JP3259370B2 - コンデンサの絶縁抵抗測定装置 - Google Patents
コンデンサの絶縁抵抗測定装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はコンデンサの絶縁抵抗を
測定するための絶縁抵抗測定装置、特にコンデンサと測
定端子との接触状態を検出する装置に関するものであ
る。
測定するための絶縁抵抗測定装置、特にコンデンサと測
定端子との接触状態を検出する装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】一般に、コンデンサの絶縁抵抗測定で
は、測定電圧を被検体であるコンデンサに印加し、十分
充電された後のコンデンサの漏れ電流を測定する。当然
のごとく良品は漏れ電流が少ない。しかし、漏れ電流が
少ない状態は測定端子がコンデンサの電極に十分に接触
していない時でも発生する。このため、測定端子の接触
の良否を検出する必要が生じる。
は、測定電圧を被検体であるコンデンサに印加し、十分
充電された後のコンデンサの漏れ電流を測定する。当然
のごとく良品は漏れ電流が少ない。しかし、漏れ電流が
少ない状態は測定端子がコンデンサの電極に十分に接触
していない時でも発生する。このため、測定端子の接触
の良否を検出する必要が生じる。
【０００３】そこで、特開平４−１３１７７０号公報の
ように、接触検出回路として、交流電圧を印加する正弦
波発生器と、正弦波発生器からコンデンサを経由して流
れる交流信号を検出するＲＭＳ／ＤＣ変換器とを設けた
ものがある。しかしながら、この場合には漏れ電流測定
回路と別に正弦波発生器やＲＭＳ／ＤＣ変換器を設けな
ければならず、回路が複雑かつ高価になる欠点があっ
た。
ように、接触検出回路として、交流電圧を印加する正弦
波発生器と、正弦波発生器からコンデンサを経由して流
れる交流信号を検出するＲＭＳ／ＤＣ変換器とを設けた
ものがある。しかしながら、この場合には漏れ電流測定
回路と別に正弦波発生器やＲＭＳ／ＤＣ変換器を設けな
ければならず、回路が複雑かつ高価になる欠点があっ
た。
【０００４】一方、特開平３−７７０７３号公報には、
コンデンサの両端に一定電圧を印加する定電圧電源と、
この電源から流出する漏れ電流を測定する電流検出用抵
抗と、コンデンサに充電された電荷を放電する放電回路
と、放電電流を検出する放電電流検出回路とを有し、放
電電流検出回路で放電電流を検出することにより、コン
デンサの接続の良否を判定する絶縁抵抗測定装置が提案
されている。この場合には、コンデンサの接続が不十分
であると、コンデンサに十分な電荷が充電されていない
ので、放電電流が少なく、接続不良を簡単に判別でき
る。
コンデンサの両端に一定電圧を印加する定電圧電源と、
この電源から流出する漏れ電流を測定する電流検出用抵
抗と、コンデンサに充電された電荷を放電する放電回路
と、放電電流を検出する放電電流検出回路とを有し、放
電電流検出回路で放電電流を検出することにより、コン
デンサの接続の良否を判定する絶縁抵抗測定装置が提案
されている。この場合には、コンデンサの接続が不十分
であると、コンデンサに十分な電荷が充電されていない
ので、放電電流が少なく、接続不良を簡単に判別でき
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記絶縁抵抗測定装置
では、接触検出のための正弦波発生器やＲＭＳ／ＤＣ変
換器が不要になるが、コンデンサの放電電流検出回路と
漏れ電流測定回路とが電気的に接続されているため、放
電電流検出回路のリーク対策が必要になる。特に、コン
デンサには数百ボルトもの高電圧が印加されるので、放
電時には非常に高い電流が流れ、リーク対策が不十分で
あると漏れ電流測定回路が損傷を受ける恐れがあるから
である。また、上記いずれの絶縁抵抗測定装置において
も、コンデンサの漏れ電流の検出工程とは別に接触検出
工程を行う必要があるため、接触検出のために時間を要
するという問題があった。
では、接触検出のための正弦波発生器やＲＭＳ／ＤＣ変
換器が不要になるが、コンデンサの放電電流検出回路と
漏れ電流測定回路とが電気的に接続されているため、放
電電流検出回路のリーク対策が必要になる。特に、コン
デンサには数百ボルトもの高電圧が印加されるので、放
電時には非常に高い電流が流れ、リーク対策が不十分で
あると漏れ電流測定回路が損傷を受ける恐れがあるから
である。また、上記いずれの絶縁抵抗測定装置において
も、コンデンサの漏れ電流の検出工程とは別に接触検出
工程を行う必要があるため、接触検出のために時間を要
するという問題があった。
【０００６】そこで、本発明の目的は、充放電回路と接
触検出回路とを電気的に絶縁し、測定電圧が高くても安
全に接触検出ができるコンデンサの絶縁抵抗測定装置を
提供することにある。また、他の目的は、コンデンサの
漏れ電流検出と接触検出とを同時に行うことができるコ
ンデンサの絶縁抵抗測定装置を提供することにある。
触検出回路とを電気的に絶縁し、測定電圧が高くても安
全に接触検出ができるコンデンサの絶縁抵抗測定装置を
提供することにある。また、他の目的は、コンデンサの
漏れ電流検出と接触検出とを同時に行うことができるコ
ンデンサの絶縁抵抗測定装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、被測定用コンデンサに直流電圧を印加す
る測定電源と、上記コンデンサの電極に接触する測定端
子と、上記コンデンサの漏れ電流を検出する漏れ電流検
出回路とを備えたコンデンサの絶縁抵抗測定装置におい
て、上記測定電源と測定端子との間に直列接続されたフ
ォトカプラと、上記コンデンサへの充電時または放電時
にフォトカプラの出力信号からコンデンサと測定端子と
の接触状態を検出する接触検出回路と、上記測定電源と
フォトカプラとの間に接続された印加／放電切換器とを
備え、上記接触検出回路には、印加／放電切換器の切換
から一定時間後にラッチ信号を出力するラッチタイミン
グ回路と、ラッチ信号によってフォトカプラの出力をラ
ッチして測定端子の接触の良否判定信号を出力するラッ
チ回路とが設けられることを特徴とするものである。
め、本発明は、被測定用コンデンサに直流電圧を印加す
る測定電源と、上記コンデンサの電極に接触する測定端
子と、上記コンデンサの漏れ電流を検出する漏れ電流検
出回路とを備えたコンデンサの絶縁抵抗測定装置におい
て、上記測定電源と測定端子との間に直列接続されたフ
ォトカプラと、上記コンデンサへの充電時または放電時
にフォトカプラの出力信号からコンデンサと測定端子と
の接触状態を検出する接触検出回路と、上記測定電源と
フォトカプラとの間に接続された印加／放電切換器とを
備え、上記接触検出回路には、印加／放電切換器の切換
から一定時間後にラッチ信号を出力するラッチタイミン
グ回路と、ラッチ信号によってフォトカプラの出力をラ
ッチして測定端子の接触の良否判定信号を出力するラッ
チ回路とが設けられることを特徴とするものである。
【０００８】
【作用】測定電源の電流はフォトカプラ，測定端子を介
してコンデンサに流れ、コンデンサの漏れ電流は漏れ電
流検出回路で検出される。この漏れ電流から公知の方法
でコンデンサの絶縁抵抗が測定される。測定端子とコン
デンサとが正常に接触しておれば、フォトカプラにはＣ
Ｒの時定数に従った特性で緩やかに電流が流れ、フォト
カプラの点灯時間が長いため、接触検出回路の入力信号
も一定時間持続することになる。一方、測定端子とコン
デンサの接触が不十分であると、フォトカプラには殆ど
電流が流れず、フォトカプラの点灯時間が短い。そのた
め、接触検出回路の入力信号も短くなり、接触不良を簡
単に検出できる。この接触検出はコンデンサの漏れ電流
検出と同時に行うことができるので、接触検出のための
格別な時間を必要としない。フォトカプラは周知のよう
に入力側（発光素子）と出力側（受光素子）とが電気的
に絶縁されているので、入力側の充放電回路に大きな電
流が流れても、出力側である接触検出回路には影響がな
く、接触検出回路を安全に保護できる。また、接触検出
回路には、印加／放電切換器の切換から一定時間後にラ
ッチ信号を出力するラッチタイミング回路と、ラッチ信
号によってフォトカプラの出力をラッチして測定端子の
接触の良否判定信号を出力するラッチ回路とが設けられ
るので、接触検出を確実かつ安定して行うことができ、
かつ簡単な回路で接触検出回路を実現できる。
してコンデンサに流れ、コンデンサの漏れ電流は漏れ電
流検出回路で検出される。この漏れ電流から公知の方法
でコンデンサの絶縁抵抗が測定される。測定端子とコン
デンサとが正常に接触しておれば、フォトカプラにはＣ
Ｒの時定数に従った特性で緩やかに電流が流れ、フォト
カプラの点灯時間が長いため、接触検出回路の入力信号
も一定時間持続することになる。一方、測定端子とコン
デンサの接触が不十分であると、フォトカプラには殆ど
電流が流れず、フォトカプラの点灯時間が短い。そのた
め、接触検出回路の入力信号も短くなり、接触不良を簡
単に検出できる。この接触検出はコンデンサの漏れ電流
検出と同時に行うことができるので、接触検出のための
格別な時間を必要としない。フォトカプラは周知のよう
に入力側（発光素子）と出力側（受光素子）とが電気的
に絶縁されているので、入力側の充放電回路に大きな電
流が流れても、出力側である接触検出回路には影響がな
く、接触検出回路を安全に保護できる。また、接触検出
回路には、印加／放電切換器の切換から一定時間後にラ
ッチ信号を出力するラッチタイミング回路と、ラッチ信
号によってフォトカプラの出力をラッチして測定端子の
接触の良否判定信号を出力するラッチ回路とが設けられ
るので、接触検出を確実かつ安定して行うことができ、
かつ簡単な回路で接触検出回路を実現できる。
【０００９】
【実施例】図１は複数の測定チャンネルを備えたコンデ
ンサの絶縁抵抗測定装置の一例を示す。正負の直流測定
電源１，２は、正／負切換器３に接続され、選択的に切
り換えられる。また、正／負切換器３は印加／放電切換
器４に接続され、測定時には印加／放電切換器４を印加
側４ａに切り換え、測定終了後、放電側４ｂへ切り換え
てコンデンサＣの充電電荷を放電する。
ンサの絶縁抵抗測定装置の一例を示す。正負の直流測定
電源１，２は、正／負切換器３に接続され、選択的に切
り換えられる。また、正／負切換器３は印加／放電切換
器４に接続され、測定時には印加／放電切換器４を印加
側４ａに切り換え、測定終了後、放電側４ｂへ切り換え
てコンデンサＣの充電電荷を放電する。
【００１０】印加／放電切換器４は複数の定電流ダイオ
ード５ａ〜５ｄで構成される定電流回路５に接続されて
いる。この定電流回路５は、ショートしている不良のコ
ンデンサが接続された時、並列している他の測定チャン
ネルに測定電圧が印加されなくなるのを防止するととも
に、測定回路等の破壊を防ぐ目的で用いられる。上記ダ
イオード５ａ〜５ｄは順方向には抵抗なく電流を流す
が、逆方向には定電流特性を有するダイオードであり、
ダイオード５ａ，５ｂはその極性を対向させて直列接続
してあり、ダイオード５ｃ，５ｄも極性を対向させて直
列接続してある。そのため、定電流回路５は、正負の両
電源１，２の印加に対して、かつ充電，放電の両方向に
電流値を一定化できる。ダイオード５ａ，５ｂとダイオ
ード５ｃ，５ｄは互いに並列に接続されており、電流値
を多く取るため、各ダイオード５ａ〜５ｄは夫々複数個
並列に接続されている。なお、測定電源１，２が正負片
側で、かつ充電または放電の一方でしか使用しない場合
には、一方の極性のダイオードのみで定電流回路を構成
してもよい。
ード５ａ〜５ｄで構成される定電流回路５に接続されて
いる。この定電流回路５は、ショートしている不良のコ
ンデンサが接続された時、並列している他の測定チャン
ネルに測定電圧が印加されなくなるのを防止するととも
に、測定回路等の破壊を防ぐ目的で用いられる。上記ダ
イオード５ａ〜５ｄは順方向には抵抗なく電流を流す
が、逆方向には定電流特性を有するダイオードであり、
ダイオード５ａ，５ｂはその極性を対向させて直列接続
してあり、ダイオード５ｃ，５ｄも極性を対向させて直
列接続してある。そのため、定電流回路５は、正負の両
電源１，２の印加に対して、かつ充電，放電の両方向に
電流値を一定化できる。ダイオード５ａ，５ｂとダイオ
ード５ｃ，５ｄは互いに並列に接続されており、電流値
を多く取るため、各ダイオード５ａ〜５ｄは夫々複数個
並列に接続されている。なお、測定電源１，２が正負片
側で、かつ充電または放電の一方でしか使用しない場合
には、一方の極性のダイオードのみで定電流回路を構成
してもよい。
【００１１】上記ダイオード５ｃ，５ｄの間には、ＡＣ
入力型のフォトカプラ６の発光ダイオード６ａ，６ｂが
直列接続されている。フォトカプラは、測定電源が正負
片側で、かつ充電または放電の一方でしか使用しない場
合には、ＤＣ入力型で置換可能である。直列接続する定
電流ダイオード５ｃ，５ｄの数は、フォトカプラ６の順
方向電流値となるように数個接続する。また、フォトカ
プラ６を１チャンネル全ての定電流ダイオード５ａ〜５
ｄと直列接続しないのは、フォトカプラ６の順方向電圧
によって、測定電圧がドロップするのを防ぐためであ
る。フォトカプラ６の出力側にはフォトトランジスタ６
ｃが設けられ、このトランジスタ６ｃのエミッタを接地
し、コレクタをデジタル回路電源Ｖccに抵抗７を介して
接続するとともに、コレクタを接触検出回路の一例であ
るラッチ回路８に接続する。ラッチ回路８はフォトトラ
ンジスタ６ｃの出力ＶS をラッチして後述する測定端子
の接触良否判定信号を出力する。
入力型のフォトカプラ６の発光ダイオード６ａ，６ｂが
直列接続されている。フォトカプラは、測定電源が正負
片側で、かつ充電または放電の一方でしか使用しない場
合には、ＤＣ入力型で置換可能である。直列接続する定
電流ダイオード５ｃ，５ｄの数は、フォトカプラ６の順
方向電流値となるように数個接続する。また、フォトカ
プラ６を１チャンネル全ての定電流ダイオード５ａ〜５
ｄと直列接続しないのは、フォトカプラ６の順方向電圧
によって、測定電圧がドロップするのを防ぐためであ
る。フォトカプラ６の出力側にはフォトトランジスタ６
ｃが設けられ、このトランジスタ６ｃのエミッタを接地
し、コレクタをデジタル回路電源Ｖccに抵抗７を介して
接続するとともに、コレクタを接触検出回路の一例であ
るラッチ回路８に接続する。ラッチ回路８はフォトトラ
ンジスタ６ｃの出力ＶS をラッチして後述する測定端子
の接触良否判定信号を出力する。
【００１２】ラッチ回路８には、定電流ダイオード１０
ａ，１０ｂ、フォトカプラ１１およびコンデンサ１２の
直列回路で構成されたラッチタイミング回路９からラッ
チ信号が入力される。ラッチタイミング回路９は印加／
放電切換器４と接続されており、コンデンサ１２の充，
放電タイミングによりラッチ信号を出力する。コンデン
サ１２の容量値は、後述する測定端子１３ａ，１３ｂの
接触不良時、測定端子間の浮遊容量による誤検出を避け
るため、被検出用コンデンサＣの１／２〜１／１０程度
に設定される。ラッチタイミング回路９としては、上記
のような回路に限らず、印加／放電切換器４の動作タイ
ミングから一定時間後にパルス信号を出すワンショット
バイブレータや、他のクロック回路、ＣＰＵからのタイ
ミング信号等で置換可能である。ただ、実施例のラッチ
タイミング回路の場合、フォトカプラ１１を使用するこ
とによりラッチ信号ＶL として過大な電流が流れるのを
防止でき、かつ簡単な回路で切換器４の切換から一定時
間後にラッチ信号ＶL を出力できる利点がある。
ａ，１０ｂ、フォトカプラ１１およびコンデンサ１２の
直列回路で構成されたラッチタイミング回路９からラッ
チ信号が入力される。ラッチタイミング回路９は印加／
放電切換器４と接続されており、コンデンサ１２の充，
放電タイミングによりラッチ信号を出力する。コンデン
サ１２の容量値は、後述する測定端子１３ａ，１３ｂの
接触不良時、測定端子間の浮遊容量による誤検出を避け
るため、被検出用コンデンサＣの１／２〜１／１０程度
に設定される。ラッチタイミング回路９としては、上記
のような回路に限らず、印加／放電切換器４の動作タイ
ミングから一定時間後にパルス信号を出すワンショット
バイブレータや、他のクロック回路、ＣＰＵからのタイ
ミング信号等で置換可能である。ただ、実施例のラッチ
タイミング回路の場合、フォトカプラ１１を使用するこ
とによりラッチ信号ＶL として過大な電流が流れるのを
防止でき、かつ簡単な回路で切換器４の切換から一定時
間後にラッチ信号ＶL を出力できる利点がある。
【００１３】定電流回路５の出力端には測定端子１３ａ
が接続され、この測定端子１３ａが被検出用コンデンサ
Ｃの一方の電極に接触する。また、コンデンサＣの他方
の電極には別の測定端子１３ｂが接触し、この測定端子
１３ｂはＩ／Ｖ変換器１４と接続される。コンデンサＣ
の漏れ電流はＩ／Ｖ変換器１４により電圧に変換され、
チャンネル切換器１５により選択されてＡ／Ｄ変換器１
６に入力される。Ａ／Ｄ変換器１６によりデジタル信号
に変換された電圧信号はＣＰＵ１７に入力され、ここで
コンデンサＣの絶縁抵抗が測定される。ＣＰＵ１７に
は、上記ラッチ回路８から接触良否判定信号が入力され
るとともに、ラッチ回路８に接触チェックの終了後にリ
セット信号を出力する。
が接続され、この測定端子１３ａが被検出用コンデンサ
Ｃの一方の電極に接触する。また、コンデンサＣの他方
の電極には別の測定端子１３ｂが接触し、この測定端子
１３ｂはＩ／Ｖ変換器１４と接続される。コンデンサＣ
の漏れ電流はＩ／Ｖ変換器１４により電圧に変換され、
チャンネル切換器１５により選択されてＡ／Ｄ変換器１
６に入力される。Ａ／Ｄ変換器１６によりデジタル信号
に変換された電圧信号はＣＰＵ１７に入力され、ここで
コンデンサＣの絶縁抵抗が測定される。ＣＰＵ１７に
は、上記ラッチ回路８から接触良否判定信号が入力され
るとともに、ラッチ回路８に接触チェックの終了後にリ
セット信号を出力する。
【００１４】なお、定電流回路５には、絶縁抵抗を測定
すべきコンデンサの数（チャンネル数）に応じた数の別
の定電流回路５’が並列に接続されている。そのため、
例えば印加／放電切換器４を放電側４ｂから印加側４ａ
へ切り換えた時、全てのコンデンサＣ，Ｃ’には定電流
回路５，５’を経て同時に電圧が印加される。他の定電
流回路５’にも夫々フォトカプラおよびラッチ回路（図
示せず）が接続されるが、ラッチ回路にラッチ信号を出
力するラッチタイミング回路９は１個で共用される。他
のコンデンサＣ’の出力側も夫々Ｉ／Ｖ変換器１４’を
介してチャンネル切換器１５に接続される。そして、チ
ャンネル切換器１５を選択することにより、夫々のコン
デンサＣ，Ｃ’の接触チェックおよび絶縁抵抗の測定を
行うことができる。
すべきコンデンサの数（チャンネル数）に応じた数の別
の定電流回路５’が並列に接続されている。そのため、
例えば印加／放電切換器４を放電側４ｂから印加側４ａ
へ切り換えた時、全てのコンデンサＣ，Ｃ’には定電流
回路５，５’を経て同時に電圧が印加される。他の定電
流回路５’にも夫々フォトカプラおよびラッチ回路（図
示せず）が接続されるが、ラッチ回路にラッチ信号を出
力するラッチタイミング回路９は１個で共用される。他
のコンデンサＣ’の出力側も夫々Ｉ／Ｖ変換器１４’を
介してチャンネル切換器１５に接続される。そして、チ
ャンネル切換器１５を選択することにより、夫々のコン
デンサＣ，Ｃ’の接触チェックおよび絶縁抵抗の測定を
行うことができる。
【００１５】ここで、上記構成の絶縁抵抗測定装置の動
作を図２にしたがって説明する。まず、コンデンサＣの
正電圧による絶縁抵抗を測定する場合には、予め正／負
印加切換器３を正側３ａへ切り換えておき、時刻Ｔ1 で
印加／放電切換器４を放電側４ｂから印加側４ａへ切り
換える。これにより、定電流回路５で一定化された電流
はコンデンサＣに充電され、図２に示すようにコンデン
サＣの端子電圧ＶT はＣＲ時定数にしたがって緩やかに
上昇する。充電後、コンデンサＣの漏れ電流をＩ／Ｖ変
換器１４で電圧に変換し、この出力電圧をチャンネル切
換器１５を経てＡ／Ｄ変換器１６でデジタル化し、ＣＰ
Ｕ１７で解析することにより、コンデンサＣの絶縁抵抗
を計算する。
作を図２にしたがって説明する。まず、コンデンサＣの
正電圧による絶縁抵抗を測定する場合には、予め正／負
印加切換器３を正側３ａへ切り換えておき、時刻Ｔ1 で
印加／放電切換器４を放電側４ｂから印加側４ａへ切り
換える。これにより、定電流回路５で一定化された電流
はコンデンサＣに充電され、図２に示すようにコンデン
サＣの端子電圧ＶT はＣＲ時定数にしたがって緩やかに
上昇する。充電後、コンデンサＣの漏れ電流をＩ／Ｖ変
換器１４で電圧に変換し、この出力電圧をチャンネル切
換器１５を経てＡ／Ｄ変換器１６でデジタル化し、ＣＰ
Ｕ１７で解析することにより、コンデンサＣの絶縁抵抗
を計算する。
【００１６】正電圧による絶縁抵抗を測定する際、定電
流ダイオード５ｃ，５ｄと直列接続されたフォトカプラ
６の発光ダイオード６ａに電流が流れ、その光でフォト
トランジスタ６ｃはＯＮする。そのため、ラッチ回路８
に入力される検出信号ＶS は切換器４が放電側４ｂから
印加側４ａに切り換わると同時にＨレベルからＬレベル
へ変化し、コンデンサＣの充電時間だけＬレベルを保持
した後、Ｈレベルに復帰する。一方、切換器４が放電側
４ｂから印加側４ａへ切り換わると同時に、ラッチタイ
ミング回路９にも正電圧が印加され、定電流ダイオード
１０ａ，フォトカプラ１１を経てラッチタイミング用コ
ンデンサ１２に充電される。このコンデンサ１２の容量
は被検出用コンデンサＣに比べて小さいので、図２のよ
うにコンデンサ１２の端子電圧ＶD は被検出用コンデン
サＣの端子電圧より早く上昇し、フォトカプラ１１の出
力信号（ラッチ信号）ＶL はＬレベルの期間が短い。こ
のラッチ信号ＶL はラッチ回路８に入力され、ラッチ回
路８はラッチ時ＴL （ラッチ信号ＶL がＬレベルからＨ
レベルに変化した時）における検出信号ＶS がＬレベル
であればＨレベル（接触良好）をＣＰＵ１７に出力し、
検出信号ＶS がＨレベルであればＬレベル（接触不良）
をＣＰＵ１７に出力する。
流ダイオード５ｃ，５ｄと直列接続されたフォトカプラ
６の発光ダイオード６ａに電流が流れ、その光でフォト
トランジスタ６ｃはＯＮする。そのため、ラッチ回路８
に入力される検出信号ＶS は切換器４が放電側４ｂから
印加側４ａに切り換わると同時にＨレベルからＬレベル
へ変化し、コンデンサＣの充電時間だけＬレベルを保持
した後、Ｈレベルに復帰する。一方、切換器４が放電側
４ｂから印加側４ａへ切り換わると同時に、ラッチタイ
ミング回路９にも正電圧が印加され、定電流ダイオード
１０ａ，フォトカプラ１１を経てラッチタイミング用コ
ンデンサ１２に充電される。このコンデンサ１２の容量
は被検出用コンデンサＣに比べて小さいので、図２のよ
うにコンデンサ１２の端子電圧ＶD は被検出用コンデン
サＣの端子電圧より早く上昇し、フォトカプラ１１の出
力信号（ラッチ信号）ＶL はＬレベルの期間が短い。こ
のラッチ信号ＶL はラッチ回路８に入力され、ラッチ回
路８はラッチ時ＴL （ラッチ信号ＶL がＬレベルからＨ
レベルに変化した時）における検出信号ＶS がＬレベル
であればＨレベル（接触良好）をＣＰＵ１７に出力し、
検出信号ＶS がＨレベルであればＬレベル（接触不良）
をＣＰＵ１７に出力する。
【００１７】コンデンサＣと測定端子１３ａ，１３ｂと
の接触が良好であれば、図２に実線で示すように切換器
４の切換（Ｔ1 ）後、コンデンサＣの端子電圧ＶT は緩
やかに上昇するので、ラッチ時ＴL には検出信号ＶS が
必ずＬレベルとなり、接触良否判定信号はＨレベル（接
触良好）となる。一方、コンデンサＣと測定端子１３
ａ，１３ｂとの接触が不良であれば、端子電圧ＶT は図
２に破線で示すように即座に上昇し、検出信号ＶS も即
座にＨレベルに復帰するので、ラッチ時ＴL の検出信号
ＶS はＨレベルとなり、ＣＰＵ１７にはＬレベル（接触
不良）の接触良否判定信号が入力される。そのため、Ｃ
ＰＵ１７はコンデンサＣと測定端子１３ａ，１３ｂとの
接触が不良であると判断し、接触不良が発生したコンデ
ンサＣの位置を公知の方法で報知する。ラッチ回路８に
はＣＰＵ１７から一定時間毎にリセット信号が入力され
るので、接触検出後、ラッチ回路８は自動的にリセット
される。
の接触が良好であれば、図２に実線で示すように切換器
４の切換（Ｔ1 ）後、コンデンサＣの端子電圧ＶT は緩
やかに上昇するので、ラッチ時ＴL には検出信号ＶS が
必ずＬレベルとなり、接触良否判定信号はＨレベル（接
触良好）となる。一方、コンデンサＣと測定端子１３
ａ，１３ｂとの接触が不良であれば、端子電圧ＶT は図
２に破線で示すように即座に上昇し、検出信号ＶS も即
座にＨレベルに復帰するので、ラッチ時ＴL の検出信号
ＶS はＨレベルとなり、ＣＰＵ１７にはＬレベル（接触
不良）の接触良否判定信号が入力される。そのため、Ｃ
ＰＵ１７はコンデンサＣと測定端子１３ａ，１３ｂとの
接触が不良であると判断し、接触不良が発生したコンデ
ンサＣの位置を公知の方法で報知する。ラッチ回路８に
はＣＰＵ１７から一定時間毎にリセット信号が入力され
るので、接触検出後、ラッチ回路８は自動的にリセット
される。
【００１８】図２において、時刻Ｔ2 は印加／放電切換
器４を放電側４ｂへ切り換えた時点であり、コンデンサ
Ｃに充電された電荷は定電流回路５、切換器４を介して
放電される。この場合も、コンデンサＣと測定端子１３
ａ，１３ｂとの接触が良好であれば、ラッチ時ＴL の検
出信号ＶS がＬレベルとなり、接触不良であればラッチ
時ＴL の検出信号ＶS がＨレベルとなるので、接触状態
を簡単に判別できる。なお、放電時にはラッチタイミン
グ回路９のコンデンサ１２からも切換器４を介して放電
されるので、コンデンサ１２の放電タイミングに応じた
ラッチ信号ＶLが出力される。なお、逆電圧による絶縁
抵抗測定は切換器３を負側３ｂに切り換えるだけで、他
は正電圧時と同様であるため、説明を省略する。
器４を放電側４ｂへ切り換えた時点であり、コンデンサ
Ｃに充電された電荷は定電流回路５、切換器４を介して
放電される。この場合も、コンデンサＣと測定端子１３
ａ，１３ｂとの接触が良好であれば、ラッチ時ＴL の検
出信号ＶS がＬレベルとなり、接触不良であればラッチ
時ＴL の検出信号ＶS がＨレベルとなるので、接触状態
を簡単に判別できる。なお、放電時にはラッチタイミン
グ回路９のコンデンサ１２からも切換器４を介して放電
されるので、コンデンサ１２の放電タイミングに応じた
ラッチ信号ＶLが出力される。なお、逆電圧による絶縁
抵抗測定は切換器３を負側３ｂに切り換えるだけで、他
は正電圧時と同様であるため、説明を省略する。
【００１９】上記実施例では、定電流ダイオードからな
る定電流回路を用いているが、定電流回路として特開平
４−１３１７７０号公報のようなＦＥＴを用いてもよ
く、あるいは電流制限抵抗を用いてもよい。ただ、定電
流ダイオードやＦＥＴを使用した場合には、抵抗を用い
た場合に比べてコンデンサの充電時間を格段に短縮でき
るので、測定効率が良い。また、フォトカプラの電流制
限に定電流ダイオードを用いたが、抵抗を用いてもよ
い。しかし、抵抗を用いると、フォトカプラの出力波形
が積分波形となるので、安定な検出をするにはサンプル
ホールド回路等の回路が必要となり、回路が複雑となる
のに対し、定電流ダイオードで一定時間ＯＮさせる方が
回路的には簡素となる。なお、Ｉ／Ｖ変換器としては、
ＯＰアンプに限らないことは勿論であり、例えば検出抵
抗の両端の電位差をコンパレータ等で検出するようにし
てもよい。
る定電流回路を用いているが、定電流回路として特開平
４−１３１７７０号公報のようなＦＥＴを用いてもよ
く、あるいは電流制限抵抗を用いてもよい。ただ、定電
流ダイオードやＦＥＴを使用した場合には、抵抗を用い
た場合に比べてコンデンサの充電時間を格段に短縮でき
るので、測定効率が良い。また、フォトカプラの電流制
限に定電流ダイオードを用いたが、抵抗を用いてもよ
い。しかし、抵抗を用いると、フォトカプラの出力波形
が積分波形となるので、安定な検出をするにはサンプル
ホールド回路等の回路が必要となり、回路が複雑となる
のに対し、定電流ダイオードで一定時間ＯＮさせる方が
回路的には簡素となる。なお、Ｉ／Ｖ変換器としては、
ＯＰアンプに限らないことは勿論であり、例えば検出抵
抗の両端の電位差をコンパレータ等で検出するようにし
てもよい。
【００２０】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、フォトカプラによって充放電回路と接触検出回
路とを電気的に絶縁したので、測定電圧が高くても安全
に接触検出ができる。また、フォトカプラが充放電回路
に直列接続されているため、コンデンサの漏れ電流検出
と接触検出とを同時に行うことができ、接触検出のため
の格別な時間を必要とせず、測定効率を向上させること
ができるという効果がある。さらに、印加／放電切換器
の切換から一定時間後にラッチ信号を出力するラッチタ
イミング回路と、ラッチ信号によってフォトカプラの出
力をラッチして測定端子の接触の良否判定信号を出力す
るラッチ回路とで接触検出回路を構成したので、簡単な
回路で接触検出を行うことができる。
よれば、フォトカプラによって充放電回路と接触検出回
路とを電気的に絶縁したので、測定電圧が高くても安全
に接触検出ができる。また、フォトカプラが充放電回路
に直列接続されているため、コンデンサの漏れ電流検出
と接触検出とを同時に行うことができ、接触検出のため
の格別な時間を必要とせず、測定効率を向上させること
ができるという効果がある。さらに、印加／放電切換器
の切換から一定時間後にラッチ信号を出力するラッチタ
イミング回路と、ラッチ信号によってフォトカプラの出
力をラッチして測定端子の接触の良否判定信号を出力す
るラッチ回路とで接触検出回路を構成したので、簡単な
回路で接触検出を行うことができる。
【図１】本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の一例の回路
図である。
図である。
【図２】図１の絶縁抵抗測定装置の各部の電圧波形図で
ある。
ある。
Ｃ 被検出用コンデンサ １，２ 測定電源 ４ 印加／放電切換器 ５ 定電流回路 ５ａ〜５ｄ 定電流ダイオード ６ フォトカプラ ８ ラッチ回路 ９ ラッチタイミング回路 １３ａ，１３ｂ 測定端子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 27/02
Claims (3)
- 【請求項１】被測定用コンデンサに直流電圧を印加する
測定電源と、上記コンデンサの電極に接触する測定端子
と、上記コンデンサの漏れ電流を検出する漏れ電流検出
回路とを備えたコンデンサの絶縁抵抗測定装置におい
て、 上記測定電源と測定端子との間に直列接続されたフォト
カプラと、上記 コンデンサへの充電時または放電時にフォトカプラ
の出力信号からコンデンサと測定端子との接触状態を検
出する接触検出回路と、 上記測定電源とフォトカプラとの間に接続された印加／
放電切換器とを備え、 上記接触検出回路には、印加／放電切換器の切換から一
定時間後にラッチ信号を出力するラッチタイミング回路
と、ラッチ信号によってフォトカプラの出力をラッチし
て測定端子の接触の良否判定信号を出力するラッチ回路
とが設けられることを 特徴とするコンデンサの絶縁抵抗
測定装置。 - 【請求項２】請求項１に記載のコンデンサの絶縁抵抗測
定装置において、上記ラッチタイミング回路には、上記被測定用コンデン
サより容量値が小さく、かつ上記印加／放電切換器を介
して上記測定電源と接続されるラッチタイミング用コン
デンサが設けられ、 上記ラッチタイミング回路は、ラッチタイミング用コン
デンサの充電時間または放電時間を利用してラッチ信号
を出力することを 特徴とするコンデンサの絶縁抵抗測定
装置。 - 【請求項３】請求項１または２に記載のコンデンサの絶
縁抵抗測定装置において、 上記フォトカプラと直列に、上記測定電源から上記被測
定用コンデンサに供給される電流を一定化する定電流回
路が接続され、 上記定電流回路は定電流ダイオードを互いに極性を対向
させて直列接続したものであり、対向している定電流ダ
イオードの間にフォトカプラの発光素子が直列接続され
ている ことを特徴とするコンデンサの絶縁抵抗測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30647692A JP3259370B2 (ja) | 1992-10-19 | 1992-10-19 | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30647692A JP3259370B2 (ja) | 1992-10-19 | 1992-10-19 | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06130101A JPH06130101A (ja) | 1994-05-13 |
| JP3259370B2 true JP3259370B2 (ja) | 2002-02-25 |
Family
ID=17957478
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30647692A Expired - Lifetime JP3259370B2 (ja) | 1992-10-19 | 1992-10-19 | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3259370B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3114653B2 (ja) | 1997-05-09 | 2000-12-04 | 株式会社村田製作所 | コンデンサの絶縁抵抗測定方法および特性選別装置 |
| JP5109061B2 (ja) * | 2007-02-07 | 2012-12-26 | 株式会社ワイディー・メカトロソリューションズ | 電流制限回路 |
| JP5382286B2 (ja) * | 2008-01-09 | 2014-01-08 | 横河電機株式会社 | 絶縁抵抗測定回路 |
| JP5320929B2 (ja) * | 2008-09-22 | 2013-10-23 | 横河電機株式会社 | 電流測定装置 |
| KR101113199B1 (ko) * | 2009-01-14 | 2012-02-28 | 주식회사 이노템즈 | 다채널 절연 저항 측정 장치 |
| JP2013015356A (ja) * | 2011-07-01 | 2013-01-24 | Hioki Ee Corp | コンデンサの検査装置およびその検査方法 |
| JP5855382B2 (ja) * | 2011-08-02 | 2016-02-09 | 日置電機株式会社 | コンデンサの絶縁抵抗測定装置およびコンデンサの絶縁抵抗測定方法 |
| JP6189199B2 (ja) * | 2013-12-11 | 2017-08-30 | 新電元工業株式会社 | コンタクト検査装置、コンタクト検査方法及び電子部品 |
| JP6417137B2 (ja) * | 2014-07-14 | 2018-10-31 | 株式会社ヒューモラボラトリー | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 |
-
1992
- 1992-10-19 JP JP30647692A patent/JP3259370B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06130101A (ja) | 1994-05-13 |
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