JP2841345B2 - コンデンサの直流電圧印加試験回路 - Google Patents
コンデンサの直流電圧印加試験回路Info
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- JP2841345B2 JP2841345B2 JP5465790A JP5465790A JP2841345B2 JP 2841345 B2 JP2841345 B2 JP 2841345B2 JP 5465790 A JP5465790 A JP 5465790A JP 5465790 A JP5465790 A JP 5465790A JP 2841345 B2 JP2841345 B2 JP 2841345B2
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、コンデンサに規定の直流電圧を印加して試
験を行う方法に関する。
験を行う方法に関する。
［従来の技術］ 一般にコンデンサは、機械的、電気的、化学的な工程
を経て製造されているため、多数の製造品中に、特性の
不安定品、不良内在品（内部微小絶縁破壊品）を発生す
ることは回避できない。このような不安定品、不良内在
品を除去し、安定した製品だけを確保するために、各種
の試験による選別を行っている。
を経て製造されているため、多数の製造品中に、特性の
不安定品、不良内在品（内部微小絶縁破壊品）を発生す
ることは回避できない。このような不安定品、不良内在
品を除去し、安定した製品だけを確保するために、各種
の試験による選別を行っている。
このような選別試験の一つに、試料であるコンデンサ
に規定の直流電流電圧を印加し、予め規格化された電流
値にて選別する方法がある。
に規定の直流電流電圧を印加し、予め規格化された電流
値にて選別する方法がある。
このような選別を行うための回路としては、例えば、
第３図に示すものが存在する。この第３図の回路は、直
流電圧供給源（DC）１によって、試料コンデンサ（C1）
２に規定の直流電流電圧を規定時間印加する電圧供給回
路３と、OPアンプ４によって、規定時間後、予め設定さ
れた電流値に基づき、試料コンデンサ２に流れる電流値
を選別する電流測定回路５とを有するものである。
第３図に示すものが存在する。この第３図の回路は、直
流電圧供給源（DC）１によって、試料コンデンサ（C1）
２に規定の直流電流電圧を規定時間印加する電圧供給回
路３と、OPアンプ４によって、規定時間後、予め設定さ
れた電流値に基づき、試料コンデンサ２に流れる電流値
を選別する電流測定回路５とを有するものである。
しかしながら、以上のような従来の試験回路において
は、規定電圧印加中に試料コンデンサ２の絶縁破壊が生
じた場合でも、規定時間内は電圧印加が継続されるた
め、その電流測定回路５、直流電圧供給源１などが破壊
してしまう。
は、規定電圧印加中に試料コンデンサ２の絶縁破壊が生
じた場合でも、規定時間内は電圧印加が継続されるた
め、その電流測定回路５、直流電圧供給源１などが破壊
してしまう。
さらに、規定電圧印加中に試料コンデンサ２の絶縁破
壊が生じ、規定時間到達時に、試料コンデンサ２の絶縁
破壊が停止した場合には、試料コンデンサ２を流れる電
流値が規格内であれば、良品に判定されてしまうなどの
問題もある。
壊が生じ、規定時間到達時に、試料コンデンサ２の絶縁
破壊が停止した場合には、試料コンデンサ２を流れる電
流値が規格内であれば、良品に判定されてしまうなどの
問題もある。
［発明が解決しようとする課題］ 上記のように、従来の試験回路においては、規定電圧
印加中に試料コンデンサの絶縁破壊を生じた場合に、測
定回路や直流電圧供給源などが破壊されたり、また、絶
縁破壊が停止した場合には、この不良品が良品として誤
認判定されてしまうなどの欠点があった。
印加中に試料コンデンサの絶縁破壊を生じた場合に、測
定回路や直流電圧供給源などが破壊されたり、また、絶
縁破壊が停止した場合には、この不良品が良品として誤
認判定されてしまうなどの欠点があった。
本発明は、上記のような従来技術の欠点を解決するた
めに提案されたものであり、その目的は、直流電流電圧
の印加中に試料コンデンサに絶縁破壊を生じた場合に、
測定回路や直流電圧供給源などの破壊を生ずることな
く、また、特性不安定品、不良内在品を確実に選別でき
るような、優れた直流電圧印加試験方法を提供すること
である。
めに提案されたものであり、その目的は、直流電流電圧
の印加中に試料コンデンサに絶縁破壊を生じた場合に、
測定回路や直流電圧供給源などの破壊を生ずることな
く、また、特性不安定品、不良内在品を確実に選別でき
るような、優れた直流電圧印加試験方法を提供すること
である。
［課題を解決するための手段］ 本発明におけるコンデンサの直流電圧印加試験回路
は、規定の直流電流電圧を試料コンデンサに印加して選
別を行うコンデンサの直流電圧印加試験回路において、
直流電圧供給源を備え、試料コンデンサに規定の直流電
流電圧を規定時間印加する電圧供給回路と、予め設定さ
れた規定電流値を備え、この規定電流値に基づいて、試
料コンデンサに流れる電流値を選別する測定回路と、予
め設定された許容電圧値を備え、直流電流電圧の印加開
始から終了までの間、この供給電圧をモニターし、許容
電圧値からはずれたの供給電圧の低下（以下、ブレーク
電圧と称する）が発生した際に、瞬時に動作して電圧供
給回路の電圧供給を停止させるブレーク回路とを有する
ことを特徴としている。
は、規定の直流電流電圧を試料コンデンサに印加して選
別を行うコンデンサの直流電圧印加試験回路において、
直流電圧供給源を備え、試料コンデンサに規定の直流電
流電圧を規定時間印加する電圧供給回路と、予め設定さ
れた規定電流値を備え、この規定電流値に基づいて、試
料コンデンサに流れる電流値を選別する測定回路と、予
め設定された許容電圧値を備え、直流電流電圧の印加開
始から終了までの間、この供給電圧をモニターし、許容
電圧値からはずれたの供給電圧の低下（以下、ブレーク
電圧と称する）が発生した際に、瞬時に動作して電圧供
給回路の電圧供給を停止させるブレーク回路とを有する
ことを特徴としている。
［作用］ 以上のような構成を有する本発明の作用は次の通りで
ある。
ある。
すなわち、予め設定された許容電圧値からはずれたブ
レーク電圧が発生すると、瞬時にしてブレーク回路が動
作し、電圧供給回路の電圧供給を停止させるため、測定
回路や直流電圧供給源などの破壊を確実に防止できる。
レーク電圧が発生すると、瞬時にしてブレーク回路が動
作し、電圧供給回路の電圧供給を停止させるため、測定
回路や直流電圧供給源などの破壊を確実に防止できる。
また、このような試料コンデンサの絶縁破壊発生時に
おける電圧供給の停止は、結果として、特性不安定品、
不良内在品の瞬間的な選別機能を果すことになる。従っ
て、ブレーク回路により絶縁破壊発生時に確実に電圧供
給を停止できる本発明においては、特性不安定品、不良
内在品の確実な選別・除去を行うことが可能となる。
おける電圧供給の停止は、結果として、特性不安定品、
不良内在品の瞬間的な選別機能を果すことになる。従っ
て、ブレーク回路により絶縁破壊発生時に確実に電圧供
給を停止できる本発明においては、特性不安定品、不良
内在品の確実な選別・除去を行うことが可能となる。
［実施例］ 以下に、本発明に係るコンデンサの直流電圧印加試験
回路の一実施例を、第１図及び第２図を使用して具体的
に説明する。
回路の一実施例を、第１図及び第２図を使用して具体的
に説明する。
まず、第１図は、本実施例のコンデンサの直流電圧印
加試験回路を示す回路図である。この第１図に示すよう
に、直流電圧供給源（DC）１によって、試料コンデンサ
（C1）２に規定の直流電流電圧を規定時間印加する電圧
供給回路３と、OPアンプ４によって、規定時間後、予め
設定された電流値に基づき、試料コンデンサ２に流れる
電流値を選別する電流測定回路５とを有している。そし
て、本実施例においては、本発明の請求の範囲に従っ
て、ブレーク回路６が設けられている。このブレーク回
路６は、予めリミット値としてコンパレータ７に設定さ
れた許容電圧値を判定する機能を備え、電圧供給源１に
よる直流電流電圧の印加開始から終了までの間、この供
給電圧をモニターし、設定された許容電圧値からはずれ
たブレーク電圧が発生した際に、瞬時に動作して電圧供
給回路３の電圧供給を停止させるように構成されてい
る。
加試験回路を示す回路図である。この第１図に示すよう
に、直流電圧供給源（DC）１によって、試料コンデンサ
（C1）２に規定の直流電流電圧を規定時間印加する電圧
供給回路３と、OPアンプ４によって、規定時間後、予め
設定された電流値に基づき、試料コンデンサ２に流れる
電流値を選別する電流測定回路５とを有している。そし
て、本実施例においては、本発明の請求の範囲に従っ
て、ブレーク回路６が設けられている。このブレーク回
路６は、予めリミット値としてコンパレータ７に設定さ
れた許容電圧値を判定する機能を備え、電圧供給源１に
よる直流電流電圧の印加開始から終了までの間、この供
給電圧をモニターし、設定された許容電圧値からはずれ
たブレーク電圧が発生した際に、瞬時に動作して電圧供
給回路３の電圧供給を停止させるように構成されてい
る。
以上のような構成を有する本実施例の回路において
は、ブレーク回路６を付加しているために、規定電圧印
加中に試料コンデンサ２の絶縁破壊が生じた場合に、瞬
時に電圧供給を停止できるため、測定回路５、直流電圧
供給源１などの破壊を防止できる。
は、ブレーク回路６を付加しているために、規定電圧印
加中に試料コンデンサ２の絶縁破壊が生じた場合に、瞬
時に電圧供給を停止できるため、測定回路５、直流電圧
供給源１などの破壊を防止できる。
また、このような試料コンデンサの絶縁破壊発生時に
おける電圧供給の停止は、前述の通り、特性不安定品、
不良内在品の瞬間的な選別機能を果す。従って、ブレー
ク回路６により絶縁破壊発生時に確実に電圧供給を停止
できる本発明においては、特性不安定品、不良内在品の
確実な選別・除去を行うことが可能となる。このため、
従来のように、不良品を良品と判定してしまうなどの不
都合がなくなり、信頼性の高い良品のコンデンサのみを
製品として提供可能となる。
おける電圧供給の停止は、前述の通り、特性不安定品、
不良内在品の瞬間的な選別機能を果す。従って、ブレー
ク回路６により絶縁破壊発生時に確実に電圧供給を停止
できる本発明においては、特性不安定品、不良内在品の
確実な選別・除去を行うことが可能となる。このため、
従来のように、不良品を良品と判定してしまうなどの不
都合がなくなり、信頼性の高い良品のコンデンサのみを
製品として提供可能となる。
なお、第２図は、前記実施例の回路におけるブレーク
電圧波形の一例を示す図である。
電圧波形の一例を示す図である。
また、本発明は、コンデンサの漏れ電流の測定試験に
適用した場合に、特に優れた効果が得られており、その
一例として、下記の第１表に示すような、アルミ電解コ
ンデンサの実使用結果が得られている。
適用した場合に、特に優れた効果が得られており、その
一例として、下記の第１表に示すような、アルミ電解コ
ンデンサの実使用結果が得られている。
すなわち、第１表は、前記実施例による試験回路を使
用した本発明方式の自動検査機と、第３図に示した従来
技術による試験回路を使用した従来方式の自動検査機と
について、多数回の作業を行い、ブレーク電圧による選
別・除去を行った場合の除去数と、除去された試料につ
いての分解調査の結果得られた内部絶縁破壊を有する不
良内在品数とを示している。
用した本発明方式の自動検査機と、第３図に示した従来
技術による試験回路を使用した従来方式の自動検査機と
について、多数回の作業を行い、ブレーク電圧による選
別・除去を行った場合の除去数と、除去された試料につ
いての分解調査の結果得られた内部絶縁破壊を有する不
良内在品数とを示している。
この第１表から、本発明方式の自動検査機において
は、約0.006％の不良内在品を除去できたのに対し、従
来方式の自動検査機においては、不良内在品を全く除去
できなかったことが明らかであり、このことは、本実施
例におけるブレーク回路６の効果を実証している。
は、約0.006％の不良内在品を除去できたのに対し、従
来方式の自動検査機においては、不良内在品を全く除去
できなかったことが明らかであり、このことは、本実施
例におけるブレーク回路６の効果を実証している。
なお、本発明は前記実施例に限定されるものではな
く、電圧供給回路、測定回路、ブレーク回路の構成は適
宜選択可能である。また、本発明を適用する試験も漏れ
電流の測定試験に限定されるものではなく、同様に電流
値を選別する各種の測定試験一般に適用可能であり、同
様の効果を得られる。
く、電圧供給回路、測定回路、ブレーク回路の構成は適
宜選択可能である。また、本発明を適用する試験も漏れ
電流の測定試験に限定されるものではなく、同様に電流
値を選別する各種の測定試験一般に適用可能であり、同
様の効果を得られる。
［発明の効果］ 以上説明したように、本発明に係るコンデンサの直流
電圧印加試験回路においては、ブレーク回路を設けると
いう簡単な構成の改良により、直流電流電圧の印加中に
試料コンデンサに絶縁破壊を生じた場合には、瞬時且つ
確実にブレーク回路が動作して、電流供給を停止できる
ため、測定回路や直流電圧供給源などの破壊を生ずるこ
となく、且つ、特性不安定品、不良内在品を確実に選別
できるという優れた効果を得られる。
電圧印加試験回路においては、ブレーク回路を設けると
いう簡単な構成の改良により、直流電流電圧の印加中に
試料コンデンサに絶縁破壊を生じた場合には、瞬時且つ
確実にブレーク回路が動作して、電流供給を停止できる
ため、測定回路や直流電圧供給源などの破壊を生ずるこ
となく、且つ、特性不安定品、不良内在品を確実に選別
できるという優れた効果を得られる。
第１図は、本発明に係るコンデンサの直流電圧印加試験
回路の一実施例を示す回路図、第２図は、第１図の回路
におけるブレーク電圧波形の一例を示す波形図、第３図
は、従来技術に係るコンデンサの直流電圧印加試験回路
の一例を示す回路図である。 １……直流電圧供給源（DC）、２……試料コンデンサ
（C1）、３……電圧供給回路、４……OPアンプ、５……
電流測定回路、６……ブレーク回路、７……コンパレー
タ。
回路の一実施例を示す回路図、第２図は、第１図の回路
におけるブレーク電圧波形の一例を示す波形図、第３図
は、従来技術に係るコンデンサの直流電圧印加試験回路
の一例を示す回路図である。 １……直流電圧供給源（DC）、２……試料コンデンサ
（C1）、３……電圧供給回路、４……OPアンプ、５……
電流測定回路、６……ブレーク回路、７……コンパレー
タ。
Claims (1)
- 【請求項１】規定の直流電流電圧を試料コンデンサに印
加して選別を行うコンデンサの直流電圧印加試験回路に
おいて、 直流電圧供給源を備え、試料コンデンサに規定の直流電
流電圧を規定時間印加する電圧供給回路と、予め設定さ
れた規定電流値を備え、この規定電流値に基づいて試料
コンデンサに流れる電流値を選別する測定回路と、予め
設定された許容電圧値を備え、直流電流電圧の印加開始
から終了までの間この供給電圧をモニターし、許容電圧
値からはずれた供給電圧の低下が発生した際に瞬時に動
作して電圧供給回路の電圧供給を停止させるブレーク回
路とを有することを特徴とするコンデンサの直流電圧印
加試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5465790A JP2841345B2 (ja) | 1990-03-05 | 1990-03-05 | コンデンサの直流電圧印加試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5465790A JP2841345B2 (ja) | 1990-03-05 | 1990-03-05 | コンデンサの直流電圧印加試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03255374A JPH03255374A (ja) | 1991-11-14 |
| JP2841345B2 true JP2841345B2 (ja) | 1998-12-24 |
Family
ID=12976859
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5465790A Expired - Fee Related JP2841345B2 (ja) | 1990-03-05 | 1990-03-05 | コンデンサの直流電圧印加試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2841345B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3603640B2 (ja) | 1999-02-04 | 2004-12-22 | 松下電器産業株式会社 | 積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法 |
| US8054085B2 (en) | 2008-03-31 | 2011-11-08 | Electro Scientific Industries, Inc. | Programmable gain trans-impedance amplifier overload recovery circuit |
| JP5546986B2 (ja) * | 2010-07-29 | 2014-07-09 | 日置電機株式会社 | 絶縁検査装置 |
| JP5541720B2 (ja) * | 2010-08-30 | 2014-07-09 | 日置電機株式会社 | 検査装置 |
| CN104034984B (zh) * | 2014-06-20 | 2017-02-15 | 中国西电电气股份有限公司 | 一种柔性直流输电运行试验中工程阀组件的短路试验方法 |
| JP6417137B2 (ja) * | 2014-07-14 | 2018-10-31 | 株式会社ヒューモラボラトリー | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 |
| JP7445884B2 (ja) * | 2019-12-27 | 2024-03-08 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 検査方法、管理方法、生産方法、及び検査システム |
| JP6749625B1 (ja) * | 2020-03-17 | 2020-09-02 | 株式会社 電子制御国際 | 耐電圧試験装置 |
-
1990
- 1990-03-05 JP JP5465790A patent/JP2841345B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03255374A (ja) | 1991-11-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |