DE19910407A1 - Testplatte - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung bezieht sich auf eine Testplatte zum Überprüfen der Brauchbarkeit von Fertigungseinrichtungen und Werkstoffen zum Herstellen von gedruckten Leiterplatten. DOLLAR A Um vergleichbare Qualitätsangaben zu gewinnen, ist im Bereich (2) einer ersten Kante (3) der Testplatte (1) eine erste Reihe (4) nebeneinanderliegender Striche (5) im rechten Winkel zur Kante (3) aufgebracht und mit Abstandsmarkierungen (6) versehen. An einer weiteren zur ersten Kante (3) winklig verlaufenden zweiten Kante (11) der Testplatte (1) liegt eine zweite Reihe (12) nebeneinanderliegender Striche (13) im rechten Winkel zur zweiten Kante (11). Zusätzlich können auf der Testplatte (1) im Winkel verlaufende Folgen (21, 24 bis 26) von gleichbeabstandeten, gleichgroßen Punkten (22) sowie rechteckförmige Flecken (33) nach Art einer Matrixanordnung mit Zeilen- und Spaltenmarkierung (38, 39) vorgesehen sein.
Description
Es ist bekannt, daß zum Testen von Einrichtungen zum Her
stellen von gedruckten Leiterplatten oder von Werkstoffen zum
Herstellen derartiger Leiterplatten, wie beispielsweise
Lötstoplack oder Lotpaste, als Testplatte fertige (unbe
stückte) gedruckte Leiterplatten verwendet werden, die in
einwandfreier Ausführung hergestellt worden sind. Das Testen
von Fertigungseinrichtungen und Werkstoffen auf diese Weise
ist aber verhältnismäßig unvollkommen und dem Zufall insofern
überlassen, als das Testen durch Vergleichen mit einer be
liebig hergestellten Leiterplatte guter Ausführung erfolgt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Testplatte zum
Überprüfen der Brauchbarkeit von Fertigungseinrichtungen und
Werkstoffen zum Herstellen von gedruckten Leiterplatten vor
zuschlagen, mit der sich vergleichbare Testergebnisse erzie
len lassen.
Zur Lösung dieser Aufgabe ist bei einer Testplatte erfin
dungsgemäß im Bereich mindestens einer ersten Kante der Test
platte mindestens eine erste Reihe quer zu ihrer Längser
streckung nebeneinanderliegender Striche im rechten Winkel zu
der Kante mit gleichen Abständen voneinander aufgebracht, und
es befinden sich entlang der Reihe Abstandsmarkierungen.
Ein wesentlicher Vorteil der erfindungsgemäßen Testplatte be
steht darin, daß durch die Reihe von nebeneinanderliegenden
Strichen im Zusammenhang mit den Abstandsmarkierungen die
Qualität einer Fertigungseinrichtung oder eines verwendeten
Werkstoffes zur Leiterplattenherstellung in dem besonders
kritischen Randbereich der Leiterplatten überprüft werden
kann; dabei ist durch das Vorsehen von Abstandsmarkierungen
an der Reihe von nebeneinanderliegenden Strichen die Möglich
keit der Klassifizierung gegeben. Werden zum Testen von Fer
tigungseinrichtungen und Werkstoffen Testplatten der erfin
dungsgemäßen Art benutzt, dann kann allein durch die Angabe
derjenigen Abstandsmarkierung, bis zu der die Striche noch
einwandfrei vorhanden sind, eine Qualitätsangabe gemacht wer
den.
Die Klassifizierung ist noch dadurch weiter verbesserbar,
wenn zu der ersten Reihe mindestens eine weitere Reihe neben
einanderliegender Striche vorhanden ist, die in jeweils
gleichen aber anderen Abständen als die der Striche der er
sten Reihe angeordnet sind und wenn am von der Kante abge
wandten Ende jeder Reihe eine eigene Reihenmarkierung vorhan
den ist. Die Striche verschiedener Reihen sind dabei vor
teilhafterweise entsprechend einem bei Leiterplatten üblichen
Rastermaß unterschiedlich beabstandet, so daß durch die Ab
standsmarkierung und durch die Reihenmarkierung eine Aussage
darüber möglich ist, welche Qualität im Randbereich einer
Kante einer Leiterplatte erzielbar ist.
Häufig ist es wichtig, an im Bereich einer weiteren, winklig
zur ersten Kante einer Leiterplatte verlaufenden zweiten
Kante die Herstellungsqualität einer Leiterplatte zu über
prüfen bzw. zu klassifizieren. Dies läßt sich gemäß einer
Weiterbildung der Erfindung dadurch ermöglichen, daß im Be
reich einer winklig zur ersten Kante der Testplatte verlau
fenden zweiten Kante mindestens eine zweite Reihe quer zu
ihrer Längserstreckung nebeneinanderliegender Striche im
rechten Winkel zu der zweiten Kante aufgebracht ist und sich
entlang der weiteren Reihe Abstandskennzeichnungen befinden.
Auch bei dieser Ausführungsform der erfindungsgemäßen Test
platte ist vorteilhafterweise zu der zweiten Reihe mindestens
eine zusätzliche Reihe nebeneinanderliegender Striche vorhan
den, die in jeweils gleichen aber anderen Abständen als die
der Striche der zweiten Reihe angeordnet sind; am von der
zweiten Kante abgewandten Ende jeder Reihe ist ein Reihen
kennzeichen vorhanden. Somit läßt sich dann mit einer solchen
Platte auch die Güte der Herstellung im Bereich einer weite
ren Kante beschreiben.
Die erfindungsgemäße Testplatte kann aus unterschiedlichen
Materialien hergestellt sein, beispielsweise aus einem für
Leiterplatten üblichen Kunststoff oder auch aus Glas. Auch
die Striche auf der Testplatte können aus unterschiedlichen
Materialien bestehen; bevorzugt wird Metall oder Graphit.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform der erfin
dungsgemäßen Testplatte ist mindestens eine im Winkel verlau
fende erste Folge von gleichbeabstandeten, gleichgroßen Punk
ten vorhanden. Damit läßt sich die Qualität einer Fertigungs
einrichtung oder eines Werkstoffes für gedruckte Leiterplat
ten insbesondere im Hinblick auf die Eignung zur Montage von
Chips abschätzen.
Als besonders vorteilhaft wird es angesehen, wenn bei dieser
Ausführungsform der erfindungsgemäßen Testplatte parallel zur
ersten Folge von Punkten mindestens eine weitere Folge von
gleichbeabstandeten, gleichgroßen Punkten vorhanden ist, die
sich hinsichtlich ihrer Abstände und ihrer Größe von den
Punkten der ersten Folge unterscheiden; die Folgen sind an
ihren Enden mit Abstands- und Größenmarkierungen versehen.
Damit ist es dann im Hinblick auf die Abstands- und Größen
markierungen möglich, die Güte einer hergestellten Leiter
platte in Bezug auf den Einsatz von Chips durch Angabe der
Markierungen der Folge anzugeben, die noch einwandfrei herge
stellt worden ist.
Bei dieser Ausführungsform sind die Punkte vorteilhafterweise
aus Metall oder Graphit hergestellt.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform der erfin
dungsgemäßen Testplatte befinden sich auf der Testplatte meh
rere Zeilen mit rechteckförmigen Flecken in einer solchen An
ordnung, daß von den Flecken verschiedener Zeilen Spalten ge
bildet werden, und die Breite der Flecken in den Spalten
nimmt schrittweise zu. Damit ist es möglich, einen Test hin
sichtlich des kleinsten und größten druckbaren Lotvolumens
durchführen.
Sind ergänzend dazu in vorteilhafterweise neben einer äußeren
Zeile Zeilenmarkierungen und neben einer äußeren Spalte Spal
tenmarkierungen vorgesehen, dann lassen sich mit den Zeilen-
und Spaltenmarkierungen Qualitätsmerkmale hinsichtlich einer
Lotpaste angeben.
Die Flecken bestehen vorteilhafterweise aus Metall oder Gra
phit.
Zur Lösung der eingangs angegebenen Aufgabe dient auch eine
Testplatte, bei der mindestens eine im Winkel verlaufende er
ste Folge von gleichbeabstandeten, gleichgroßen Punkten vor
handen ist. Eine derart ausgebildete Testplatte ermöglicht
eine Überprüfung einer Leiterplatte hinsichtlich der Eignung
von Fertigungseinrichtungen und Werkstoffen zu ihrer Her
stellung in Bezug auf die Aufbringung von Chips auf eine Lei
terplatte.
Vorteilhafterweise ist bei einer solchen Testplatte parallel
zur ersten Folge von Punkten mindestens eine weitere Folge
von gleichbeabstandeten, gleichgroßen Punkten vorhanden, die
sich hinsichtlich ihrer Abstände und ihrer Größe von den
Punkten der ersten Folge unterscheiden, und die Folgen sind
an ihren Enden mit Abstands- und Größenmarkierungen versehen.
Eine solche Testplatte läßt sich hinsichtlich der Untersu
chung einer Lotpaste und deren Tauglichkeit für den jeweili
gen Anwendungsfall in vorteilhafterweise auch so ausführen,
daß sich auf der Testplatte mehrere Zeilen mit rechteckförmi
gen Flecken in einer solchen Anordnung befinden, daß von den
Flecken verschiedener Zeilen Spalten gebildet werden; die
Breite der Flecken in den Spalten nimmt schrittweise zu.
Dabei sind vorteilhafterweise wiederum Zeilenmarkierungen und
Spaltenmarkierungen vorgesehen, um Qualitätsangaben machen zu
können.
Gegebenenfalls kann es auch vorteilhaft sein, zur Lösung der
oben angegebenen Aufgabe eine Testplatte zu verwenden, bei
der sich erfindungsgemäß auf der Testplatte mehrere Zeilen
mit rechteckförmigen Flecken in einer solchen Anordnung be
finden, daß von den Flecken verschiedener Zeilen Spalten ge
bildet werden und die Breite der Flecken in den Spalten
schrittweise zunimmt. Auch hier können Zeilenmarkierungen und
Spaltenmarkierungen zur Klassifizierung benutzt werden.
Zur weiteren Erläuterung der Erfindung ist in der Figur eine
Draufsicht auf ein Ausführungsbeispiel einer gemäß der Erfin
dung ausgebildeten Testplatte gezeigt.
Bei der Testplatte 1 befindet sich im Bereich 2 einer Kante 3
eine erste Reihe 4 aus nebeneinander liegenden Querstrichen
5, die jeweils gleichen Abstand voneinander haben, der dem
Rastermaß R = 0,65 mm entspricht. Die Reihenmarkierung ist ent
sprechend "R = 0,65". Die erste Reihe 4 erstreckt sich in einem
rechten Winkel zur Kante 3 der Testplatte 1. Neben der ersten
Reihe 4 befinden sich Abstandsmarkierungen 6, die den Abstand
des jeweiligen Striches 5 von der Kante 3 angeben.
Neben der ersten Reihe 4 von nebeneinander liegenden Strichen
5 und parallel zu dieser Reihe ausgerichtet befindet sich
eine weitere Reihe 7 von nebeneinander liegenden Strichen,
bei der die einzelnen Striche einen kleineren Abstand vonein
ander haben. Dies ist durch die Angabe des Rastermaßes (Rei
henmarkierung) R = 0,5 an dem von der Kante 3 abgewandten Ende
der weiteren Reihe 7 gekennzeichnet.
Wie die Figur ferner zeigt, sind weitere Reihen 8 und 9 neben
der ersten weiteren Reihe 7 vorgesehen, die jeweils hinsicht
lich der Anordnung ihrer Striche so ausgebildet sind, daß die
Abstände gestuft abnehmen; so hat die weitere Reihe 8 einen
Abstand, der mit R = 0,4 als Reihenmarkierung angegeben ist,
und die weitere Reihe 9 weist bezüglich ihrer Querstriche ei
nen Abstand auf, der dem Rastermaß R = 0,3 entspricht.
Nur der größeren Zuverlässigkeit der Aussage wegen sind so
wohl die erste Reihe 4 als auch die weiteren Reihen 7 bis 9
jeweils dreifach nebeneinander ausgebildet.
Im Bereich 10 einer winklig zur ersten Kante 3 des Testplatte
1 verlaufenden zweiten Kante 11 ist eine zweite Reihe 12 mit
Strichen 13 vorgesehen, die einen vergleichsweise großen Ab
stand voneinander aufweisen; dieser Abstand entspricht einem
Rastermaß von R = 0,65 und ist als Reihenkennzeichnung 14
"R = 0,65" am von der Kante 11 entfernten Ende der zweiten
Reihe 12 markiert. Wie oben bereits beschrieben, sind auch im
Bereich 10 neben der zweiten Reihe 12 zusätzliche Reihen 14,
15 und 16 vorgesehen, die neben der zweiten Reihe 12 verlau
fen und somit ebenfalls rechtwinklig zur weiteren Kante 11
der Testplatte 1 ausgerichtet sind. Die Abstandskennzeichnun
gen "R = 0,5", "R = 0,4" und "R = 0,3" an dem von der Kante 11 ab
gewandten Ende der Reihen 14 bis 16 geben die unterschiedli
chen Abstände der Striche der zusätzlichen Reihen voneinander
an. Abstandskennzeichnungen 17 dienen demselben Zweck wie die
Abstandsmarkierungen 6.
Ist mit einer zu prüfenden Fertigungseinrichtung oder mit ei
nem zu überprüfenden Werkstoff zum Herstellen von gedruckten
Leiterplatten eine Testplatte 1 entsprechend der obigen Figu
renbeschreibung hergestellt worden, dann läßt sich durch die
Angabe der Abstandsmarkierungen 6 und der Abstandskennzeich
nungen 17 die Qualität im Randbereich einer Leiterplatte an
geben.
In einem weiteren (mittleren) Bereich 20 der Testplatte 1 ist
eine im Winkel verlaufende Folge 21 von Punkten 22 aufgetra
gen. Diese Punkte, die ebenfalls aus Metall oder Graphit her
gestellt sein können, weisen untereinander gleichbleibende
Abstände auf, und haben gleiche Größe; durch eine Abstands
markierung 23 (R = 1,5) ist das Rastermaß bezeichnet und mit
einer weiteren Größenmarkierung 23a "1,0" am anderen Ende der
Folge 21 die Größe bzw. der Durchmesser der einzelnen Punkte
22.
Wie die Figur ferner zeigt, sind parallel zu der einen Folge
21 von Punkten weitere winklig verlaufende Folgen 24, 25 und
26 vorgesehen, die den Rastermaßen R = 1,27, R = 0,8 und R = 0,5
(Abstandsmarkierungen) entsprechen; Größenmarkierungen am je
weils anderen Ende mit 0,8, 0,5 und 0,3 bezeichnen den Durch
messer der einzelnen Punkte. Es ist somit möglich, beim
Überprüfen die Qualität einer hergestellten Leiterplatte
durch Angabe der Abstands- und Größenmarkierungen 23 und 23a
hinsichtlich der Tauglichkeit für eine Chipmontage anzugeben.
Ferner läßt die Figur erkennen, daß im linken unteren Bereich
30 und im rechten oberen Bereich 31 der Testplatte 1 mehrere
Zeilen 32 mit rechteckförmigen Flecken 33 vorgesehen sind,
die so angeordnet sind, daß übereinanderliegende Flecken
verschiedener Zeilen 32 Spalten 34 bilden. Dabei sind die
Flecken 33 so ausgestaltet, daß ihre Breite - im Bereich 30 -
in der Figur von links nach rechts abnimmt und ihre Höhe von
oben nach unten zunimmt. Aus Platzgründen ist eine Form eines
rechtwinkligen Dreiecks für die Muster aus den Flecken ge
wählt. Am schrägen Rand des so gebildeten Musters aus recht
eckförmigen Flecken sind kreisförmige Flecken 37 mit von oben
nach unten zunehmenden Durchmesser angeordnet. Am oberen Rand
der Anordnung mit den Flecken sind Spaltenmarkierungen 38 und
an der linken Seite Zeilenmarkierungen 39 vorgesehen.
Mit den Flecken 33 bzw. 37 läßt sich ein kleinstes und größ
tes druckbares Lotvolumen feststellen und dies klassifiziert
durch die jeweilige Zeilenmarkierung 39 und die jeweilige
Spaltenmarkierung 38 angeben. Die rechteckförmigen und die
kreisförmigen Flecken 33 bzw. 37 sind wiederum aus Metall
oder Graphit hergestellt.
Die Muster in den Bereichen 30 und 31 sind durch Spiegelung
an einer unter 45° verlaufende Achse gebildet.
Weitere Muster 40 und 41 im linken oberen Bereich der Test
platte 1 und im rechten unteren Bereich dienen zur Messung
des Oberflächenisolationswiderstandes.
Relativ großflächige Bereiche 42, 43 und 44 sind vorgesehen,
um Aussagen über die Qualität einer Lotpaste zu gewinnen.
Die Muster 45, 46 und 47 dienen zur Qualitätsbeurteilung
u. a. hinsichtlich der Positioniergenauigkeit und Reprodu
zierbarkeit.
Ein letztes Muster 48 ermöglicht einen ergänzenden Test da
hingehend, ob unterschiedliche lange Striche in X- und Y-
Richtung auch im mittleren Bereich der Testplatte 1 einwand
frei herstellbar sind.
Claims (17)
1. Testplatte zum Überprüfen der Brauchbarkeit von Ferti
gungseinrichtungen und Werkstoffen zum Herstellen von ge
druckten Leiterplatten,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - im Bereich (2) mindestens einer ersten Kante (3) der Test platte (1) mindestens eine erste Reihe (4) quer zu ihrer Längserstreckung nebeneinanderliegender Striche (5) im rechten Winkel zu der Kante (3) mit gleichen Abständen voneinander aufgebracht ist und
- - sich entlang der Reihe Abstandsmarkierungen (6) befinden.
2. Testplatte nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - zu der ersten Reihe (4) mindestens eine weitere Reihe (7 bis 9) nebeneinanderliegender Striche vorhanden ist, die in jeweils gleichen aber anderen Abständen als die der Striche der ersten Reihe (4) angeordnet sind und
- - am von der Kante (3) abgewandten Ende jeder Reihe (4, 7 bis 9) eine eigene Reihenmarkierung (4a) vorhanden ist.
3. Testplatte nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - im Bereich (10) einer winklig zur ersten Kante (9) der Testplatte (1) verlaufenden zweiten Kante (11) mindestens eine zweite Reihe (12) quer zu ihrer Längserstreckung ne beneinanderliegender Striche (13) im rechten Winkel zu der zweiten Kante (11) aufgebracht ist und
- - sich entlang der weiteren Reihe (12) Abstandskennzeichnun gen (17) befinden.
4. Testplatte nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - zu der zweiten Reihe (12) mindestens eine zusätzliche Reihe (14 bis 16) nebeneinanderliegender Striche vorhanden ist, die in jeweils gleichen aber anderen Abständen als die der Striche der zweiten Reihe (12) angeordnet sind und
- - am von der zweiten Kante (11) abgewandten Ende jeder Reihe ein Reihenkennzeichen (14a) vorhanden ist.
5. Testplatte nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - die Striche (13) aus Metall oder Graphit bestehen.
6. Testplatte nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - mindestens eine im Winkel verlaufende erste Folge (21) von gleichbeabstandeten, gleichgroßen Punkten (22) vorhanden ist.
7. Testplatte nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - parallel zur ersten Folge (21) von Punkten (22) mindestens eine weitere Folge (24 bis 26) von gleichbeabstandeten, gleichgroßen Punkten vorhanden ist, die sich hinsichtlich ihrer Abstände und ihrer Größe von den Punkten (22) der ersten Folge (21) unterscheiden und
- - die Folgen (21, 24 bis 26) an ihren Enden mit Abstands- und Größenmarkierungen (23, 23a) versehen sind.
8. Testplatte nach Anspruch 6 oder 7,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - die Punkte (22) aus Metall oder Graphit bestehen.
9. Testplatte nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - sich auf der Testplatte (1) mehrere Zeilen (32) mit recht eckförmigen Flecken (33) in einer solchen Anordnung be finden, daß von den Flecken (33) verschiedener Zeilen (32) Spalten (34) gebildet werden, und
- - die Breite der Flecken (33) in den Spalten (34) schritt weise zunimmt.
10. Testplatte nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - neben einer äußeren Zeile (32) Zeilenmarkierungen (39) und neben einer äußeren Spalte (34) Spaltenmarkierungen (38) vorgesehen sind.
11. Testplatte nach Anspruch 9 oder 10,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - die Flecken (33) aus Metall oder Graphit bestehen.
12. Testplatte zum Überprüfen der Brauchbarkeit von Ferti
gungseinrichtungen und Werkstoffen zum Herstellen von ge
druckten Leiterplatten,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - mindestens eine im Winkel verlaufende erste Folge (21) von gleichbeabstandeten, gleichgroßen Punkten (22) vorhanden ist.
13. Testplatte nach Anspruch 12,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - parallel zur ersten Folge (21) von Punkten (22) mindestens eine weitere Folge (24 bis 26) von gleichbeabstandeten, gleichgroßen Punkten vorhanden ist, die sich hinsichtlich ihrer Abstände und ihrer Größe von den Punkten (22) der ersten Folge (21) unterscheiden und
- - die Folgen (21, 24 bis 26) an ihren Enden mit Abstands- und Größenmarkierungen (23, 23a) versehen sind.
14. Testplatte nach Anspruch 12 oder 13,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - sich auf der Testplatte (1) mehrere Zeilen (32) mit recht eckförmigen Flecken (33) in einer solchen Anordnung befin den, daß von den Flecken (33) verschiedener Zeilen (32) Spalten (34) gebildet werden, und
- - die Breite der Flecken (33) in den Spalten (34) schritt weise zunimmt.
15. Testplatte nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - neben einer äußeren Zeile (32) Zeilenmarkierungen (39) und neben einer äußeren Spalte (34) Spaltenmarkierungen (38) vorgesehen sind.
16. Testplatte zum Überprüfen der Brauchbarkeit von Ferti
gungseinrichtungen und Werkstoffen zum Herstellen von ge
druckten Leiterplatten,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - sich auf der Testplatte (1) mehrere Zeilen (32) mit recht eckförmigen Flecken (33) in einer solchen Anordnung befin den, daß von den Flecken (33) verschiedener Zeilen (32) Spalten (34) gebildet werden, und
- - die Breite der Flecken (33) in den Spalten (34) schritt weise zunimmt.
17. Testplatte nach Anspruch 16,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - neben einer äußeren Zeile (32) Zeilenmarkierungen (39) und neben einer äußeren Spalte (34) Spaltenmarkierungen (38) vorgesehen sind.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1999110407 DE19910407A1 (de) | 1999-03-02 | 1999-03-02 | Testplatte |
DE29923733U DE29923733U1 (de) | 1999-03-02 | 1999-03-02 | Testplatte |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1999110407 DE19910407A1 (de) | 1999-03-02 | 1999-03-02 | Testplatte |
Publications (1)
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DE19910407A1 true DE19910407A1 (de) | 2000-09-21 |
Family
ID=7900288
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
DE1999110407 Ceased DE19910407A1 (de) | 1999-03-02 | 1999-03-02 | Testplatte |
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