JP2012094770A - 検査装置および基板の位置決め方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】簡易な構成で基板の損傷を防止して搬送することが可能な検査装置および基板の位置決め方法を提供すること。
【解決手段】基板Wを支持し、基板Wを搬送する搬送方向に沿って回転するフリーローラ201を有する搬送ステージ20と、基板Wを搬送方向Dに沿って移動させる駆動機構30と、搬送ステージ20の端部側に設けられ、基板Wに当接する整列ピン202aを保持し、整列ピン202aを搬送方向Dに移動させる整列ピン駆動部202と、検査ユニット100と整列ピン駆動部202との間に設けられ、基板Wに当接する基準ピン203aを保持し、基準ピン203aを昇降駆動させる基準ピン駆動部203と、基板Wの搬送方向Dに平行な方向の端面を検出する端面検出部204と、端面検出部204が検出した端面の情報をもとに基板Wの検査を行う検査ユニット100と、を備えた。
【選択図】図1

Description

本発明は、例えば、フラットパネルディスプレイ用のガラス基板や半導体基板やプリント基板等を検査・処理する検査装置および基板の位置決め方法に関する。
近年、ガラス基板や半導体基板やプリント基板(以下、基板という)などの製造において、基板の検査等の処理を行う検査装置がある。検査装置は、基板の検査処理を行う処理部と、外部から処理部へ基板を搬送または処理部から外部へ基板を搬送する搬送部とを有する。
搬送部は、基板を支持し、搬送方向に沿って回転可能なローラと、基板を吸着して搬送方向に移動可能な吸着パッドとを備える。搬送部は、ローラに保持された基板を吸着保持した吸着パッドを移動させることで基板の搬送を行う。
ところで、搬送部は、外部から基板が搬入された際に、基板が搬送部における基板載置位置に配置されるように位置調整を行う。この位置調整では、例えば、基板を四方から挟み込んで、基板載置位置に基板を移動させて調整し、基板の位置決めを行う。
上述した位置決め方法として、搬送方向に直交する軸まわりに回転するとともに、搬送方向に直交する水平面方向に往復動可能なローラによって、ローラを往復動させてローラにおける基板の保持位置を変えて基板の載置位置を調整する方法が開示されている(例えば、特許文献1,2を参照)。この位置決め方法では、ローラの回転によって基板を搬送方向に移動させながら基板の載置位置を変更させることができる。
実開平1−102129号公報 特開2009−13061号公報
しかしながら、特許文献1,2が開示する位置決め方法は、搬送方向に垂直な方向にローラが移動することによって、基板との間で摩擦力が生じ、基板のローラとの接触面が損傷してしまうおそれがあった。また、特許文献1,2が開示する位置決め方法では、ローラに対して駆動部を設けなければならず、装置構成が複雑になってしまうという問題があった。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、簡易な構成で基板の損傷を防止して搬送することが可能な検査装置および基板の位置決め方法を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる検査装置は、基板を支持し、該基板を搬送する搬送方向に沿って回転するローラを有する搬送ステージと、前記基板を前記搬送方向に沿って移動させる駆動機構と、前記搬送ステージにおける前記基板の搬入側の端部側に設けられ、前記基板に当接する整列部材を保持し、該整列部材を搬送方向に移動させる整列部材駆動部と、前記検査部と前記整列部材駆動部との間に設けられ、前記基板に当接する基準部材を保持し、該基準部材を昇降駆動させる基準部材駆動部と、前記基板の前記搬送方向に平行な方向の端面を検出する端面検出部と、前記端面検出部が検出した端面の情報をもとに前記基板の検査を行う検査部と、を備えたことを特徴とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる検査装置の基板の位置決め方法は、基板の検査を行う検査部と、前記基板を載置して、該基板を搬送する搬送部とを有する検査装置の基板の位置決め方法であって、前記基板を搬送する搬送方向に沿って回転するローラを有する搬送ステージに前記基板を搬入する搬入ステップと、前記搬送ステージにおける前記基板の搬入側の端部側に設けられ、前記基板に当接する整列部材を駆動する整列部材駆動ステップと、前記検査部と前記整列部材駆動部との間に設けられ、前記基板に当接する基準部材と、前記整列部材とによって前記基板を挟持して固定する基板固定ステップと、前記基板固定ステップによって固定された前記基板の前記搬送方向に平行な方向の端面を検出する端面検出ステップと、を含むことを特徴とする。
本発明にかかる検査装置は、フリーローラの回転方向に沿って基板を移動させて載置位置を固定し、フリーローラの回転方向に直交する方向は、センサで端面検出することによって基板の位置を確認するようにしたので、簡易な構成で基板の損傷を防止して搬送することができるという効果を奏する。
図1は、本発明の実施の形態にかかるフラットパネルディスプレイ(FPD)検査装置の構成を模式的に示す上面図である。 図2は、本発明の実施の形態にかかるFPD検査装置の構成を模式的に示す側面図である。 図3は、本発明の実施の形態にかかる整列ピン駆動部を模式的に示す斜視図である。 図4は、本発明の実施の形態にかかる整列ピン駆動部を模式的に示す斜視図である。 図5は、本発明の実施の形態にかかる基準ピン駆動部を模式的に示す斜視図である。 図6は、本発明の実施の形態にかかる基板検査処理の一連の流れを示すフローチャートである。 図7は、本発明の実施の形態にかかる基板検査処理における基板搬入を模式的に示す上面図である。 図8は、本発明の実施の形態にかかる基板検査処理における基板搬入を模式的に示す側面図である。 図9は、本発明の実施の形態にかかる基板検査処理における基板搬入を模式的に示す側面図である。 図10は、本発明の実施の形態にかかる基板検査処理における位置決め処理を模式的に示す側面図である。 図11は、本発明の実施の形態にかかる基板検査処理における位置決め処理を模式的に示す側面図である。
以下、本発明を実施するための形態を図面と共に詳細に説明する。なお、以下の実施の形態により本発明が限定されるものではない。また、以下の説明において参照する各図は、本発明の内容を理解でき得る程度に形状、大きさ、および位置関係を概略的に示してあるに過ぎず、従って、本発明は各図で例示された形状、大きさ、および位置関係のみに限定されるものではない。
まず、本発明の実施の形態にかかる検査装置について、図面を参照して詳細に説明する。なお、以下の説明では、基板の検査装置を例に挙げて説明する。なお、本実施の形態にかかる検査装置は、オフライン型のものとして説明するが、インライン型であってもよい。
図1は、本実施の形態にかかるフラットパネルディスプレイ(FPD)検査装置の概略構成を示す上面図である。図2は、本実施の形態にかかるFPD検査装置の構成を模式的に示す側面図である。図1に示すように、FPD検査装置1は、搬送された矩形をなす基板Wの欠陥を検出する基板処理部2と、基板処理部2全体の制御を行う制御部3と、を備える。また、基板処理部2は、基板Wを搬送する搬送ステージ12,20,21と、搬送ステージ12上に設けられ、移動する基板Wの欠陥を検出する検査ユニット100(検査部)を保持するガントリステージ10と、を備える。
ガントリステージ10および搬送ステージ12,20,21は、例えば図2に示すような架台11に固定される。架台11は、例えばブロック状の大理石やスチール材を組み合わせたフレームなど、耐震性の高い部材によって構成される。加えて、架台11と設置面(例えば床)との間には、例えばスプリングや油圧ダンパなどで構成された振動吸収機構13が設けられる。これにより、搬送ステージ12,20,21およびガントリステージ10の振動がさらに防止される。
搬送ステージ12,20,21は、例えば搬送補助機構としての複数の板状部材が基板Wの搬送方向Dと垂直な方向にすのこ状に組み合わされた構造を有する。この搬送ステージ12,20,21を搬送方向Dに沿って並べることで、基板Wの搬送経路が形成される。各搬送ステージ12,20,21の板状部材には、上面で基板Wを保持し、搬送方向Dに回転可能なフリーローラ121,201,211がそれぞれ設けられる。また、搬送ステージ20の幅方向の中央には、搬送方向Dに駆動し、基板Wを吸着して搬送する駆動機構30が設けられる。なお、フリーローラ121,201,211は、ラグランジュ点のように基板Wの撓み振動が発生しないような間隔で配置されることが好ましい。
搬送ステージ20は、搬送ステージ20に載置された基板Wを整列させる整列ピン202aを搬送方向Dに移動させる整列ピン駆動部202と、位置決め位置の基準となる基準ピン203aを基板処理部2の上下方向に駆動する基準ピン駆動部203と、基板Wの搬送方向Dに平行な側の端面を検出する端面検出センサ204aを有する端面検出部204と、を有する。
図3,4は、整列ピン駆動部202を模式的に示す斜視図である。図3,4に示すように、整列ピン駆動部202は、基板Wの端面に当接する整列ピン202aと、搬送方向Dに平行な方向に進退可能であって、整列ピン202aを搬送方向Dに平行に移動させる進退部202bと、を備える。なお、進退部202bは、制御部3の制御によって駆動する。この駆動には、空圧シリンダや電動モータなどが用いられる。
整列ピン202aは、PEEK(ポリエーテル・エーテル・ケトン)材等の樹脂を用いて略円柱状に形成され、図3に示すような円柱の長手方向の中心軸X(搬送方向Dと直交)まわりに回転可能である。これにより、基板Wの整列ピン202aと当接する端面が、整列ピン202aの移動方向に対して傾斜している場合であっても、基板Wと整列ピン202aとの間に加わる摩擦力を軽減し、基板Wの損傷を抑制することが可能となる。
図5は、基準ピン駆動部203を模式的に示す斜視図である。図5に示すように、基準ピン駆動部203は、基板Wと当接し、基板Wの位置決め位置の基準となる基準ピン203aと、搬送方向Dに垂直な方向に昇降可能であって、基準ピン203aを搬送方向Dに垂直な方向に昇降駆動させる昇降部203bと、を備える。なお、昇降部203bは、制御部3の制御によって駆動する。この駆動には、空圧シリンダや電動モータなどが用いられる。
基準ピン203aは、PEEK(ポリエーテル・エーテル・ケトン)材等の樹脂からなる。基準ピン203aは、少なくとも基板Wと当接する領域が搬送方向Dの前方に向けて傾斜するようなテーパ形状をなす。これにより、基板Wが搬送ステージ20に搬送された際、特に、搬送ステージ20の上方から基板Wを受け入れる際に、基板Wの位置がずれていた場合であっても、基板受入時の基板Wと基準ピン203aとの接触をより確実に回避させることができる。さらに、基板Wに当接した際の接触面積を小さくすることができる。なお、テーパ形状を基板Wに当接する領域より上方に形成してもよいし、基板との当接位置が規定できれば、検査ユニット側に傾斜させた棒状部材を基準ピンとして用いてもよい。また、図3に示すような長手方向の中心軸X(搬送方向Dと直交)まわりに回転可能であってもよい。
整列ピン202aの配置は、基準ピン203aは挟持して基板Wを固定できる位置であればよい。より好ましくは、整列ピン202aが、搬送ステージの幅方向に対して、最も外縁側に位置する基準ピン203aより内側に配置される。また、整列ピンおよび基準ピンがそれぞれ2つであるものとして説明したが、上述した配置であればそれぞれが1つまたは複数配置されていてもよい。
駆動機構30は、搬送方向Dの水平方向に平行な搬送軸31上を移動する駆動部32と、駆動部32に支持される支持部材33と、支持部材33に支持され、図示しないポンプによる吸気によって基板Wを吸着する吸着パッド34と、を有する。駆動機構30は、搬送軸31としてリニアモータガイドを用いるとともに、駆動部32としてリニアモータを用いることによって実現される。
なお、駆動機構30は、搬送ステージの幅方向の中央に設けられることによって、搬送ステージ20に搬入された基板Wの重心位置を含む領域を保持することが可能となり、安定した基板搬送を行うことができる。また、基板Wを損傷することなく搬送可能であれば、駆動機構30の配設位置は如何なる位置でもよい。さらに、基板Wの保持は吸着ではなく、基板Wの端部を把持して搬送する構成であってもよい。
検査ユニット100は、搬送ステージ12が形成する搬送経路上に設定された、搬送ステージ12の幅方向に平行な検査ラインL1を通過する基板Wを、顕微鏡101を介して撮像する図示しない撮像部を有する。この検査ユニット100によって取得された画像を解析することで、基板Wに欠陥が存在するか否かを検出することができる。なお、検査ユニット100は、検査ラインL1に沿って移動することが可能である。本説明では、検査ユニット100が設けられる領域を検査空間PR1という。また、検査空間PR1以外の領域を搬送空間TR1,TR2という。
なお、検査ユニット100は、例えば基板Wの欠陥部分に対して行うレーザ照射修復や塗布修正等の修復ユニット、観察・画像保存する撮像ユニット、配線等の寸法測定、膜厚測定、色測定などを行う測定ユニットなどの処理を所定の位置で施す他の処理ユニットに置き替えることもできる。すなわち、処理ユニットには、検査ユニット、修復ユニット、撮像ユニット、露光ユニット、測定ユニット等が含まれる。また、本発明にかかる検査装置は、基板Wを載置するステージ上で上述した処理ユニットが基板Wに対して各処理を行う構成も含む。
また、FPD検査装置1が、検査空間PR1および搬送空間TR1,TR2を囲む外装を備えていれば、内部空間(クリーンルーム)を形成することができるので好ましい。このクリーンルームは、基板Wの搬入口および搬出口ならびに下部のダクト以外、密閉された空間である。外装は、検査ユニット100の上方に、内部空間にクリーンな空気(以下、クリーンエアという)を送り込むFFUを有する。
FFUは、例えば、パーティクルなどのダストが除去されたクリーンエアを送出する。この結果、特に検査ユニット100近傍および検査ラインL1周辺(検査空間PR1)を、ダストの少ないクリーンな状態とする。また、検査ユニット100近傍および検査ラインL1周辺に集中して送出されたクリーンな空気は、クリーンルーム内でダウンフローを形成した後、排気口から排気される。
図6は、本実施の形態にかかる基板検査処理の一連の流れを示すフローチャートである。まず、外部からFPD検査装置1に基板Wを搬入する(ステップS102)。基板Wの搬入は、図7,8に示すように、搬送ロボット40のアーム40aに保持された基板Wを搬送ステージ20に搬入する。搬送ロボット40は、基板Wを保持しているアーム40aが搬送ステージ20上まで進んだ後、下降する。このとき、アーム40aは、搬送ステージ20の板状部材間に入り込む。その後アーム40aが下降することで、図9に示すように、基板Wがフリーローラ201に保持される。基板Wがフリーローラ201に支持された後、搬送ロボット40は、搬送ステージ20(FPD検査装置1)から離脱する。
搬送ステージ20に基板Wを受け入れ後、基板Wの位置決め処理を行う。まず、図8に示すように、基準ピン駆動部203を駆動して、基準ピン203aを上昇させる(ステップS104)。その後、整列ピン駆動部202を駆動して、整列ピン202aを移動させる(ステップS106)。整列ピン202aは、図10に示すように、図1,2に示す搬送方向Dに沿って移動して、基板Wに当接し、基板Wを搬送方向Dに移動させる。整列ピン202aの移動によって基板Wを移動させると、基板Wは、基準ピン203aに当接する(図11)。基板Wは、一方向において整列ピン202aおよび基準ピン203aに挟持され、固定された状態となる。この状態で基板Wの載置位置が決定される。
基板Wの載置位置が決定すると、端面検出部204は、端面検出センサ204aによって、基板Wの整列ピン202aおよび基準ピン203aの挟持方向と直交する方向の一方の辺の端面を検出する(ステップS108)。端面検出部204は、端面検出センサ204aが検出した情報をもとに、搬送ステージ20における基板Wの搬送方向Dに平行な端面の位置情報を生成する。端面検出部204は、位置情報を生成後、制御部3に位置情報を出力する(ステップS110)。なお、位置情報は、例えば端面検出センサ204aからの距離情報であって、制御部3は、得られた距離情報をもとに基板Wの位置補正を行う。また、位置情報が座標情報であって、制御部3は、得られた座標情報をもとに基板Wの座標補正を行ってもよい。
端面検出部204による位置情報の出力後、駆動機構30は、吸着パッド34に基板Wを吸着保持させる(ステップS112)。その後、整列ピン駆動部202は、整列ピン202aを搬送方向Dと反対方向に移動させて、基板Wから整列ピン202aを解除する(ステップS114)。また、基準ピン駆動部203は、少なくとも基準ピン203aの上端部がフリーローラ201の上端部より低くなる位置まで基準ピン203aを下降させる(ステップS116)。なお、整列ピン202aの解除動作および基準ピン203aの下降動作は、順序が逆であってもよいし、同時に行ってもよい。
整列ピン202aの解除および基準ピン203aの下降後、駆動機構30は、駆動部32を駆動して吸着パッド34を移動させ、基板Wを搬送ステージ12側に移動させる(ステップS118)。検査ユニット100は、検査ラインL1を通過する基板Wを、顕微鏡101を介して撮像し、取得された画像の解析を行う(ステップS120)。
搬送された基板Wの検査処理終了後、制御部3は、次の検査対象の基板がある場合(ステップS122:Yes)、ステップS102に移行して次の基板の基板検査処理を行う。また、制御部3は、次の検査対象の基板がない場合(ステップS122:No)、基板検査処理を終了する。
上述した実施の形態のように、フリーローラの回転方向に沿って基板を移動させて載置位置を固定し、回転方向に直交する方向は、センサで端面検出することによって基板の位置を確認するようにしたため、簡易な構成で基板の損傷を防止して搬送することが可能となる。特に、近年の基板の大型化に伴い、基板がローラに対して加える自重が大きくなっており、損傷が生じやすくなっているため、一方向のみの移動および位置確認によって、搬送における基板の損傷の防止に有効な効果を奏する。
なお、本実施の形態では、オフライン型のFPD検査装置であるものとして説明したが、インライン型のFPD検査装置にも適用可能である。インライン型の場合は、搬送ステージ20の検査ユニット100側と異なる側に連結された搬送ステージから基板が搬送されるため、整列ピン202aを下降または搬送ステージ20の上面から退避させる構成を加えることが好ましい。
また、吸着パッドによる基板の搬送において、各吸着パッドを整列ピンおよび基準ピン駆動部に置き換え、整列ピンおよび基準ピンで基板を挟持して載置位置を固定するとともに、駆動部32の駆動によって、挟持した状態を維持しながら基板を搬送させるようにしてもよい。
なお、搬送ロボットのアームに整列ピン駆動部および基準ピンを配設し、アームに保持された状態で基板の載置位置を固定してもよい。このとき、アームの上面には、基板を支持し、整列ピンの移動方向に沿って回転可能なフリーローラが設けられていることが好ましい。
以上のように、本発明にかかる検査装置は、簡易な構成で検査対象の基板を安定して搬送することに有用である。
1 FPD検査装置
2 基板処理部
3 制御部
10 ガントリステージ
11 架台
12,20,21 搬送ステージ
13 振動吸収機構
30 駆動機構
34 吸着パッド
40 搬送ロボット
40a アーム
100 検査ユニット
101 顕微鏡
121,201,211 フリーローラ
202 整列ピン駆動部
202a 整列ピン
203 基準ピン駆動部
203a 基準ピン
204 端面検出部
204a 端面検出センサ
L1 検査ライン
PR1 検査空間
TR1,TR2 搬送空間
W 基板

Claims (7)

  1. 基板を支持し、該基板を搬送する搬送方向に沿って回転するローラを有する搬送ステージと、
    前記基板を前記搬送方向に沿って移動させる駆動機構と、
    前記搬送ステージにおける前記基板の搬入側の端部側に設けられ、前記基板に当接する整列部材を保持し、該整列部材を搬送方向に移動させる整列部材駆動部と、
    前記検査部と前記整列部材駆動部との間に設けられ、前記基板に当接する基準部材を保持し、該基準部材を昇降駆動させる基準部材駆動部と、
    前記基板の前記搬送方向に平行な方向の端面を検出する端面検出部と、
    前記端面検出部が検出した端面の情報をもとに前記基板の検査を行う検査部と、
    を備えたことを特徴とする検査装置。
  2. 前記整列部材は、略円柱状をなし、該円柱の中心軸まわりに回転可能であることを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
  3. 前記基準部材は、少なくとも前記基板に当接する領域より上方が前記搬送方向の前方に向けて傾斜していることを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
  4. 前記駆動機構は、前記基板を吸着して保持する吸着パッドを有することを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
  5. 前記基準部材は、複数設けられ、
    前記整列部材は、複数の前記基準部材のうち、前記搬送ステージの幅方向の最も外縁側に位置する基準部材に対して前記幅方向の内部側に位置することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の検査装置。
  6. 前記整列部材駆動部は、前記整列部材を昇降駆動することを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
  7. 基板の検査を行う検査部と、前記基板を載置して、該基板を搬送する搬送部とを有する検査装置の基板の位置決め方法であって、
    前記基板を搬送する搬送方向に沿って回転するローラを有する搬送ステージに前記基板を搬入する搬入ステップと、
    前記搬送ステージにおける前記基板の搬入側の端部側に設けられ、前記基板に当接する整列部材を駆動する整列部材駆動ステップと、
    前記検査部と前記整列部材駆動部との間に設けられ、前記基板に当接する基準部材と、前記整列部材とによって前記基板を挟持して固定する基板固定ステップと、
    前記基板固定ステップによって固定された前記基板の前記搬送方向に平行な方向の端面を検出する端面検出ステップと、
    を含むことを特徴とする基板の位置決め方法。
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