JP2506433B2 - ４線式抵抗測定装置 - Google Patents
４線式抵抗測定装置Info
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- JP2506433B2 JP2506433B2 JP5451389A JP5451389A JP2506433B2 JP 2506433 B2 JP2506433 B2 JP 2506433B2 JP 5451389 A JP5451389 A JP 5451389A JP 5451389 A JP5451389 A JP 5451389A JP 2506433 B2 JP2506433 B2 JP 2506433B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 抵抗器の製造において抵抗値の自動計測を行う装置、
特にプローブの接触不良による誤判定を無くす４線式抵
抗測定装置に関し、 ４本のプローブが完全に接触しない場合は計測不能に
なり、誤判定することのない４線式抵抗測定装置の提供
を目的とし、 抵抗を介して給電回路に接続された給電プローブと抵
抗を介して計測回路に接続された計測プローブを有し、
両側に給電プローブと計測プローブを接触せしめ被測定
抵抗の抵抗値を計測する４線式の抵抗測定装置であっ
て、被測定抵抗の同一端子に接続される給電回路と計測
回路の間にそれぞれフォトカプラの受光素子を接続し、
且つ直列接続されたフォトカプラの発光素子を給電回路
の定電流源と並列に接続し構成する。
特にプローブの接触不良による誤判定を無くす４線式抵
抗測定装置に関し、 ４本のプローブが完全に接触しない場合は計測不能に
なり、誤判定することのない４線式抵抗測定装置の提供
を目的とし、 抵抗を介して給電回路に接続された給電プローブと抵
抗を介して計測回路に接続された計測プローブを有し、
両側に給電プローブと計測プローブを接触せしめ被測定
抵抗の抵抗値を計測する４線式の抵抗測定装置であっ
て、被測定抵抗の同一端子に接続される給電回路と計測
回路の間にそれぞれフォトカプラの受光素子を接続し、
且つ直列接続されたフォトカプラの発光素子を給電回路
の定電流源と並列に接続し構成する。
〔産業上の利用分野〕 本発明は抵抗器の製造において抵抗値の自動計測を行
う装置に係り、特にプローブの接触不良による誤判定を
無くす４線式抵抗測定装置に関する。
う装置に係り、特にプローブの接触不良による誤判定を
無くす４線式抵抗測定装置に関する。
抵抗値が比較的低い抵抗器の自動計測に用いられる４
線式抵抗測定装置は、被測定抵抗の両側に接触させる一
対の給電プローブと一対の計測プローブを有し、４本の
プローブが完全に接触しないと正しい測定値が得られな
い。
線式抵抗測定装置は、被測定抵抗の両側に接触させる一
対の給電プローブと一対の計測プローブを有し、４本の
プローブが完全に接触しないと正しい測定値が得られな
い。
かかる測定装置において４本のプローブが完全に接触
しない状態で測定が続行されると、測定値が０や不定に
なって適宜分類されるなど誤判定される場合がある。し
かし抵抗値を自動測定する装置におけるかかる誤判定は
容認できない。
しない状態で測定が続行されると、測定値が０や不定に
なって適宜分類されるなど誤判定される場合がある。し
かし抵抗値を自動測定する装置におけるかかる誤判定は
容認できない。
そこでプローブが完全に接触しない場合は計測不能を
表示して停止する等、誤判定することのない４線式抵抗
測定装置の実現が要望されている。
表示して停止する等、誤判定することのない４線式抵抗
測定装置の実現が要望されている。
第２図は従来の４線式抵抗測定装置を示す回路図であ
る。
る。
図において従来の４線式抵抗測定装置は給電回路１と
計測回路２を有し、定電流電源11と定電圧ダイオード12
からなる給電回路１には、抵抗31を介して給電プローブ
3a,3bが接続されている。また作動増幅器21と抵抗22か
らなる計測回路２には、抵抗41を介して計測プローブ4
a,4bが接続されている。なお抵抗31,41は被測定抵抗５
の測定範囲より若干高い抵抗値を有し、回路抵抗の不平
衡等による誤差を防ぐ抵抗22は抵抗31,41に比べ極めて
高い抵抗値を具えている。
計測回路２を有し、定電流電源11と定電圧ダイオード12
からなる給電回路１には、抵抗31を介して給電プローブ
3a,3bが接続されている。また作動増幅器21と抵抗22か
らなる計測回路２には、抵抗41を介して計測プローブ4
a,4bが接続されている。なお抵抗31,41は被測定抵抗５
の測定範囲より若干高い抵抗値を有し、回路抵抗の不平
衡等による誤差を防ぐ抵抗22は抵抗31,41に比べ極めて
高い抵抗値を具えている。
かかる４線式抵抗測定装置で被測定抵抗５の抵抗値を
計測する場合は、被測定抵抗５の一方の端子51に給電回
路１の＋側に接続されている給電プローブ3aと、計測回
路２の＋側に接続されている計測プローブ4aを接触させ
る。また他方の端子52に給電回路１の−側に接続されて
いる給電プローブ3bと、計測回路２の−側に接続されて
いる計測プローブ4bを接触させる。被測定抵抗５の両側
の端子51,52に４本のプローブが完全に接触すると、端
子51,52間に被測定抵抗５の抵抗値に対応する電圧降下
が生じ、それぞれの電圧が作動増幅器21に入力されて電
位差が増幅される。
計測する場合は、被測定抵抗５の一方の端子51に給電回
路１の＋側に接続されている給電プローブ3aと、計測回
路２の＋側に接続されている計測プローブ4aを接触させ
る。また他方の端子52に給電回路１の−側に接続されて
いる給電プローブ3bと、計測回路２の−側に接続されて
いる計測プローブ4bを接触させる。被測定抵抗５の両側
の端子51,52に４本のプローブが完全に接触すると、端
子51,52間に被測定抵抗５の抵抗値に対応する電圧降下
が生じ、それぞれの電圧が作動増幅器21に入力されて電
位差が増幅される。
しかし従来の測定装置において１本のプローブが接触
不良になると、差動増幅器の出力電圧が不定になって被
測定抵抗と関係の無い電圧が出力される。その結果、被
測定抵抗はそのときの電圧に対応する抵抗値を有するも
のと判定される。即ち、所定の抵抗値を有する被測定抵
抗が誤判定されるという問題があった。
不良になると、差動増幅器の出力電圧が不定になって被
測定抵抗と関係の無い電圧が出力される。その結果、被
測定抵抗はそのときの電圧に対応する抵抗値を有するも
のと判定される。即ち、所定の抵抗値を有する被測定抵
抗が誤判定されるという問題があった。
本発明の目的は４本のプローブが完全に接触しない場
合は計測不能になり、誤判定することのない４線式抵抗
測定装置を提供することにある。
合は計測不能になり、誤判定することのない４線式抵抗
測定装置を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕 第１図は本発明になる４線式抵抗測定装置を示す回路
図である。なお全図を通し同じ対象物は同一記号で表し
ている。
図である。なお全図を通し同じ対象物は同一記号で表し
ている。
上記課題は抵抗31を介して給電回路１に接続された給
電プローブ3a,3bと、抵抗41を介して計測回路２に接続
された計測プローブ4a,4bを有し、両側に給電プローブ3
a,3bと計測プローブ4a,4bを接触せしめ、被測定抵抗５
の抵抗値を計測する抵抗測定装置であって、被測定抵抗
５の同一端子に接続される給電回路１と計測回路２の間
に、それぞれフォトカプラ7a,7bの受光素子71a,71bを接
続し、且つ直列接続されたフォトカプラ7a,7bの発光素
子72a,72bを、給電回路１の定電流源６と並列に接続し
てなる本発明の４線式抵抗測定装置によって達成され
る。
電プローブ3a,3bと、抵抗41を介して計測回路２に接続
された計測プローブ4a,4bを有し、両側に給電プローブ3
a,3bと計測プローブ4a,4bを接触せしめ、被測定抵抗５
の抵抗値を計測する抵抗測定装置であって、被測定抵抗
５の同一端子に接続される給電回路１と計測回路２の間
に、それぞれフォトカプラ7a,7bの受光素子71a,71bを接
続し、且つ直列接続されたフォトカプラ7a,7bの発光素
子72a,72bを、給電回路１の定電流源６と並列に接続し
てなる本発明の４線式抵抗測定装置によって達成され
る。
第１図において給電回路と計測回路の間にそれぞれフ
ォトカプラの受光素子を接続すると共に、直列接続され
たフォトカプラの発光素子を給電回路の定電流源と並列
に接続することによって、プローブが接触不良の場合は
計測プローブ間の電位差が、差動増幅器から測定値超過
の情報が出力される領域まで上昇する。その結果、４本
のプローブが完全に接触しない場合は計測不能になり、
誤判定することのない４線式抵抗測定装置を実現するこ
とができる。
ォトカプラの受光素子を接続すると共に、直列接続され
たフォトカプラの発光素子を給電回路の定電流源と並列
に接続することによって、プローブが接触不良の場合は
計測プローブ間の電位差が、差動増幅器から測定値超過
の情報が出力される領域まで上昇する。その結果、４本
のプローブが完全に接触しない場合は計測不能になり、
誤判定することのない４線式抵抗測定装置を実現するこ
とができる。
以下第１図により本発明の実施例について詳細に説明
する。
する。
図において本発明になる４線式抵抗測定装置は従来の
装置と同様に、抵抗31を介して一対の給電プローブ3a,3
bが接続された給電回路１と、抵抗41を介して一対の計
測プローブ4a,4bが接続された計測回路２とを有し、計
測回路２には差動増幅器21の他に抵抗22と23が設けられ
ている。なお抵抗31および抵抗41は被測定抵抗５の測定
範囲より若干抵抗値が高く、抵抗22,23は抵抗31,41に比
べ極めて高い抵抗値を具えている。
装置と同様に、抵抗31を介して一対の給電プローブ3a,3
bが接続された給電回路１と、抵抗41を介して一対の計
測プローブ4a,4bが接続された計測回路２とを有し、計
測回路２には差動増幅器21の他に抵抗22と23が設けられ
ている。なお抵抗31および抵抗41は被測定抵抗５の測定
範囲より若干抵抗値が高く、抵抗22,23は抵抗31,41に比
べ極めて高い抵抗値を具えている。
ただし被測定抵抗５の同一端子に接続される給電回路
１と計測回路２の間に、バイパス回路としてフォトカプ
ラ7a,7bの受光素子71a,71bがそれぞれ接続されている。
また直列接続されたフォトカプラ7a,7bの発光素子72a,7
2bは、被測定抵抗５に正常な電流が流れた場合の端子間
電位差に比べ、順方向降下電圧がかなり高くなるように
設定されており、定電圧ダイオードの代わりに定電流源
６と並列に接続されている。
１と計測回路２の間に、バイパス回路としてフォトカプ
ラ7a,7bの受光素子71a,71bがそれぞれ接続されている。
また直列接続されたフォトカプラ7a,7bの発光素子72a,7
2bは、被測定抵抗５に正常な電流が流れた場合の端子間
電位差に比べ、順方向降下電圧がかなり高くなるように
設定されており、定電圧ダイオードの代わりに定電流源
６と並列に接続されている。
かかる４線式抵抗測定装置において被測定抵抗５の端
子51と、給電回路１の＋側に接続されている給電プロー
ブ3aとの間が開放状態になると、定電流源６の特性によ
り発光素子72a,72bのアノード側電圧が上昇し、順方向
降下電圧より高くなると受光素子71a,71bが導通状態に
なる。その結果、抵抗31の給電プローブ3aを介して流れ
たのとほぼ同等の電流が、受光素子71aと抵抗41と給電
プローブ4aを経由して被測定抵抗５に流れ、被測定抵抗
５と抵抗41との直列合成抵抗値に対応する電圧が差動増
幅器21に入力される。このとき、抵抗23の抵抗値は抵抗
31,41に比べて極めて高く、かつ受光素子71aによってバ
イパスされるため、抵抗23を経由して流れる電流の影響
は無視してもよい。差動増幅器21に流れる電流は極めて
微弱であり、抵抗31と給電プローブ3aを介して被測定抵
抗５に電流が流れた場合は、被測定抵抗５の抵抗値に対
応する電圧が差動増幅器21に入力される。しかし、受光
素子71aと抵抗41と給電プローブ4aを経由して被測定抵
抗５に流れた場合は、抵抗31と給電プローブ3aを介して
被測定抵抗５に電流が流れた場合と異なり、差動増幅器
21の入力側における電位差が大きく測定値の限界を超過
する。なお受光素子71bは導通状態になるが逆バイアス
されているため電流は流れない。
子51と、給電回路１の＋側に接続されている給電プロー
ブ3aとの間が開放状態になると、定電流源６の特性によ
り発光素子72a,72bのアノード側電圧が上昇し、順方向
降下電圧より高くなると受光素子71a,71bが導通状態に
なる。その結果、抵抗31の給電プローブ3aを介して流れ
たのとほぼ同等の電流が、受光素子71aと抵抗41と給電
プローブ4aを経由して被測定抵抗５に流れ、被測定抵抗
５と抵抗41との直列合成抵抗値に対応する電圧が差動増
幅器21に入力される。このとき、抵抗23の抵抗値は抵抗
31,41に比べて極めて高く、かつ受光素子71aによってバ
イパスされるため、抵抗23を経由して流れる電流の影響
は無視してもよい。差動増幅器21に流れる電流は極めて
微弱であり、抵抗31と給電プローブ3aを介して被測定抵
抗５に電流が流れた場合は、被測定抵抗５の抵抗値に対
応する電圧が差動増幅器21に入力される。しかし、受光
素子71aと抵抗41と給電プローブ4aを経由して被測定抵
抗５に流れた場合は、抵抗31と給電プローブ3aを介して
被測定抵抗５に電流が流れた場合と異なり、差動増幅器
21の入力側における電位差が大きく測定値の限界を超過
する。なお受光素子71bは導通状態になるが逆バイアス
されているため電流は流れない。
また計測回路２の＋側に接続されている計測プローブ
4aが開放状態になった場合、バイパス回路として接続さ
れている受光素子71a,71bは導通状態にならないが、抵
抗23を介して給電回路１の＋側電圧が差動増幅器21の一
方に入力され、給電プローブ3aに接続された抵抗31およ
び被測定抵抗５によって降下した電圧が、計測プローブ
4bおよび抵抗41を介して差動増幅器21の他方に入力され
る。この場合も差動増幅器21の入力側における電位差が
大きく測定値の限界を超過する。
4aが開放状態になった場合、バイパス回路として接続さ
れている受光素子71a,71bは導通状態にならないが、抵
抗23を介して給電回路１の＋側電圧が差動増幅器21の一
方に入力され、給電プローブ3aに接続された抵抗31およ
び被測定抵抗５によって降下した電圧が、計測プローブ
4bおよび抵抗41を介して差動増幅器21の他方に入力され
る。この場合も差動増幅器21の入力側における電位差が
大きく測定値の限界を超過する。
更に説明の重複を避けるためここでは説明を省略して
いるが、給電回路１の−側に接続されている給電プロー
ブ3b、計測回路２の−側に接続されている計測プローブ
4bが開放状態になった場合も、同様に差動増幅器21の入
力側における電位差が大きく測定値の限界を超過する。
なお被測定抵抗の測定範囲は抵抗31および41を切替える
ことで変更可能であり、また測定電圧が大きくなる場合
は発光素子72a,72bと直列に、定電圧ダイオード等を接
続することによって対処することができる。
いるが、給電回路１の−側に接続されている給電プロー
ブ3b、計測回路２の−側に接続されている計測プローブ
4bが開放状態になった場合も、同様に差動増幅器21の入
力側における電位差が大きく測定値の限界を超過する。
なお被測定抵抗の測定範囲は抵抗31および41を切替える
ことで変更可能であり、また測定電圧が大きくなる場合
は発光素子72a,72bと直列に、定電圧ダイオード等を接
続することによって対処することができる。
このように給電回路と計測回路の間にそれぞれフォト
カプラの受光素子を接続すると共に、直列接続されたフ
ォトカプラの発光素子を給電回路の定電流源と並列に接
続することによって、プローブが接触不良の場合は計測
プローブ間の電位差が、差動増幅器から測定値超過の情
報が出力される領域まで上昇する。その結果、４本のプ
ローブが完全に接触しない場合は計測不能になり、誤判
定することのない４線式抵抗測定装置を実現することが
できる。
カプラの受光素子を接続すると共に、直列接続されたフ
ォトカプラの発光素子を給電回路の定電流源と並列に接
続することによって、プローブが接触不良の場合は計測
プローブ間の電位差が、差動増幅器から測定値超過の情
報が出力される領域まで上昇する。その結果、４本のプ
ローブが完全に接触しない場合は計測不能になり、誤判
定することのない４線式抵抗測定装置を実現することが
できる。
上述の如く本発明によればプローブが完全に接触しな
い場合は計測不能を表示して停止する等、誤判定するこ
とのない４線式抵抗測定装置を提供することができる。
い場合は計測不能を表示して停止する等、誤判定するこ
とのない４線式抵抗測定装置を提供することができる。
第１図は本発明になる４線式抵抗測定装置を示す回路
図、 第２図は従来の４線式抵抗測定装置を示す回路図、 である。図において １は給電回路、２は計測回路、 3a,3bは給電プローブ、4a,4bは計測プローブ、 ５は被測定抵抗、６は定電流源、 7a,7bはフォトカプラ、21は差動増幅器、 22,23,31,41は抵抗、51は端子、 71a,71bは受光素子、72a,72bは発光素子、 をそれぞれ表す。
図、 第２図は従来の４線式抵抗測定装置を示す回路図、 である。図において １は給電回路、２は計測回路、 3a,3bは給電プローブ、4a,4bは計測プローブ、 ５は被測定抵抗、６は定電流源、 7a,7bはフォトカプラ、21は差動増幅器、 22,23,31,41は抵抗、51は端子、 71a,71bは受光素子、72a,72bは発光素子、 をそれぞれ表す。
Claims (1)
- 【請求項１】抵抗（31）を介して給電回路（１）に接続
された給電プローブ（3a,3b）と、抵抗（41）を介して
計測回路（２）に接続された計測プローブ（4a,4b）を
有し、両側に該給電プローブ（3a,3b）と該計測プロー
ブ（4a,4b）を接触せしめ、被測定抵抗（５）の抵抗値
を計測する４線式の抵抗測定装置であって、 該被測定抵抗（５）の同一端子に接続される該給電回
路（１）と該計測回路（２）の間に、それぞれフォトカ
プラ（7a,7b）の受光素子（71a,71b）を接続し、且つ直
列接続された該フォトカプラ（7a,7b）の発光素子（72
a,72b）を、該給電回路（１）の定電流源（６）と並列
に接続してなることを特徴とする４線式抵抗測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5451389A JP2506433B2 (ja) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | ４線式抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5451389A JP2506433B2 (ja) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | ４線式抵抗測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02232568A JPH02232568A (ja) | 1990-09-14 |
| JP2506433B2 true JP2506433B2 (ja) | 1996-06-12 |
Family
ID=12972728
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5451389A Expired - Lifetime JP2506433B2 (ja) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | ４線式抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2506433B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2363855B (en) * | 1999-08-05 | 2002-06-26 | Murata Manufacturing Co | Impedance measuring apparatus for electronic component |
| JP3402274B2 (ja) | 1999-08-05 | 2003-05-06 | 株式会社村田製作所 | 電子部品のインピーダンス測定装置 |
| US7548819B2 (en) | 2004-02-27 | 2009-06-16 | Ultra Electronics Limited | Signal measurement and processing method and apparatus |
| JP5142806B2 (ja) * | 2008-04-25 | 2013-02-13 | 株式会社鷺宮製作所 | 導電率計および導電率測定方法、ならびに、これらを用いた電極異常監視装置および電極異常監視方法 |
| CN107064719B (zh) * | 2017-06-02 | 2023-09-19 | 北京华峰测控技术有限公司 | 一种开尔文连接故障检测电路及方法 |
-
1989
- 1989-03-07 JP JP5451389A patent/JP2506433B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02232568A (ja) | 1990-09-14 |
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