JPH0734026B2 - チップ部品の特性測定用端子具 - Google Patents

チップ部品の特性測定用端子具

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JPH0734026B2
JPH0734026B2 JP1015835A JP1583589A JPH0734026B2 JP H0734026 B2 JPH0734026 B2 JP H0734026B2 JP 1015835 A JP1015835 A JP 1015835A JP 1583589 A JP1583589 A JP 1583589A JP H0734026 B2 JPH0734026 B2 JP H0734026B2
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Japan
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terminal
chip component
movable
side terminal
chip
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光郎 羽室
善隆 秦
茂雄 林
秋彦 高橋
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はチップ部品の電気的特性を測定する特性測定装
置に用いられる端子具に関するものである。
〔従来の技術〕
小型高密度化,高信頼性,自動マウントへの適合性など
のメリットにより、チップコンデンサ,チップ抵抗など
のチップ部品が広く使用されている。この種のチップ部
品の場合、基板へ実装する前にその電気的特性を測定
し、品質検査を行う必要がある。そのため、従来では第
7図のような特性測定装置が使用されている。
即ち、ターンテーブル50にはチップ部品51を保持するた
めの段付の保持孔52が一定ピッチで多数個設けられてお
り、ターンテーブル50の両側には固定側端子53と可動側
端子54とが近接配置されている。上記固定側端子53およ
び可動側端子54は、ターンテーブル50の保持孔52と同一
ピッチで複数個ずつ配列されている。可動側端子54はタ
ーンテーブル50の接近離間方向へ移動可能なスライダ55
に摺動自在に支持されたピン端子よりなり、スプリング
56によってターンテーブル50方向へ突出付勢されてい
る。そして、可動側端子54の一端部にはターンテーブル
50の保持孔52の小径部52aに挿入し得るような小径な軸
部54aが形成されている。なお、可動側端子54の他端部
は配線57を介して図示しない測定機器と接続され、固定
側端子53もこの測定機器と接続されている。
チップ部品51の特性を測定する場合には、スライダ55を
第7図左方へ前進させ、可動側端子54の軸部54aを保持
孔52に挿入してチップ部品51の一端面に圧接させる。チ
ップ部品51は可動側端子54により押され、その他端面が
固定側端子53に接触するため、チップ部品51は測定機器
と電気的に接続されることになり、特性を測定できる。
測定を終了した後はスライダ55を第7図右方へ後退さ
せ、可動側端子54をチップ部品51から離すとともに、タ
ーンテーブル50を矢印方向へ1ピッチだけ回転させ、上
記と同様の操作で次の測定を行う。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記の特性測定装置の場合には、可動側端子54がピン端
子であるため、スプリング56などの構成部品を取り付け
なければならず、部品数が多くなり、これら構成部品の
大きさのために端子間ピッチPが大きくなってしまう欠
点がある。特に、多数のチップ部品51の特性を一度に測
定するために多数の可動側端子54を円弧状に配列した場
合には、一度に測定できるチップ部品51の個数が制約を
受けることになり、測定処理能力が劣るという問題があ
る。また、可動側端子54がチップ部品51から離れた時に
チップ部品51が保持孔52から落下しないようにするた
め、保持孔52を段付形状に形成しなければならず、可動
側端子54には保持孔52の小径部52aに挿入される軸部54a
を形成しなければならない。特に、チップ部品51の小型
化に伴い保持孔52および小径部52aが小さくなり、軸部5
4aの成形が難しくなる。また、軸部54aがチップ部品51
の端面に小さな面積で圧接するため、チップ部品51を損
傷するおそれがあり、さらには可動側端子54は保持孔52
の小径部52aを通過するだけのストロークが余分に必要
となるため、測定処理速度が遅くなるという問題があ
る。
そこで、本発明は上記問題点を解消したチップ部品の特
性測定用端子具を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するため、本発明は、可動テーブルの保
持孔に保持されたチップ部品の一端面に弾性的に接触
し、チップ部品の他端面を固定側端子へ押圧付勢するよ
うにした特性測定用端子具において、プリント基板にチ
ップ部品の一端面に接触可能な複数の端子部を一定ピッ
チで配列形成するとともに、各端子部と外部接続部とを
パターン配線を介して接続してなり、上記各端子部の間
にスリットを形成することにより、上記端子部を含む板
ばね状の可動側端子をプリント基板と一体に形成したこ
とを特徴とするものである。
〔実施例〕
第1図〜第3図は本発明を使用した特性測定装置の第1
実施例を示す。
支持台1には一定回転角度ごとに間欠動作可能なモータ
2が固定されており、その回転軸3の先端には絶縁物か
らなる円板状のターンテーブル4が固定されている。タ
ーンテーブル4の外周部近傍には複数の保持孔5が一定
ピッチで円弧状に配列形成されており、この保持孔5は
ターンテーブル4の表裏面に貫通する貫通孔で構成され
ている。上記保持孔5にはそれぞれチップ部品6が貫通
保持されており、チップ部品6の端面を含む両端部に形
成された電極6a,6bが保持孔5から突出している。
ターンテーブル4の片側には固定側のプリント基板7が
配置されており、この固定側プリント基板7はスペーサ
8を介して固定台9に固定されている。固定側プリント
基板7は、第1図に示すようにガラスエポキシ系樹脂等
の絶縁基板10の表面に保持孔5に対応する複数の固定側
端子11を円弧状に配列形成するとともに、各端子11から
外部接続用スルーホール12までの間をパターン配線13で
接続したものである。
ターンテーブル4の他側には本発明の特性測定用端子具
である可動側のプリント基板14が配置されており、この
プリント基板14の周縁部は支持台1に固定されたスペー
サ15にボルト16によって固定されている。可動側プリン
ト基板14は、固定側プリント基板7と同様に、ガラスエ
ポキシ系樹脂等の絶縁基板17の表面に保持孔5に対応す
る複数の端子部18aを円弧状に配列形成するとともに、
各端子部18aから外部接続用スルーホール20までの間を
パターン配線21で接続してある。各端子部18aの間には
内周部から放射方向にスリット19が形成されており、こ
れにより端子部18aを含む板ばね状の可動側端子18がプ
リント基板14と一体に形成されている。上記端子部18a
は可動側端子18のばね力によりターンテーブル4の保持
孔5に保持されたチップ部品6の一端電極6bに圧接可能
であり、この接触圧によりチップ部品6の他端電極6aは
固定側端子11に押しつけられる。
なお、可動側端子18のばね力が不足している場合には、
スペーサ15に補強用のばね片22を固定し、ばね片22の先
端部の突起22aで可動側端子18の背後を支持するように
してもよい。
第4図,第5図は上記可動側端子18の具体的な構造を示
している。即ち、パターン配線21は絶縁基板17の全面に
固着された銅板をフォトエッチングすることにより形成
してあり、その端子部18a上にニッケルメッキ等の導電
メッキ41を施し、かつ導電メッキ41を除く部分に第4図
斜線のようにレジスト42を塗布してある。特に、端子部
18a周辺のレジスト42の厚みを、導電メッキ41と同一高
さとなるように塗布してあるため、チップ部品6が可動
側端子18上を摺動した時にチップ部品6や導電メッキ41
の損耗が防止される。また、スリット19は一定巾のもの
ではなく、チップ部品6の移動軌跡上に巾狭部19aを形
成してある。具体的にはスリット19の巾狭部19aはレー
ザーにて加工され、他の部位はドリルで加工される。こ
のようにチップ部品6の移動軌跡上のスリット19部分を
巾狭に形成することによって、チップ部品6のスリット
19への噛み込みや脱落を防止できる。
上記固定側プリント基板7および可動側プリント基板14
に設けられた複数個のスルーホール12,20にはコネクタ2
3が接続可能であり、コネクタ23は図示しない複数種類
の測定機器の入出力部と接続されている。つまり、対向
する固定側端子11と可動側端子18の各対がそれぞれ測定
機器と接続されており、ターンテーブル4を1ピッチず
つ回転させることにより、1個のチップ部品6に対して
多種類の特性を測定可能である。各端子の機能として
は、例えばC測定用端子、電圧印加用端子、IR測定用端
子等がある。
上記可動側端子18の内周端部には正面視C字形のフック
24が係合しており、このフック24はフック取付板25を介
して2本のスライド軸26と連結されている。上記スライ
ド軸26は支持台1に取り付けたスライド軸受27によって
前後に摺動自在に案内されており、両スライド軸26の後
端部は第3図のようにステー28によって連結されてい
る。ステー28の両端部に固定したボルト29と上記スライ
ド軸受27に固定したボルト30との間には引張スプリング
31が張設されている。ステー28の中央部にはカムフォロ
ワ32が回転自在に取り付けられ、このカムフォロワ32は
上記引張スプリング31のばね力によりカム33に接触して
いる。
上記カム33が回転してステー28が引張スプリング31に抗
して後退すると、フック24もステー28と一体に後退す
る。これにより、可動側端子18は撓められてチップ部品
6の端面から離れるため、この状態でターンテーブル4
を容易に回転させることができる。この時、各可動側端
子18の間にはスリット19分だけの隙間しかないので、チ
ップ部品6が可動側端子18間に噛み込むことがなく、か
つフック24の移動ストロークは僅かであるから、チップ
部品6が保持孔5から落下することもない。カム33が回
転してステー28が前進すると、引張スプリング31により
フック24は第2図左方向へ前進し、このストローク途中
で可動側端子18がチップ部品6に接触する。このように
チップ部品6と可動側端子18および固定側端子11との接
触位置を順次変化させることにより、多種類の特性測定
を行うことができる。
ターンテーブル4の最下部の保持孔5aには第1図のよう
にチップ部品供給フィーダ34から1個ずつチップ部品6
が供給されるようになっており、上記保持孔5aの回転方
向前方側の複数(例えば6個)の保持孔5bには、選別し
て排出を行う選別機構35が配置されている。この選別機
構35は、第2図のようにターンテーブル4の保持孔5に
沿って近接配置された円弧状取付枠36と、この取付枠36
に貫通固定された複数本の排出管37と、各排出管37に接
続されたチューブ38とを備え、各チューブ38の先端は別
個の収容箱39にそれぞれ挿入されている。一方、上記排
出管37と対向するターンテーブル4の他側には複数本の
ノズル40が近接しており、各ノズル40より空気を吸引ま
たは噴出することにより、チップ部品6をそれぞれの特
性に応じて選別して別個の収納箱39に排出できるように
なっている。例えば、ターンテーブル4の所定の保持孔
5に保持されたチップ部品6を収納箱39に排出したい場
合には、対応する位置のノズル40から空気を噴出し、チ
ップ部品6を排出管37からチューブ38を通って収納箱39
に排出すればよい。また、保持孔5のチッブ部品6を収
納箱39に排出する必要がない場合には、保持孔5に対応
するノズル40より空気を吸引し、チップ部品6が誤った
収納箱39へ排出されないようにすればよい。
本実施例によれば、可動側端子18の内側端部をフック24
によって撓めることにより、可動側端子18をチップ部品
6に対して接触・離間させるようにしたので、可動側端
子18が変位しても配線21やコネクタ23等は動かず、浮遊
容量やインピーダンスの変化が少なく安定した測定が行
なえる利点がある。
第6図は本発明の第2実施例を示し、チップ部品6と可
動側端子18とを接離させるために、プリント基板14全体
を移動させるものである。この場合には、フック取付板
25にフック24だけでなく可動側端子18を形成したプリン
ト基板14も固定し、フック24で可動側端子18の内周端部
を若干撓めた状態に保持してある。この場合も、プリン
ト基板14の弾性不足を補うために、必要により可動側端
子18の背後に板ばね22を配置してもよい。なお、この実
施例の場合は、フック24は必須ものではない。
第2実施例の場合には、第1実施例に比べて可動側端子
18の撓み量を少なくできるので、可動側端子18の耐久性
を向上させることができる利点がある。
なお、本発明の端子具は、絶縁基板表面に複数の端子部
を円弧状に配列したものに限らず、直線状に配列したも
のでもよい。この場合には、可動テーブルも直接移動型
のものとする必要がある。
〔発明の効果〕
以上の説明で明らかなように、本発明によればプリント
基板に放射方向のスリットを設けることにより複数本の
可動側端子を一体に形成し、プリント基板自身のばね力
によりチップ部品の端面に圧接させるようにしたので、
従来のピン端子方式に比べて構成部品を大幅に削減で
き、多数の可動側端子を高密度に配列できる。そのた
め、従来に比べて測定処理能力が格段に向上する。
また、チップ部品の端面に可動側端子を面接触させるこ
とができるので、チップ部品と可動側端子との接触時に
チップ部品に与える衝撃が小さく、チップ部品の損傷が
少なくなる。
さらに、可動側端子をスリットを間にして互いに近接配
置されているので、可動テーブルの保持孔が単なる貫通
孔でもチップ部品が保持孔から脱落することがない。つ
まり、可動テーブルの保持孔にチップ部品をその両端面
が露出した状態に保持しておけばよく、可動側端子の移
動ストロークを従来に比べて小さくできる。したがっ
て、測定処理速度を飛躍的に向上させることができると
いう利点がある。
また、可動側端子から外部の測定機器への接続配線をパ
ターン配線で構成してあるので、多数の配線を効率よく
配置でき、信頼性の高い端子具を実現できる。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明にかかる特性測定用端子具の第1実施例
を用いた測定装置の要部斜視図、第2図はその一部断面
側面図、第3図は第2図のIII−III線断面図、第4図は
可動側端子部分の拡大正面図、第5図は第4図のV−V
線断面図、第6図は第2実施例の要部側面図、第7図は
従来例の断面図である。 4……ターンテーブル(可動テーブル)、5……保持
孔、6……チップ部品、7……固定側プリント基板、11
……固定側端子、14……可動側プリント基板(特性測定
用端子具)、18……可動側端子、18a……端子部、19…
…スリット、20……スルーホール(外部接続部)、21…
…パターン配線、23……コネクタ、24……フック。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】可動テーブルの保持孔に保持されたチップ
    部品の一端面に弾性的に接触し、チップ部品の他端面を
    固定側端子へ押圧付勢するようにした特性測定用端子具
    において、 プリント基板にチップ部品の一端面に接触可能な複数の
    端子部を一定ピッチで配列形成するとともに、各端子部
    と外部接続部とをパターン配線を介して接続してなり、
    上記各端子部の間にスリットを形成することにより、上
    記端子部を含む板ばね状の可動側端子をプリント基板と
    一体に形成したことを特徴とするチップ部品の特性測定
    用端子具。
JP1015835A 1989-01-24 1989-01-24 チップ部品の特性測定用端子具 Expired - Lifetime JPH0734026B2 (ja)

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US7635973B2 (en) * 2007-11-16 2009-12-22 Electro Scientific Industries, Inc. Electronic component handler test plate
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