JPH0851048A - 自動耐圧試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 複数のチップ部品の試験をほぼ同時に行える
自動耐圧試験装置、さらには複数種のチップ部品に適応
可能な自動耐圧試験装置を提供する。 【構成】 導体板１０ｂと、導体板上に重ねられ、チッ
プ部品を収納する部品収納孔１０ｃがマトリクス状に多
数形成された絶縁板１０ａとからなる測定用トレー１０
と、測定用トレー１０の部品収納孔１０ｃに対応して設
けられた複数の測定ピン４１を支持する測定ピン支持部
４０を設け、測定ピン支持部４０を上下に移動させ、複
数の測定ピン４１と導体板１０ｂを介して測定部８０か
ら各チップ部品２０に電圧を印加し、チップ部品２０の
耐圧測定を行う。 【効果】 測定時間を長く取りながらも単位時間当たり
の処理能力を向上させることができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、積層コンデンサ等のチ
ップ部品の耐圧試験を自動的に行う自動耐圧試験装置に
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、積層コンデンサ等のチップ部品の
耐圧試験を行う場合、１つのプローブで１個ずつ測定す
る１ｂｙ１方式で行うことが多い。この方式の試験装置
は通常次のような構成になっている。

【０００３】即ち、チップ部品を試験装置内の測定部に
投入・供給する供給部と、この供給部から測定部へチッ
プ部品を送り出す、パイプ或いはレール状の通路部と、
通路部から送り出されたチップ部品を受取可能な形態を
有する測定ステージと、チップ部品の電気特性（耐圧）
を測定するための測定端子部と、測定結果に応じて選別
を行う選別部とから構成されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た１ｂｙ１の試験装置で耐圧試験を行う場合、次のよう
な問題点があった。まず第１に、試験対象となるチップ
部品の寸法を変更する場合、測定ステージごと交換しな
ければならなくなり、変更に時間がかかる。そのため
に、試験装置が１種類のサイズのチップ部品の専用機と
なってしまう。また第２に、部品供給用の通路部にゴミ
等の障害物が存在すると、チップ部品が引っかかってし
まい、連続的な試験が中断してしまう。さらに第３に、
単位時間当たりの処理能力を上げるためには、処理速度
を速くしなければならず、測定時間をある程度長く必要
とする場合には不適である等の問題点があった。

【０００５】本発明の目的は上記の問題点に鑑み、複数
のチップ部品の試験をほぼ同時に行える自動耐圧試験装
置、さらには複数種のチップ部品に適応可能な自動耐圧
試験装置を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために請求項１では、マトリクス状に配置された
複数のチップ部品の耐圧測定を行い、良否の選別を行う
自動耐圧試験装置であって、導電性平板と、該導電性平
板上に重ねられ、チップ部品を収納可能な貫通孔が整列
して多数形成された非導電性の平板とからなる測定用ト
レーと、該測定用トレーの貫通孔に対応して設けられた
複数の測定ピンと、該測定ピンを支持する測定ピン支持
部と、該支持部を上下に移動させる駆動部と、前記複数
の測定ピン及び前記導電性平板に接続され、前記チップ
部品の耐圧測定を行う測定部と、該測定部に電力を供給
する電源部と、前記測定部からの測定値を収集・記憶す
る演算部とから構成される自動耐圧試験装置を提案す
る。

【０００７】また、請求項２では、請求項１記載の自動
耐圧試験装置において、前記測定用トレーを水平方向に
揺動させる揺動手段を設けた自動耐圧試験装置を提案す
る。

【０００８】また、請求項３では、請求項１又は２記載
の自動耐圧試験装置において、前記測定用トレーの貫通
孔の上端部が口広にテーパー形状に形成されている自動
耐圧試験装置を提案する。

【０００９】また、請求項４では、請求項１、２、又は
３記載の自動耐圧試験装置において、前記測定用トレー
は着脱可能に構成されている自動耐圧試験装置を提案す
る。

【００１０】さらに、請求項５では、請求項１、２又は
３記載の自動耐圧試験装置において、前記測定用トレー
の貫通孔の深さが前記チップ部品の長手方向寸法よりも
大きく形成されている自動耐圧試験装置を提案する。

【００１１】

【作用】本発明の請求項１によれば、試験対象となる複
数のチップ部品が測定用トレーの貫通孔内に収納され
る。前記測定用トレーの貫通孔の下端は導電性平板によ
って閉鎖され、該貫通孔内に収納されたチップ部品の一
方の端子電極はこの導電性平板に接触する。

【００１２】この後、チップ部品を収納した測定用トレ
ーは、測定ピン支持部の下方に位置され、測定ピン支持
部が駆動部によって下降されて測定ピンがチップ部品の
他方の端子に押圧されて接触する。測定ピンがチップ部
品に接触された後、測定部により、測定ピンと導電性平
板を介して各チップ部品に通電され、耐圧試験が行われ
る。この際、電源部から所定の電圧が印加されて耐圧不
良が検出される。これにより得られた試験結果（測定
値）は測定部を通してパーソナルコンピュータ等からな
る演算部に送られ、記憶される。

【００１３】また、請求項２によれば、試験後に、駆動
部によって測定ピン支持部がやや上昇され、前記測定用
トレーが、揺動手段によって水平方向に揺動される。こ
れにより測定ピンに付着したチップ部品は前記貫通孔の
側壁に当接した状態で測定用トレーと共に揺動され、測
定ピンから離脱される。

【００１４】また、請求項３によれば、前記測定用トレ
ーの貫通孔の上端部が口広にテーパー形状に形成されて
いる。これにより、前記測定用トレーの上面にチップ部
品をばらまき振動等による貫通孔へのチップ部品の収納
が容易になる。

【００１５】また、請求項４によれば、前記測定用トレ
ーは着脱可能に構成されており、試験対象となるチップ
部品の大きさに合わせた貫通孔が形成された測定用トレ
ーを複数種備えることにより何れの種類のチップ部品の
試験にも対応可能となる。

【００１６】さらに、請求項５によれば、前記測定用ト
レーの貫通孔の深さは、前記チップ部品の長手方向寸法
よりも大きく形成されている。これにより、前記測定用
トレーの上面にチップ部品をばらまき振動等による貫通
孔へのチップ部品の収納の際に、貫通孔に収納されたチ
ップ部品に未収納のチップ部品が当たることがなく、貫
通孔へのチップ部品の収納を短時間に行える。

【００１７】

【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。図１は、一実施例の自動耐圧試験装置を示す構
成図である。図において、１０は測定用トレーで、所定
面積の絶縁板１０ａと絶縁板１０ａの下面に固定された
導体板１０ｂとから構成され、絶縁板１０ａにはマトリ
クス状に複数の部品収納孔１０ｃが形成されている。こ
の部品収納孔１０ｃは、例えば３０×２０個のマトリク
ス状に形成され、図２に示すように、その上端部が口広
のテーパー状に形成され、下端には導体板１０ｂが露出
されている。また、部品収納孔１０ｃの直径は収納対象
となる積層コンデンサ等のチップ部品２０の直径よりも
やや大きく形成され、図３に示すように絶縁板１０ａの
上面に置かれたチップ部品２０を振動等によって容易に
部品収納孔１０ｃに落とし込めるようになっていると共
に、部品収納孔１０ｃの深さは、チップ部品２０の長さ
よりもやや深く形成されている。この測定用トレー１０
は、前工程の部品投入装置（図示せず）からコンベア３
０によって搬送される。

【００１８】４０は測定ピン支持部で、直方体形状を有
し、図示せぬ移動機構によって、上下方向に移動され
る。また測定ピン支持部４０には、測定用トレー１０の
部品収納孔１０ｃに対応して、上下方向に貫通するよう
に複数の測定ピン４１が固定されている。

【００１９】測定ピン４１は、図４に示すように、測定
ピン支持部４０の上下面に当接したフランジ４１ａ〜４
１ｂを有する略円柱形状をなし、その一端が測定ピン支
持部４０の下面から突出し、他端が上面から突出してい
る。さらに、測定ピン４１の一端は鋸刃形状に形成さ
れ、チップ部品２０の電極との接触を良好に行えるよう
になっている。また、測定ピン４１の他端は、後述する
測定部に接続されている。

【００２０】また、測定ピン支持部４０の下部には、揺
動機構部５０が設けられている。揺動機構部５０は、導
体板からなる揺動板５１と、この揺動板５１を水平方向
に揺動させる駆動部５２とから構成され、揺動板５１に
は後述する電源部から所定の電圧が印加されるようにな
っている。また、駆動部５２は後述する制御部からの制
御信号により駆動制御される。

【００２１】６０は制御部で、周知のＣＰＵを主体とし
て構成され、予め設定されたプログラムに基づいて各部
の動作制御を行う。

【００２２】７０は電源部で、図５に示すように直流１
００Ｖ〜３５０Ｖを出力する直流電源７１、周波数５０
０Ｈｚ、電圧１５Ｖ_P-P の矩形波を出力する矩形波発生
回路７２、１回路２接点の電子スイッチ７３，７４、及
び抵抗器７５から構成されている。電子スイッチ７３の
第１接点は直流電源７１の正極に接続され、第２接点は
電子スイッチ７３の接片に、また接片は揺動板５１にそ
れぞれ接続されている。

【００２３】電子スイッチ７４の第１接点は矩形波発生
回路７２の正極出力端子に接続され、第２接点は抵抗器
７５の一端に接続されている。また、抵抗器７５の他端
及び矩形波発生回路７２の負極出力端子は直流電源７１
の負極に接続されている。ここで、電子スイッチ７３，
７４は制御部６０からの制御信号によって切り換えられ
る。

【００２４】８０は測定部で、測定ピン４１に対応した
数の測定回路８１と、スキャナー回路８２から構成され
ている。測定回路８１は、抵抗器811 〜813 、コンデン
サ814 、ダイオード815 及びコンパレータ816 から構成
され、抵抗器811 の一端は対応する測定ピン４１に接続
され、他端は抵抗器812,813 及びコンデンサ813 のそれ
ぞれの一端及びダイオード815 のカソードに接続されて
いる。また、抵抗器812 とコンデンサ814 の他端及びダ
イオード815 のアノードは直流電源７１の負極に接続さ
れ、抵抗器813 の他端はコンパレータ816 の非反転入力
端子に接続されている。また、コンパレータ816 の反転
入力端子には所定の基準電圧Ｖref が印加されている。
スキャナー回路８２は各コンパレータ816 の出力状態を
走査し、走査結果を演算部９０に送出する。

【００２５】演算部９０は、周知のＣＰＵを主体として
構成され、スキャナー回路８２の走査結果に基づいて各
チップ部品２０の良否を判定し、この判定結果をを良否
情報として上位装置に出力すると共に、表示器１００に
表示する。

【００２６】次に、前述の構成よりなる本実施例の動作
を説明する。複数のチップ部品２０の検査を行う際に
は、前工程の部品投入装置によって予め測定用トレー１
０の部品収納孔１０ｃに測定対象のチップ部品２０が投
入され、コンベア３０によって本装置に搬送される。搬
送された測定用トレー１０は揺動板５１上に置かれる。
これにより、測定用トレー１０の導体板１０ｂは揺動板
５１と導電接触する。

【００２７】次に、測定ピン支持部４０の各測定ピン４
１が測定用トレー１０の部品収納孔１０ｃ上に位置する
ように測定ピン支持部４０が平行移動され、この後、測
定ピン支持部４０が下降されて、各測定ピン４１は対応
する部品収納孔１０ｃ内のチップ部品２０の上端面に導
電接触される。

【００２８】次いで、各チップ部品２０と導体板１０ｂ
及び測定ピン４１との導電接触状態の良否検査が行われ
る。この際、電子スイッチ７３の接片は第２の接点に接
続されると共に、電子スイッチ７４の接片は第１の接点
に接続され、導体板１０ｂには揺動板５１を介して矩形
波発生回路７２から出力される１５Ｖ_P-P の矩形波電圧
が印加される。このとき、コンパレータ816 の基準電圧
Ｖref は０．４Ｖとされ、スキャナー回路８２を介して
演算部９０により各コンパレータ816 の出力状態が読み
取られる。ここで、チップ部品（コンデンサ）２０が導
体板１０ｂ及び測定ピン４１と良好な導電接触状態にあ
るならば、コンパレータ816 の出力はハイレベルとな
り、非導通状態にあるならばローレベルとなる。

【００２９】次に、耐圧試験が行われる。この際、電子
スイッチ７３の接片は第１の接点に接続されると共に、
電子スイッチ７４の接片は第２の接点に接続され、導体
板１０ｂには揺動板５１を介して直流電源７１から出力
される直流電圧１００〜３５０Ｖの電圧が印加される。
このとき、コンパレータ816 の基準電圧Ｖref は１．０
Ｖとされ、スキャナー回路８２を介して演算部９０によ
り各コンパレータ816の出力状態が読み取られる。ここ
で、チップ部品（コンデンサ）２０が所望の耐圧を有し
ているならば、コンパレータ816 の出力はハイレベルと
なり、耐圧不良状態にあるならばローレベルとなる。

【００３０】この後、演算部９０は、読み取った耐圧試
験結果を表示器１００に表示すると共に、各チップ部品
２０の良否情報を上位装置（図示せず）に出力する。次
いで、演算部９０は、試験終了信号を制御部６０に出力
する。これにより制御部６０は、図６に示すように、測
定ピン支持部４０をやや上昇させた状態（ａ）で、揺動
板５１を揺動させ（ｂ）、測定ピン４１に付着したチッ
プ部品２０を離脱させた後（ｃ）、測定ピン支持部４０
をさらに上昇させる。これらの試験が終了した測定用ト
レー１０はコンベア３０によって次工程に搬送され、次
の試験対象となるチップ部品２０を収納した測定用トレ
ー１０が搬送されてくる。

【００３１】また、試験対象となるチップ部品２０の形
状が複数種ある場合には、これらに対応した測定用トレ
ー１０を設けておくことにより、多種のチップ部品２０
の試験を容易に行うことができる。

【００３２】

【発明の効果】以上説明したように本発明の請求項１に
よれば、複数のチップ部品の試験をほぼ同時に行うこと
ができるので、測定時間を長く取りながらも単位時間当
たりの処理能力を向上させることができる。さらに、チ
ップ部品をパイプやレールなどで供給することがないの
で、ゴミなどでチップ部品が引っかかって機械を止める
などのトラブルも少なくなる。

【００３３】また、請求項２によれば、上記の効果に加
えて、チップ部品が測定ピンに付着しても容易に離脱さ
せることができ、装置を停止させるようなトラブルが少
なくなる。

【００３４】また、請求項３によれば、上記の効果に加
えて、前記測定用トレーの貫通孔の上端部が口広にテー
パー形状に形成されているので、前記測定用トレーの上
面にチップ部品をばらまき振動等による貫通孔へのチッ
プ部品の収納が容易になる。

【００３５】また、請求項４によれば、上記の効果に加
えて、チップ部品の種類の変更も、測定用トレーの交換
だけで済むので、短時間で対応できる。

【００３６】さらに、請求項５によれば、上記の効果に
加えて、測定用トレーの部品収納孔の深さがチップ部品
の長手方向寸法より大きく形成されているので、測定ピ
ンの上昇を測定ピンの先端が部品収納孔から出ない範囲
内で行えば、チップ部品の離脱が確実にでき、さらに離
脱したチップ部品が部品収納孔内に確実に戻るようにで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示す構成図

【図２】一実施例における測定用トレーの部品収納孔を
示す断面図

【図３】一実施例における部品収納孔への部品収納過程
を示す図

【図４】一実施例における測定ピンの構成を示す断面図

【図５】一実施例における測定部を示す回路図

【図６】一実施例におけるチップ部品の離脱過程を示す
図

【符号の説明】

１０…測定用トレー、１０ａ…絶縁板、１０ｂ…導体
板、１０ｃ…部品収納孔、２０…チップ部品、３０…コ
ンベア、４０…測定ピン支持部、４１…測定ピン、５０
…揺動機構部、５１…揺動板、５２…駆動部、６０…制
御部、７０…電源部、７１…直流電源、７２…矩形波発
生回路、７３，７４…電子スイッチ、７５…抵抗器、８
０…測定部、８１…測定回路、811 〜813 …抵抗器、81
4 …コンデンサ、815 …ダイオード、816 …コンパレー
タ、８２…スキャナ回路、９０…演算部、１００…表示
器。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤井 理 東京都台東区上野６丁目16番20号 太陽誘 電株式会社内

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 マトリクス状に配置された複数のチップ
   部品の耐圧測定を行い、良否の選別を行う自動耐圧試験
   装置であって、 導電性平板と、該導電性平板上に重ねられ、チップ部品
   を収納可能な貫通孔が整列して多数形成された非導電性
   の平板とからなる測定用トレーと、 該測定用トレーの貫通孔に対応して設けられた複数の測
   定ピンと、 該測定ピンを支持する測定ピン支持部と、 該支持部を上下に移動させる駆動部と、 前記複数の測定ピン及び前記導電性平板に接続され、前
   記チップ部品の耐圧測定を行う測定部と、 該測定部に電力を供給する電源部と、 前記測定部からの測定値を収集・記憶する演算部とから
   構成されることを特徴とする自動耐圧試験装置。
2. 【請求項２】 前記測定用トレーを水平方向に揺動させ
   る揺動手段を設けたことを特徴とする請求項１記載の自
   動耐圧試験装置。
3. 【請求項３】 前記測定用トレーの貫通孔の上端部が口
   広にテーパー形状に形成されていることを特徴とする請
   求項１又は２記載の自動耐圧試験装置。
4. 【請求項４】 前記測定用トレーは着脱可能に構成され
   ていることを特徴とする請求項１、２又は３記載の自動
   耐圧試験装置。
5. 【請求項５】 前記測定用トレーの貫通孔の深さが前記
   チップ部品の長手方向寸法よりも大きく形成されている
   ことを特徴とする請求項１、２又は３記載の自動耐圧試
   験装置。