CN2888452Y - 电路板性能测试辅助装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种电路板性能测试辅助装置,包括固定架和测试架,测试架包括底座,底座上设置有若干线路板支撑柱和与电路板测试连接点对应的探针,探针连接有用以和测试装置连接的数据线接口,测试架中部设有探针固定板。所述固定架包括底座、操作杆、连杆以及前端设有压块的L型压杆,L形压杆的底端及连杆一端活络转接在底座上,操作杆的中前部与连杆另一端活络转接,操作杆的前端则活络转接在L型压杆的转角上。本实用新型结构简单,操作简便,可快速将探针与被测电路板测试连接点连接,并保证在测试过程中探针和测试点接触良好。

Description

电路板性能测试辅助装置
技术领域
本实用新型涉及一种用于电路板测试的辅助装置,尤其是一种包括固定架和测试架,测试架包括底座,底座上设置支撑支柱和与被测电路对应的探针,探针上连有数据线的装置。
背景技术
制造电路板后,为保证其质量,通常都要通过探针连接到检测设备上对其进行测试。对于简单的电路板,常用的一种方式是手工将一个个探针连接到电路板上来测试,这种方式效率较低,对测试点与测试设备的连接麻烦。而对于较复杂的电路板,一般生产电路板的工厂都采用相关的装置进行测试,如专利号为“CN97122407.2”中的检测电路板的设备,以提高检测效果。但是该测试电路板的装置还有较多不足之处,它采用了栅板接触结构,无法保证需要测试的接触点的接触位置,检测特别大或者特别小的焊接点容易产生误差,并且没办法保证被测试电路板和测试板能保持良好的接触,尤其是在电路板表面制造不是非常精细的情况下容易接触不良。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种电路板性能测试辅助装置,操作简便,可快速将探针与被测电路板测试连接点连接,并保证在测试过程中探针和测试点接触良好。
为达到以上目的,本实用新型采用如下技术方案:所述电路板性能测试辅助装置包括电路板固定架和测试架,所述测试架包括底座,底座上设置有若干电路板定位柱和与电路板测试连接点对应的探针,所述探针连接有用以和测试装置连接的数据线接口,测试架中部设有探针固定板。
所述固定架包括底座、操作杆、连杆以及前端设有压块的L型压杆,L形压杆的底端及连杆一端活络转接在底座上,操作杆的中前部与连杆另一端活络转接,操作杆的前端则活络转接在L型压杆的转角上。
作为该实用新型的一种优选方案,在对于带安装孔的电路板进行测试时,采用顶端设有与电路板安装孔相匹配的支柱的定位柱,而对于无定位孔的电路板进行测试时采用顶端设有用于限定电路板四角位置的定位槽的定位柱。
改进的,所述底座上的探针固定板上设有网格状排列的探针插孔,用以调整探针位置,以增加其通用性,尽可能满足更多类型电路板的性能测试。
本实用新型由于采用了上述技术方案,测试时,先将电路板在测试架上定位,然后压下操作杆,通过L形压杆上的压块压牢电路板,保证探针与电路板接触良好,压杆上的压块和电路板对应,检测时不会损伤电路板上元件,测试完后,只要拉起操作杆,取出电路板即可。本实用新型结构简单,操作方便,测试连接快速稳定可靠,提高了测试效率。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步详细地说明
图1为电路板性能测试辅助装置的立体图。
图2为测试架的主视图。
图3为支撑柱上设置定位槽的测试架立体图。
具体实施方式
如图1、2、3所示,本实用新型包括固定架1和测试架2,测试架2包括底座21,底座21上设置有若干电路板支撑柱22和与电路板5测试连接点对应的探针3,探针3连接有用以和测试装置连接的数据线接口4,测试架2中部设有探针测试板23。所述固定架1包括底座10、操作杆11、连杆14以及前端设有压块13的L型压杆12,L形压杆12的底端及连杆14一端活络转接在底座10上,操作杆11的中前部与连杆12另一端活络转接,操作杆11的前端则活络转接在L型压杆12的转角上。支撑柱22的设置按需要设置,对于有定位孔的电路板5选用设有定位柱51的支撑柱22,对于没有定位孔的电路板5选用设有定位槽52的支撑柱22。如图3所示,在测试架2中间的探针固定板23上可设有众多网格状排布的探针孔24,在可测试的不同电路板或者相同电路板的不同点时,可以直接在对应待测点的孔内插入探针3来转化,既保证测试位置准确,又满足不同电路板的不同情况。
如图1所示,测试时按下固定架的操作杆11,操作杆11带动固定架压杆12,操作杆11随着连杆14运动,固定架压杆12在操作杆11的带动下转动,带动压块13压在电路板5上。压块13是和电路板相配的软性压块,因此接触面不会压到易损器件,,不会对电路板5造成伤害。在固定架1的作用下,使得探针3和电路板5上的待测点良好接触,保证测试的顺利进行。

Claims (5)

1、电路板性能测试辅助装置,其特征在于:包括固定架(1)和测试架(2),测试架(2)包括底座(21),底座(21)上设置有若干电路板支撑柱(22),中间层(23)以及与电路板(5)待测试点对应的探针(3),探针(3)连接有用以和测试装置连接的数据线接口(4),测试架中部设有探针固定板(23)。
2、根据权利要求1所述的电路板性能测试辅助装置,其特征在于:所述固定架(1)包括底座(10)、操作杆(11)、连杆(14)以及前端设有压块(13)的L型压杆(12),L形压杆(12)的底端及连杆(14)一端活络转接在底座(10)上,操作杆(11)的中前部与连杆(12)另一端活络转接,操作杆(11)的前端则活络转接在L型压杆(12)的转角上。
3、根据权利要求1所述的电路板性能测试辅助装置,其特征在于:所述电路板支撑柱(22)顶端设有与电路板定位孔相匹配的定位柱(51)。
4、根据权利要求1所述的电路板性能测试辅助装置,其特征在于:所述电路板支撑柱(22)顶端设有用于限定电路板四角位置的定位槽(52)。
5、根据权利要求1所述的电路板性能测试辅助装置,其特征在于:所述探针固定板上设有网格状排列的探针插孔(24)。
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