CN1286757A - 测试多端子电子元器件的装置 - Google Patents

Abstract

为了促进小型电子元器件的测试,一个改进的测试探头和传输轮(8)组件被公开。探头的基本形式是具有一个固定的支撑体(84),一个可移动的底板(78)通过至少一个弹性结构被固定在该支撑体(84)上。固定在可移动的底板(78)上的多条引线(66)可以穿过固定的引导块(94)中的互补槽(complementary tunnels)移向被测试的电子元器件的位于侧面的端子。传输轮组件包括一个轮(8),轮(8)的圆周上有许多接收电子元器件的分隔室。每个分隔室包括一个金属基础。而且本发明还公开了一个被设计用来在测试期间压在分隔室的末端上的金属滚柱(96)。每个分隔室的金属基板和金属滚柱(96)通过来自测试探头的侧面的引线与电子元器件的端部的端子的电连接。

Description

测试多端子电子元器件的装置

本发明属于测试装置领域。尤其本发明包括被设计成便于小型电子元器件测试的装置。一个独特的传输轮和加压装置(presser apparatus)被告知可用于为测试电子元器件所设计的机器中。该轮和加压装置被设计成能测试位于电子元器件的侧面和末端的端子。一个独特的测试探头也被告知而且可以类似地被用于在为测试电子元器件所设计的机器中。该探头包括多根一端被固定在一个可移动的、弹性固定的基板上的引线。引线穿过一个静止的引导块以便精确地将引线的末端引向被测试的电子元器件的位于侧面的端子和/或引向轮和加压装置的部分。

随着电子装置变得越来越普遍，要求测试的小型电子元器件的需求也大幅度地增长。与这种需要相对应，能以超高速度测试大量电子元器件的自动装置也变得很普通。例如，有一种装置，它每小时能处理50，000个电子元器件。

在电子元器件的测试中，某些问题经常被遇到而且通常会随着被测试的电子元器件的尺寸的减小而加剧。这些问题已经严重地限制了通过现有的测试装置处理元器件可达到的最大速率。

一个问题是与测试装置的内部的传输机构有关。大部分高容量的测试机器将被测试的元器件从进料或装料台移到测试台然后进入分类台。传输机构不仅必须能以高精确度的和控制的方式移动元器件，而且必须是耐久的、成本相当低的并使测试装置能达到与元器件的位于侧面的或位于末端的端子的电接触。这些属性以一种最佳形式的结合，在现有技术中还没有发现。

第二个问题是许多元器件的特点是具有多个需要同时连接的、间距很小的位于侧面的端子。这要求测试探头有间隔很小的引线，这些引线与元器件的侧面端子对准。探头的引线必须也能快速地、精确地移动。而且，由每个引线施加到被测试的元器件的端子上的压力必须被精确地控制，因为压力必须足以使引线和端子获得良好接触而又未达到对端子或引线引起刮擦或其它破坏的程度。在现有技术中，探头的引线所必须的精确的定位和控制如果不是不可能达到的话也一直是十分困难的，而且在现有技术的装置中严重地限制了产品的产量。

本发明是一个独特的传输轮和一个独特的测试探头，它们最好被用在测试装置中来传输和测试小型电子元器件，如集成无源器件(IPC′s)。IPC′s的实例是具有电容器、电感器和变阻器阵列的芯片。这些类型的电子元器件在尺寸上一般是1毫米到3毫米长，0.5毫米到1.5毫米宽或厚，而且有位于末端和侧面的端子。

传输轮具有大量位于园周的沟槽状的器件接收分隔室(或凹槽)，而且每个分隔室被作成大小能接收被传输的一个单个的电子元器件。在最佳的使用方式中，使用传输轮的机器用该轮将每个电子元器件从进料台传输到测试台，然后至分类区。在分类区，电子元器件根据在测试台中所得的结果被分类。

在传输轮中的每个分隔室的底部是一个金属芯棒，在传输过程中元器件的一端停在金属芯棒上。芯棒不仅通过提供一个金属接触表面增加了轮的耐久性，而且当轮传输有端部端子的电子元器件时，芯棒会和器件的位于底部的端子电接触。而芯棒暴露的外端在轮上提供了侧面的金属区域，所说的金属区域能被测试台中位于侧面的测试探头接触，从而将元器件的位于底部的端子电连接到一个测试仪器。

在最佳实施例中，传输轮被用在一个有特别设计的测试台的机器中。该测试台包括一个沿轮的周边滚动的金属接触滚柱，并且每当滚柱从其中一个分隔室上方通过时，滚柱将向下压在位于分隔室内的任一电子元器件的顶部或外部。当滚柱向下压在元器件上时，它改善了器件的位于底部的端子与轮的金属芯棒之间的接触。另外，金属滚柱将接触器件的顶部的端子，从而通过金属滚柱的主体可实现与所说的端子的电接触。

本发明的探头部件包括多根被精确地定位和控制的测试引线。当探头被用在使用传输轮的测试机器中时，该探头最好具有与位于传输轮上每侧部分的引线相同的右侧和左侧部分。探头被安装在支撑结构上而且每组引线被固定在弹性支撑的可移动基板上。一个加力装置，最好由计算机控制，被用来施加压力到基板以引起相应引线的有限制的运动。每一组引线穿过静止的引导块，该引导块将引线精确地引向被测试的元器件的端子。当探头与前面所述的传输轮和金属接触滚柱一起使用时，探头可包括附加的引线，这些附加的引线被引导使之与轮的金属芯棒的一侧或两侧以及接触滚柱的一侧或两侧接触。按照这种方式，探头与元器件末端的两个端子都能进行电接触。探头部件体积小、重量轻、几乎不要求维修，通过计算机控制加力装置的运动进行自我调节，而且制作成本不过分昂贵。而且，探头的设计能使引线快速地移动并保持极小的间距。

图1是电子元器件测试和分类装置的前视图，根据本发明，该装置有一个传输轮和测试探头。

图2是图1所示的装置的俯视图。

图3是位于传输轮的其中一个分隔室中的电子元器件的前视图，这时恰好在元器件进入测试台之前。

图4是传输轮的后视图。

图5显示了传输轮的轮缘部分制造中的第一个阶段。

图6显示了传输轮的轮缘部分制造中的第二个阶段。

图7显示了传输轮的轮缘部分制造中的第三个阶段。

图8显示了传输轮的轮缘部分制造中的最后一个阶段。

图9是按照本发明提供的测试探头的详细的侧视图。该探头被显示在一个探头的引线还没有被延伸以与测试的电子元器件接触的位置。

图10显示图9的探头的引线已被延伸与测试的电子元器件接触的位置。

现在更详细地描述各附图，其中在所有图中相同的标记指的是相同的零部件，数字1所表示的是对小型电子元器件进行测试和分类的装置。

图1提供了装置1的前视图。该装置包括一个进料台2，一个测试台4，一个分类台6和一个传输轮8。在实际中，每个台和传输轮都被组合成一个单个的橱柜式的单元(橱柜没有示出)。

进料台2包括一个漏斗型的给料器10，小型电子元器件(这里也指“各部件”)12被大量地倒进给料器10中。小型电子元器件一般是集成的无源器件(IPC′s)，如芯片电容器、变阻器和电感器。给料器将器件全部注入一个包括振动元件(未示出)的传递装置14，其中的振动元件是促进各部件的分离及其沿滑道16的运动。

滑道16将器件注入一个分配器18，该分配器18被设计成能用来容纳相对少量的部件12。一旦这些器件进入分配器，它们可以穿过由分配器底部的开口20(图2中示出)所形成的出口而出去。分配器包括一个收集轮(sweeper wheel)22，其功能是为了防止那些器件从分配器的底端溜掉，同时也有助于保持那些器件朝向该分配器的左侧部分。当每个器件12离开分配器18时，它直接地被接收进位于传输轮8的外缘上一个尺寸互补的双侧的分隔室24。图3示出了对被装载进传输轮外部轮缘的一个部件的描述。从图3可以看出该器件包括多个位于侧面的端子26和末端的端子28。

图4提供传输轮8的后视图。该轮包括一个金属轮轷器30和一个以轮缘构件形成的环形部分。轮缘构件的直径最好是12至18英寸，而且该轮缘构件通过使用一般的紧固零件，如螺钉或螺栓34固紧，故可从金属轮轷上拆除。

轮缘构件32最好是由刚性的不导电的塑料材料制成。所有的分隔室24都位于轮缘构件内而且在轮缘构件的外缘形成一圈开口。简而言之就是每一个分隔室的基部包括一个金属制的芯棒36。由于轮缘构件32可从轮轷上拆除，这样为了适合不同尺寸的电子元器件，使用者能拆除一个轮缘构件而用另一个有不同尺寸的分隔室24的；轮缘构件来代替它。轮轷30有一个固定到其后表面并用皮带40(在图1中示出)连接到电动机42的皮带轮38。电动机用于带动轮的转动。

图5-8示出了轮缘构件32的制作过程的详细视图。

图5示出了轮缘构件在其制造的最初阶段的部分。这时，轮缘构件是一个简单的环形。如果穿过图5所示的部分取一个横截面，将会看到该部分有一个矩形的横截面，该横截面最好是约6毫米宽、15毫米高。

图6示出了图5所示的轮缘构件的同一部分。然而，在轮缘构件上已钻了多个孔44，而且螺钉形式的金属芯棒36，已经被拧入了每一个孔。

图7显示图5和6所示的轮缘构件的同一部分。然而，轮缘构件的顶部46已被机械切削成略小于2.5毫米厚度。从轮缘构件顶面到金属芯棒/无头螺钉36的中心或附近，被切削的顶部变为约6毫米高。这时在轮缘构件上钻出多个孔48以便使轮缘构件能用紧固零件34连接到轮轷32上。

图8显示了在前三幅图中所示的轮缘构件的同一部分。在机械切削的最后阶段，在轮缘构件顶部46形成了许多切口50。这些切口都是以无头螺钉为中心而且部分地穿过无头螺钉从而形成分隔室24。每个切口的宽度比进入分隔室24的电子元器件的宽度或厚度稍微大一些。一旦切口被制成，一个窄的通孔或槽52就被钻进金属芯棒的中间然后向下直到该通孔完全穿过轮缘构件。通孔52能使真空通过图1、2、9和10中所示的转接器54从一个传统的真空装置施加到每个分隔室24的底部。将真空施加到分隔室24，当传输轮转动时能够有助于达到将器件12维持在分隔室内的目的。

在图8中还应该看到金属芯棒/无头螺钉的侧部56位于轮缘构件的侧面而且刚好被暴露在相应的分隔室下面。结果，侧部56容易从轮的侧面接近。

正如前面所指出的，图3示出了位于轮的其中一个分隔室24中的电子元器件12。图3示出的电子元器件12恰好在元器件进入测试台4之前。测试探头上的引线就是在测试台中临时被置于与电子元器件12的端子的直接或间接地接触中。测试台的各个部分将在图9至11被详细描述。

测试台包括一个具有左右侧部62和64的测试探头60。每部分包括多条引线。当每一个侧部被示出有五条引线时，在每一个侧部可以使用更多或更少数量的引线。应该指出的是，在一些情况下，探头60可能仅仅包括侧部62或64中之一。

每条引线66是由导电性材料制成的，是相当坚硬的而且可能是一种不贵重的金属线或插头。每个引线的外端最好是平的而且适合于接触被测试的器件的端子。每个引线的另一端70与一个易弯曲的导线72电连接，导线72本身连接到一个测试仪器74(如示波器、逻辑分析器、模拟器可其它众所周知的测试或诊断装置)上。夹子76或其它传统的固定零件或固定方法，被用来将每个引线的端部70固定到一个可移动的基板78上。应该指出的是所示的顶部和底部引线66在基板上呈弧形而其它的引线被显示是直的。顶部和底部的引线66的尾部的弯曲为固定引线增加了有效的空间，然而同时，当它们从基板向外扩展时，能使引线之间保持一个几乎相等的间距。顶部和底部引线的弯曲部分在位置上是由支柱79进行限定的，支柱79是从基板78的表面向上伸展的。根据可利用的空间的有效性，探头所有的引线可做成直的，或者如果空间是非常有限的，更多的引线可能会有一个呈弧形的尾部，其方式就如所示的顶部和底部引线，而且用附加的支柱79进行位置固定。

每个基板78以底板80的形式可移动地固定到一个相对不移动的支撑体上。底板是由紧固零件82固定在一个固定结构，如机器的静止的框架84上。被用来将每个基板可移动地连接到底板80上的结构能够使基板进行弹性的运动。在最佳实施例中，连接结构是两个薄的金属片簧86。虽然示出的是两个片簧，但也可以选择性地使用一个或几个(多于两个)片簧。应该指出的是，虽然图中示出所使用的是片簧，但是其它等同的弹性结构，如其它类型的弹簧，包括螺旋弹簧，或弹性材料如橡胶，也可以被选用。而且，阻尼装置(未示出)如液压缸或软垫可以放在一个或者两个基板的静止位置的附近来抑制基板的任何不想要的振动。

位于每个基板78附近而且不可移动地固定到底板80上的是一个加力装置88。所示的装置88有一个活塞90，该活塞90能够将压力施加到可移动的基板78的一侧从而引起所述的基板向轮8移动。装置88的激发是通过金属线91进行的，最好是由测试仪器74或由计算机(未示出)引起，该计算机可能包含在测试装置中也可能与其分离。在最佳实施例中，装置88是由电驱动的而且可以采用一个螺线管、线性致动器或其它装置，或装置或元件的组合，该装置88能给可移动的基板施加一个力。作为另一个未被示出的实施例，加力装置可以是机械控制的并与轮8的运动同步运动。另外在最佳实施例中，活塞90移动的距离也能通过测试仪器/计算机控制。这使得探头能够自动地调节，由此，测试仪器/计算机通过加力装置88能够改变引线运动的距离来补偿由于引线的磨损或不同尺寸的电子元器件12产生的变化。

从基板78开始，每条引线66穿过引导块94中的一个通孔或槽92。引导块包括多个通孔92，每条引线的中间部分位于其中一个通孔内。在最佳实施例中，每个通孔的长度比其直径大两倍或更多倍。这样，通过通孔能加强对每条引线的方向性导引。

每个引导块94被牢牢地固定在探头的底板80上而且与临近的基板78保持一定的间距。由于引导块被固定，所以当基板78移动时，它们并不动。应该指出的是，虽然所有的引线被显示穿过引导块，但这不是必须的。在未被示出的其它实施例中，一些引线能绕过引导块。

位于轮缘构件32的周边的是一个包括一个接触滚柱96的加压装置。该滚柱是由导电的金属材料制成的而且可绕轴97转动，轴97是通过弹簧支架98固定到底板80(或固定到机械框架)上的。弹簧支架在设计上最好是传统的而且可以像现有技术的测试装置中所用的带弹簧的销轴(pogo pins)。弹簧支架98在长度上是可变的而且包括连续地偏离或促使支架达到其最大长度的弹簧。当轮转动时，弹簧支架连续地促使滚柱向轮缘构件32运动，由此，滚柱在轮缘构件的周边上滚动，同时压在其上。图3显示了滚柱与其中一个轮缘构件的齿状部分99的末端相接触。当轮继续从图3所示的位置转动时，滚柱滚离轮缘构件的齿状部分99而运动到电子元器件12的外端上。一旦滚柱被完全地压到电子元器件12上，电子元器件将准备测试而且位于图9所示的位置。由滚柱12施加到电子元器件12上的向下的力推动该电子元器件紧紧地靠在金属芯棒36的表面并因此确保电子元器件的底部的端子28和金属芯棒之间的良好接触。另外，向下压在电子元器件12顶部上的滚柱在该电子元器件的位于顶部的端子28与滚柱的表面之间形成了一个良好的接触。这样，通过压靠在滚柱的一侧或两侧，使探头上的引线66能够与元器件的顶部端子28进行电接触。在这些图中，示出的引线都与滚柱的两侧相接触。

在操作中，当电子元器件12被引入测试台进行测试而且恰好位于探头的左侧和右侧之间时，电信号通过控制计算机被发送到两个加力装置88上。然后每个装置88施加压力到临近的可移动的基板78的侧面并使基板向轮8移动。在最佳实施例中，基板将仅移动一小段距离，如1毫米(该距离在这些图中被夸张地显示)。当基板向被测试的器件移动时，连接在基板上的引线通过引导块中的通孔移动并因此被精确地瞄准以致于它们的末端68精确地接触被测试的器件的侧面端子，而且朝向位于每个分隔室24的基板处的金属芯棒36的暴露的外侧部分56和金属滚柱96的侧面。图10显示了加力装置88使基板78产生预定的运动量，并且引线的末端68与电子元器件的端子相接触，以及与金属芯棒的侧部56和金属滚柱96的侧面接触。然后器件的测试可以开始了。

一旦器件12的测试被完成，加力装置88的活塞90就退回。然后片簧86使基板78和连接在基板上的引线返回到图9所示的初始位置。之后轮8将转动并使滚柱96离开器件12的末端。轮的转动将继续直到下一个器件被引入测试台。最后，轮的转动将被测试的器件带进分类台6。

分类台6在设计上是传统的而且包括一个容纳进行一系列的电操作的电磁阀(未示出)的块100。每个电磁阀通过软管102与压缩气源连接，且当其打开时，它能引导被压缩的空气进入分隔室24。与分隔室和电磁阀排成直线的是多极管104，其中每个管特定地与一个分隔室24的位置相对应而且伸展至它自己的专用的器件接收器106。

在器件12在测试台被测试完之后，它的测试结果由测试仪器临时地存贮。测试仪器被连接到电磁阀上根据测试台所得的测试的结果，在器件12到达一个相应的位置时，该器件将与一个特定的电磁阀排成一条直线。通过测试仪器使该阀打开然后被压缩的空气被从该阀导入与该阀相临近的分隔室24内。这迫使器件12被推入临近的管104内，然后进入相应的接收器106内。

虽然被告知的探头60用于这里所描述的测试台和分类机器，但应该指出的是，该探头也可用于使用电探头的任何其它类型的机器或环境中。同理，所说的传输轮8和/或金属接触滚柱可以在其它的电器件测试装置而不仅仅是所说的那种测试装置中使用，而且可以和其它类型的测试探头而不仅仅是所示出那种测试探头一起使用。

这里所讨论的实施例被公开是为了使读者熟悉本发明的各个新颖的方面。虽然发明的最佳实施例已被示出和描述，但是许多变化、改进和替代可以通过本领域中的一般技术实现而不会脱离本发明在下面的权利要求中所描述的主旨和范围。

Claims (22)

1．一种用于电子元器件测试中的探头，其中的探头能有效地连接到一个测试仪器，所说的探头包括：

一个支撑体；

一个固定在所说的支撑体上的可移动的基板；

多个固定到所说的基板上的并能有效地连接到一个测试仪器上的电传导的细长的引线，而且其中所说的引线中至少有一条有一个端部适于接触被测试的电子元器件的端子；

一个固定在所说的支撑体上且至少有一个通孔的引导块，其中的引线中至少有一条穿过通孔并在所说的至少一个通孔中可移动；和

一个能引起所说的基板运动的加力装置，其中当一个电子元器件相对于所说的引导块位于一个预定的位置时，致动器会使所说的加力装置移动所说的基板从而使固定在所说的基板上的引线移向所说的电子元器件，并且所说的至少一个通孔将所说的引线中的相应的一条引向所说的电子元器件。

2．如权利要求1所说探头，其中所说的基板用一个弹性结构固定到所说的支撑体上。

3．如权利要求2所说探头，其中所说的弹性结构采取至少一个片簧的形式。

4．如权利要求1所说的探头，其中的引导块有多个所说的通孔，其中所说的每条引线穿过一个不同的所说的通孔。

5．如权利要求1所说的探头，其中的加力装置采用电激发的螺线管形式。

6．如权利要求1所说的探头，其中的致动器采用计算机的形式。

7．如权利要求1所说的探头进一步包括：

一个可移动地固定在支撑板上的第二个基板；

多个固定在所说的第二块基板上的且有效地连接到测试装置上的导电的细长的引线，而且其中所说的引线中至少有一条有一个端部适于接触被测试的电子元器件的端子；

一个固定在所说的支撑体上且至少有一个通孔的第二引导块，其中固定在所说的第二引导块上的所说的引线中至少有一条穿过通孔并在所说的至少一个通孔中可移动；和

一个加力装置，当一个电子元器件相对于所说的第二引导块位于一个预定的位置时，加力装置将被致动器激发而使所说的第二基板运动以便使固定在第二基板上的引线移向所说的电子元器件。

8．一个适合用于测试电子元器件的装置的传输轮，其中所说的传输轮的功能是为了将所说的电子元器件从装载所说的电子元器件的进料台传输进传输轮，然后到测试电子元器件的测试台，所说的轮包括：

一个由非导电性材料制成的环形部分，所说的环形部分包括多个分隔室，每个分隔室被制作成能接收要测试的电子元器件的大小；还包括

多个金属构件，其中每个金属构件形成每个分隔室的基本部分，而且当所说的电子元器件位于所说的金属构件上部的分隔室中时，金属构件能接触电子元器件的端部的端子，其中每个所说的金属构件包括至少一个侧部，该侧部能从环形部分的第一侧面的外部的一点接近。

9．如权利要求8所说的传输轮，其中的金属构件由位于所说的构件中部的多个螺纹固定在环形部分。

10．如权利要求8所说的传输轮，其中所说的每个分隔室可经过一通孔被连接到真空源上，该通孔伸展穿过与该分隔室相连接的金属构件并继续穿过环形部分的非导电性材料。

11．一种制造适用于测试电子元器件的装置中的传输轮的方法，其中所说的传输轮的功能是将所说的电子元器件从装载所说的电子元器件的进料台输送给传输轮，到测试所说的电子元器件的测试台，所说的方法包括：

用非导电性材料制作一个环形构件；

在所说的环形构件中制作多个通孔，所说的通孔在所说的环形构件上是等间距分布的；

将多个金属构件中的每一个都放进所说的多个通孔的每一个通孔中；

机械切削所说的环形构件的周边部分以减少所说的周边部分的厚度；以及

在所说的周边部分制作多个等间距的槽，其中所说的槽被定位，由此所说的金属构件构成每个槽的基础部分。

12．如权利要求11所述的方法，其中金属构件被定位以便它可从环形构件的至少一个侧面接近。

13．如权利要求11所说的方法，其中每个金属构件有外螺纹并且通过转动金属构件以将每个金属构件插入环形构件，因此它的螺纹与环形构件相应的通孔的内表面螺纹连接。

14．如权利要求11所说的方法，其中在形成所说的槽之后，一个通孔被钻穿过所说的每个金属构件并继续穿过环形构件的非导电性材料。

15．一种测试电子元器件的装置，所说的装置包括：

一个适于接收大量电子元器件的进料台然后经过一个出口分送所说的电子元器件；

一个传输轮，所说的传输轮有多个分立的、彼此间隔的、位于周边的分隔室，这些分隔室适用于接收来自进料台出口的电子元器件，其中每个分隔室在两侧是打开的，而且其中的每个分隔室的基础部分包括一个金属区域，当一个电子元器件在所说的分隔室时该区域能够接触所说的电子元器件的端部的端子，其中金属区域包括一个部分，该部分暴露在所说的轮的至少一侧；

一个测试台，它包括一个探头，所说的探头有多根可移动的引线，其中当一个电子元器件位于所说的传输轮的与探头最接近的分隔室时，所说的引线能与所说的电子元器件的多个侧面端子相接触。

测试装置有效地连接到测试台的所说的探头上，而且

其中当一个电子元器件位于传输轮的其中一个分隔室时，它能从进料台被输到测试台。

16．如权利要求15所说的装置，其中所说的探头包括：

一个支撑体；

一个可移动地固定在所说的支撑体上的基板；

所说的多根可移动的引线，其中每个引线是细长的、由导电材料制成，而且被固定到所说的基板上并有效地连接到所说的测试装置上，并且其中所说的引线中至少一条有一个适于接触所测试的电子元器件的一个端子；

一个固定在所说的支撑体上的引导块，该引导块有多个通孔，所说的多根引线穿过这些通孔并在其中可以移动；和

一个加力装置，在一个电子元器件相对于所说的引导块位于预定位置上时，该装置能使所说的基板移动，其中所说的基板的移动引起固定在所说的基板上的引线相应的移动，而且其中所说的多根引线的移动通过引导块中的通孔被引导。

17．如权利要求16所说的装置，其中一个弹性结构将探头的基板连接到所说的探头的支撑体上。

18．如权利要求15所说的装置进一步包括一个加压装置，其中当一个电子元器件位于测试台中，而且所说的电子元器件的底端位于分隔室的金属区域的顶部时，加压装置的功能是向下压在电子元器件的顶部。

19．如权利要求18所述的装置，其中加压装置包括一个沿传输轮的周边部分滚动的滚柱，而且其中所说的滚柱通过至少一个弹簧支撑构件固定到该装置上，弹簧支撑构件使滚柱向传输轮的周边部分偏离。

20．如权利要求19所说的装置，其中所说的滚柱是由导电性的金属材料制成。

21．如权利要求20所述的装置，其中探头包括数条被定位的引线，由此，当一个电子元器件在测试台中并被定位测试时，至少有一条来自所说的探头的引线会与该电子元器件所在的分隔室的金属区域相接触，而且至少有另一条探头的引线会与滚柱的一侧相接触。

22．如权利要求21所述的装置，其中所说的探头包括：

一个支撑体；

一个可移动地固定在支撑体上的可移动的基板；

所说的多根可移动的引线，其中每个引线是细长的、由导电材料制成，而且被固定到所说的基板上并有效地连接到所说的测试装置上，并且其中所说的引线中至少一条有一个端部适用于接触所测试的电子元器件的一个端子；

一个固定在所说的支撑体上的引导块，该引导块有多个通孔，所说的多根引线穿过这些通孔并在其中可以移动；而且

一个加力装置，在一个电子元器件位于相对于所说的引导块的预定位置上时，该装置能使所说的基板移动，其中所说的基板的运动引起固定在所说的基板上的引线相应的运动，而且其中所说的多根引线的运动通过引导块中的通孔被引导。

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