JP4735394B2 - チップ型電子部品の検査装置 - Google Patents

Description

本発明は、チップコンデンサやチップ抵抗などチップ型電子部品の検査装置に関するものである。

従来、チップコンデンサやチップ抵抗などのチップ型電子部品を搬送しながら外観検査や電気特性の検査を行う検査装置として、図５に示す装置が知られている。外周面にチップ型電子部品７０を吸引して搬送する２つの搬送用ドラム１０Ａ、１０Ｂを、所定の間隙Ｒを設けて回転面が互いに直交するように上下に配置し、搬送用ドラム１０Ｂから搬送用ドラム１０Ａへ順次チップ型電子部品７０を移し替えて搬送する。上記構成で搬送することで、チップ型電子部品７０の６側面全てがその搬送経路で外観検査が可能となり、移し替えなどの工程が不要となる。

図６は搬送用ドラム１０Ａにおけるチップ型電子部品吸引部の断面図である。搬送用ドラム１０Ａは、固定ベース３０に所定の間隔Ｔを設けて真空吸引されて保持される。吸引部には、吸引保持孔１１Ｎと連通して繋がる空洞バッファ１２Ｋがそれぞれ設けられており、円弧状に形成した減圧溝３１とアダプタ３９を介して減圧装置に繋がれ、チップ型電子部品７０を吸引保持孔１１Ｎに吸引保持する。このような吸引部構造とすることで、搬送用ドラム１０Ａの回転の際に生じる振動や搬送用ドラム１０Ａの加工精度に起因する減圧状態の変動を、空洞バッファ１２Ｋで吸引することができるため、チップ型電子部品７０を安定して吸引部に吸引し搬送することが可能となる。

なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献１が知られている。
特開２００５−２９３８６号公報

上記従来の構成では、減圧状態の変動は抑えることができるため、チップ型電子部品７０を安定して吸引することができるが、吸引力が大きいため取り外しが難しく、二つの搬送用ドラム１０Ａ、１０Ｂ間でチップ型電子部品７０の受け渡しが困難となる課題があった。

そこで本発明は、受け渡し部での電子部品の着脱を容易にすることを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明に記載の発明は、チップ型電子部品をそれぞれの外周面に保持して搬送する第一、第二の搬送用ドラムと、前記第一の搬送用ドラムから前記第二の搬送用ドラムへチップ型電子部品を受け渡しする受け渡し機構と、前記第一、第二の搬送用ドラムにおける搬送経路で検査を行う検査手段とを備えるチップ型電子部品の検査装置であって、前記第一、第二の搬送用ドラムは、それぞれの外周部に、チップ型電子部品を吸引保持するための複数の吸引保持孔と、前記複数の吸引保持孔と減圧源とを連通して繋ぐ空洞部を有し、前記空洞部内に前記各吸引保持孔と略同軸となる吸引開放孔を有する吸引開放手段を複数設けてなり、前記チップ型電子部品が、前記第一の搬送用ドラムの受け渡し位置に搬送されると、前記吸引開放手段が加圧源と連通して繋がるものであって、前記受け渡し機構は、前記チップ型電子部品の少なくとも２方向より挟持して位置決め保持するとともに、電気特性を検査するチップ型電子部品の検査装置であって、チップ型電子部品を安定に吸引しながら搬送することができ、さらに受け渡し機構で少なくとも２方向より挟持して電気特性を測定し、さらに、吸引開放手段によりチップ型電子部品を取り外すことができるため、受け渡し部におけるチップ型電子部品の着脱を容易にすることができるという作用効果を有する。

本発明のチップ型電子部品の検査装置は、二つの搬送用ドラムを所定の間隔で配置し、外周部に吸引保持したチップ型電子部品を前記二つの搬送用ドラムで受け渡しをして搬送する経路で外観検査などを行うチップ型電子部品の検査装置であって、それぞれの搬送用ドラムには吸引保持孔全てと減圧源に連通して繋がる空洞部を有し、前記空洞部の所定の位置に前記各吸引用孔と所定の間隔を有して略同軸上に配置した加圧源からなる吸引開放手段を設けており、チップ型電子部品が受け渡し機構の受け渡し位置に搬送されると同時に前記吸引開放手段から加圧空気を放出する。上記構成とすることにより、チップ型電子部品を安定に吸引しながら搬送することができ、さらに受け渡し機構に搬送されると同時に吸引開放手段によりチップ型電子部品を取り外すことができるため、受け渡し部におけるチップ型電子部品の着脱を容易にすることができる効果を奏する。

以下、本発明の一実施の形態におけるチップ型電子部品の検査装置について図を用いて説明する。

図１は、本発明の一実施の形態におけるチップ型電子部品の検査装置の概略を示す構成図である。本検査装置は、円盤状の第一、第二の搬送用ドラム１、２と、第一の搬送用ドラム１から第二の搬送用ドラム２へチップ型電子部品３を受け渡しする受け渡し機構４と、その搬送経路にて特性検査を行うための複数の撮像手段５や測定器６と、第一の搬送用ドラム１へチップ型電子部品３を供給する部品供給機構７とを備えている。

第一、第二の搬送用ドラム１、２は、所定の間隔Ｒを有し、その回転面が互いに直交するように配置されている。また、第一、第二の搬送用ドラム１、２の外周側面には、チップ型電子部品３を吸引保持する吸引保持部１０を有し、前記チップ型電子部品３の１側面を吸着し、モーター８を駆動させ第一、第二の搬送用ドラム１、２を回転させることで搬送を行う。

第一の搬送用ドラム１に吸引保持されたチップ型電子部品３は、受け渡し機構４を介して第二の搬送用ドラム２へ受け渡しをされる。受け渡し機構４は、垂直方向の位置を決定するブロック４ａと、水平方向の位置を決定するブロック４ｂおよび４ｃから構成される。受け渡し機構４に達したチップ型電子部品３は、ブロック４ａで鉛直方向の位置が決定され、相対する二つの側面からブロック４ｂおよびブロック４ｃで挟持することで水平方向の位置が決定される。このとき、垂直方向の位置決めが終了すると同時に第一の搬送用ドラム１の吸引保持を解除し、替わって第二の搬送用ドラム２の吸引保持を行った後に水平方向の位置決めを行う。第一、第二の搬送用ドラム１、２は、インデックス機能を有しており、上記受け渡し動作は全て同期して行われる。

チップ型電子部品３は、その搬送経路にて６側面全ての外観検査と電気特性の検査を実施する。図１では、第一の搬送用ドラム１での搬送経路で撮像手段５により３側面の外観検査を実施し、第二の搬送用ドラム２での搬送経路にて、残りの３側面の外観検査を実施する。本実施形態の構成とすることで、その搬送経路にて６面全ての外観検査が可能となるため、チップ型電子部品３の移し替え工程が不要となる。

図１に示した撮像手段の配置は、一実施の形態を示したのみであり、第一、第二の搬送用ドラム１、２で検査する側面や数の配分は装置構成に応じて適宜変更してもよい。

チップ型電子部品３の電気特性の検査は、受け渡し機構４を介したチップ型電子部品３の受け渡し時に行う。ブロック４ｂおよび４ｃには、電気抵抗や電気容量、インダクタンスなどを測定するための電気特性の測定器６に接続されている。ブロック４ｂおよび４ｃでチップ型電子部品３を挟持して位置決めを行うと同時に、チップ型電子部品３の外部電極を前記電気特性の測定器６に接続して測定するものである。

上記のように垂直、水平方向の位置決めと電気特性の検査を行った後、第二の搬送用ドラム２に受け渡されたチップ型電子部品３は、残りの外観検査を行い、その判定結果に応じてそれぞれ別の位置で取出される。このとき、チップ型電子部品３を第二の搬送用ドラム２から吸引を解除するためには、治具などで把持、あるいは係止ブロックなどを用いた機械的手法でも良いし、エアを吹き付ける手法などを用いてもよい。

また、上記の第一、第二の搬送用ドラム１、２は、それぞれがリニアガイド上に設置されており、チップ型電子部品３の品種切り替えなどにより間隔Ｒを変更、調整が容易にできる構成となっている。

次に、本発明のポイントであるチップ型電子部品３の吸引保持手段および吸引開放手段について特に図２を用いて説明する。図２は、第一の搬送用ドラム１の断面図を示している。第一の搬送用ドラム１は、２枚から構成される。すなわち、チップ型電子部品３を吸引保持して回転可能な回転用ドラム１ａと、減圧源に連通し繋がる減圧源側コネクタ１３と、チップ型電子部品３の吸引を解除して排出するための加圧源に連通し繋がる加圧源側コネクタ１４とを有した固定用ドラム１ｂとから構成されている。

回転用ドラム１ａとモーター（図１の８）の回転軸とは固定用ボルト１７で固定連結されており、一方の固定用ドラム１ｂはボールベアリング１６を介して固定ベース１８に連結されている。回転用ドラム１ａと固定用ドラム１ｂとは所定の間隔Ｄ１を有しており、このＤ１は、６角ボルトなどの固定用部材１５により調整、固定される。この固定用部材１５は、複数本を円周方向に均等に配置しているため、高精度に間隔Ｄ１を調整可能である。

固定用ドラム１ｂと対向する回転用ドラム１ａの面には同心円または、特定の長さを有する円弧状の矩形溝１１が形成されている。この矩形溝１１は、減圧源側コネクタ１３、電磁弁などを介して減圧源として繋がるため、減圧源により間隔Ｄ１を保ちながら略真空に保持される空洞部１１ａとなる。回転用ドラム１ａの外周側面には、所定の間隔で吸引保持部１０を複数有しており、この吸引保持部１０は、吸引保持孔９を介して前記空洞部１１と連通して繋がる。

一方の吸引開放手段１２は以下の構成を有する。回転用ドラム１ａと対向する固定用ドラム１ｂの面には同心円、または特定の長さを有する円弧形状でかつその断面形状が矩形である凸部１２ｂが設けられている。この凸部１２ｂの各部寸法は、回転用ドラム１ａと固定用ドラム１ｂとが所定の間隔Ｄ１で対向させたとき、互いに干渉せず、かつ矩形溝１１と所定の間隔Ｄ２を有するように設計されている。

吸引保持部１０に対向する前記凸部１２ｂの側面には、加圧源用コネクタ１４、電磁弁などを介して加圧源と連通して繋がる吸引開放孔１２ａが設けられている。この吸引開放孔１２ａは、回転用ドラム１ａがインデックス動作で回転搬送し、所定の位置に搬送されたときのみに、前記吸引保持部１０の吸引保持孔９と略同軸上に配置されるように設計されている。

図３は、第一の搬送用ドラム１の要部断面の斜視図であり、図４は検査装置を第一の搬送用ドラム１の回転軸方向から見た構成図を示している。

チップ型電子部品３が、回転用ドラム１ａに吸引保持されているとき、加圧源用の電磁弁は閉じており、吸引開放手段１２の凸部１２ｂの内部は周囲と同様に略真空となる。次に、回転用ドラム１ａがインデックス動作で回転搬送し、第二の搬送用ドラム２との受け渡し部４に搬送されたとき、すなわち３ａの位置に搬送されたとき、図３に示すように凸部１２ｂの吸引開放孔１２ａと吸引保持孔９とが略同軸となる。受け渡し部４で、チップ型電子部品３を位置決めし、電気特性の測定を終了した後に減圧側の電磁弁を閉じて加圧側の電磁弁を開放することで、加圧源により圧縮された圧縮空気が、加圧用孔１２ａと吸引保持孔１０を通じて吸引保持部９に達し、チップ型電子部品３の吸引は解除されることになる。

このように減圧側と加圧側の電磁弁を同期させてもよいし、減圧側に電磁弁を設けず常に減圧した状態でも上記と同等の効果が得られる。

上記のように、本実施形態の吸引保持手段と吸引開放手段を設けることにより、安定した吸引力でチップ型電子部品３を搬送し、受け渡し機構４の受け渡し位置でチップ型電子部品３を容易に取り外すことができるため、受け渡し部におけるチップ型電子部品の着脱を容易にすることができる。

本発明に係るチップ型電子部品の検査装置は、二つの搬送用ドラムを所定の間隔で配置し、外周部に吸引保持したチップ型電子部品を前記二つの搬送用ドラムで受け渡しをして搬送する経路で外観検査などを行うチップ型電子部品の検査装置であって、それぞれの搬送用ドラムには吸引保持孔全てと減圧源に連通して繋がる空洞部を有し、前記空洞部の所定の位置に前記吸引用孔と所定の間隔を有して略同軸上に配置した加圧源からなる吸引開放手段を設けており、チップ型電子部品が受け渡し機構の受け渡し位置に搬送されると同時に前記吸引開放手段から加圧空気を放出する。上記構成とすることにより、チップ型電子部品を安定に吸引しながら搬送することができ、さらに受け渡し機構に搬送されると同時に吸引開放手段によりチップ型電子部品を取り外すことができるため、受け渡し部におけるチップ型電子部品の着脱を容易にすることができる効果を奏するため、チップコンデンサやチップ抵抗などチップ型電子部品の検査装置に有用である。

本発明の一実施の形態におけるチップ型電子部品の検査装置の斜視図 同検査装置に用いる搬送用ドラムの断面図 同検査装置に用いる搬送用ドラムの切欠き断面斜視図 同検査装置の一部の側面図 従来のチップ型電子部品の検査装置の構成図 同従来例の吸引保持部の断面図

符号の説明

１ 第一の搬送用ドラム
２ 第二の搬送用ドラム
３ チップ型電子部品
４ 受け渡し機構
５ 撮像手段
６ 測定器
９ 吸引保持孔
１０ 吸引保持部
１１ａ 空洞部
１２ 吸引開放手段

Claims (1)

1. チップ型電子部品をそれぞれの外周面に保持して搬送する第一、第二の搬送用ドラムと、前記第一の搬送用ドラムから前記第二の搬送用ドラムへチップ型電子部品を受け渡しする受け渡し機構と、前記第一、第二の搬送用ドラムにおける搬送経路で検査を行う検査手段とを備えるチップ型電子部品の検査装置であって、前記第一、第二の搬送用ドラムは、それぞれの外周部に、チップ型電子部品を吸引保持するための複数の吸引保持孔と、前記複数の吸引保持孔と減圧源とを連通して繋ぐ空洞部を有し、前記空洞部内に前記各吸引保持孔と略同軸となる吸引開放孔を有する吸引開放手段を複数設けてなり、前記チップ型電子部品が、前記第一の搬送用ドラムの受け渡し位置に搬送されると、前記吸引開放手段が加圧源と連通して繋がるものであって、前記受け渡し機構は、前記チップ型電子部品の少なくとも２方向より挟持して位置決め保持するとともに、電気特性を検査することを特徴とするチップ型電子部品の検査装置。

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