JP3114653B2

JP3114653B2 - コンデンサの絶縁抵抗測定方法および特性選別装置

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Publication number: JP3114653B2
Application number: JP09135813A
Authority: JP
Inventors: 岳神谷
Original assignee: Murata Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date: 1997-05-09
Filing date: 1997-05-09
Publication date: 2000-12-04
Anticipated expiration: 2017-05-09
Also published as: US6285193B1; US6184688B1; JPH10311853A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はコンデンサの絶縁抵
抗測定方法およびこの方法を用いた特性選別装置に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】一般に、コンデンサの良否を判定するた
め絶縁抵抗値が測定される。この絶縁抵抗値を測定する
場合、コンデンサが充電されていない状態では、コンデ
ンサの持つ容量のために正しく絶縁抵抗を測定できな
い。そこで、まずコンデンサに直流電圧を印加して予備
充電し、その後で漏れ電流（充電電流）を測定すること
により、コンデンサの絶縁抵抗を測定する方法が一般に
用いられている。当然ながら、良品は漏れ電流が少な
い。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】従来の絶縁抵抗測定方
法としては、ＪＩＳ−Ｃ５１０２で規定された測定方式
が知られている。しかしながら、この方式ではコンデン
サに十分に充電された状態の電流値を測定する必要があ
るため、約６０秒もの長い充電時間が必要であった。電
子機器のコストダウン、信頼性向上の要求に伴い、コン
デンサなどの電子部品もその生産能力向上と品質向上と
が求められているが、コンデンサ１個当たりこのような
長い充電時間を要する従来の測定方法では、到底このよ
うな要求に応えることができない。

【０００４】そこで、本発明の目的は、コンデンサの絶
縁抵抗値を高速かつ正確に測定できるコンデンサの絶縁
抵抗測定方法を提供することにある。また、他の目的
は、上記絶縁抵抗測定方法を用いることにより、特性測
定工程と梱包工程とを連携させることができ、作業効率
を改善し、設備の小型化、コストの低減を実現できるコ
ンデンサの特性選別装置を提供する

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に記載の発明は、コンデンサに２種類の異
なる周波数ｆ ₁ ，ｆ ₂ の交流信号を印加し、各周波数に
おけるコンデンサのインピーダンスＺ ₁ ，Ｚ ₂ をそれぞ
れ測定する工程と、高い周波数ｆ ₁ におけるインピーダ
ンスＺ ₁ からコンデンサの直列抵抗Ｒｓと容量Ｃとを求
める工程と、低い周波数ｆ ₂ におけるインピーダンスＺ
₂ と上記求めた直列抵抗Ｒｓおよび容量Ｃとから、コン
デンサの絶縁抵抗Ｒｐを求める工程と、を備え、上記高
い周波数ｆ ₁ は、コンデンサの絶縁抵抗Ｒｐを通過する
信号が容量Ｃを通過する信号に比べて無視し得る程度に
小さくなる周波数であり、上記低い周波数ｆ ₂ は、コン
デンサの絶縁抵抗Ｒｐを通過する信号が測定可能な程度
に大きくなる周波数であることを特徴とするコンデンサ
の絶縁抵抗測定方法を提供する。

【０００６】コンデンサ１を図１のような等価回路モデ
ルで考えると、コンデンサ１は直列抵抗Ｒｓと絶縁抵抗
Ｒｐと静電容量Ｃとで構成される。このコンデンサ１に
測定装置２から交流信号を加えると、信号の周波数が高
ければ、ＣのインピーダンスはＲｐに比べて極めて小さ
くなり、信号の殆どの部分はＣを通過し、Ｒｐを通過す
る信号はごく僅かとなる。逆に、信号の周波数が低けれ
ば、Ｃのインピーダンスが大きくなり、Ｒｐを通過する
信号の割合が増加する。Ｒｐを通過する信号の割合は、
Ｃ，Ｒｐの大きさによっても左右される。要するに、測
定信号の周波数が大きいほど、Ｒｐを通過する信号が少
なくなり、逆に測定信号の周波数が小さいほど、Ｒｐを
通過する信号が多くなる。

【０００７】さて、ある容量Ｃを持つコンデンサのイン
ピーダンスを測定する場合、Ｒｐを通過する信号の割合
が十分小さくなるような高い周波数で測定すれば、Ｒｐ
の影響を無視してよいことになり、この測定値からＲｓ
とＣが求まる。次に、同じコンデンサのインピーダンス
を、今度はＲｐを通過する信号の割合が測定可能な程度
に大きくなるような低い周波数で測定し、この測定値か
ら、先に求めたＲｓとＣの影響を計算で取り除けば、Ｒ
ｐを求めることができる。使用する２種類の周波数は、
測定条件や測定機器の許す限り大きくずらしておく方が
良好な結果が得られる。

【０００８】次に、本発明の絶縁抵抗測定方法を具体的
に説明する。図１に示されたコンデンサのインピーダン
スＺは次式で表される。

【数１】ここで、ωは角周波数である。絶縁抵抗Ｒｐは通常、数
百ＭΩ程度以上であるため、例えば数ＭＨｚ程度以上の
高周波数では１／Ｒｐ≪ωＣとしてよく、（１）式は次
のように変形できる。Ｚ＝Ｒｓ−ｊ（１／ωＣ）・・・（２）ここで、数ＭＨｚ程度の高い周波数ｆ₁でコンデンサの
インピーダンスＺ₁を測定したところ、

【数２】であったとすると、（２）式と（３）式よりＲｓ＝ｘ₁，Ｃ＝−１／（ω₁・ｙ₁）・・・（４）として、ＲｓとＣとを求めることができる。次に、上記
周波数ｆ₁より低い周波数ｆ₂で同じコンデンサのイン
ピーダンスＺ₂を測定したところ、

【数３】とすると、測定周波数ｆ₂が低いため、１／Ｒｐ≪ω₂
Ｃとすることができず、（１）を用いることになる。そ
こで、パラメータξを ξ＝（ｘ₂−Ｒｓ）ω₂ ²Ｃ² ・・・（６）とおくと、（１）式と（５）式の実数部より

【数４】の関係が求められ、この式からＲｐを求めることができ
る。なお、（１）式と（５）式の虚数部より

【数５】の関係が求められ、この式からＲｐを求めることもでき
る。

【０００９】以上のようにして、目的とする絶縁抵抗値
Ｒｐを求めることができる。本発明方法を用いれば、コ
ンデンサ１個当たり数十ｍ秒程度で絶縁抵抗を求めるこ
とができるので、従来に比べて作業能率を格段に向上さ
せることができる。なお、コンデンサのインピーダンス
（実効値と位相）を測定するための装置は、公知の測定
装置（例えばヒューレット・パッカード社製ＨＰ４２８
４Ａ）を用いることができる。

【００１０】高い周波数ｆ₁による１回目のインピーダ
ンス測定と、低い周波数ｆ₂による２回目のインピーダ
ンス測定は、コンデンサ１の電極１ａ，１ｂと測定装置
２の測定端子２ａ，２ｂ（図１参照）とを接触させたま
ま続けて行なうのが望ましい。これにより、電極１ａ，
１ｂと測定端子２ａ，２ｂ間の接触抵抗などに変化がな
く、正確な測定が可能となる。

【００１１】２種類の交流信号の周波数ｆ₁，ｆ₂のう
ち、高い方の周波数ｆ₁は絶縁抵抗Ｒｐのインピーダン
スＺ₁への影響が無視できる程度の高い値とするのがよ
く、また低い方の周波数ｆ₂は絶縁抵抗Ｒｐのインピー
ダンスＺ₂への影響が現れるような値とするのがよい。
そのため、例えばｆ₁≧１ＭＨｚでかつｆ₂≦ｆ₁／１
００となるように設定するのが望ましい。

【００１２】一般に、コンデンサの絶縁抵抗は非常に大
きいため、コンデンサと測定端子の接触検出が難しい。
つまり、オープン状態の測定値と正常時の測定値とを区
別することが困難である。そのため、従来ではコンデン
サと測定端子との接触を検出するため特別な回路を用い
ていた（例えば特開平６−１３０１０１号参照）。これ
に対し、本発明では高い周波数ｆ₁の交流信号印加時の
インピーダンスから容量Ｃを簡単に求めることができ
る。容量Ｃを測定できたということは、電極と測定端子
との接触が良好であることを意味しているので、容量Ｃ
の測定（接触検出）と絶縁抵抗Ｒｐの測定とを同時に行
なうことができる。

【００１３】従来の絶縁抵抗測定では、直流電圧を長時
間印加しているため、コンデンサの種類によっては見か
け上の容量が低下するという現象が発生していた。その
ため従来では、絶縁抵抗測定が終了した良品のコンデン
サに対して「熱もどし」と呼ばれる熱処理を行い、容量
を元に戻す作業を行なっていた。その結果、絶縁抵抗の
測定に加えて追加的な処理が必要となり、作業効率を一
層低下させていた。これに対し、本発明では、交流信号
を極めて短時間印加すればよいので、コンデンサの容量
が低下する現象が発生せず、「熱もどし」処理が不要と
なる。

【００１４】また、従来の特性選別装置では、コンデン
サ１個当たり約６０秒の測定時間が必要であったため、
コンデンサを保持する保持部を備えた大型のターンテー
ブルを用い、このターンテーブルの周囲の大部分を充電
領域としたり、充電のためにターンテーブルを所定時間
停止させるといった作業が必要であり、作業効率が非常
に悪かった。しかも、良品と判定されたコンデンサを取
出容器などに一旦溜めておき、取出容器からコンデンサ
を改めてパーツフィーダなどを用いて１個ずつ取り出
し、テーピング装置などに供給する必要があるため、特
性測定から梱包に至る作業スピードが非常に遅く、設備
の大型化、コストの増大を招いていた。

【００１５】そこで、請求項１に記載された絶縁抵抗測
定方法を用いて特性選別装置を構成すれば、特性測定か
ら梱包までの処理を連携させることができ、作業効率の
改善と設備の小型化を実現できる。すなわち、請求項３
に記載のように、供給手段により搬送手段の保持部へ供
給されたコンデンサは、搬送手段の駆動に伴ってインピ
ーダンス測定部へ運ばれ、２種類のインピーダンスが測
定される。そして、これらインピーダンスから良否判定
手段で絶縁抵抗が計算される。この絶縁抵抗の計算方法
は、請求項１の絶縁抵抗測定方法と同様である。従来で
は絶縁抵抗の測定のために６０秒もの予備充電時間を必
要としていたが、本発明では２種類の周波数のインピー
ダンスから絶縁抵抗を計算で求めているため、数十ｍ秒
程度の極めて短時間に測定できる。測定された絶縁抵抗
によって良否を判定し、不良品と判定されたコンデンサ
は不良品排出部から排出し、良品と判定されたコンデン
サは良品取出部から梱包手段へ供給すれば、ここでテー
プやケース等に即座に梱包できる。

【００１６】搬送手段としては、コンデンサを保持する
保持部を等ピッチ間隔で円周上に設けたターンテーブル
であってもよいし、コンデンサを保持する保持部を等ピ
ッチ間隔で設けた無端ベルトであってもよい。

【００１７】コンデンサの良否を判定するには、絶縁抵
抗値だけでなく、静電容量を加味して判定するのが望ま
しい。この場合には、良否判定手段が容量値と絶縁抵抗
値の双方の測定値からコンデンサの良否を判定するよう
にすればよい。

【００１８】

【発明の実施の形態】図２は、図１に示す測定回路を用
いて、３種類のコンデンサについて静電容量Ｃ、直列抵
抗Ｒｓ、絶縁抵抗Ｒｐを求めた実験結果を示す。各コン
デンサ（タイプ１〜タイプ３）の設定条件は以下の通り
である。

【表１】

【００１９】測定周波数ｆ₁としては１ＭＨｚを用い、
測定周波数ｆ₂としては１ｋＨｚと１３３Ｈｚの２種類
を用いた。そして、測定されたインピーダンスから
（４）式および（７）式を用いてＲｓ，Ｃ，Ｒｐを求め
た。図２から明らかなように、計算結果は実際の値とよ
く一致しており、本発明方法の有用性を証明している。

【００２０】図３は本発明方法を用いた特性選別装置の
第１実施例を示す。１０は搬送手段の一例であるターン
テーブルであり、ターンテーブル１０は矢印方向に一定
ピッチ間隔で間欠的に回転駆動される。ターンテーブル
１０の外周部には、図４のようにチップ型コンデンサ１
を１個ずつ保持できる凹状の保持部１１が上記駆動ピッ
チと同一ピッチ間隔で設けられている。ターンテーブル
１０の周囲には、コンデンサ１をターンテーブル１０へ
供給する供給部１２、インピーダンスを測定するインピ
ーダンス測定部１３、不良品排出部１４、良品取出部１
５等が設けられている。供給部１２に対応する位置に
は、コンデンサ１を１個ずつターンテーブル１０へ送り
込むパーツフィーダなどの供給装置１６が配置されてい
る。また、インピーダンス測定部１３にはコンデンサ１
の電極１ａ，１ｂに接触する一対の測定端子２ａ，２ｂ
を備えたインピーダンス測定装置２（図１参照）が設け
られ、この測定装置２で測定された２種類の測定値
Ｚ₁，Ｚ₂は良否判定部１７へ送られ、ここで（４）式
および（７）式の計算が実施され、Ｒｓ，Ｃ，Ｒｐの各
値を求めるとともに、コンデンサ１の良否が判定され
る。不良品と判定されたコンデンサ１は不良品排出部１
４で外部へ排出され、良品と判定されたコンデンサ１は
良品取出部１５から基材テープ３１へ取り出される。

【００２１】ターンテーブル１０には、図５に示すよう
に各保持部１１に対応した空気穴１８が設けられてお
り、各空気穴１８は正圧源１９および負圧源２０と電磁
式切替弁２１を介して接続されている。切替弁２１は、
良否判定部１７からの指令信号に基づいて正圧源１９ま
たは負圧源２０を空気穴１８と選択的に接続する。保持
部１１にコンデンサ７が収容されている間は、空気穴１
８と負圧源２０とが接続されており、保持部１１の内周
面にコンデンサ１を吸着保持している。そのため、コン
デンサ１の電極１ａ，１ｂに対する測定端子２ａ，２ｂ
の接触位置が一定となり、安定した特性測定が可能とな
るとともに、ターンテーブル１０の回転に伴う遠心力に
よってコンデンサ１が脱落するのを防止できる。一方、
不良品のコンデンサ１が不良品排出部１４に到達する
と、切替弁２１が正圧源１９側に切り替わり、エアーを
吹き出してコンデンサ１を排出する。同様に、良品のコ
ンデンサ１が良品取出部１５に到達すると、切替弁２１
が正圧源１９側に切り替わり、図６のように保持部１１
に収容されたコンデンサ１を基材テープ３１上へ押し出
し、凹部３１ａに収納する。

【００２２】良品取出部１５に対応する位置には、基材
テープ３１をターンテーブル１０の接線方向にかつ保持
部１１と同一高さとなるように供給するテーピング装置
３０が配置されている。テーピング装置３０は図７に示
すように、コンデンサ収納用の凹部３１ａを持つ基材テ
ープ３１を供給する供給ロール３２、基材テープ３１を
ガイドするガイドローラ３３、カバーテープ３４を供給
する供給ロール３５、カバーテープ３４を基材テープ３
１に押しつけて接着する押圧ロール３６、接着されたテ
ープ３１，３４をガイドするガイドローラ３７、接着さ
れたテープ３１，３４を巻き取る巻取ローラ３８等で構
成されている。巻取ローラ３８は図示しない駆動手段に
よって矢印方向に１ピッチずつ間欠的に駆動されてお
り、この駆動タイミングはターンテーブル１０の駆動タ
イミングと同期している。そのため、ターンテーブル１
０の保持部１１が良品取出部１５で停止すると同時に基
材テープ３１も良品取出部１５で停止する。そして、タ
ーンテーブル１０に設けられた空気穴１８からエアーを
吹き出すことにより、保持部１１に収容されたコンデン
サ１は基材テープ３１上へ押し出され、凹部３１ａに収
納される。凹部３１ａへコンデンサ１を収納した後、基
材テープ３１上にカバーテープ３４が接着され、凹部３
１ａが密封される。

【００２３】なお、不良品のコンデンサ１が不良品排出
部１４で排出された場合には、その保持部１１は空とな
るため、ターンテーブル１０とテーピング装置３０とを
常に同期させると、基材テープ３１の凹部３１ａが空の
ままカバーテープ３４が接着されることがある。この問
題を解消するため、良品取出部１５の直前には保持部１
１内のコンデンサ１の有無を検出するセンサ（図示せ
ず）が設けられている。このセンサが保持部１１にコン
デンサ１が存在しないことを検出した時には、テーピン
グ装置３０を一旦停止させてターンテーブル１０をやり
過ごし、基材テープ３１の全ての凹部３１ａにコンデン
サ１を１個ずつ収容できるようになっている。

【００２４】図８は特性選別装置の第２実施例を示す。
この実施例では、１台のターンテーブル４０を中心とし
て、その両側にパーツフィーダなどの供給装置４１を配
置するとともに、２台のテーピング装置４２を配置した
ものである。なお、４３は供給部、４４はインピーダン
ス測定部、４５は不良品排出部、４６は良品取出部であ
る。この実施例では、２本のテープ４２ａは互いに逆方
向に送られる。この装置の場合、ターンテーブル４０は
図３のターンテーブル１に比べて大型となるが、１台の
ターンテーブル４０に対して２台のテーピング装置４２
を配置できるので、図３に比べて作業スピードの一層の
向上と効率化とが図れるという特徴がある。

【００２５】図９は特性選別装置の第３実施例を示す。
この実施例では、梱包装置としてケース詰め装置５０を
用いたものである。パーツフィーダ５１からターンテー
ブル５２を経て取り出された良品コンデンサは、ケース
詰め装置５０によってケース５３へ詰められる。ケース
５３には所定個数のコンデンサを収納できるようになっ
ており、一定個数のコンデンサが収納された後、ケース
５３は矢印方向に一ピッチ分だけ駆動される。なお、５
４は供給部、５５はインピーダンス測定部、５６は不良
品排出部、５７は良品取出部である。この場合も、図３
と同様な効果がある。なお、この実施例の場合も、図８
のように一台のターンテーブル５２に対して２台または
それ以上のケース詰め装置５０を配置することも可能で
ある。

【００２６】図１０は特性選別装置の第４実施例を示
す。この実施例では、搬送手段としてターンテーブルに
代えて無端ベルト６０を用いたものである。ベルト６０
は駆動プーリ６１とガイドプーリ６２とによって矢印方
向に間欠もしくは連続駆動される。ベルト６０の始端側
にはパーツフィーダ６３が設けられ、これに後続してイ
ンピーダンス測定部６４、不良品排出部６５、良品取出
部６６が順次設けられている。なお、不良品排出部６
５、良品取出部６６には、ベルト６０からコンデンサ１
を取り出すため、例えばエアーノズルや突き出しピンな
どが配置されている。

【００２７】ベルト６０の具体的な構造としては、例え
ば図１１のようにスチールベルト７０の上に樹脂やゴム
などからなる絶縁性ホルダ７１を取り付け、このホルダ
７１の上面に形成した保持穴７２にコンデンサ１を１個
ずつ収容するようにしてもよい。この場合には、スチー
ルベルト７０の両側に一定ピッチ間隔で送り穴７３が形
成され、この送り穴７３をプーリ６１，６２の周面に設
けた突起とかみ合わせることにより、高精度に送ること
ができる。

【００２８】また、ベルト６０の他の構造として、図１
２のようにゴムベルト８０の外周面に凹部８１を一定ピ
ッチ間隔で設け、これら凹部８１にコンデンサ１を１個
ずつ収容するようにしてもよい。ゴムベルト８０の両側
にはガイド板８２，８３が設けられ、ゴムベルト８０を
スライド自在にガイドするとともに、コンデンサ１の落
下を防止している。ゴムベルト８０の内周面には内歯８
４が形成され、この内歯８４をプーリ６１，６２の周面
に設けた外歯とかみ合わせることにより、高精度に送る
ことができる。

【００２９】なお、本発明はセラミックコンデンサに限
らず、電解コンデンサやフィルムコンデンサなど、如何
なるコンデンサであっても適用可能である。搬送手段と
しては、ターンテーブルやベルトに限らず、他の搬送手
段を用いてもよい。また、インピーダンスの測定方法と
して、搬送手段に保持されたコンデンサに対し測定端子
を上から押しつけて測定する方法に限らず、搬送手段に
予め測定電極を形成しておき、上から絶縁体でコンデン
サを押しつけることにより、コンデンサを測定電極に導
通させるようにしてもよい。また、搬送手段の駆動方式
は、間欠駆動方式に限らず、連続駆動であってもよい。
上記実施例では、容量と絶縁抵抗の両方の測定結果から
良否判定を行うようにしたが、容量と絶縁抵抗のそれぞ
れの測定値から個別に良否判定を行ってもよい。

【００３０】

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、２種類の交流信号を用いてコンデンサのインピ
ーダンスを測定し、これらインピーダンスから絶縁抵抗
を測定するようにしたので、極めて短時間に絶縁抵抗を
測定できる。そのため、測定作業を格段に高速化でき
る。また、本発明の特性選別装置によれば、コンデンサ
の絶縁抵抗を短時間で求めることができるので、特性測
定が終了したコンデンサを搬送手段からから直接テーピ
ング装置などの梱包手段へ送り込むことができる。その
結果、特性測定から梱包までの作業を完全自動化でき、
従来に比べて作業スピードが格段に向上するだけでな
く、設備の小型化およびコスト削減を実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明にかかるコンデンサの絶縁抵抗測定方法
の原理を示す回路図である。

【図２】本発明方法を用いた実験結果である。

【図３】本発明にかかる特性選別装置の一例の概略平面
図である。

【図４】ターンテーブルの斜視図である。

【図５】図３の特性選別装置のインピーダンス測定部の
断面図である。

【図６】図３の特性選別装置の良品取出部の断面図であ
る。

【図７】図３の特性選別装置におけるテーピング装置の
側面図である。

【図８】本発明にかかる特性選別装置の第２実施例の概
略平面図である。

【図９】本発明にかかる特性選別装置の第３実施例の概
略平面図である。

【図１０】本発明にかかる特性選別装置の第３実施例の
概略側面図である。

【図１１】図１０の特性選別装置に用いられるベルトの
一例の斜視図である。

【図１２】図１０の特性選別装置に用いられるベルトの
他の例の斜視図である。

【符号の説明】

１コンデンサ２インピーダンス測定装置１０ターンテーブル（搬送手段）１１保持部１２供給部１３インピーダンス測定部１４不良品排出部１５良品取出部１６パーツフィーダ（供給手段）１７良否判定手段３０テーピング装置（梱包手段）３１基材テープ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01R 27/02 G01R 27/26 G01R 31/00

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】コンデンサに２種類の異なる周波数ｆ₁ ，
ｆ₂ の交流信号を印加し、各周波数におけるコンデンサ
のインピーダンスＺ₁ ，Ｚ₂ をそれぞれ測定する工程
と、高い周波数ｆ₁ におけるインピーダンスＺ₁ からコンデ
ンサの直列抵抗Ｒｓと容量Ｃとを求める工程と、低い周波数ｆ₂ におけるインピーダンスＺ₂ と上記求め
た直列抵抗Ｒｓおよび容量Ｃとから、コンデンサの絶縁
抵抗Ｒｐを求める工程と、を備え、上記高い周波数ｆ ₁ は、コンデンサの絶縁抵抗Ｒｐを通
過する信号が容量Ｃを通過する信号に比べて無視し得る
程度に小さくなる周波数であり、上記低い周波数ｆ ₂ は、コンデンサの絶縁抵抗Ｒｐを通
過する信号が測定可能な程度に大きくなる周波数である
ことを特徴とするコンデンサの絶縁抵抗測定方法。
【請求項２】上記交流信号の周波数ｆ₁ ，ｆ₂ は次の二
つの条件式を満たすことを特徴とする請求項１に記載の
コンデンサの絶縁抵抗測定方法。ｆ₁ ≧１ＭＨｚｆ₂ ≦ｆ₁ ／１００
【請求項３】一定方向に循環駆動され、コンデンサを保
持する保持部を一定間隔で設けた搬送手段と、搬送手段の近傍に設けられ、コンデンサを搬送手段の保
持部へ送り込む供給手段と、搬送手段の保持部の移動軌跡上に設けられ、保持部に保
持されたコンデンサに２種類の異なる周波数ｆ ₁ ，ｆ ₂
の交流信号を印加し、各周波数におけるコンデンサのイ
ンピーダンスＺ ₁ ，Ｚ ₂ を測定するインピーダンス測定
部と、インピーダンス測定部で測定された高い周波数ｆ ₁ にお
けるインピーダンスＺ ₁ からコンデンサの直列抵抗Ｒｓ
と容量Ｃとを求めるとともに、低い周波数ｆ ₂ における
インピーダンスＺ ₂ と上記求めた直列抵抗Ｒｓおよび容
量Ｃとから、コンデンサの絶縁抵抗Ｒｐを求め、コンデ
ンサの良否を判定する良否判定手段であって、上記高い
周波数ｆ ₁ は、コンデンサの絶縁抵抗Ｒｐを通過する信
号が容量Ｃを通過する信号に比べて無視し得る程度に小
さくなる周波数であり、上記低い周波数ｆ ₂ は、コンデ
ンサの絶縁抵抗Ｒｐを通過する信号が測定可能な程度に
大きくなる周波数である手段と、搬送手段の近傍に設けられ、良否判定手段で良品と判定
されたコンデンサを搬送手段の保持部から排出する良品
取出部と、搬送手段の近傍に設けられ、良否判定手段で不良品と判
定されたコンデンサを搬送手段の保持部から排出する不
良品排出部と、良品取出部に対応して配置され、良品取出部から取り出
された良品のコンデンサを梱包する梱包手段と、を備え
たことを特徴とするコンデンサの特性選別装置。
【請求項４】上記インピーダンス測定部において印加さ
れる２種類の交流信号の周波数ｆ₁ ，ｆ₂ は、次の二つ
の条件式を満たすことを特徴とする請求項３に記載のコ
ンデンサの特性選別装置。ｆ₁ ≧１ＭＨｚｆ₂ ≦ｆ₁ ／１００
【請求項５】上記搬送手段は、コンデンサを保持する保
持部を等ピッチ間隔で円周上に設けたターンテーブルで
あることを特徴とする請求項３または４に記載のコンデ
ンサの特性選別装置。
【請求項６】上記搬送手段は、コンデンサを保持する保
持部を等ピッチ間隔で設けた無端ベルトであることを特
徴とする請求項３または４に記載のコンデンサの特性選
別装置。
【請求項７】上記良否判定手段は、インピーダンス測定
部で測定された２種類のインピーダンスから絶縁抵抗値
と容量値とを求め、これら絶縁抵抗値と容量値とからコ
ンデンサの良否を判定することを特徴とする請求項３な
いし６のいずれかに記載のコンデンサの特性選別装置。
【請求項８】上記梱包手段は、良品取出部から取り出さ
れた良品のコンデンサを基材テープの収納部に収容した
後、基材テープ上にカバーテープを接着するテーピング
手段であることを特徴とする請求項３ないし７のいずれ
かに記載のコンデンサの特性選別装置。
【請求項９】上記梱包手段は、良品取出部から取り出さ
れた良品のコンデンサを所定個数ずつケースに収容する
ケース詰め手段であることを特徴とする請求項３ないし
７のいずれかに記載のコンデンサの特性選別装置。