JPH085503A - 振動試験装置 - Google Patents

振動試験装置

Info

Publication number
JPH085503A
JPH085503A JP6156702A JP15670294A JPH085503A JP H085503 A JPH085503 A JP H085503A JP 6156702 A JP6156702 A JP 6156702A JP 15670294 A JP15670294 A JP 15670294A JP H085503 A JPH085503 A JP H085503A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
pallet
vibration
under test
device under
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP6156702A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeyuki Ochiai
茂之 落合
Fujio Kitahama
不二男 北浜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP6156702A priority Critical patent/JPH085503A/ja
Publication of JPH085503A publication Critical patent/JPH085503A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電源を供給した状態で被試験機器を加振し、
データ取り試験を行って良否判定できる自動調整試験装
置における振動試験装置を実現する。 【構成】 被試験機器を加振するための加振台を下に向
けた加振器を、エアシリンダによって上下するフレーム
に弾性体を通して吊り下げる。エアシリンダによりフレ
ームを下方向に移動させると、加振台が被試験機器に接
触する。フレームに吊り下げるための弾性体は、加振台
と被試験機器の距離の違いを吸収する目的と振動のフレ
ームへの遮断を目的として設けられている。また、標準
化されたパレットは、裏面から集電ブラシにより受電
し、表面には複数個の緩衝材を固定し、緩衝材の上に補
助パレットを置き、その上に被試験機器を置く構造にな
っている。この緩衝材は、被試験機器に加えられた振動
をパレットまで伝えず遮断する目的と、被試験機器が効
率よく加振される目的で取り付けられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子計測器など各種電
子機器の自動調整試験装置に使用する振動試験装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】電子計測器をはじめ各種電子機器は、プ
リント基板上に多数の電気部品を搭載半田付けし、パネ
ルあるいはスイッチとはコネクタあるいは半田付けで接
続している。これら半田付け実装に不備があると間欠的
に不具合を発生することが多い。このため、この実装関
係の不良を発見するために、電源を投入したまま被試験
装置に加振を行い性能を評価することが効果的である。
ところが、被試験機器20に電源を供給した状態で自動
的に載せたり、降ろしたりできる加振装置が無い。その
ため、図6のように人手によって被試験機器を加振台4
06に載せ、電源を接続して振動試験を行い、試験が終
了すると被試験機器を元の場所に人手によって戻してお
り、自動化が困難である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】以上のような加振装置
では、振動試験の行程のみ自動化できず、生産性が向上
しない欠点があった。本発明は、電源を供給した状態で
被試験機器を加振し、データ取り試験を行って良否判定
できる自動調整試験装置における振動試験装置を実現す
ることを目的としている。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明においては、被試験機器を加振するための加
振台を下に向けた加振器を、エアシリンダによって上下
するフレームに弾性体を通して吊り下げる。エアシリン
ダにより、フレームを下方向に移動させると、加振台が
被試験機器に接触する。フレームに吊り下げるための弾
性体は、加振台と被試験機器の距離の違いの吸収と、フ
レームへの振動を遮断する目的で設けられている。ま
た、標準化されたパレットは、裏面から集電ブラシによ
り受電し、表面には複数個の緩衝材を固定し、緩衝材の
上に補助パレットを置き、その上に被試験機器を置く構
造になっている。この緩衝材は、被試験機器に加えられ
た振動をパレットまで伝えず、遮断する目的で取り付け
られている。振動試験を実行する場合は、被試験機器を
搭載したパレットを、加振器の下方におき、加振器を取
り付けているフレームを下方向に下げ、加振台が被試験
機器に接触した状態で、加振を開始する。振動試験を終
了すると、加振を終了し、フレームを上方向に上げて加
振台を被試験機器から離す。
【0005】
【実施例】
(実施例1)図1に本発明の、従来の加振装置の上下を
逆にしてフレーム408に弾性体407を通して吊り下
げた振動試験装置を示す。加振器400を吊り下げてい
るフレーム408はエアシリンダ404によって上下
し、加振器400に取り付けられた加振台406が被試
験機器20に接触することで被試験機器20が加振され
振動試験が実行される。被試験機器20に加えた振動が
パレット210を伝わって集電ブラシ403に達する
と、電源供給が不安定になる恐れがあるため、パレット
210と被試験機器20の間に緩衝材401と補助パレ
ット402を挟み振動の伝達を防止している。加振装置
の上下動、加振の開始及び停止は、試験装置を制御する
試験装置制御用コンピュータ303によって制御する。
【0006】(実施例2)本発明の振動試験装置を自動
調整試験装置のステーションに搭載した例を示す。図2
に自動調整試験装置の全体構成を示す。自動調整試験装
置は、装置全体を制御する、中央制御装置(CPU)、
ターミナル、ディスク、フロッピーディスク及びプリン
タで構成されたサーバーコンピュータシステム100
と、複数のステーション201で構成された自動調整試
験保管庫200と、搬送機205のステーション間の移
動を制御する搬送機制御用コンピュータ301、被試験
機器20を制御して自動調整試験する被試験機器制御用
コンピュータ302及び例えば本発明の振動試験装置な
どの試験装置の作動を制御する試験装置制御用コンピュ
ータ303で構成された制御用コンピュータ300とで
構成される。
【0007】図3に自動調整試験保管庫200の構造を
示す。自動調整試験保管庫200には、パレット210
に搭載された被試験機器20を機器搬入台202から搬
入し、上下左右に動き回転して目的とするステーション
201にパレット210を移動し、調整試験を終了した
被試験機器を良品と不良品に分別して、良品用の機器搬
出台203、不良品の機器搬出台204に移動する搬送
機205が上下左右回転できるよう中央にある。
【0008】搬送機205の両側には、複数のステーシ
ョン201が並び、上下方向にも複数段並んでいる。各
ステーション201には、被試験機器20の調整をする
ため機器調整試験ステーションのパネル221を持った
もの、被試験機器20の試験をするため機器調整試験ス
テーションのパネル221を持ったもの、例えば本発明
の振動試験装置などの試験装置を装備したもの、試験の
前の安定時間をとるため一定温度になっているもの及び
試験の待ち時間のために保管するものなどがある。
【0009】図4のように、被試験機器20は、標準化
されたパレット210の上に載せられ、パレット210
の裏側から集電ブラシ403を通して供給される電源、
パネル211上にあるRS232CやGPIBのような
I/Oインターフェイスとして使用できる被試験機器I
/Oインターフェイスパッド212、標準電圧などを供
給したり、出力電圧などを出力する雌測定ピン213に
接続される。また、パレットの前面には、バーコード2
14が添付されており、複数の機種を区別して調整試験
することができる。
【0010】調整試験するステーション201には、図
5のようなパネルがあり、搬送機205によりパレット
210がステーションにセットした時、パレット210
上のパネル211のI/Oインターフェイスパッド21
2が機器調整試験ステーションのパネル221のI/O
インターフェイス弾性接触子222と、又、パレット2
10のパネル211上の雌測定ピン213が機器調整試
験ステーションのパネル221上の雄測定ピン223と
電気的に接続される。
【0011】被試験機器20の調整試験は次のように行
われる。 被試験機器20を補助パレット402の上にのせ、
補助パレット402を、パレット210に取り付けられ
た緩衝材401の上に載せる。そして、電源、I/Oイ
ンターフェイス及び測定ピンへの接続を、コネクタを介
して行う。又、パレット210の指定の位置に、その被
試験機器20を示すバーコード214をセットする。 被試験機器20をのせたパレット210を機器搬入
台202に載せる。ここまでは、人の操作を必要とする
が、これ以後はコンピュータシステムにより自動的に行
われる。
【0012】 機器搬入台202にあるパレット21
0を搬送機205が自動調整試験保管庫200内に移動
させる。この時、搬入口でパレット210上のバーコー
ド214を読み取り、そのパレット上の被試験機器20
の調整検査は、その機種に合わせて行う。 使用していない調整前の予熱ステーションに、搬送
機205がパレット210を移動しステーションに押し
入れる。目的とする調整試験ステーションが全て使用さ
れている場合は、別の試験、例えば本発明の振動試験装
置を装備しているステーションにパレットを押し入れ振
動試験を先に行う。 必要とする予熱が終了すると搬送機205がパレッ
ト210を調整ステーションに移動させ、調整ステーシ
ョンに押し入れる。調整ステーションには機器調整試験
ステーションのパネル221があり、I/Oインターフ
ェイス弾性接触子222と、例えば基準電圧の入力や出
力電圧などを入出力する雄測定ピン223に接触する。 被試験機器20の自動調整を行い、被試験機器20
内のメモリに調整値をセットする。 調整が終了すると、まだ実行していない試験のステ
ーションに搬送機205によって移動して、試験を行
う。残った試験のためのステーションが全て使用状態の
場合は、パレット210が保管用のステーションに搬送
機205によって押し入れられ保管される。 全ての調整試験が終了すると、機器搬出台に良品、
不良品を区別して、搬送機205により搬送される。不
良内容は、サーバーコンピュータシステム100のター
ミナル又はプリンタに出力され、修理のためのデータと
して使用される。
【0013】
【発明の効果】本発明は以上のように構成されており、
人手を介さず、自動的に振動試験を開始及び終了でき
る。パレットに被試験機器をセットし、機器搬入台に設
置した後は全て無人化されており、調整試験する機器の
種類を混在することも可能であり、振動試験を含み、全
体として自由度の高い効率の良い自動調整試験装置を実
現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の振動試験装置の側面図である。
【図2】実施例2の構成を示すブロック図である。
【図3】実施例2の自動調整試験保管庫の上面図と側面
図である。
【図4】実施例2の被試験機器を搭載するパレットの斜
視図である。
【図5】実施例2の機器調整試験ステーションのパネル
の正面図である。
【図6】従来の加振装置の側面図である。
【符号の説明】
20 被試験機器 100 サーバーコンピュータシステム 200 自動調整試験保管庫 201 ステーション 202 機器搬入台 203 良品機器搬出台 204 不良品機器搬出台 205 搬送機 210 パレット 211 パネル 212 I/Oインターフェイスパッド 213 雌測定ピン 214 バーコード 221 機器調整試験ステーションのパネル 222 I/Oインターフェイス弾性接触子 223 雄測定ピン 224 弾性接触子 300 制御用コンピュータ 301 搬送機制御用コンピュータ 302 被試験機器制御用コンピュータ 303 試験装置制御用コンピュータ 400 加振器 401 緩衝材 402 補助パレット 403 集電ブラシ 404 エアシリンダ 405 梁 406 加振台 407 弾性体 408 フレーム

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 梁(405)に固定されたエアシリンダ
    (404)により上下するフレーム(408)に弾性体
    (407)を通して吊り下げられ、被試験機器(20)
    に加振する加振台(406)を設けた加振器(400)
    と、 集電ブラシ(403)により受電し、被試験機器(2
    0)の下の補助パレット(402)との間に複数の緩衝
    材(401)を設けたパレット(210)と、 を具備することを特徴とする振動試験装置。
JP6156702A 1994-06-15 1994-06-15 振動試験装置 Withdrawn JPH085503A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6156702A JPH085503A (ja) 1994-06-15 1994-06-15 振動試験装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6156702A JPH085503A (ja) 1994-06-15 1994-06-15 振動試験装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH085503A true JPH085503A (ja) 1996-01-12

Family

ID=15633473

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6156702A Withdrawn JPH085503A (ja) 1994-06-15 1994-06-15 振動試験装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH085503A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100634738B1 (ko) * 2002-09-23 2006-10-17 장긍덕 진동기능을 가지는 통신 기기의 진동강도 측정기
JP2008082936A (ja) * 2006-09-28 2008-04-10 Imv Corp 振動試験装置
CN110146242A (zh) * 2019-05-17 2019-08-20 扬州市玄裕电子有限公司 一种多层线路板检测装置
WO2023108323A1 (zh) * 2021-12-13 2023-06-22 中国科学院地质与地球物理研究所 一种双台振动试验装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100634738B1 (ko) * 2002-09-23 2006-10-17 장긍덕 진동기능을 가지는 통신 기기의 진동강도 측정기
JP2008082936A (ja) * 2006-09-28 2008-04-10 Imv Corp 振動試験装置
CN110146242A (zh) * 2019-05-17 2019-08-20 扬州市玄裕电子有限公司 一种多层线路板检测装置
WO2023108323A1 (zh) * 2021-12-13 2023-06-22 中国科学院地质与地球物理研究所 一种双台振动试验装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3007211B2 (ja) 電子部品コンタクトアセンブリおよびその接続方法
CN1188238A (zh) 半导体器件测试装置
WO2008012889A1 (en) Electronic component transfer method and electronic component handling device
JPH085503A (ja) 振動試験装置
US6087839A (en) Apparatus for testing printed circuit board
CN209531491U (zh) 一种pcba板的分拣系统
JPH0851048A (ja) 自動耐圧試験装置
CN115436781A (zh) 一种电路板测试系统及测式方法
WO1996011392A1 (fr) Automate programmable et son procede de mise en application dans la mesure de dispositifs
KR100341599B1 (ko) 모듈디바이스용 테스팅장치 및 방법
US6753688B2 (en) Interconnect package cluster probe short removal apparatus and method
JPH0136592B2 (ja)
EP1022572B1 (en) Scan test apparatus for continuity testing of bare printed circuit boards
JP2810149B2 (ja) 加振方法及び装置
CN114814540B (zh) Sip芯片的slt测试方法和系统
JPH07333277A (ja) 自動調整試験装置
JPH07229769A (ja) 自動調整試験装置
JP2533174B2 (ja) 部品試験装置
JPS6074542A (ja) 集積回路部品用自動検査装置
JPH04289467A (ja) Icデバイスの電気的特性測定装置
CN218298443U (zh) 伺服驱动器fct测试治具
KR100505661B1 (ko) 반도체 테스트 장치 및 그 구동방법
JP4553492B2 (ja) 電子部品試験装置におけるソケットの電気特性相関取得方法、ハンドラ、ハンドラの制御方法および電子部品試験装置
JP2003028924A (ja) 電子部品ハンドリング装置および電子部品の温度制御方法
JPH11326448A (ja) Ic試験装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20010904