JP2889264B2 - 四端子測定装置 - Google Patents

四端子測定装置

Info

Publication number
JP2889264B2
JP2889264B2 JP1173389A JP1173389A JP2889264B2 JP 2889264 B2 JP2889264 B2 JP 2889264B2 JP 1173389 A JP1173389 A JP 1173389A JP 1173389 A JP1173389 A JP 1173389A JP 2889264 B2 JP2889264 B2 JP 2889264B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
voltage
transformer
current
signal source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP1173389A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH02190771A (ja
Inventor
均 北吉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ADOBANTESUTO KK
Original Assignee
ADOBANTESUTO KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ADOBANTESUTO KK filed Critical ADOBANTESUTO KK
Priority to JP1173389A priority Critical patent/JP2889264B2/ja
Publication of JPH02190771A publication Critical patent/JPH02190771A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2889264B2 publication Critical patent/JP2889264B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は被測定物の第1電極に第1接触子を通じて
信号源を接続し、その被測定物の第2電極に第2接触子
を通じて電流測定手段を接続し、第1電極及び第2電極
間に第3,第4接触子を通じて電圧測定手段を接続した四
端子測定装置に関する。
「従来の技術」 第4図に従来の四端子測定装置を示す。コンデンサの
被測定物11の第1電極12に第1接触子13を通じて信号源
14が接続され、被測定物11の第2電極15に第2接触子16
を通じて電流電圧変換器17が接続される。第1電極12、
第2電極15にそれぞれ第3接触子18、第4接触子19を通
じて高入力インピーダンスの電圧バッファ増幅器21,22
が接続される。電圧バッファ増幅器21,22の各出力側は
差動増幅器23の両入力側に接続される。電流電圧変換器
17、差動増幅器23の各出力側はベクトル検波器24に接続
され、ベクトル検波器24は演算・表示部25に接続され
る。
被測定物11に信号源14より交流電圧を印加し、被測定
物11を流れる電流を電流電圧変換器17により電圧情報と
した後、ベクトル検波器24で複素数情報として検出し、
被測定物11の両端の電圧を電圧検出差動増幅器23により
電圧情報とした後、ベクトル検波器24で複素数情報とし
て検出し、ベクトル検波器24の両出力を演算処理して被
測定物11の静電容量値やtanδ値を表示する。
「発明が解決しようとする課題」 第1接触子13、第2接触子16の接触が不充分の場合は
所定の電流を被測定物11に流すことができないため測定
値が誤ったものとなる。また第6接触子18、第4接触子
19の接触が不充分の場合は実際の被測定物11の両端電圧
が測定されないため測定値が誤ったものとなる。
被測定物11として高電圧に充電されたコンデンサが接
続された場合、信号源14、電流電圧変換器17に大きな電
流が流れ、電圧検出バッファ増幅器21,22に高電圧がか
かってこれらを損傷するおそれがあった。
「課題を解決するための手段」 この発明による四端子測定装置は、被測定物の第1電
極に第1接触子を通じて信号源を接続し、その被測定物
の第2電極の第2接触子を通じて電流測定手段を接続
し、上記第1電極及び第2電極間に第3、第4接触子を
通じて電圧測定手段を接続した四端子測定装置におい
て、 第1のトランスの2次側の両端を上記第1接触子と上
記第3接触子にそれぞれ接続し、上記第1のトランスの
1次側の1端を接触検出用信号源の一端に接続し、上記
第1のトランスの1次側の他端と接触検出用信号源の他
端との間に接続され、上記第1のトランスの1次側に流
れる電流を検出することにより、上記第1接触子と上記
第3接触子間の接触不良を検出する第1電流検出手段
と、第2のトランスの2次側の両端を上記第2接触子と
上記第4接触子にそれぞれ接続し、上記第2のトランス
の1次側の1端を上記接触検出用信号源の一端に接続
し、上記第2のトランスの1次側の他端と上記接触検出
用信号源の他端との間に接続され、上記第2のトランス
の1次側に流れる電流を検出することにより、上記第2
接触子と上記第4接触子の接触不良を検出する第2電流
検出手段と、上記第1接触子と上記第2接触子又は上記
第4接触子との間の電圧差、又は上記第3接触子と上記
第2接触子又は上記第4接触子との間の電圧差を検出す
る電圧検出手段と、上記第2接触子と上記電流測定手段
との間、及び上記第3、第4接触子と上記電圧測定手段
との間に設けられ、それぞれの接続をオン・オフするス
イッチと、上記第1電流検出手段、上記第2電流検出手
段及び上記電圧検出手段のいずれかが上記接触不良又は
上記電圧差を検出した時は、上記スイッチをオフとする
手段と、を具備する。
「実施例」 第1図はこの発明の実施例を示し、第4図と対応する
部分には同一符号を付けてある。この発明によれば第1
接触子13及び第3接触子18間の導通を検出する手段と、
第2接触子16及び第4接触子19間の導通を検出する手段
とが設けられる。このため第1図においては信号源14の
周波数と異なる周波数の接触検出用信号源31が設けら
れ、接触検出用信号源31の一端は接地され、他端はトラ
ンス32,33の1次側の各一端に接続される。トランス32
の2次側の両端は第1接触子13、第3接触子18に接続さ
れ、トランス33の2次側の両端は第2接触子16、第4接
触子19に接続される。トランス32の1次側の他端は抵抗
器34を通じて接地されると共にダイオード35の一端に接
続され、ダイオード35の他端はコンデンサ36、抵抗器37
をそれぞれ通じて接地され、ダイオード35、コンデンサ
36の接続点38はインバータ39に接続される。トランス33
の1次側の他端は抵抗器41を通じて接地されると共にダ
イオード42の一端に接続され、ダイオード42の他端はコ
ンデンサ43及び抵抗器44をそれぞれ通じて接地され、ダ
イオード42、コンデンサ43の接続点45はインバータ46に
接続される。
第1接触子13と第2接触子16又は第4接触子19との間
の電位差の有無を検出する手段と、第3接触子18と第2
接触子16又は第4接触子19との間の電位差の有無を検出
する手段とが設けられる。このため第1,第2,第3,第4接
触子13,16,18,19はそれぞれ、抵抗器47,48,49,51の各一
端に接続され、抵抗器47、48,49,51の各他端はそれぞれ
ツエナダイオード52,53,54,55を通じて接地される。抵
抗器47、ツエナダイオード52の接続点はダイオード56の
陽極に接続され、抵抗器48、ツエナダイオード53の接続
点はダイオード57の陽極に接続され、抵抗器49、ツエナ
ダイオード54の接続点はダイオード58の陽極に接続さ
れ、抵抗器51、ツエナダイオード55の接続点はダイオー
ド59の陽極に接続される。ダイオード56,57,58,59の各
陰極は互いに接続され、その接続点61はトランジスタ62
のベースに接続され、トランジスタ62のエミッタは接地
され、コレクタは抵抗器63を通じて電源端子64に接続さ
れると共にインバータ65に接続される。
インバータ39,46,65の各出力はノア回路66へ供給さ
れ、ノア回路66の出力はトランジスタ67のベースへ供給
される。トランジスタ67のコレクタはリレー68,69,71,7
2を通じて電源端子64に接続され、エミッタは接地され
る。リレー68の接点68aは第1接触子13と信号源14との
間に挿入され、リレー69の接点69aは第2接触子16と電
流電圧変換器17との間に挿入され、リレー71の接点71a
は第3接触子18と電圧バッファ増幅器21との間に挿入さ
れ、リレー72の接点72aは第4接触子19と電圧バッファ
増幅器22との間に挿入される。
インバータ39,46の各出力はノア回路73にも供給さ
れ、ノア回路73の出力と、インバータ65の出力と、自動
指令とがアンド回路74へ供給され、アンド回路74の出力
はトランジスタ75のベースに供給され、トランジスタ75
のコレクタはリレー76を通じて電源端子64に接続され、
エミッタは接地される。リレー76の接点76aが第3接触
子18と第4接触子19との間に接続される。
上述した構成において、第1接触子13及び第3接触子
18間の抵抗が減少すると、トランス32の2次側に大きな
電流が流れ、トランス32の1次側、抵抗器34に大きな電
流が流れ、その電流がダイオード35で検波されて抵抗器
37に流れる。従って接続点38の電位が上り、インバータ
39の出力は高レベルから低レベルに変化する。同様に第
2接触子16及び第4接触子19間の抵抗が減少するとイン
バータ46の出力は高レベルから低レベルに変化する。こ
のようにして第1接触子13、第3接触子18間の導通、第
2接触子16、第4接触子19間の導通が検出される。
被測定物11の第1電極12、第2電極15に接触する第1,
第2,第3,第4接触子13,16,18,19の内少なくとも2つの
接触子間にある程度、例えば3V以上の電位差がある場合
は接続点61の電位が上りトランジスタ62が導通してイン
バータ65の出力が低レベルから高レベルに変化する。例
えば第1接触子13と第4接触子19との間に10Vの電位差
(第1接触子13が正、第4接触子19が負)があると、電
流が抵抗器47−ツエナダイオード52−ツエナダイオード
55−抵抗器51と流れ、2つのツエナダイオード52,55の
内、逆方向のツエナダイオード52にのみツエナ電圧、例
えば3Vが発生する。この両端電圧はダイオード56を順バ
イアスして接続点61の電位を上げる。よってトランジス
タ62が導通し、インバータ65の出力が高レベルになる。
次に逆方向に電圧がかかった場合、つまり第1接触子
13が負で第4接触子19が正の場合、電流は抵抗器51−ツ
エナダイオード55−ツエナダイオード52−抵抗器47と流
れ、2つのツエナダイオード52,55の内、逆方向のツエ
ナダイオード55にのみツエナ電圧が発生し、そのツエナ
電圧はダイオード59を順バイアスし、接続点61の電位を
上げ、トランジスタ62が導通し、インバータ65の出力が
高レベルになる。同様にして全ての接触子間に発生する
高電圧を四端子接続が成立する前に検出できる。
第1接触子13及び第3接触子18間が低抵抗であり、第
2接触子16及び第4接触子19が低抵抗であり、かつ第1
電極12及び第2電極15間に高電圧が発生していない場合
はインバータ39,46,65の各出力は共に低レベルであっ
て、ノア回路66の出力は高レベルとなり、トランジスタ
67が導通し、リレー68,69,71,72が共に動作して、信号
源14の測定信号が被測定物11に印加され、被測定物11を
流れる電流が電流電圧変換器17で検出され、被測定物11
の両端間の電圧が差動増幅器23で検出され、被測定物11
のキャパシタンスが測定される。
四端子接続が成立した状態、つまり第1接触子13及び
第3接触子18間、第2接触子16及び第4接触子19間が共
に低抵抗でインバータ39,46の出力が共に低レベルの状
態において、第1電極12及び第2電極15間に高電圧が発
生している場合は接続点61の電位が上がり、インバータ
65の出力が高レベルとなり、ノア回路73の出力も高レベ
ルであるから自動指令が与えられているとアンド回路74
の出力が高レベルとなり、トランジスタ75がオンし、リ
レー76が動作して、リレー接点76aを通じて第1電極12
及び第2電極15間が接続され、被測定物11の電荷はイン
バータ65の出力が低レベルになるまで自動放電される。
四端子接触検出は第2図に示すように構成してもよ
い。第1接触子13及び第3接触子18間が低抵抗になると
リレー77が動作し、リレー77の接点77aにより論理回路7
8の入力側が接地され、論理回路78の出力が高レベルよ
り低レベルになる。同様に第2接触子16及び第4接触子
19間が低抵抗になるとリレー79が動作し、その接点79a
がオンして論理回路81の入力側が接地され、論理回路81
の出力が高レベルより低レベルになる。第3図に示すよ
うにリレー77,79の代りにフォトカプラ82,83を用いても
よい。
「発明の効果」 以上述べたように、この発明によれば各接触子の接触
状態を検出でき、被測定物に所定電流を流すことがで
き、かつ被測定物の両端電圧を正しく測定することがで
き、正しい測定値が得られる。高電圧に充電されている
被測定物が接続されると、インバータ65の出力が高レベ
ルとなって、そのことが検出される。この検出を利用し
て被測定物の電荷を自動放電させることも可能であり、
その場合は信号源、電流電圧変換器、電圧検出用バッフ
ァ増幅器などを損傷するおそれはない。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例を示す接続図、第2図及び第
3図はそれぞれその一部変形を示す接続図、第4図は従
来の四端子測定装置を示す接続図である。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被測定物の第1電極に第1接触子を通じて
    信号源を接続し、その被測定物の第2電極の第2接触子
    を通じて電流測定手段を接続し、上記第1電極及び第2
    電極間に第3、第4接触子を通じて電圧測定手段を接続
    した四端子測定装置において、 第1のトランスの2次側の両端を上記第1接触子と上記
    第3接触子にそれぞれ接続し、第1のトランスの1次側
    の1端を接触検出用信号源の一端に接続し、上記第1の
    トランスの1次側の他端と接触検出用信号源の他端との
    間に接続され、上記第1のトランスの1次側に流れる電
    流を検出することにより、上記第1接触子と上記第3接
    触子間の接触不良を検出する第1電流検出手段と、 第2のトランスの2次側の両端を上記第2接触子と上記
    第4接触子にそれぞれ接続し、上記第2のトランスの1
    次側の1端を上記接触検出用信号源の一端に接続し、上
    記第2のトランスの1次側の他端と上記接触検出用信号
    源の他端との間に接続され、上記第2のトランスの1次
    側に流れる電流を検出することにより、上記第2接触子
    と上記第4接触子間の接触不良を検出する第2電流検出
    手段と、 上記第1接触子と上記第2接触子又は上記第4接触子と
    の間の電圧差、又は上記第3接触子と上記第2接触子又
    は上記第4接触子との間の電圧差を検出する電圧検出手
    段と、 上記第2接触子と上記電流測定手段との間、及び上記第
    3、第4接触子と上記電圧測定手段との間に設けられ、
    それぞれの接続をオン・オフするスイッチと、 上記第1電流検出手段、上記第2電流検出手段及び上記
    電圧検出手段のいずれかが上記接触不良又は上記電圧差
    を検出した時は、上記スイッチをオフとする手段と、 を具備する四端子測定装置。
JP1173389A 1989-01-19 1989-01-19 四端子測定装置 Expired - Fee Related JP2889264B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1173389A JP2889264B2 (ja) 1989-01-19 1989-01-19 四端子測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1173389A JP2889264B2 (ja) 1989-01-19 1989-01-19 四端子測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02190771A JPH02190771A (ja) 1990-07-26
JP2889264B2 true JP2889264B2 (ja) 1999-05-10

Family

ID=11786233

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1173389A Expired - Fee Related JP2889264B2 (ja) 1989-01-19 1989-01-19 四端子測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2889264B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4695920B2 (ja) * 2005-05-19 2011-06-08 日置電機株式会社 インピーダンス測定装置
JP5638293B2 (ja) * 2010-07-02 2014-12-10 日置電機株式会社 四端子型インピーダンス測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH02190771A (ja) 1990-07-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6833708B2 (en) Leak detecting circuit for power source device
US4015201A (en) Electrical continuity and voltage testing device
CN100549703C (zh) 检验功率开关的功率开关与外部节点之间电接触的方法
US4434401A (en) Apparatus for testing semiconductor devices and capacitors
US4300574A (en) Device for measuring and indicating changes in resistance of a living body
JP2889264B2 (ja) 四端子測定装置
US6201320B1 (en) Automatic power turn-on circuit for a battery-powered voltage measurement apparatus
JP3259370B2 (ja) コンデンサの絶縁抵抗測定装置
JP3396970B2 (ja) 電気自動車の漏電検出装置
US20050035767A1 (en) Plug detector for an electrical test instrument
WO2023026839A1 (ja) インピーダンス測定装置
JPH0640118B2 (ja) コンデンサの漏洩電流測定方法
JPH02232568A (ja) 4線式抵抗測定装置
JP2984936B2 (ja) 絶縁抵抗計
KR850001547Y1 (ko) 전원차단 감지회로
JPH02176574A (ja) 電子部品測定装置
KR100226467B1 (ko) 신호선의 접촉불량 검출회로
JPH0234607Y2 (ja)
JPH0143654Y2 (ja)
JPS5942705Y2 (ja) 検相器
JPS5823590B2 (ja) ソクテイソウチ
JPH067727B2 (ja) 絶縁監視装置
JPH0216294Y2 (ja)
JPH0814590B2 (ja) 回路素子測定器の端子接続状態検出回路
JPS6211166Y2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees