JPH0777548A

JPH0777548A - コンデンサの特性検査装置用治具

Info

Publication number: JPH0777548A
Application number: JP22350493A
Authority: JP
Inventors: Toshio Konno; 敏雄紺野; Norihiko Sakaida; 憲彦坂井田; Shinji Watanabe; 慎治渡辺; Shiro Tanimoto; 志郎谷本
Original assignee: CKD Corp
Current assignee: CKD Corp
Priority date: 1993-09-08
Filing date: 1993-09-08
Publication date: 1995-03-20

Abstract

(57)【要約】【目的】チップ型コンデンサの漏れ電流を正確に測定
することができる特性検査装置用治具を提供する。【構成】治具２は、コンデンサＣの電極Ｃｄ１，Ｃｄ
２を開閉自在に挟持する一対２組の固定電極６ａ，６ｂ
及び可動電極８ａ，８ｂを備えており、固定電極６ａ，
６ｂは、ボルト１０ａ，１０ｂを介して端子１４ａ，１
４ｂに導通し、可動電極８ａ，８ｂは、それを閉じる側
に付勢するバネ１８ａ，１８ｂ、導電板２２ａ，２２
ｂ、抵抗器Ｒａ，Ｒｂ、導電板２４ａ，２４ｂ、及びバ
ネ３４ａ，３４ｂを介してブラシ２６ａ，２６ｂに導通
している。そして、治具２は、特性検査装置の電源か
ら、この電源と電流測定回路とを直列接続した漏れ電流
測定回路へ順次接続される。従って、コンデンサＣの充
電及び漏れ電流の測定が、治具２の抵抗器Ｒａ，Ｒｂを
介して共通に行われるため、漏れ電流の測定誤差がな
い。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、本体の両側に電極が形
成されたチップ型コンデンサを挟持しながら、コンデン
サの特性検査装置の充電回路から漏れ電流を測定するた
めの測定回路へ移動するコンデンサの特性検査装置用治
具に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、コンデンサの製造工程におい
ては、コンデンサの静電容量を始め、漏れ電流や誘電正
接（ｔａｎδ）等の諸特性を測定するコンデンサの特性
検査装置を設け、製造したコンデンサの良否を判定した
り、良品と判定したコンデンサを諸特性の階級別に選別
するようにしている。

【０００３】ここで、漏れ電流の測定は、コンデンサを
所定の充電電源により所定の電流制限用抵抗器を介して
十分に充電した後、未だそのコンデンサに流れる電流を
測定することにより行われる。そこで従来より、この種
のコンデンサの特性検査装置においては、充電電源と電
流制限用抵抗器とが直列に接続された充電回路と、この
充電回路と同様に構成された回路に更に電流測定用の回
路を直列に接続した測定回路と、を別個に設け、測定対
象のコンデンサを、まず、充電回路に所定時間だけ接続
して十分に充電し、その後、そのコンデンサを測定回路
に接続することにより漏れ電流を測定するようにしてい
る。そして、この構成により、各充電回路毎に電流測定
用の回路を設けることなく、コンデンサの漏れ電流を測
定することができるようにして、装置構成の簡素化を図
っている。

【０００４】そして特に、本体の両側に電極が形成され
た所謂チップ型コンデンサの場合には、コンデンサを単
体で充電回路から測定回路へ移動させることが難しいた
め、治具によりコンデンサの電極を挟持させ、その治具
を上述の充電回路から測定回路へと移動させることによ
り、コンデンサの電極を充電回路から測定回路へと順次
接続させて、漏れ電流を測定するようにしている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のコンデンサの特性検査装置においては、充電回路内
に設ける抵抗器の抵抗値と、測定回路内に設ける抵抗器
の抵抗値とを完全に一致させることはできず、その両抵
抗値の差異により、コンデンサを充電回路から測定回路
へ接続したときにコンデンサに電流が流れてしまい、特
に、通常、漏れ電流が小さいチップ型コンデンサの場合
には、漏れ電流を正確に測定することができないという
問題があった。

【０００６】本発明は、このような問題に鑑みなされた
ものであり、チップ型コンデンサの漏れ電流を正確に測
定することができるコンデンサの特性検査装置用治具を
提供することを目的としている。

【０００７】

【課題を解決するための手段】即ち、上記目的を達成す
るためになされた請求項１に記載の本発明は、本体の両
側に電極が形成されたチップ型コンデンサを充電する充
電回路と、該充電回路により上記コンデンサを充電した
後、該コンデンサの漏れ電流を測定する測定回路と、を
備えたコンデンサの特性検査装置に用いられ、上記コン
デンサを挟持しながら上記充電回路から上記測定回路へ
移動するコンデンサの特性検査装置用治具であって、上
記コンデンサの両電極を開閉自在に挟持して該各電極に
夫々導通する一対の挟持部と、当該治具の移動に伴い上
記充電回路と上記測定回路とに順次接続され、上記各回
路と上記挟持部との電流経路を形成する一対の接続端子
と、上記接続端子の一方と上記挟持部の一方との間に直
列に接続された電流制限用の抵抗器と、を備えたことを
特徴とするコンデンサの特性検査装置用治具を要旨とし
ている。

【０００８】また、請求項２に記載の本発明は、請求項
１に記載のコンデンサの特性検査装置用治具において、
上記一対の挟持部の中央部に、外部から供給される空気
を噴出するための噴出孔を設けたこと、を特徴とするコ
ンデンサの特性検査装置用治具を要旨としている。

【０００９】

【作用及び発明の効果】このように構成された請求項１
に記載のコンデンサの特性検査装置用治具においては、
開閉自在な一対の挟持部が、チップ型コンデンサの両電
極を挟持し、この状態で各挟持部はコンデンサの各電極
に夫々導通する。

【００１０】そして、当該治具がコンデンサの特性検査
装置に設けられた充電回路から漏れ電流を測定するため
の測定回路へ移動すると、一対の接続端子が、充電回路
と測定回路とに順次接続され、その各回路と挟持部との
電流経路を形成する。従って、チップ型コンデンサの電
極は、当該治具の挟持部と接続端子とを介して特性検査
装置の充電回路及び測定回路に接続されることとなる。

【００１１】ここで、本発明のコンデンサの特性検査装
置用治具においては、接続端子の一方と挟持部の一方と
の間に、直列に、電流制限用の抵抗器が接続されている
ため、特性検査装置の充電回路内及び測定回路内に抵抗
器を設けることなく、コンデンサの充電と漏れ電流の測
定とを行うことができる。つまり、特性検査装置の充電
回路には、充電電源だけを設け、測定回路には、充電電
源と電流測定用の回路とを直列に接続した回路だけを設
けるように構成することができるのである。

【００１２】そして、この構成により、充電時の抵抗器
と漏れ電流測定時の抵抗器とが同一物となるため、従来
装置の場合に問題となった充電回路内及び測定回路内の
各抵抗器の抵抗値の差異に起因する漏れ電流の測定誤差
を完全に排除することができるのである。

【００１３】このように請求項１に記載のコンデンサの
特性検査装置用治具によれば、コンデンサの漏れ電流を
より正確に測定することができるようになるのである。
次に、請求項２に記載のコンデンサの特性検査装置用治
具においては、請求項１に記載のコンデンサの特性検査
装置用治具において、チップ型コンデンサの電極を挟持
する一対の挟持部の中央部に、外部から供給される空気
を噴出するための噴出孔を設けるようにしている。

【００１４】従って、請求項２に記載のコンデンサの特
性検査装置用治具によれば、請求項１に記載のコンデン
サの特性検査装置用治具と全く同様にコンデンサの漏れ
電流を正確に測定することができる上に、予め外部から
空気を供給しておくか、或いは、挟持部を開放するタイ
ミングで外部から空気を供給することにより、挟持して
いたコンデンサを噴出孔から噴出する空気によって吹き
飛ばすことができるようになる。

【００１５】よって、コンデンサの特性検査装置により
不良品と判定されたコンデンサを所定の場所に排出した
り、また、良品として判定されたコンデンサをその測定
結果に応じて異なる場所に分配したりする場合に非常に
有効となる。

【００１６】

【実施例】以下に本発明の実施例を図面と共に説明する
まず図１は、本発明が適用された実施例のコンデンサの
特性検査装置用治具（以下、単に治具という）２の斜視
図であり、図２は、治具２の側面図である。尚、図１
（Ｂ）は、図１（Ａ）における治具２の一部を拡大する
と共に治具２がチップ型コンデンサ（以下、単に、コン
デンサという）Ｃを挟持した状態を表している。

【００１７】図１に示すように、治具２は、絶縁性合成
樹脂により略Ｔ字型に形成された本体４の先端部４ａ
に、コンデンサＣの電極Ｃｄ１，Ｃｄ２を挟持する挟持
部としての一対２組の固定電極６ａ，６ｂ及び可動電極
８ａ，８ｂを備えており、コンデンサＣを、固定電極６
ａと可動電極８ａとにより、及び、固定電極６ｂと可動
電極８ｂとにより、夫々挟持するように構成されてい
る。尚、固定電極６ａ，６ｂと可動電極８ａ，８ｂとは
黄銅により形成され、その表面にはニッケルめっきが施
されており、コンデンサＣの電極Ｃｄ１，Ｃｄ２と導通
可能になっている。

【００１８】固定電極６ａ，６ｂは、図１及び図２に示
すように、夫々ボルト１０ａ，１０ｂにより本体４の先
端部４ａにネジ止めされている。また、先端部４ａの固
定電極６ａ，６ｂと反対側には、そのボルト１０ａ，１
０ｂにより、夫々、電線１２ａ，１２ｂが接続された、
接続端子としての端子１４ａ，１４ｂが固定されてい
る。つまり、固定電極６ａ，６ｂは、夫々、ボルト１０
ａ，１０ｂ及び端子１４ａ，１４ｂを介して電線１２
ａ，１２ｂに導通している。

【００１９】一方、可動電極８ａ，８ｂは、図２の紙面
に対して垂直方向に挿通された軸１６により、図２にお
ける２点鎖線で示すように、固定電極６ａ，６ｂとの間
隙、即ちコンデンサＣの挟持部分を開閉可能に支持され
ており、この挟持部分と反対側に設けられたバネ１８
ａ，１８ｂにより、コンデンサＣを挟持する方向に付勢
されている。尚、図１及び図２において、バネ１８ｂは
バネ１８ａと重なるため図示されていない。また、バネ
１８ａ，１８ｂの表面にはニッケルめっきが施されてお
り可動電極８ａ，８ｂに夫々導通している。

【００２０】そして、バネ１８ａ，１８ｂは、夫々、ボ
ルト２０ａ，２０ｂにより本体４に固定されたＬ字型の
第１の導電板２２ａ，２２ｂに接続されている。そし
て、この第１の導電板２２ａ，２２ｂは、銅板により形
成されると共にその表面に錫めっきが施されており、夫
々、バネ１８ａ，１８ｂに導通している。

【００２１】また、図１及び図２に示すように、本体４
の軸部４ｂには、先端部４ａと反対側から抵抗器Ｒａ，
Ｒｂの一方の端子Ｒａ１，Ｒｂ１が挿通されており、そ
の各端子Ｒａ１，Ｒｂ１は、夫々、第１の導電板２２
ａ，２２ｂにハンダ付けされている。

【００２２】また更に、本体４の軸部４ｂにおける抵抗
器Ｒａ，Ｒｂの下方には凸部４ｃが形成されており、そ
の凸部４ｃから軸部４ｂの下端部に渡る本体４の表面に
は、第２の導電板２４ａ，２４ｂが取り付けられてい
る。そして、その第２の導電板２４ａ，２４ｂには、本
体４の凸部４ｃにおいて、各抵抗器Ｒａ，Ｒｂの他方の
端子Ｒａ２，Ｒｂ２が、夫々、ハンダ付けされている。
尚、図１及び図２において、第２の導電板２４ｂは第２
の導電板２４ａと重なるため図示されていない。また、
第２の導電板２４ａ，２４ｂは、第１の導電板２２ａ，
２２ｂと全く同様に銅板により形成され、その表面に錫
めっきが施されている。

【００２３】そして、図１、図２、及び図２において本
体４の軸部４ｂを矢印Ｘの方向からみた図３に示すよう
に、本体４の軸部４ｂの下端部には、鉄により形成され
た接続端子としてのブラシ２６ａ，２６ｂが、夫々、ブ
ラシ軸２８ａ，２８ｂにより回動自在に支持されてお
り、各ブラシ軸２８ａ，２８ｂはブラシ２６ａ，２６ｂ
と共に、夫々、ワッシャ３０ａ，３０ｂ及びナット３２
ａ，３２ｂにより軸部４ｂの下端部から抜けないように
固定されている。そして、図３に示すように、ブラシ２
６ａ，２６ｂは、その上部において、第２の導電板２４
ａ，２４ｂに夫々取り付けられたバネ３４ａ，３４ｂに
より下方に付勢されている。従って、治具２が、後述す
るコンデンサの特性検査装置（以下、単に特性検査装置
という）に設けられた電極板Ｄの上を図３に示す矢印Ｙ
方向に移動する際には、図３の２点鎖線で示すように、
ブラシ２６ａ，２６ｂはバネ３４ａ，３４ｂの付勢力に
抗して、ブラシ軸２８ａ，２８ｂを回転軸として図３に
おいて右廻り方向に回動し、電極板Ｄと完全に接触する
こととなる。

【００２４】尚、図３において、軸部４ｂの下端部にお
ける各ブラシ２６ａ，２６ｂの右側には、凸部４ｃと同
じ高さの突条３６ａ，３６ｂが夫々形成されており、こ
の突条３６ａ，３６ｂにより、ブラシ２６ａ，２６ｂの
図３における左廻りの回動が規制されている。

【００２５】ここで、バネ３４ａ，３４ｂ及びブラシ２
６ａ，２６ｂの表面にはニッケルめっきが施されてい
る。よって、可動電極８ａ，８ｂは、夫々、バネ１８
ａ，１８ｂ、第１の導電板２２ａ，２２ｂ、抵抗器Ｒ
ａ，Ｒｂ、第２の導電板２４ａ，２４ｂ、及びバネ３４
ａ，３４ｂを介してブラシ２６ａ，２６ｂに導通するこ
ととなり、図３に示すようにブラシ２６ａ，２６ｂが特
性検査装置の電極板Ｄに接触することにより、可動電極
８ａ，８ｂが電極板Ｄに導通する。

【００２６】一方、図１及び図２に示すように、本体４
の先端部４ａにおいて、固定電極６ａ，６ｂと可動電極
８ａ，８ｂとの各間隙（コンデンサＣの挟持部分）に
は、夫々、噴出孔３８ａ，３８ｂが形成されており、先
端部４ａの上面から下方向に設けられた空気孔４０ａ，
４０ｂに夫々連通している。従って、この空気孔４０
ａ，４０ｂへ圧縮空気を供給すると、各噴出孔３８ａ，
３８ｂから空気が噴出することとなる。

【００２７】このように構成された本実施例の治具２
は、図２に示すように、本体４に形成された孔４２，４
４を介して、後述する特性検査装置の略扇状の支持部Ｓ
に固定される。そして、治具２の固定電極６ａ，６ｂに
導通する各電線１２ａ，１２ｂは、夫々、支持部Ｓに設
けられた一対のリレーＲＬＹａ，ＲＬＹｂに接続され、
後述するように、このリレーＲＬＹａ，ＲＬＹｂが短絡
されると、治具２の固定電極６ａ，６ｂが特性検査装置
内に設けられた電源に接続されることとなる。尚、図２
においてリレーＲＬＹｂはリレーＲＬＹａと重なるため
図示されていない。

【００２８】次に、以上のように構成された治具２を使
用して、コンデンサＣの諸特性を測定する特性検査装置
について図４、図５、及び図６を用いて説明する。図４
に示すように、本実施例の特性検査装置５０は、図示し
ない制御装置により回転駆動される回転軸５２と、略扇
状に形成されてほぼ円形に列設され、回転軸５２により
回転駆動される複数の支持部Ｓと、を備えている。そし
て、各支持部Ｓには、上述した治具２が所定個（図４に
おいては５個）づつ固定されている。つまり、治具２
は、各支持部Ｓによりほぼ円形に固定されて特性検査装
置５０の一部を形成し、回転軸５２の回転に伴い、その
位置が回転移動するのである。

【００２９】また、図４には示されていないが、特性検
査装置５０において各治具２のブラシ２６ａ，２６ｂが
移動する部分には、円弧状に形成された複数の電極板Ｄ
ｂ１〜Ｄｂｎ，Ｄｃ，Ｄｄ１〜Ｄｄｎ，Ｄｅ１〜Ｄｅ
ｎ，Ｄｆ，Ｄｇ（図５参照）が順次円形状に列設されて
おり、治具２の回転移動に伴い、ブラシ２６ａ，２６ｂ
がその各電極板に順次接触するように構成されている。

【００３０】そして、本実施例の特性検査装置５０にお
いて、円形に列設された治具２の外周における所定位置
には、治具２により挟持された各コンデンサＣの電極Ｃ
ｄ１，Ｃｄ２に夫々接触して、各コンデンサＣを後述す
るＬＣ測定回路等の各特性測定回路に接続する２組の端
子を備えた７個の端子ガイドＧ１〜Ｇ７が配設されてい
る。尚、図４において、端子ガイドＧ５，Ｇ６は省略し
ている。

【００３１】次に、特性検査装置５０の電気回路につい
て説明する。まず、図５は、特性検査装置５０の電気回
路図である。尚、図５においては、１点鎖線で示す部分
の構成が１個の治具２を表している。そして、実際に
は、治具２は、２個のコンデンサＣを挟持しながら移動
するのであるが、図５においては、便宜上、固定電極６
ａ，可動電極８ａ，抵抗器Ｒａ，及びブラシ２６ａ等か
らなる一方側だけを示している。従って、以下の説明は
治具２の一方側を中心に行うが、他方側についても全く
同様である。また、図５において、ＲＬＹａは、上述の
支持部Ｓに設けられたリレーＲＬＹａ，ＲＬＹｂのうち
治具２の電線１２ａが接続された方を表しており、Ｄｂ
１〜Ｄｂｎ，Ｄｃ，Ｄｄ１〜Ｄｄｎ，Ｄｅ１〜Ｄｅｎ，
Ｄｆ，Ｄｇは、夫々、各治具２のブラシ２６ａ（２６
ｂ）が移動する部分に順次円形状に列設された電極板を
表している。

【００３２】図５に示すように、本実施例の特性検査装
置５０は、コンデンサＣを充電するための電源Ｖを備え
ており、電源Ｖの＋側はアース接地されると共に回転軸
５２の付近に固定された電極板５４に接続されている。
そして、この電極板５４には、支持部ＳのリレーＲＬＹ
ａ（ＲＬＹｂ）に接続されたブラシ５６が接触してお
り、回転軸５２の回転に伴い支持部Ｓが回転しても、常
にリレーＲＬＹａ（ＲＬＹｂ）が電源の＋側に接続され
るようになっている。

【００３３】また、電極板Ｄｂ１〜Ｄｂｎ及び電極板Ｄ
ｅ１〜Ｄｅｎは、夫々、ｎ個のリレーＲＹｂ１〜ＲＹｂ
ｎ，ＲＹｅ１〜ＲＹｅｎを介して電源Ｖの−側に接続さ
れており、電極板Ｄｃ及び電極板Ｄｆは、夫々、直接電
源Ｖの−側に接続されている。一方、電極板Ｄｄ１〜Ｄ
ｄｎは、夫々、ｎ個のリレーＲＹｄ１〜ＲＹｄｎを介し
て電源Ｖの＋側に接続されており、電極板Ｄｇは、直接
電源Ｖの＋側に接続されている。

【００３４】そして、本実施例の特性検査装置５０にお
いては、後述するように、治具２が、端子ガイドＧ１が
設けられた（ａ）の位置に移動したときに、コンデンサ
Ｃが短絡故障しているか否かを検査するオープン検査を
行い、電極板Ｄｂ１〜Ｄｂｎが設けられた（ｂ）の領域
に移動したときに、コンデンサＣの第１の充電を行い、
端子ガイドＧ２及び電極板Ｄｃが設けられた（ｃ）の位
置に移動したときに、コンデンサＣの第１の漏れ電流測
定を行い、電極板Ｄｄ１〜Ｄｄｎ及び端子ガイドＧ３が
設けられた（ｄ）の領域に移動したときに、コンデンサ
Ｃの第１の放電を行い、電極板Ｄｅ１〜Ｄｅｎが設けら
れた（ｅ）の領域に移動したときに、コンデンサＣの第
２の充電を行い、端子ガイドＧ４及び電極板Ｄｆが設け
られた（ｆ）の位置に移動したときに、コンデンサＣの
第２の漏れ電流測定を行い、電極板Ｄｇ及び端子ガイド
Ｇ５が設けられた（ｇ）の領域に移動したときに、コン
デンサＣの第２の放電を行い、端子ガイドＧ６が設けら
れた（ｈ）の位置に移動したときに、コンデンサＣの静
電容量及びｔａｎδの測定を行い、そして最後に端子ガ
イドＧ７が設けられた（ｉ）の位置に移動したときに、
コンデンサＣのその他の特性測定を行うように構成され
ている。

【００３５】尚、電極板Ｄｂ１と電極板Ｄｅ１の長さ
は、治具２が回転移動した際にブラシ２６ａ（２６ｂ）
が、夫々４秒間だけ接触するように設定されており、電
極板Ｄｂ２〜Ｄｂｎ，Ｄｅ２〜Ｄｅｎの長さは、ブラシ
２６ａ（２６ｂ）が、夫々５秒間だけ接触するように設
定されている。

【００３６】そして、リレーＲＹｂ１〜ＲＹｂｎ及びリ
レーＲＹｅ１〜ＲＹｅｎは、後述するように、コンデン
サＣを充電する時間に応じて予め何れかが短絡されてい
る。また、リレーＲＹｄ１〜ＲＹｄｎ-1は、コンデンサ
Ｃを治具２の抵抗器Ｒａ（Ｒｂ）を介して放電させる時
間に応じて予め何れかが短絡されており、リレーＲＹｄ
ｎは、検査するコンデンサＣを完全に放電させる場合に
のみ予め短絡される。

【００３７】そこで以下、特性検査装置５０が、治具２
により挟持されたコンデンサＣを検査する手順について
説明する。まず、治具２が（ａ）の位置に移動すると、
支持部ＳのリレーＲＬＹａを開放させると共に、図示し
ない駆動機構により端子ガイドＧ１を治具２側へ移動さ
せ、端子ガイドＧ１の各端子Ｇ１ｕ，Ｇ１ｌを、夫々、
治具２が挟持しているコンデンサＣの電極Ｃｄ１，Ｃｄ
２に接触させる。そして、端子ガイドＧ１に接続された
図示しない測定回路によりコンデンサＣが短絡故障して
いるか否かを検査する。

【００３８】次に、治具２が（ｂ）の領域に移動する
と、支持部ＳのリレーＲＬＹａを短絡させて、治具２の
固定電極６ａと電源Ｖの＋側とを接続させる。すると、
治具２のブラシ２６ａは、電極板Ｄｂ１〜Ｄｂｎに順次
接触するため、予め短絡されたリレーＲＹｂ１〜ＲＹｂ
ｎに対応する電極板Ｄｂ１〜Ｄｂｎにブラシ２６ａが接
触している時間だけ、治具２の可動電極８ａが電源Ｖの
−側に接続され、コンデンサＣが抵抗器Ｒａを介して充
電されることとなる。

【００３９】つまり、（ｂ）の領域においては、電極板
Ｄｂ１〜Ｄｂｎ、リレーＲＹｂ１〜ＲＹｂｎ、電源Ｖ、
及び支持部ＳのリレーＲＬＹａにより、コンデンサＣを
充電するための充電回路を形成しており、予め短絡して
おくリレーＲＹｂ１〜ＲＹｂｎに応じてコンデンサＣの
充電時間が設定されるのである。

【００４０】このように、（ｂ）の領域で所定時間だけ
コンデンサＣを充電した後、治具２が（ｃ）の位置に移
動してブラシ２６ａが電極板Ｄｃに接触すると、今度
は、支持部ＳのリレーＲＬＹａを開放させると共に、図
示しない駆動機構により端子ガイドＧ２を治具２側へ移
動させ、端子ガイドＧ２の各端子Ｇ２ｕ，Ｇ２ｌを、夫
々、コンデンサＣの電極Ｃｄ１，Ｃｄ２に接触させる。
そして、端子ガイドＧ２の端子Ｇ２ｕ及び電源Ｖの＋側
に接続されたＬＣ測定回路５８によりコンデンサＣの漏
れ電流を測定する。

【００４１】ここで、ＬＣ測定回路５８は図６に示す如
く構成されている。図６に示すように、ＬＣ測定回路５
８は、非反転入力端子が電源Ｖの＋側に接続された演算
増幅回路６０と、演算増幅回路６０の反転入力端子と出
力端子との間にリレーＲＹ１〜ＲＹ７を介して択一的に
接続される抵抗器Ｒ１〜Ｒ７と、演算増幅回路６０の反
転入力端子と端子ガイドＧ２の端子Ｇ２ｕとの間に、リ
レーＲＹ８を介して直列に接続された抵抗器Ｒ８，Ｒ９
と、演算増幅回路６０の出力電圧を５０Ｈｚから６０Ｈ
ｚの間でフィルタリングするバンドパスフィルタ（以
下、単にＢＰＦという）６２と、ＢＰＦ６２の出力信号
をバッファ６４を介して入力し、その信号をデジタルデ
ータに変換して出力するＡ／Ｄ変換回路６６と、リレー
ＲＹ８を介して抵抗器Ｒ９から演算増幅回路６０への電
流経路へ所定の定電流を供給する定電流回路６８と、を
備えている。尚、図６において、Ｄ１〜Ｄ４は演算増幅
回路６０の入力保護用ダイオードである。

【００４２】このように構成されたＬＣ測定回路５８に
おいて、通常、リレーＲＹ８は、端子ガイドＧ２の端子
Ｇ２ｕと抵抗器Ｒ９とを接続する位置にある。そして、
検査するコンデンサＣの漏れ電流の規格値に応じて、何
れかのリレーＲＹ１〜ＲＹ７を短絡し、その短絡したリ
レーＲＹ１〜ＲＹ７に接続された抵抗器Ｒ１〜Ｒ７と、
抵抗器Ｒ８，Ｒ９と、演算増幅回路６０とにより周知の
反転増幅回路を形成している。従って、演算増幅回路６
０からは、治具２の抵抗器Ｒａを介してコンデンサＣと
電源Ｖとの間に流れる電流、即ち漏れ電流の値に応じた
電圧が出力されることとなり、その電圧値に応じたデジ
タルデータがＡ／Ｄ変換回路６６から出力される。そし
て、Ａ／Ｄ変換回路６６から出力されたデジタルデータ
は、図示しないデータ処理回路に入力され、そのデジタ
ルデータが表す漏れ電流の値が規格値以内であるか否か
が判定される。

【００４３】つまり、（ｃ）の領域においては、電極板
Ｄｃ、電源Ｖ、ＬＣ測定回路５８、及び端子ガイドＧ２
の端子Ｇ２ｕにより、コンデンサＣの漏れ電流を測定す
るための測定回路を形成しており、ＬＣ測定回路５８に
て、リレーＲＹ１〜ＲＹ７により抵抗器Ｒ１〜Ｒ７を切
り替えることによって、演算増幅回路６０の増幅率、即
ち測定レンジをコンデンサＣの規格値に応じて切り替
え、漏れ電流を測定しているのである。

【００４４】尚、ＬＣ測定回路５８において、リレーＲ
Ｙ８及び定電流回路６８を設けているのは、当該回路が
正常に作動するか否かをチェックするためである。即
ち、リレーＲＹ８を定電流回路６８と抵抗器Ｒ９とを接
続する位置に切り替えると、コンデンサＣの漏れ電流に
関わらず、演算増幅回路６０を中心に形成された反転増
幅回路に電流が流れるため、そのときＡ／Ｄ変換回路６
６から出力されるデジタルデータにより当該回路が正常
動作しているか否かを判定するのである。

【００４５】このように、（ｃ）の位置でコンデンサＣ
の漏れ電流を測定した後、治具２が（ｄ）の領域に移動
すると、再度、支持部ＳのリレーＲＬＹａを短絡させ
て、治具２の固定電極６ａと電源Ｖの＋側とを接続させ
る。すると、治具２のブラシ２６ａは、電極板Ｄｄ１〜
Ｄｄｎ-1に順次接触するため、予め短絡されたリレーＲ
Ｙｄ１〜ＲＹｄｎ-1に対応する電極板Ｄｂ１〜Ｄｂｎ-1
にブラシ２６ａが接触している時間だけ、治具２の可動
電極８ａも電源Ｖの＋側に接続され、コンデンサＣが抵
抗器Ｒａを介して放電することとなる。

【００４６】そして、コンデンサＣを完全に放電させる
必要がある場合に、治具２が電極板Ｄｄｎ及び端子ガイ
ドＧ３の設けられた位置まで移動すると、図示しない駆
動機構により端子ガイドＧ３を治具２側へ移動させ、端
子ガイドＧ３の端子Ｇ３ｕをコンデンサＣの可動電極８
ａ側の電極に接触させる。そして、図５に示すように端
子ガイドＧ３の端子Ｇ３ｕに接続されたリレーＲＹＳを
短絡して、コンデンサＣの両電極Ｃｄ１，Ｃｄ２を短絡
させる。

【００４７】つまり、（ｄ）の領域においては、まず、
コンデンサＣを、治具２の抵抗器Ｒａを介して緩やかに
放電させ、その後必要な場合には、コンデンサＣの両電
極Ｃｄ１，Ｃｄ２を短絡させて完全に放電させるように
しているのである。そして、このように（ｄ）の位置で
コンデンサＣを放電させた後、治具２が（ｅ）の領域に
移動すると、上述の（ｂ）の領域の場合と全く同様に、
電極板Ｄｅ１〜Ｄｅｎ、リレーＲＹｅ１〜ＲＹｅｂｎ、
電源Ｖ、及び支持部ＳのリレーＲＬＹａにより、コンデ
ンサＣを充電するための充電回路を形成し、予め短絡し
たリレーＲＹｅ１〜ＲＹｅｎに応じて設定された時間だ
けコンデンサＣを充電する。

【００４８】その後、治具２が次の（ｆ）の位置に移動
すると、（ｃ）の位置の場合と全く同様に、支持部Ｓの
リレーＲＬＹａを開放させると共に、端子ガイドＧ４の
各端子Ｇ４ｕ，Ｇ４ｌを、夫々、コンデンサＣの電極Ｃ
ｄ１，Ｃｄ２に接触させ、端子ガイドＧ４の端子Ｇ４ｕ
及び電源Ｖの＋側に接続されたＬＣ測定回路５８（図示
せず）によりコンデンサＣの漏れ電流を測定する。

【００４９】尚、（ｂ）の領域と（ｅ）の領域とで行わ
れる充電は、充電時間が異なるだけであり、（ｃ）の位
置と（ｆ）の位置とで行われる漏れ電流測定は、互いに
測定レンジが異なるだけである。つまり、（ｃ）の位置
と（ｆ）の位置とでは、図６に示したＬＣ測定回路５８
にて短絡されるリレーＲＹ１〜ＲＹ７が異なるのみであ
る。

【００５０】そして、このように（ｆ）の位置で漏れ電
流を測定した後、治具２が（ｇ）の領域に移動してブラ
シ２６ｂが電極板Ｄｇに接触すると、（ｄ）の領域の場
合と同様に、まず、支持部ＳのリレーＲＬＹａを短絡さ
せてコンデンサＣを治具２の抵抗器Ｒａを介して放電さ
せ、その後、治具２が端子ガイドＧ５の設けられた位置
まで移動すると、端子ガイドＧ５の端子Ｇ５ｕをコンデ
ンサＣの可動電極８ａ側の電極に接触させ、コンデンサ
Ｃを完全に放電させる。尚、この（ｇ）の領域におい
て、電極板Ｄｇと端子ガイドＧ５の端子Ｇ５ｕとを、夫
々、電源Ｖの＋側と−側とにリレーを介すことなく接続
しているのは、後の（ｈ）及び（ｉ）の位置で行う各測
定は、常に、コンデンサＣを完全に放電させてから行う
必要があるからである。

【００５１】このように、（ｇ）の領域にてコンデンサ
Ｃを完全に放電させた後、治具２が（ｈ）の位置に移動
すると、（ａ）の位置で行ったオープン検査と全く同様
に、支持部ＳのリレーＲＬＹａを開放させると共に、端
子ガイドＧ６の各端子Ｇ６ｕ，Ｇ６ｌを、夫々、コンデ
ンサＣの電極Ｃｄ１，Ｃｄ２に接触させ、端子ガイドＧ
６に接続された図示しない測定回路によりコンデンサＣ
の静電容量及びｔａｎδを測定する。そして、治具２が
次の（ｉ）の位置に移動すると、（ｈ）の位置の場合と
同様に、端子ガイドＧ７の各端子Ｇ７ｕ，Ｇ７ｌをコン
デンサＣの電極にＣｄ１，Ｃｄ２に接触させてコンデン
サＣの他の特性を測定し、全検査工程を終了するのであ
る。

【００５２】ここで、（ａ）の位置でコンデンサＣが短
絡故障していると判定した場合、或いは、（ｃ），
（ｆ），（ｈ），（ｉ）の各位置における測定結果が規
格範囲外であると判定した場合には、治具２の空気孔４
０ａへ図示しないチューブを介して圧縮空気を供給する
と共に可動電極８ａを開放させ、そのコンデンサＣを所
定の収納箇所へ排出するようになっている。また、全て
の検査工程が終了すると、（ｃ），（ｆ），（ｈ），
（ｉ）の各位置での測定結果に応じて、コンデンサＣを
特性の階級別に振り分けるようにしており、この階級別
の振り分けを行う際にも、治具２の空気孔４０ａへ圧縮
空気を供給し、コンデンサＣを所定の収納箇所に排出す
るようになっている。

【００５３】以上説明したように、本実施例の治具２を
使用した特性検査装置５０においては、コンデンサＣの
短絡故障を検査した後、コンデンサＣを治具２の抵抗器
Ｒａ（Ｒｂ）を介し充電して漏れ電流を測定し、その
後、一旦、コンデンサＣを放電させた後、再び、コンデ
ンサＣを充電し、今度は測定レンジを変えて漏れ電流を
測定し、その後、コンデンサＣを完全に放電させて、そ
の他の諸特性を測定するように構成されている。

【００５４】そして特に、本実施例の特性検査装置５０
においては、治具２にコンデンサＣの充電及び漏れ電流
の測定を行うための抵抗器Ｒａ，Ｒｂが設けられている
ため、充電時の抵抗器と漏れ電流測定時の抵抗器とが同
一物となって、従来装置の場合に問題となった特性検査
装置側の充電回路内及び測定回路内の各抵抗器の抵抗値
の差異に起因する漏れ電流の測定誤差を完全に排除する
ことができる。

【００５５】即ち、本実施例の治具２により、コンデン
サＣの漏れ電流を正確に測定することができるのであ
る。また、本実施例の治具２においては、固定電極６
ａ，６ｂと可動電極８ａ，８ｂとの各間隙部分に、空気
孔４０ａ，４０ｂから供給される圧縮空気を噴出する噴
出孔３８ａ，３８ｂを設けている。

【００５６】従って、本実施例の治具２によれば、各測
定により不良品と判定されたコンデンサＣを所定の収納
箇所へ排出したり、また、良品として判定されたコンデ
ンサをその特性の階級別に振り分ける操作を非常に簡単
にすることができるようになるのである。

【００５７】尚、本実施例の特性検査装置５０は、端子
ガイドＧ２の端子Ｇ２ｕ及び端子ガイドＧ４の端子Ｇ４
ｕを、直接、コンデンサＣの電極に接触させてＬＣ測定
回路５８を中心とした漏れ電流測定用の測定回路を形成
するものであったが、各端子Ｇ２ｕ，Ｇ４ｕを、治具２
の固定電極６ａ，６ｂ或いは端子１４ａ，１４ｂに接触
させるようにしてもよい。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施例のコンデンサの特性検査装置用治具の斜
視図である。

【図２】実施例のコンデンサの特性検査装置用治具の側
面図である。

【図３】コンデンサの特性検査装置用治具のブラシを説
明する説明図である。

【図４】実施例のコンデンサの特性検査装置を説明する
説明図である。

【図５】コンデンサの特性検査装置の電気回路図であ
る。

【図６】コンデンサの漏れ電流を測定するＬＣ測定回路
の構成を表わす回路図である。

【符号の説明】

２…治具４…本体６ａ，６ｂ…固定電極８
ａ，８ｂ…可動電極１４ａ，１４ｂ…端子１８ａ，１８ｂ…バネＲ
ａ，Ｒｂ…抵抗器２２ａ，２２ｂ…第１の導電板２４ａ，２４ｂ…第
２の導電板２６ａ，２６ｂ…ブラシ３４ａ，３４ｂ…バネ
３８ａ，３８ｂ…噴出孔４０ａ，４０ｂ…空気孔Ｃ…コンデンサＣｄ
１，Ｃｄ２…電極５０…特性検査装置５８…ＬＣ測定回路Ｖ
…電源Ｄｂ１〜Ｄｂｎ，Ｄｃ，Ｄｄ１〜Ｄｄｎ，Ｄｅ１〜Ｄｅ
ｎ，Ｄｆ，Ｄｇ…電極板Ｇ１〜Ｇ７…端子ガイド

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者谷本志郎愛知県小牧市大字北外山字早崎3005番地シーケーディ株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】本体の両側に電極が形成されたチップ型
コンデンサを充電する充電回路と、該充電回路により上
記コンデンサを充電した後、該コンデンサの漏れ電流を
測定する測定回路と、を備えたコンデンサの特性検査装
置に用いられ、上記コンデンサを挟持しながら上記充電
回路から上記測定回路へ移動するコンデンサの特性検査
装置用治具であって、上記コンデンサの両電極を開閉自在に挟持して該各電極
に夫々導通する一対の挟持部と、当該治具の移動に伴い上記充電回路と上記測定回路とに
順次接続され、上記各回路と上記挟持部との電流経路を
形成する一対の接続端子と、上記接続端子の一方と上記挟持部の一方との間に直列に
接続された電流制限用の抵抗器と、を備えたことを特徴とするコンデンサの特性検査装置用
治具。
【請求項２】請求項１に記載のコンデンサの特性検査
装置用治具において、上記一対の挟持部の中央部に、外部から供給される空気
を噴出するための噴出孔を設けたこと、を特徴とするコンデンサの特性検査装置用治具。