JP4106963B2 - チップ型コンデンサの耐圧試験方法および耐圧試験装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、チップ型コンデンサの耐圧試験方法および耐圧試験装置に関し、特に、たとえば対向端部に外部電極が形成されたチップ型コンデンサの耐圧特性を測定するための耐圧試験方法と、このような耐圧試験方法が用いられる耐圧試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
たとえば、積層セラミックコンデンサなどのようなチップ型コンデンサの場合、静電容量、絶縁抵抗などの特性とともに、耐圧特性が測定され、これらの特性が所定の範囲から外れた不良品が除去される。
【０００３】
従来、チップ部品１の特性を測定するために、たとえば図８に示すように、プレート２上に複数のチップ部品１を並べ、チップ部品１の対向端部に形成された外部電極３に測定端子４が当接される。この場合、プレート２の上方から、チップ部品１の外部電極３の上面に測定端子４が当接される。この状態で、チップ部品１の特性が測定される。
【０００４】
また、図９に示すように、プレート２上で回転する円板５の縁部にチップ部品１を収納するための収納溝６を形成し、この収納溝６にチップ部品１を収納して、円板５が回転するようにした測定装置もある。この場合、図８と同様に、外部電極３の側面に測定端子４が当接される。そして、図９の矢印に示すように、円板５を回転させることにより、チップ部品１を移動させながら、その特性の測定を行うことができる。
【０００５】
さらに、図１０に示すように、円板７に形成された収納孔８にチップ部品１を収納し、円板７の両主面側から、チップ部品１を挟むようにして外部電極３に測定端子４が当接する方法もある。この場合においても、図１０の矢印に示すように、円板７を回転させることにより、チップ部品１を移動させながら、特性の測定を行うことができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、これらの従来の特性測定方法でチップ型コンデンサの耐圧特性を測定する場合、チップ部品の側面がプレートや円板の一部に接触するため、その部分の汚れなどにより、測定端子間の絶縁性が低下する可能性がある。そのため、特性の測定値に誤差が生じたり、高圧を印加したときに表面リークが発生してチップ型コンデンサにダメージを与えたりするような不具合が発生する。これらの問題に対して、プレートや円板などの保持具の定期的な清掃や、部品交換などにより、チップ型コンデンサに接触する部分をきれいにしておく必要があるが、手間のかかる作業であり、作業効率を低下させる要因となっていた。
【０００７】
それゆえに、この発明の主たる目的は、測定精度が高く、表面リークなどが発生しにくいチップ型コンデンサの耐圧試験方法を提供することである。
また、この発明の目的は、このような耐圧試験方法を実施することができるチップ型コンデンサの耐圧試験装置を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
この発明は、チップ型コンデンサの対向端部に形成された外部電極にそれぞれ測定端子を当接してチップ型コンデンサの耐圧特性を測定するためのチップ型コンデンサの耐圧試験方法であって、チップ型コンデンサの静電容量または絶縁抵抗の電気的特性を測定して選別部において良品と不良品とを選別するステップと、選別部で良品として選別されたチップ型コンデンサを位置決めするためのプレート上にチップ型コンデンサを載置して、選別部におけるチップ型コンデンサの搬送経路に対応するようにしてプレートに形成された位置決め用の複数の吸引口により複数のチップ型コンデンサを吸引固定するステップと、載置されたチップ型コンデンサを挟持するようにして外部電極に測定端子を当接するステップと、チップ型コンデンサからプレートを離すステップとを含み、測定端子のみで保持した状態で交流高圧または直流高圧を印加することによりチップ型コンデンサの耐圧特性を測定する、チップ型コンデンサの耐圧試験方法である。
また、この発明は、チップ型コンデンサの対向端部に形成された外部電極にそれぞれ測定端子を当接してチップ型コンデンサの耐圧特性を測定するためのチップ型コンデンサの耐圧試験方法であって、プレート上にチップ型コンデンサを載置するステップと、チップ型コンデンサを位置決めするステップと、チャックでチップ型コンデンサを持ち上げるステップと、チャックで持ち上げられたチップ型コンデンサを挟持するようにして外部電極に測定端子を当接するステップと、チップ型コンデンサからチャックを外すステップとを含み、測定端子のみで保持した状態で交流高圧または直流高圧を印加することによりチップ型コンデンサの耐圧特性を測定する、チップ型コンデンサの耐圧試験方法である。
また、この発明は、対向端部に外部電極が形成されたチップ型コンデンサを供給するための部品供給部と、部品供給部から供給されるチップ型コンデンサを搬送するための搬送手段と、搬送手段によって搬送されたチップ型コンデンサの静電容量または絶縁抵抗の電気的特性を測定して良品と不良品とを選別する選別部と、選別部で良品として選別されたチップ型コンデンサを位置決めに選別部におけるチップ型コンデンサの搬送経路に対応して配置される複数の吸引口を有するプレートと、チップ型コンデンサとプレートとを離すための分離手段と、プレートから離されたチップ型コンデンサを挟持するようにして外部電極に当接させるように対向して配置される測定端子とを含み、測定端子のみで前記チップ型コンデンサを挟持して交流高圧または直流高圧を印加することにより耐圧特性が測定される、チップ型コンデンサの耐圧試験装置である。
このようなチップ型コンデンサの耐圧試験装置において、複数のチップ型コンデンサを同時に保持して耐圧特性を測定するために、複数対の測定端子が形成されてもよい。
さらに、チップ型コンデンサの耐圧特性の良否を選別して良品のみを取り出す選別部が形成されてもよい。
【０００９】
選別部で電気的特性を測定して選別されたチップ型コンデンサの外部電極に測定端子を当接する際に、２つの測定端子でチップ型コンデンサを挟持することにより、他の部材を用いることなく、測定端子だけでチップ型コンデンサを保持することができる。そのため、この状態でチップ型コンデンサの耐圧特性を測定すれば、チップ型コンデンサの側面に接触しているのは空気のみであり、耐圧試験装置のプレートや円板などの汚れによる測定誤差が発生せず、高圧印加によっても表面リークが発生しないため、チップ型コンデンサに対するダメージを抑えることができる。
このように、チップ型コンデンサを測定端子で挟んで保持するには、吸引口による吸引によって予めプレート上でチップ型コンデンサを位置決めしたのち測定端子で保持してもよいし、チャックでチップ型コンデンサを運んできて直接測定端子で保持してもよい。
また、複数対の測定端子を設けて、複数のチップ型コンデンサを同時に保持することにより、複数のチップ型コンデンサの耐圧特性を同時に測定することができる。
さらに、選別部を設けることにより、チップ型コンデンサの耐圧特性の良否によって選別を行い、良品のみを取り出すことができる。
【００１０】
この発明の上述の目的，その他の目的，特徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施の形態の詳細な説明から一層明らかとなろう。
【００１１】
【発明の実施の形態】
図１は、この発明のチップ型コンデンサの耐圧試験装置の一例を示す図解図である。耐圧試験装置１０は、部品供給部１２を含む。部品供給部１２に、複数のチップ型コンデンサが投入される。そして、搬送手段としてのパーツフィーダ１６で、チップ型コンデンサが第１のターンテーブル１８に搬送される。
【００１２】
第１のターンテーブル１８には、たとえばチップ型コンデンサを収納するための収納溝または収納孔などが形成され、このような収納溝などにチップ型コンデンサが収納される。そして、第１のターンテーブル１８が回転することにより、チップ型コンデンサが搬送される。たとえば、積層セラミックコンデンサなどのチップ型コンデンサの場合、第１のターンテーブル１８の収納溝内において、チップ型コンデンサの静電容量や絶縁抵抗などが測定される。
【００１３】
さらに、第１のターンテーブル１８の周囲には、選別部２０が形成される。この選別部２０では、測定された静電容量や絶縁抵抗などの特性が所定の範囲から外れているものが除去され、良品のみが取り出される。良品として取り出されたチップ型コンデンサは、耐圧測定部２２に搬送される。
【００１４】
耐圧測定部２２は、図２に示すように、たとえば扇形のプレート２４を含む。プレート２４には、その外周側端部に沿って複数の吸引口２６が形成される。これらの吸引口２６の両側には、それぞれ測定端子２８，３０が配置される。測定端子２８，３０は、図３に示すように、鉤状に折れ曲がって形成され、その先端部が吸引口２６を挟んで対向するように配置される。これらの測定端子２８，３０は、互いの間隔を変えることができるように移動可能に形成される。
【００１５】
耐圧測定部２２では、交流耐圧または直流耐圧が測定される。さらに、耐圧測定部２２で耐圧測定されたチップ型コンデンサは、第２のターンテーブル３２に移動させられる。第２のターンテーブル３２も、第１のターンテーブル１８と同様に、その周囲に収納溝や収納孔などが形成され、このような収納溝などにチップ型コンデンサが収納される。そして、第２のターンテーブル３２が回転することにより、収納溝などに収納されたチップ型コンデンサが搬送される。第２のターンテーブル３２が回転する間に、収納溝内において、再度チップ型コンデンサ４０の静電容量や絶縁抵抗が測定される。
【００１６】
第２のターンテーブル３２の周囲には、選別部３４が設けられ、最終的に静電容量、絶縁抵抗、耐圧などの特性不良のあるチップ型コンデンサが除去される。そして、これらの特性が良好なチップ型コンデンサのみが選別され、製品として出荷される。
【００１７】
この耐圧試験装置１０では、第１のターンテーブル１８で特性が測定され、この段階において良好な特性を有するチップ型コンデンサ４０が、耐圧測定部２２に移動させられる。このとき、図４に示すように、吸引チャック３６などでチップ型コンデンサ４０が耐圧測定部２２に搬送される。
【００１８】
耐圧測定部２２では、吸引チャック３６で搬送されてきたチップ型コンデンサ４０が、プレート２４上に載置され、吸引口２６から吸引されて位置決め固定される。なお、プレート２４にチップ型コンデンサ４０を載置する際、図３に示すように、吸引口２６の奥に光電センサ４４などを設け、チップ型コンデンサ４０が載置されたかどうかを確認できるようにしてもよい。位置決めされたチップ型コンデンサ４０の対向端部に形成された外部電極４２に、測定端子２８，３０が当接される。このとき、測定端子２８，３０は、チップ型コンデンサ４０の両側からチップ型コンデンサ４０を挟むように移動する。そして、測定端子２８，３０が外部電極４２に当接されることにより、測定端子２８，３０と外部電極４２とが電気的に接続されるとともに、チップ型コンデンサ４０が測定端子２８，３０によって挟持される。この耐圧測定部２２では、複数のチップ型コンデンサ４０が、扇状に測定端子２８，３０によって配置される。
【００１９】
この状態で、プレート２４が下方に移動することにより、チップ型コンデンサ４０は、図５に示すように、プレート２４が離れて測定端子２８，３０によって保持される。そして、耐圧測定部２２において、測定端子２８，３０を介してチップ型コンデンサ４０に交流高圧または直流高圧が印加され、耐圧試験が行われる。
【００２０】
なお、プレート２４上に位置決めされたチップ型コンデンサ４０が、吸引チャック３６で持ち上げられ、そののちに測定端子２８，３０で保持されてもよい。この場合、空中において測定端子２８，３０で保持されたチップ型コンデンサ４０から吸引チャック３６が取り外される。そして、チップ型コンデンサ４０に交流高圧または直流高圧が印加され、耐圧試験が行われる。
【００２１】
また、プレート２４上に位置決めされたチップ型コンデンサ４０が測定端子２８，３０で挟持された後、測定端子２８，３０が上方に伸長することにより、チップ型コンデンサ４０とプレート２４とを離すようにしてもよい。
【００２２】
このように、チップ型コンデンサ４０の対向端部に形成された外部電極４２に測定端子２８，３０を当接して、他にチップ型コンデンサ４０に接触するものがない状態で測定を行うことにより、測定器具や機械的な要因によるチップ型コンデンサ表面の絶縁性低下を防止することができ、表面リークなどを抑えることができる。それにより、チップ型コンデンサ４０の特性測定を正確に行うことができ、チップ型コンデンサ４０に与えられるダメージを少なくすることができる。
【００２３】
なお、図１〜図３に示す耐圧試験装置１０では、耐圧測定部２２において扇状に複数のチップ型コンデンサ４０が保持されたが、図７に示すように、直線状のプレート２４の両側に複数対の測定端子２８，３０を配置して、複数のチップ型コンデンサ４０が直線状に測定端子２８，３０で保持されるようにしてもよい。測定端子２８，３０で保持されるチップ型コンデンサ４０の数は、任意に設定することができる。このように、複数のチップ型コンデンサ４０を同時に保持することにより、多数のチップ型コンデンサ４０の耐圧試験を同時に行うことができる。
【００２４】
【発明の効果】
この発明によれば、チップ型コンデンサの側面に耐圧試験装置の一部が接触しない状態で耐圧特性を測定することができるため、耐圧試験装置の汚れなどによるチップ型コンデンサ側面の絶縁性の劣化を防ぐことができる。そのため、チップ型コンデンサの表面リークなどが発生せず、正確にチップ型コンデンサの耐圧特性を測定することができ、チップ型コンデンサに与えられるダメージを少なくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 この発明のチップ型コンデンサの耐圧試験装置の一例を示す図解図である。
【図２】 図１に示す耐圧試験装置に用いられる耐圧測定部を示す図解図である。
【図３】 図２に示す耐圧測定部の要部を示す図解図である。
【図４】 図３に示す耐圧測定部において、チップ型コンデンサと測定端子とを接続するときの様子を示す図解図である。
【図５】 図３に示す耐圧測定部において、チップ型コンデンサの特性測定時の様子を示す図解図である。
【図６】 図３に示す耐圧測定部において、チップ型コンデンサと測定端子とを接続するときの他の例を示す図解図である。
【図７】 この発明の耐圧試験装置に用いられる耐圧測定部の他の例を示す図解図である。
【図８】 チップ部品の特性を測定する従来の方法の一例を示す図解図である。
【図９】 チップ部品の特性を測定する従来の方法の他の例を示す図解図である。
【図１０】 チップ部品の特性を測定する従来の方法のさらに他の例を示す図解図である。
【符号の説明】
１０ チップ型コンデンサの耐圧試験装置
１２ 部品供給部
１８ 第１のターンテーブル
２２ 耐圧測定部
２４ プレート
２６ 吸引口
２８ 測定端子
３０ 測定端子
３２ 第２のターンテーブル
４０ チップ型コンデンサ
４２ 外部電極
【発明の属する技術分野】
この発明は、チップ型コンデンサの耐圧試験方法および耐圧試験装置に関し、特に、たとえば対向端部に外部電極が形成されたチップ型コンデンサの耐圧特性を測定するための耐圧試験方法と、このような耐圧試験方法が用いられる耐圧試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
たとえば、積層セラミックコンデンサなどのようなチップ型コンデンサの場合、静電容量、絶縁抵抗などの特性とともに、耐圧特性が測定され、これらの特性が所定の範囲から外れた不良品が除去される。
【０００３】
従来、チップ部品１の特性を測定するために、たとえば図８に示すように、プレート２上に複数のチップ部品１を並べ、チップ部品１の対向端部に形成された外部電極３に測定端子４が当接される。この場合、プレート２の上方から、チップ部品１の外部電極３の上面に測定端子４が当接される。この状態で、チップ部品１の特性が測定される。
【０００４】
また、図９に示すように、プレート２上で回転する円板５の縁部にチップ部品１を収納するための収納溝６を形成し、この収納溝６にチップ部品１を収納して、円板５が回転するようにした測定装置もある。この場合、図８と同様に、外部電極３の側面に測定端子４が当接される。そして、図９の矢印に示すように、円板５を回転させることにより、チップ部品１を移動させながら、その特性の測定を行うことができる。
【０００５】
さらに、図１０に示すように、円板７に形成された収納孔８にチップ部品１を収納し、円板７の両主面側から、チップ部品１を挟むようにして外部電極３に測定端子４が当接する方法もある。この場合においても、図１０の矢印に示すように、円板７を回転させることにより、チップ部品１を移動させながら、特性の測定を行うことができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、これらの従来の特性測定方法でチップ型コンデンサの耐圧特性を測定する場合、チップ部品の側面がプレートや円板の一部に接触するため、その部分の汚れなどにより、測定端子間の絶縁性が低下する可能性がある。そのため、特性の測定値に誤差が生じたり、高圧を印加したときに表面リークが発生してチップ型コンデンサにダメージを与えたりするような不具合が発生する。これらの問題に対して、プレートや円板などの保持具の定期的な清掃や、部品交換などにより、チップ型コンデンサに接触する部分をきれいにしておく必要があるが、手間のかかる作業であり、作業効率を低下させる要因となっていた。
【０００７】
それゆえに、この発明の主たる目的は、測定精度が高く、表面リークなどが発生しにくいチップ型コンデンサの耐圧試験方法を提供することである。
また、この発明の目的は、このような耐圧試験方法を実施することができるチップ型コンデンサの耐圧試験装置を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
この発明は、チップ型コンデンサの対向端部に形成された外部電極にそれぞれ測定端子を当接してチップ型コンデンサの耐圧特性を測定するためのチップ型コンデンサの耐圧試験方法であって、チップ型コンデンサの静電容量または絶縁抵抗の電気的特性を測定して選別部において良品と不良品とを選別するステップと、選別部で良品として選別されたチップ型コンデンサを位置決めするためのプレート上にチップ型コンデンサを載置して、選別部におけるチップ型コンデンサの搬送経路に対応するようにしてプレートに形成された位置決め用の複数の吸引口により複数のチップ型コンデンサを吸引固定するステップと、載置されたチップ型コンデンサを挟持するようにして外部電極に測定端子を当接するステップと、チップ型コンデンサからプレートを離すステップとを含み、測定端子のみで保持した状態で交流高圧または直流高圧を印加することによりチップ型コンデンサの耐圧特性を測定する、チップ型コンデンサの耐圧試験方法である。
また、この発明は、チップ型コンデンサの対向端部に形成された外部電極にそれぞれ測定端子を当接してチップ型コンデンサの耐圧特性を測定するためのチップ型コンデンサの耐圧試験方法であって、プレート上にチップ型コンデンサを載置するステップと、チップ型コンデンサを位置決めするステップと、チャックでチップ型コンデンサを持ち上げるステップと、チャックで持ち上げられたチップ型コンデンサを挟持するようにして外部電極に測定端子を当接するステップと、チップ型コンデンサからチャックを外すステップとを含み、測定端子のみで保持した状態で交流高圧または直流高圧を印加することによりチップ型コンデンサの耐圧特性を測定する、チップ型コンデンサの耐圧試験方法である。
また、この発明は、対向端部に外部電極が形成されたチップ型コンデンサを供給するための部品供給部と、部品供給部から供給されるチップ型コンデンサを搬送するための搬送手段と、搬送手段によって搬送されたチップ型コンデンサの静電容量または絶縁抵抗の電気的特性を測定して良品と不良品とを選別する選別部と、選別部で良品として選別されたチップ型コンデンサを位置決めに選別部におけるチップ型コンデンサの搬送経路に対応して配置される複数の吸引口を有するプレートと、チップ型コンデンサとプレートとを離すための分離手段と、プレートから離されたチップ型コンデンサを挟持するようにして外部電極に当接させるように対向して配置される測定端子とを含み、測定端子のみで前記チップ型コンデンサを挟持して交流高圧または直流高圧を印加することにより耐圧特性が測定される、チップ型コンデンサの耐圧試験装置である。
このようなチップ型コンデンサの耐圧試験装置において、複数のチップ型コンデンサを同時に保持して耐圧特性を測定するために、複数対の測定端子が形成されてもよい。
さらに、チップ型コンデンサの耐圧特性の良否を選別して良品のみを取り出す選別部が形成されてもよい。
【０００９】
選別部で電気的特性を測定して選別されたチップ型コンデンサの外部電極に測定端子を当接する際に、２つの測定端子でチップ型コンデンサを挟持することにより、他の部材を用いることなく、測定端子だけでチップ型コンデンサを保持することができる。そのため、この状態でチップ型コンデンサの耐圧特性を測定すれば、チップ型コンデンサの側面に接触しているのは空気のみであり、耐圧試験装置のプレートや円板などの汚れによる測定誤差が発生せず、高圧印加によっても表面リークが発生しないため、チップ型コンデンサに対するダメージを抑えることができる。
このように、チップ型コンデンサを測定端子で挟んで保持するには、吸引口による吸引によって予めプレート上でチップ型コンデンサを位置決めしたのち測定端子で保持してもよいし、チャックでチップ型コンデンサを運んできて直接測定端子で保持してもよい。
また、複数対の測定端子を設けて、複数のチップ型コンデンサを同時に保持することにより、複数のチップ型コンデンサの耐圧特性を同時に測定することができる。
さらに、選別部を設けることにより、チップ型コンデンサの耐圧特性の良否によって選別を行い、良品のみを取り出すことができる。
【００１０】
この発明の上述の目的，その他の目的，特徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施の形態の詳細な説明から一層明らかとなろう。
【００１１】
【発明の実施の形態】
図１は、この発明のチップ型コンデンサの耐圧試験装置の一例を示す図解図である。耐圧試験装置１０は、部品供給部１２を含む。部品供給部１２に、複数のチップ型コンデンサが投入される。そして、搬送手段としてのパーツフィーダ１６で、チップ型コンデンサが第１のターンテーブル１８に搬送される。
【００１２】
第１のターンテーブル１８には、たとえばチップ型コンデンサを収納するための収納溝または収納孔などが形成され、このような収納溝などにチップ型コンデンサが収納される。そして、第１のターンテーブル１８が回転することにより、チップ型コンデンサが搬送される。たとえば、積層セラミックコンデンサなどのチップ型コンデンサの場合、第１のターンテーブル１８の収納溝内において、チップ型コンデンサの静電容量や絶縁抵抗などが測定される。
【００１３】
さらに、第１のターンテーブル１８の周囲には、選別部２０が形成される。この選別部２０では、測定された静電容量や絶縁抵抗などの特性が所定の範囲から外れているものが除去され、良品のみが取り出される。良品として取り出されたチップ型コンデンサは、耐圧測定部２２に搬送される。
【００１４】
耐圧測定部２２は、図２に示すように、たとえば扇形のプレート２４を含む。プレート２４には、その外周側端部に沿って複数の吸引口２６が形成される。これらの吸引口２６の両側には、それぞれ測定端子２８，３０が配置される。測定端子２８，３０は、図３に示すように、鉤状に折れ曲がって形成され、その先端部が吸引口２６を挟んで対向するように配置される。これらの測定端子２８，３０は、互いの間隔を変えることができるように移動可能に形成される。
【００１５】
耐圧測定部２２では、交流耐圧または直流耐圧が測定される。さらに、耐圧測定部２２で耐圧測定されたチップ型コンデンサは、第２のターンテーブル３２に移動させられる。第２のターンテーブル３２も、第１のターンテーブル１８と同様に、その周囲に収納溝や収納孔などが形成され、このような収納溝などにチップ型コンデンサが収納される。そして、第２のターンテーブル３２が回転することにより、収納溝などに収納されたチップ型コンデンサが搬送される。第２のターンテーブル３２が回転する間に、収納溝内において、再度チップ型コンデンサ４０の静電容量や絶縁抵抗が測定される。
【００１６】
第２のターンテーブル３２の周囲には、選別部３４が設けられ、最終的に静電容量、絶縁抵抗、耐圧などの特性不良のあるチップ型コンデンサが除去される。そして、これらの特性が良好なチップ型コンデンサのみが選別され、製品として出荷される。
【００１７】
この耐圧試験装置１０では、第１のターンテーブル１８で特性が測定され、この段階において良好な特性を有するチップ型コンデンサ４０が、耐圧測定部２２に移動させられる。このとき、図４に示すように、吸引チャック３６などでチップ型コンデンサ４０が耐圧測定部２２に搬送される。
【００１８】
耐圧測定部２２では、吸引チャック３６で搬送されてきたチップ型コンデンサ４０が、プレート２４上に載置され、吸引口２６から吸引されて位置決め固定される。なお、プレート２４にチップ型コンデンサ４０を載置する際、図３に示すように、吸引口２６の奥に光電センサ４４などを設け、チップ型コンデンサ４０が載置されたかどうかを確認できるようにしてもよい。位置決めされたチップ型コンデンサ４０の対向端部に形成された外部電極４２に、測定端子２８，３０が当接される。このとき、測定端子２８，３０は、チップ型コンデンサ４０の両側からチップ型コンデンサ４０を挟むように移動する。そして、測定端子２８，３０が外部電極４２に当接されることにより、測定端子２８，３０と外部電極４２とが電気的に接続されるとともに、チップ型コンデンサ４０が測定端子２８，３０によって挟持される。この耐圧測定部２２では、複数のチップ型コンデンサ４０が、扇状に測定端子２８，３０によって配置される。
【００１９】
この状態で、プレート２４が下方に移動することにより、チップ型コンデンサ４０は、図５に示すように、プレート２４が離れて測定端子２８，３０によって保持される。そして、耐圧測定部２２において、測定端子２８，３０を介してチップ型コンデンサ４０に交流高圧または直流高圧が印加され、耐圧試験が行われる。
【００２０】
なお、プレート２４上に位置決めされたチップ型コンデンサ４０が、吸引チャック３６で持ち上げられ、そののちに測定端子２８，３０で保持されてもよい。この場合、空中において測定端子２８，３０で保持されたチップ型コンデンサ４０から吸引チャック３６が取り外される。そして、チップ型コンデンサ４０に交流高圧または直流高圧が印加され、耐圧試験が行われる。
【００２１】
また、プレート２４上に位置決めされたチップ型コンデンサ４０が測定端子２８，３０で挟持された後、測定端子２８，３０が上方に伸長することにより、チップ型コンデンサ４０とプレート２４とを離すようにしてもよい。
【００２２】
このように、チップ型コンデンサ４０の対向端部に形成された外部電極４２に測定端子２８，３０を当接して、他にチップ型コンデンサ４０に接触するものがない状態で測定を行うことにより、測定器具や機械的な要因によるチップ型コンデンサ表面の絶縁性低下を防止することができ、表面リークなどを抑えることができる。それにより、チップ型コンデンサ４０の特性測定を正確に行うことができ、チップ型コンデンサ４０に与えられるダメージを少なくすることができる。
【００２３】
なお、図１〜図３に示す耐圧試験装置１０では、耐圧測定部２２において扇状に複数のチップ型コンデンサ４０が保持されたが、図７に示すように、直線状のプレート２４の両側に複数対の測定端子２８，３０を配置して、複数のチップ型コンデンサ４０が直線状に測定端子２８，３０で保持されるようにしてもよい。測定端子２８，３０で保持されるチップ型コンデンサ４０の数は、任意に設定することができる。このように、複数のチップ型コンデンサ４０を同時に保持することにより、多数のチップ型コンデンサ４０の耐圧試験を同時に行うことができる。
【００２４】
【発明の効果】
この発明によれば、チップ型コンデンサの側面に耐圧試験装置の一部が接触しない状態で耐圧特性を測定することができるため、耐圧試験装置の汚れなどによるチップ型コンデンサ側面の絶縁性の劣化を防ぐことができる。そのため、チップ型コンデンサの表面リークなどが発生せず、正確にチップ型コンデンサの耐圧特性を測定することができ、チップ型コンデンサに与えられるダメージを少なくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 この発明のチップ型コンデンサの耐圧試験装置の一例を示す図解図である。
【図２】 図１に示す耐圧試験装置に用いられる耐圧測定部を示す図解図である。
【図３】 図２に示す耐圧測定部の要部を示す図解図である。
【図４】 図３に示す耐圧測定部において、チップ型コンデンサと測定端子とを接続するときの様子を示す図解図である。
【図５】 図３に示す耐圧測定部において、チップ型コンデンサの特性測定時の様子を示す図解図である。
【図６】 図３に示す耐圧測定部において、チップ型コンデンサと測定端子とを接続するときの他の例を示す図解図である。
【図７】 この発明の耐圧試験装置に用いられる耐圧測定部の他の例を示す図解図である。
【図８】 チップ部品の特性を測定する従来の方法の一例を示す図解図である。
【図９】 チップ部品の特性を測定する従来の方法の他の例を示す図解図である。
【図１０】 チップ部品の特性を測定する従来の方法のさらに他の例を示す図解図である。
【符号の説明】
１０ チップ型コンデンサの耐圧試験装置
１２ 部品供給部
１８ 第１のターンテーブル
２２ 耐圧測定部
２４ プレート
２６ 吸引口
２８ 測定端子
３０ 測定端子
３２ 第２のターンテーブル
４０ チップ型コンデンサ
４２ 外部電極
Claims (5)
- チップ型コンデンサの対向端部に形成された外部電極にそれぞれ測定端子を当接して前記チップ型コンデンサの耐圧特性を測定するためのチップ型コンデンサの耐圧試験方法であって、
前記チップ型コンデンサの静電容量または絶縁抵抗の電気的特性を測定して選別部において良品と不良品とを選別するステップ、
前記選別部で良品として選別された前記チップ型コンデンサを位置決めするためのプレート上に前記チップ型コンデンサを載置して、前記選別部における前記チップ型コンデンサの搬送経路に対応するようにして前記プレートに形成された位置決め用の複数の吸引口により複数の前記チップ型コンデンサを吸引固定するステップ、
載置された前記チップ型コンデンサを挟持するようにして前記外部電極に測定端子を当接するステップ、および
前記チップ型コンデンサから前記プレートを離すステップを含み、
前記測定端子のみで保持した状態で交流高圧または直流高圧を印加することにより前記チップ型コンデンサの耐圧特性を測定する、チップ型コンデンサの耐圧試験方法。 - チップ型コンデンサの対向端部に形成された外部電極にそれぞれ測定端子を当接して前記チップ型コンデンサの耐圧特性を測定するためのチップ型コンデンサの耐圧試験方法であって、
プレート上に前記チップ型コンデンサを載置するステップ、
前記チップ型コンデンサを位置決めするステップ、
チャックで前記チップ型コンデンサを持ち上げるステップ、
前記チャックで持ち上げられた前記チップ型コンデンサを挟持するようにして前記外部電極に測定端子を当接するステップ、および
前記チップ型コンデンサから前記チャックを外すステップを含み、
前記測定端子のみで保持した状態で交流高圧または直流高圧を印加することにより前記チップ型コンデンサの耐圧特性を測定する、チップ型コンデンサの耐圧試験方法。 - 対向端部に外部電極が形成されたチップ型コンデンサを供給するための部品供給部と、
前記部品供給部から供給される前記チップ型コンデンサを搬送するための搬送手段と、
前記搬送手段によって搬送された前記チップ型コンデンサの静電容量または絶縁抵抗の電気的特性を測定して良品と不良品とを選別する選別部と、
前記選別部で良品として選別された前記チップ型コンデンサを位置決めするために前記選別部における前記チップ型コンデンサの搬送経路に対応して配置される複数の吸引口を有するプレートと、
前記チップ型コンデンサと前記プレートとを離すための分離手段と、
前記プレートから離された前記チップ型コンデンサを挟持するようにして前記外部電極に当接させるように対向して配置される測定端子とを含み、
前記測定端子のみで前記チップ型コンデンサを挟持して交流高圧または直流高圧を印加することにより耐圧特性が測定される、チップ型コンデンサの耐圧試験装置。 - 複数の前記チップ型コンデンサを同時に保持して耐圧特性を測定するために、複数対の前記測定端子が形成された、請求項３に記載のチップ型コンデンサの耐圧試験装置。
- さらに、前記チップ型コンデンサの耐圧特性の良否を選別して良品のみを取り出す選別部を含む、請求項３または請求項４に記載のチップ型コンデンサの耐圧試験装置。
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