JPH03255374A - コンデンサの直流電圧印加試験回路 - Google Patents
コンデンサの直流電圧印加試験回路Info
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- JPH03255374A JPH03255374A JP5465790A JP5465790A JPH03255374A JP H03255374 A JPH03255374 A JP H03255374A JP 5465790 A JP5465790 A JP 5465790A JP 5465790 A JP5465790 A JP 5465790A JP H03255374 A JPH03255374 A JP H03255374A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims abstract description 39
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 23
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims abstract description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 15
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 abstract description 14
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 11
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001311 chemical methods and process Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、コンデンサに規定の直流電圧を印加して試験
を行う方法に関する。
を行う方法に関する。
［従来の技術］
一般にコンデンサは、機械的、電気的、化学的な工程を
経て製造されているため、多数の製造品中に、特性の不
安定品、不良内在品（内部微小絶縁破壊品）を発生する
ことは回避できない。このような不安定品、不良内在品
を除去し、安定した製品だけを確保するために、各種の
試験による選別を行っている。
経て製造されているため、多数の製造品中に、特性の不
安定品、不良内在品（内部微小絶縁破壊品）を発生する
ことは回避できない。このような不安定品、不良内在品
を除去し、安定した製品だけを確保するために、各種の
試験による選別を行っている。
このような選別試験の一つに、試料であるコンデンサに
規定の直流電流電圧を印加し、予め規格化された電流値
にて選別する方法がある。
規定の直流電流電圧を印加し、予め規格化された電流値
にて選別する方法がある。
このような選別を行うための回路としては、例えば、第
３図に示すものが存在する。この第３図の回路は、直流
電圧供給源（ＤＣ）１によって、試料コンデンサ（Ｃｖ
）２に規定の直流電流電圧を規定時間印加する電圧供
給回路３と、ＯＰアンプ４によって、規定時間後、予め
設定された電流値に基づき、試料コンデンサ２に流れる
電流値を選別する電流測定回路５とを有するものである
。
３図に示すものが存在する。この第３図の回路は、直流
電圧供給源（ＤＣ）１によって、試料コンデンサ（Ｃｖ
）２に規定の直流電流電圧を規定時間印加する電圧供
給回路３と、ＯＰアンプ４によって、規定時間後、予め
設定された電流値に基づき、試料コンデンサ２に流れる
電流値を選別する電流測定回路５とを有するものである
。
しかしながら、以上のような従来の試験回路においては
、規定電圧印加中に試料コンデンサ２の絶縁破壊が生じ
た場合でも、規定時間内は電圧印加が継続されるため、
その電流測定回路５、直流電圧供給源１などが破壊して
しまう。
、規定電圧印加中に試料コンデンサ２の絶縁破壊が生じ
た場合でも、規定時間内は電圧印加が継続されるため、
その電流測定回路５、直流電圧供給源１などが破壊して
しまう。
さらに、規定電圧印加中に試料コンデンサ２の絶縁破壊
が生じ、規定時間到達時に、試料コンデンサ２の絶縁破
壊が停止した場合には、試料コンデンサ２を流れる電流
値が規格内であれば、良品に判定されてしまうなどの問
題もある。
が生じ、規定時間到達時に、試料コンデンサ２の絶縁破
壊が停止した場合には、試料コンデンサ２を流れる電流
値が規格内であれば、良品に判定されてしまうなどの問
題もある。
［発明が解決しようとする課題］
上記のように、従来の試験回路においては、規定電圧印
加中に試料コンデンサの絶縁破壊を生じた場合に、測定
回路や直流電圧供給源などが破壊されたり、また、絶縁
破壊が停止した場合には、この不良品が良品として誤認
判定されてしまうなどの欠点があった。
加中に試料コンデンサの絶縁破壊を生じた場合に、測定
回路や直流電圧供給源などが破壊されたり、また、絶縁
破壊が停止した場合には、この不良品が良品として誤認
判定されてしまうなどの欠点があった。
本発明は、上記のような従来技術の欠点を解決するため
に提案されたものであり、その目的は、直流電流電圧の
印加中に試料コンデンサに絶縁破壊を生じた場合に、測
定回路や直流電圧供給源などの破壊を生ずることなく、
また、特性不安定品、不良内在品を確実に選別できるよ
うな、優れた直流電圧印加試験方法を提供することであ
る。
に提案されたものであり、その目的は、直流電流電圧の
印加中に試料コンデンサに絶縁破壊を生じた場合に、測
定回路や直流電圧供給源などの破壊を生ずることなく、
また、特性不安定品、不良内在品を確実に選別できるよ
うな、優れた直流電圧印加試験方法を提供することであ
る。
［課題を解決するための手段］
本発明におけるコンデンサの直流電圧印加試験回路は、
規定の直流電流電圧を試料コンデンサに印加して選別を
行うコンデンサの直流電圧印加試験回路において、直流
電圧供給源を備え、試料コンデンサに規定の直流電流電
圧を規定時間印加する電圧供給回路と、予め設定された
規定電流値を備え、この規定電流値に基づいて、試料コ
ンデンサに流れる電流値を選別する測定回路と、予め設
定された異常電圧値を備え、直流電流電圧の印加開始か
ら終了までの間、この供給電圧をモニターし、異常電圧
値以上のブレーク電圧が発生した際に、瞬時に動作して
電圧供給回路の電圧供給を停止させるブレーク回路とを
有することを特徴としている。
規定の直流電流電圧を試料コンデンサに印加して選別を
行うコンデンサの直流電圧印加試験回路において、直流
電圧供給源を備え、試料コンデンサに規定の直流電流電
圧を規定時間印加する電圧供給回路と、予め設定された
規定電流値を備え、この規定電流値に基づいて、試料コ
ンデンサに流れる電流値を選別する測定回路と、予め設
定された異常電圧値を備え、直流電流電圧の印加開始か
ら終了までの間、この供給電圧をモニターし、異常電圧
値以上のブレーク電圧が発生した際に、瞬時に動作して
電圧供給回路の電圧供給を停止させるブレーク回路とを
有することを特徴としている。
「作用」
以上のような構成を有する本発明の作用は次の通りであ
る。
る。
すなわち、予め設定された異常電圧値以上のブレーク電
圧が発生すると、瞬時にしてブレーク回路が動作し、電
圧供給回路の電圧供給を停止させるため、測定回路や直
流電圧供給源などの破壊を確実に防止できる。
圧が発生すると、瞬時にしてブレーク回路が動作し、電
圧供給回路の電圧供給を停止させるため、測定回路や直
流電圧供給源などの破壊を確実に防止できる。
また、このような試料コンデンサの絶縁破壊発生時にお
ける電圧供給の停止は、結果として、特性不安定品、不
良内在品の瞬間的な選別機能を果すことになる。従って
、ブレーク回路により絶縁破壊発生時に確実に電圧供給
を停止できる本発明においては、特性不安定品、不良内
在品の確実な選別・除去を行うことが可能となる。
ける電圧供給の停止は、結果として、特性不安定品、不
良内在品の瞬間的な選別機能を果すことになる。従って
、ブレーク回路により絶縁破壊発生時に確実に電圧供給
を停止できる本発明においては、特性不安定品、不良内
在品の確実な選別・除去を行うことが可能となる。
［実施例ｊ
以下に、本発明に係るコンデンサの直流電圧印加試験回
路の一実施例を、第１図及び第２図を使用して具体的に
説明する。
路の一実施例を、第１図及び第２図を使用して具体的に
説明する。
まず、第１図は、本実施例のコンデンサの直流電圧印加
試験回路を示す回路図である。この第１図に示すように
、直流電圧供給源（ＤＣ）１によって、試料コンデンサ
（Ｃ＋ ）２に規定の直流電流電圧を規定時間印加する
電圧供給回路３と、ＯＰアンプ４によって、規定時間後
、予め設定された電流値に基づき、試料コンデンサ２に
流れる電流値を選別する電流測定回路５とを有している
。
試験回路を示す回路図である。この第１図に示すように
、直流電圧供給源（ＤＣ）１によって、試料コンデンサ
（Ｃ＋ ）２に規定の直流電流電圧を規定時間印加する
電圧供給回路３と、ＯＰアンプ４によって、規定時間後
、予め設定された電流値に基づき、試料コンデンサ２に
流れる電流値を選別する電流測定回路５とを有している
。
そして、本実施例においては、本発明の請求の範囲に従
って、ブレーク回路６が設けられている。
って、ブレーク回路６が設けられている。
このブレーク回路６は、予めブレーク・リミット値とし
てコンパレータ７に設定された異常電圧値を判定する機
能を備え、電圧供給源１による直流電流電圧の印加開始
から終了までの間、この供給電圧をモニターし、設定さ
れた異常電圧値以上のブレーク電圧が発生した際に、瞬
時に動作して電圧供給回路３の電圧供給を停止させるよ
うに構成されている。
てコンパレータ７に設定された異常電圧値を判定する機
能を備え、電圧供給源１による直流電流電圧の印加開始
から終了までの間、この供給電圧をモニターし、設定さ
れた異常電圧値以上のブレーク電圧が発生した際に、瞬
時に動作して電圧供給回路３の電圧供給を停止させるよ
うに構成されている。
以上のような構成を有する本実施例の回路においては、
ブレーク回路６を付加しているために、規定電圧印加中
に試料コンデンサ２の絶縁破壊が生じた場合に、瞬時に
電圧供給を停止できるため、測定回路５、直流電圧供給
源１などの破壊を防止できる。
ブレーク回路６を付加しているために、規定電圧印加中
に試料コンデンサ２の絶縁破壊が生じた場合に、瞬時に
電圧供給を停止できるため、測定回路５、直流電圧供給
源１などの破壊を防止できる。
また、このような試料コンデンサの絶縁破壊発生時にお
ける電圧供給の停止は、前述の通り、特性不安定品、不
良内在品の瞬間的な選別機能を果す。従って、ブレーク
回路６により絶縁破壊発生時に確実に電圧供給を停止で
きる本発明においては、特性不安定品、不良内在品の確
実な選別・除去を行うことが可能となる。このため、従
来のように、不良品を良品と判定してしまうなどの不都
合がなくなり、信頼性の高い良品のコンデンサのみを製
品として提供可能となる。
ける電圧供給の停止は、前述の通り、特性不安定品、不
良内在品の瞬間的な選別機能を果す。従って、ブレーク
回路６により絶縁破壊発生時に確実に電圧供給を停止で
きる本発明においては、特性不安定品、不良内在品の確
実な選別・除去を行うことが可能となる。このため、従
来のように、不良品を良品と判定してしまうなどの不都
合がなくなり、信頼性の高い良品のコンデンサのみを製
品として提供可能となる。
なお、第２図は、前記実施例の回路におけるブレーク電
圧波形の一例を示す図である。
圧波形の一例を示す図である。
また、本発明は、コンデンサの漏れ電流の測定試験に適
用した場合に、特に優れた効果が得られており、その−
例として、下記の第１表に示すような、その−例として
、アルミ電解コンデンサの実使用結果が得られている。
用した場合に、特に優れた効果が得られており、その−
例として、下記の第１表に示すような、その−例として
、アルミ電解コンデンサの実使用結果が得られている。
すなわち、第１表は、前記実施例による試験回路を使用
した本発明方式の自動検査機と、第３図に示した従来技
術による試験回路を使用した従来方式の自動検査機とに
ついて、多数回の作業を行い、ブレーク電圧による選別
・除去を行った場合の除去数と、除去された試料につい
ての分解調査の結果得られた内部絶縁破壊を有する不良
内在品数とを示している。
した本発明方式の自動検査機と、第３図に示した従来技
術による試験回路を使用した従来方式の自動検査機とに
ついて、多数回の作業を行い、ブレーク電圧による選別
・除去を行った場合の除去数と、除去された試料につい
ての分解調査の結果得られた内部絶縁破壊を有する不良
内在品数とを示している。
第１表
この第１表から、本発明方式の自動検査機においては、
約０．００６％の不良内在品を除去できたのに対し、従
来方式の自動検査機においては、不良内在品を全く除去
できなかったことが明らかであり、このことは、本実施
例におけるブレーク回路６の効果を実証している。
約０．００６％の不良内在品を除去できたのに対し、従
来方式の自動検査機においては、不良内在品を全く除去
できなかったことが明らかであり、このことは、本実施
例におけるブレーク回路６の効果を実証している。
なお、本発明は前記実施例に限定されるものではなく、
電圧供給回路、測定回路、ブレーク回路の構成は適宜選
択可能である。また、本発明を適用する試験も漏れ電流
の測定試験に限定されるものではなく、同様に電流値を
選別する各種の測定試験一般に適用可能であり、同様の
効果を得られる。
電圧供給回路、測定回路、ブレーク回路の構成は適宜選
択可能である。また、本発明を適用する試験も漏れ電流
の測定試験に限定されるものではなく、同様に電流値を
選別する各種の測定試験一般に適用可能であり、同様の
効果を得られる。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明に係るコンデンサの直流電
圧印加試験回路においては、ブレーク回路を設けるとい
う簡単な構成の改良により、直流電流電圧の印加中に試
料コンデンサに絶縁破壊を生じた場合には、瞬時且つ確
実にブレーク回路が動作して、電圧供給を停止できるた
め、測定回路や直流電圧供給源などの破壊を生ずること
なく、且つ、特性不安定品、不良内在品を確実に選別で
きるという優れた効果を得られる。
圧印加試験回路においては、ブレーク回路を設けるとい
う簡単な構成の改良により、直流電流電圧の印加中に試
料コンデンサに絶縁破壊を生じた場合には、瞬時且つ確
実にブレーク回路が動作して、電圧供給を停止できるた
め、測定回路や直流電圧供給源などの破壊を生ずること
なく、且つ、特性不安定品、不良内在品を確実に選別で
きるという優れた効果を得られる。
第１図は、本発明に係るコンデンサの直流電圧印加試験
回路の一実施例を示す回路図、第２図は、第１図の回路
におけるブレーク電圧波形の一例を示す波形図、第３図
は、従来技術に係るコンデンサの直流電圧印加試験回路
の一例を示す回路図である。 １・・・直流電圧供給源（ＤＣ） 、２・・・試料コン
デンサ（Ｃ１） 、３・・・電圧供給回路、４・・・Ｏ
Ｐアンプ、５・・・電流測定回路、６・・・ブレーク回
路、７・・・コンパレータ。
回路の一実施例を示す回路図、第２図は、第１図の回路
におけるブレーク電圧波形の一例を示す波形図、第３図
は、従来技術に係るコンデンサの直流電圧印加試験回路
の一例を示す回路図である。 １・・・直流電圧供給源（ＤＣ） 、２・・・試料コン
デンサ（Ｃ１） 、３・・・電圧供給回路、４・・・Ｏ
Ｐアンプ、５・・・電流測定回路、６・・・ブレーク回
路、７・・・コンパレータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 規定の直流電流電圧を試料コンデンサに印加して選別を
行うコンデンサの直流電圧印加試験回路において、 直流電圧供給源を備え、試料コンデンサに規定の直流電
流電圧を規定時間印加する電圧供給回路と、予め設定さ
れた規定電流値を備え、この規定電流値に基づいて、試
料コンデンサに流れる電流値を選別する測定回路と、予
め設定された異常電圧値を備え、直流電流電圧の印加開
始から終了までの間、この供給電圧をモニターし、異常
電圧値以上のブレーク電圧が発生した際に、瞬時に動作
して電圧供給回路の電圧供給を停止させるブレーク回路
とを有することを特徴とするコンデンサの直流電圧印加
試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5465790A JP2841345B2 (ja) | 1990-03-05 | 1990-03-05 | コンデンサの直流電圧印加試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5465790A JP2841345B2 (ja) | 1990-03-05 | 1990-03-05 | コンデンサの直流電圧印加試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03255374A true JPH03255374A (ja) | 1991-11-14 |
| JP2841345B2 JP2841345B2 (ja) | 1998-12-24 |
Family
ID=12976859
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5465790A Expired - Fee Related JP2841345B2 (ja) | 1990-03-05 | 1990-03-05 | コンデンサの直流電圧印加試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2841345B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000046820A1 (fr) * | 1999-02-04 | 2000-08-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Procede d'inspection de condensateurs ceramiques lamines |
| JP2012032185A (ja) * | 2010-07-29 | 2012-02-16 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査装置 |
| JP2012047675A (ja) * | 2010-08-30 | 2012-03-08 | Hioki Ee Corp | 検査装置 |
| US8686739B2 (en) | 2008-03-31 | 2014-04-01 | Electro Scientific Industries, Inc. | Programmable gain trans-impedance amplifier overload recovery circuit |
| CN104034984A (zh) * | 2014-06-20 | 2014-09-10 | 中国西电电气股份有限公司 | 一种柔性直流输电运行试验中工程阀组件的短路试验方法 |
| JP2016020842A (ja) * | 2014-07-14 | 2016-02-04 | 株式会社ヒューモラボラトリー | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 |
| JP2021148759A (ja) * | 2020-03-17 | 2021-09-27 | 株式会社 電子制御国際 | 耐電圧試験装置 |
-
1990
- 1990-03-05 JP JP5465790A patent/JP2841345B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000046820A1 (fr) * | 1999-02-04 | 2000-08-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Procede d'inspection de condensateurs ceramiques lamines |
| US6437579B1 (en) | 1999-02-04 | 2002-08-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Screening method for a multi-layered ceramic capacitor |
| US8686739B2 (en) | 2008-03-31 | 2014-04-01 | Electro Scientific Industries, Inc. | Programmable gain trans-impedance amplifier overload recovery circuit |
| JP2012032185A (ja) * | 2010-07-29 | 2012-02-16 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査装置 |
| JP2012047675A (ja) * | 2010-08-30 | 2012-03-08 | Hioki Ee Corp | 検査装置 |
| CN104034984A (zh) * | 2014-06-20 | 2014-09-10 | 中国西电电气股份有限公司 | 一种柔性直流输电运行试验中工程阀组件的短路试验方法 |
| JP2016020842A (ja) * | 2014-07-14 | 2016-02-04 | 株式会社ヒューモラボラトリー | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 |
| JP2021148759A (ja) * | 2020-03-17 | 2021-09-27 | 株式会社 電子制御国際 | 耐電圧試験装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2841345B2 (ja) | 1998-12-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |