KR20000023710A - 전자 구성 요소를 적재하기 위한 방법 및 장치 - Google Patents

전자 구성 요소를 적재하기 위한 방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

기다랗게 마무리되는 전자 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 방법 및 장치는 확장하는 수직 슬롯(32)을 구비하는 적재 플레이트(30)를 포함하며, 상기 슬롯은 규칙적인 간격으로 일정한 간격을 갖고 떨어져 있으며 각각의 슬롯은 평행한 대향 측부벽을 구비한다. 구성 요소(34)는 적재 플레이트의 상부 표면에 대해 가로지르는 배향으로 구성 요소의 긴 축에 대해 적재 플레이트 슬롯(32) 내에 위치되고 유지된다. 예정된 시간에, 각각의 구성 요소(34)는 슬롯의 밖으로 떨어져서 곡면이 진 슈트(38)를 통해 들어가도록 허용되며, 슈트는, 상측 개구부로부터 중간 지점으로 굽어지며, 중간 지점으로부터 하측 개구부로 바깥측을 향해 나팔 모양으로 벌어지며, 상기 구성 요소(34)가 슈트(38)를 통해 통로 상에서 약 90。로 회전되도록, 상기 슈트는 구성 요소(34)의 짧은 축 보다 더 큰 중간 지점에 소정의 폭과 상기 구성 요소의 긴 축 보다 약간 더 큰 하측 개구부에 소정의 폭을 갖는다. 구성 요소(34)가 슈트(38)의 바닥을 빠져 나갈 때, 상기 구성 요소(34)는 테스트 플레이트(40)의 얕은 직사각형 포켓(42)으로 들어가며 상기 포켓(42) 안에 유지된다. 90。 회전 때문에, 구성 요소의 긴 축은, 테스트 플레이트(40)의 상부 표면에 대해 일반적으로 평행하게 배향되며, 그에 따라서 상기 구성 요소(34)가 종래의 수단에 의해 테스트되고 처리되도록 이용될 수 있다.

Description

전자 구성 요소를 적재하기 위한 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR LOADING ELECTRONIC COMPONENTS}
칩 캐패시터 및 저항기와 같은 소형 전자 구성 요소의 다량을 신속하게 테스트하고 분류하기 위한 방법이 해당 기술 분야에 잘 알려져 있다. 예를 들면, 본 출원의 양수인에게 양도된 미국 특허 번호 4,406,373은 테스트되는 구성 요소가 테스트 플레이트 상에 횡 및 종의 열로 배치되는 방법을 가르친다. 테스트 플레이트는 구성 요소의 전기 특성이 각각의 구성 요소를 전기 탐침(probe)에 접촉시킴으로써 테스트되는 지금까지의 개선된 테스트부(testing station)이다. 구성 요소는 각각의 구성 요소가 테스트 플레이트의 밖으로 불어내어져 구성 요소에 대해 정해진 전기 특성에 따른 몇몇의 용기중의 한 곳으로 보내지는 분류부(sorting station)로 연속적으로 넘겨진다. 테스트되는 구성 요소는, 테스트 플레이트 내에 직접 적재될 수 있거나, 또는 먼저 적재 플레이트 안에 위치되고 나서 테스트 플레이트로 이동될 수 있다.
더 최근에, Palomar Systems, Inc. 의 모델 18 테스터(Escondido, California )와 같은, 자동화된 로터리 테스터는 많은 양의 구성 요소들을 고속으로 테스트할 수 있도록 개발되어졌다. 상기 테스터에서, 테스트되고 분류되는 구성 요소는 원형 테스트 플레이트의 바깥 원주 상에서 일정한 간격으로 떨어진 슬롯, 또는 구멍 안에 놓여진다. 테스트 플레이트는 구성 요소의 하나 또는 그 이상의 전기적 특성이 전기 탐침에 의해 결정되어지는 테스트부 쪽으로 계단식(stepwise)의 간헐적인 방식으로 회전된다. 따라서, 테스트 플레이트는 구성 요소가 정해진 전기적 특성에 따른 몇몇의 용기들 중의 하나로 유도되는 분류부로 전진한다.
거의 동일한 길이와 폭의 크기를 갖는 전자 구성 요소가 위에 기술된 것처럼 선형 또는 회전형태중 하나의 테스트 장치에서 테스트될 때, 구성 요소는 당업자에게 잘 알려진 진동 및/또는 진공 기술을 이용한, 적재 플레이트에 의해 직접적으로 또는 간접적으로 테스트 플레이트 내에 위치될 수 있다. 예를 들면, Palomar Systems, Inc. 의 모델 18 로터리 테스터는 수동적으로 또는 자동 공급 메카니즘에 의해 테스트 플레이트의 하측 정면부 상에 다수의 구성 요소를 단순히 적층시킴으로써 적재될 수 있는 후측방향으로 경사진 원형 테스트 플레이트를 포함한다. 테스트 플레이트의 계단식 회전은 테스트 플레이트의 바깥 원주 상에 슬롯 안으로 구성 요소들을 떨어뜨릴 수 있도록 구성 요소들을 충분히 흔든다.
그러나, 상기 적재 기술은 길이와 폭의 크기중 어느 한 쪽이 다른 한 쪽 보다 더 큰 전자 구성 요소에 대해 성공적으로 사용될 수 없으며, 이 이후로는 기다랗게 마무리된 구성요소에 관해 언급한다. 산업 종사자는 구성 요소의 단부 캡(즉, 코팅된 단부)들 사이의 거리로서 길이, 세라믹과 금속 층의 내부 적층의 높이로서 두께, 및 나머지 치수로서 폭을 소형의 전자 구성 요소에 대해 한정한다. 도 1A, 1B, 및 1C는 긴-측부로 마무리된 구성 요소, 짧은-측부로 마무리된 구성 요소, 및 기다랗게 마무리된 구성 요소의 예로서 칩 배열의 구성 요소를 제각기 도시한다. 상기 구성 요소들의 각각은 단자를 형성하는 기다란 직사각형 몸체(2)와 다수의 전기적 전도 코팅(4)을 갖는다(개개의 구성 요소들의 특징부는 상응하는 도면 번호를 붙임으로써 구별된다).
기다랗게 마무리된 장치를 적층한 채로 결합하는 어려움이 도 1B에 도시된 타입의 짧은-측부로 마무리된 구성 요소에 대해 도 1D에 도시되어 있다. 상기 구성 요소를 수용하기 위해, 테스트 플레이트(8) 내의 슬롯(6)은 구성 요소의 가장 작은 치수 보다 반드시 더 넓어야 한다. 상기 구성 요소들이 테스트 플레이트의 슬롯(6)으로 들어갈 때, 짧은-측부로 마무리된 구성 요소는 똑바로 일어서려는 경향에 의해서, 상당한 비율의 구성 요소가 테스트 플레이트 슬롯(6) 내에 90。의 잘못 정렬된 배향으로 위치하게 하고 여전히 부정확하게 위치되도록 한다. 게다가, 0.06 인치(1.5mm) 길이와 0.12인치(3.0mm) 폭의 0612 몸체와 같은 짧은-측부로 마무리된 구성 요소는 도 1D에 도시된 하나의 슬롯에 나란히 서있는 두 개의 부정확하게 적재된 0612 구성 요소를 바람직하지 못하게 수용하는 0.13인치(3.3mm) 넓은 테스트 플레이트 슬롯(6)을 필요로 한다.
기다랗게 마무리된 구성 요소를 적재하는데 통상적으로 사용되는 방법은 평평하게 적재되는 기술이다. 도 2A에 도시된 것처럼, 짧은-측부로 마무리된 구성 요소(10)가 우선 평평하게 적재되는 플레이트(14)의 일련의 얕은 포켓(12) 내에 수작업으로 놓여지며, 구성 요소(10)의 단자(16)들은 포켓(12)의 짧은 측부 쪽으로 배향된다. 전형적으로, 스텐레스 스틸로 만들어지는 얇은 슬라이드 플레이트(18)는 평평하게 적재되는 플레이트(14)와 슬롯 형성된 테스트 플레이트 조립체(20)의 사이에 놓여진다. 테스트 플레이트 조립체(20)는, 일단부에 모따기된 슬롯(22)과 타단부에 균일한 폭을 갖는 두 개 부품의 전기적으로 비전도되는 상부 플레이트(21)와, 상기 상부 플레이트(21)의 슬롯(22)에 상응하여 축방향으로 정렬되는 구리 도금된 표면(24)과 더 작은 직경의 슬롯(26)을 갖는 공통 플레이트(23)를 포함한다. 포켓(12)의 긴 측부는 슬롯(22,26)의 장축에 일반적으로 수직하다. 슬라이드 플레이트(18)는 구성 요소(10)를 제자리에 고정하기 위해 평평하게 적재되는 플레이트(14)의 포켓(12)을 덮는다. 플레이트로 조립된 적층은, 도 2B에 도시된 것처럼 반대로 되었으며, 슬라이드 플레이트(18)가 제거됨에 의해서, 도 2B에 도시된 것처럼, 구성 요소(10)가 테스트 플레이트 조립체(20)의 슬롯(22) 안으로 떨어지게 하고 공통 플레이트(23)의 표면(24)을 향하도록 허용한다. 도 2C에 도시된 것처럼, 평평하게 적재된 플레이트(14)와 상부 플레이트(21)의 모따기된 슬롯 부분이 제거되기 때문에, 그에 따라서 공통 전압 또는 전류는 구성 요소(10)의 바닥 단자(16b)가 접촉되는 공통 플레이트(23)의 구리 표면(24)에 적용된다. 따라서, 전기 탐침(28)은 전기 특성을 측정하기 위해 각각의 구성 요소(10)의 상부 단자(16t)에 대해 적용된다.
수작업 적재와 평평한 적재는, 작업자 중심적이며, 다량의 구성 요소의 신속한 테스팅을 손쉽게 이용하지 못한다. 따라서, 테스팅과 작업 공정을 위해 다량의 기다랗게 마무리된 전자 구성 요소의 신속한 적재와 위치 잡기를 허용하는 방법 및 장치에 대한 기술의 필요성이 대두된다.
본 발명은 실험 및 다른 작업을 위한 소형 전자 구성 요소의 적재 및 위치 설정에 관한 것으로, 특히 본 발명은 동일하지 않은 길이와 폭의 크기를 갖는 다수의 전자 구성 요소의 각각을 적재하고 위치시키기 위한 방법 및 장치에 관한 것이다.
도 1A, 도 1B, 및 도 1C는 제각기 긴-측부로 마무리되는 것, 짧은-측부로 마무리되는 것, 및 칩 배열의 구성 요소를 도시하는 도면, 및 도 1D는 하나의 테스트 플레이트 슬롯 내에 나란히 서있는 두 개의 부정확하게 적재된 짧은-측부로 마무리된 구성 요소를 도시하는 도면.
도 2A, 도 2B, 및 도 2C는 긴-측부로 마무리되는 전자 구성 요소를 적재하며 전기적으로 테스트하는 종래의 방법을 도시하는 도면.
도 3은 본 발명의 적재 플레이트, 슈트 플레이트, 및 테스트 플레이트의 바람직한 실시예를 도시하는 횡단면도.
도 4는 상기 도 3의 적재 플레이트, 슈트 플레이트, 및 테스트 플레이트를 도시하는 사시도.
도 5는 상기 도 3 및 도 4의 적재 플레이트, 슈트 플레이트, 및 테스트 플레이트를 도시하는 분해된 등각도.
도 6은 본 발명이 수행될 수 있는 자동화된 로터리 테스터를 도시하는 정면 등각도.
도 7은, 명료함을 위해 다기관을 없애고 테스트 헤드를 구비한 채로, 상기 도 6의 로터리 테스터에 대한 장착 및 회전 제어 메카니즘을 도시하는 횡단측부 사시도.
도 8은 상기 도 6의 로터리 테스터 고정 플레이트에 장착되는 구성 요소를 도시하는 부분 확대된 정면도.
도 9는 상기 도 6의 자동화된 로터리 테스터의 테스트 헤드를 도시하는 부분 등각도.
도 10은 상기 도 9에 도시된 테스트 플레이트에서 수행되는 전자 구성 요소 상에 네 개의 단자 테스트를 수행하도록 위치되는 테스트 헤드중의 하나를 도시하는 확대된 등각도.
도 11은 테스트 후 전자 구성 요소가 분류되는 방법과 테스트 플레이트의 포켓으로부터 구성 요소를 방출하는 방출 압력의 흐름 경로를 도시하는 부분 등각도.
도 12는 상기 도 11의 테스트 플레이트(40) 포켓 내에 구성 요소를 고정하는 진공 압력의 흐름 경로를 도시하는 부분 확대된 등각도.
본 발명의 목적은 전자 구성 요소, 특히 상기 작업의 효율성을 개선하도록 테스팅과 다른 작업을 위해 기다랗게 마무리된 구성 요소들을 적재하고 위치시키기 위한 방법과 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 이점은 테스트 플레이트의 슬롯 내에 기다랗게 마무리된 구성 요소의 적절한 배향을 보장하는 것이다.
본 발명의 다른 이점은 테스트 플레이트의 단일 슬롯 내에 하나의 구성 요소 이상을 적재하는 문제를 해결하는 것이다. 이 문제는 전자 구성 요소의 길이 치수가 폭 치수의 약 60% 미만일 때 특히 공통적이다.
본 발명의 또 다른 이점은, 기다랗게 마무리되는 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위해, 테스팅과 작업 공정에 사용되는 기존 기술 및 장치와 결합되어 사용될 수 있는 방법과 장치를 제공하는 것이다.
상기의 내용과 다른 목적은 본 발명의 방법과 장치에 따라서, 적재 플레이트 내에 기다랗게 마무리된 구성 요소를 똑바로 적재시킴으로써 달성되며, 상기 구성 요소의 위치는 자연적으로 나타내지도록 미리 처리되며, 따라서 상기 구성 요소들을 전기 테스팅을 위해 테스트 플레이트 내에 바람직한 배향으로 돌려 놓는다. 본 발명은 플레이트를 통해 확장하는 수직 슬롯 또는 구멍을 가지며 규칙적인 간격으로 일정한 간격으로 떨어진 적재 플레이트를 제공함으로써 수행되며, 각각의 슬롯은 평행하게 대향되는 측부벽을 갖는다. 상기 슬롯은 적재되는 기다랗게 마무리된 구성 요소의 길이 보다 약간 길며(예를 들면, 0612 구성 요소에 대해 0.005인치(0.13mm)) 폭 보다 약간 큰(예를 들면, 0612 구성 요소에 대해 0.005인치(0.13mm))것이 바람직하다.
대부분의 구성 요소들은 해당 기술 분야에 알려진 방법을 이용하여 적재 플레이트 슬롯 내에 똑바로 세워지도록 위치된다. 예정된 시간에, 구성 요소는 슬롯의 밖으로 및 곡면이 진 슈트(chute)를 통해 떨어지도록 허용된다. 각각의 슈트는 상측 개구부로부터 중간 지점으로 점진적으로 굽어지며 중간 지점으로부터 하측 개구부로 바깥을 향해 나팔 모양으로 벌어진다. 슈트는 중간 지점에서 구성 요소의 짧은 치수 보다 약간 더 큰 폭과 하측 개구부에서 구성 요소의 긴 치수 보다 약간 더 큰 폭을 가지며, 그 결과로 슈트를 통해 통로 상에서, 구성 요소는 약 90。의 각도로 회전된다. 상기 구성 요소가 슈트의 바닥에 존재할 때, 구성 요소는 테스트 플레이트의 얕은 직사각형 포켓으로 들어가서 유지된다. 대략 90。 회전 때문에, 긴 치수의 단부 상에 코팅된 구성 요소의 단자는, 테스트 플레이트의 상부 표면에 평행하게 배향되며, 따라서 종래 수단에 의해 테스트되거나 처리되는데 이용할 수 있다.
본 발명의 슈트는, 적재 플레이트의 통합 부분일 수 있거나, 또는 제 3플레이트 내에 형성되는 것이 바람직하며, 이 이후로 슈트 플레이트라고 하는, 상기 슈트는 적재 플레이트의 슬롯처럼, 및 적재 플레이트의 슬롯에 상응해서 동일한 간격으로 일정한 간격을 갖고 떨어져 있다. 슈트 플레이트는 적재 플레이트의 하부 표면 아래에 직접 위치되며 이에 대해 평행하다.
별도의 슈트 플레이트가 사용될 때, 120。 각도 세그먼트의 형태로 고정된 얇은 필름 플레이트는 슬롯 내에 구성 요소를 유지시키기 위해 적재 플레이트의 하부 표면과 슈트 플레이트의 상부 표면의 사이에 위치되는 것이 바람직하다. 구동 메카니즘은, 적재 플레이트 슬롯 내에 적재되는 구성 요소가 필름 플레이트를 지나 이동하며 상응하는 슈트를 통해 적재 플레이트 슬롯의 밖으로 떨어져서 테스트 플레이트의 포켓 안으로 들어가도록 하는 유니트로서, 적재 플레이트, 슈트 플레이트, 및 테스트 플레이트를 회전시킨다. 구성 요소는 진공 압력의 적용에 의해 테스트 플레이트 포켓 내에 또는 상기 테스트 플레이트 포켓의 하측 단부를 둘러싸기 위해 테스트 플레이트의 아래에 인접하게 위치되는 선택적인 베이스 플레이트의 옆에 유지된다.
바람직한 실시예로, 본 발명의 적재 플레이트, 슈트 플레이트, 및 테스트 플레이트는 원형이며, 적재 플레이트 슬롯, 슈트, 및 테스트 플레이트 포켓은 제각기 적재 플레이트, 슈트 플레이트, 및 테스트 플레이트의 바깥 원주를 따라서 위치된다. 세 개의 플레이트 모두는 동일한 방향으로 및 동일한 속도로 연속적으로 회전한다; 그러나, 테스트 플레이트는 적재 플레이트와 슈트 플레이트에 대해 소정의 각도로 회전한다. 그에 따라서, 테스트 플레이트의 상부 표면은 슈트로부터 테스트 플레이트의 포켓으로 구성 요소의 이송 지점 가까이에 있는 슈트 플레이트의 바닥 표면에 가장 가까운 인접부에 위치되지만 회전이 계속될 때 슈트 플레이트의 하부 표면으로부터 점진적으로 더 멀어져간다. 따라서, 형성된 갭(gap)이 증가할 때, 충분한 틈새는 테스트 및 다른 작업을 위한 구성 요소의 단자에 쉽게 접근하도록 테스트 플레이트, 슈트, 및 적재 플레이트의 사이에 달성된다. 구성 요소가 진공 압력에 의해 포켓 내에 유지될 때, 구성 요소의 하측부는 직접 테스트를 위해 또한 접근가능하다. 따라서, 본 발명은 작업자의 최소한의 노력으로 다량의 전자 구성 요소의 신속한 테스트 및 분류를 하는데 사용될 수 있다.
테스트 플레이트는 테스트되도록 구성 요소의 짧은 치수 보다 약간 더 얇아질 수 있다. 마찬가지로, 테스트 플레이트 포켓의 깊이는 구성 요소의 짧은 치수 보다 더 작아질 수 있다. 구성 요소의 상부, 하부, 및/또는 외부 표면에 대해 돌출부를 제공하는 능력은 테스트 작업과 처리 작업을 용이하게 한다. 예를 들면, 구성 요소 단자에 접촉시키기 위한 전기 테스트 탐침의 설계는 단순화하는 것이며, 구성 요소의 마찰이나 기계적인 위치 잡기 및 파지 작용이 가능해지며, 네 개의 단자 테스트를 가능하게 한다.
본 발명에 대한 상기 언급 및 추가된 특징과 이들을 얻는 방법은 자명할 것이며, 본 발명은 첨부된 도면과 관련해서 해석되는 다음의 더 상세한 설명을 참조 로 하여 가장 잘 이해될 것이다.
본 발명의 방법과 장치를 이용하여 효과적으로 적재되고 위치될 수 있는 전자 구성 요소는 길이와 폭의 크기중의 하나가 다른 것보다 더 큰 표면 장착 캐패시터와 같은 전자 구성 요소를 포함한다. 상기 구성 요소는, 기다랗게 마무리된 구성 요소에 대해 통상적으로 언급되며, 0508, 0612, 1316, 1825, 및 2225로서 지정된 구성 요소 몸체 사이즈를 포함한다. 다단자, 또는 네트워크식 구성 요소 패키지는 전형적으로 상기 기하학적 범주에 또한 들어간다.
본 발명의 바람직한 실시예가 도 3 내지 도 5에 도시되어 있다. 원형 적재 플레이트(30)는 바깥 원주(33)의 주위에 규칙적인 간격으로 일정한 간격을 갖고 떨어진 다수의 슬롯(32)이 제공되며, 각각의 슬롯(32)은 적재 플레이트(30)의 표면에 대해 가로지르며 전형적으로 대략 수직한 긴, 또는 길이의 축으로 똑바로 서게 하기 위해 배향되는 전자 구성 요소(34)를 수용하도록 사이즈화된다. 바람직한 적재 플레이트(30)는 11.1인치(38.2cm)의 직경, 0.013인치(0.33mm)의 에지부 두께, 및 3。씩 일정한 간격을 갖고 떨어진 다음의 인접한 슬롯을 갖는다. 0.035인치(0.89mm) 두께의 0612 구성 요소(34)에 대해, 슬롯(32)은 0.085인치(2.16mm) 길이와 0.05인치(1.27mm)의 깊이이다. 적재 플레이트(30)는 마모 저항성이 있으며 치수적으로 안정한 G-10 에폭시 유리 및 다른 잘 알려진 재료와 같은 비유연성 재료로 형성된다. 적재 플레이트(30)의 바깥 원주(30)는 적재 플레이트(30)로부터 수직하게 위쪽으로 확장하는 원주벽(35)에 의해 둘러싸여질 수 있다.
적재 플레이트(30)의 직경과 같이 동일한 직경을 갖는 슈트 플레이트(36)는 적재 플레이트(30)의 아래에 인접하게 및 평행하게 위치되며, 그 결과로 슈트 플레이트(36)의 바깥 원주(37)는 적재 플레이트(30)의 바깥 원주와 직접 대응된다. 다수의 곡면이 진 슈트(38)는 적재 플레이트(30)의 슬롯(32)과 통해 있는 각각의 슈트(38)와 함께 슈트 플레이트(36)의 바깥 원주(37)를 따라 제공된다. 슈트(38)는 거의 일정한 횡단면 영역을 갖고 상부 개구부로부터 중간 지점으로 점진적으로 굽어지며, 따라서, 상기 중간 지점에서 슈트(38)는 중간 지점으로부터 하측 개구부로 바깥을 향해 나팔 모양으로 벌어진다. 슈트(38)는 중간 지점에서 구성 요소(34)의 짧은-폭의 축 보다 약간 더 큰 폭과 하측 개구부에서 구성 요소(34)의 긴-길이의 축 보다 약간 더 큰 폭을 갖는다. 따라서, 구성 요소(34)의 긴 축은, 슈트(38)를 통과하는 중에 회전됨으로써, 슈트 플레이트(36)의 하부 표면에 대해 평행한 구성 요소(34)의 긴 축 또는 길이 차원으로 배향된다. 슈트(38)의 사이즈와 정확한 크기, 및 그에 따른 슈트 플레이트(36)의 깊이는 테스트되도록 구성 요소의 크기에 따라 변경된다. 슈트 플레이트(36)는 니켈 도금된 스틸과 같은 매끄러운 비정전(nonstatic) 재료로 형성되는 것이 바람직하다. 당업자는 구성 요소(34)가 긴 축을 따라 코팅될 때, 구성 요소(34)는 슈트 플레이트(36)의 하부 표면에 대해 평행한 폭 치수로 배향되도록 회전되어진다는 것을 이해할 것이다.
테스트 플레이트(40)는, 적재 플레이트(30)의 직경과 동일한 직경을 또한 가지며, 슬롯(32)이 적재 플레이트(30)의 원주 주위에 일정한 간격을 갖고 떨어져 있는 간격과 동일한 간격으로 원주(43)의 주위에 일정한 간격을 갖고 떨어진 얕은 포켓(42)이 제공된다. 테스트 플레이트(40)는 테스트 플레이트의 구조에 대한 해당 기술에 사용되는 G-10 에폭시 유리와 같은 어떤 비-전기적 전도 재료로 형성될 수 있다. 각각의 포켓(42)은 테스트 플레이트(40)의 표면에 대해 평행하게 배향되는 긴 축으로 구성 요소(34)를 수용하도록 사이즈화된다. 따라서, 구성 요소(34)의 긴 축은 테스트 플레이트(40)의 표면에 관련하는 초기 횡단 배향으로부터 테스트 플레이트(40)의 포켓(42)에 평행한 배향으로 각이지게 변위된다. 구성 요소(34)가 용이한 접근을 위해 포켓(42)으로부터 돌출되도록 포켓(42)은 구성 요소(34)의 폭 보다 작은 깊이를 갖는 것이 바람직하다. 진공 압력 통로(44)는 포켓(42)에 구성 요소(34)를 유지시키도록 진공 압력의 적용을 허용하기 위해 포켓(42)의 측부벽에 제공될 수 있다.
120。 각도 세그먼트의 형태로 고정된 얇은 필름 플레이트(46)는 슬롯(32)에 구성 요소(34)를 유지시키기 위해 적재 플레이트(30)의 하부 표면과 슈트 플레이트(36)의 상부 표면의 사이에 위치되는 것이 바람직하다. 필름 플레이트(46)가 적재 플레이트(30)의 직경에 대해 외측으로 0.5인치(12.7mm)와 내측으로 1.0인치(25.4mm) 확장하도록 하기 위해 필름 플레이트(46)는 4.0인치(10.2cm)의 내경과 5.5인치(14.0cm)의 외경을 갖도록 0.01인치(0.25mm)의 스텐레스 스틸 심(shim) 재료로 형성되는 것이 바람직하다. 필름 플레이트(46)는 적재 플레이트(30) 원주의 외경 에지부를 따라 고정된다. 필름 플레이트(46)가 정확히 정렬되자 마자, 작동중의 적재 플레이트(30), 슈트 플레이트(36), 및 테스트 플레이트(40)는 슬롯(32) 내에 적재된 구성 요소(34)가 필름 플레이트(46)를 지나 슈트(38)를 통해 슬롯(32)의 밖으로 떨어져 포켓(42) 내로 이동하도록 소정의 유니트로서 함께 회전한다.
적재 플레이트(30), 슈트 플레이트(36), 및 테스트 플레이트(40)는 동일한 시계 방향(48)으로 및 동일한 속도로 연속해서 회전되며, 테스트 플레이트(40)는 후측 방향으로 경사진 평면에 배향되는 것이 바람직하다. 적재 플레이트(30)와 슈트 플레이트(36)는 테스트 플레이트(40)에 대해 약 4。의 각도로 배치되는 평면에서 회전하는 것이 바람직하다. 테스트 플레이트(40)의 상부 표면과 슈트 플레이트(36)의 하부 표면은, 8시 위치 회전 평면의 하부 에지부에서 별개의 가장 가까운 지점을 가지며, 회전이 계속될 때 더 큰 거리로 서로로부터 점진적으로 분리되며, 그에 따라서 테스트 플레이트(40)에 위치되는 구성 요소(34)의 전기 테스트를 위해 접근을 제공하도록 테스트 플레이트(40)와 슈트 플레이트(36)의 사이에 충분한 틈새를 제공한다. 필름 플레이트(46)는 적재 플레이트(30)의 하부 표면에 대해 대략 4시와 8시 위치의 사이로 확장하는 것이 바람직하다. 각이진 지지 세그먼트(52)(도 6 및 도 7)에 의해 지지되는 고정된 얇은 벽(50)은, 적재 플레이트의 바깥측 원주(33)에 인접하게 위치되며, 구성 요소(34)가 적재되는 영역 내에 적재 플레이트(30)의 상부 표면에 수직하게 배향된다.
작동상, 적재 플레이트(30)의 슬롯(32)에 위치되도록 하기 위해 구성 요소(34)는 회전 평면의 하부 에지부측 적재 플레이트(30)의 상부 표면 상에, 즉 적재 플레이트(30)의 약 5시와 6시 위치의 사이에 놓여진다. 적재 플레이트(30)가 회전될 때, 대부분의 구성 요소(34)는 슬롯(32)으로 떨어지고 적재 플레이트(30)의 상부 표면에 수직한 위치에 똑바로 서며, 구성 요소(34)의 양단부측 단자(54)들은, 슬롯(32)의 두 개의 대향 측부벽에 수직하게 배향되며, 중력과 필름 플레이트(46)에 의해 유지된다. 회전중 적재되지 않은 구성 요소가 적재 플레이트(30)의 상부 표면 상으로 이송되는 것을 방지하기 위해, 펄스식(pulsed) 에어 분사(미도시됨)가 구성 요소의 회전에 반대되는 방향으로 구성 요소에 적용되며, 그에 따라서 적재 플레이트(30)의 약 6시 위치에 적재되지 않은 구성 요소를 유지시킨다. 에어 분사는, 전형적으로 약 100 내지 약 200 펄스/초의 속도로 약 5psi 내지 약 10 psi 사이의 공기 압력을 제공하며, 약 0.063인치(0.16cm) 직경의 구리 파이프를 포함할 수 있다.
적재 플레이트(30)가 회전하기 때문에, 적재된 구성 요소(34)는, 필름 플레이트(46)의 위치로부터 멀리 움직이며, 그에 따라서 슬롯(32)의 밖으로 해서 슈트 플레이트(36) 내의 슈트(38)를 통해 떨어질 수 있다. 슈트(38)를 통해 지나는 구성 요소(34)는 긴 축이 테스트 플레이트(40)의 표면에 대해 평행하게 놓이도록 하는 각도를 통해 회전한다. 구성 요소(34)는 테스트 플레이트(40)의 포켓(42) 내로 떨어지며, 거기서 구성 요소(34)는 진공 압력 발생부(미도시됨)의 옆에 통로(44)를 통해 적용되는 진공 압력에 의해 유지된다. 포켓(42) 내로 곧바로 적재되는 구성 요소(34)는 구성 요소(34)가 포켓(42) 내에 정확한 정렬을 나타내도록 시간을 허용하기 위해 네 개의 포켓 위치에 대해 회전된 후 진공 압력이 적용되는 것이 바람직하다. 회전이 계속되기 때문에, 테스트 플레이트(40)의 상부 표면과 슈트 플레이트(36)의 하부 표면 사이에 거리는 테스트와 작동 공정을 위해 구성 요소의 상부 표면과 하부 표면에 접근을 허용하도록 충분히 증가한다.
본 발명의 장치와 방법은 자동화된 로터리 테스터와 같은 다량의 전자 구성 요소의 신속한 테스트와 처리 공정을 위한 해당 기술 분야에 알려진 장치에 유용하게 사용될 수 있다. 도 6 내지 도 12는 적당한 로터리 테스터(100)를 도시하며, 상기의 디자인은 Palomar Systems, Inc. 사의 모델 18 로터리 테스터(캘리포니아, 에스콘디도)의 디자인에 기초를 두고 있다.
도 6은 테스트 스탠드(102) 상에 지지되는 로터리 테스터(100)를 도시하는 등각도이다. 도 6을 참조로 하여, 테스터(100)는, 테스트 스탠드(102)의 최상부 표면(106)의 후측 단부에 똑바로 위치되는 전자 부품 엔클로져(104)와, 상기 전자 부품 엔클로져(104) 상에 중간 지점으로부터 테스트 스탠드(102)의 최상부 표면(106)으로 확장하는 후측으로 경사진 고정 플레이트(108)를 포함한다. 전자 부품 엔클로져(104)는 전기적 변수(예를 들면, 저항, 인덕턴스, 및 캐패시턴스) 테스트 측정 기구(110)와 작동 제어 패널(112)을 수용한다. 고정 플레이트(108)는, 측부벽(114)(하나만 도시됨)에 의해 지지되며, 적재 플레이트(30), 슈트 플레이트(36), 및 테스트 플레이트(40)로 구성되는 회전 가능한 조립체(120)를 위해 장착 표면을 제공한다. 전기 스텝 모터(122)는 테스트 헤드(124,126)로 테스트하기 위해 적절한 배향으로 전자 구성 요소(34)를 적재하는 조립체(120)를 회전시키도록 기계적으로 연결되며, 그에 따라서 상기 전자 구성 요소(34)는 구성 요소 수집통(130)(도 11)으로 공기 분출 다기관(128)에 의해 방출된다. 두 개 테스트 헤드(124,126)의 제공은 동일한 구성 요소(34) 상에 다른 전기 테스트 또는 다른 정밀도로 동일한 전기 테스트의 수행을 가능하게 한다. 테스트 헤드(124,126)와 분출 다기관(128)은 회전 가능한 조립체(120)의 둘레 주위에 각이지게 일정한 간격을 갖고 떨어져 있다. 전자 부품 엔클로져(104)는 회전 가능한 조립체(120)의 움직임을 조정하는 마이크로프로세서-기초의 제어기(미도시됨), 테스트 헤드(124,126)의 기능부, 분출 다기관(128)을 통해 공기를 이송하는 작동부, 및 다른 시스템 기능부를 또한 수용한다.
테스트 스탠드(102)의 두 개의 정면 레그들 사이에 위치되는 기구 패널(132)은, 테스트에 앞서 테스트 플레이트(40)의 포켓(42) 내에 적절히 배향되는 구성 요소(34)를 고정하기 위해, 테스터(100)에 외적으로 공급되는 진공 압력의 충분한 감시를 제공하는 진공 압력 센서(134)와 진공 게이지(136)를 지지한다.
도 7은 회전 가능한 조립체(120)를 위한 장착 및 회전 제어 메카니즘을 도시하는 로터리 테스터(100)를 도시하는 부분 횡측단면 사시도이다. 도 7을 참조로 하여, 중공형 슬리브(150)의 일단부는, 고정 플레이트(108)에 스크류(152)에 의해 고정되며, 고정 플레이트(108)로부터 수직으로 확장한다. 슬리브(150)의 타단부는 원형 베이스 플레이트(156)를 지지하는 숄더부(shoulder)(154)를 갖는다. 회전 가능한 주 구동 샤프트(158)는 슬리브(150)와 고정 플레이트(108)를 통해 확장한다.
베이스 플레이트(156)는 고정된 각도의 암(162)이 장착되는 원주 벽(160)을 갖는다. 각도 암(162)은 각도 암(162)에 설치되는 일정한 간격으로 떨어진 베어링(168,170)에 의해 회전하도록 저널 결합(journaled)되는 각도 구동 샤프트(166)의 아래측으로 경사진 자유단(164)의 가까이를 지지한다. 각도 구동 샤프트(166)는 인디아나주, 미시간 시티의, KTR Corporation 으로부터 부품 번호 M-28로서 구입 할 수 있는 유연한 샤프트 구동 커플링(172)의 구성 요소를 구성한다. 각도 구동 샤프트(166)는 최상부 장착 플레이트(176)가 고정되는 상단부(174)를 갖는다. 장착 플레이트(176)는 각도 구동 샤프트(166)가 회전할 때 정렬된 상응하는 슬롯(32) 및 슈트(38)와 함께 회전하게 하기 위해 적재 플레이트(30)와 슈트 플레이트(36)를 통해 지나는 두 개의 다웰(dowel) 핀(178)을 갖는다. 적재 플레이트(30)의 정면으로부터 바깥측으로 돌출되는 한 쌍의 손잡이부(180)는 적재 플레이트(30), 슈트 플레이트(36), 및 장착 플레이트(176)의 설치 및 제거를 용이하게 한다. 각도 구동 샤프트(166)는 샤프트 구동 커플링(172)의 하우징(188) 내에 위치되는 기어(186)로 종료되는 하단부(184)를 갖는다.
주 구동 샤프트(158)는 슬리브(150) 내에 설치되는 일정한 간격으로 떨어진 베어링(190,192)에 의한 회전을 위해 저널 결합된다. 주 구동 샤프트(158)는, 중앙 스터브(198)가 확장하며 원주 벽(200)이 각이진 플랜지(202)를 지지하는, 최상부 플레이트(196)를 이송하는 상단부(194)를 구비한다. 중앙 스터브(198)는 하우징(188) 내에 기어(206) 위치로 회전 운동을 전하기 위해 샤프트 구동 커플링(172)의 구동 컵(204) 내에 끼워 맞춰진다. 테스트 플레이트(40)는 테스트 플레이트(40)와 고정 플레이트(108)가 서로에 대해 평행한 평면으로 있도록 다웰핀(208)에 의해 플랜지(202)에 고정된다. 주 구동 샤프트(158)는 구동 풀리(212)내로 확장되며 구동 풀리(212)에 의해 회전되는 하단부(210)를 구비한다. 따라서, 구동 풀리(212)가 주 구동 샤프트(158)를 회전시킬 때, 테스트 플레이트(40)는 고정 플레이트(108)의 평면에 대해 평행한 평면의 축(214)에 대해 회전하며, 슈트 플레이트(36)와 적재 플레이트(30)는 축(216)에 대해 함께 회전한다.
테스트 플레이트(40), 슈트 플레이트(36), 및 적재 플레이트(30)가 일제히 회전한다고 할지라도, 회전 축(214,216)은 바람직하게는 약 4。 각도 편심량이 각도 암(162)의 자유단(164)에 대한 각도 경사와 동일한 샤프트 구동 커플링(172)의 작동에 의해 각도 변위된다. 고정 플레이트(108)의 후측 경사와 관련되는 축(214,216)의 각도 변위는 전자 부품(34)을 세 개의 플레이트 모두가 가장 가깝게 모이는 지점 가까이에 적재 플레이트(30)의 슬롯(32) 내로 중력의 도움을 받아 초기 적재하는 것을 허용한다. 축(214,216)의 각도 변위는, 테스트 플레이트(40)가 슈트 플레이트(36)와 적재 플레이트(30)로부터 가장 멀어지는 지점 가까이에 테스트 플레이트(40)의 포켓(42)에 위치되는, 전자 구성 요소(34)의 잇따른 테스트를 허용한다.
회전 가능한 조립체(120)는 테스트 플레이트(40)의 각각의 포켓(42)이 테스트 헤드(124,126)와 정밀하게 바르게 맞춰져 멈추게 하기 위해 회전적으로 표시된다. 구동 풀리(212)는 고정 플레이트(108) 상에 장착되는 전기 스텝 모터(122)의 출력 샤프트(224) 상에 장착된 풀리(222)에 순환식 벨트(220)에 의해 기계적으로 결합된다. 주 구동 샤프트(158)는 원형의 표시 플레이트(226)를 또한 장착한다. 표시 플레이트(226)는 적재 플레이트(30)의 슬롯(32)이 있기 때문에 동일한 개수의 개구부(228)로 주변 에지부에 인접하게 제공되는 것이 바람직하다. 당업자는 인코더 플레이트(226)가 적재 플레이트 슬롯(32)과 동일한 개수의 개구부(228)를 가질 필요가 없다는 것을 인식할 것이다. 예를 들면, 적재 플레이트 슬롯(32)만큼에 절반의 개구부(228)를 갖는 인코더 플레이트(226)는 다른 모든 표시 이동의 적재 플레이트 위치를 체크할 것이다.
표시 플레이트(226)의 회전중 각각의 표시 플레이트 개구부(228)로 해서 바로 맞추기 작업을 행하는 것은 광전기 제어 유니트(230)이다. 유니트(230)의 발광부(232), 즉 발광 다이오드는 표시 플레이트(226)의 일측부 상에 위치되는 것이 바람직하며, 광 탐지기(234)는 표시 플레이트(226)의 타측부 상에 위치되는 것이 바람직하다. 따라서, 개구부(228)들 중의 하나가 광전기 제어 유니트(230)에 바로 맞춰질 때까지 표시 플레이트(226)가 회전될 때, 발광부(232)에 의해 방사되는 빛은, 개구부(228)를 통해 지나며 탐지기(234)에 의해 감지된다. 그에 따라서, 탐지기(234)는 테스트 플레이트(40)를 정지시키기 위해 스텝 모터(122)의 전기 회로를 오픈하도록 활성화되며, 그 결과로 포켓(42)은 테스트 헤드(124,126)와 정밀 정렬되어 바로 맞춰진다.
도 8은 고정 플레이트(108) 상에 회전 가능한 조립체(120)의 원주 주위에 테스트 헤드(124)와 분출 다기관(128)의 상대적인 각도 배치를 도시한다. 도 8을 참조로 하여, 테스트 헤드(124,126)는 테스트 플레이트(40)의 약 12시 위치에 고정 플레이트(108) 상에 장착되며, 거기서 테스트 플레이트 포켓(42)을 점유하는 구성 요소(34)의 단자에 접근을 위한 테스트 플레이트(40)와 슈트 플레이트(36)의 위치에 충분한 틈새가 있다. 필름 플레이트(46)는 세 개의 일정한 간격으로 각이지게 떨어진 탭(250)을 구비하는데, 상기 탭(250)은 회전 가능한 조립체(120)가 회전할 때 4시와 8시 위치의 사이에 필름 플레이트(46)를 고정되게 유지하는 고정된 얇은 벽(50)의 슬롯(252) 안에 끼워 맞춰진다.
분출 다기관(128)은 테스트 플레이트(40)의 약 1시와 3시 위치의 사이에 고정 플레이트(108) 상에 장착된다. 유연한 공기관(256)(도 11)은 분출 노즐바(258)의 주위에 각이지게 일정한 간격으로 떨어져 있으며 그 위에 지지되는 5개의 공기 끼워 맞춤부(254)에 걸쳐 끼워 맞춰진다. 공기 끼워 맞춤부(254)는, 전기 테스트의 완료시, 포켓(42)에 구성 요소(34)를 고정하는 진공 압력을 극복하는 에어 블라스트(air blast)를 전달하도록 테스트 플레이트(40)의 다른 연속적인 포켓(42)과 정렬된다. 상기 전기적 변수의 값은 공기 끼워 맞춤부(254)중의 어느 하나가 상응하는 포켓(42)을 점유하는 구성 요소(34)에 에어 블라스트를 전달하는 제어기에 의한 명령으로 측정된다.
위에 기술된 바와 같이, 테스트 플레이트(40)는 바깥 원주를 따라서 다수의 일정한 간격으로 떨어진 포켓(42)이 제공된다. 도 9는 테스트 플레이트(40)의 포켓(42)을 점유하는 전자 구성 요소(34)에 접촉하는 테스트 헤드(124,126)의 구조와 디자인의 상세도를 도시하며, 도 10은 전자 구성 요소(34)들 중의 하나를 네 개의 단자로 테스트하는 중의 위치에 테스트 헤드(124)를 도시한다. 테스트 헤드(124,126)가 비슷한 구조이기 때문에, 다음의 설명은 테스트 헤드(124)만을 참조 내용으로 하여 나타난다.
도 9와 도 10을 참조로 하여, 테스트 헤드(124)는 고정 플레이트(108)에 볼트 결합되는 테스트부 베이스 플레이트(272) 상에 지지되는 베이스 섹션(270)을 포함한다. 위치 조정 손잡이(276)는 테스트 플레이트(40)와 관련하여 고정 플레이트(108) 상의 바람직한 위치에 베이스 섹션(270)을 풀어질 수 있게 클램핑하기 위해 베이스 플레이트(272)와 베이스 섹션(270)을 통해 확장하는 로드(미도시됨)와 맞물린다. Y-축 위치 조정 블록(278)은 베이스 섹션(270)의 가이드(미도시됨) 상에 슬라이딩될 수 있게 위치되며, X-축 위치 조정 블록(280)은 Y-축 위치 조정 블록(278)의 가이드(미도시됨) 상에 슬라이딩될 수 있게 위치된다. 위치 조정 블록(278)은 위치 조정 손잡이(미도시됨)의 수동 작동에 응답하여 Y-축 방향을 따라 움직이며, 위치 조정 블록(280)은 위치 조정 손잡이(282)의 수동 작동에 응답하여 X-축 방향을 따라 움직인다. 상기 기술된 테스트 헤드(124)의 특징은 Palomar Systems 의 모델 18 로터리 테스터에 설치된 테스트 헤드의 특징과 유사하다.
X-축 위치 조정 블록(280)은 록커 암(286)이 피봇핀(288)에 대한 피봇 운동을 위해 장착되는 요크(284)를 이동시킨다. 록커 암(286)의 일단부는 X-축 위치 조정 블록(280)에 장착되는 솔레노이드(292)로부터 확장하는 플런저(290)에 볼트 결합된다. 록커 암(286)의 타단부는 두 개의 일정한 간격으로 떨어진 상부 접촉부(296)가 테스트 중에 구성 요소(34) 단자(54)의 최상부 표면에 접촉하도록 확장하는 접촉부(294)를 지닌다. 접촉부(294)는 상부 접촉부(296)를 고정하는 유리 섬유로 보강되는 폴리에스테르와 같은 전기적으로 절연되는 재료로 이루어진다. X-축 위치 조정 블록(280)에 견고하게 장착되는 직각 기판에 장착되는 브래킷(300)은 두 개의 일정한 간격으로 떨어진 하측 접촉부(304)가 테스트 중에 구성 요소(34) 단자의 바닥 표면에 접촉하도록 위치되는 전기적 절연 기판(302)을 지지한다. 따라서, 위치 조정 블록(278,280)의 수동 운동은 포켓(42) 내로 이송되는 구성 요소(34)와 전기적으로 접촉되는 것을 보장하기 위해 적절한 위치의 접촉부(294)를 테스트 플레이트(40)와 정렬시킨다. X-축 위치 조정 블록(280)은 테스트 플레이트(40)에 대해 접촉부(94)를 방사상으로 이동시키며, Y-축 위치 조정 블록(278)은 테스트 플레이트(40)의 주변에 대해 접촉부(294)를 접선방향으로 이동시킨다.
도 10을 특별히 참조하여, 테스트 헤드(124)는 다음과 같이 작동한다. 자동화된 테스트가 시작되기 전, 테스트 플레이트(40)가 테스트를 위한 정렬로 포켓(42)을 표시하기 위해 회전할 때 테스트 중에 하측 접촉부(304)는 구성 요소(34) 단자의 하측부를 슬라이딩되게 맞물리도록 작업자는 X-축 위치 조정 손잡이와 Y-축 위치 조정 손잡이를 조정함으로써 테스트 헤드(124)를 수작업으로 위치시킨다. 제어기는, 플런저(290)를 뒤로 끌도록 솔레노이드(292)를 작동시키며, 그에 따라서 테스트를 위해 구성 요소(34)를 나타내도록 회전할 때, 테스트 플레이트(40)로부터 떨어져 있는 상부 접촉부(296)를 들어 올리기 위해 접촉부(294)를 상방향으로 선회되게 이동시킨다. 요크(284)의 양측부 상에 위치되는 광다이오드 발광기(310)와 탐지기(312)는 이들 사이에 제어기가 테스트 플레이트(40)를 표시하기 전 록커 암(286)이 선회적으로 상방향으로 움직임 것을 표시하는 손상되지 않은 광선빔 경로를 탐지한다. 테스트 플레이트(40)의 포켓(42)이 제자리로 표시되자 마자, 제어기는, 플런저(290)가 확장을 일으키도록 솔레노이드(292)를 해제시키며, 그에 따라서 테스트를 위해 구성 요소(34)의 단자(54) 상으로 상부 접촉부(296)를 배치하기 위해 접촉부(294)를 아랫방향으로 선회적으로 이동시킨다. X-축 위치 조정 블록(280) 상에 지지되고 요크(284)를 통해 확장하는 고무 범퍼(314)는 록커 암(286)을 위한 소음 감쇠기를 제공한다.
상부 접촉부(296)와 하부 접촉부(304)가 구성 요소(34)의 길이 차원의 단부 상에 코팅되는 단자(54)의 일부에 접촉되도록 구성 요소(34)의 위치 조정은 테스트 측정 기구(110)에 의해 네 개의 단자를 테스트할 수 있게 한다. 예를 들면, 전기 저항을 위한 네 개 단자의 테스트는 전형적으로 2-단계의 과정이다. 제 1단계는, 단자 코팅(54)의 접촉 저항을 측정하고 상기 단자 코팅(54)에 접촉하는 상부 접촉부(296)와 하부 접촉부(304)의 양단에 걸리는 전기 신호를 각각의 단자 코팅(54)에 적용하는 단계를 수반한다. 제 2단계는, 구성 요소(34)의 전체 저항을 측정하고 상기 구성 요소(34)의 양단측 단자 코팅(54)에 쌍으로 위치되는 상부 접촉부(296)와 하부 접촉부(304)에 전기 신호를 상기 단자 코팅(54)의 양단에 걸리도록 적용하는 단계를 수반한다. 구성 요소(34) 몸체의 저항은 상기 측정된 두 개 저항 값의 차이가 될 것이다. 안정한 테스트 측정 기구(110)는 Hewlett Packard Models 4278A, 4284A, 및 4286A의 정밀 LCR 미터기들중의 하나일 것이며, 모델 번호는 측정 신호 주파수 범위를 차별화한다.
당업자는 구성 요소(34)의 길이 차원 상부 표면 및 하부 표면에 제공되는 탐침 접근 로터리 테스터(100)가 도 1C에 도시된 타입의 칩 배열 구성 요소를 테스트하는데 특히 이점이 있을 것이라는 것을 인식할 것이다.
로터리 테스터(100)는 전기 변수가 바람직한 값으로부터 변경되는 정도에 따라 테스트된 구성 요소(34)를 분류하는 것을 가능하게 하도록 분출 다기관(128)이 갖춰진다. 도 11 및 도 12는, 테스트 후 구성 요소(34)가 분류되는 방법과, 제각기 테스트 플레이트(40)의 포켓(42)으로부터 구성 요소(34)를 고정하고 구성 요소(34)를 방출하는 진공 및 방출 압력의 흐름 경로를 도시한다. 도 11 및 도 12를 특히 참조 내용으로 하여, 공기 끼워 맞춤부(254)는 테스트 헤드(124,126)(회전 가능한 조립체(120)의 회전(48) 방향으로)로부터 아래쪽의 분출 노즐 바(258) 상에 지지된다. 인접한 공기 끼워 맞춤부(254)들 사이의 틈은 인접한 포켓(42)들 사이의 틈과 동일하다. 공기 끼워 맞춤부(254)는 분출 다기관(128)의 수집통 출구(binning outlets)(332)에 바르게 맞춰지도록 배치된다. 상기 기술된 로터리 테스터(100)의 전형적인 형태로, 125개의 포켓(42)은 125개의 진공 압력 통로에 바르게 맞춰져 테스트 플레이트(40)의 원주 주위에 제공된다.
각각의 공기 끼워 맞춤부(254)는 유연한 공기관(256)과 솔레노이드 밸브(미도시됨)를 통해 압축 공기의 발생부(미도시됨)와 통해 있다. 따라서, 솔레노이드 밸브가 작동되어질 때, 공기 분출(puff)은, 포켓(42)에 구성 요소(34)를 고정하는 진공 압력을 극복하기 위해, 끼워 맞춤부(254)로부터 분출 노즐 바(258) 내에 채널(336)의 방출 개구부(334)를 통해 분출되며, 그에 따라서 포켓(42)으로부터 테스트된 구성 요소(34)를 방출시킨다.
진공 압력은 진공 압력의 발생부(미도시됨)로부터 테스트 플레이트(40)의 진공 통로(44)로 전달된다. 진공 압력 발생부에 연결되는 진공 공급관(340)은 원형 베이스 플레이트(156)(도 7)에 의해 지지되고 고정된 환형 진공링(344)을 지지하는 환형 장착 플레이트(342)를 통한 구멍에서 종료된다. 진공링(344)은 테스트 플레이트(40)가 테스트 플레이트(340)의 각각의 통로(44)를 위한 입구부(348)에 대해 폐쇄된 진공 전달 채널을 형성하도록 걸쳐지는 연속된 환형 그루브(346)를 갖는다. 환형 그루브(346)와 입구부(348)는 축(214)으로부터 측정되는 동일한 반경을 갖는다; 그러므로, 진공 압력은 테스트 플레이트(40)가 방향(48)으로 회전하는 만큼 테스트 플레이트(40)가 진공링(344)의 최상부 표면 상으로 미끄러지는 통로(44)에 연속적으로 공급된다.
각각의 공기 끼워 맞춤부(254)에 또한 바르게 맞춰지지만, 구성 요소 방출 관(338)의 입구 단부는 분출 다기관(128)의 하측부에 존재한다. 관(336)의 출구 단부는 테스트 스탠드(102)의 최상부 표면(106)의 일부분 상에 지지되는 수집통(130)과 바로 맞춰진다. 따라서, 전기 특성의 동일한 크기 범위 내에 있도록 테스트되는 모든 구성 요소는 동일한 수집통(130)에 모아진다. 모든 수집통(130)은 그룹으로서 함께 유지된다. 도시된 실시예가 5개의 공기 노즐과 수집 용기를 제공하지만, 어떤 바람직한 개수가 제공될 수 있다는 것이 인식될 것이다.
여기에 기술된 자동화된 로터리 테스터(100)의 작동은 전자 부품 엔클로져(104)에 수용되는 마이크로프로세서-기초의 제어기에 의해 국부적으로 제어되는 것이 바람직하다. 장치의 자동 작동에서, 작업자는, 테스트 측정 기구에 전기 변수를 설정하고, 테스트되도록 공급부에 구성 요소(34)를 채우며, 주동력 스위치를 켠다. 제어기는, 플런저(290)를 끌어 당기기 위해 솔레노이드(292)를 작동하도록 우선 작동하며, 그에 따라서 테스트 플레이트(40)로부터 접촉부(294)를 들어 올린다. 상기 끌어당기는 운동은 접촉부(294)가 완전히 들어 올려지는 위치에 있음을 표시하는 광전자 제어 유니트(230)로부터 신호 발생시 멈춘다.
따라서, 제어기는 적재 플레이트(30), 슈트 플레이트(36), 및 테스트 플레이트(40)를 시계 방향(48)으로 회전시키기 위해 스텝 모터(122)를 작동시킨다. 회전은 광전자 제어 유니트 탐지기(234)로부터 발생된 신호가 두 개의 포켓(40)이 헤드(124,126)와 정렬됨을 표시할 때까지 계속한다. 따라서, 제어기는 테스트 헤드(124,126)의 상부 접촉부(294) 쌍을 구성 요소(34)의 제각각의 단자(54)와 전기 접촉되는 쪽으로 낮춰지도록 솔레노이드(292)를 작동시킨다.
테스트 헤드(124,126)가 단자(54)와 전기 접촉되는 쪽으로 확장하기 때문에, 제어기는 상기 나타내어진 두 개의 구성 요소(34)가 테스트할 준비가 되었다는 신호를 테스트 기구(110)에 전달한다. 회전 가능한 조립체(120)는 테스트 기구(110)로부터 테스트가 완료되었다는 신호가 제어기에 의해 수신될 때까지 움직이지 않는다. 따라서, 제어기는, 플런저(290)를 끌어 당기기 위해 솔레노이드(292)를 작동시키며, 그에 따라서 테스트 플레이트(40)로부터 접촉부(294)를 들어 올린다. 탐침 끌어 당김이 완료되었다고 가정할 때, 제어기는 다음의 테스트 위치에 대해 회전 가능한 조립체(120)를 시계방향으로 표시하기 위해 스텝 모터(122)를 작동시키며, 그 후에 앞서의 절차는 반복된다.
테스트된 구성 요소(34)는 분류 메카니즘의 공기 끼워 맞춤부(254)와 바로 맞춰질때까지 테스트 플레이트(40)와 계단식으로 움직인다. 제어기는, 특정한 구성 요소(34)에 대한 테스트 결과를 기억하고, 구성 요소(34)를 수집통(130) 안으로 방출하기 위해 적합한 공기 솔레노이드를 작동시키도록 기능한다.
상기 기술된 로터리 테스터(100)가 원주의 주위에 125개의 포켓을 구비하는 테스트 플레이트(40)를 사용하기 때문에, 테스트 및 분류 작업은 작업자의 참여없이 완전 자동으로 시간당 20,000개 이상의 소형 전자 부품들을 처리할 수 있다.
본 발명이 특정의 실시예에 대해 기술되어진 반면에, 본 발명은 추가적인 실시예에 받아들여질 수 있으며 여기에 기술된 어떤 실시예가 본 발명의 기본적인 원리로부터 이탈함이 없이 상당히 변경될 수 있다는 것이 당업자에게 자명할 것이다. 예를 들면, 적재 플레이트, 슈트 플레이트, 및 테스트 플레이트는 직사각형 형태일 수 있으며, 적재 플레이트 슬롯, 슈트 플레이트 포켓, 및 테스트 플레이트 포켓은 매트릭스 또는 직사각형 배열로 배치된다. 상기 플레이트의 배치는 묶음(batch) 처리 작업으로 자동 적재하는데 유용하게 사용될 수 있다. 마찬가지로, 본 발명이 구성 요소를 테스트하고 분류하기 위한 장치와 관련하여 기술되어진 반면에, 본 발명의 장치와 방법은 전자 구성 요소를 마무리하는 것과 같은 다른 작업에 유용하게 사용될 수 있다. 게다가, 본 발명은 마무리되지 않은 기다란 구성 요소를 배향하고 처리하는데 유용하다. 그러므로, 본 발명의 범위는 다음의 청구항들에 의해서만 결정되어야 한다.

Claims (22)

  1. 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 장치로서, 상기 전자 구성 요소의 짧은 축과 긴 축을 한정하는 동일하지 않은 길이와 폭 크기를 갖는 상기 구성 요소의 각각을 적재하고 위치시키기 위한 장치에 있어서,
    확장하는 하나 이상의 슬롯을 구비하는 적재 플레이트로서, 상기 슬롯이 두 개의 대향되는 측부벽을 구비하고 상기 적재 플레이트의 상부 표면을 가로 지르는 배향의 긴 축에 대해 구성 요소를 수용하고 고정하기 위해 사이즈화되는, 상기 슬롯을 구비하는 적재 플레이트와;
    하나 이상의 곡면이 진 슈트로서, 상기 슈트는 상기 슬롯의 아래에 인접하게 위치되며 상기 슬롯과 통해 있으며, 상기 슈트는 상측 개구부로부터 중간 지점으로 굽어 있으며 상기 중간 지점으로부터 하측 개구부로 바깥측을 향해 나팔 모양으로 벌어져 있으며, 상기 슈트는, 상기 구성 요소가 상기 슈트를 통해 통과하는 중에 약 90。의 각도로 회전되기 위해, 상기 구성 요소의 짧은 축 보다 더 큰 중간 지점에 소정의 폭과 상기 구성 요소의 긴 축 보다 약간 더 큰 하측 개구부에 소정의 폭을 갖는, 상기 슈트와; 그리고
    상부 표면 및 하부 표면과, 하나 이상의 포켓을 구비하는 테스트 플레이트로서, 상기 포켓은, 상기 곡면이 진 슈트의 아래에 인접하게 위치될 수 있고 상기 곡면이 진 슈트와 통해 있으며, 상기 테스트 플레이트의 상부 표면과 하부 표면에 일반적으로 평행한 긴축에 대해 구성 요소를 수용하고 고정하도록 형성되는, 상기 포켓을 구비하는 테스트 플레이트를, 포함하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 장치.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 슈트는 상기 적재 플레이트의 아래에 인접하게 위치되며 상기 적재 플레이트에 대해 평행한 슈트 플레이트에 형성되는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 장치.
  3. 제 2항에 있어서, 상기 적재 플레이트, 슈트 플레이트, 및 테스트 플레이트의 정렬중 상기 슬롯 내에 구성 요소를 유지시키기 위해 상기 적재 플레이트와 상기 슈트 플레이트의 사이에 위치되는 고정 필름 플레이트를 추가적으로 포함하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 장치.
  4. 제 1항에 있어서, 상기 구성 요소가 상기 테스트 플레이트의 상기 하부 표면으로부터 노출되는 상기 구성 요소의 하측 긴 축 측부로 상기 포켓을 유지하도록, 상기 구성 요소는 상기 긴 축을 따라 확장하는 대향 측부를 구비하며 상기 포켓은 상기 상부 표면으로부터 상기 하부 표면으로 테스트 플레이트를 통해 확장하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 장치.
  5. 제 4항에 있어서, 상기 테스트 플레이트는 상기 포켓 내에 상기 구성 요소를 유지시키도록 진공 압력의 적용을 위해 상기 포켓과 통해 있는 하나 이상의 진공 통로를 추가적으로 포함하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 장치.
  6. 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 장치로서, 상기 구성 요소의 각각의 대향되는 짧은 축과 대향되는 긴 축을 따라 짧은 축과 긴 축을 한정하는 동일하지 않은 길이와 폭 크기를 갖는 상기 구성 요소의 각각을 적재하고 위치시키기 위한 장치에 있어서,
    상기 적재 플레이트의 바깥측 원주 상에 위치되며 상기 적재 플레이트를 통해 확장하는 하나 이상의 슬롯을 구비하는 원형 적재 플레이트로서, 상기 슬롯이 두 개의 대향되는 측부벽을 구비하고 상기 적재 플레이트의 상부 표면을 가로 지르는 배향의 긴 축에 대해 구성 요소를 수용하고 고정하기 위해 사이즈화되는, 상기 하나 이상의 슬롯을 구비하는 원형 적재 플레이트와;
    하나 이상의 곡면이 진 슈트로서, 상기 슈트는 상기 슬롯의 아래에 인접하게 위치되며 상기 슬롯과 통해 있으며, 상기 슈트는 상부 개구부로부터 중간 지점으로추가적으로 굽어 있으며 상기 중간 지점으로부터 하측 개구부로 바깥측을 향해 나팔 모양으로 벌어져 있으며, 상기 슈트는, 상기 구성 요소가 상기 슈트를 통해 통과하는 중에 약 90。의 각도로 회전되기 위해, 상기 구성 요소의 짧은 축 보다 더 큰 중간 지점에 소정의 폭과 상기 구성 요소의 긴 축 보다 더 큰 하측 개구부에 소정의 폭을 갖는, 상기 슈트와; 그리고
    상기 슈트 플레이트의 바깥 원주 상에 위치되는 상부 표면 및 하부 표면과, 하나 이상의 포켓을 구비하는 원형 테스트 플레이트로서, 상기 포켓은, 상기 곡면이 진 슈트의 아래에 인접하게 위치될 수 있고 상기 곡면이 진 슈트와 통해 있으며, 상기 테스트 플레이트의 상부 표면과 하부 표면에 일반적으로 평행한 긴 축에 대해 구성 요소를 수용하고 고정하도록 형성되는, 상기 원형 테스트 플레이트를 포함함으로써,
    상기 슈트를 빠져나올 때, 상기 구성 요소가 상기 테스트 플레이트의 표면들중의 하나로부터 노출된 상기 구성 요소의 상측 긴 축 측부에 대해 상기 포켓 내에 수용되고 유지되는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 장치.
  7. 제 6항에 있어서, 상기 슈트는 상기 적재 플레이트의 아래에 인접하게 위치되며 상기 적재 플레이트에 대해 평행한 원형 슈트 플레이트의 바깥 원주에 형성되는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 장치.
  8. 제 7항에 있어서, 상기 적재 플레이트, 슈트 플레이트, 및 테스트 플레이트는 동일한 방향 및 동일한 속력으로 회전하며, 상기 테스트 플레이트는 상기 포켓 내에 상기 구성 요소의 유지에 잇따라 상기 테스트 플레이트의 상부 표면 상에 상기 구성 요소에 접근하기 위해 상기 적재 플레이트와 상기 슈트 플레이트로부터 멀어지게 각이지는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 장치.
  9. 제 7항에 있어서, 상기 적재 플레이트, 슈트 플레이트, 및 테스트 플레이트의 정렬중 상기 슬롯 내에 상기 구성 요소를 유지하기 위해 상기 적재 플레이트와 상기 슈트 플레이트의 사이에 위치되는 고정된 필름 플레이트를 추가적으로 포함하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 장치.
  10. 제 6항에 있어서, 상기 구성 요소가 상기 테스트 플레이트의 하부 표면으로부터 노출된 상기 구성 요소의 하측 긴 축 측부에 대해 상기 포켓 내에 유지되도록 상기 포켓이 상기 상부 표면으로부터 상기 하부 표면으로 상기 테스트 플레이트를 통해 확장하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 장치.
  11. 제 10항에 있어서, 상기 테스트 플레이트는 상기 포켓 내에 상기 구성 요소를 유지시키도록 진공 압력의 적용을 위해 상기 포켓과 통해 있는 하나 이상의 진공 통로를 추가적으로 포함하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 장치.
  12. 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 방법으로서, 상기 구성 요소의 각각의 대향되는 짧은 축과 대향되는 긴 축을 따라 짧은 축과 긴 축을 한정하는 동일하지 않은 길이와 폭 크기를 갖는 상기 구성 요소의 각각을 적재하고 위치시키기 위한 방법에 있어서,
    확장하는 하나 이상의 슬롯을 구비하는 적재 플레이트를 제공하는 단계로서, 상기 슬롯이 두 개의 대향되는 측부벽을 구비하고 상기 적재 플레이트의 상부 표면을 가로 지르는 배향의 긴 축에 대해 구성 요소를 수용하고 고정하기 위해 사이즈화되는, 상기 적재 플레이트를 제공하는 단계와;
    상기 측부벽에 접하는 상기 구성 요소의 긴 축 측부에 대해 상기 슬롯 내에 상기 구성 요소를 위치시키고 유지시키는 단계와;
    상기 슬롯의 아래에 인접하게 및 상기 슬롯과 통하도록 곡면이 진 슈트를 위치시키는 단계로서, 상기 슈트는 상부 개구부로부터 중간 지점으로 추가적으로 굽어 있으며 상기 중간 지점으로부터 하측 개구부로 바깥측을 향해 나팔 모양으로 벌어져 있으며, 상기 슈트는, 상기 구성 요소가 상기 슈트를 통해 통과하는 중에 약 90。의 각도로 회전되기 위해, 상기 구성 요소의 짧은 축 보다 더 큰 중간 지점에 소정의 폭과 상기 구성 요소의 긴 축 보다 더 큰 하측 개구부에 소정의 폭을 갖는, 상기 곡면이 진 슈트를 위치시키는 단계와;
    상부 표면 및 하부 표면과, 하나 이상의 포켓을 구비하는 테스트 플레이트를 제공하는 단계로서, 상기 포켓은, 상기 곡면이 진 슈트의 아래에 인접하게 위치될 수 있고 상기 곡면이 진 슈트와 통해 있으며, 상기 구성 요소를 수용하고 고정하도록 형성되는, 상기 테스트 플레이트를 제공하는 단계와;
    상기 구성 요소가 상기 슬롯의 밖으로 떨어져서, 상기 곡면이 진 슈트를 통해 지나며 상기 포켓 내로 들어가도록 허용하는 단계와; 그리고
    상기 테스트 플레이트의 상부 표면과 하부 표면에 대해 일반적으로 평행한 상기 구성 요소의 긴 축 및 상기 테스트 플레이트의 상기 상부 표면으로부터 노출된 상기 구성 요소의 상측 긴 축 측부에 대해 상기 포켓 내에 상기 구성 요소를 유지시키는 단계를, 포함하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 방법.
  13. 제 12항에 있어서, 상기 슈트는 슈트 플레이트에 형성되고 상기 방법은 상기 적재 플레이트의 아래에 인접하게 및 상기 적재 플레이트에 대해 평행하게 상기 슈트 플레이트를 위치시키는 단계를 추가적으로 포함하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 방법.
  14. 제 13항에 있어서, 상기 적재 플레이트, 슈트 플레이트, 및 테스트 플레이트의 정렬중 상기 슬롯 내에 상기 구성 요소를 유지하기 위해 상기 적재 플레이트와 상기 슈트 플레이트의 사이에 고정된 필름 플레이트를 위치시키는 단계를 추가적으로 포함하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 방법.
  15. 제 12항에 있어서, 상기 구성 요소가 상기 테스트 플레이트의 하부 표면으로부터 노출된 상기 구성 요소의 하측 긴 축 측부에 대해 상기 포켓 내에 유지되도록 상기 포켓은 상기 상부 표면으로부터 상기 하부 표면으로 상기 테스트 플레이트를 통해 확장하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 방법.
  16. 제 15항에 있어서, 상기 구성 요소가 진공 압력에 의해 상기 포켓 내에 유지되는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 방법.
  17. 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 방법으로서, 상기 구성 요소의 각각의 대향되는 짧은 축과 대향되는 긴 축을 따라 짧은 축과 긴 축을 한정하는 동일하지 않은 길이와 폭 크기를 갖는 상기 구성 요소의 각각을 적재하고 위치시키기 위한 방법에 있어서,
    상기 적재 플레이트를 통해 확장하며 상기 적재 플레이트의 바깥 원주 상에 위치되는 하나 이상의 슬롯을 구비하는 원형 적재 플레이트를 제공하는 단계로서, 상기 슬롯이 두 개의 대향되는 측부벽을 구비하고 상기 적재 플레이트의 상부 표면을 가로 지르는 배향의 긴 축에 대해 구성 요소를 수용하고 고정하기 위해 사이즈화되는, 상기 원형 적재 플레이트를 제공하는 단계와;
    상기 측부벽에 접하는 상기 구성 요소의 긴 축 측부에 대해 상기 슬롯 내에 상기 구성 요소를 위치시키고 유지시키는 단계와;
    상기 슬롯의 아래에 인접하게 및 상기 슬롯과 통하도록 곡면이 진 슈트를 위치시키는 단계로서, 상기 슈트는 상부 개구부로부터 중간 지점으로 굽어 있으며 상기 중간 지점으로부터 하측 개구부로 바깥측을 향해 나팔 모양으로 벌어져 있으며, 상기 슈트는, 상기 구성 요소가 상기 슈트를 통해 통과하는 중에 약 90。의 각도로 회전되기 위해, 상기 구성 요소의 짧은 축 보다 더 큰 중간 지점에 소정의 폭과 상기 구성 요소의 긴 축 보다 더 큰 하측 개구부에 소정의 폭을 갖는, 상기 곡면이 진 슈트를 위치시키는 단계와;
    상기 슈트 플레이트의 바깥 원주 상에 위치되는 상부 표면 및 하부 표면과, 하나 이상의 포켓을 구비하는 원형 테스트 플레이트를 제공하는 단계로서, 상기 포켓은, 상기 곡면이 진 슈트의 아래에 인접하게 위치될 수 있고 상기 곡면이 진 슈트와 통해 있으며, 상기 구성 요소를 수용하고 고정하도록 형성되는, 상기 원형 테스트 플레이트를 제공하는 단계와;
    상기 구성 요소가 상기 슬롯의 밖으로 떨어져서, 상기 곡면이 진 슈트를 통해 지나며 상기 포켓 내로 들어가도록 허용하는 단계와; 그리고
    상기 테스트 플레이트의 상부 표면과 하부 표면에 대해 일반적으로 평행한 상기 구성 요소의 긴 축 및 상기 테스트 플레이트의 상기 상부 표면으로부터 노출된 상기 구성 요소의 상측 긴 축 측부에 대해 상기 포켓 내에 상기 구성 요소를 유지시키는 단계를, 포함하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 방법.
  18. 제 17항에 있어서, 상기 슈트는 원형 슈트 플레이트의 바깥 원주에 형성되고 상기 방법은 상기 적재 플레이트의 아래에 인접하게 및 상기 적재 플레이트에 대해 평행하게 상기 슈트 플레이트를 위치시키는 단계를 추가적으로 포함하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 방법.
  19. 제 18항에 있어서, 상기 적재 플레이트, 슈트 플레이트, 및 테스트 플레이트를 동일한 방향으로 및 동일한 속도로 회전시키는 단계를 추가적으로 포함하되, 상기 테스트 플레이트는 상기 포켓 내에 상기 구성 요소의 유지에 잇따라 상기 테스트 플레이트의 상부 표면으로부터 상기 구성 요소에 접근하기 위해 상기 적재 플레이트와 상기 슈트 플레이트로부터 각이지게 떨어져 있는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 방법.
  20. 제 18항에 있어서, 상기 적재 플레이트, 슈트 플레이트, 및 테스트 플레이트의 정렬중 상기 슬롯 내에 상기 구성 요소를 유지하기 위해 상기 적재 플레이트와 상기 슈트 플레이트의 사이에 고정된 필름 플레이트를 위치시키는 단계를 추가적으로 포함하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 방법.
  21. 제 17항에 있어서, 상기 구성 요소가 상기 테스트 플레이트의 하부 표면으로부터 노출된 상기 구성 요소의 하측 긴 축 측부에 대해 상기 포켓 내에 유지되도록 상기 포켓은 상기 상부 표면으로부터 상기 하부 표면으로 상기 테스트 플레이트를 통해 확장하는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 방법.
  22. 제 21항에 있어서, 상기 구성 요소가 진공 압력에 의해 상기 포켓 내에 유지되는 다수의 기다란 구성 요소를 적재하고 위치시키기 위한 방법.
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