、少なくとも１つの低圧放電ランプの寿命の終わりを検出するためにも評価することができる。

本発明の特に有利な実施例は、従属請求項に記載されている。

以下、有利な図示の実施例を用いて、本発明について詳細に説明する。

図１に略示された本発明の作動装置は、並列接続された２つの低圧放電ランプ、特に、Ｔ５蛍光ランプＦＬ１、ＦＬ２の作動用の電子安定器である。この安定器により、殊に、蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２の明るさ調整も行えるようになる。

安定器は、２つの電源電圧端子１，２、その後ろ側に接続された電源電圧整流器ＧＬを有している。電源電圧整流器ＧＬは、フィルタ回路、場合によっては、ステップアップコンバータを有しており、ステップアップコンバータの電圧出力側には、その後ろ側に接続されたハーフブリッジインバータ用の給電電圧が出力される。ハーフブリッジインバータは、２つのハーフブリッジトランジスタＴ１，Ｔ２を有しており、２つのハーフブリッジトランジスタＴ１，Ｔ２の中間タップＭには、直列共振回路として構成された負荷回路が接続されており、負荷回路は、共振インダクタンスＬ１及び共振コンデンサＣ１を有している。共振コンデンサＣ１に対して並列に、２つの蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２からなる並列回路が設けられている。この並列回路は、２つのハーフブリッジコンデンサＣ２，Ｃ３を有しており、２つのハーフブリッジコンデンサＣ２，Ｃ３は、各々蛍光ランプＦＬ１乃至ＦＬ２の１つに直列に設けられている。更に、並列回路の各分路内に、シンメトリートランスＬ２のコイルＮ１乃至Ｎ２が接続されており、このシンメトリートランスＬ２は、両分路内の放電ランプ電流をシンメトリーにするのに使われる。第１のハーフブリッジコンデンサＣ２の高い電位の端子Ａ２は、トランスＬ２のコイルＮ２、第１の蛍光ランプＦＬ１の電極Ｅ２及び抵抗Ｒ１を介して、電源電圧整流器ＧＬの正の直流電圧出力側と接続されている。これと同様に、第２のハーフブリッジコンデンサＣ３の高い電位の端子Ａ３は、トランスＬ２のコイルＮ１、第２の蛍光ランプＦＬ２の電極Ｅ４、及び、抵抗Ｒ２を介して、電源電圧整流器ＧＬの正の直流電圧出力側と接続されている。ハーフブリッジコンデンサＣ２，Ｃ３の低い電位の端子は、電源電圧整流器ＧＬの負の直流電圧出力側及びアース電位と接続されている。共振コンデンサＣ１の端子Ａ１は、第１の蛍光ランプＦＬ１の電極Ｅ１、第２の蛍光ランプの電極Ｅ３と接続されており、共振インダクタンスＬ１を介してハーフブリッジインバータの中間タップＭに接続されている。共振コンデンサＣ１の他方の端子は、電源電圧整流器ＧＬの負の直流電圧出力側及びアース電位と接続されている。更に、端子Ａ１は、電極Ｅ１と抵抗Ｒ３とを介して電源電圧整流器ＧＬの正の直流電圧出力側と接続されている。図１に略示された加熱装置Ｈは、両蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２の全ての電極Ｅ１，Ｅ２，Ｅ３，Ｅ４に誘導的に接続されており、気体放電の点弧前、又は、放電ランプの調光作動中の放電ランプ電極の加熱のために使われる。この加熱装置Ｈの詳細については、例えば、ヨーロッパ特許公開第０７４８１４６号公報に記載されている。抵抗Ｒ０，Ｒ１，Ｒ２及びＲ３は、タップＡ１，Ａ２及びＡ３での電位を調整するのに使われる。殊に、前述の抵抗用いて、作動装置のスイッチオン直後、及び、放電ランプＦＬ１，ＦＬ２での気体放電の点弧前に、コンデンサＣ１，Ｃ２及びＣ３に相応の電圧を形成することができる。

ハーフブリッジトランジスタＴ１，Ｔ２は、プログラム制御により作動されるマイクロコントローラＭＣ、及び、トランジスタＴ１，Ｔ２用のドライバ回路ＴＲを用いて制御される。トランジスタＴ１，Ｔ２を交互にスイッチングすることによって、中間タップＭは、交互に、電源電圧整流器ＧＬの負及び正の直流電圧出力側と接続される。ハーフブリッジコンデンサＣ２，Ｃ３は、ハーフブリッジインバータの給電電圧の半分に蓄電されるので、放電ランプ放電ランプの作動中、タップＭとＡ２乃至Ａ３間に高周波交流電流が流れ、この交流電流の周波数は、トランジスタＴ１，Ｔ２のスイッチングクロックによって決められる。蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２内の気体放電の点弧のために、ハーフブリッジトランジスタＴ１，Ｔ２のスイッチングクロックが、負荷回路内の交流電流の周波数が、直列共振回路Ｌ１，Ｃ１の共振周波数の近くになるように変えられる。そうすることによって、共振コンデンサＣ１に、蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２内の気体放電を点弧するのに充分に高い電圧が生じる。蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２内の気体放電の点弧後、直列共振回路Ｌ１，Ｃ１が蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２の並列回路によって減衰される。蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２は、同様に負荷回路及び蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２の並列回路内の交流電流の周波数を変えることによって明るさを調整することができる。

蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２の並列回路を流れる電流Ｉの測定のために、抵抗Ｒ１４、両整流ダイオードＤ３，Ｄ４及びローパスフィルタＲ１５，Ｃ１０が使われる。抵抗Ｒ１４では、両ダイオードＤ３，Ｄ４の極性に基づいて、電流Ｉの正の半波に比例する電圧が測定される。後ろ側に接続されたローパスフィルタＲ１５，Ｃ１０を用いて、１つ又は複数の半波に亘って平均化された、この電圧の値Ｕ１が、マイクロコントローラＭＣの端子Ａ１１に供給されて評価される。従って、時間的に平均化された電圧Ｕ１は、後ろ側に接続された放電ランプＦＬ１，ＦＬ２を流れる電流Ｉの正の半波の時間平均値Ｉ_＋に比例する。端子Ａ１１で検出される電圧Ｕ１は、両蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２の明るさ調整用にも使われる。

電源電圧整流器ＧＬの直流電圧出力側に並列に、分圧器Ｒ６，Ｒ７が、抵抗Ｒ７に並列接続されたコンデンサＣ５と共に設けられている。マイクロコントローラＭＣの相応のタップＡ６と接続された抵抗Ｒ６，Ｒ７間のタップＡ６で、ハーフブリッジインバータの給電電圧に比例する電圧Ｕ２が測定される。ハーフブリッジコンデンサＣ３に並列に、分圧器Ｒ８，Ｒ９が、抵抗Ｒ９に対して並列に接続されたコンデンサＣ６と共に設けられている。マイクロコントローラＭＣの相応の端子Ａ７と接続された抵抗Ｒ８，Ｒ９間のタップＡ７で、ハーフブリッジコンデンサＣ３での電圧降下に比例する電圧Ｕ３が測定される。これと同様に、ハーフブリッジコンデンサＣ２に対して並列に、分圧器Ｒ１０，Ｒ１１が、抵抗Ｒ１１に対して並列に接続されたコンデンサＣ７と共に設けられている。マイクロコントローラＭＣの相応の端子Ａ８と接続された抵抗Ｒ１０，Ｒ１１間のタップＡ８で、ハーフブリッジコンデンサＣ２での電圧降下に比例する電圧Ｕ４が測定される。

端子Ａ６，Ａ７，Ａ８及びＡ１１に印加される電圧Ｕ１〜Ｕ４は、アナログ−デジタル変換器を用いてデジタル値に変換され、マイクロコントローラＭＣによって、マイクロコントローラ内で実行されるプログラムを用いて評価されて、ドライバ回路ＴＲを介してハーフブリッジトランジスタＴ１，Ｔ２の相応の制御によって、蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２の明るさの調整と、放電ランプＦＬ１，ＦＬ２の寿命が終わったことを検出することができるようになる。放電ランプＦＬ１，ＦＬ２の寿命が終わったことは、蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２内の整流効果の生起を監視することによって検出することができる。このために、マイクロコントローラＭＣを用いて蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２の電気端子の直流電圧降下Ｕ_ｄｃ１乃至Ｕ_ｄｃ２、及び、蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２を流れる電流、即ち、蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２の並列回路を流れる全電流Ｉが評価される。この電流Ｉの正の半波に亘る平均値Ｉ_＋は、電圧Ｕ１と抵抗Ｒ１４とから算出される：
Ｉ_＋＝Ｕ１／Ｒ１４（１）
蛍光ランプＦＬ１の電気端子の直流電圧降下Ｕ_ｄｃ１は、ハーフブリッジインバータの１／２の給電電圧と、ハーフブリッジコンデンサＣ２での電圧降下との差から算出され、従って、電圧Ｕ２及びＵ４から求められる。
Ｕ_ｄｃ１＝１／２・Ｕ２・（Ｒ６＋Ｒ７）／Ｒ７−Ｕ４・（Ｒ１０＋Ｒ１１）／Ｒ１１
（２）
それと同様に、蛍光ランプＦＬ２の電気端子の直流電圧降下Ｕ_ｄｃ２は、ハーフブリッジインバータの１／２の給電電圧とハーフブリッジコンデンサＣ３での電圧降下との差から算出され、従って、電圧Ｕ２及びＵ３から求めることができる。
Ｕ_ｄｃ２＝１／２・Ｕ２・（Ｒ６＋Ｒ７）／Ｒ７−Ｕ３・（Ｒ８＋Ｒ９）／Ｒ９
（３）
前述の量Ｉ＋乃至Ｕ_ｄｃ２から、両蛍光ランプＦＬ１乃至ＦＬ２に対して、電力Ｐ１乃至Ｐ２が、以下の式
Ｐ１＝Ｉ＋・｜Ｕ_ｄｃ１｜・ｐ乃至Ｐ２＝Ｉ＋・｜Ｕ_ｄｃ２｜・ｐ
（４ａ），（４ｂ）
から算出され、その際、補正係数ｐは、曲線形状に依存し、形状計数ｋ及びオンオフ比τから
ｐ＝ｋ^２／τ （５）
が得られる。

オンオフ比０．５の正弦波状信号の場合、補正係数ｐは、値１．１１である。電力Ｐ１乃至Ｐ２の値は、直接”Ｔｅｓｔ２：ＡｓｙｍｍｅｔｒｉｃＰｏｗｅｒＤｉｓｓｉｐａｔｉｏｎ”（国際電気標準ＩＥＣ６１３４７−２−３に対する補足）を用いて実行された、Ｔ５放電管での放電管電力の７．５ワットの最大許容限界値Ｐ_ｍａｘと比較して、両蛍光ランプＦＬ１、ＦＬ２の寿命の終わりを監視することができる。この比較は、マイクロコントローラＭＣを用いて、放電ランプ作動中周期的に両放電ランプＦＬ１，ＦＬ２に対して繰り返される。

マイクロコントローラでの比較の評価時に、式（４ａ，４ｂ）での第２の乗算を省略するために、補正係数ｐが比較値Ｐ_ｍａｘで一緒に算出され、この値が不揮発性メモリ内に記憶される。連続作動中、この記憶値が周期的にＩ＋とＵ_ｄｃ１乃至Ｕ_ｄｃ２の値との積と比較される。

以下、両Ｔ５蛍光ランプＦＬ１，ＦＬ２の寿命の終わりの監視のための方法について、図２に示された流れ図を用いて詳細に説明する。

周期的に実行される方法の開始時に、マイクロコントローラＭＣで実行されるプログラムを用いて、方法の各サイクル中にアクチュエートされた、量Ｕ１，Ｕ２及びＵ３乃至Ｕ４の測定値から、上述の式により、放電ランプＦＬ１及びＦＬ２に対して順次連続して電力Ｐ１及びＰ２が算出され、各々最大許容電力Ｐ_ｍａｘと比較される。電力Ｐ１乃至Ｐ２が最大許容電力Ｐ_ｍａｘよりも小さく、放電ランプＦＬ１乃至ＦＬ２用のカウント変数Ｚ１乃至Ｚ２のカウンタ状態がゼロである場合、放電ランプＦＬ１乃至ＦＬ２用の実際のサイクルが止められる。電力Ｐ１乃至Ｐ２が最大許容電力Ｐ_ｍａｘよりも小さく、放電ランプＦＬ１乃至ＦＬ２用のカウント変数Ｚ１乃至Ｚ２のカウンタ状態がゼロよりも大きい場合、カウンタＺ１乃至Ｚ２は、１だけ小さくなる。その後、カウンタ状態がゼロに等しいと、放電ランプＦＬ１乃至ＦＬ２の寿命が終わりに達したためにステータスビットＳ１乃至Ｓ２が消去され、カウンタ状態がゼロに等しくないと、カウンタ状態Ｚ１乃至Ｚ２が記憶され、放電ランプＦＬ１乃至ＦＬ２用の実際のサイクルが止められる。しかし、電力Ｐ１乃至Ｐ２が最大許容電力Ｐ_ｍａｘよりも小さくない場合には、カウンタＺ１乃至Ｚ２は、１だけ大きくなる。その後、カウンタＺ１乃至Ｚ２の値が上側カウンタ限界値ＺＳＷを超過すると、ステータスビットＳ１乃至Ｓ２がセットされ、即ち、放電ランプＦＬ１乃至ＦＬ２は、その寿命の終わりに達する。カウンタＺ１乃至Ｚ２の値が上側カウンタ限界値ＺＳＷよりも大きくない場合、新規のカウンタ状態Ｚ１乃至Ｚ２が記憶され、続いて、放電ランプＦＬ１乃至ＦＬ２用の実際のサイクルが止められる。上側カウンタ限界値ＺＳＷが設定可能である。

ステータスビットＳ１又はステータスビットＳ２がセットされた場合、作動装置が遮断される。

本発明は、これまで詳述した実施例に限定されるものではない。例えば、放電ランプＦＬ１、ＦＬ２を、順次連続して同じサイクルで問い合わせする代わりに、交番的に問い合わせてもよい。更に、カウンタ状態Ｚ１，Ｚ２を、許容可能な限界値を高く超過乃至下回った際に、１より大きな値だけ大きくしたり、又は、小さくしたりしてもよい。許容可能な最大限界値の超過の際に、作動装置乃至放電ランプＦＬ１，ＦＬ２を遮断する代わりに、許容可能な限界値を再度持続的に下回るようになる迄、放電ランプＦＬ１，ＦＬ２を著しく小さな電力で作動してもよい。

本発明の作動方法を実施するための本発明の作動装置の回路装置の回路略図。

本発明の作動方法の流れ図。

符号の説明

ＦＬ１，ＦＬ２蛍光ランプ
１，２電源電圧端子
ＧＬ電源電圧整流器
Ｈ加熱装置
ＭＣマイクロコントローラ
ＴＲドライバ回路

Claims

ハーフブリッジインバータ（Ｔ１，Ｔ２）を有する、少なくとも１つの低圧放電ランプの作動方法であって、
前記ハーフブリッジインバータ（Ｔ１，Ｔ２）には負荷回路（Ｌ１，Ｃ１）が接続されており、該負荷回路（Ｌ１，Ｃ１）内には少なくとも１つの前記低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）および少なくとも１つのハーフブリッジコンデンサ（Ｃ２，Ｃ３）用の電気端子が配置されており、少なくとも１つの前記低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）の作動中、少なくとも１つの前記低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）での整流効果の生起が監視されて、当該低圧放電ランプの寿命が求められる方法において、
少なくとも１つの前記低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）での整流効果の監視のために、少なくとも１つの前記低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）を流れる電流（Ｉ）に比例する第１の電圧（Ｕ１）を測定し、且つ、少なくとも１つの前記ハーフブリッジコンデンサ（Ｃ２，Ｃ３）での電圧降下に比例する、測定された第２の電圧（Ｕ３，Ｕ４）と、前記ハーフブリッジインバータ（Ｔ１，Ｔ２）の給電電圧に比例する、測定された第３の電圧（Ｕ２）とから直流電圧降下（Ｕ _dc1 ，Ｕ _dc2 ）を測定することにより、少なくとも１つの前記低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）の電気端子の直流電圧降下（Ｕ_dc1，Ｕ_dc2）と、少なくとも１つの前記低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）を流れる電流（Ｉ）、又は、当該電流に比例する量を評価する
ことを特徴とする方法。
少なくとも１つの低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）の電気端子の直流電圧降下（Ｕ_ｄｃ１，Ｕ_ｄｃ２）と、少なくとも１つの前記低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）を流れる電流（Ｉ）との積、又は、当該積に比例する量を、所定の出力値（Ｐ_ｍａｘ）と比較する請求項１記載の方法。
放電ランプの作動中、比較を周期的に繰り返す請求項２記載の方法。
少なくとも１つの低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）の電気端子の直流電圧降下（Ｕ_ｄｃ１，Ｕ_ｄｃ２）と、少なくとも１つの前記低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）を流れる電流（Ｉ）、又は、当該電流（Ｉ）に比例する、マイクロコントローラ（ＭＣ）に供給された量を求めて、前記マイクロコントローラ（ＭＣ）を用いてプログラム制御により評価を実行する請求項１記載の方法。
比較の結果に依存して、計数過程（Ｚ１，Ｚ２）を実行し、カウンタオーバーフローの場合には、ステータスビット（Ｓ１，Ｓ２）をセット乃至リセットする請求項２，３又は４記載の方法。
放電ランプ作動の種々異なる時点で求められた、所定の出力値（Ｐ_ｍａｘ）と、少なくとも１つの低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）の電気端子の直流電圧降下（Ｕ_ｄｃ１，Ｕ_ｄｃ２）と前記少なくとも１つの低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）を流れる電流、又は、当該電流の値に比例する量との積との差の値を加算して、評価する請求項１〜５迄の何れか１記載の方法。
少なくとも１つの低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）を流れる電流、又は、当該電流に比例する量を、抵抗（Ｒ１４）を用いて検出し、該抵抗（Ｒ１４）は、前記少なくとも１つの低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）を流れる電流の半波の間、前記少なくとも１つの低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）に直列接続される請求項１記載の方法。
抵抗（Ｒ１４）での電圧降下を、ローパスフィルタ（Ｒ１５，Ｃ１０）を用いて評価する請求項７記載の方法。
少なくとも１つの低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）用の作動装置において、
ハーフブリッジインバータ（Ｔ１，Ｔ２）と、第１の測定装置（Ｒ１４，Ｒ１５，Ｄ３，Ｄ４，Ｃ１０）と、第２の測定装置（Ｒ８，Ｒ９，Ｃ６；Ｒ１０，Ｃ７）と、第３の測定装置（Ｒ６，Ｒ７，Ｃ５）と、評価ユニット（ＭＣ、ＴＲ）とを有しており、
前記ハーフブリッジインバータ（Ｔ１，Ｔ２）には、負荷回路（Ｌ１，Ｃ１）が接続されており、該負荷回路（Ｌ１，Ｃ１）には、少なくとも１つの低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）及び少なくとも１つのハーフブリッジコンデンサ（Ｃ２，Ｃ３）用の電気端子が設けられており、
前記第１の測定装置（Ｒ１４，Ｒ１５，Ｄ３，Ｄ４，Ｃ１０）は、前記少なくとも１つの低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）を流れる電流に比例する第１の電圧（Ｕ１）を測定し、
前記第２の測定装置（Ｒ８，Ｒ９，Ｃ６；Ｒ１０，Ｃ７）は、前記少なくとも１つのハーフブリッジコンデンサ（Ｃ２，Ｃ３）での電圧降下に比例する第２の電圧（Ｕ３，Ｕ４）を測定し、
前記第３の測定装置（Ｒ６，Ｒ７，Ｃ５）は、前記ハーフブリッジインバータ（Ｔ１，Ｔ２）の給電電圧に比例する第３の電圧（Ｕ２）を測定し、
前記評価ユニット（ＭＣ、ＴＲ）は、プログラム制御されて作動するマイクロコントローラ（ＭＣ）を有する測定装置の各出力側と接続されており、前記第１、第２、及び第３の電圧（Ｕ１；Ｕ３、Ｕ４；Ｕ２）を評価するため、前記少なくとも１つの低圧放電ランプ（ＦＬ１，ＦＬ２）の電気端子を介する直流電圧降下（Ｕ _dc1 ，Ｕ _dc2 ）を評価するため、並びに、当該評価結果に依存して、前記ハーフブリッジインバータ（Ｔ１，Ｔ２）を制御するために用いられる
ことを特徴とする作動装置。