JPH0734025B2 - チップ部品の特性測定装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は両端面に電極を有するチップ部品の電気的特性
を自動的に測定するための装置に関するものである。

〔従来の技術〕

小型高密度化，高信頼性，自動マウントへの適合性など
のメリットにより、チップコンデンサ，チップ抵抗など
のチップ部品が広く使用されている。この種のチップ部
品の場合、基板へ実装する前にその電気的特性を測定
し、品質検査を行う必要がある。そのため、従来では第
７図のような特性測定装置が使用されている。

即ち、ターンテーブル50にはチップ部品51を保持するた
めの段付の保持孔52が一定ピッチで多数個設けられてお
り、ターンテーブル50の両側には固定側端子53と可動側
端子54とが近接配置されている。上記固定側端子53およ
び可動側端子54は、ターンテーブル50の保持孔52と同一
ピッチで複数個ずつ配列されている。可動側端子54はタ
ーンテーブル50の接近離間方向へ移動可能なスライダ55
に摺動自在に支持されたピン端子よりなり、スプリング
56によってターンテーブル50方向へ突出付勢されてい
る。そして、可動側端子54の一端部にはターンテーブル
50の保持孔52の小径部52aに挿入し得るような小径な軸
部54aが形成されている。なお、可動側端子54の他端部
は配線57を介して図示しない測定機器と接続され、固定
側端子53もこの測定機器と接続されている。

チップ部品51の特性を測定する場合には、スライダ55を
第７図左方へ前進させ、可動側端子54の軸部54aを保持
孔52に挿入してチップ部品51の一端面に圧接させる。チ
ップ部品51は可動側端子54により押され、その他端面が
固定側端子53に接触するため、チップ部品51は測定機器
と電気的に接続されることになり、特性を測定できる。
測定を終了した後はスライダ55を第７図右方へ後退さ
せ、可動側端子54をチップ部品51から離すとともに、タ
ーンテーブル50を矢印方向へ１ピッチだけ回転させ、上
記と同様の操作で次の測定を行う。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記の特性測定装置の場合には、可動側端子54がピン端
子であるため、スプリング56などの構成部品を取り付け
なければならず、部品数が多くなり、これら構成部品の
大きさのために端子間ピッチＰが大きくなってしまう欠
点がある。特に、多数のチップ部品51の特性を一度に測
定するために多数の可動側端子54を円弧状に配列した場
合には、一度に測定できるチップ部品51の個数が制約を
受けることになり、測定処理能力が劣るという問題があ
る。また、可動側端子54がチップ部品51から離れた時に
チップ部品51が保持孔52から落下しないようにするた
め、保持孔52を段付形状に形成しなければならず、可動
側端子54には保持孔52の小径部52aに挿入される軸部54a
を形成しなければならない。特に、チップ部品51の小型
化に伴い保持孔52および小径部52aが小さくなり、軸部5
4aの成形が難しくなる。また、軸部54aがチップ部品51
の端面に小さな面積で圧接するため、チップ部品51を損
傷するおそれがあり、さらには可動側端子54は保持孔52
の小径部52aを通過するだけのストロークが余分に必要
となるため、測定処理速度が遅くなるという問題があ
る。

ここで、本発明は上記問題点を解消したチップ部品の特
性測定装置を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明にかかる特性測定装置は、チップ部品をその両端
部が突出する如く貫通保持する複数の保持孔を一定ピッ
チで配列形成し、該配列方向に移動可能な可動テーブル
と、可動テーブルの保持孔に対応して平面状に配列さ
れ、チップ部品の一端面に接触可能な複数の固定側端子
と、可動テーブルを間にして固定側端子と対向配置さ
れ、チップ部品の他端面に弾性的に接触可能な複数の可
動側端子とを備え、各可動側端子は板厚方向に弾性変形
可能な板ばねで構成されていることを特徴とするもので
ある。

〔実施例〕

第１図〜第３図は本発明にかかる特性測定装置の第１実
施例を示す。

支持台１には一定回転角度ごとに間欠動作可能なモータ
２が固定されており、その回転軸３の先端には絶縁物か
らなる円板状のターンテーブル４が固定されている。タ
ーンテーブル４の外周部近傍には複数の保持孔５が一定
ピッチで円弧状に配列形成されており、この保持孔５は
ターンテーブル４の表裏面に貫通する貫通孔で構成され
ている。上記保持孔５にはそれぞれチップ部品６が貫通
保持されており、チップ部品６の端面を含む両端部に形
成された電極6a,6bが保持孔５から突出している。

ターンテーブル４の片側には固定側のプリント基板７が
配置されており、この固定側プリント基板７はスペーサ
８を介して固定台９に固定されている。固定側プリント
基板７は、第１図に示すようにガラスエポキシ系樹脂等
の絶縁基板10の表面に保持孔５に対応する複数の固定側
端子11を円弧状に配列形成するとともに、各端子11から
スルーホール12までの間をパターン配線13で接続してあ
る。

ターンテーブル４の他側には可動側のプリント基板14が
配置されており、このプリント基板14は支持台１に固定
されたスペーサ15にボルト16によって周縁部が固定され
ている。可動側プリント基板14は、固定側プリント基板
７と同様に、ガラスエポキシ系樹脂等の絶縁基板17の表
面に保持孔５に対応する複数の端子部18aを円弧状に配
列形成するとともに、各端子部18aからスルーホール20
までの間をパターン配線21で接続してある。各端子部18
aの間には内周部から放射方向にスリット19が形成され
ており、これにより端子部18aを含む板ばね状の可動側
端子18がプリント基板14と一体に形成される。上記端子
部18aは可動側端子18のばね力によりターンテーブル４
の保持孔５に保持されたチップ部品６の一端電極6bに圧
接可能であり、この接触圧によりチップ部品６の他端電
極6aは固定側端子11に押し付けられる。

なお、可動側端子18のばね力が不足している場合には、
スペーサ15に補強用のばね片22を固定し、はね片22の先
端部の突起22aで可動側端子18の背後を支持するように
してもよい。

上記固定側プリント基板７および可動側プリント基板14
に設けられた複数個のスルーホール12,20にはコネクタ2
3が接続可能であり、コネクタ23は図示しない複数種類
の測定機器の入出力部と接続されている。つまり、対向
する固定側端子11と可動側端子18の各対がそれぞれ測定
機器と接続されており、ターンテーブル４を１ピッチず
つ回転させることにより、１個のチップ部品６に対して
多種類の特性を測定可能である。各端子の機能として
は、例えばＣ測定用端子、電圧印加用端子、IR測定用端
子等がある。

上記可動側端子18の内周端部には正面視Ｃ字形のフック
24が係合しており、このフック24はフック取付板25を介
して２本のスライド軸26と連結されている。上記スライ
ド軸26は支持台１に取り付けたスライド軸受27によって
前後に摺動自在に案内されており、両スライド軸26の後
端部は第３図のようにステー28によって連結されてい
る。ステー28の両端部に固定したボルト29と上記スライ
ド軸受27に固定したボルト30との間には引張スプリング
31が張設されている。ステー28の中央部にはカムフォロ
ワ32が回転自在に取り付けられ、このカムフォロワ32は
上記引張スプリング31のばね力によりカム33に接触して
いる。

上記カム33が回転してステー28が引張スプリング31に抗
して後退すると、フック24もステー28と一体に後退す
る。これにより、可動側端子18は撓められてチップ部品
６の端面から離れるため、この状態でターンテーブル４
を容易に回転させることができる。この時、各可動側端
子18の間にはスリット19分だけの隙間しかないので、チ
ップ部品６が可動側端子18間に噛み込むことがなく、か
つフック24の移動ストロークは僅かであるから、チップ
部品６が保持孔５から落下することもない。カム33が回
転してステー28が前進すると、引張スプリング31により
フック24は第２図左方向へ前進し、このストローク途中
で可動側端子18がチップ部品６に接触する。このように
チップ部品６と可動側端子18および固定側端子11との接
触位置を順次変化させることにより、多種類の特性測定
を行うことができる。

ターンテーブル４の最下部の保持孔5aには第１図のよう
にチップ部品供給フィーダ34から１個ずつチップ部品６
が供給されるようになっており、上記保持孔5aの回転方
向前方側の複数（例えば６個）の保持孔5bには、選別し
て排出を行う選別機構35が配置されている。この選別機
構35は、第２図のようにターンテーブル４の保持孔５に
沿って近接配置された円弧状取付枠36と、この取付枠36
に貫通固定された複数本の排出管37と、各排出管37に接
続されたチューブ38とを備え、各チューブ38の先端は別
個の収容箱39にそれぞれ挿入されている。一方、上記排
出管37と対向するターンテーブル４の他側には複数本の
ノズル40が近接しており、各ノズル40より空気を吸引ま
たは噴出することにより、チップ部品６をそれぞれの特
性に応じて選別して別個の収納箱39に排出できるように
なっている。例えば、ターンテーブル４の所定の保持孔
５に保持されたチップ部品６を収納箱39に排出したい場
合には、対応する位置のノズル40から空気を噴出し、チ
ップ部品６を排出管37からチューブ38を通って収納箱39
に排出すればよい。また、保持孔５のチップ部品６を収
納箱39に排出する必要がない場合には、保持孔５に対応
するノズル40より空気を吸引し、チップ部品６が誤った
収納箱39へ排出されないようにすればよい。

上記のように本実施例によれば、１枚のプリント基板14
にスリット19を設けることにより複数本の可動側端子18
を一体に形成できるので、構成部品を大幅に削減でき、
多数の可動側端子18を高密度に配置できる。そのため、
従来のピン端子方式に比べて測定処理能力が格段に向上
する。また、可動側端子18から外部の測定機器への接続
配線をパターン配線21で構成できるので、多数の配線21
を効率よく配置でき、しかも可動側端子18が変位しても
配線21やコネクタ23等は動かないので、浮遊容量やイン
ピーダンスの変化が少なく、安定した測定が行なえる利
点がある。

第４図は本発明の第２実施例を示し、チップ部品６と可
動側端子18とを接離させるために、プリント基板14全体
を移動させるものである。この場合には、フック取付板
25にフック24だけでなく可動側端子18を形成したプリン
ト基板14も固定し、フック24で可動側端子18の内周端部
を若干撓めた状態に保持してある。この場合も、プリン
ト基板14の弾性不足を補うために、必要により可動側端
子18の背後に板ばね22を配置してもよい。なお、この実
施例の場合は、フック24は必須のものではない。

第２実施例の場合には、第１実施例に比べて可動側端子
18の撓み量を少なくできるので、可動側端子18の耐久性
を向上させることができる利点がある。

第５図，第６図は本発明の第３実施例を示し、可動側端
子41を表面に導電メッキを施した短冊状の金属製板ばね
で構成し、これをプリント基板43に固定したものであ
る。即ち、可動側端子41は複数本（図面では４本）ずつ
端子台42に樹脂モールドされており、プリント基板43に
は導電性のコンタクトピン44が固定され、コンタクトピ
ン44からスルーホール45までの間がパターン配線46で接
続されている。上記端子台42をネジ47によってプリント
基板43に固定すると、可動側端子41の外周部がコクタク
トピン44に圧接し、可動側端子41とコンタクトピン44と
が電気的に接続される。上記スルーホール45には第１実
施例と同様にコネクタが接続可能である。なお、可動側
端子41の動作は、その内周端部をフック24で撓めるか、
あるいは第４図のように可動側端子41を含むプリント基
板43全体をターンテーブル４に対して近接離間方向へ移
動させてもよい。

この実施例の場合には、可動側端子41が金属製板ばねで
あるため、第1,第２実施例に比べて耐久性が格段に優れ
ており、可動側端子41のみの交換も容易である。また、
可動側端子41のチップ部品６との接触面のメッキが摩耗
した場合には、可動側端子41を裏返しに取り付ければ、
再度使用できるという利点もある。この場合、板ばねは
必ずしも金属製のものに限らず、少なくとも板ばねの表
面が導電性を有するものであれば、他の材料を用いても
よい。

なお、本発明における可動テーブルとしては、上記実施
例のように回転型のターンテーブルの他、直線移動型の
テーブルを使用してもよい。この場合には、固定側端子
および可動側端子を直線状に配列する必要がある。

〔発明の効果〕

以上の説明で明らかなように、本発明によれば可動側端
子を板ばねで構成したので、板ばね自身のばね力により
チップ部品の端面に圧接させることができる。したがっ
て、従来のように別個にスプリングを設ける必要がな
く、構成部品が少なく小型化でき、可動側端子の配列ピ
ッチを短縮できる。これにより、多数個のチップ部品を
一度に測定でき、測定処理能力が格段に向上する。

また、チップ部品の端面に可動側端子を面接触させるこ
とができるので、チップ部品と可動側端子との接触時に
チップ部品に与える衝撃が小さく、チップ部品の損傷が
少なくなる。

さらに、可動側端子を互いに近接配置しておけば、チッ
プ部品が保持孔から脱落することがないので、可動テー
ブルの保持孔は段付形状ではなく単なる貫通孔でよい。
つまり、可動テーブルの保持孔にチップ部品をその両端
面が露出した状態に保持しておけばよく、可動側端子の
移動ストロークを従来に比べて小さくできる。したがっ
て、測定処理速度が飛躍的に向上する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明にかかる特性測定装置の第１実施例の要
部斜視図、第２図はその一部断面側面図、第３図は第２
図のIII−III線断面図、第４図は第２実施例の要部側面
図、第５図は第３実施例の要部側面図、第６図はその可
動側端子の斜視図、第７図は従来例の断面図である。 ４……ターンテーブル（可動テーブル）、５……保持
孔、６……チップ部品、７……固定側プリント基板、11
……固定側端子、14……可動側プリント基板、18,41…
…可動側端子、24……フック、42……端子台、43……プ
リント基板、44……コンタクトピン。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】両端面に電極を有するチップ部品の電気的
   特性を測定するための装置において、 チップ部品をその両端部が突出する如く貫通保持する複
   数の保持孔を一定ピッチで配列形成し、該配列方向に移
   動可能な可動テーブルと、 可動テーブルの保持孔に対応して平面状に配列され、チ
   ップ部品の一端面に接触可能な複数の固定側端子と、 可動テーブルを間にして固定側端子と対向配置され、チ
   ップ部品の他端面に弾性的に接触可能な複数の可動側端
   子とを備え、 各可動側端子は板厚方向に弾性変形可能な板ばねで構成
   されていることを特徴とするチップ部品の特性測定装
   置。