JP3152453U - 絶縁測定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】コンパクトで安価な絶縁測定装置を提供する。【解決手段】 絶縁測定装置1は、トランス3の一次側と接続されるプローブ4,5のコンタクト状態を検査するN側コンタクト検査回路12と、トランス3の二次側と接続されるプローブ6,7のコンタクト状態を検査するP側コンタクト検査回路13とを備えている。N側コンタクト検査回路12は、プローブ4,5とそれぞれ接続されたフォトMOSリレー14,15と、フォトMOSリレー14,15間に接続された電池17と、電池17とフォトMOSリレー15との間に接続されたフォトカプラ18とを有している。P側コンタクト検査回路13は、プローブ6,7とそれぞれ接続されたフォトMOSリレー19,20と、フォトMOSリレー19,20間に接続された電池22と、電池22とフォトMOSリレー20との間に接続されたフォトカプラ23とを有している。【選択図】図1
Description
本考案は、例えばトランス等の被測定体の絶縁耐圧試験を行う際に、被測定体の端子に接続されるプローブの絶縁状態を測定する絶縁測定装置に関するものである。
従来の絶縁測定装置としては、例えば特許文献1に記載されているように、被試験物の一方の接触端子に高電圧印加線を接続し、被試験物の他方の接触端子に断線チェック線を接続し、高電圧印加線を流れる電流値を検出することで、高電圧印加線に断線があるか否かをチェックするようにしたものが知られている。
しかしながら、上記従来技術の絶縁測定装置では、断線チェックを行った後に絶縁耐電圧試験を実施するが、断線チェック回路を耐圧仕様にする必要があるため、高価な装置とならざるを得ない。
そこで、本考案の目的は、コンパクトで安価な絶縁測定装置を提供することである。
本考案の絶縁測定装置は、被測定体の一次側と接続される第1プローブ及び第2プローブのコンタクト状態を検査する第1コンタクト検査回路と、被測定体の二次側と接続される第3プローブ及び第4プローブのコンタクト状態を検査する第2コンタクト検査回路と、第1コンタクト検査回路及び第2コンタクト検査回路のON/OFFを制御する制御部と、第1コンタクト検査回路及び第2コンタクト検査回路を流れる電流を検出する検出部とを備え、第1コンタクト検査回路は、第1プローブと接続された第1スイッチング用光結合素子と、第2プローブと接続された第2スイッチング用光結合素子と、第1スイッチング用光結合素子と第2スイッチング用光結合素子との間に接続された第1電源と、第1スイッチング用光結合素子または第2スイッチング用光結合素子と第1電源との間に接続された第1電流検出用光結合素子とを有し、第2コンタクト検査回路は、第3プローブと接続された第3スイッチング用光結合素子と、第4プローブと接続された第4スイッチング用光結合素子と、第3スイッチング用光結合素子と第4スイッチング用光結合素子との間に接続された第2電源と、第3スイッチング用光結合素子または第4スイッチング用光結合素子と第2電源との間に接続された第2電流検出用光結合素子とを有し、第1スイッチング用光結合素子、第2スイッチング用光結合素子、第3スイッチング用光結合素子及び第4スイッチング用光結合素子の各発光部は、制御部と接続されており、第1電流検出用光結合素子及び第2電流検出用光結合素子の各受光部は、検出部と並列に接続されていることを特徴とするものである。
このような絶縁測定装置において、被測定体の端子に接続される各プローブの絶縁状態を測定する場合は、まず制御部により第1スイッチング用光結合素子、第2スイッチング用光結合素子、第3スイッチング用光結合素子及び第4スイッチング用光結合素子をONにする。すると、第1コンタクト検査回路では、第1電源からの電流が第1スイッチング用光結合素子、第1プローブ、被測定体、第2プローブ、第2スイッチング用光結合素子を通って第1電流検出用光結合素子に流れ、ON信号が検出部に送られる。ただし、第1プローブ及び第2プローブに断線等があると、第1電流検出用光結合素子に電流が流れないため、検出部にはON信号が送られない。同様に、第2コンタクト検査回路では、第2電源からの電流が第3スイッチング用光結合素子、第3プローブ、被測定体、第4プローブ、第4スイッチング用光結合素子を通って第2電流検出用光結合素子に流れ、ON信号が検出部に送られる。ただし、第3プローブ及び第4プローブに断線等があると、第2電流検出用光結合素子に電流が流れないため、検出部にはON信号が送られない。このように特に耐圧仕様の高価な部品を使わなくても、4つのスイッチング用光結合素子と2つの電流検出用光結合素子とを使用することにより、プローブの絶縁状態を測定することが可能となる。これにより、絶縁測定装置のコンパクト化及び低コスト化を実現することができる。
また、第1コンタクト検査回路及び第2コンタクト検査回路の電源を別々に分けることで、第1コンタクト検査回路と第2コンタクト検査回路とが電気的に分離されてフローティング状態となるので、各プローブのコンタクト検査後に絶縁耐圧試験を行う際に、第1コンタクト検査回路及び第2コンタクト検査回路が高電圧で破壊することが防止される。
好ましくは、第1スイッチング用光結合素子、第2スイッチング用光結合素子、第3スイッチング用光結合素子及び第4スイッチング用光結合素子はフォトリレーで構成され、第1電流検出用光結合素子及び第2電流検出用光結合素子はフォトカプラで構成されている。これにより、例えば1kVを越える高電圧を被測定体に印加する場合に有効となる。
本考案によれば、耐圧仕様の高価な部品を使わなくて済むので、コンパクトで安価な絶縁測定装置を提供することができる。
以下、本考案に係わる絶縁測定装置の好適な実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本考案に係わる絶縁測定装置の一実施形態を示す回路構成図である。同図において、本実施形態の絶縁測定装置1は、耐圧測定器2を用いてトランス3の絶縁耐圧試験を行う前に、トランス3の各端子に接続されるプローブの絶縁状態(断線や接触不良)を測定する装置である。
トランス3の一次側の2つの端子にはプローブ4,5が接続され、トランスの二次側の2つの端子にはプローブ6,7が接続されている。トランス3の絶縁耐圧試験を行うときは、耐圧測定器2のN(−)側端子とプローブ4とをプローブ8等で接続し、耐圧測定器2のP(+)側端子とプローブ6とをプローブ9等で接続する。そして、耐圧測定器2によりトランス3の一次側と二次側との間に、例えばAC/DC5kVの高電圧を印加する。
絶縁測定装置1は、コンタクトチェック基板10と、このコンタクトチェック基板10と接続されたシーケンサ11とを備えている。
コンタクトチェック基板10は、プローブ4,5のコンタクト状態を検査するN側コンタクト検査回路12と、プローブ6,7のコンタクト状態を検査するP側コンタクト検査回路13とを備えている。
N側コンタクト検査回路12は、プローブ4と接続されたフォトMOSリレー14と、プローブ5と接続されたフォトMOSリレー15と、フォトMOSリレー14,15間に抵抗16を介して接続された電池17と、電池17の−側とフォトMOSリレー15との間に接続されたフォトカプラ18とを有している。なお、抵抗16は、電池17からの電流を制限するために設けられている。また、電池17及びフォトカプラ18の配置を逆にしても良い。
フォトMOSリレー14は、発光ダイオード14aと受光側のリレー接点14bとからなり、フォトMOSリレー15は、発光ダイオード15aと受光側のリレー接点15bとからなっている。フォトカプラ18は、発光ダイオード18aと受光側のフォトトランジスタ18bとからなっている。そして、リレー接点14bがプローブ4と抵抗16との間に接続され、リレー接点15b及び発光ダイオード18aがプローブ5と電池17との間に直列に接続されている。
P側コンタクト検査回路13は、プローブ6と接続されたフォトMOSリレー19と、プローブ7と接続されたフォトMOSリレー20と、フォトMOSリレー19,20間に抵抗21を介して接続された電池22と、電池22の−側とフォトMOSリレー20との間に接続されたフォトカプラ23とを有している。なお、抵抗21は、電池22からの電流を制限するために設けられている。また、電池22及びフォトカプラ23の配置を逆にしても良い。
フォトMOSリレー19は、発光ダイオード19aと受光側のリレー接点19bとからなり、フォトMOSリレー20は、発光ダイオード20aと受光側のリレー接点20bとからなっている。フォトカプラ23は、発光ダイオード23aと受光側のフォトトランジスタ23bとからなっている。そして、リレー接点19bがプローブ6と抵抗21との間に接続され、リレー接点20b及び発光ダイオード23aがプローブ7と電池22との間に直列に接続されている。
発光ダイオード14a,15a,20a,19aは、直列に接続されている。フォトトランジスタ18b,23bは、並列に接続されている。なお、フォトMOSリレー14,15,19,20としては、例えば入出力耐圧が600V以上のものが用いられる。
シーケンサ11は、N側コンタクト検査回路12及びP側コンタクト検査回路13のON/OFFを制御する制御部24と、N側コンタクト検査回路12及びP側コンタクト検査回路13を流れる電流を検出することで、N側コンタクト検査回路12及びP側コンタクト検査回路13の断線や接触不良を検出する検出部25とを有している。
発光ダイオード14a,15a,20a,19aは、抵抗26を介して制御部24と接続されている。制御部24からコンタクトチェックON信号が送出されると、発光ダイオード14a,15a,19a,20aが点灯することでフォトMOSリレー14,15,19,20がONし、リレー接点14b,15b,19b,20bが短絡する。
フォトトランジスタ18b,23bは、検出部25と接続されている。発光ダイオード18aを電流が流れると、発光ダイオード18aが点灯することでフォトカプラ18がONし、フォトトランジスタ18bから検出部25にコンタクトチェックNOK信号が送られる。発光ダイオード23aを電流が流れると、発光ダイオード23aが点灯することでフォトカプラ23がONし、フォトトランジスタ23bから検出部25にコンタクトチェックPOK信号が送られる。
以上のように構成した絶縁測定装置1において、制御部24からコンタクトチェックON信号が送出されると、上記のようにフォトMOSリレー14,15,19,20がONし、プローブ4〜7のコンタクトチェックが実施される。
具体的には、N側コンタクト検査回路12では、電池17からの電流がフォトMOSリレー14、プローブ4、トランス3の一次側、プローブ5及びフォトMOSリレー15を経由してフォトカプラ18に流れ込むことで、上記のようにフォトカプラ18がONし、フォトカプラ18から検出部25にコンタクトチェックNOK信号が送られる。ただし、途中のプローブ4,5に断線や接触不良があると、フォトカプラ18には電流が流れ込まないため、検出部25にコンタクトチェックNOK信号が送られることは無い。
また、P側コンタクト検査回路13では、電池22からの電流がフォトMOSリレー19、プローブ6、トランス3の二次側、プローブ7及びフォトMOSリレー20を経由してフォトカプラ23に流れ込むことで、上記のようにフォトカプラ23がONし、フォトカプラ23から検出部25にコンタクトチェックPOK信号が送られる。ただし、途中のプローブ6,7に断線や接触不良があると、フォトカプラ23には電流が流れ込まないため、検出部25にコンタクトチェックPOK信号が送られることは無い。
このようにシーケンサ11からの直接制御によって、シーケンサ11においてプローブ4〜7の断線や接触不良を簡単に検出することができる。
そして、上記のプローブ4〜7のコンタクトチェックが完了したら、制御部24からコンタクトチェックOFF信号が送出される。すると、フォトMOSリレー14,15,19,20がOFFとなり、リレー接点14b,15b,19b,20bが開放されるため、コンタクト検査回路12,13に電流が流れなくなる。その後、耐圧測定器2によりトランス3に高電圧を印加して、絶縁耐圧試験を実施する。
以上のように本実施形態にあっては、特に耐圧仕様の高価な部品を使わずに、電池17,22、フォトMOSリレー14,15,19,20及びフォトカプラ18,23という安価な部品を使用して、トランス3に接続されるプローブ4〜7の絶縁状態を測定することができる。これにより、低コストでコンパクトな絶縁測定装置1を提供することができる。
また、N側コンタクト検査回路12とP側コンタクト検査回路13とが電気的に分断されてフローティング構造となっているので、コンタクト検査回路12,13間に電位差があっても、コンタクト検査回路12,13単体では同電位となる。このため、耐圧測定器2による絶縁耐圧試験時に、例えばコンタクト検査回路12,13とプローブ8,9とが誤って接続されたり、リレー接点14b,15b,19b,20bが誤ってONしても、コンタクト検査回路12,13が高電圧で破壊することは無い。
さらに、フォトMOSリレー14,15,19,20及びフォトカプラ18,23を設け、コンタクト検査回路12,13とシーケンサ11とを電気的に分断するようにしたので、シーケンサ11を破壊させること無く保護することができる。
なお、本考案は、上記実施形態に限定されるものではない。例えば上記実施形態の絶縁測定装置は、トランスの絶縁耐圧試験を行う際にトランスに接続されるプローブの絶縁性を測定する装置であるが、本考案は、特にトランスには限られず、異極間の距離がある程度長く、絶縁耐圧試験時に高電圧をかける必要のある素子の絶縁性を測定するものであれば、適用可能である。
1…絶縁測定装置、3…トランス(被測定体)、4…プローブ(第1プローブ)、5…プローブ(第2プローブ)、6…プローブ(第3プローブ)、7…プローブ(第4プローブ)、12…N側コンタクト検査回路(第1コンタクト検査回路)、13…P側コンタクト検査回路(第2コンタクト検査回路)、14…フォトMOSリレー(第1スイッチング用光結合素子)、14a…発光ダイオード(発光部)、15…フォトMOSリレー(第2スイッチング用光結合素子)、15a…発光ダイオード(発光部)、17…電池(第1電源)、18…フォトカプラ(第1電流検出用光結合素子)、18b…フォトトランジスタ(受光部)、19…フォトMOSリレー(第3スイッチング用光結合素子)、19a…発光ダイオード(発光部)、20…フォトMOSリレー(第4スイッチング用光結合素子)、20a…発光ダイオード(発光部)、22…電池(第2電源)、23…フォトカプラ(第1電流検出用光結合素子)、23b…フォトトランジスタ(受光部)。
Claims (2)
- 被測定体の一次側と接続される第1プローブ及び第2プローブのコンタクト状態を検査する第1コンタクト検査回路と、
前記被測定体の二次側と接続される第3プローブ及び第4プローブのコンタクト状態を検査する第2コンタクト検査回路と、
前記第1コンタクト検査回路及び前記第2コンタクト検査回路のON/OFFを制御する制御部と、
前記第1コンタクト検査回路及び前記第2コンタクト検査回路を流れる電流を検出する検出部とを備え、
前記第1コンタクト検査回路は、
前記第1プローブと接続された第1スイッチング用光結合素子と、
前記第2プローブと接続された第2スイッチング用光結合素子と、
前記第1スイッチング用光結合素子と前記第2スイッチング用光結合素子との間に接続された第1電源と、
前記第1スイッチング用光結合素子または前記第2スイッチング用光結合素子と前記第1電源との間に接続された第1電流検出用光結合素子とを有し、
前記第2コンタクト検査回路は、
前記第3プローブと接続された第3スイッチング用光結合素子と、
前記第4プローブと接続された第4スイッチング用光結合素子と、
前記第3スイッチング用光結合素子と前記第4スイッチング用光結合素子との間に接続された第2電源と、
前記第3スイッチング用光結合素子または前記第4スイッチング用光結合素子と前記第2電源との間に接続された第2電流検出用光結合素子とを有し、
前記第1スイッチング用光結合素子、前記第2スイッチング用光結合素子、前記第3スイッチング用光結合素子及び前記第4スイッチング用光結合素子の各発光部は、前記制御部と接続されており、
前記第1電流検出用光結合素子及び前記第2電流検出用光結合素子の各受光部は、前記検出部と並列に接続されていることを特徴とする絶縁測定装置。 - 前記第1スイッチング用光結合素子、前記第2スイッチング用光結合素子、前記第3スイッチング用光結合素子及び前記第4スイッチング用光結合素子はフォトリレーで構成され、
前記第1電流検出用光結合素子及び前記第2電流検出用光結合素子はフォトカプラで構成されていることを特徴とする請求項1記載の絶縁測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2009003320U JP3152453U (ja) | 2009-05-21 | 2009-05-21 | 絶縁測定装置 |
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Publications (1)
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CN107064719A (zh) * | 2017-06-02 | 2017-08-18 | 北京华峰测控技术有限公司 | 一种开尔文连接故障检测电路及方法 |
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2009
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CN107064719B (zh) * | 2017-06-02 | 2023-09-19 | 北京华峰测控技术有限公司 | 一种开尔文连接故障检测电路及方法 |
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