CN101441226A - 测试夹具和测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种测试夹具和测试方法,所述测试夹具包括:载板,设置于一支架上,用于放置待测试对象;滑动部件,通过弹性部件的支撑,悬空设置于所述支架上,所述滑动部件上设置有向下的探针;旋转部件,固定于所述支架上,包括第一旋转体和第二旋转体,所述旋转部件旋转时,通过所述第一旋转体带动所述载板向所述探针的下方移动,通过所述第二旋转体带动所述滑动部件下滑,所述旋转部件旋转到预设位置时,所述探针与所述待测试对象接触。本发明可以减少测试夹具的操作次数,提高了生产效率。

Description

测试夹具和测试方法
技术领域
本发明涉及电路板测试领域,尤其涉及一种测试夹具和测试方法。
背景技术
在印刷电路板(PCB,Printed circuit board)的生产过程中,需要大量的布局、焊接及其他工艺步骤,因此,测试与检验对于生产出高质量的印刷电路板是极其重要的。
目前,通常使用专用的测试夹具来测试印刷电路板的性能,如图1所示为现有技术中的测试夹具的结构示意图,现有技术中的测试夹具包括:载板1、支架2、滑动部件3和凸轮4,所述载板1用于放置待测试的印刷电路板5,所述支架2包括:面板21和侧板22;所述滑动部件3通过弹簧6悬空设置于所述支架2上,所述滑动部件3包括:底座31、天板32和滑动杆33,所述天板32的底面设置有探针7;所述凸轮4可旋转地固定于所述侧板22上。
如图2所示为现有技术中的测试夹具操作过程示意图,具体包括以下步骤:
步骤21,将待测试的印刷电路板放置在载板上,此时所述测试夹具处于载板未推入状态;
步骤22,将载板推入到探针的下方,此时所述测试夹具处于载板推入状态;
步骤23,凸轮旋转时,通过下压所述底座,所述底座带动滑动杆下滑,所述滑动杆带动天板向下移动,使得所述天板上的探针与待测试印刷板接触,此时所述测试夹具处于天板下压状态;
上过步骤完成后,则可以进行印刷电路板的测试。
在实现本发明过程中,发明人发现现有技术中至少存在如下问题:
操作现有技术中的测试夹具需要多个步骤,操作过程复杂、操作时间长,从而影响印刷电路板的生产效率。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供一种测试夹具,可以减少测试夹具的操作次数,提高了生产效率。
为达到上述目的,本发明实施例提供一种测试夹具,包括:
载板,设置于一支架上,用于放置待测试对象;
滑动部件,通过弹性部件的支撑,悬空设置于所述支架上,所述滑动部件上设置有向下的探针;
旋转部件,固定于所述支架上,包括第一旋转体和第二旋转体,所述旋转部件旋转时,通过所述第一旋转体带动所述载板向所述探针的下方移动,通过所述第二旋转体带动所述滑动部件下滑,所述旋转部件旋转到预设位置时,所述探针与所述待测试对象接触。
本发明实施例还提供一种测试方法,包括以下步骤:
将待测试对象放置于载板上;
所述旋转部件旋转时,所述旋转部件上的第一旋转体带动所述载板向探针的下方移动,所述旋转部件上的第二旋转体带动滑动部件下滑,所述旋转部件旋转到预设位置时,所述探针与所述待测试对象接触。
本发明的实施例具有以下优有益效果:
仅需通过旋转一旋转部件,便可以实现将放置有待测试对象的载板推入到探针的下方,将带有探针的滑动部件下压,使得探针与所述待测试对象接触,减少了操作次数和操作时间,提高了生产效率。
附图说明
图1为现有技术中的测试夹具的结构示意图;
图2为现有技术中的测试夹具的操作过程示意图;
图3为本发明实施例的测试夹具的结构示意图;
图4为本发明实施例的测试夹具的另一结构示意图;
图5为本发明实施例的测试夹具的又一结构示意图;
图6为本发明实施例的测试夹具的另一剖面结构示意图;
图7为本发明实施例的测试方法流程示意图;
图8为本发明实施例的测试夹具的操作过程示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。
如图3所示为本发明实施例的测试夹具的结构示意图,所述测试夹具包括:
载板1,设置于一支架2上,用于放置待测试对象5;
滑动部件3,通过弹性部件6的支撑,悬空设置于所述支架2上,所述滑动部件3上设置有向下的探针7;
旋转部件4,固定于所述支架2上,包括第一旋转体41和第二旋转体42,所述旋转部件4旋转时,通过所述第一旋转体41带动所述载板1向所述探针7的下方移动,通过所述第二旋转体42带动所述滑动部件3下滑,所述旋转部件4旋转到预设位置时,所述探针7与所述待测试对象5接触。
上述待测试对象5可以为印刷电路板、IC卡或其他具有电路的电子元件;
上述弹性部件6为普通弹簧或板簧等,具有一定弹性系数,可以通过自身的弹力支撑所述滑动部件3固定于所述支架2上;
上述第一旋转体41和第二旋转体42固定连接,在旋转所述旋转部件4时,所述第一旋转体14和第二旋转体42同时旋转。
通过上述实施例提供的测试夹具,在进行待测试对象的测试时,仅需要旋转所述旋转部件4一个操作,便可以实现所述载板1推入和所述滑动部件3下滑两个动作,减少了操作次数,提高了生产效率。
如图3所示,所述支架2包括面板21和至少一个侧板22,所述面板21与所述侧板22固定连接,所述面板21和所述侧板22可以通过螺钉、铆钉或胶合的方式固定连接,当然,为了更加节约成本,所述面板21和所述侧板22可以一体成型而成。
上述载板1可滑动的设置于所述面板21上。
如图3所示,所述滑动部件3包括底座31、天板32和至少一个滑动杆33,所述底座31与所述滑动杆33的一端连接,所述天板32与所述滑动杆33的另一端连接,所述探针7设置于所述天板32上。
如图3所示,上述弹性部件6位于所述天板32和所述面板21之间,其一端连接所述天板32,另一端连接所述面板21。
当然,在所述支架2具有一底板23时,所述弹性部件6也可以位于所述支架2的底板23和所述滑动部件3的底座31之间,其一端连接所述底板23,另一端连接所述底座31,同样可以起到支撑所述滑动部件3的作用。
所述滑动部件3可以固定于所述面板21的外部,例如,所述滑动杆33固定于所述面板21的侧壁上,沿着所述面板的侧壁上下滑动,所述滑动部件3还可以穿设于所述面板21上,此时,如图3所示,所述面板21上还必须具有至少一个通孔211,所述滑动杆33通过所述通孔211穿设于所述面板21上;
所述通孔211可以为一较大尺寸的通孔,所述滑动部件3上的所有滑动杆33均穿设于所述通孔中,此时所述滑动部件3类似于一电梯结构,可在所述通孔211中上下滑动;所述通孔211还可以与一滑动杆33紧密配合,所述通孔211可在所述滑动杆33中上下滑动,在所述滑动部件3具有多个滑动杆33时,所述面板21也具有多个与所述滑动杆33对应设置的通孔211,即所述通孔211的数量与所述滑动杆33的数量一致,每一滑动杆33对应一通孔221。
所述面板21上可以具有4个通孔211,所述滑动部件3具有4个与所述通孔211对应的滑动杆33,起到稳固定位的作用。
上述旋转部件4可以固定于所述侧板22上,也可以固定于所述面板21上,本发明实施例的附图中均是将所述旋转部件4固定与所述侧板22上。
如图3所示,所述第一旋转体41可以为一第一拨杆41,所述第一拨杆41可以通过多种方式与所述载板1连接,例如与所述载板1的一侧壁滑动连接,在旋转时推动所述载板1向前滑动。
所述第二旋转体42可以为一凸轮421,所述凸轮421的上半部分为突出部件,下半部分为半圆形部件;所述旋转部件4旋转时,通过所述凸轮421的突出部件下压所述底座31,所述底座31带动所述滑动杆33下滑,所述滑动杆33带动所述天板32向下移动。当然,所述凸轮421的结构并不仅仅限定于此,所述突出部件可以为梯形结构,也可以为三角结构等,另外,所述凸轮421的下半部分也可以为圆形部件或其他形状的部件;或者所述凸轮421仅包括所述突出结构也可以实现本发明实施例的目的。
上述第二旋转体42的结构也不仅仅限定于凸轮结构,如图4所示,所述第二旋转体42也可以为拨杆结构,即所述第二旋转体42为第二拨杆422;此时,所述旋转部件4旋转时,通过所述第二拨杆422下压所述底座32,所述底座31带动所述滑动杆33下滑,所述滑动杆33带动所述天板32向下移动。
如图5所示,所述测试夹具还包括:竖板8,与所述载板1连接,所述竖板8上设置有滑槽81;所述竖板8位于所述载板1的下端,与所述载板1固定连接,所述竖板8和载板1可以通过螺钉、铆钉或胶合等方式固定连接,优选的,为了更加节约成本,所述竖板8和所述载板1可以为一体成型而成。
此时,所述第一拨杆41上设置有滑钩411(如图6所示),所述滑钩411与所述滑槽81相对应,即所述滑钩411正好可嵌入所述滑槽81中,且可在所述滑槽81中滑动;在所述测试夹具处于载板1未推入状态时,所述滑钩411位于所述滑槽81的底部,所述旋转部件4旋转时,所述第一拨杆41带动所述滑钩411在所述滑槽81中向上滑动,所述滑钩411带动所述竖板8移动,所述竖板8带动所述载板1向所述探针7的下方移动。图6中所述载板1滑动所述所述探针7的下方,此时所述滑钩411滑动到所述滑槽81的顶部。
在上述载板1滑入所述探针7的下方时,竖板8可能会与所述面板21发生接触,因此,所述面板21上还需要具有一开口(图未示),所述开口用于在所述竖板8向所述面板21滑动时,容纳所述竖板8;
当然,在所述竖板8位于远离所述面板21的一侧且距离足够远时,在所述竖板8向所述面板21移动时,所述竖板8与所述面板也可能并不发生接触,此时,所述面板21上也可以不具有开口。
在所述滑钩411滑动到所述滑槽81的顶部时,所述载板1恰好位于所述探针7的下方,此时,还需要继续旋转所述旋转部件4,通过所述第二旋转体41带动所述天板32下压,此时,所述竖板8无须在移动,而所述第一旋转体41和所述第二旋转体42固定连接,必须同时旋转,因此,所述竖板8必须有足够大的体积容纳继续旋转的第一旋转体41。
所述滑槽81的顶部还可以具有一开口811(如图3所示),所述开口811的半径略大于所述滑槽81的半径,所述滑钩411滑动到所述滑槽81的顶部开口811处时,可以从所述开口811处脱落,从而可以减少竖板8的体积。
如图7所示为本发明实施例的测试方法流程示意图,所述方法包括以下步骤:
步骤71,将待测试对象放置于载板上;
步骤72,所述旋转部件旋转时,所述旋转部件上的第一旋转体带动所述载板向探针的下方移动,所述旋转部件上的第二旋转体带动滑动部件下滑,所述旋转部件旋转到预设位置时,所述探针与所述待测试对象接触。
如图8所示为本发明实施例的测试夹具的操作过程示意图,图8中的第一旋转体为一拨杆,第二旋转体为一凸轮,在需要测试待测试对象时,将所述待测试对象放置到载板上,向右旋转旋转部件,所述旋转部件通过拨杆带动所述载板向探针的下方移动,此时,所述拨杆上的滑钩在竖板上的滑槽中滑动;在所述载板滑动到探针下方时,继续旋转所述凸轮,所述凸轮的突出部件下压底座,所述底座带动所述滑动杆下滑,所述滑动杆带动天板向下移动,在所述旋转部件旋转到预设位置时,所述天板上的探针与所述待测试对象接触,此时,则可以利用所述探针进行待测试对象的测试;
另外,在上述测试完成后,需要取下所述待测试对象时,反方向旋转所述旋转部件,所述凸轮向反方向旋转使得所述天板上升;并将所述拨杆的滑钩放入所述滑槽的开口处,继续旋转所述旋转部件,所述拨杆带动所述载板向反方向滑动,直至所述载板滑动到初始状态(即载板未推入状态),则可以将所述待测试对象取出。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该获取机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台终端设备执行本发明各个实施例所述的方法。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以作出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种测试夹具,其特征在于,包括:
载板,设置于一支架上,用于放置待测试对象;
滑动部件,通过弹性部件的支撑,悬空设置于所述支架上,所述滑动部件上设置有向下的探针;
旋转部件,固定于所述支架上,包括第一旋转体和第二旋转体,所述旋转部件旋转时,通过所述第一旋转体带动所述载板向所述探针的下方移动,通过所述第二旋转体带动所述滑动部件下滑,所述旋转部件旋转到预设位置时,所述探针与所述待测试对象接触。
2.根据权利要求1所述的测试夹具,其特征在于:
所述支架包括面板和至少一个侧板,所述面板与所述侧板固定连接;
所述载板设置于所述面板上。
3.根据权利要求2所述的测试夹具,其特征在于:
所述滑动部件包括底座、天板和至少一个滑动杆,所述底座与所述滑动杆的一端连接,所述天板与所述滑动杆的另一端连接,所述探针设置于所述天板上。
4.根据权利要求3所述的测试夹具,其特征在于:
所述面板上具有至少一个通孔;
所述滑动杆通过所述通孔穿设于所述面板上。
5.根据权利要求3所述的测试夹具,其特征在于:
所述第一旋转体为第一拨杆,所述第二旋转体为第二拨杆;
所述旋转部件旋转时,通过所述第二拨杆带动所述底座向下移动,所述底座带动所述滑动杆下滑,所述滑动杆带动所述天板向下移动。
6.根据权利要求3所述的测试夹具,其特征在于:
所述第一旋转体为第一拨杆;
所述第二旋转体为凸轮,所述凸轮的上半部分为突出部件,下半部分为半圆形部件;
所述旋转部件旋转时,通过所述凸轮的突出部件下压所述底座,所述底座带动所述滑动杆下滑,所述滑动杆带动所述天板向下移动。
7.根据权利要求5或6所述的测试夹具,其特征在于,还包括:
竖板,与所述载板连接,所述竖板上设置有滑槽;
所述第一拨杆上设置有滑钩,所述滑钩与所述滑槽相对应;
所述旋转部件旋转时,所述第一拨杆带动所述滑钩在所述滑槽中滑动,所述滑钩带动所述竖板移动,所述竖板带动所述载板向所述探针的下方移动。
8.根据权利要求7所述的测试夹具,其特征在于:
所述面板上具有一开口,用于在所述竖板向所述面板移动时,容纳所述竖板。
9.根据权利要求7所述的测试夹具,其特征在于:
所述滑槽的顶部具有一开口,所述开口的半径大于所述滑槽的半径;
所述载板滑动到所述探针的下方时,所述滑钩从所述开口处脱落。
10.一种测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
将待测试对象放置于载板上;
所述旋转部件旋转时,所述旋转部件上的第一旋转体带动所述载板向探针的下方移动,所述旋转部件上的第二旋转体带动滑动部件下滑,所述旋转部件旋转到预设位置时,所述探针与所述待测试对象接触。
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