JPH02195272A - チップ部品の特性測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は両端面に電極を有するチップ部品の電気的特性
を自動的に測定するための装置に関するものである。

〔従来の技術〕

小型高密度化、高信幀性、自動マウントへの適合性など
のメリットにより、チップコンデンサ。

チップ抵抗などのチップ部品が広く使用されている。こ
の種のチップ部品の場合、基板へ実装する前にその電気
的特性を測定し、品質検査を行う必要がある。そのため
、従来では第７図のような特性測定装置が使用されてい
る。

即ち、ターンテーブル５０にはチップ部品５１を保持す
るための段付の保持孔５２が一定ピッチで多数個設けら
れており、ターンテーブル５０の両側には固定側端子５
３と可動側端子５４とが近接配置されている。上記固定
側端子５３および可動側端子５４は、ターンテーブル５
０の保持孔５２と同一ピッチで複数個ずつ配列されてい
る。可動側端子５４はターンテーブル５０の接近離間方
向へ移動可能なスライダ５５に摺動自在に支持されたビ
ン端子よりなり、スプリング５６によってターンテーブ
ル５０方向へ突出付勢されている。そして、可動側端子
５４の一端部にはターンテーブル５０の保持孔５２の小
径部５２ａに挿入し得るような小径な軸部５４ａが形成
されている。

なお、可動側端子５４の他端部は配線５７を介して図示
しない測定機器と接続され、固定側端子５３もこの測定
機器と接続されている。

チップ部品５１の特性を測定する場合には、スライダ５
５を第７図左方へ前進させ、可動側端子５４の軸部５４
ａを保持孔５２に挿入してチップ部品５１の一端面に圧
接させる。チップ部品５１は可動側端子５４により押さ
れ、その他端面が固定側端子５３に接触するため、チッ
プ部品５１は測定機器と電気的に接続されることになり
、特性を測定できる。測定を終了した後はスライダ５５
を第７図右方へ後退させ、可動側端子５４をチップ部品
５１から離すとともに、ターンテーブル５０を矢印方向
へ１ピツチだけ回転させ、上記と同様の操作で次の測定
を行う。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記の特性測定装置の場合には、可動側端子５４がピン
端子であるため、スプリング５６などの構成部品を取り
付けなければならず、部品数が多くなり、これら構成部
品の大きさのために端子間ピッチＰが大きくなってしま
う欠点がある。特に、多数のチップ部品５１の特性を一
度に測定するために多数の可動側端子５４を円弧状に配
列した場合には、−度に測定できるチップ部品５１の個
数が制約を受けることになり、測定処理能力が劣るとい
う問題がある。また、可動側端子５４がチップ部品５１
から離れた時にチップ部品５１が保持孔５２から落下し
ないようにするため、保持孔５２を段付形状に形成しな
ければならず、可動側端子５４には保持孔５２の小径部
５２ａに挿入される軸部５４ａを形成しなければならな
い、特に、チップ部品５１の小型化に伴い保持孔５２お
よび小径部５２ａが小さくなり、軸部５４ａの成形が難
しくなる。また、軸部５４ａがチップ部品５１の端面に
小さな面積で圧接するため、チップ部品５１を損傷する
おそれがあり、さらには可動側端子５４は保持孔５２の
小径部５２ａを通過するだけのストロークが余分に必要
となるため、測定処理速度が遅くなるという問題がある
。

そこで、本発明は上記問題点を解消したチップ部品の特
性測定装置を提供することにある。

（ｉｌｌ！を解決するための手段） 本発明にかかる特性測定装置は、チップ部品をその両端
部が突出する如く貫通保持する複数の保持孔を一定ピッ
チで配列形成し、該配列方向に移動可能な可動テーブル
と１．可動テーブルの保持孔に対応して平面状に配列さ
れ、チップ部品の一端面に接触可能な複数の固定側端子
と、可動テーブルを間にして固定側端子と対向配置され
、チップ部品の他端面に弾性的に接触可能な複数の可動
側端子とを備え、各可動側端子は板厚方向に弾性変形可
能な板ばねで構成されていることを特徴とするものであ
る。

〔実施例〕

第１図〜第３図は本発明にかかる特性測定装置の第１実
施例を示す。

支持台１には一定回転角度ごとに間欠動作可能なモータ
２が固定されており、その回転軸３の先端には絶縁物か
らなる円板状のターンテーブル４が固定されている。タ
ーンテーブル４の外周部近傍には複数の保持孔５が一定
ピッチで円弧状に配列形成されており、この保持孔５は
ターンテーブル４の表裏面に貫通する貫通孔で構成され
ている。

上記保持孔５にはそれぞれチップ部品６が貫通保持され
ており、チップ部品６の端面を含む両端部に形成された
電極６ａ、６ｂが保持孔５から突出している。

ターンテーブル４の片側には固定側のプリント基板７が
配置されており、この固定側プリント基板７はスペーサ
８を介して固定台９に固定されている。固定側プリント
基板７は、第１図に示すようにガラスエポキシ系樹脂等
の絶縁基板１ｏの表面に保持孔５に対応する複数の固定
側端子１１を円弧状に配列形成するとともに、各端子１
１からスルーホール１２までの間をパターン配線１３で
接続しである。

ターンテーブル４の他側には可動側のプリント基板１４
が配置されており、このプリント基板１４は支持台ｌに
固定されたスペーサ１５にボルト１６によって周縁部が
固定されている。可動側プリント基板１４は、固定側プ
リント基板７と同様に、ガラスエポキシ系樹脂等の絶縁
基板１７の表面に保持孔５に対応する複数の端子部１８
ａを円弧状に配列形成するとともに、各端子部１８ａか
らスルーホール２０までの間をパターン配線２１で接続
しである。各端子部１８ａの間には内周部から放射方向
にスリット１９が形成されており、これにより端子部１
８ａを含む仮ばね状の可動側端子１８がプリント基板１
４と一体に形成される。上記端子部１８ａは可動側端子
１８のばね力によりターンテーブル４の保持孔５に保持
されたチップ部品６の一端電極６ｂに圧接可能であり、
この接触圧によりチップ部品６の他端電極６ａは固定側
端子１１に押し付けられる。

なお、可動側端子１８のばね力が不足している場合には
、スペーサ１５に補強用のばね片２２を固定し、ばね片
２２の先端部の突起２２ａで可動側端子１８の背後を支
持するようにしてもよい。

上記固定側プリント基板７および可動側プリント基板１
４に設けられた複数個のスルーホール１２．２０にはコ
ネクタ２３が接続可能であり、コネクタ２３は図示しな
い複数種類の測定機器の入出力部と接続されている。つ
まり、対向する固定側端子１１と可動側端子１８の各対
がそれぞれ測定機器と接続されており、ターンテーブル
４を１ピツチずつ回転させることにより、１個のチップ
部品６に対して多種類の特性を測定可能である。各端子
の機能としては、例えばＣ測定用端子、電圧印加用端子
、ＩＲ測定用端子等がある。

上記可動側端子１８の内周端部には正面視Ｃ字形のフッ
ク２４が係合しており、このフック２４はフック取付板
２５を介して２本のスライド軸２６と連結されている。

上記スライド軸２６は支持台１に取り付けたスライド軸
受２７によって前後に摺動自在に案内されており、両ス
ライド軸２６の後端部は第３図のようにステー２８によ
って連結されている。ステー２８の両端部に固定したボ
ルト２９と上記スライド軸受２７に固定したボルト３０
との間には引張スプリング３１が張設されている。ステ
ー２８の中央部にはカムフォロワ３２が回転自在に取り
付けられ、このカムフォロワ３２は上記引張スプリング
３１のばね力によりカム３３に接触している。

上記カム３３が回転してステー２８が引張スプリング３
１に抗して後退すると、フック２４もステー２８と一体
に後退する。これにより、可動側端子１８は撓められて
チップ部品６の端面から離れるため、この状態でターン
テーブル４を容易に回転させることができる。この時、
各可動側端子１８の間にはスリット１９分だけの隙間し
かないので、チップ部品６が可動側端子１８間に噛み込
むことがなく、かつフック２４の移動ストロークは僅か
であるから、チップ部品６が保持孔５から落下すること
もない。

カム３３が回転してステー２８が前進すると、引張スプ
リング３１によりフック２４は第２図左方向へ前進し、
このストローク途中で可動側端子１８がチップ部品６に
接触する。このようにチップ部品６と可動側端子１８お
よび固定側端子１１との接触位置を順次変化させること
により、多種類の特性測定を行うことができる。

ターンテーブル４の最下部の保持孔５ａには第１図のよ
うにチップ部品供給フィーダ３４から１個ずつチップ部
品６が供給されるようになっており、上記保持孔５ａの
回転方向前方側の複数（例えば６個）の保持孔５ｂには
、選別して排出を行う選別機構３５が配置されている。

この選別機構３５は、第２図のようにターンテーブル４
の保持孔５に沿って近接配置された円弧状取付枠３６と
、この取付枠３６に貫通固定された複数本の排出管３７
と、各排出管３７に接続されたチューブ３８とを備え、
各チューブ３日の先端は別個の収容箱３９にそれぞれ挿
入されている。一方、上記排出管３７と対向するターン
テーブル４の他側には複数本のノズル４０が近接してお
り、各ノズル４０より空気を吸引または噴出することに
より、チップ部品６をそれぞれの特性に応じて選別して
別個の収納箱３９に排出できるようになっている０例え
ば、ターンテーブル４の所定の保持孔５に保持されたチ
ップ部品６を収納箱３９に排出したい場合には、対応す
る位置のノズル４０がら空気を噴出し、チップ部品６を
排出管３７からチェ−ブ３８を通って収納箱３９に・排
出すればよい、また、保持孔５のチップ部品６を収納箱
３９に排出する必要がない場合には、保持孔５に対応す
るノズル４０より空気を吸引し、チップ部品６が誤った
収納箱３９へ排出されないようにすればよい。

上記のように本実施例によれば、１枚のプリント基板１
４にスリット１９を設けることにより複数本の可動側端
子１８を一体に形成できるので、構成部品を大幅に削減
でき、多数の可動側端子１８を高密度に配置できる。そ
のため、従来のピン端子方式に比べて測定処理能力が格
段に向上する。また、可動側端子１８から外部の測定機
器への接続配線をパターン配線２１で構成できるので、
多数の配線２１を効率よく配置でき、しかも可動側端子
１８が変位しても配線２１やコネクタ２３等は動かない
ので、浮遊容量やインピーダンスの変化が少なく、安定
した測定が行なえる利点がある。

第４図は本発明の第２実施例を示し、チップ部品６と可
動側端子１８とを接離させるために、プリント基板１４
全体を移動させるものである。この場合には、フック取
付板２５にフック２４だけでな（可動側端子１８を形成
したプリント基板１４も固定し、フック２４で可動側端
子１８の内周端部を若干撓めた状態に保持しである。こ
の場合も、プリント基板１４の弾性不足を補うために、
必要により可動側端子１８の背後に板ばね２２を配置し
てもよい、なお、この実施例の場合は、フック２４は必
須のものではない。

第２実施例の場合には、第１実施例に比べて可動側端子
１８の撓み量を少なくできるので、可動側端子１８の耐
久性を向上させることができる利点がある。

第５図、第６図は本発明の第３実施例を示し、可動側端
子４１を表面に導電メツキを施した短冊状の金属製板ば
ねで構成し、これをプリント基板４３に固定したもので
ある。即ち、可動側端子４１は複数本（図面では４本）
ずつ端子台４２に樹脂モールドされており、プリント基
板４３には導電性のコンタクトピン４４が固定され、コ
ンタクトピン４４からスルーホール４５までの間がパタ
ーン配線４６で接続されている。上記端子台４２をネジ
４７によってプリント基板４３に固定すると、可動側端
子４１の外周部がコンタクトピン４４に圧接し、可動側
端子４１とコンタクトピン４４とが電気的に接続される
。上記スルーホール４５には第１実施例と同様にコネク
タが接続可能である。なお、可動側端子４１の動作は、
その内周端部をフック２４で撓めるか、あるいは第４図
のように可動側端子４１を含むプリント基板４３全体を
ターンテーブル４に対して接近離間方向へ移動させても
よい。

この実施例の場合には、可動側端子４１が金属製板ばね
であるため、第１．第２実施例に比べて耐久性が格段に
優れており、可動側端子４１のみの交換も容易である。

また、可動側端子４１のチップ部品６との接触面のメツ
キが摩耗した場合には、可動側端子４１を裏返しに取り
付ければ、再度使用できるという利点もある。この場合
、板ばねは必ずしも金属製のものに限らず、少なくとも
板ばねの表面が導電性を有するものであれば、他の材料
を用いてもよい。

なお、本発明における可動テーブルとしては、上記実施
例のように回転型のターンテーブルの他、直線移動型の
テーブルを使用してもよい。この場合には、固定側端子
および可動側端子を直線状に配列する必要がある。

〔発明の効果〕

以上の説明で明らかなように、本発明によれば可動側端
子を板ばねで構成したので、板ばね自身のばね力により
チップ部品の端面に圧接させることができる。したがっ
て、従来のように別個にスプリングを設ける必要がなく
、構成部品が少なく小型化でき、可動側端子の配列ピッ
チを短縮できる。これにより、多数個のチップ部品を一
度に測定でき、測定処理能力が格段に向上する。

また、チップ部品の端面に可動側端子を面接触させるこ
とができるので、チップ部品と可動側端子との接触時に
チップ部品に与える衝撃が小さく、チップ部品の損傷が
少なくなる。

さらに、可動側端子を互いに近接配置しておけば、チッ
プ部品が保持孔から脱落することがないので、可動テー
ブルの保持孔は段付形状ではなく単なる貫通孔でよい、
つまり、可動テーブルの保持孔にチップ部品をその両端
面が露出した状態に保持しておけばよく、可動側端子の
移動ストロークを従来に比べて小さくできる。したがっ
て、測定処理速度が飛躍的に向上する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明にかかる特性測定装置の第１実施例の要
部斜視図、第２図はその一部断面側面図、第３図は第２
図のｍ−■線断面図、第４図は第２実施例の要部側面図
、第５図は第３実施例の要部側面図、第６図はその可動
側端子の斜視図、第７図は従来例の断面図である。 ４・・・ターンテーブル（可動テーブル）、５・・・保
持孔、６・・・チップ部品、７・・・固定側プリント基
板、１１・・・固定側端子、１４・・・可動側プリント
基板、１８，４１・・・可動側端子、２４・・・フシク
、４２・・・端子台、４３・・・プリント基板、４４・
・・コンタクトビン。 特許出願人　　株式会社　村田製作所 代　理　人　　弁理士　筒井　秀隆 第３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 両端面に電極を有するチップ部品の電気的特性を測定す
   るための装置において、 チップ部品をその両端部が突出する如く貫通保持する複
   数の保持孔を一定ピッチで配列形成し、該配列方向に移
   動可能な可動テーブルと、 可動テーブルの保持孔に対応して平面状に配列され、チ
   ップ部品の一端面に接触可能な複数の固定側端子と、 可動テーブルを間にして固定側端子と対向配置され、チ
   ップ部品の他端面に弾性的に接触可能な複数の可動側端
   子とを備え、 各可動側端子は板厚方向に弾性変形可能な板ばねで構成
   されていることを特徴とするチップ部品の特性測定装置
   。