JPH02232568A - ４線式抵抗測定装置 - Google Patents
４線式抵抗測定装置Info
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- JPH02232568A JPH02232568A JP5451389A JP5451389A JPH02232568A JP H02232568 A JPH02232568 A JP H02232568A JP 5451389 A JP5451389 A JP 5451389A JP 5451389 A JP5451389 A JP 5451389A JP H02232568 A JPH02232568 A JP H02232568A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
抵抗器の製造において抵抗値の自動計測を行う装置、特
にプローブの接触不良による誤判定を無くす４線式抵抗
測定装置に関し、 ４本のプローブが完全に接触しない場合は計測不能にな
り、誤判定することのない４ｆｌ式抵抗測定装置の提供
を目的とし、 抵抗を介して給電回路に接続された給電プローブと抵抗
を介して計測回路に接続された計測プローブを有し、両
側に給電プローブと計測プローブを接触せしめ被測定抵
抗の抵抗値を計測する４線式の抵抗測定装置であって、
被測定抵抗の同一端子に接続される給電回路と計測回路
の間にそれぞれフォトカプラの受光素子を接続し、且つ
直列接続されたフォトカプラの発光素子を給電回路の定
電流源と並列に接続し構成する． 〔産業上の利用分野〕 本発明は抵抗器の製造において抵抗値の自動計測を行う
装置に係り、特にプローブの接触不良による誤判定を無
くす４線式抵抗測定装置に関する．抵抗値が比較的低い
抵抗器の自動計測に用いられる４線式抵抗測定装置は、
被測定抵抗の両側に接触させる一対の給電プローブと一
対の計測プローブを有し、４本のプローブが完全に接触
しないと正しい測定値が得られない． かかる測定装置において４本のプローブが完全に接触し
ない状態で測定が続行されると、測定値がＯや不定にな
って適宜分類されるなど誤判定される場合がある．しか
し抵抗値を自動測定する装置におけるかかる誤判定は容
認できない。
にプローブの接触不良による誤判定を無くす４線式抵抗
測定装置に関し、 ４本のプローブが完全に接触しない場合は計測不能にな
り、誤判定することのない４ｆｌ式抵抗測定装置の提供
を目的とし、 抵抗を介して給電回路に接続された給電プローブと抵抗
を介して計測回路に接続された計測プローブを有し、両
側に給電プローブと計測プローブを接触せしめ被測定抵
抗の抵抗値を計測する４線式の抵抗測定装置であって、
被測定抵抗の同一端子に接続される給電回路と計測回路
の間にそれぞれフォトカプラの受光素子を接続し、且つ
直列接続されたフォトカプラの発光素子を給電回路の定
電流源と並列に接続し構成する． 〔産業上の利用分野〕 本発明は抵抗器の製造において抵抗値の自動計測を行う
装置に係り、特にプローブの接触不良による誤判定を無
くす４線式抵抗測定装置に関する．抵抗値が比較的低い
抵抗器の自動計測に用いられる４線式抵抗測定装置は、
被測定抵抗の両側に接触させる一対の給電プローブと一
対の計測プローブを有し、４本のプローブが完全に接触
しないと正しい測定値が得られない． かかる測定装置において４本のプローブが完全に接触し
ない状態で測定が続行されると、測定値がＯや不定にな
って適宜分類されるなど誤判定される場合がある．しか
し抵抗値を自動測定する装置におけるかかる誤判定は容
認できない。
そこでプローブが完全に接触しない場合は計測不能を表
示して停止する等、誤判定することのない４線式抵抗測
定装置の実現が要望されている．〔従来の技術〕 第２図は従来の４線式抵抗測定装置を示す回路図である
． 図において従来の４線式抵抗測定装置は給電回路１と計
測回路２を有し、定電流電源１１と定電圧ダイオード１
２からなる給電回路１には、抵抗３１を介して給電プロ
ーブ３ａ，３ｂが接続されている．また差動増幅器２１
と抵抗２２からなる計測回路２には、抵抗４１を介して
計測プローブ４ａ．４ｂが接続されている．なお抵抗３
１．４１は被測定抵抗５の測定範囲より若干高い抵抗値
を有し、回路抵抗の不平衡等による誤差を防ぐ抵抗２２
は抵抗３Ｌ４１に比べ極めて高い抵抗値を具えている． かかる４線式抵抗測定装置で被測定抵抗５の抵抗値を計
測する場合は、被測定抵抗５の一方の端子５１に給電回
路１の十側に接続されている給電プローブ３ａと、計測
回路２の＋側に接続されている計測プローブ４ａを接触
させる。また他方の端子５２に給電回路１の一側に接続
されている給電プローブ３ｂと、計測回路２０一側に接
続されている計測プローブ４ｂを接触させる。被測定抵
抗５０両側の端子５１．５２に４本のプローブが完全に
接触すると、端子５１ ． ５２間に被測定抵抗５の抵
抗値に対応する電圧降下が生じ、それぞれの電圧が差動
増幅器２１に入力されて電位差が増幅される。
示して停止する等、誤判定することのない４線式抵抗測
定装置の実現が要望されている．〔従来の技術〕 第２図は従来の４線式抵抗測定装置を示す回路図である
． 図において従来の４線式抵抗測定装置は給電回路１と計
測回路２を有し、定電流電源１１と定電圧ダイオード１
２からなる給電回路１には、抵抗３１を介して給電プロ
ーブ３ａ，３ｂが接続されている．また差動増幅器２１
と抵抗２２からなる計測回路２には、抵抗４１を介して
計測プローブ４ａ．４ｂが接続されている．なお抵抗３
１．４１は被測定抵抗５の測定範囲より若干高い抵抗値
を有し、回路抵抗の不平衡等による誤差を防ぐ抵抗２２
は抵抗３Ｌ４１に比べ極めて高い抵抗値を具えている． かかる４線式抵抗測定装置で被測定抵抗５の抵抗値を計
測する場合は、被測定抵抗５の一方の端子５１に給電回
路１の十側に接続されている給電プローブ３ａと、計測
回路２の＋側に接続されている計測プローブ４ａを接触
させる。また他方の端子５２に給電回路１の一側に接続
されている給電プローブ３ｂと、計測回路２０一側に接
続されている計測プローブ４ｂを接触させる。被測定抵
抗５０両側の端子５１．５２に４本のプローブが完全に
接触すると、端子５１ ． ５２間に被測定抵抗５の抵
抗値に対応する電圧降下が生じ、それぞれの電圧が差動
増幅器２１に入力されて電位差が増幅される。
しかし従来の測定装置において１本のプローブが接触不
良になると、差動゛増輻器の出力電圧が不定になって被
測定抵抗と関係の無い電圧が出力される．その結果、被
測定抵抗はそのときの電圧に対応する抵抗値を有するも
のと判定される。即ち、所定の抵抗値を有する被測定抵
抗が誤判定されるという問題があった． 本発明の目的は４本のプローブが完全に接触しない場合
は計測不能になり、誤判定することのない４線式抵抗測
定装置を提供することにある．〔課題を解決するための
手段〕 第１図は本発明になる４線式抵抗測定装置を示す回路図
である．なお全図を通し同じ対象物は同一記号で表して
いる． 上記課題は抵抗３１を介して給電回路ｌに接続された給
電プローブ３ａ、３ｂと、抵抗４１を介して計測回路２
に接続された計測プローブ４ａ．４ｂを有し、両側に給
電プローブ３ａ ， ３ｂと計測プローブ４ａ，４ｂを
接触せしめ、被測定抵抗５の抵抗値を計測する抵抗測定
装置であって、被測定抵抗５の同一端子に接続される給
電回路１と計測回路２０間に、それぞれフォトカプラ７
ａ，７ｂの受光素子７１ａ、７１ｂを接続し、且つ直列
接続されたフォトカプラ７ａ，７ｂの発光素子？２ａ．
７２ｂを、給電回路１の定電流源６と並列に接続してな
る本発明の４線式抵抗測定装置によって達成される。
良になると、差動゛増輻器の出力電圧が不定になって被
測定抵抗と関係の無い電圧が出力される．その結果、被
測定抵抗はそのときの電圧に対応する抵抗値を有するも
のと判定される。即ち、所定の抵抗値を有する被測定抵
抗が誤判定されるという問題があった． 本発明の目的は４本のプローブが完全に接触しない場合
は計測不能になり、誤判定することのない４線式抵抗測
定装置を提供することにある．〔課題を解決するための
手段〕 第１図は本発明になる４線式抵抗測定装置を示す回路図
である．なお全図を通し同じ対象物は同一記号で表して
いる． 上記課題は抵抗３１を介して給電回路ｌに接続された給
電プローブ３ａ、３ｂと、抵抗４１を介して計測回路２
に接続された計測プローブ４ａ．４ｂを有し、両側に給
電プローブ３ａ ， ３ｂと計測プローブ４ａ，４ｂを
接触せしめ、被測定抵抗５の抵抗値を計測する抵抗測定
装置であって、被測定抵抗５の同一端子に接続される給
電回路１と計測回路２０間に、それぞれフォトカプラ７
ａ，７ｂの受光素子７１ａ、７１ｂを接続し、且つ直列
接続されたフォトカプラ７ａ，７ｂの発光素子？２ａ．
７２ｂを、給電回路１の定電流源６と並列に接続してな
る本発明の４線式抵抗測定装置によって達成される。
第１図において給電回路と計測回路の間にそれぞれフォ
トカプラの受光素子を接続すると共に、直列接続された
フォトカプラの発光素子を給電回路の定電流源と並列に
接続することによって、プローブが接触不良の場合は計
測プローブ間の電位差が、差動増幅器から測定値超過の
情報が出力される領域まで上昇する．その結果、４本の
プローブが完全に接触しない場合は計測不能になり、誤
判定することのない４線式抵抗測定装置を実現すること
ができる。
トカプラの受光素子を接続すると共に、直列接続された
フォトカプラの発光素子を給電回路の定電流源と並列に
接続することによって、プローブが接触不良の場合は計
測プローブ間の電位差が、差動増幅器から測定値超過の
情報が出力される領域まで上昇する．その結果、４本の
プローブが完全に接触しない場合は計測不能になり、誤
判定することのない４線式抵抗測定装置を実現すること
ができる。
以下第１図により本発明の実施例について詳細に説明す
る． 図において本発明になる４腺式抵抗測定装置は従来の装
置と同様に、抵抗３１を介して一対の給電プローブ３ａ
，３ｂが接続された給電回路１と、抵抗４１を介して一
対の計測プローブ４ａ，４ｂが接続された計測回路２と
を有し、計測回路２には差動増幅器２１の他に抵抗２２
と２３が設けられている．なお抵抗３１および抵抗４１
は被測定抵抗５の測定範囲より若干抵抗値が高く、抵抗
２２．２３は抵抗３１．４１に比べ極めて高い抵抗値を
具えている。
る． 図において本発明になる４腺式抵抗測定装置は従来の装
置と同様に、抵抗３１を介して一対の給電プローブ３ａ
，３ｂが接続された給電回路１と、抵抗４１を介して一
対の計測プローブ４ａ，４ｂが接続された計測回路２と
を有し、計測回路２には差動増幅器２１の他に抵抗２２
と２３が設けられている．なお抵抗３１および抵抗４１
は被測定抵抗５の測定範囲より若干抵抗値が高く、抵抗
２２．２３は抵抗３１．４１に比べ極めて高い抵抗値を
具えている。
ただし被測定抵抗５の同一端子に接続される給電回路１
と計測回路２の間に、バイパス回路としてフォトカプラ
７ａ．７ｂの受光素子７１ａ． ７ｌｂがそれぞれ接続
されている．また直列接続されたフォトカプラ７ａ．７
ｂの発光素子７２ａ．７２ｂは、被測定抵抗５に正常な
電流が流れた場合の端子間電位差に比べ、順方向降下電
圧がかなり高くなるように設定されており、定電圧ダイ
オードの代わりに定電流源６と並列に接続されている． かかる４線式抵抗測定装置において被測定抵抗５の端子
５１と、給電回路１の十側に接続されている給電プロー
ブ３ａとの間が開放状態になると、定電流源６の特性に
より発光素子？２ａ，７２ｂのアノード側電圧が上昇し
、順方向降下電圧より高くなると受光素子７１ａ． ７
ｌｂが導通状態になる。その結果、受光素子７１ａおよ
び抵抗４１を経由して被測定抵抗５に電流が流れ、被測
定抵抗５の抵抗値に関連した電圧が差動増幅器２１に入
力される。しかしこの場合は給電プローブ３ａを介して
被測定抵抗５に電流が流れた場合と異なり、差動増幅器
２１の入力側における電位差が大きく測定値の限界を超
過する。
と計測回路２の間に、バイパス回路としてフォトカプラ
７ａ．７ｂの受光素子７１ａ． ７ｌｂがそれぞれ接続
されている．また直列接続されたフォトカプラ７ａ．７
ｂの発光素子７２ａ．７２ｂは、被測定抵抗５に正常な
電流が流れた場合の端子間電位差に比べ、順方向降下電
圧がかなり高くなるように設定されており、定電圧ダイ
オードの代わりに定電流源６と並列に接続されている． かかる４線式抵抗測定装置において被測定抵抗５の端子
５１と、給電回路１の十側に接続されている給電プロー
ブ３ａとの間が開放状態になると、定電流源６の特性に
より発光素子？２ａ，７２ｂのアノード側電圧が上昇し
、順方向降下電圧より高くなると受光素子７１ａ． ７
ｌｂが導通状態になる。その結果、受光素子７１ａおよ
び抵抗４１を経由して被測定抵抗５に電流が流れ、被測
定抵抗５の抵抗値に関連した電圧が差動増幅器２１に入
力される。しかしこの場合は給電プローブ３ａを介して
被測定抵抗５に電流が流れた場合と異なり、差動増幅器
２１の入力側における電位差が大きく測定値の限界を超
過する。
なお受光素子７ｌｂは導通状態になるが逆バイアスされ
ているため電流は流れない。
ているため電流は流れない。
また計測回路２の十側に接続されている計測プローブ４
ａが開放状態になった場合、バイパス回路として接続さ
れている受光素子７１ａ、７１ｂは導通状態にならない
が、抵抗２３を介して給電回路１の十側電圧が差動増幅
器２１の一方に入力され、給電プローブ３ａに接続され
た抵抗３１および被測定抵抗５によって降下した電圧が
、計測プローブ４ｂおよび抵抗４１を介して差動増幅器
２ｌの他方に入力される．この場合も差動増幅器２ｌの
入力側における電位差が大きく測定値の限界を超過する
。
ａが開放状態になった場合、バイパス回路として接続さ
れている受光素子７１ａ、７１ｂは導通状態にならない
が、抵抗２３を介して給電回路１の十側電圧が差動増幅
器２１の一方に入力され、給電プローブ３ａに接続され
た抵抗３１および被測定抵抗５によって降下した電圧が
、計測プローブ４ｂおよび抵抗４１を介して差動増幅器
２ｌの他方に入力される．この場合も差動増幅器２ｌの
入力側における電位差が大きく測定値の限界を超過する
。
更に説明の重複を避けるためここでは説明を省略してい
るが、給電回路ｌの一例に接続されている給電プローブ
３ｂ、計測回路２の一側に接続されている計測プローブ
４ｂが開放状態になった場合も、同様に差動増幅器２１
の入力側における電位差が大きく測定値の限界を超過す
る．なお被測定抵抗の測定範囲は抵抗３１および４ｌを
切替えることで変更可能であり、また測定電圧が大きく
なる場合は発光素子７２ａ ． ７２ｂと直列に、定電
圧ダイオード等を接続することによって対処することが
できる．このように給電回路と計測回路の間にそれぞれ
フォトカプラの受光素子を接続すると共に、直列接続さ
れたフォトカプラの発光素子を給電回路の定電流源と並
列に接続することによって、プローブが接触不良の場合
は計測プローブ間の電位差が、差動増幅器から測定値超
過の情報が出力される領域まで上昇する。その結果、４
本のプローブが完全に接触しない場合は計測不能になり
、誤判定することのない４線式抵抗測定装置を実現する
ことができる． 〔発明の効果〕 上述の如く本発明によればプローブが完全に接触しない
場合は計測不能を表示して停止する等、誤判定すること
のない４線式抵抗測定装置を提供することができる。
るが、給電回路ｌの一例に接続されている給電プローブ
３ｂ、計測回路２の一側に接続されている計測プローブ
４ｂが開放状態になった場合も、同様に差動増幅器２１
の入力側における電位差が大きく測定値の限界を超過す
る．なお被測定抵抗の測定範囲は抵抗３１および４ｌを
切替えることで変更可能であり、また測定電圧が大きく
なる場合は発光素子７２ａ ． ７２ｂと直列に、定電
圧ダイオード等を接続することによって対処することが
できる．このように給電回路と計測回路の間にそれぞれ
フォトカプラの受光素子を接続すると共に、直列接続さ
れたフォトカプラの発光素子を給電回路の定電流源と並
列に接続することによって、プローブが接触不良の場合
は計測プローブ間の電位差が、差動増幅器から測定値超
過の情報が出力される領域まで上昇する。その結果、４
本のプローブが完全に接触しない場合は計測不能になり
、誤判定することのない４線式抵抗測定装置を実現する
ことができる． 〔発明の効果〕 上述の如く本発明によればプローブが完全に接触しない
場合は計測不能を表示して停止する等、誤判定すること
のない４線式抵抗測定装置を提供することができる。
第１図は本発明になる４線式抵抗測定装置を示す回路図
、 第２図は従来の４線式抵抗測定装置を示す回路図、 である．図において １は給電回路、 ２は計測回路、３ａ，３ｂは
給電プローブ、４ａ，４ｂは計測プローブ、５は被測定
抵抗、 ７ａ，７ｂはフォトカプラ、 ２２，２３．３１．４１は抵抗、 ７１ａ， ７ｌｂは受光素子、 をそれぞれ表す． ６は定電流源、 ２１は差動増幅器、 ５１は端子、 ７２ａ， ７２ｂは発光素子、 革応明ｌニな５４線式者カリ・用を示すＱｇ羽第１図
、 第２図は従来の４線式抵抗測定装置を示す回路図、 である．図において １は給電回路、 ２は計測回路、３ａ，３ｂは
給電プローブ、４ａ，４ｂは計測プローブ、５は被測定
抵抗、 ７ａ，７ｂはフォトカプラ、 ２２，２３．３１．４１は抵抗、 ７１ａ， ７ｌｂは受光素子、 をそれぞれ表す． ６は定電流源、 ２１は差動増幅器、 ５１は端子、 ７２ａ， ７２ｂは発光素子、 革応明ｌニな５４線式者カリ・用を示すＱｇ羽第１図
Claims (1)
- 抵抗（３１）を介して給電回路（１）に接続された給電
プローブ（３ａ、３ｂ）と、抵抗（４１）を介して計測
回路（２）に接続された計測プローブ（４ａ、４ｂ）を
有し、両側に該給電プローブ（３ａ、３ｂ）と該計測プ
ローブ（４ａ、４ｂ）を接触せしめ、被測定抵抗（５）
の抵抗値を計測する４線式の抵抗測定装置であって、該
被測定抵抗（５）の同一端子に接続される該給電回路（
１）と該計測回路（２）の間に、それぞれフォトカプラ
（７ａ、７ｂ）の受光素子（７１ａ、７１ｂ）を接続し
、且つ直列接続された該フォトカプラ（７ａ、７ｂ）の
発光素子（７２ａ、７２ｂ）を、該給電回路（１）の定
電流源（６）と並列に接続してなることを特徴とする４
線式抵抗測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5451389A JP2506433B2 (ja) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | ４線式抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5451389A JP2506433B2 (ja) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | ４線式抵抗測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02232568A true JPH02232568A (ja) | 1990-09-14 |
| JP2506433B2 JP2506433B2 (ja) | 1996-06-12 |
Family
ID=12972728
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5451389A Expired - Lifetime JP2506433B2 (ja) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | ４線式抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2506433B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2363855A (en) * | 1999-08-05 | 2002-01-09 | Murata Manufacturing Co | Four-terminal impedance measuring device with a contact detection arrangement |
| US6674295B1 (en) | 1999-08-05 | 2004-01-06 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Impedance measuring apparatus for electronic component |
| US7548819B2 (en) | 2004-02-27 | 2009-06-16 | Ultra Electronics Limited | Signal measurement and processing method and apparatus |
| JP2009264954A (ja) * | 2008-04-25 | 2009-11-12 | Saginomiya Seisakusho Inc | 導電率計および導電率測定方法、ならびに、これらを用いた電極異常監視装置および電極異常監視方法 |
| CN107064719A (zh) * | 2017-06-02 | 2017-08-18 | 北京华峰测控技术有限公司 | 一种开尔文连接故障检测电路及方法 |
-
1989
- 1989-03-07 JP JP5451389A patent/JP2506433B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2363855A (en) * | 1999-08-05 | 2002-01-09 | Murata Manufacturing Co | Four-terminal impedance measuring device with a contact detection arrangement |
| GB2363855B (en) * | 1999-08-05 | 2002-06-26 | Murata Manufacturing Co | Impedance measuring apparatus for electronic component |
| US6674295B1 (en) | 1999-08-05 | 2004-01-06 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Impedance measuring apparatus for electronic component |
| US7548819B2 (en) | 2004-02-27 | 2009-06-16 | Ultra Electronics Limited | Signal measurement and processing method and apparatus |
| JP2009264954A (ja) * | 2008-04-25 | 2009-11-12 | Saginomiya Seisakusho Inc | 導電率計および導電率測定方法、ならびに、これらを用いた電極異常監視装置および電極異常監視方法 |
| CN107064719A (zh) * | 2017-06-02 | 2017-08-18 | 北京华峰测控技术有限公司 | 一种开尔文连接故障检测电路及方法 |
| CN107064719B (zh) * | 2017-06-02 | 2023-09-19 | 北京华峰测控技术有限公司 | 一种开尔文连接故障检测电路及方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2506433B2 (ja) | 1996-06-12 |
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