JPS62192671A - 電子装置の測定方法 - Google Patents
電子装置の測定方法Info
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- JPS62192671A JPS62192671A JP61035898A JP3589886A JPS62192671A JP S62192671 A JPS62192671 A JP S62192671A JP 61035898 A JP61035898 A JP 61035898A JP 3589886 A JP3589886 A JP 3589886A JP S62192671 A JPS62192671 A JP S62192671A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 57
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この本発明は、湿気、はこり、ａ＋＋定すべき電子装置
を搬送するＩＭ送ベルトの汚れ等による測定誤差が生じ
ないようにした、電子装置の測定方法に関する。
を搬送するＩＭ送ベルトの汚れ等による測定誤差が生じ
ないようにした、電子装置の測定方法に関する。
たとえば、多連チップ抵抗器は第４図に示すように、多
数の単位チップ抵抗器１を多連に連続さ。 せ、その連続方向と直角方向の両側に各チップ抵抗器ｌ
の両電極１ａ、ｌｂが並ぶように形成されている。 そしてこの多連チップ抵抗器の検査測定は、例えば第５
図に示すように、チップ抵抗器１を挟んで互い近接離間
する方向に往復移動可能な一対の測定端子４ａ、４ｂの
間にチップ抵抗器１を搬送ベルト２により搬入し、上記
一対の測定端子４ａ。 ４ｂでこのチップ抵抗器を挟持するなどしてその抵抗値
の検査測定が行われる。なお、各測定端子４ａ、４ｂは
チップ抵抗器１の各チップごとに抵抗値を測定できるよ
うに、チップ抵抗器ｌのチップ数に対応する数だけ設け
られ、互いに絶縁されている。
数の単位チップ抵抗器１を多連に連続さ。 せ、その連続方向と直角方向の両側に各チップ抵抗器ｌ
の両電極１ａ、ｌｂが並ぶように形成されている。 そしてこの多連チップ抵抗器の検査測定は、例えば第５
図に示すように、チップ抵抗器１を挟んで互い近接離間
する方向に往復移動可能な一対の測定端子４ａ、４ｂの
間にチップ抵抗器１を搬送ベルト２により搬入し、上記
一対の測定端子４ａ。 ４ｂでこのチップ抵抗器を挟持するなどしてその抵抗値
の検査測定が行われる。なお、各測定端子４ａ、４ｂは
チップ抵抗器１の各チップごとに抵抗値を測定できるよ
うに、チップ抵抗器ｌのチップ数に対応する数だけ設け
られ、互いに絶縁されている。
しかしながら、上記のように多連に形成されたチ・ノブ
抵抗器１の電極１ａ、ｌｂや１般送ベルト２に付着した
湿気、はこり等が介在したり、ｌ股送べルト２の搬送面
が汚れていたりすると、その湿気、はこり、搬送ベルト
の汚れが例えば数メガオームの抵抗として両電極１ａ、
ｌｂを短絡して測定電流をリークさせ、また、隣接する
単位チップ部品間を短絡させてしまい、測定誤差を生き
たり、測定不能になったりするといった問題がある。 また、チップ抵抗器１を搬送ヘルド２に載置したまま抵
抗値の測定をできるようにチップ抵抗器測定装置３の各
測定端子４ａ、４ｂの下端を搬送ベルト２の直近に位置
させる必要があり、測定端子４’ａ、４ｂと搬送ベルト
２の接触が生じて、測定端子４ａ、４ｂや搬送ベルト２
が摩耗したり、摩耗により生じたほこり等によって搬送
ベルト２が汚れたりすることがある。 本発明は、上記の事情を考慮してなされたものであって
、湿気、はこり、測定すべき電子装置を搬送する搬送ベ
ルトの汚れ等による測定誤差が生じることがなく、また
、搬送ベルトと測定端子との接触が生じないようにした
、電子装置の測定方法を提供することを目的とする。
抵抗器１の電極１ａ、ｌｂや１般送ベルト２に付着した
湿気、はこり等が介在したり、ｌ股送べルト２の搬送面
が汚れていたりすると、その湿気、はこり、搬送ベルト
の汚れが例えば数メガオームの抵抗として両電極１ａ、
ｌｂを短絡して測定電流をリークさせ、また、隣接する
単位チップ部品間を短絡させてしまい、測定誤差を生き
たり、測定不能になったりするといった問題がある。 また、チップ抵抗器１を搬送ヘルド２に載置したまま抵
抗値の測定をできるようにチップ抵抗器測定装置３の各
測定端子４ａ、４ｂの下端を搬送ベルト２の直近に位置
させる必要があり、測定端子４’ａ、４ｂと搬送ベルト
２の接触が生じて、測定端子４ａ、４ｂや搬送ベルト２
が摩耗したり、摩耗により生じたほこり等によって搬送
ベルト２が汚れたりすることがある。 本発明は、上記の事情を考慮してなされたものであって
、湿気、はこり、測定すべき電子装置を搬送する搬送ベ
ルトの汚れ等による測定誤差が生じることがなく、また
、搬送ベルトと測定端子との接触が生じないようにした
、電子装置の測定方法を提供することを目的とする。
【問題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、この発明では、次の技術的
手段を講じている。 すなわち、電子装置を搬送する搬送ベルトから所定の高
さに配置された一対の測定端子の間の下方に電子装置を
搬送ベルトに載置して）絞入し、この電子装置を上記搬
送ベルトから持ち上げてから上記一対の測定端子で上記
電子装置を挟持してその電気的特性を測定するようにし
ている。
手段を講じている。 すなわち、電子装置を搬送する搬送ベルトから所定の高
さに配置された一対の測定端子の間の下方に電子装置を
搬送ベルトに載置して）絞入し、この電子装置を上記搬
送ベルトから持ち上げてから上記一対の測定端子で上記
電子装置を挟持してその電気的特性を測定するようにし
ている。
電子装置を上記搬送ベルトから持ち上げる具体的な方法
としては、測定誤差に影響を与えないように配慮する必
要があり、たとえば、真空チャック等の吸着ピンを使用
して、電子装置をＩＢ送ベルトから吸い上げる方法が考
えられる。 電子装置を上記搬送ベルトから持ち上げることにより、
搬送ベルトと電子装置との間に空気層が形成されるので
、搬送ベルトに付着した湿気、はこり、搬送ベルトの汚
れ等による電子装置の両電極の短絡はこの空気層によっ
て遮断されることになる。 また、測定電極が搬送ベルトから所定の高さに配置され
るので、測定端子と搬送ベルトの接触が防止され、測定
端子や搬送ベルトの摩耗が防止され、搬送ベルトの汚れ
が少なくなる。
としては、測定誤差に影響を与えないように配慮する必
要があり、たとえば、真空チャック等の吸着ピンを使用
して、電子装置をＩＢ送ベルトから吸い上げる方法が考
えられる。 電子装置を上記搬送ベルトから持ち上げることにより、
搬送ベルトと電子装置との間に空気層が形成されるので
、搬送ベルトに付着した湿気、はこり、搬送ベルトの汚
れ等による電子装置の両電極の短絡はこの空気層によっ
て遮断されることになる。 また、測定電極が搬送ベルトから所定の高さに配置され
るので、測定端子と搬送ベルトの接触が防止され、測定
端子や搬送ベルトの摩耗が防止され、搬送ベルトの汚れ
が少なくなる。
以下、本発明の一実施例を第１図ないし第２図に基づい
て詳細に説明する。なお、実施例は、多連チップ抵抗器
を測定する場合についての例である。 第１図は本例装置の要部を示す正面図であり、多連チッ
プ抵抗器１は搬送ベルト２を介して、たとえば、第１図
の紙面の背後から手前側に搬送されてチップ抵抗器測定
装置３の一対の測定端子４ａ、４ｂの間に搬入される。 第１図に示すようにチップ抵抗器１が再測定端子４ａ、
４ｂの間の所定の位置に位置すると、図示しないストッ
パにより、多連チップ抵抗器は、ベルトの長手方向の所
定の位置で停止させられる。 チップ抵抗器測定装置３の上記一対の測定端子４ａ、４
ｂの間には、搬送ベルト２上に載置されているチップ抵
抗器１の上方に所定の間隔を置いて真空チャックよりな
る吸着手段５が配置されている。 上述のようにチップ抵抗器１がチップ抵抗器測定装置３
の再測定端子４ａ、４ｂの間の所定の位置に位置させら
れると、次に第２図に示すように、吸着子ｌｆｆ５を作
用させることにより、チップ抵抗器１が搬送ベルト２か
ら所定の高さ、たとえば、チップ抵抗器１の底面と搬送
ベルト２の間隔が０゜５鰭になる高さに持ち上げられる
。 そして、チップ抵抗器１がｊｕｌ！送ベルト２から持ち
上げられてから、第３図に示すように、チップ抵抗器測
定装置３の電極駆動機構６を作動させ、再測定端子４ａ
、４ｂを互いに接近させて測定端子４ａ、４ｂでチップ
抵抗器ｌを挟持し、再測定端子４．ａ、４ｂを介してチ
ップ抵抗器１の両電極ｌａ、ｌｂ間に測定電流が流され
る。 このようにしてチップ抵抗器１の抵抗値を測定した後、
電極駆動機構６を逆方向に作動させて両測定端子４ａ、
４ｂを互いに離れる方向に移動させ、チップ抵抗器１か
ら離れた元の位置に戻す。 そして、吸着手段５の作動を解除してチップ抵抗器１を
搬送ベルト２に落下させると、チップ抵抗器１は上記再
測定端子４ａ、４ｂの間から送り出される。このチップ
抵抗器１の送り出しと同時に次のチップ抵抗器１がチッ
プ抵抗器測定装置３の再測定端子４ａ、４ｂの間に送り
込まれ、上記の手順と同様にして抵抗値が測定される。 また、この検査測定によって不良品と判定されたチップ
抵抗器１は、搬送ベルト２の後流側において所定の選別
手段によってはねのけられる。 なお、上記各測定端子４ａ、４ｂは、実際にはそれぞれ
チップ抵抗器Ｉのチップ数に対応する数だけチップ抵抗
器ｌの長手方向に並列して設けられ、かつ互いに絶縁さ
れている。 また、上記の手順では吸着手段５の作動は、チップ抵抗
器１の測定後の落下位置を安定させるために、チップ抵
抗器ｌの抵抗値の測定が終了し、再測定端子４ａ、４ｂ
が開かれてから解除されるように構成されているが、こ
の吸着手段５の作動の解除は再測定端子４ａ、４ｂによ
るチップ抵抗器１の挟持が完成された後であれば、たと
えば抵抗値の測定前であってもよい。 上記のように、吸着手段５によってチップ抵抗器１を上
記搬送ベルト２から持ち上げることにより、搬送ヘルド
２とチップ抵抗器１との間には所定の厚さを有する空気
層が形成され、搬送ベルト２に付着した湿気、はこり、
１般送ベルト２の汚れ等によるチップ抵抗器１の両電極
１ａ、ｌｂの短絡および隣接チップ間の短絡はこの空気
層によって遮断される。そして、このようにチップ抵抗
器ｌの両電極１ａ、ｌｂが空気絶縁された状態で、チッ
プ抵抗器測定装置３の再測定端子４ａ、４ｂを介してチ
ップ抵抗器Ｉに測定電流が流されるので、搬送ベルト２
に付着した湿気、はこり、１Ｍ送ベルト２の汚れ等によ
る測定誤差が発生したり、測定不能になったりする恐れ
が無くなるのである。 また、測定端子４ａ、４ｂが搬送ベルト２から所定の高
さに配置されるので、各測定端子４ａ。 ４ｂ、、ｌ！：ＩＭ送ベルト２の接触が防止され、各測
定端子４ａ、４ｂや搬送ベルト２の摩耗が防止され、搬
送ベルト２の汚れが少なくなる。 もちろん、この発明の範囲は、上述した実施例に限定さ
れることはない。たとえば、実施例は、単位チップ抵抗
が連続一体形成された多連チップ抵抗器を測定する場合
についてのものであるが、両側に電極を備え、かつ搬送
ベルト上に搬入されうるあらゆる電子装置の測定に本発
明を適用しうる。
て詳細に説明する。なお、実施例は、多連チップ抵抗器
を測定する場合についての例である。 第１図は本例装置の要部を示す正面図であり、多連チッ
プ抵抗器１は搬送ベルト２を介して、たとえば、第１図
の紙面の背後から手前側に搬送されてチップ抵抗器測定
装置３の一対の測定端子４ａ、４ｂの間に搬入される。 第１図に示すようにチップ抵抗器１が再測定端子４ａ、
４ｂの間の所定の位置に位置すると、図示しないストッ
パにより、多連チップ抵抗器は、ベルトの長手方向の所
定の位置で停止させられる。 チップ抵抗器測定装置３の上記一対の測定端子４ａ、４
ｂの間には、搬送ベルト２上に載置されているチップ抵
抗器１の上方に所定の間隔を置いて真空チャックよりな
る吸着手段５が配置されている。 上述のようにチップ抵抗器１がチップ抵抗器測定装置３
の再測定端子４ａ、４ｂの間の所定の位置に位置させら
れると、次に第２図に示すように、吸着子ｌｆｆ５を作
用させることにより、チップ抵抗器１が搬送ベルト２か
ら所定の高さ、たとえば、チップ抵抗器１の底面と搬送
ベルト２の間隔が０゜５鰭になる高さに持ち上げられる
。 そして、チップ抵抗器１がｊｕｌ！送ベルト２から持ち
上げられてから、第３図に示すように、チップ抵抗器測
定装置３の電極駆動機構６を作動させ、再測定端子４ａ
、４ｂを互いに接近させて測定端子４ａ、４ｂでチップ
抵抗器ｌを挟持し、再測定端子４．ａ、４ｂを介してチ
ップ抵抗器１の両電極ｌａ、ｌｂ間に測定電流が流され
る。 このようにしてチップ抵抗器１の抵抗値を測定した後、
電極駆動機構６を逆方向に作動させて両測定端子４ａ、
４ｂを互いに離れる方向に移動させ、チップ抵抗器１か
ら離れた元の位置に戻す。 そして、吸着手段５の作動を解除してチップ抵抗器１を
搬送ベルト２に落下させると、チップ抵抗器１は上記再
測定端子４ａ、４ｂの間から送り出される。このチップ
抵抗器１の送り出しと同時に次のチップ抵抗器１がチッ
プ抵抗器測定装置３の再測定端子４ａ、４ｂの間に送り
込まれ、上記の手順と同様にして抵抗値が測定される。 また、この検査測定によって不良品と判定されたチップ
抵抗器１は、搬送ベルト２の後流側において所定の選別
手段によってはねのけられる。 なお、上記各測定端子４ａ、４ｂは、実際にはそれぞれ
チップ抵抗器Ｉのチップ数に対応する数だけチップ抵抗
器ｌの長手方向に並列して設けられ、かつ互いに絶縁さ
れている。 また、上記の手順では吸着手段５の作動は、チップ抵抗
器１の測定後の落下位置を安定させるために、チップ抵
抗器ｌの抵抗値の測定が終了し、再測定端子４ａ、４ｂ
が開かれてから解除されるように構成されているが、こ
の吸着手段５の作動の解除は再測定端子４ａ、４ｂによ
るチップ抵抗器１の挟持が完成された後であれば、たと
えば抵抗値の測定前であってもよい。 上記のように、吸着手段５によってチップ抵抗器１を上
記搬送ベルト２から持ち上げることにより、搬送ヘルド
２とチップ抵抗器１との間には所定の厚さを有する空気
層が形成され、搬送ベルト２に付着した湿気、はこり、
１般送ベルト２の汚れ等によるチップ抵抗器１の両電極
１ａ、ｌｂの短絡および隣接チップ間の短絡はこの空気
層によって遮断される。そして、このようにチップ抵抗
器ｌの両電極１ａ、ｌｂが空気絶縁された状態で、チッ
プ抵抗器測定装置３の再測定端子４ａ、４ｂを介してチ
ップ抵抗器Ｉに測定電流が流されるので、搬送ベルト２
に付着した湿気、はこり、１Ｍ送ベルト２の汚れ等によ
る測定誤差が発生したり、測定不能になったりする恐れ
が無くなるのである。 また、測定端子４ａ、４ｂが搬送ベルト２から所定の高
さに配置されるので、各測定端子４ａ。 ４ｂ、、ｌ！：ＩＭ送ベルト２の接触が防止され、各測
定端子４ａ、４ｂや搬送ベルト２の摩耗が防止され、搬
送ベルト２の汚れが少なくなる。 もちろん、この発明の範囲は、上述した実施例に限定さ
れることはない。たとえば、実施例は、単位チップ抵抗
が連続一体形成された多連チップ抵抗器を測定する場合
についてのものであるが、両側に電極を備え、かつ搬送
ベルト上に搬入されうるあらゆる電子装置の測定に本発
明を適用しうる。
以上説明したように、本発明に係る電子装置の測定方法
によれば、測定時に電子装置が搬送ベルトから所定の高
さに持ち上げられ、電子装置の両電極が空気絶縁される
ので、湿気、はこり、搬送ベルトの汚れ等による電子装
置の両電極の短絡が解消される。したがって、湿気、は
こり、１Ｍ送ベルトの汚れ等による測定誤差の発生や測
定不能の発゛１゛、う（防１ヒされる。 また、測定端子が搬送ベルトから所定の高さに配置され
るので、測定端子と搬送ベルトの接触が防止され、測定
端子や搬送ベルトの摩耗が防止され、搬送ベルトの汚れ
が少なくなり、搬送ベルトを清掃する頻度を減少させる
ことができる。
によれば、測定時に電子装置が搬送ベルトから所定の高
さに持ち上げられ、電子装置の両電極が空気絶縁される
ので、湿気、はこり、搬送ベルトの汚れ等による電子装
置の両電極の短絡が解消される。したがって、湿気、は
こり、１Ｍ送ベルトの汚れ等による測定誤差の発生や測
定不能の発゛１゛、う（防１ヒされる。 また、測定端子が搬送ベルトから所定の高さに配置され
るので、測定端子と搬送ベルトの接触が防止され、測定
端子や搬送ベルトの摩耗が防止され、搬送ベルトの汚れ
が少なくなり、搬送ベルトを清掃する頻度を減少させる
ことができる。
第１図は電子装置としてのチップ抵抗器がその測定装置
の再測定端子間に搬入された状態を示す要部正面図、第
２図は上記チップ抵抗器が搬送ベルトから持ち上げられ
た状態を示す要部正面図、第３図は上記チップ抵抗器が
その測定装置の再測定端子間に挟持されている状態を示
す要部正面図、第４図は本発明方法で測定すべき電子装
置の一例としての多連チップ抵抗器の拡大斜視図、第５
図は従来の測定方法を説明図である。 １・・・電子装置（多連チップ抵抗器）、２・・・搬送
ベルト、４ａ、４ｂ・・・測定端子。
の再測定端子間に搬入された状態を示す要部正面図、第
２図は上記チップ抵抗器が搬送ベルトから持ち上げられ
た状態を示す要部正面図、第３図は上記チップ抵抗器が
その測定装置の再測定端子間に挟持されている状態を示
す要部正面図、第４図は本発明方法で測定すべき電子装
置の一例としての多連チップ抵抗器の拡大斜視図、第５
図は従来の測定方法を説明図である。 １・・・電子装置（多連チップ抵抗器）、２・・・搬送
ベルト、４ａ、４ｂ・・・測定端子。
Claims (1)
- （１）互いに近接離間する方向に往復移動可能であって
、両側に端子部を有する電子装置を搬送する搬送ベルト
から所定の高さに配置された一対の測定端子の間の下方
に上記電子装置を搬送ベルトに載置して搬入し、この電
子装置を上記搬送ベルトから持ち上げてから上記一対の
測定端子で上記電子装置を挟持してその特性を測定する
ことを特徴とする、電子装置の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61035898A JPH0812215B2 (ja) | 1986-02-19 | 1986-02-19 | 電子装置の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61035898A JPH0812215B2 (ja) | 1986-02-19 | 1986-02-19 | 電子装置の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62192671A true JPS62192671A (ja) | 1987-08-24 |
| JPH0812215B2 JPH0812215B2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=12454843
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61035898A Expired - Fee Related JPH0812215B2 (ja) | 1986-02-19 | 1986-02-19 | 電子装置の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0812215B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003337153A (ja) * | 2002-05-20 | 2003-11-28 | Murata Mfg Co Ltd | チップ部品の特性測定方法および特性測定装置 |
| JP2021000618A (ja) * | 2019-06-20 | 2021-01-07 | 済南申塗鎖具有限公司 | 電子部品品質の測定に用いられる自動抜取検査システム |
| CN113960457A (zh) * | 2021-12-23 | 2022-01-21 | 江苏森服电磁环境技术有限公司 | 一种滤波器生产用滤波性能检测装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5333068A (en) * | 1976-09-09 | 1978-03-28 | Toshiba Corp | Electron beam exposure apparatus |
| JPS5819493U (ja) * | 1981-07-29 | 1983-02-05 | 東芝熱器具株式会社 | 発熱装置 |
-
1986
- 1986-02-19 JP JP61035898A patent/JPH0812215B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5333068A (en) * | 1976-09-09 | 1978-03-28 | Toshiba Corp | Electron beam exposure apparatus |
| JPS5819493U (ja) * | 1981-07-29 | 1983-02-05 | 東芝熱器具株式会社 | 発熱装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003337153A (ja) * | 2002-05-20 | 2003-11-28 | Murata Mfg Co Ltd | チップ部品の特性測定方法および特性測定装置 |
| JP2021000618A (ja) * | 2019-06-20 | 2021-01-07 | 済南申塗鎖具有限公司 | 電子部品品質の測定に用いられる自動抜取検査システム |
| CN113960457A (zh) * | 2021-12-23 | 2022-01-21 | 江苏森服电磁环境技术有限公司 | 一种滤波器生产用滤波性能检测装置 |
| CN113960457B (zh) * | 2021-12-23 | 2022-03-18 | 江苏森服电磁环境技术有限公司 | 一种滤波器生产用滤波性能检测装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0812215B2 (ja) | 1996-02-07 |
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