KR20010032441A

KR20010032441A - 다단자 전자 소자 테스트 장치

Info

Publication number: KR20010032441A
Application number: KR1020007005682A
Authority: KR
Inventors: 바우만조셉; 헤르만제이콥
Original assignee: 바우만 조셉; 일렉트로 사이언티픽 인더스트리즈, 아이엔씨
Priority date: 1998-09-25
Filing date: 1999-09-21
Publication date: 2001-04-25
Also published as: IL136012A0; HUP0100371A2; BR9908782A; WO2000019220A1; AU6256099A; US6100707A; EP1034435A1; CN1286757A; JP2002525634A; TW482900B

Abstract

소형 전자 소자의 테스트를 용이하게 하기 위해서, 개선된 테스트 프로브 및 이송 휠(8) 조립 부품이 개시되어 있다. 프로브의 기본 구성은, 적어도 하나의 탄성 구조에 의해 고착되는 가동 베이스(78) 상에 고정 지지체(84)로 이루어진 특징이 있다. 다수의 리드(66)는, 이 가동 베이스(78)에 고착되어 고정 안내 블록(94)의 상보적 터널을 통해 테스트될 전자 소자의 측면 위치 단자들을 향하여 이동할 수 있다. 이송 휠(8) 조립 부품은 전자 소자를 수용하기 위한 다수의 주변 위치 컴파트먼트를 갖는 휠(8)을 구비한다. 각 컴파트먼트는, 금속 베이스를 구비한다. 또한 테스트 중에 소자의 선단 위에서 압착하도록 구성된 금속 롤러(96)가 개시되었다. 각 컴파트먼트의 금속 베이스 및 금속 롤러(96)는 테스트 프로브로부터 측면 위치 리드들에 의해 소자의 선단 위치 단자들과 전기적으로 접속이 용이하다.

Description

다단자 전자 소자 테스트 장치{APPARATUS FOR TESTING MULTI-TERMINAL ELECTRONIC COMPONENTS}

전자 장치들이 더욱 더 일반화됨에 따라, 테스트를 필요로 하는 많은 소형 전자 소자는 크게 증가하고 있다. 이러한 필요에 따라, 대용량 전자 소자를 초고속에서 테스트할 수 있는 자동 장비가 일반화되고 있다. 예를 들면, 시간 당 50,000 개의 전자 소자들을 처리할 수 있는 형태의 장비가 존재한다.

전자 소자의 테스트 시에, 테스트될 소자의 크기의 감소에 의해 특별한 문제가 통상적으로 발생되며, 종종 악화된다. 이러한 문제들은 종래의 테스트 장치에 의해 달성될 수 있는 최대 소자 처리율에 상당한 제한을 제공하고 있었다.

그 하나의 문제는, 테스트 장치의 내부 이송기구가 원인이 된다. 대부분의 대형의 테스트 장치는, 이송 또는 부하부로부터 테스트될 소자를 테스트부로 이동시키고 나서 분류부로 이동시킨다. 그 이송 메카니즘은, 고정밀도 및 제어방법으로 소자를 이동할 수 있어야 할뿐만 아니라, 내구성이 있어야 하고, 상대적으로 비용이 낮어야 하고, 그 테스트 장치가 소자의 측면 및/또는 선단 위치 단자들과 전기 접촉을 할 수 있게 하여야 한다. 최적의 형태로의 이러한 특성들의 조합은, 종래기술에서는 발견되지 않는다.

두번째 문제점은, 많은 소자들이 동시에 접촉되어야 할 근접하게 간격을 두고 배치된 측면 위치 단자들을 지닌다는 특징을 갖는다는 점이다. 이것은 테스트 프로브가 상기 소자의 측면 위치 단자들과 정렬되어 있는 밀접하게 간격을 두고 배치된 리드들을 구비해야할 필요성이 있다. 또한, 이때의 프로브의 리드들은 빠르고 정확한 이동을 할 수 있어야 한다. 더욱이, 각 리드에 의해 테스트되는 소자의 단자에 가해지는 압력은, 양호한 접촉을 충분히 얻을 수 있어야 하는 한편, 그 압력이 단자 또는 리드에 스크래칭 또는 기타 손상을 일으키는 크기가 아니어야 하기 때문에, 정밀하게 조정되어야 한다. 그 프로브의 리드들의 필요한 정확한 위치 조정 및 제어는, 그것이 불가능하지는 않더라도, 종래기술에서 달성하기에는 매우 어려웠으며, 종래 기술의 장치에서 처리율을 극히 제한하는 요소로 작용하였다.

(발명의 요약)

본 발명은, 테스트 장치에서 집적 수동소자(Integrated Passive Component: IPC)와 같은 소형 전자 소자들을 이송하고 테스트하는데 바람직하게 사용되는 독특한 이송 휠 및 독특한 테스트 프로브에 관한 것이다. IPC의 예로는, 커패시터, 인덕터 또는 바리스터 어레이의 특징으로 갖는 칩을 들 수 있다. 이러한 형태들의 전자 소자는, 일반적으로 길이 1mm 내지 3mm, 폭 또는 두께 0.5mm 내지 1.5mm 까지의 크기의 범위를 갖고, 선단 및/또는 측면 위치 단자들로 이루어지는 특징이 있다.

그 이송 휠은, 다수의 주변 위치 슬롯 형태의 소자 수용 컴파트먼트(compartment)(또는 함몰부)로 이루어지는 특징이 있음에 따라서, 각 컴파트먼트는 이송되어야 하는 전자 소자들 중의 단 하나를 수용하는 크기로 만든다. 그 바람직한 사용방법으로서, 이송 휠을 이용하는 기계는 그 휠을 사용하여 적재부로부터, 테스트부로, 각 소자를 이송하고나서 분류 영역으로 이송한다. 이때 분류 영역에는, 그 소자들이 테스트부에서 결정된 결과에 따라 분류된다.

이송 휠내의 각 컴파트먼트의 바닥에는, 이송 동안 그 소자의 일단이 얹혀 있는 금속성 삽입물이 있다. 이 삽입물은 금속 접촉 표면을 제공함으로써 휠의 내구성을 증가할 뿐만 아니라, 그 휠이 선단 위치 단자들을 갖는 전자 소자들을 이송하고 있을 때, 이 삽입물은 소자의 바닥 위치 단자와 전기적 접촉을 하게 한다. 그래서 이 삽입물의 노출된 외부 선단들은, 측면 위치 금속 영역을 테스트부의 측면 위치 테스트 프로브에 의해 접촉될 수 있는 그 휠 상에 제공함에 따라 소자의 바닥 위치 단자와 테스트 기구가 전기적으로 접속한다.

바람직한 실시예로서, 이송 휠은, 특별히 설계된 테스트부를 갖는 기계에서 사용된다. 이 테스트부는, 휠의 둘레를 따라 회전하는 금속 접촉 롤러를 구비하고, 이 롤러는 컴파트먼트 중의 하나를 지나칠 때마다, 컴파트먼트내에 위치한 임의의 전자 소자의 정상 또는 외부의 선단 상을 누른다. 이 롤러가 컴파트먼트 위에서 누를 때, 소자의 바닥 위치 단자와 휠의 금속 삽입물 사이의 접촉을 향상시킨다. 추가적으로, 금속 롤러는, 소자의 정상(top) 위치 단자를 접촉하여서, 금속 롤러의 몸체를 경유하여 상기 단자와 전기적 접촉이 가능하게 된다.

본 발명의 프로브 조립 부품은, 정밀하게 위치가 정해지고 제어되는 다수의 테스트 리드를 구비한다. 이송 휠을 이용하는 테스트 기계에서 사용할 때, 프로브는 각각의 부품의 리드가 이송 휠의 각각의 측면 상에 위치하는 동일한 좌측 및 우측부를 갖는 것을 특징으로 하는 것이 바람직할 것이다. 또 이 프로브는 지지 구조 위에 실장되고 각 조의 리드들은, 탄력있게 지지하는 가동 베이스에 고정된다. 컴퓨터에 의해 바람직하게 제어되는 힘 인가 장치는, 압력을 그 베이스에 인가하여 관련 리드들의 이동을 제어하는데 사용된다. 각 조의 리드들은, 리드들을 정확하게 유도하여 테스트될 소자의 단자들로 향하도록 하는 고정 안내 블록을 통하여 연장한다. 상술한 이송 휠과 금속 접촉 롤러가 사용될 때, 그 프로브는 휠의 금속 삽입물의 일측 또는 양측과 상기 접촉 롤러의 하나 또는 양측과 접촉되게 유도하는 부가적인 리드들을 포함한다. 이에 따라, 프로브는 소자의 양측 선단 위치 단자들과 전기적 접촉을 할 수 있게 된다. 프로브 조립 부품은, 소형이고 및 가볍고, 거의 유지보수를 필요로 하지 않으며, 상기 힘 인가장치의 이동의 컴퓨터 제어에 의해 자체 조정하고, 제조 비용이 과다하지 않다. 더욱이, 이러한 프로브의 설계는, 리드들을 빠르게 이동시켜서, 매우 근접하게 간격을 두고 배치할 수 있도록 한다.

본 발명은 테스트 장비 분야에 속한다. 특히, 본 발명은 소형 전자 소자의 테스트가 용이하도록 구성된 장치이다. 독특한 이송 휠(Wheel) 및 프레스기 장치는 전자 소자를 테스트하기 위해 설계된 기계에서 사용하기 위한 것이라는 것이 알려져 있다. 이 휠 및 프레스기 장치는 소자의 측면 및/또는 선단 위치 단자들의 테스트가 가능하도록 구성된다. 또한, 독특한 테스트 프로브도 마찬가지로 알려져 있는으며, 이것은 전자 소자를 테스트하기 위해 설계된 기계에서 유사하게 사용할 수도 있다. 이 프로브는 일단에 이동 가능하고 탄성적으로 고정된 복수의 리드를 구비한다. 이 리드들은, 테스트하려는 소자의 측면 위치 단자들을 향해, 및/또는 휠 및 프레스기 장치의 부분을 향해 리즈의 단부를 정확히 안내하는 고정 안내 블록을 통하여 연장된다.

도 1은 본 발명에 따른 이송 휠과 테스트 프로브를 구비한 전자 소자 테스트 및 분류장치의 정면도이다.

도 2는 도 1에 도시된 장치의 평면도이다.

도 3은 테스트부에 들어가기 바로 이전의 위치에서 이송 휠의 컴파트먼트 중의 하나에 위치한 전자 소자의 정면도이다.

도 4는 이송 휠의 배면도이다.

도 5는 상기 이송 휠의 림(rim)부의 제작에서 제 1 단계를 나타낸다.

도 6은 상기 이송 휠의 림부의 제작에서 제 2 단계를 나타낸다.

도 7은 상기 이송 휠의 림부의 제작에서 제 3 단계를 나타낸다.

도 8은 상기 이송 휠의 림부의 제작에서 마지막 단계를 나타낸다.

도 9는 본 발명에 따른 테스트 프로브의 측면, 상세 도면을 제공한다. 이 프로브는, 프로브의 리드들이 테스트용 전자 소자를 접촉하기 위해 아직 연장되지 않은 위치를 나타낸다.

도 10은 프로브의 리드들이 테스트용 전자 소자를 접촉하기 위해 연장되어 있는 위치의 상기 도 9의 프로브를 나타낸다.

(도면의 상세한 설명)

이하, 도면을 참조하여 더욱 상세히 설명하면, 동일 참조 문자는 몇몇 도면을 통하여 같은 부품으로 언급하는데, 도면부호 1은 소형 전자 소자를 테스트 및 분류하기 위한 장치를 나타낸다.

도 1은 장치(1)의 정면도이다. 이 장치는, 공급부(2), 테스트부(4), 분류부(6) 및 이송 휠(8)을 구비한다. 실제, 각 부와 이송 휠은 단일 캐비넷형 유니트(캐비넷은 미도시) 내에 모두 조합된다.

상기 공급부(2)는 소형 전자 소자들(또한 여기서 "부품"으로도 칭한다)(12)을 대량으로 쏟아 붓는 깔때기 형태의 호퍼(10)를 구비한다. 일반적으로 이 소형 전자 소자들은, 칩 커패시터, 바리스터 및 인덕터와 같은 집적 수동 소자들(IPC)이다. 그 호퍼는 부품의 분리 및 진입로(16)에 따른 그들의 이동을 손쉽게 하는 진동유니트(도시하지 않음)를 구비하는 전송 장치(14)로 흘러 들어가게 한다.

이 진입로는 상대적으로 소수의 부품(12)을 갖도록 구성된 디스펜서(dispenser)(18)로 흘러 들어간다. 이 디스펜서에서, 부품은 그것의 바닥부 내에 개구(20)(도 2 참조)로 형성된 출구를 통해 나온다. 디스펜서는, 디스펜서의 선단으로부터 부품이 벗어나는 것을 방지하는 기능을 하고 또한 디스펜서의 좌측부로 향하는 부품을 지지하는데 도움이 되는 스위퍼 휠(sweeper wheel)(22)을 구비한다. 각 부품(12)이 디스펜서(18)를 벗어날 때, 이송 휠(8)의 외부 림(rim) 상에 위치한 상보적 크기의 양면 컴파트먼트(24)내에서 그 부품을 직접 받는다. 이송 휠의 림으로 적재된 부분을 도 3에 나타낸다. 부품은 측면 위치 단자(26)와 선단 위치 단자(28)를 구비한다는 점에 주목하기 바란다.

도 4는 이송 휠(8)의 배면도이다. 이 휠은 금속 허브(metal hub)(30)와 림 부재(32)의 형태를 갖는 원형부를 구비한다. 이때의 림 부재는, 바람직하게 약 12 내지 18 인치의 직경이고, 나사 또는 볼트(34)와 같은 일반적인 죔쇠(fastener)의 사용을 통하여 금속 허브로부터 제거 가능하다.

바람직하게, 림 부재(32)는 단단하고 비전도성 플라스틱 재료로 만들어진다. 모든 컴파트먼트(24)는, 림 부재 내에 위치하고 이 림 부재의 외부 가장자리에 주변 개구를 생성한다. 간단히 설명하면, 각 컴파트먼트의 베이스는, 금속성 삽입물(36)을 포함한다. 상기 림 부재(32)를 상기 허브(30)로부터 제거 가능하게 함으로써, 사용자는 하나의 림 부재를 제거할 수 있고, 전자 소자의 다른 크기에 맞는 다른 규격의 컴파트먼트(24)를 갖는 또 다른 림 부재로 대신할 수 있다. 허브(30)는, 허브의 배면에 고정되고 벨트(40)(도 1에 도시됨)에 의해 전기 모터(42)에 접속되는 풀리(38)를 구비한다. 이때의 전기 모터(42)는 휠을 회전시키는 역할을 한다.

도 5∼도 8은 림 부재(32)의 제작 방법을 나타내는 상세도이다.

도 5는 림 부재의 제작에 있어서 그 부재가 초기 단계일 때 림 부재의 부분을 나타낸다. 이때에, 림 부재는 단순한 링으로 구성된다. 링은, 도 5에 도시된 부분을 통해 단면으로 자르면, 그 부분이 바람직하게 약 6mm 폭 x 약 15mm 높이의 규격을 갖는 직사각형 단면이라는 것을 알 수 있을 것이다.

도 6은 도 5에 도시된 바와 같은 림 부재의 동일한 부분을 나타낸다. 그러나, 그 부재에는 복수의 홀(44)이 뚫려 있고, 고정나사 모양의 금속 삽입물(36)이 각 홀내로 나사결합된다.

도 7은 도 5와 도 6에 도시된 바와 같은 림 부재의 동일한 부분을 나타낸다. 그러나, 림 부재의 정상부(46)를 약 2.5mm 미만의 두께를 갖도록 기계로 가공한다. 이 가공된 정상부는 림 부재의 정상부터 금속 삽입물/고정나사(36)의 중앙에 또는 그 중앙 근처의 지점까지 약 6mm를 연장한다. 또한, 죔쇠(34)로 림 부재의 허브(32)에 연결 가능하도록 동시에 림 부재 내에 복수의 홀(48)을 뚫는다.

도 8은 상기 3개의 도면에 도시된 바와 같은 림 부재의 동일한 부분을 나타낸다. 기계 가공의 마지막 단계에서는, 림 부재의 정상부(46)에 복수의 절단 부분을 만든다. 이 절단 부분들은 고정나사의 중앙에 놓이며, 이 고정나사를 통하여 부분적으로 연장하고, 컴파트먼트(24)를 형성한다. 각 절단 부분의 폭은, 위에서 얻어진 컴파트먼트(24) 내에서 수용될 전자 소자의 폭 또는 두께 보다 약간 크다. 절단 부분들이 만들어지면, 좁은 관통 구멍 또는 터널(52)은 금속 삽입물의 중앙에 구멍을 뚫어, 그것을 림 부재를 통하여 전체적으로 연장할 때까지 아래로 계속 향한다. 이 관통 구멍(52)은, 도 1, 2, 9 및 10에 도시된 어댑터(54)를 경유하여 일반적인 진공장치(도시하지 않음)로부터 각 컴파트먼트(24)의 바닥까지 진공이 인가될 수 있게 한다. 컴파트먼트(24)로의 진공 인가는, 휠이 회전할 때 컴파트먼트내에 부품(12)을 지지하는데 도움이 되는 목적에 기여한다.

또한, 도 8에서는, 금속 삽입물/고정나사의 측면부(56)가 림 부재의 측면에 위치하고, 그 관련 컴파트먼트(24) 바로 아래에 노출된 것을 나타낸다. 따라서, 측면부(56)는 휠의 측면으로부터 쉽게 접근 가능하다.

전술한 것처럼, 도 3은 휠의 컴파트먼트(24) 중의 하나에 위치한 전자 소자(12)를 나타낸다. 도 3에서는 부품이 테스트부(4)에 들어가기 바로 이전의 부품을 나타낸 것이다. 테스트 프로브의 리드들은, 테스트부내에서, 소자(12)의 단자들과 간접 또는 직접적으로 임시로 접촉된다. 도 9 내지 도 11에서는 테스트부의 여러 가지 부분들을 상세히 나타낸다.

테스트부는 우측부(62)와 좌측부(64)를 갖는 테스트 프로브(60)를 구비한다. 이 각 부는 복수의 리드(66)를 구비한다. 상기 각 측부는 5개의 리드를 구비한 것을 나타내었지만, 각 측부에는 보다 많은 수의 또는 보다 적은 수의 리드들을 사용할 수도 있다. 어떤 경우에 있어서, 프로브(60)는 상기 우측부(62) 또는 좌측부(64) 중 하나만을 구비할 수도 있다.

각 리드(66)는 도전성 재료로 만들어지고, 매우 단단하고 값싼 와이어 또는 핀으로 구성할 수 있다. 각 리드의 외부 선단(68)은, 바람직하게는 평탄하고, 테스트될 부분의 단자를 접촉하도록 구성되어 있다. 각 리드의 대향 선단(70)은, 오실로스코프, 로직 분석기, 에뮬레이터 또는 기타 잘 알려진 테스트 또는 진단장치와 같은 테스트 기구(74)에 자체 접속되어 있는 가요성 와이어(72)에 전기적으로 접속된다. 클램프(76) 또는 다른 일반적인 죔쇠 또는 죄는 방법은, 각 리드의 선단부(70)를 가동 베이스(78)에 고정하는데 이용한다. 정상 및 바닥 리드들(66)은 베이스 상에 활 모양을 갖는 것을 나타내는 한편, 다른 리드들은 일직선인 것을 나타낸다. 그 정상 및 바닥 리드들 후방부의 구부러짐은 리드들을 고정시키는데 유용한 공간을 증가시키큰 한편, 이와 동시에 그들이 베이스로부터 외부 방향으로 연장될 때 그 리드들이 근접하게 떨어지도록 한다. 각 정상 및 바닥 리드들의 만곡부는, 베이스(78)의 표면으로부터 위쪽으로 연장되는 포스트들(79)에 의해 위치적으로 제한된다. 공간의 사용가능성에 따라, 프로브는 모든 리드가 일직선을 이루면서 제조될 수 있거나, 또는 공간의 사용가능성이 매우 한정되어 있으면, 더 많은 리드들이 도시된 정상 및 바닥 리드들과 같은 상태로 활 모양 후방부를 갖고, 추가 포스트들(79)과 위치상으로 고정된다.

각 베이스들(78)은 베이스 플레이트(80)의 형태를 갖는 비교적 움딕일 수 없는 지지체에 이동 가능하게 구비된다. 이 플레이트는 기계의 고정 틀(84)와 같은 고정 구조에 죔쇠(82)에 의해 고착된다. 각 베이스를 플레이트(80)에 이동 가능하게 고착하는데 사용된 구조는, 베이스를 탄력성 있게 이동할 수 있게 한다. 바람직한 실시예에 있어서, 고착 구조는 2개의 얇은 금속 판 스프링(86)으로 구성된다. 2개의 판 스프링을 도시하였지만, 단일 스프링 또는 2개 보다 큰 다수의 스프링을 대신하여 사용할 수도 있다. 또한, 판 스프링의 사용을 나타내었지만, 코일 스프링을 포함하는 다른 형태의 스프링과 같은 이와 다른 동등한 탄성 구조, 또는 심지어는 고무와 같은 탄성 재료도 대신 사용할 수도 있다. 더욱이, 유압 실린더 또는 소프트 쿠션 부재와 같은 감쇠(damping) 장치(도시되지 않음)는, 하나 또는 양 베이스의 정지 위치에 인접하여 사용됨으로써, 원하지 않는 베이스의 진동을 감쇠할 수 있다.

힘 인가장치(88)는, 각 베이스(78)에 인접하게 위치되고, 베이스 플레이트(80)에 움직일 수 없게 고착된다. 이 장치(88)는, 압력을 가동 베이스(78)의 측면에 인가하여 상기 베이스가 상기 휠(8)로 향하여 이동할 수 있게 하는 피스톤(90)을 갖는 것으로 도시되어 있다. 또한, 이 장치(88)의 작동은, 와이어(91)를 경유하고, 바람직하게는 테스트 기구(74)에 의해, 또는 테스트 장치가 포함되거나 또는 그것과는 별개로 구성되는 컴퓨터(도시하지 않음)에 의해 발생한다. 바람직한 실시예로, 상기 장치(88)는, 전기적으로 전원이 공급되고, 힘(force)을 가동 베이스(78)에 인가할 수 있는 솔레노이드, 선형 액츄에이터 또는 기타 장치, 또는 장치 또는 소자의 조합으로 구성할 수도 있다. 도시하지 않은 또 다른 실시예로서, 힘 인가장치는, 기계적으로 동작되어 휠(8)의 이동에 따라 단계적으로 움직인다. 또한, 바람직한 실시예로, 피스톤(90)이 이동하는 거리도 테스트 기구/컴퓨터에 의해 제어된다. 이는 프로브가 자동으로 조정 가능하게 되도록 함으로써, 테스트 기구/컴퓨터가, 리드들 또는 치수가 다른 부품(12)의 마모로 인한 변화를 보상하기 위해 상기 힘 인가장치(88)를 경유하여 리드들이 이동하는 거리를 변화시킬 수 있다.

각각의 리드(66)는, 베이스(78)로부터 안내 블록(94)내의 관통 구멍 또는 터널(92)을 통하여 연장한다. 이 안내 블록은, 복수의 관통 구멍(92)을 구비하고, 각각의 리드의 중간 부분은 관통 구멍 중 한 개의 내부에 배치된다. 바람직한 실시예로, 각 관통 구멍의 길이는, 그것의 직경 보다 2배 또는 그 이상 크다. 이는 관통 구멍에 의해 각 리드에 주어진 방향 안내를 향상한다.

각 안내 블록(94)은, 프로브의 베이스 플레이트(80)에 고정되고, 베이스(78)의 바로 옆에 간격을 두고 배치된다. 이 안내 블록은 고정되기 때문에, 베이스(78)가 이동할 때 이것들은 이동하지 않는다. 모든 리드들이 안내 블록을 통하여 연장하는 것으로 도시하였지만, 이것은 필수적인 것이 아니다. 도시하지 않은 다른 실시예로, 일부의 리드들은 안내 블록을 우회할 수 있다.

접촉 롤러(96)를 구비한 프레스기 장치는 상기 림 부재(32)의 주위와 일렬로 위치한다. 이 롤러는, 전기적 도전성 금속 재료로 만들어지고, 스프링 지지체(98)를 경유하여 베이스 플레이트(80)에(또는 이와 달리 기계의 틀에) 구비된 회전축(97) 상에서 회전 가능하다. 이 스프링 지지체는 바람직하게 일반적인 설계를 갖고종래 테스트 장치에서 사용된 포고(pogo) 핀을 닮을 수도 있다. 또한, 이 지지체(98)는, 길이가 가변적이고, 그 지지체들을 그들의 최대 길이까지 계속해서 한쪽으로 치우치게 하거나 밀고 나가게 하는 스프링을 구비한다. 휠이 회전함에 따라, 스프링 지지체는 계속하여 상기 롤러를 림 부재(32)로 향하여 밀고 나감으로써, 그 롤러는 굴러감과 동시에, 이 림 부재 주위를 압착한다. 도 3은 림 부재의 이빨 모양 부분(99) 중 하나의 선단을 접촉하는 롤러를 나타낸다. 도 3에 도시된 위치로부터 휠이 계속하여 회전할 때, 상기 롤러는 림 부재의 이빨 모양 부분(99)에서 굴러서 벗어난 후 컴파트먼트(12)의 외부 선단 상에서 회전한다. 일단, 롤러가 완전히 컴파트먼트(12) 위를 압착하고 있으면, 그 부품은 테스트 준비가 되고, 도 9에 도시된 위치에 존재한다. 컴파트먼트(12) 상의 상기 롤러에 의해 아래 방향으로 미치는 힘은, 소자를 금속 삽입물(36)의 표면에 대해 꽉 눌러서, 소자의 바닥 위치 단자(28)와 금속 삽입물 사이에 양호한 접촉을 확보한다. 추가로, 소자(12)의 정상 위를 누르는 롤러는 소자의 정상 위치 단자(28)와 롤러의 표면 사이에 양호한 접촉을 생성한다. 이는 롤러의 일측 또는 양측면에 대해 압착함으로써 프로브로부터의 리드들(66)이 소자의 정상 위치 단자(28)와 전기적 접촉을 할 수 있도록 한다. 도면들에서는, 리드들이 롤러의 양측면과 접촉한 것을 나타낸다.

동작시에, 하나의 부품(12)이 테스트하기 위한 테스트부에 이르게 되어, 프로브의 우측부 및 좌측부 사이에 적당히 위치할 때, 전기신호는 컴퓨터 제어에 의해 양측 힘 인가장치(88)에 보내진다. 그후, 각 장치(88)는, 압력을 인접한 가동 베이스(78)의 측면에 가하여, 그 베이스가 휠(8) 방향으로 이동하게 한다. 바람직한 실시예로, 베이스들은, 단지 1mm(이 거리는 도면에서 확대되어 도시됨)와 같은 짧은 거리를 이동한다. 베이스들이 테스트될 부품으로 이동함에 따라, 그 베이스들에 고착된 리드들은, 안내 블록들 내의 관통 구멍을 통해 이동하고, 이에 의해 정확히 조준하여서 리드들의 선단(68)이 테스트될 부품의 측면 단자와 정밀하게 접촉하도록 할 뿐만 아니라, 각 컴파트먼트(24)의 베이스에 위치된 금속성 삽입물(36)의 노출된 외부 측면부(56)와 금속 롤러(96)의 측면을 향하여 이동한다. 도 10은, 힘 인가장치(88)가 소정 량의 베이스(78)를 이동시키고, 리드들의 선단(68)이 부품의 단자, 또 금속성 삽입물의 측면부(56)와 금속 롤러(96)의 측면과 접촉하는 지점을 나타낸다. 이에 따라, 부품의 테스트를 시작할 수 있다.

부품(12)의 테스트가 완료되면, 힘 인가장치(88)의 피스톤(90)은 후퇴한다. 그후, 판 스프링(86)은, 베이스들(78) 및 베이스에 부착된 리드들을 도 9에 도시된 그들의 초기 위치로 복귀시킨다. 그후, 휠(8)이 회전하여, 롤러(96)가 부품(12)의 선단을 글러서 벗어나게 한다. 휠의 회전은, 다음 부품(12)이 테스트부에 이를 때까지 계속될 것이다. 결국, 휠의 회전은 테스트된 부품을 분류부(6)에 이르게 할 것이다.

분류부(6)는, 일반적인 설계를 갖고 전기로 동작하는 일련의 솔레노이드 밸브들(도시하지 않음)을 수용하는 블록(100)을 구비한다. 각 밸브는 호스(102)를 경유하여 압축공기 공급원에 접속되고, 개방될 때, 컴파트먼트(24) 중의 하나로 압축 공기를 직접 향하게 한다. 복수의 튜브(104)는 컴파트먼트 및 밸브와 정렬되고, 각 튜브는 컴파트먼트(24) 중 하나의 위치로 특정되며, 그 자신의 전용 부품 수용 용기(bin)(106)로 연장된다.

테스트부에서 부품(12)이 테스트된 후, 그 테스트 결과는 임시로 테스트 기구에 의해 저장된다. 이 테스트 기구는, 솔레노이드 밸브에 접속되어서, 테스트부에서 결정된 테스트 결과에 근거하여, 부품(12)이 적당한 위치에 도달할 때, 밸브들 중 특정한 하나와 정렬할 것이다. 이 밸브를 테스트 기구에 의해 개방되어, 압축 공기는 밸브로부터 그 밸브에 인접한 컴파트먼트(24)내로 보내진다. 이는 그 부품(12)이 강제로 인접 튜브(104)내로 밀린 후, 상기 적합한 수용 용기(106) 내로 밀러낸다.

여기서 설명된 테스트 및 분류 기계의 테스트부내에 사용된 것으로서 프로브(60)를 제시하였지만, 이 프로브는 전기 프로브가 사용되는 어떤 다른 형태의 기계 또는 환경에서 사용할 수도 있다. 유사하게, 제시된 이송 휠(8) 및/또는 금속 접촉 롤러는 도시한 것 이외의 전자 부품 테스트 장치에 사용할 수도 있고, 도시된 것 이외의 다른 형태의 테스트 프로브와 함께 사용할 수도 있다.

본 명세서에 개시된 실시예는 본 발명의 신규한 국면에 대해 상세히 설명하기 위해 주어진 것이다. 본 발명의 바람직한 실시예들을 도시하여 설명하였지만, 다음 청구범위에 설명된 것과 같은 본 발명의 사상 및 범위를 반드시 벗어나지 않고 당업자에 속한 사람들에 의해 다수의 변화, 변경 및 대체가 이루어질 수 있다.

Claims

테스트 기구에 접속되어 동작하고 전자 소자의 테스트 시에 사용되도록 구성되되,

지지체와,

상기 지지체에 이동 가능하게 고착된 베이스와,

상기 베이스에 고착되고, 테스트 기구에 접속되어 동작하고, 전기 도전성의 연장되고, 적어도 하나가 테스트될 전자 소자의 단자를 접촉하기 위해 구성된 선단부를 갖는 복수의 리드와,

상기 지지체에 고착되고, 적어도 하나의 관통 구멍을 갖고, 적어도 하나가 상기 적어도 하나의 관통 구멍을 통해 연장하고 상기 적어도 하나의 관통 구멍 내로 이동가능한 안내 블록과,

상기 베이스를 이동시킬 수 있고, 전자 소자가 상기 안내 블록과 관련한 소정 위치에 위치할 때, 액츄에이터는 힘 인가장치가 상기 베이스를 이동시키게 함으로써 상기 베이스에 고착된 리드들을 상기 소자로 이동시키고, 상기 적어도 하나의 관통 구멍이 관련된 상기 리드들 중의 하나를 안내하여 상기 전자 소자의 단자로 향하게 하는 힘 인가장치를 구비한 것을 특징으로 하는 프로브.
제 1 항에 있어서,

상기 베이스는 탄성 구조에 의해 상기 지지체에 고착된 것을 특징으로 하는 프로브.
제 2 항에 있어서,

상기 탄성 구조는 적어도 하나의 판 스프링으로 구성된 것을 특징으로 하는 프로브.
제 1 항에 있어서,

상기 안내 블록은, 복수의 상기 관통 구멍을 갖고, 각 상기 리드들은 상기 관통 구멍 중 다른 하나를 통해 연장한 것을 특징으로 하는 프로브.
제 1 항에 있어서,

상기 힘 인가장치는, 전기적으로 동작되는 솔레노이드의 형태를 갖는 것을 특징으로 하는 프로브.
제 1 항에 있어서,

상기 액츄에이터는, 컴퓨터의 형태를 갖는 것을 특징으로 하는 프로브.
제 1 항에 있어서,

상기 지지체에 이동 가능하게 고착된 제 2 베이스와,

상기 제 2 베이스에 고착되고 테스트 기구에 접속되어 동작하고, 상기 리드들 중 적어도 하나가 테스트될 전자 소자의 단자를 접촉하기 위해 구성된 선단부를 갖는 전기적 도전성의 길다란 복수의 리드와,

상기 지지체 고착되고 적어도 하나의 관통 구멍을 갖고, 상기 제 2 베이스에 고착된 상기 리드들 중 적어도 하나가 상기 적어도 하나의 관통 구멍을 통하여 연장하고 상기 적어도 하나의 관통 구멍내에서 이동 가능한 제 2 안내 블록과,

전자 소자가 상기 제 2 안내 블록에 관련된 소정 위치에 위치할 때, 액츄에이터에 의해 작동되어서, 상기 제 2 베이스에 고착된 리드들이 상기 전자 소자로 향하여 이동하도록 상기 제 2 베이스를 이동시키는 힘 인가장치를 더 구비한 것을 특징으로 하는 프로브.
전자 소자들을 테스트하기 위한 장치에서 사용하기 위해 구성되고, 상기 소자들이 내부로 로드되는 공급부로부터 상기 전자 소자를 이송하여서, 상기 소자들을 테스트부에서 테스트하는 기능을 하되,

비전도성 재료로 만들어지고, 각각 테스트용 전자 소자를 수용하는 크기로 만들어진 복수의 컴파트먼트를 포함한 원형부와,

각각이 각 컴파트먼트의 베이스부를 구성하고 상기 소자가 금속 부재 정상의 컴파트먼트에 위치할 때 전자 소자의 선단 위치 단자를 접촉할 수 있고, 각각이 상기 지점 외부에서 상기 원형부의제 1 면까지 접근할 수 있는 적어도 하나의 측면부를 포함한 복수의 금속 부재를 구비한 것을 특징으로 하는 이송 휠.
제 8 항에 있어서,

상기 금속 부재는, 상기 부재의 중심부에 위치한 복수의 나사산에 의해 원형부에 고착된 것을 특징으로 하는 이송 휠.
제 8 항에 있어서,

상기 각 컴파트먼트는, 컴파트먼트와 관련된 금속 부재를 통해 연장되고 원형부의 비전도성 재료를 통해 계속되는 관통 구멍을 경유하여 진공 공급원에 접속할 수 있는 것을 특징으로 하는 이송 휠.
전자 소자들을 테스트하기 위한 장치에 사용하도록 구성된 이송 휠을 제작하되, 상기 이송 휠은, 상기 소자들이 이송 휠의 내부로 로드되는 공급부로부터 상기 소자들이 테스트되는 테스트부로 상기 전자 소자들을 이송하는 기능을 하도록 구성된, 이송 휠 제작방법에 있어서,

비전도성 재료로부터 원형 부재를 제작하는 단계와,

상기 원형 부재에 대해서 균일하게 간격을 두고 배치되고 상기 원형 부재 내에 복수의 관통 구멍을 만드는 단계와,

복수의 각 금속 부재를 복수의 상기 각 관통 구멍 내에 설치하는 단계와,

상기 원형 부재의 주위부를 기계로 가공하여 상기 주위부의 두께 치수를 줄이는 단계와,

상기 주위부내에 균일하게 간격을 두고 배치되고 상기 금속 부재중 하나가 각 슬롯의 베이스부를 형성하는 곳에 위치한 복수의 분리 슬롯을 만드는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 이송 휠 제작방법.
제 11 항에 있어서,

상기 금속 부재는 원형 부재의 적어도 일측면에서 접근할 수 있도록 위치한 것을 특징으로 하는 이송 휠 제작방법.
제 11 항에 있어서,

각 금속부재는, 외부의 나사산들을 갖고, 각 금속 부재를 상기 원형 부재내로의 삽입은 그 나사산들이 원형 부재 내에 관련된 관통 구멍의 내부 표면에 끼워 넣어지도록 금속 부재를 회전함으로써 달성하는 것을 특징으로 하는 이송 휠 제작방법.
제 11 항에 있어서,

상기 슬롯을 만든 후, 관통 구멍은 상기 각 금속 부재를 통해 구멍을 뚫고, 상기 원형 부재의 비전도성 재료를 통해 계속하는 것을 특징으로 하는 이송 휠 제작방법.
대량의 전자 소자를 수용하여서 출구를 통해 상기 소자들을 분배하도록 구성된 공급부와,

상기 공급부의 출구로부터 전자 소자를 수용하도록 구성된 분리되고 따로따로 간격을 두고 배치되고 주변에 위치된 복수의 컴파트먼트를 갖고, 각 컴파트먼트가 2개의 대향 측면 상에 개방상태이고, 상기 소자가 상기 컴파트먼트내애 위치할 때 각 컴파트먼트의 베이스부가 전자 소자의 선단 위치 단자를 접촉할 수 있는 금속 영역을 포함하고, 그 금속 영역이 상기 휠의 적어도 하나의 측면 상에 노출된 부분을 포함하는 이송 휠과,

복수의 가동 리드를 갖는 프로브를 포함하고, 상기 리드들이 상기 소자가 상기 프로브에 근사한 상기 이송 휠의 컴파트먼트에 위치할 때 전자 소자의 복수의 측면 위치 단자를 접촉할 수 있는 테스트부와,

상기 테스트부의 상기 프로브에 접속되어 동작하는 테스트 장치로 구성되어, 상기 이송 휠의 컴파트먼트 중 하나에 전자 소자가 위치할 때, 상기 공급부에서 테스트부로 전자 소자를 이송할 수 있는 것을 특징으로 하는 전자 소자 테스트 장치.
제 15 항에 있어서,

상기 프로브는,

지지체와,

각 리드가 길다랗고, 전기적 도전성의 재료로 만들어지고, 상기 베이스에 고착되고, 상기 테스트 장치에 접속되어 동작하고, 적어도 하나가 테스트될 전자 소자의 단자를 접촉하기 위해 구성된 선단부를 갖는 상기 복수의 가동 리드와,

상기 지지체에 고착되고, 상기 복수의 리드가 복수의 관통 구멍을 통하여 연장하고, 내부로 이동 가능한 안내 블록과,

전자 소자가 상기 안내 블록에 관련된 소정 위치에 위치할 때 상기 베이스를 이동시킬 수 있고, 상기 베이스의 이동은 상기 베이스에 고착된 리드들의 이동에 대응하고, 상기 복수의 리드가 그들의 이동시에 안내 블록의 관통 구멍에 의해 안내되는 힘 인가장치로 구성된 것을 특징으로 하는 전자 소자 테스트 장치.
제 16 항에 있어서,

탄성 구조는 상기 프로브의 지지체에 프로브의 베이스를 접속하는 것을 특징으로 하는 전자 소자 테스트 장치.
제 15 항에 있어서,

프레스기 장치를 더 구비하고, 전자 소자가, 상기 소자의 바닥 끝이 컴파트먼트의 금속 영역 정상에 위치하는 테스트부에 위치하고 있을 때, 프레스기 장치는 그 소자의 정상 끝 상에서 내리 누르는 기능을 하는 것을 특징으로 하는 전자 소자 테스트 장치.
제 18 항에 있어서,

상기 프레스기 장치는, 이송 휠의 주변부를 따라 회전하는 롤러를 구비하되, 상기 롤러가 이송 휠의 주변부를 향하여 위치적으로 치우치도록 적어도 하나의 스프링 지지 부재에 의해 전자 소자 테스트 장치에 고착된 것을 특징으로 하는 전자 소자 테스트 장치.
제 19 항에 있어서,

상기 롤러는, 전기적으로 전도성의 금속 재료로 만들어진 것을 특징으로 하는 전자 소자 테스트 장치.
제 20 항에 있어서,

상기 프로브는, 위치가 정해져 있는 리드들을 구비함에 따라 전자 소자가 테스트부 내에 있고 테스트하기 위해 위치가 정해져 있고, 상기 프로브로부터 적어도 하나의 리드는 소자가 위치된 컴파트먼트의 금속 영역에 접촉하고, 상기 프로브의 리드들의 적어도 다른 하나는 롤러의 측면에 접촉하는 것을 특징으로 하는 전자 소자 테스트 장치.
제 21 항에 있어서,

상기 프로브는,

지지체와,

각 리드가 길다랗고, 전기적 도전성의 재료로 만들어지고, 상기 베이스에 고착되고, 상기 테스트 장치에 접속되어 동작하고, 적어도 하나가 테스트될 전자 소자의 단자를 접촉하기 위해 구성된 선단부를 갖는 상기 복수의 가동 리드와,

상기 지지체에 고착되고, 상기 복수의 리드가 복수의 관통 구멍을 통하여 연장하고, 내부로 이동 가능한 안내 블록과,

전자 소자가 상기 안내 블록에 관련된 소정 위치에 위치할 때 상기 베이스를 이동시킬 수 있고, 상기 베이스의 이동은 상기 베이스에 고착된 리드들의 이동에 대응하고, 상기 복수의 리드가 그들의 이동시에 안내 블록의 관통 구멍에 의해 안내되는 힘 인가장치로 구성된 것을 특징으로 하는 전자 소자 테스트 장치.