JPH10115656A - ダイオ−ド逆回復時間の測定回路 - Google Patents
ダイオ−ド逆回復時間の測定回路Info
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- JPH10115656A JPH10115656A JP28937896A JP28937896A JPH10115656A JP H10115656 A JPH10115656 A JP H10115656A JP 28937896 A JP28937896 A JP 28937896A JP 28937896 A JP28937896 A JP 28937896A JP H10115656 A JPH10115656 A JP H10115656A
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- recovery time
- measuring
- capacitor
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 生産ラインでダイオ−ドの逆回復時間を測定
するとき、被測定ダイオ−ドをつかむための配線インダ
クタンスによる影響を少なくするとともに、逆回復波形
の違いを判別できるようにしたダイオ−ドの逆回復時間
の測定回路を得る。 【構成】 正弦波発振器Ｇ2により、ダイオ−ドＤ1の逆
回復時間の逆数とほぼ等しい電圧を印加する。これによ
り、ダイオ−ドＤ1に流れる順方向電流によってコンデ
ンサＣ1を充電する。ダイオ−ドＤ1の蓄積電荷量に比例
してコンデンサＣ1に蓄積された電荷を放電させる方法
で、逆回復時間ｔｒｒとコンデンサＣ1の端子電圧値が
比例関係にあることを利用する測定法である。測定周波
数は測定可能周波数を区間、例えば５〜１０ＭＨｚの値
を使用することにより判別精度が高まる。この方法は間
接的にｔｒｒを判別するもので、あらかじめＩF、ＩR法
又はｄｉ／ｄｔ法によるｔｒｒ値とＣ1端子電圧値との
校正テ−ブルを作っておく必要がある。
するとき、被測定ダイオ−ドをつかむための配線インダ
クタンスによる影響を少なくするとともに、逆回復波形
の違いを判別できるようにしたダイオ−ドの逆回復時間
の測定回路を得る。 【構成】 正弦波発振器Ｇ2により、ダイオ−ドＤ1の逆
回復時間の逆数とほぼ等しい電圧を印加する。これによ
り、ダイオ−ドＤ1に流れる順方向電流によってコンデ
ンサＣ1を充電する。ダイオ−ドＤ1の蓄積電荷量に比例
してコンデンサＣ1に蓄積された電荷を放電させる方法
で、逆回復時間ｔｒｒとコンデンサＣ1の端子電圧値が
比例関係にあることを利用する測定法である。測定周波
数は測定可能周波数を区間、例えば５〜１０ＭＨｚの値
を使用することにより判別精度が高まる。この方法は間
接的にｔｒｒを判別するもので、あらかじめＩF、ＩR法
又はｄｉ／ｄｔ法によるｔｒｒ値とＣ1端子電圧値との
校正テ−ブルを作っておく必要がある。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ダイオ−ドの逆回
復時間を測定する測定回路に関する。
復時間を測定する測定回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】図１及び図２が従来から用いられている
逆回復時間測定回路の一例である。図１はＩF、ＩR法に
よる測定回路であり、図３はｄｉ／ｄｔによる測定回路
である。
逆回復時間測定回路の一例である。図１はＩF、ＩR法に
よる測定回路であり、図３はｄｉ／ｄｔによる測定回路
である。
【０００３】図１のＩF、ＩR法による測定回路に於い
て、パルス発生器Ｇ1により、例えば、１ＫＨZの矩形波
を抵抗Ｒ1を通して、被測定ダイオ−ドＤ1に印加する。 （２） これにより、ダイオ−ドＤ1の電流波形は図２に示す様
な波形となる。ＩF（順方向電流）、ＩR（逆方向電流）
をあらかじめ指定の値にしておき、電流波形中に抵抗Ｒ
1によるＩRの電流制限期間が存在するので、これから逆
回復時間（ｔｒｒ）を測定する。
て、パルス発生器Ｇ1により、例えば、１ＫＨZの矩形波
を抵抗Ｒ1を通して、被測定ダイオ−ドＤ1に印加する。 （２） これにより、ダイオ−ドＤ1の電流波形は図２に示す様
な波形となる。ＩF（順方向電流）、ＩR（逆方向電流）
をあらかじめ指定の値にしておき、電流波形中に抵抗Ｒ
1によるＩRの電流制限期間が存在するので、これから逆
回復時間（ｔｒｒ）を測定する。
【０００４】図３のｄｉ／ｄｔ法による測定回路に於い
て、一方の電源電圧Ｖ1より、スイッチＳ1を閉じて抵抗
Ｒ2を通して被測定ダイオ−ドＤ1に順方向に電流を流
す。次にスイッチＳ1は閉じたまま、Ｖ1より高い他方の
電源電圧Ｖ2より、スイッチＳ2を閉じて被測定ダイオ−
ドＤ2に逆方向に電流を流す。尚、インダクタンスＬ1
は、電流減少率を決める定数である。
て、一方の電源電圧Ｖ1より、スイッチＳ1を閉じて抵抗
Ｒ2を通して被測定ダイオ−ドＤ1に順方向に電流を流
す。次にスイッチＳ1は閉じたまま、Ｖ1より高い他方の
電源電圧Ｖ2より、スイッチＳ2を閉じて被測定ダイオ−
ドＤ2に逆方向に電流を流す。尚、インダクタンスＬ1
は、電流減少率を決める定数である。
【０００５】従って、図３のｄｉ／ｄｔ法による測定回
路にでは、図４に示す様な電流波形が発生する。ここで
ＩFを指定の値とし、電流転流期間中の電流減少率を条
件として、逆回復時間ｔｒｒを測定する。
路にでは、図４に示す様な電流波形が発生する。ここで
ＩFを指定の値とし、電流転流期間中の電流減少率を条
件として、逆回復時間ｔｒｒを測定する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述のＩF、ＩR法、ｄ
ｉ／ｄｔ法のいずれの測定方法においても、生産ライン
で測定する場合は、接触子等を用いて被測定ダイオ−ド
をつまんで測定する為、配線が長くなり電流減少率が一
定とならず、測定値の再現性に問題が生ずる。又、接触
子までの配線インダクタンスも無視出来ない大きさとな
り、従ってｄｉ／ｄｔを大きく出来ず、例えば逆回復時
間ｔｒｒ≦５０ｎｓ程度の高速ダイオ−ドを測定する事
が出来ない等の問題がある。
ｉ／ｄｔ法のいずれの測定方法においても、生産ライン
で測定する場合は、接触子等を用いて被測定ダイオ−ド
をつまんで測定する為、配線が長くなり電流減少率が一
定とならず、測定値の再現性に問題が生ずる。又、接触
子までの配線インダクタンスも無視出来ない大きさとな
り、従ってｄｉ／ｄｔを大きく出来ず、例えば逆回復時
間ｔｒｒ≦５０ｎｓ程度の高速ダイオ−ドを測定する事
が出来ない等の問題がある。
【０００７】又、図５はＩF、ＩR法による、ダイオ−ド
の良品と不良品の場合の電流波形を示したものである。
逆回復時間ｔｒｒは、ＩRが１０％まで回復した時の時
間で一般的に定義されているが、図５のＡ（良品）、Ｂ
（不良品）の場合の波形の判別が出来ない等の （３） 問題点がある。
の良品と不良品の場合の電流波形を示したものである。
逆回復時間ｔｒｒは、ＩRが１０％まで回復した時の時
間で一般的に定義されているが、図５のＡ（良品）、Ｂ
（不良品）の場合の波形の判別が出来ない等の （３） 問題点がある。
【０００８】そこで本発明は、生産ラインで接触子等に
より被測定ダイオ−ドをつまみ、往復の配線が６０ｃｍ
程度ある様な場合に於いても、良品、不良品のダイオ−
ドの逆回復波形を再現性良く判別出来る、逆回復時間の
測定回路を提供する事を目的とするものである。
より被測定ダイオ−ドをつまみ、往復の配線が６０ｃｍ
程度ある様な場合に於いても、良品、不良品のダイオ−
ドの逆回復波形を再現性良く判別出来る、逆回復時間の
測定回路を提供する事を目的とするものである。
【０００９】
【課題を解決する為の手段】本発明は、正弦波発振器の
電圧を、インピ−ダンスを介して被測定ダイオ−ドに印
加し、前記インピ−ダンスの少なくとも一部に発生する
直流電圧によりコンデンサを充電し、前記コンデンサの
端子電圧を測定する事を特徴とするダイオ−ド逆回復時
間の測定回路である。
電圧を、インピ−ダンスを介して被測定ダイオ−ドに印
加し、前記インピ−ダンスの少なくとも一部に発生する
直流電圧によりコンデンサを充電し、前記コンデンサの
端子電圧を測定する事を特徴とするダイオ−ド逆回復時
間の測定回路である。
【００１０】正弦波発振器の周波数は、被測定ダイオ−
ドの逆回復時間が無視出来ない周波数領域が望ましく、
言いかえればダイオ−ドの逆回復時間の逆数とほぼ等し
くする事が好ましい。
ドの逆回復時間が無視出来ない周波数領域が望ましく、
言いかえればダイオ−ドの逆回復時間の逆数とほぼ等し
くする事が好ましい。
【００１１】又、コンデンサの端子電圧と逆回復時間と
の換算テ−ブルにより、被測定ダイオ−ドの逆回復時間
を測定する事が出来る。
の換算テ−ブルにより、被測定ダイオ−ドの逆回復時間
を測定する事が出来る。
【００１２】
【発明の実施の形態】図６は、本発明の一実施例で、Ｇ
2は正弦波発振器、Ｒ1、Ｒ3はダイオ−ドの順方向、逆
方向電流制限抵抗、Ｃ1は被測定ダイオ−ドＤ1の整流電
圧測定用コンデンサ、Ｒ4はコンデンサＣ1の充放電時定
数を決める抵抗、Ｒ5は測定器（直流電圧計）の内部イ
ンピ−ダンス、Ｄ1は被測定ダイオ−ドである。
2は正弦波発振器、Ｒ1、Ｒ3はダイオ−ドの順方向、逆
方向電流制限抵抗、Ｃ1は被測定ダイオ−ドＤ1の整流電
圧測定用コンデンサ、Ｒ4はコンデンサＣ1の充放電時定
数を決める抵抗、Ｒ5は測定器（直流電圧計）の内部イ
ンピ−ダンス、Ｄ1は被測定ダイオ−ドである。
【００１３】正弦波発振器Ｇ2により、インダクタンス
の依存性を少なくする為に正弦波電圧を印加する。 （４） 被測定ダイオ−ドＤ1が順方向の時は、Ｇ2→Ｒ1→Ｄ1→
Ｒ3→Ｇ2の経路で電流が流れ、抵抗Ｒ3の端子電圧によ
り、抵抗Ｒ4を通してコンデンサＣ1が充電される。
の依存性を少なくする為に正弦波電圧を印加する。 （４） 被測定ダイオ−ドＤ1が順方向の時は、Ｇ2→Ｒ1→Ｄ1→
Ｒ3→Ｇ2の経路で電流が流れ、抵抗Ｒ3の端子電圧によ
り、抵抗Ｒ4を通してコンデンサＣ1が充電される。
【００１４】そして、被測定用ダイオ−ドＤ1が逆方向
の時は、ダイオ−ドＤ1の蓄積電荷により、コンデンサ
Ｃ1に充電されていた電荷は、Ｃ1→Ｒ4→Ｄ1→Ｒ1→Ｇ2
→Ｃ1を通して放電される。この放電々荷量はダイオ−
ドＤ1の蓄積電荷に比例する。
の時は、ダイオ−ドＤ1の蓄積電荷により、コンデンサ
Ｃ1に充電されていた電荷は、Ｃ1→Ｒ4→Ｄ1→Ｒ1→Ｇ2
→Ｃ1を通して放電される。この放電々荷量はダイオ−
ドＤ1の蓄積電荷に比例する。
【００１５】この為、蓄積電荷の大きいダイオ−ド程、
コンデンサＣ1の端子電圧は小さくなる。この特性を示
すのが図７である。すなわち、図７は、逆回復波形の相
違によるコンデンサＣ1の端子電圧のちがいを示す特性
図である。
コンデンサＣ1の端子電圧は小さくなる。この特性を示
すのが図７である。すなわち、図７は、逆回復波形の相
違によるコンデンサＣ1の端子電圧のちがいを示す特性
図である。
【００１６】図７に於いて、正弦波発振器Ｇ2の周波数
を被測定ダイオ−ドＤ1の逆回復時間に対して無視出来
ない周波数とする。一般的には逆回復時間とほぼ等しい
周波数の５〜１０ＭＨＺに選ぶ。この周波数範囲に於い
ては、蓄積電荷の大きいダイオ−ドは、放電々荷量が大
きい為、コンデンサＣ1の端子電圧が小さくなり、図７
のＢの特性となる。一方、蓄積電荷の小さいダイオ−ド
は放電々荷量が小さい為、コンデンサＣ1の端子電圧が
大きくなり、Ａの特性となる。
を被測定ダイオ−ドＤ1の逆回復時間に対して無視出来
ない周波数とする。一般的には逆回復時間とほぼ等しい
周波数の５〜１０ＭＨＺに選ぶ。この周波数範囲に於い
ては、蓄積電荷の大きいダイオ−ドは、放電々荷量が大
きい為、コンデンサＣ1の端子電圧が小さくなり、図７
のＢの特性となる。一方、蓄積電荷の小さいダイオ−ド
は放電々荷量が小さい為、コンデンサＣ1の端子電圧が
大きくなり、Ａの特性となる。
【００１７】今、図５の波形で、蓄積電荷量の小さいダ
イオ−ドは、Ａの様なリカバリ−特性を示し、蓄積電荷
量の大きいダイオ−ドは、Ｂの様なリカバリ−特性を示
す。しかし、Ａ、Ｂいずれの場合も、リカバリ−電流が
０、１ＩRまでに回復した時間をリカバリ−タイムｔｒ
ｒと定義しているので、従来の測定方法では、逆回復時
間は同じ値に測定され、優劣の差異は表れない。 （５）
イオ−ドは、Ａの様なリカバリ−特性を示し、蓄積電荷
量の大きいダイオ−ドは、Ｂの様なリカバリ−特性を示
す。しかし、Ａ、Ｂいずれの場合も、リカバリ−電流が
０、１ＩRまでに回復した時間をリカバリ−タイムｔｒ
ｒと定義しているので、従来の測定方法では、逆回復時
間は同じ値に測定され、優劣の差異は表れない。 （５）
【００１８】ところが、ダイオ−ド選別のクラス分けを
した場合、蓄積電荷量の小さな特性ＡはＡクラスであ
り、蓄積電荷量の大きい特性ＢはＢクラスであり、それ
ぞれ用途が異なる使い方をした方が好ましい。
した場合、蓄積電荷量の小さな特性ＡはＡクラスであ
り、蓄積電荷量の大きい特性ＢはＢクラスであり、それ
ぞれ用途が異なる使い方をした方が好ましい。
【００１９】そこで本発明では、図６の測定回路に於い
て、正弦波発振器Ｇ2の周波数を、５〜１０ＭＨＺ程度
の測定可能周波数帯にして、コンデンサＣ1の端子電圧
をデジボル等で測定する。
て、正弦波発振器Ｇ2の周波数を、５〜１０ＭＨＺ程度
の測定可能周波数帯にして、コンデンサＣ1の端子電圧
をデジボル等で測定する。
【００２０】これにより、図７の特性Ａ、Ｂの選別が可
能となる。一方、逆回復時間ｔｒｒと、特性Ａ、Ｂの端
子電圧との関係をあらかじめテ−ブルに用意しておけ
ば、コンデンサＣ1の端子電圧から逆回復時間を読み取
る事が出来る。
能となる。一方、逆回復時間ｔｒｒと、特性Ａ、Ｂの端
子電圧との関係をあらかじめテ−ブルに用意しておけ
ば、コンデンサＣ1の端子電圧から逆回復時間を読み取
る事が出来る。
【００２１】今、実測により測定回路の配線による影響
を調べてみた。被測定ダイオ−ドのアノ−ド配線、カソ
−ド配線が接近した時と、大きく離れた時の差異を調べ
ると次の通りであった。測定条件として、正弦波発振器
の周波数５ＭＨＺ、測定端子往復の配線長６０ｃｍ、被
測定ダイオ−ドの逆回復時間ｔｒｒ＝１５５ｎｓとする
と、コンデンサＣ1の端子電圧は配線が離れた時５９４
ｍｖ、配線が接近した時５９７ｍｖであり、極めて測定
値の再現性は良いことがわかる。
を調べてみた。被測定ダイオ−ドのアノ−ド配線、カソ
−ド配線が接近した時と、大きく離れた時の差異を調べ
ると次の通りであった。測定条件として、正弦波発振器
の周波数５ＭＨＺ、測定端子往復の配線長６０ｃｍ、被
測定ダイオ−ドの逆回復時間ｔｒｒ＝１５５ｎｓとする
と、コンデンサＣ1の端子電圧は配線が離れた時５９４
ｍｖ、配線が接近した時５９７ｍｖであり、極めて測定
値の再現性は良いことがわかる。
【００２２】
【発明の効果】本発明は、ダイオ−ド逆回復時間を生産
ラインで測定する場合、測定配線の影響を受けないの
で、極めて再現性の良い測定が出来る。又、配線インダ
クタンスの影響も少ないので高速ダイオ−ドの測定も可
能となる。さらに、逆回復時間の差として表れない、逆
回復電流波形の差異によるダイオ （６） −ドのクラス別けが可能となり、きめ細かなダイオ−ド
の選別が出来る。
ラインで測定する場合、測定配線の影響を受けないの
で、極めて再現性の良い測定が出来る。又、配線インダ
クタンスの影響も少ないので高速ダイオ−ドの測定も可
能となる。さらに、逆回復時間の差として表れない、逆
回復電流波形の差異によるダイオ （６） −ドのクラス別けが可能となり、きめ細かなダイオ−ド
の選別が出来る。
【図１】ＩF、ＩR法によるダイオ−ドの逆回復時間測定
回路。
回路。
【図２】ＩF、ＩR法によるダイオ−ドの電流波形。
【図３】ｄｉ／ｄｔ法によるダイオ−ドの逆回復時間測
定回路。
定回路。
【図４】ｄｉ／ｄｔ法によるダイオ−ドの電流波形。
【図５】ダイオ−ドの蓄積電荷のちがいによる電流波
形。
形。
【図６】本発明の、ダイオ−ドの逆回復時間測定回路の
一実施例。
一実施例。
【図７】ダイオ−ドの逆回復時間のちがいによるコンデ
ンサＣ1の端子電圧の相異。
ンサＣ1の端子電圧の相異。
Ｇ1 パルス発生器 Ｇ2 正弦波発生器 Ｒ1 整流器順方向電流、逆方向電流制限抵抗 Ｒ2 整流器順方向電流制限抵抗 Ｒ3 整流器順方向電流、逆方向電流制限抵抗 Ｒ4 コンデンサＣ1の充、放電時定数を決める抵抗 Ｒ5 Ｃ1端子電圧を測定する計測器の等価入力インピ
−ダンス Ｄ1 被測定ダイオ−ド Ｃ1 被測定ダイオ−ドの整流電圧測定用コンデンサ
−ダンス Ｄ1 被測定ダイオ−ド Ｃ1 被測定ダイオ−ドの整流電圧測定用コンデンサ
Claims (4)
- 【請求項１】 正弦波発振器の電圧を、インピ−ダンス
を介して被測定ダイオ−ドに印加し、前記インピ−ダン
スの少なくとも一部に発生する正弦波電圧によりコンデ
ンサを充電し、前記コンデンサの端子電圧を測定する事
を特徴とするダイオ−ド逆回復時間の測定回路。 - 【請求項２】 請求項１記載のダイオ−ド逆回復時間の
測定回路において、前記正弦波発振器の周波数は、前記
被測定ダイオ−ドの逆回復時間が無視出来ない周波数領
域である事を特徴とするダイオ−ド逆回復時間の測定回
路。 - 【請求項３】 請求項２記載のダイオ−ド逆回復時間の
測定回路において、前記正弦波発振器の周波数は、前記
被測定ダイオ−ドの逆回復時間の逆数とほぼ等しい事を
特徴とするダイオ−ド逆回復時間の測定回路。 - 【請求項４】 請求項１〜３のいずれか１項記載のダイ
オ−ド逆回復時間の測定回路において、前記コンデンサ
の端子電圧と逆回復時間との換算テ−ブルにより、逆回
復時間を測定する事を特徴とするダイオ−ドの逆回復時
間の測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28937896A JP3493270B2 (ja) | 1996-10-11 | 1996-10-11 | ダイオ−ド逆回復時間の測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28937896A JP3493270B2 (ja) | 1996-10-11 | 1996-10-11 | ダイオ−ド逆回復時間の測定回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10115656A true JPH10115656A (ja) | 1998-05-06 |
| JP3493270B2 JP3493270B2 (ja) | 2004-02-03 |
Family
ID=17742444
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28937896A Expired - Fee Related JP3493270B2 (ja) | 1996-10-11 | 1996-10-11 | ダイオ−ド逆回復時間の測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3493270B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102854435A (zh) * | 2012-08-31 | 2013-01-02 | 南通市通州区华昌电子有限公司 | 一种二极管高温漏电测试系统 |
| CN103969564A (zh) * | 2013-01-30 | 2014-08-06 | 苏州同冠微电子有限公司 | 一种二极管反向恢复特性测试仪 |
| CN113552471A (zh) * | 2021-09-17 | 2021-10-26 | 北京星河泰视特科技有限公司 | 一种电感并联pn结电路的检测方法、装置、设备和介质 |
-
1996
- 1996-10-11 JP JP28937896A patent/JP3493270B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102854435A (zh) * | 2012-08-31 | 2013-01-02 | 南通市通州区华昌电子有限公司 | 一种二极管高温漏电测试系统 |
| CN103969564A (zh) * | 2013-01-30 | 2014-08-06 | 苏州同冠微电子有限公司 | 一种二极管反向恢复特性测试仪 |
| CN113552471A (zh) * | 2021-09-17 | 2021-10-26 | 北京星河泰视特科技有限公司 | 一种电感并联pn结电路的检测方法、装置、设备和介质 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3493270B2 (ja) | 2004-02-03 |
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