CN210142161U - 测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型实施例提供一种测试装置，包括：检测电路，所述检测电路的输入端和待测试电路的输出端连接，所述待测试电路的输出端的数目有多个，所述检测电路的数目为一个，所述检测电路用于检测所述待测试电路每个输出端的信号是否异常。通过一个检测电路，可以测试待测试电路输出的多路信号是否出现异常，提高了测试效率，同时节省了测试资源。
Description
技术领域
本实用新型实施例涉及电子技术领域，尤其涉及一种测试装置。
背景技术
目前，为了检测芯片的输出信号是否正常，现有的测试方法主要有两种，一种是在芯片的每个输出口上接电阻和发光二极管(Light Emitting Diode，LED)，通过观察LED灯的亮灭来判断芯片的输出信号是否正常；另一种是为了提高自动化测试水平，在芯片的每个输出口上接一个测试电路，通过单片机来检测芯片的输出信号是否正常。
然而，上述方式中，通过LED灯的亮灭来判断待测试电路是否存在故障，效率较低；当输出端较多时，在每个输出口上接一个测试电路的需求较大，造成测试电路资源不足。
实用新型内容
本实用新型实施例提供一种测试装置，用于判断待测试电路输出的多路信号是否出现异常，提高了测试效率，同时节省了测试资源。
第一方面，本实用新型实施例提供一种测试装置，包括：检测电路；
所述检测电路的输入端和待测试电路的输出端连接，所述待测试电路的输出端的数目有多个，所述检测电路的数目为一个；
所述检测电路用于检测所述待测试电路输出端的信号是否异常。
在一种可能的设计中，所述检测电路包括光电耦合器；
所述光电耦合器的第一输入端和第一电源连接，所述光电耦合器的第二输入端和所述待测试电路的输出端连接。
在一种可能的设计中，所述检测电路还包括开关电路，所述开关电路和所述光电耦合器的第一输出端连接。
在一种可能的设计中，所述开关电路包括第二电源和第一电阻；
所述第一电阻的一端和所述第二电源连接，所述第一电阻的另一端和所述光电耦合器的第一输出端连接。
在一种可能的设计中，所述光电耦合器的第一输出端和所述检测电路的输出端连接。
在一种可能的设计中，所述检测电路包括第二电阻，所述第二电阻的一端和所述光电耦合器的第一输出端连接，所述第二电阻的另一端和所述检测电路的输出端连接。
在一种可能的设计中，所述检测电路的输出端和所述光电耦合器的第二输出端均接地。
在一种可能的设计中，所述检测电路还包括滤波电容，所述滤波电容的一端和所述检测电路的输出端连接，所述滤波电容的另一端接地。
在一种可能的设计中，所述装置还包括第三电阻；
所述第三电阻的一端和所述待测试电路的输出端连接，所述第三电阻的另一端和所述检测电路的输入端连接。
在一种可能的设计中，所述装置还包括单片机；
所述单片机的输入端和所述检测电路的输出端连接，所述单片机的输出端和所述待测试电路的输入端连接；
其中，所述光电耦合器的第二输入端为低电平，所述光电耦合器导通，所述单片机接收到的信号为低电平；所述光电耦合器的第二输入端为高电平，所述光电耦合器不导通，所述单片机接收到的信号为高电平。
本实用新型实施例提供的测试装置，包括：检测电路，所述检测电路的输入端和待测试电路的输出端连接，所述待测试电路的输出端的数目有多个，所述检测电路的数目为一个，所述检测电路用于检测所述待测试电路每个输出端的信号是否异常。通过一个检测电路，可以测试待测试电路输出的多路信号是否出现异常，提高了测试效率，同时节省了测试资源。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型一实施例提供的待测试电路的结构示意图；
图2为本实用新型一实施例提供的现有测试装置的结构示意图；
图3为本实用新型一实施例提供的测试装置的结构示意图；
图4为本实用新型另一实施例提供的测试装置的结构示意图；
图5为本实用新型又一实施例提供的测试装置的结构示意图。
附图标记说明：
10-测试装置；
11-待测试电路；
12-检测电路；
121-光电耦合器；
122-第一电源；
123-开关电路；
1231-第二电源；
1-第一输入端；
2-第二输入端；
3-第一输出端；
4-第二输出端。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换。
在目前多路输出信号的测试中，以一种驱动芯片为例进行说明，一种是在芯片的每个输出口上接电阻和发光二极管(Light Emitting Diode，LED)，通过观察LED灯的亮灭来判断芯片的输出信号是否正常；另一种是为了提高自动化测试水平，在芯片的每个输出口上接一个测试电路，通过单片机来检测芯片的输出信号是否正常。
图1为本实用新型一实施例提供的待测试电路的结构示意图，如图1所示，待测试电路包括芯片U1，U1的输入端分别为INT1、INT2、INT3、INT4，输出端分别为OUT1、OUT2、OUT3、OUT4，在图1实施例的基础上，图2为本实用新型一实施例提供的现有测试装置的结构示意图，如图2所示，在芯片U1的输出端OUT1上接电阻R1和LED灯，在输出端OUT2上接电阻R2和LED灯，在输出端OUT3上接电阻R3和LED灯，在输出端OUT4上接电阻R4和LED灯，每个LED灯都接电源。在实际应用过程中，通过观察LED灯的亮灭，来判断芯片U1的输出端的信号是否异常，具体的判断方法可以采用现有技术中任意判断方法来实现，本实用新型实施例对此不做限制。
对于芯片U1的具体描述可以参考现有技术中关于该芯片的相关记载，本实用新型实施例在此不再赘述。
当然，本实用新型只是以芯片U1电路为例进行说明，待测试电路可以包括但不限于上述芯片U1电路，只要待测试电路的输出端的数目有多个，均适用本实用新型的技术方案。
然而，上述方式中，通过LED灯的亮灭来判断待测试电路是否存在故障，效率较低；当输出端较多时，在每个输出口上接一个测试电路的需求较大，造成测试电路资源不足。
下面以具体地实施例对本实用新型的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
图3为本实用新型一实施例提供的测试装置的结构示意图，如图3所示，测试装置10包括检测电路12；
所述检测电路12的输入端和待测试电路11的输出端连接，所述待测试电路11的输出端的数目有多个，所述检测电路12的数目为一个；
所述检测电路12用于检测所述待测试电路11输出端的信号是否异常。
在本实施例中，待测试电路11输出多路信号，所述检测电路的数目为一个，检测电路12的输入端和待测试电路11的输出端连接，采用一个检测电路12来检测待测试电路12输出的多路信号是否异常，提高了自动化测试水平，解决了输出口多、测试电路资源紧张的问题。
本实用新型实施例提供的测试装置，包括：检测电路，所述检测电路的输入端和待测试电路的输出端连接，所述待测试电路的输出端的数目有多个，所述检测电路的数目为一个，所述检测电路用于检测所述待测试电路每个输出端的信号是否异常。通过一个检测电路，可以测试待测试电路输出的多路信号是否出现异常，提高了测试效率，同时节省了测试资源。
在上述图3实施例的基础上，所述检测电路12包括光电耦合器121，下面结合图4实施例进行具体地说明。
图4为本实用新型另一实施例提供的测试装置的结构示意图，如图4所示，测试装置10包括检测电路12。
所述检测电路12的输入端和待测试电路11的输出端连接，所述待测试电路11有多个输出端，所述检测电路的数目为一个；
所述检测电路12用于检测所述待测试电路11输出端的信号是否异常。
所述检测电路12包括光电耦合器121，其中，光电耦合器121是以光为媒介传输电信号的一种电—光—电转换器件。它由发光源和受光器两部分组成。把发光源和受光器组装在同一密闭的壳体内，彼此间用透明绝缘体隔离。发光源的引脚为输入端，受光器的引脚为输出端，常见的发光源为发光二极管，受光器为光敏二极管、光敏三极管等。对于光电耦合器12的可以根据实际情况进行选取，本实用新型实施例对此不做限制。
所述光电耦合器121的第一输入端1和第一电源122连接，所述光电耦合器121的第二输入端2和所述待测试电路11的输出端连接。
参考图4，光电耦合器121的第一输入端1为引脚1，第二输入端为引脚2，第一输出端3为引脚3、第二输出端4为引脚4，其中，光电耦合器121的发光源的引脚包括引脚1和引脚2，受光源的引脚包括引脚3和引脚4；第一电源122用于给光电耦合器121的发光源进行供电。
在一种可能的设计中，所述检测电路12还包括开关电路123，所述开关电路123和所述光电耦合器121的第一输出端1连接。
在一种可能的设计中，所述开关电路123包括第二电源1231和第一电阻R5；
所述第一电阻R5的一端和所述第二电源1231连接，所述第一电阻R5的另一端和所述光电耦合器121的第一输出端3连接。
第二电源1231用于给光电耦合器121的受光源进行供电。
在一种可能的设计中，光电耦合器121的第一输出端3和检测电路12的输出端OUT连接。
在一种可能的设计中，所述检测电路12的输出端OUT和所述光电耦合器121的第二输出端4均接地。
在本实施例中，当光电耦合器121的第二输入端2为低电平时，光电耦合器121导通，从而检测电路12的输出端为低电平；光电耦合器121的第二输入端2为高电平，光电耦合器121不导通，从而检测电路12的输出端为高电平。
在实际测试过程中，控制待测试电路11的多个输出信号，使得光电耦合器121或者不导通，从而判断检查电路12输出端OUT的信号是否异常，进而判断待测试电路11是否存在故障，提高了自动化测试效率。
举例来说，假设待测试电路11具有四路输出端，分别为OUT1、OUT2、OUT3、OUT4，若OUT1、OUT2、OUT3、OUT4均输出高电平，这时光电耦合器121应该不导通，若检测到检测电路的输出端OUT为低电平，说明待测试电路12存在故障，则结束测试，并记录相应错误。
在上述测试的基础上，若上述测试中待测试电路没有故障，则控制OUT1输出低电平，OUT2、OUT3、OUT4均输出高电平，这时光电耦合器121应该导通，若检测到检测电路12的输出端OUT为高电平，说明待测试电路12存在故障，且故障在OUT1，同样结束测试，并记录相应错误。
在上述测试的基础上，控制OUT2输出低电平，OUT1、OUT3、OUT4均输出高电平，这时光电耦合器121应该导通，若检测到检测电路12的输出端OUT为高电平，说明待测试电路12存在故障，且故障在OUT2，同样结束测试，并记录相应错误。
在上述测试的基础上，控制OUT3输出低电平，OUT1、OUT2、OUT4均输出高电平，这时光电耦合器121应该导通，若检测到检测电路12的输出端OUT为高电平，说明待测试电路12存在故障，且故障在OUT3，同样结束测试，并记录相应错误。
在上述测试的基础上，控制OUT4输出低电平，OUT1、OUT2、OUT3均输出高电平，这时光电耦合器121应该导通，若检测到检测电路12的输出端OUT为高电平，说明待测试电路12存在故障，且故障在OUT4，同样结束测试，并记录相应错误。
在本实施例中，通过光电耦合器和检测电路，实现了采用一个测试电路对待测试电路的多路输出信号进行测试，提高了自动化测试水平，解决了输出口多、测试电路资源紧张的问题。
本实用新型实施例提供的测试装置，包括：检测电路，所述检测电路的输入端和待测试电路的输出端连接，所述待测试电路的输出端的数目有多个，所述检测电路的数目为一个，所述检测电路用于检测所述待测试电路输出端的信号是否异常，所述检测电路包括光电耦合器，所述光电耦合器的第一输入端和第一电源连接，所述光电耦合器的第二输入端和所述待测试电路的输出端连接，所述检测电路还包括开关电路，所述开关电路和所述光电耦合器的第一输出端连接，所述开关电路包括第二电源和第一电阻，所述第一电阻的一端和所述第二电源连接，所述第一电阻的另一端和所述光电耦合器的第一输出端连接。通过一个检测电路，可以测试待测试电路输出的多路信号是否出现异常，提高了测试效率，同时节省了测试资源。
在上述图3、图4实施例的基础上，下面以U1芯片为例，结合图5实施例对本实用新型提供的测试装置进行具体说明。
图5为本实用新型又一实施例提供的测试装置的结构示意图，如图5所示，测试装置10包括检测电路12，待测试电路11包括芯片U1。
所述芯片U1的输出端和所述检测电路12的输入端连接，所述芯片U1有四个输出端；
所述检测电路12用于检测所述芯片U1输出端的信号是否异常。
所述检测电路12包括光电耦合器121，所述光电耦合器121的第一输入端1和第一电源122连接，所述光电耦合器121的第二输入端2和芯片U1的四个输出端连接。
其中，第一电源122用于给光电耦合器121的发光源进行供电。
在一种可能的设计中，所述检测电路12还包括开关电路123，所述开关电路123和所述光电耦合器121的第一输出端1连接。
在一种可能的设计中，所述开关电路123包括第二电源1231和第一电阻R7；
所述第一电阻R5的一端和所述第二电源1231连接，所述第一电阻R5的另一端和所述光电耦合器121的第一输出端3连接。
其中，第二电源1231用于给光电耦合器121的受光源进行供电，电阻R5用于分压，当光电耦合器121导通时，图5中的A点电压近似为0。
在一种可能的设计中，第一电源122接到芯片U1的24伏(V)的电源上，第二电源1231为3.3伏(V)。
在一种可能的设计中，光电耦合器121的第一输出端3和检测电路12的输出端连接。
在一种可能的设计中，所述检测电路12的输出端和所述光电耦合器121的第二输出端均接地。
在一种可能的设计中，所述检测电路12包括第二电阻R6，所述第二电阻R6的一端和所述光电耦合器121的第一输出端3连接，所述第二电阻R6的另一端和所述检测电路12的输出端OUT连接。
在一种可能的设计中，所述检测电路12的输出端OUT和所述光电耦合器121的第二输出端4均接地。
在一种可能的设计中，所述检测电路12还包括滤波电容C1，所述滤波电容124的一端和所述检测电路12的输出端OUT连接，所述滤波电容C1的另一端接地。
在一种可能的设计中，所述装置10还包括第三电阻R7：
第三电阻R7用于限制所在支路电流的大小，以防电流过大烧坏所串联的元器件，保护光电耦合器121的发光源电路，同时也能起分压作用。
所述第三电阻R7的一端和所述待测试电路11的输出端连接，所述第三电阻R7的另一端和所述检测电路12的输入端连接。
在一种可能的设计中，所述装置10还包括单片机13；
所述单片机13的输入端和所述检测电路12的输出端OUT连接，所述单片机13的输出端和所述待测试电路11的输入端连接；其中，所述光电耦合器121的第二输入端2为低电平，所述光电耦合器121导通，所述单片机13的接收到的信号为低电平；所述光电耦合器121的第二输入端2为高电平，所述光电耦合器121不导通，所述单片机接收到的信号为高电平。
举例来说，所述芯片U1具有四个输入端，分别为INT1、INT2、INT3、INT4，单片机13也包括四个输出端，分别和芯片U1的四个输入端连接，用于控制INT1、INT2、INT3、INT4输出高电平或者低电平；单片机13的一个输入端和检测电路12的输出端OUT连接，这样，便可通过检测单片机13的输入端的电平来确定检测电路12的输出端OUT的电平，检测单片机13的输入端(接收到的信号)的电平和检测电路12的输出端OUT的电平一致。这样，就能通过控制INT1、INT2、INT3、INT4来控制检测电路12的输出端OUT的电平，一旦输出端OUT的电平和理论值不一致，则判定该待测试电路存在故障。
具体判断待测试电路是否存在故障的方式参考上述图4实施例中的相关描述，在此不再赘述。
需要说明的是，在光电耦合器121导通时，图5中的A点电压为0，滤波电容C3的一端接地，则检测电路12的输出端OUT的电平近似为0，为低电平。
在光电耦合器121不导通时，第一电阻R5、第二电阻R6和滤波电容C3串联，检测电路12的输出端OUT的电压为滤波电容C1两端的电压，则输出端OUT为高电平。
需要说明的是，本实用新型可以包括但不限于采用单片机完成对待测试电路的输入端电平的控制，以及对检测电路输出端的电平的检测。
本实用新型实施例提供的测试装置，所述检测电路包括第二电阻，所述第二电阻的一端和所述光电耦合器的第一输出端连接，所述第二电阻的另一端和所述检测电路的输出端连接，所述检测电路的输出端和所述光电耦合器的第二输出端均接地，所述检测电路还包括滤波电容，所述滤波电容的一端和所述检测电路的输出端连接，所述滤波电容的另一端接地，所述装置还包括第三电阻，所述第三电阻的一端和所述待测试电路的输出端连接，所述第三电阻的另一端和所述检测电路的输入端连接，所述装置还包括单片机，所述单片机的输入端和所述检测电路的输出端连接，所述单片机的输出端和所述待测试电路的输入端连接；其中，所述光电耦合器的第二输入端为低电平，所述光电耦合器导通。通过一个检测电路，可以测试待测试电路输出的多路信号是否出现异常，提高了测试效率，同时节省了测试资源。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型实施例的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型实施例进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型实施例方案的范围。
Claims (10)
1.一种测试装置，其特征在于，包括：检测电路；
所述检测电路的输入端和待测试电路的输出端连接，所述待测试电路的输出端的数目有多个，所述检测电路的数目为一个；
所述检测电路用于检测所述待测试电路输出端的信号是否异常。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述检测电路包括光电耦合器；
所述光电耦合器的第一输入端和第一电源连接，所述光电耦合器的第二输入端和所述待测试电路的输出端连接。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述检测电路还包括开关电路，所述开关电路和所述光电耦合器的第一输出端连接。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述开关电路包括第二电源和第一电阻；
所述第一电阻的一端和所述第二电源连接，所述第一电阻的另一端和所述光电耦合器的第一输出端连接。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述光电耦合器的第一输出端和所述检测电路的输出端连接。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述检测电路包括第二电阻，所述第二电阻的一端和所述光电耦合器的第一输出端连接，所述第二电阻的另一端和所述检测电路的输出端连接。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述检测电路的输出端和所述光电耦合器的第二输出端均接地。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述检测电路还包括滤波电容，所述滤波电容的一端和所述检测电路的输出端连接，所述滤波电容的另一端接地。
9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括第三电阻；
所述第三电阻的一端和所述待测试电路的输出端连接，所述第三电阻的另一端和所述检测电路的输入端连接。
10.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述装置还包括单片机；
所述单片机的输入端和所述检测电路的输出端连接，所述单片机的输出端和所述待测试电路的输入端连接；
其中，所述光电耦合器的第二输入端为低电平，所述光电耦合器导通，所述单片机接收到的信号为低电平；所述光电耦合器的第二输入端为高电平，所述光电耦合器不导通，所述单片机接收到的信号为高电平。
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