JPH0646211B2 - チップ部品の特性測定用キャリア構造および特性測定用キャリアの成形型構造 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、チップ状電子部品の特性測定に際して該チッ
プ状部品を各測定ステーションへ移送するのに用いられ
るキャリア構造およびこの特性測定用キャリアを例えば
射出成形等で製造するための金型構造に関する。

本発明は、特に積層セラミックチップコンデンサ等のチ
ップ部品を各ステーションへ間欠送りして容量測定、イ
ンダクタンス測定およびその結果に応じて自動選別、排
出を行う自動高速Ｃ測耐圧機に用いて有用な、チップ部
品の保持を兼ねたキャリアの構造に関する。

（従来技術） 従来、この種のチップコンデンサの容量測定において
は、チップコンデンサを回転円板の外周部に保持し該円
板を間欠回転させて順次測定ステーションへ移送してい
く方式、あるいは矩形板（搬送コマ）の上面に形成した
複数の溝にチップコンデンサを保持し、前記搬送コマを
直線方向に間欠送りしていく方式等が知られている。第
５図(a)，(b)は間欠回転円板方式の例であり、一体構造
の非導電性プラスチック円板２５の外周面に等間隔に複
数の凹溝２５ａが形成され、第５図(a)の例では該凹溝
２５ａにチップコンデンサ１の両端の電極が円板２５の
放射方向に並ぶように収容され、前記チップコンデンサ
１を該円板の半径方向外方から拘束するために円板周面
に極少の隙間を有して円弧形拘束壁部３２が形成されて
いる。また第５図(b)の例では凹溝２５ａが円板周部に
該円板の軸線方向に貫通する如く形成され、チップコン
デンサ１がこれらの凹溝に軸線方向に向いて保持されて
いる。チップコンデンサ１は、これらの図に示すよう
に、供給溝通路３１に連続供給されつつ該通路３１の出
口から１個づつ円板２５の半径方向から（第５図(a)）
凹溝２５ａへ押し込んでいくか、あるいは第５図(b)の
如く供給溝通路３１を該円板の軸線と平行に配置し、円
板２５の板面に対して垂直方向（円板軸線方向）から凹
溝２５ａに挿入していく。

第６図(a)，(b)，(c)は循環搬送コマ方式の例であり、
固定溝２９の中を複数の搬送コマ２６，２７が循環移動
するようになっており、この各搬送コマの頂部に固定溝
２９の方向に対して直角に等間隔の複数の収容溝２８が
形成され、また固定溝２９の側方にパーツフィーダ３０
が配置され、前記搬送コマが固定溝２９のパーツフィー
ダ位置を通過する途中で搬送コマのチップ収容溝２８に
チップコンデンサ１が充填される。チップコンデンサ１
は溝２８内で固定溝２９の左右壁によって両端電極部が
拘束されつつ搬送コマ２６，２７とともに間欠移送され
かつ第６図(c)の如く循環される。

このほか従来例としては回転円板の周部に放射線状に真
空吸着ヘッドを設けたもの、あるいは第７図のような平
板状のパレット３３にマトリクス状に配列した溝穴３６
を穿け、この各溝穴にチップコンデンサ１を人手で挿し
込んで並べ、測定用電極をパレット表裏面側からコンデ
ンサ１の各端部に当てて容量測定するようにしたものも
ある。

（発明が解決しようとする課題） 上述した従来のチップ状部品の搬送構造は、いずれもチ
ップ状部品の保持部材が間欠動作部分（回転、直動）と
一体構造であって、チップ部品を間にはさんで固定側の
壁部と対接し、しかも非導電性のプラスチックで形成さ
れるために部品の供給、排出時や移動動作時に部品およ
び保持部材の角部、稜部の破損が生じ易く、そのたびに
全体を交換する必要があり、作業効率が悪くコスト高と
なる。またチップ部品の保持位置の精度が上げられず、
位置ずれによる測定の繰り返し精度が悪い。固定壁側も
非導電性プラスチックで形成する必要があり、回転円板
と固定壁の隙間の調整不良により、この間にごみ等が混
入すると、円板および固定ガイド壁がすぐ破損する。第
５図(b)に示す垂直円板方式では一対の測定用電極端子
３４，３５を円板２５の軸線方向からチップコンデンサ
１に接触させ得るものの、第５図(a)に示す水平回転円
板方式の場合は測定用電極や測定用端子を上方からしか
接触させられないので対向接触方式が採用できず、部品
の向きによって測定誤差が生じる。

また第６図(a)，(b)，(c)の循環直線移動方式の場合
は、搬送機構が複雑となり、スペースもとり、さらにチ
ップ部品を左右の壁のみでガイドすると、対向接触測定
方式はとり得るものの、測定時に端子の押圧接触により
チップ部品が上方へ飛び出す可能性があり、上部に蓋を
すると、点検、保守性が悪く、また静電気を発生して測
定精度が害される。第７図のパレット上にチップ部品を
並べる方式は、一度にパレット３３の多数個の穴３６に
チップ部品１を入れることができるので、効率は上るも
のの、測定用の電極端子が多数必要で測定のバラツキが
出やすく、チップ部品の姿勢が円筒の穴３６の中で自由
であるため測定精度が非常に悪い。パレットを全自動搬
送構造とするには大がかりな装置が必要で測定項目にも
制限があるといった問題があった。

本発明は、上述した従来の問題を解決し、対向接触測定
方式が採用可能で、測定精度の向上、各部の破損防止、
稼動効率および保守性の向上を図り得るチップ部品の特
性測定用キャリア構造およびその成形型構造を提供する
ことにある。

（課題を解決するための手段） 本発明による特性測定用キャリア構造は、全体としてコ
字状を成しかつ搬送移動部材の側部をそのコ字状部では
さむように面接触で嵌合するキャリア本体部と、前記本
体部の上面に形成されかつ左右および前部の３箇所の壁
で画成される凹部を備えたチップ部品収容頭体部とを有
し、前記チップ部品収容頭体部はその前壁に測定用端子
挿入逃げ溝が形成され、前記凹部底面から前記キャリア
本体部のコ字状の腹部へ貫通する真空吸着穴が形成さ
れ、前記キャリア本体部を前記搬送移動部材に嵌合させ
たときその接触面で前記真空吸着穴が該搬送移動部材の
真空伝達穴と接続されるようにしたものである。

また本発明による特性測定用キャリアの成形型構造は前
記キャリア本体部を成形する定置形の本体型と、前記チ
ップ部品収容頭体部を成形する交換可能な分離形の頭部
型とを有し、前記頭部型を前記本体型に接合したとき両
型のキャビティが連通し、チップ部品の品種に応じて前
記頭部型のみを定置形本体型に対して交換可能としたも
のである。

（実施例） 次に、本発明を実施例について図面を参照して説明す
る。

第１図(a)，(b)，(c)はそれぞれ本発明の実施例に係る
チップコンデンサの容量測定用キャリアの正面図、上面
図および側面図であり、また第２図は間欠回転動作をす
るインデックステーブルの外周部に固着した状態におけ
る本発明の実施例の部分的な斜視図である。このキャリ
ア２はインデックステーブル１０と嵌合する本体部２ａ
とこの本体部の上部に一体に形成された頭体部２ｂとで
構成されている。

まず本体部２ａは、その片側面（前面）がコ字状となっ
ており、このコ字状部の腹部３から反対側の背部へ貫通
する取付穴５が形成されている。次に頭体部２ｂは、測
定すべきチップコンデンサ１のサイズに合せて、その上
面に左右一対の側壁６，７と前壁８で画成された部品収
容凹部９が形成されている。また前記本体部２ａの腹部
３から該本体部および頭体部２ｂの肉厚内を通って該頭
体部の凹部底面へ抜ける真空吸着用穴４が形成されてい
る。頭体部２ｂの凹部９の外側部は図示のように開放さ
れ、また頭体部前壁８の中央には該凹部に通じる巾狭の
端子接触用逃げ溝１１が凹部底面の中央近くまで形成さ
れている。ただし逃げ溝１１の先端は凹部底面の前記真
空吸着用穴とはわずか離隔している。

インデックステーブル１０はその外周部に周方向に沿っ
て所定間隔で同形の切欠部が形成されており、この切欠
部にキャリア２の本体部２ａが嵌合される。この場合、
インデックステーブル１０の上下面は、キャリア本体部
２ａのコ字状部の上下腕部１２，１３にはさみ込まれて
これらと面接触で嵌合し、また前記切欠部の奥底面１０
ａは平坦部に形成されてキャリア本体部２ａのコ字状部
の腹部３の面と面接触するようになっている。この状態
でキャリア２は、本体部２ａの取付穴５からインデック
ステーブルの切欠部奥底面のねじ穴を利用して取付ねじ
１４によってインデックステーブル１０に固定される。
インデックステーブル１０には、第１図（Ｃ）に示すよ
うに、キャリア本体部２ａの真空吸着用穴４と連通する
真空伝達用穴１５が形成されている。

このようにしてインデックステーブル１０の各切欠部に
キャリア２が取り付けられた後、インデックステーブル
１０の間欠回転に伴ない所定の部品供給ステーションの
位置で図示しない供給装置からチップコンデンサ１が１
個づつキャリア頭体部２ｂの凹部９内に挿入される。前
述の如く凹部９は投入されるチップコンデンサ１の寸法
に対応しており、コンデンサ１の両端の電極部分が凹部
内の左右側壁６，７に接するか又は極少の隙間で対峙
し、また片方の電極の端部が凹部の前壁８に当接し、さ
らに図示しない真空発生装置からインデックステーブル
１０内の真空伝達用穴１５およびキャリア内の真空吸着
用穴４を介してその真空吸着力によりチップコンデンサ
１が凹部底面に吸着保持される。インデックステーブル
１０の間欠回転でキャリア２が容量測定ステーションに
きたとき、第３図に示すような一対の対向した開閉動作
する測定用薄板電極端子１６，１７のテーブル中心側に
ある一方の端子１７がキャリア頭体部２ｂの凹部前壁８
の端子挿入逃げ溝１１に差し込まれてコンデンサ１の一
方の電極１ａに当接し、他方の測定用電極端子１６は凹
部９の外周側開放部からコンデンサ１の他方の電極１ｂ
端面に接し、このようにしてチップコンデンサ１が一対
の測定用薄板電極端子１６，１７にはさみつけられて容
量測定がなされる。インデックステーブル１０の周囲近
傍には容量測定用電極以外に各ステーションに応じてそ
れぞれの検出ヘッド、選別装置、排出装置等が設けら
れ、凹部９内のチップコンデンサに対して各ステーショ
ンに対応した処理がなされる。第２図には１例としてチ
ップコンデンサの有無を検出する反射形光電センサ１
８、容量測定用電極装置１９が示されている。測定する
チップコンデンサのサイズが変った場合は、これに対応
するキャリア頭体部の凹部形状をもつキャリアと交換す
る。このように本発明ではインデックステーブルの回転
中にチックコンデンサの収容部と該収容部内のチップコ
ンデンサを拘束する部分、つまりガイド部分との接触、
摺動箇所が一切なく、破損や異物の混入が起らない。部
分的な破損があってもそのキャリアのみを交換すればよ
く、インデックステーブルを含めた装置全体は何ら交換
の必要がない。ここで本発明においてはインデックステ
ーブル１０に嵌合するキャリア本体部２ａの形状、構造
は交換するすべてのキャリアについて同じ形状にしてあ
る。したがってインデックステーブルそのものは全く変
更する必要がなく、頭体部のサイズの異なるキャリアを
選んで付け代えるだけでよい。また本体部の形状、構造
を同じにすることにより、キャリアの本体部の精度がそ
れだけ均一化され、インデックステーブルに対する取付
精度が向上する。

キャリア２はその全体が絶縁抵抗の高い材料例えばポリ
カーボネート、ポリアセタール樹脂等で後述する如く射
出成形で形成される。これによってチップコンデンサの
絶縁抵抗測定は８×１０¹⁰Ωレベルまで測定可能であ
る。またキャリア２の色は反射率の低いできるだけ濃い
色（例えばつやのない黒色）にすることにより、キャリ
アに妨害されずに凹部９内のチップコンデンサを反射形
の光電センサ１８で安定に検出できるようになってい
る。

次に本発明に係る特性測定用キャリアの成形金型につい
て説明する。第４図は本発明に係る金型２１の縦断面図
である。金型２１は前述したキャリア２の本体部２ａを
成形する本体型２２と、この本体型２２の片端部に連接
される頭部型２３とに分割されており、それぞれの型２
２，２３のキャビティ２２ａ，２３ａが連通し全体とし
て前記キャリアの外形形状が一体成形される。本体型２
２は定置形のものであって部品収容凹部のサイズの異な
るキャリアに対して共通しているが、頭部型２３は種々
サイズのキャリアごとに、いいかえればチップ部品の種
類に合せて複数個用意され、各々本体型２２に対して取
り付け、取り外しができるようになっている。したがっ
て１つの本体型２２に対して種々のキャリア頭体部２ｂ
に対応したキャビティ形状の頭部型２３を交換して成形
することにより、インデックステーブルへの取付精度の
高いキャリアが複数種類容易に得られる。なお本体型２
２と頭部型２３の連接位置２０で成形後のキャリアに細
い区画ラインが生じるが、この部分はインデックステー
ブルの上方に突出している部分でキャリア本体部とイン
デックステーブルとの面接触による嵌合精度には影響が
ない。

（発明の効果） 本発明による特性測定用キャリアおよびこれを用いたチ
ップ部品の間欠送り構造の利点の主なものを列挙すれ
ば、以下のとおりである。

(イ).キャリア内に保持されたチップ部品に対して特性
測定用電極端子が部品の両端から対向接触することがで
き、これによって測定精度の向上が図れる。

(ロ).チップ部品は移送中にガイド用の拘束壁のような
ものと摺動接触することがないので、チップ部品や部品
収容部の破損がなく、また塵芥等の混入もないので稼動
率が向上する。従来のチップ部品収容部が間欠移動部分
と一体になったものでは１箇所でも破損すれば全体を交
換しなければならないが、本発明ではその部位のキャリ
アのみの交換ですみ、ランニングコストの点できわめて
有利である。

(ハ).真空吸着用穴と３方向の位置決め用壁をもった凹
部内にチップ部品を保持し、測定用端子を細い溝を通し
て凹部内のチップ部品と接触するようにしたので、測定
用端子に対するチップ部品の位置決め精度即ち測定のく
り返し位置精度が高くできる。またキャリア本体部のコ
字状の３面でインデックステーブルと面接触嵌合するの
でキャリアの取り付けが安定かつ正確にでき、インデッ
クステーブルからキャリアへの真空伝達も前記面接触内
で行われるので、有効な真空吸着が可能となる。

(ニ).射出成形によりキャリアを製作するようにしたの
で各キャリア間の精度を等しくして互換性を持たせ、ま
たその金型も頭部型と本体型に分けた分離形としたので
各種サイズのチップ部品に対し頭部型のみの交換で種々
のキャリアを容易に準備することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図(a)，(b)，(c)はそれぞれ本発明の実施例に係る
キャリアの正面図、上面図および側面図、第２図はキャ
リアを固着したインデックステーブルの部分的な斜視
図、第３図はキャリアに保持されたチップ部品と測定用
電極端子との接触状態を示す斜視図、第４図は本発明の
実施例に係るキャリア成形型構造の縦断面図、第５図
(a)は従来の水平回転円板方式によるチップ部品保持・
搬送構造の部分的な平面図、第５図(b)は従来の垂直回
転円板方式による搬送構造の部分的な斜視図、第６図
(a)，(b)，(c)は従来の直線移送方式によるチップ部品
搬送構造の概略図、第７図は平板状パレット方式による
部品保持構造の正面図である。 １……チップコンデンサ、２……キャリア、 ２ａ……キャリア本体部、２ｂ……キャリア頭体部、 ４……真空吸着穴、６，７……側壁、８……前壁、 ９……凹部、１０……インデックステーブル、 １１……端子挿入逃げ溝、２２……本体型、 ２３……頭部型。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】全体としてコ字状を成しかつ搬送移動部材
   の側部をそのコ字状部ではさむように面接触で嵌合する
   キャリア本体部と、前記本体部の上面に形成されかつ左
   右および前部の３箇所の壁で画成される凹部を備えたチ
   ップ部品収容頭体部とを有し、前記チップ部品収容頭体
   部はその前壁に測定用端子挿入逃げ溝が形成され、前記
   凹部底面から前記キャリア本体部のコ字状の腹部へ貫通
   する真空吸着穴が形成され、前記キャリア本体部を前記
   搬送移動部材に嵌合させたときその接触面で前記真空吸
   着穴が該搬送移動部材の真空伝達穴と接続されることを
   特徴とするチップ部品の特性測定用キャリア構造。
2. 【請求項２】前記キャリア本体部は前記搬送移動部材に
   対して脱着可能に取り付けられかつサイズの異なるチッ
   プ部品に対して同形状とし、前記頭体部のみが各チップ
   部品に対応した構造となっていることを特徴とする請求
   項第１項記載のチップ部品の特性測定用キャリア構造。
3. 【請求項３】前記キャリア本体部を成形する定置形の本
   体型と、前記チップ部品収容頭体部を成形する交換可能
   な分離形の頭部型とを有し、前記頭部型を前記本体型に
   接合したとき両型のキャビティが連通し、チップ部品の
   品種に応じて前記頭部型のみが定置形本体型に対して変
   換されることを特徴とする特性測定用キャリアの成形型
   構造。