JP2011221480A - 表示装置及びその駆動方法 - Google Patents

Abstract

【課題】画素回路の駆動トランジスタ間の特性偏差を正確に測定し、これをさらに精度よく補償することができる表示装置及びその駆動方法を提供する。
【解決手段】表示装置は、複数の画素を含む表示部、データ電圧によって前記複数の画素で生成される画素電流を受け、各画素の駆動トランジスタの特性偏差を補償する映像データ補償量を算出する補償部、及び前記データ電圧を前記複数の画素に伝達するか、または前記画素電流を前記補償部に伝達するデータ選択部を含み、前記補償部は、互いに異なる階調に相当する第１データ電圧及び第２データ電圧によって発生する第１画素電流及び第２画素電流を測定して、測定画素の実際しきい電圧及び移動度を算出し、前記第１データ電圧に相当する第１画素電流を第１測定電圧に変換し、前記第２データ電圧に相当する第２画素電流を第２測定電圧に変換する測定抵抗の抵抗値を調節する。
【選択図】図１

Description

本発明は表示装置及びこれを駆動する方法に関し、より詳しくは、駆動トランジスタ間の特性偏差を補償する表示装置及びこれを駆動する方法に関する。

最近、陰極線管（Ｃａｔｈｏｄｅ Ｒａｙ Ｔｕｂｅ）の短所である重量と体積を減らせる各種平板表示装置が開発されている。平板表示装置としては、液晶表示装置（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）、電界放出表示装置（Ｆｉｅｌｄ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ Ｄｉｓｐｌａｙ）、プラズマ表示パネル（Ｐｌａｓｍａ Ｄｉｓｐｌａｙ Ｐａｎｅｌ）、及び有機発光表示装置（Ｏｒｇａｎｉｃ Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｓｐｌａｙ）などがある。

平板表示装置の中で、有機発光表示装置は、電子と正孔との再結合により光を発生する有機発光ダイオード（Ｏｒｇａｎｉｃ Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）を利用して映像を表示するものであって、速い応答速度を有すると共に、低い消費電力で駆動され、発光効率、輝度及び視野角に優れた長所があって注目されている。

通常、有機発光表示装置（ＯＬＥＤ）は有機発光ダイオードを駆動する方式により、パッシブマトリックス型ＯＬＥＤ（ＰＭＯＬＥＤ）とアクティブマトリックス型ＯＬＥＤ（ＡＭＯＬＥＤ）に分類する。

この中で、解像度、コントラスト、動作速度の観点で、単位画素ごとに選択して点灯するＡＭＯＬＥＤが主流をなしている。

アクティブマトリックス型ＯＬＥＤの一画素は、有機発光ダイオード、有機発光ダイオードに供給される電流量を制御する駆動トランジスタ、及び駆動トランジスタに有機発光ダイオードの発光量を制御するデータ信号を伝達するスイッチングトランジスタを含む。

有機発光ダイオードが発光するためには、駆動トランジスタが持続的にターンオン状態を維持しなければならない。大型パネルの場合、駆動トランジスタ間の特性偏差が存在し、その特性偏差によってムラが発生する。駆動トランジスタの特性偏差とは、大型パネルを構成する複数の駆動トランジスタ間のしきい電圧及び移動度の偏差を意味する。同一のデータ電圧が駆動トランジスタのゲート電極に伝達されても、複数の駆動トランジスタ間の特性偏差により駆動トランジスタに流れる電流が互いに異なる。

これにより、ムラ現象が発生し、画質の特性が低下する問題が発生するので、これを補正して改善させる必要がある。

本発明の目的は、画素回路の駆動トランジスタ間の特性偏差を正確に測定し、これをさらに精度よく補償することができる表示装置及びその駆動方法を提供することにある。

本発明の一実施形態に係る表示装置は、複数の画素を含む表示部、データ電圧によって前記複数の画素で生成される画素電流の伝達を受け、各画素の駆動トランジスタの特性偏差を補償する映像データ補償量を算出する補償部、及び前記データ電圧を前記複数の画素に伝達するか、または前記画素電流を前記補償部に伝達するデータ選択部を含み、前記補償部は、互いに異なる階調に相当する第１データ電圧及び第２データ電圧によって発生する第１画素電流及び第２画素電流を測定して、測定画素の実際しきい電圧及び移動度を算出し、前記第１データ電圧に相当する第１画素電流を第１測定電圧に変換し、前記第２データ電圧に相当する第２画素電流を第２測定電圧に変換する測定抵抗の抵抗値を調節する。

前記補償部は、前記第１データ電圧と前記第１測定電圧間の第１電圧差により前記測定抵抗を調節することができる。

前記補償部は、所定の基準しきい電圧及び基準移動度を有する基準画素に前記第１データ電圧が入力される時に発生する画素電流に対応する基準測定電圧と前記第１データ電圧との基準電圧差、及び前記第１電圧差によって、前記測定抵抗を調節することができる。

前記補償部は、前記第２データ電圧と前記第２測定電圧間の第２電圧差により前記測定抵抗を調節することができる。

前記補償部は、所定の基準しきい電圧及び基準移動度を有する基準画素に前記第２データ電圧が入力される時に発生する画素電流に対応する基準測定電圧と前記第２データ電圧との基準電圧差、及び前記第２電圧差によって、前記測定抵抗を調節することができる。

前記補償部は、前記測定画素の画素電流を測定する測定部、前記測定部で発生するノイズを除去するためのターゲット部、前記測定部及び前記ターゲット部の出力値を比較する比較部、及び前記比較部の出力値を処理するＳＡＲ（Ｓｕｃｃｅｓｓｉｖｅ Ａｐｐｒｏｘｉｍａｔｉｏｎ Ｒｅｇｉｓｔｅｒ）ロジックを含むことができる。

前記測定部は、前記測定画素の画素電流を電圧に変換する測定抵抗、及び所定のテストデータ電圧と前記画素電流から変換される電圧との差を出力する差動増幅器を含むことができる。

前記差動増幅器は、前記所定のテストデータ電圧が入力される非反転入力端、前記画素電流から変換される電圧が入力される反転入力端、及び前記所定のテストデータ電圧と前記画素電流から変換される電圧との差を出力する出力端を含むことができる。

前記測定抵抗は、直列に接続する複数の抵抗、及び前記複数の抵抗それぞれに並列に接続する複数の調節スイッチを含むことができる。

前記測定抵抗は、前記測定抵抗の最小抵抗値を決定する基本抵抗、前記測定抵抗の全体抵抗値を低くする第１抵抗部、及び前記測定抵抗の全体抵抗値を高くする第２抵抗部を含むことができる。

前記第１抵抗部は、少なくとも一つの抵抗、及び各抵抗に並列に接続する少なくとも一つの調節スイッチを含み、前記少なくとも一つの調節スイッチは、初期に開かれた状態にセッティングすることができる。

前記第２抵抗部は、少なくとも一つの抵抗、及び各抵抗に並列に接続する少なくとも一つの調節スイッチを含み、前記少なくとも一つの調節スイッチは、初期に閉じられた状態にセッティングすることができる。

前記ターゲット部は、所定の基準しきい電圧及び基準移動度を有する基準画素に接続して、前記測定部と同一に構成することができる。

前記ターゲット部は、前記所定のテストデータ電圧と前記画素電流から変換される電圧との差の目標値であるターゲット電圧を出力することができる。

前記比較部は、前記測定部の出力電圧が入力される非反転入力端、前記ターゲット部の出力電圧が入力される反転入力端、及び前記測定部の出力電圧と前記ターゲット部の出力電圧との差を出力する出力端を含む差動増幅器を含むことができる。

前記複数の画素は、有機発光ダイオードと、前記データ電圧が印加されるゲート電極、ＥＬＶＤＤ電源に接続する一端、及び前記有機発光ダイオードのアノード電極に接続する他端を含む駆動トランジスタと、前記画素電流を前記補償部に伝達するための感知走査信号が印加されるゲート電極、前記駆動トランジスタの他端に接続する一端、及び前記データ電圧が印加されるデータ線に接続する他端を含む感知トランジスタとを含むことができる。

前記感知トランジスタに前記感知走査信号を印加する感知駆動部をさらに含むことができる。

本発明の他の実施形態に係る表示装置の駆動方法は、基準画素の画素電流及び測定画素の画素電流を比較して、前記測定画素の駆動トランジスタのしきい電圧を設定する段階と、前記設定されたしきい電圧が適用された第１データ電圧を前記測定画素に印加して発生する第１画素電流を第１測定電圧に変換する測定抵抗を調節して前記第１画素電流を測定する段階と、前記設定されたしきい電圧が適用された第２データ電圧を前記測定画素に印加して発生する第２画素電流を第２測定電圧に変換する測定抵抗を調節して前記第２画素電流を測定する段階と、前記第１画素電流及び前記第２画素電流を利用して前記測定画素の駆動トランジスタの実際しきい電圧及び移動度を算出する段階と、前記測定画素の実際しきい電圧及び移動度を補償する映像データ補償量を算出する段階とを含む。

前記映像データ補償量を反映した映像データ信号を生成する段階をさらに含むことができる。

前記しきい電圧を設定する段階は、前記測定画素に最大画素電流が発生できるデータ電圧を印加して発生する最大画素電流を測定して、前記基準画素と対比した前記測定画素の駆動トランジスタのしきい電圧差を算出できる。

前記第１データ電圧と前記第１測定電圧間の第１電圧差により前記測定抵抗を調節することができる。

前記基準画素に前記第１データ電圧が入力される時に発生する画素電流に対応する基準測定電圧と前記第１データ電圧間の基準電圧差、及び前記第１電圧差によって、前記測定抵抗を調節することができる。

前記第２データ電圧と前記第２測定電圧間の第２電圧差により前記測定抵抗を調節することができる。

前記基準画素に前記第２データ電圧が入力される時に発生する画素電流に対応する基準測定電圧と前記第２データ電圧間の基準電圧差、及び前記第２電圧差によって、前記測定抵抗を調節することができる。

前記第１データ電圧及び前記第２データ電圧は互いに異なる階調に相当するデータ電圧であり得る。

前記第１データ電圧及び前記第２データ電圧のいずれか一つは、最高画素電流を発生させるデータ電圧であり得る。

前記第１データ電圧及び前記第２データ電圧のいずれか一つは、最低画素電流を発生させるデータ電圧であり得る。

前記測定抵抗の抵抗値は、前記第１データ電圧及び前記第２データ電圧に相当する階調により調節できる。

測定抵抗値を調節することにより、測定偏差を減らし、測定領域を拡大することができ、これによって駆動トランジスタ間の特性偏差をさらに精度よく補償することができる。

本発明の一実施形態に係る有機発光表示装置を示すブロック図である。 本発明の一実施形態に係る画素を示す回路図である。 本発明の一実施形態に係る補償部を示す回路図である。 本発明の一実施形態に係る測定抵抗を示す回路図である。 本発明の一実施形態に係る有機発光表示装置の駆動方法を示すフローチャートである。

添付した図面を参照して、本発明の実施形態について本発明が属する技術分野における通常の知識を有する者が容易に実施できるように詳細に説明する。本発明は種々の相異な形態に実現でき、ここで説明する実施形態に限られない。

また、種々の実施形態において、同一の構成を有する構成要素に対しては同一の符号を付けて代表的に第１実施形態で説明し、その他の実施形態では第１実施形態とは異なる構成についてのみ説明する。

本発明を明確に説明するために説明上不必要な部分は省略し、明細書の全体にわたって同一または類似する構成要素に対しては同一の参照符号を付ける。

明細書の全体において、ある部分が他の部分と“接続”されているという時、これは“直接的に接続”されている場合だけでなく、その中間に他の素子を介在して“電気的に接続”されている場合も含む。また、ある部分がある構成要素を“含む”という時、これは特に反対になる記載がない限り、他の構成要素を除くことではなく、他の構成要素をさらに含むことができることを意味する。

図１は、本発明の一実施形態に係る有機発光表示装置を示すブロック図である。図２は、本発明の一実施形態に係る画素を示す回路図である。図３は、本発明の一実施形態に係る補償部を示す回路図である。図４は、本発明の一実施形態に係る測定抵抗を示す回路図である。図５は、本発明の一実施形態に係る有機発光表示装置の駆動方法を示すフローチャートである。

図１を参照すれば、有機発光表示装置は、信号制御部１００、走査駆動部２００、データ駆動部３００、データ選択部３５０、表示部４００、感知駆動部５００、及び補償部６００を含む。

信号制御部１００は、外部装置から入力される映像信号（Ｒ、Ｇ、Ｂ）、及びその表示を制御する入力制御信号を受信する。映像信号（Ｒ、Ｇ、Ｂ）は各画素（ＰＸ）の輝度（ｌｕｍｉｎａｎｃｅ）情報を含んでおり、輝度は定められた数、例えば、１０２４（＝２^１０）、２５６（＝２^８）または６４（＝２^６）個の階調（ｇｒａｙ）を有している。入力制御信号の例としては、垂直同期信号（Ｖｓｙｎｃ）、水平同期信号（Ｈｓｙｎｃ）、メインクロック（ＭＣＬＫ）、データイネーブル信号（ＤＥ）などがある。

信号制御部１００は、入力映像信号（Ｒ、Ｇ、Ｂ）と入力制御信号に基づいて、入力映像信号（Ｒ、Ｇ、Ｂ）を表示部４００及びデータ駆動部３００の動作条件に合うように適切に処理し、走査制御信号（ＣＯＮＴ１）、データ制御信号（ＣＯＮＴ２）、映像データ信号（ＤＡＴ）、及び感知制御信号（ＣＯＮＴ３）を生成する。信号制御部１００は走査制御信号（ＣＯＮＴ１）を走査駆動部２００に伝達する。信号制御部１００はデータ制御信号（ＣＯＮＴ２）及び映像データ信号（ＤＡＴ）をデータ駆動部３００に伝達する。信号制御部１００は感知制御信号（ＣＯＮＴ３）を感知駆動部５００に伝達する。信号制御部１００はデータ選択部３５０に選択信号を伝達して、選択スイッチ（図３のＷ１、Ｗ２参照）の動作を調節する。

表示部４００は、複数の走査線（Ｓ１〜Ｓｎ）、複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）、複数の感知線（ＳＥ１〜ＳＥｎ）、及び複数の信号線（Ｓ１〜Ｓｎ、Ｄ１〜Ｄｍ、ＳＥ１〜ＳＥｎ）に接続し、ほぼ行列状に配列される複数の画素（ＰＸ）を含む。複数の走査線（Ｓ１〜Ｓｎ）及び複数の感知線（ＳＥ１〜ＳＥｎ）は、ほぼ行方向に延長され、互いにほぼ平行し、複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）は、ほぼ列方向に延長され、互いにほぼ平行する。表示部４００の複数の画素（ＰＸ）は、外部から第１電源電圧（ＥＬＶＤＤ）及び第２電源電圧（ＥＬＶＳＳ）の供給を受ける。

走査駆動部２００は、複数の走査線（Ｓ１〜Ｓｎ）に接続し、走査制御信号（ＣＯＮＴ１）によってスイッチングトランジスタ（図２のＭ１参照）を導通させる（ｔｕｒｎ ｏｎ）ゲートオン電圧（Ｖｏｎ）と、遮断させる（ｔｕｒｎ ｏｆｆ）ゲートオフ電圧（Ｖｏｆｆ）との組み合わせからなる走査信号を複数の走査線（Ｓ１〜Ｓｎ）に印加する。

データ駆動部３００は、複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）に接続し、映像データ信号（ＤＡＴ）による階調電圧を選択する。データ駆動部３００は、データ制御信号（ＣＯＮＴ２）によって選択した階調電圧を、データ信号として複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）に印加する。

データ選択部３５０は、複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）に接続し、複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）それぞれに接続する選択スイッチ（図３のＷ１、Ｗ２参照）を含む。データ選択部３５０は、信号制御部１００から伝達される選択信号に応答して選択スイッチを調節することにより、データ信号を複数の画素（ＰＸ）に伝達するか、または画素（ＰＸ）で発生する画素電流を補償部６００に伝達する。

感知駆動部５００は、複数の感知線（ＳＥ１〜ＳＥｎ）に接続し、感知制御信号（ＣＯＮＴ３）によって感知トランジスタ（図２のＭ３参照）を導通または遮断させる感知走査信号を複数の感知線（ＳＥ１〜ＳＥｎ）に印加する。

補償部６００は、画素電流の伝達を受けて画素の駆動トランジスタの特性を検出し、複数の駆動トランジスタそれぞれの偏差を補償できる映像データ補償量を算出する。補償部６００は、１次測定で所定のデータ電圧を画素の駆動トランジスタに印加し、この際に有機発光ダイオードに流れる電流（以下、画素電流）を測定する。この時、所定のデータ電圧とは、最も高い階調に対応する最大電流が有機発光ダイオードに流れるようにする電圧である。

補償部６００は、測定された画素電流を利用して、基準画素の駆動トランジスタのしきい電圧と対比して測定された画素の駆動トランジスタのしきい電圧差を大略的に算出する。

補償部６００は、算出されたしきい電圧の差をデータ電圧に含めて画素電流を２次測定し、２次測定された画素電流及び画素の駆動トランジスタに印加されたデータ電圧を利用して、各画素の実際しきい電圧及び移動度を算出する。補償部６００は、互いに異なる階調に相当する第１データ電圧によって発生する第１画素電流を測定し、第２データ電圧によって発生する第２画素電流を測定して、測定画素の実際しきい電圧及び移動度を算出する。この時、補償部６００は、第１画素電流を第１測定電圧に変換し、第２画素電流を第２測定電圧に変換する測定抵抗の抵抗値を、データ電圧に相当する階調によって調節することにより、さらに精密に画素電流を測定することができる。

補償部６００は、各画素の実際しきい電圧及び移動度で映像データ補償量を算出し、これを信号制御部１００に伝達する。信号制御部１００は、映像データ補償量を反映して映像データ信号（ＤＡＴ）を生成する。これに対する詳細な説明は後述する。

図２を参照すれば、有機発光表示装置の画素（ＰＸ）は、有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）、及び有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）を制御するための画素回路１０を含む。画素回路１０は、スイッチングトランジスタ（Ｍ１）、駆動トランジスタ（Ｍ２）、感知トランジスタ（Ｍ３）、及び維持キャパシタ（Ｃｓｔ）を含む。

スイッチングトランジスタ（Ｍ１）は、走査線（Ｓｉ）に接続するゲート電極、データ線（Ｄｊ）に接続する一端、及び駆動トランジスタ（Ｍ２）のゲート電極に接続する他端を含む。

駆動トランジスタ（Ｍ２）は、スイッチングトランジスタ（Ｍ１）の他端に接続するゲート電極、ＥＬＶＤＤ電源に接続する一端、及び有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）のアノード電極に接続する他端を含む。

維持キャパシタ（Ｃｓｔ）は、駆動トランジスタ（Ｍ２）のゲート電極に接続する一端、及びＥＬＶＤＤ電源に接続する他端を含む。維持キャパシタ（Ｃｓｔ）は、駆動トランジスタ（Ｍ２）のゲート電極に印加されるデータ電圧を充電し、スイッチングトランジスタ（Ｍ１）が遮断された後にもこれを維持する。

感知トランジスタ（Ｍ３）は、感知線（ＳＥｉ）に接続するゲート電極、駆動トランジスタ（Ｍ２）の他端に接続する一端、及びデータ線（Ｄｊ）に接続する他端を含む。

有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）は、駆動トランジスタ（Ｍ２）の他端に接続するアノード電極、及びＥＬＶＳＳ電源に接続するカソード電極を含む。

スイッチングトランジスタ（Ｍ１）、駆動トランジスタ（Ｍ２）及び感知トランジスタ（Ｍ３）は、ｐ−チャネル電界効果トランジスタであり得る。この時、スイッチングトランジスタ（Ｍ１）、駆動トランジスタ（Ｍ２）及び感知トランジスタ（Ｍ３）を導通させるゲートオン電圧は低電圧であり、遮断させるゲートオフ電圧は高電圧である。

ここでは、ｐ−チャネル電界効果トランジスタを示したが、スイッチングトランジスタ（Ｍ１）、駆動トランジスタ（Ｍ２）及び感知トランジスタ（Ｍ３）の少なくともいずれか一つはｎ−チャネル電界効果トランジスタであってもよく、この時、ｎ−チャネル電界効果トランジスタを導通させるゲートオン電圧は高電圧であり、遮断させるゲートオフ電圧は低電圧である。

走査線（Ｓｉ）にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）が印加されると、スイッチングトランジスタ（Ｍ１）は導通し、データ線（Ｄｊ）に印加されるデータ信号は導通したスイッチングトランジスタ（Ｍ１）を通じて維持キャパシタ（Ｃｓｔ）の一端に印加され、維持キャパシタ（Ｃｓｔ）を充電させる。駆動トランジスタ（Ｍ２）は、維持キャパシタ（Ｃｓｔ）に充電された電圧値に対応して、ＥＬＶＤＤ電源から有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）に流れる電流量を制御する。有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）は、駆動トランジスタ（Ｍ２）を通じて流れる電流量に対応する光を生成する。この時、感知線（ＳＥｉ）にはゲートオフ電圧が印加されて感知トランジスタ（Ｍ３）は遮断され、駆動トランジスタ（Ｍ２）を通じて流れる電流は感知トランジスタ（Ｍ３）を通じて流れない。

有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）は、基本色（ｐｒｉｍａｒｙ ｃｏｌｏｒ）のうちの一つの光を表示することができる。基本色の例としては赤色、緑色、青色の三原色があり、これら三原色の空間的な作用または時間的な作用によって所望の色を表示する。この場合、一部の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）は白色光を表示することができ、これにより輝度が高くなる。これとは異なって、全ての画素（ＰＸ）の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）が白色光を表示することもでき、一部画素（ＰＸ）は有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）から出る白色光を基本色光のいずれか一つに変わるカラーフィルタ（図示せず）をさらに含むことができる。

上述した駆動装置（１００、２００、３００、３５０、５００、６００）のそれぞれは、少なくとも一つの集積回路チップの形態で表示部４００の上に直接装着してもよく、フレキシブル印刷回路膜（ｆｌｅｘｉｂｌｅ ｐｒｉｎｔｅｄ ｃｉｒｃｕｉｔ ｆｉｌｍ）の上に装着してもよく、ＴＣＰ（ｔａｐｅ ｃａｒｒｉｅｒ ｐａｃｋａｇｅ）の形態で表示部４００に付着してもよく、別途の印刷回路基板（ｐｒｉｎｔｅｄ ｃｉｒｃｕｉｔ ｂｏａｒｄ）の上に装着するか、または信号線（Ｓ１〜Ｓｎ、Ｄ１〜Ｄｍ、ＳＥ１〜ＳＥｎ）と共に表示部４００に集積してもよい。

本発明に係る有機発光表示装置は、データ信号が各画素に伝達されて書込み（ｗｒｉｔｉｎｇ）されるデータ書込み期間、画素のそれぞれに対応するデータ信号の書込みが完了した後、全体画素が一度に一括的に発光する発光期間、及び各画素の駆動トランジスタの特性を検出し、特性偏差を補償する補償期間を含むフレームによって駆動すると仮定する。補償期間は、毎フレームごとに含まれず、定められた数のフレームごとに一回ずつ含まれて各画素の駆動トランジスタの特性偏差補償が行われることも可能である。また、本発明は、データ書込み期間が完了すると、それぞれの画素が発光する順次駆動方式で動作することができる。

図３を参照すれば、補償部６００は、測定画素（ＰＸａ）の画素電流を測定する測定部６１０、測定部６１０で発生するノイズを除去するためのターゲット部６２０、測定部６１０とターゲット部６２０の出力値を比較する比較部６３０、及び上記比較部６３０の出力値を処理するＳＡＲ（Ｓｕｃｃｅｓｓｉｖｅ Ａｐｐｒｏｘｉｍａｔｉｏｎ Ｒｅｇｉｓｔｅｒ）ロジック６４０を含む。

測定部６１０は第１選択スイッチ（ＳＷ１）によって測定画素（ＰＸａ）のデータ線（Ｄｊ）に接続し、ターゲット部６２０は第２選択スイッチ（ＳＷ２）によって基準画素（ＰＸｂ）のデータ線（Ｄｊ＋１）に接続され、比較部６３０は測定部６１０及びターゲット部６２０の出力電圧を比較してＳＡＲロジック６４０に伝達する。

測定画素（ＰＸａ）は、駆動トランジスタの特性偏差を測定する対象画素を意味し、基準画素（ＰＸｂ）は、測定画素（ＰＸａ）に対する測定基準となる画素を意味する。基準画素（ＰＸｂ）は、所定の基準しきい電圧及び基準移動度を有する画素であって、表示部４００に含まれている複数の画素のいずれか一つであるか、または駆動トランジスタの特性偏差補償のために別途に備えられる画素であり得る。基準画素（ＰＸｂ）は、映像信号によってデータ電圧が書込みされないダミーピクセルであって、製造が完了された時点のしきい電圧及び移動度が変わらない。

補償期間の間に、測定画素（ＰＸａ）及び基準画素（ＰＸｂ）の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）のカソード電極にＥＬＶＤＤ電圧が印加され得る。そうすると、補償期間の間に有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）に電流が流れない。

測定画素（ＰＸａ）に接続するデータ線（Ｄｊ）には第１パネルキャパシタ（ＣＬａ）が接続し、基準画素（ＰＸｂ）に接続するデータ線（Ｄｊ＋１）には第２パネルキャパシタ（ＣＬｂ）が接続する。第１パネルキャパシタ（ＣＬａ）及び第２パネルキャパシタ（ＣＬｂ）は、データ線に接続する一端、及び接地される導線に接続する他端を含む。表示部４００に含まれる複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）のそれぞれにパネルキャパシタが接続できる。これは各データ線に寄生するキャパシタンスを回路的に示したものである。

測定部６１０は、第１差動増幅器（ＤＡａ）、測定キャパシタ（ＣＤＤａ）、測定抵抗（ＲＤＤａ）、及び第１リセットスイッチ（ＳＷａ）を含む。

第１差動増幅器（ＤＡａ）は、定められたテストデータ電圧（ＶＤＸ）が入力される非反転入力端（＋）、測定画素（ＰＸａ）のデータ線（Ｄｊ）に接続する反転入力端（−）、及び比較部６３０に接続する出力端を含む。

測定キャパシタ（ＣＤＤａ）は、第１差動増幅器（ＤＡａ）の出力端に接続する一端、及び測定画素（ＰＸａ）のデータ線（Ｄｊ）に接続する他端を含む。測定抵抗（ＲＤＤａ）は、第１差動増幅器（ＤＡａ）の出力端に接続する一端、及び測定画素（ＰＸａ）のデータ線（Ｄｊ）に接続する他端を含む。第１リセットスイッチ（ＳＷａ）は、第１差動増幅器（ＤＡａ）の出力端に接続する一端、及び測定画素（ＰＸａ）のデータ線（Ｄｊ）に接続する他端を含む。

ターゲット部６２０は、第２差動増幅器（ＤＡｂ）、ターゲットキャパシタ（ＣＤＤｂ）、ターゲット抵抗（ＲＤＤｂ）、及び第２リセットスイッチ（ＳＷｂ）を含む。ターゲット部６２０は、測定部６１０と同一に構成され、測定部６１０で発生するノイズと同一のノイズが発生する。ターゲット部６２０で発生するノイズは比較部６３０の反転入力端（−）に伝達されて、非反転入力端（＋）に入力される測定部６１０の出力に含まれているノイズを相殺させることができる。

第２差動増幅器（ＤＡｂ）は、ターゲット電圧（ＶＴＲＧＴ）が入力される非反転入力端（＋）、基準画素（ＰＸｂ）のデータ線（Ｄｊ＋１）に接続する反転入力端（−）、及び比較部６３０に接続する出力端を含む。

ターゲットキャパシタ（ＣＤＤｂ）は、第２差動増幅器（ＤＡｂ）の出力端に接続する一端、及び基準画素（ＰＸｂ）のデータ線（Ｄｊ＋１）に接続する他端を含む。ターゲット抵抗（ＲＤＤｂ）は、第２差動増幅器（ＤＡａ）の出力端に接続する一端、及び基準画素（ＰＸｂ）のデータ線（Ｄｊ＋１）に接続する他端を含む。第２リセットスイッチ（ＳＷｂ）は、第２差動増幅器（ＤＡａ）の出力端に接続する一端、及び基準画素（ＰＸｂ）のデータ線（Ｄｊ＋１）に接続する他端を含む。

テストデータ電圧（ＶＤＸ）は、測定画素（ＰＸａ）の所定の画素電流が流れるようにする値であり、ターゲット電圧（ＶＴＲＧＴ）は、所定の画素電流が測定抵抗（ＲＤＤａ）に流れる際に発生する電圧と、テストデータ電圧（ＶＤＸ）との差の目標値である。

具体的に、補償期間中にスイッチングトランジスタ（Ｍ１ａ）が導通し、有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）のカソード電圧がＥＬＶＤＤとなった状態で、第１差動増幅器（ＤＡａ）の非反転入力端（＋）にテストデータ電圧（ＶＤＸ）が印加されると、反転入力端（−）にもテストデータ電圧（ＶＤＸ）と同一の電圧が発生する。

反転入力端（−）に発生したテストデータ電圧（ＶＤＸ）は、データ線（Ｄｊ）に沿って駆動トランジスタ（Ｍ２ａ）のゲート電極に流れる。駆動トランジスタ（Ｍ２ａ）のゲート電極にはテストデータ電圧（ＶＤＸ）が入力されて電流が流れ、この際に感知トランジスタ（Ｍ３ａ）が導通すると、画素電流（Ｉｄｓ）が測定抵抗（ＲＤＤａ）に流れる。

画素電流（Ｉｄｓ）は、測定抵抗（ＲＤＤａ）によってＲＤＤａ＊Ｉｄｓの測定電圧に変換される。測定電圧は第１差動増幅器（ＤＡａ）の反転入力端（−）に入力され、第１差動増幅器（ＤＡａ）はテストデータ電圧（ＶＤＸ）と測定電圧ＲＤＤａ＊Ｉｄｓとの差を出力する。以下、第１差動増幅器（ＤＡａ）の出力電圧を第１増幅電圧（ＶＡＭＰ１）という。

ターゲット電圧（ＶＴＲＧＴ）は、第１差動増幅器（ＤＡａ）の出力電圧のターゲット値であって、テストデータ電圧（ＶＤＸ）と測定電圧ＲＤＤａ＊Ｉｄｓとの電圧差がターゲット電圧（ＶＴＲＧＴ）と同一であれば、測定画素（ＰＸａ）の駆動トランジスタ（Ｍ２ａ）特性は基準画素（ＰＸｂ）の駆動トランジスタ（Ｍ２ｂ）特性と同一であると判断される。

比較部６３０は、第３差動増幅器（ＤＡｃ）及び比較キャパシタ（Ｃｃ）を含む。

第３差動増幅器（ＤＡｃ）は、第１差動増幅器（ＤＡａ）の出力端に接続する非反転入力端（＋）、第２差動増幅器（ＤＡｂ）の出力端に接続する反転入力端（−）、及びＳＡＲロジック６４０に接続する出力端を含む。比較キャパシタ（Ｃｃ）は、第１差動増幅器（ＤＡａ）の出力端に接続する一端、及び第２差動増幅器（ＤＡｂ）の出力端に接続する他端を含む。

ＳＡＲロジック６４０は、第３差動増幅器（ＤＡｃ）の出力端に接続して、各画素の実際しきい電圧及び移動度を算出し、算出されたしきい電圧及び移動度に基づいて各画素に対する映像データ補償量を算出する。

図４を参照すれば、補償部６００は、データ電圧と測定電圧との電圧差により測定抵抗（ＲＤＤａ）を調節する。そのために、測定部６１０の測定抵抗（ＲＤＤａ）は、直列に接続する複数の抵抗、及び各抵抗に並列に接続する複数の調節スイッチを含む。

測定抵抗（ＲＤＤａ）は基本抵抗（Ｒ１）及び可変抵抗部を含む。基本抵抗（Ｒ１）は測定抵抗（ＲＤＤａ）の最小抵抗値を決定する抵抗であって、調節スイッチと並列に接続しない。

可変抵抗部は、全体抵抗値を低くする第１抵抗部３０、及び全体抵抗値を高くする第２抵抗部４０を含む。第１抵抗部３０及び第２抵抗部４０は、少なくとも一つの抵抗、及び各抵抗に並列に接続する少なくとも一つの調節スイッチを含む。可変抵抗部に含まれる複数の抵抗は互いに異なる抵抗値を有することができ、基本抵抗（Ｒ１）と共に組合わせて多様な抵抗値を作ることができる。

ここでは、第１抵抗部３０及び第２抵抗部４０に、二つずつの抵抗が含まれると仮定する。

第１抵抗部３０は、直列に接続する抵抗Ｒ２、Ｒ３及びＲ２に並列に接続する調節スイッチＳＷｒ２と、Ｒ３に並列に接続する調節スイッチＳＷｒ３とを含む。第１抵抗部３０の調節スイッチＳＷｒ２、ＳＷｒ３は、初期に開かれた状態にセッティングされ、測定抵抗（ＲＤＤａ）の全体抵抗値を低くする必要がある場合に、調節スイッチＳＷｒ２及びＳＷｒ３が選択的に閉じられる。調節スイッチＳＷｒ２またはＳＷｒ３が閉じられると、全体抵抗値は閉じられた調節スイッチと並列に接続した抵抗値ほど低くなる。

第２抵抗部４０は、直列に接続する抵抗Ｒ４、Ｒ５及びＲ４に並列に接続する調節スイッチＳＷｒ４と、Ｒ５に並列に接続する調節スイッチＳＷｒ５とを含む。第２抵抗部４０の調節スイッチＳＷｒ４、ＳＷｒ５は、初期に閉じられた状態にセッティングされ、測定抵抗（ＲＤＤａ）の全体抵抗値を高くする必要がある場合に、調節スイッチＳＷｒ４及びＳＷｒ５が選択的に開かれる。調節スイッチＳＷｒ４またはＳＷｒ５が開かれれば、全体抵抗値は開かれた調節スイッチと並列に接続された抵抗値ほど高くなる。

次に、図１乃至図５を参照して、映像データ補償量を求める方法について説明する。

基準画素（ＰＸｂ）の最大画素電流と測定画素（ＰＸａ）の最大画素電流とを比較して、その差を利用して大略的な測定画素（ＰＸａ）のしきい電圧（Ｖｔｈ）を設定する（Ｓ１１０）。具体的に、基準画素（ＰＸｂ）の最大画素電流と測定画素（ＰＸａ）の最大画素電流が１００ｎＡ程度の差が生じれば、基準画素（ＰＸｂ）と測定画素（ＰＸａ）のしきい電圧は０．１Ｖの差を有するように測定画素（ＰＸａ）のしきい電圧が設定され得る。この時、基準画素（ＰＸｂ）のしきい電圧は既に知っている値である。

設定された測定画素（ＰＸａ）のしきい電圧（Ｖｔｈ）を適用して、補償部６００は高階調及び低階調それぞれに対応する第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）及び第２データ電圧（Ｖｄａｔ２）を設定し、これを測定画素（ＰＸａ）に伝達し、第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）によって発生する第１画素電流（Ｉｄｓ１）、及び第２データ電圧（Ｖｄａｔ２）によって発生する第２画素電流（Ｉｄｓ２）を測定する（Ｓ１２０）。この時、測定された第１画素電流（Ｉｄｓ１）及び第２画素電流（Ｉｄｓ２）を利用して、測定画素（ＰＸａ）の駆動トランジスタ（Ｍ２ａ）の特性偏差が算出される。

第１テスト電圧（Ｖｄａｔ１）及び第２データ電圧（Ｖｄａｔ２）は、互いに異なる階調に相当するデータ電圧であり得る。例えば、第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）は高い階調に相当するデータ電圧であり、第２データ電圧（Ｖｄａｔ２）は低い階調に相当するデータ電圧であり得る。または、第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）は最も高い階調に相当するデータ電圧、つまり、最高画素電流を発生させるデータ電圧であり得、第２データ電圧（Ｖｄａｔ２）は最も低い階調に相当するデータ電圧、つまり、最低画素電流を発生させるデータ電圧であり得る。

第１差動増幅器（ＤＡａ）の非反転入力端（＋）に第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）が印加されると、第１差動増幅器（ＤＡａ）の反転入力端（−）にも第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）と同一の電圧が発生する。測定画素（ＰＸａ）のスイッチングトランジスタ（Ｍ１ａ）のゲート電極に低電圧の走査信号（ＳＳａ）が印加されてスイッチングトランジスタ（Ｍ１ａ）が導通し、感知トランジスタ（Ｍ３ａ）のゲート電極に高電圧の感知走査信号（ＳＥＳａ）が印加されて遮断された状態で、第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）はデータ線（Ｄｊ）に沿って駆動トランジスタ（Ｍ２ａ）のゲート電極に伝達される。この時、第１選択スイッチ（ＳＷ１）は、測定部３１０と測定画素（ＰＸａ）とを接続させて、第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）が測定画素（ＰＸａ）に印加されるようにする。

感知トランジスタ（Ｍ３ａ）のゲート電極に低電圧の感知走査信号（ＳＥＳａ）が印加されて導通すると、駆動トランジスタ（Ｍ２ａ）における第１画素電流（Ｉｄｓ１）はデータ線（Ｄｊ）に沿って測定部６１０に流れる。この時、第１画素電流（Ｉｄｓ１）はパネルキャパシタ（ＣＬａ）を充電させ、パネルキャパシタ（ＣＬａ）は第１画素電流（Ｉｄｓ）が測定部６１０に持続的に流れるように維持させる。

第１画素電流（Ｉｄｓ１）は測定抵抗（ＲＤＤａ）に流れ、測定抵抗（ＲＤＤａ）によって第１画素電流（Ｉｄｓ１）はＲＤＤａ＊Ｉｄｓ１の第１測定電圧に変換される。変換された第１測定電圧は、第１差動増幅器（ＤＡａ）の反転入力端（−）に入力される。

第１差動増幅器（ＤＡａ）は、第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）と第１測定電圧との第１電圧差を出力する。第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）と第１測定電圧との第１電圧差が第１増幅電圧（ＶＡＭＰ１）となる。第１増幅電圧（ＶＡＭＰ１）は第３差動増幅器（ＤＡｃ）の非反転入力端（＋）に入力される。

一方、基準画素（ＰＸｂ）にはデータ電圧が印加されず、有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）のカソード電極にはＥＬＶＤＤ電圧が印加される状態である。つまり、基準画素（ＰＸｂ）では画素電流が発生せず、感知トランジスタ（Ｍ３ｂ）に低電圧の感知走査信号（ＳＥＳｂ）が印加されても、ターゲット抵抗（ＲＤＤｂ）により発生する電圧は０Ｖである。

第２差動増幅器（ＤＡｂ）の非反転入力端（＋）にターゲット電圧（ＶＴＲＧＴ）が入力され、第２差動増幅器（ＤＡｂ）の出力端からはＶＡＭＰ２＝ＶＴＲＧＴの電圧が出力される。この時、ターゲット電圧（ＶＴＲＧＴ）は第１差動増幅器（ＤＡａ）の第１増幅電圧（ＶＡＭＰ１）のターゲット値である。

第２差動増幅器（ＤＡｂ）の出力電圧ＶＡＭＰ２は、第３差動増幅器（ＤＡｃ）の反転入力端（−）に入力される。

第３差動増幅器（ＤＡｃ）は、非反転入力端（＋）に入力される第１増幅電圧（ＶＡＭＰ１）と、反転入力端（−）に入力されるターゲット電圧（ＶＴＲＧＴ）との差を増幅して第２増幅電圧を出力する。第２増幅電圧はＳＡＲロジック６４０に伝達される。

ＳＡＲロジック６４０は、第３差動増幅器（ＤＡｃ）の第２増幅電圧を利用して、測定画素（ＰＸａ）の第１画素電流（Ｉｄｓ１）を算出する。ＳＡＲロジック６４０は、算出された第１画素電流（Ｉｄｓ１）が基準画素（ＰＸｂ）の画素電流と同一の値になるように、第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）を修正する。

この時、第１画素電流（Ｉｄｓ１）が基準画素（ＰＸｂ）の画素電流にさらに細密に近接するように、測定抵抗（ＲＤＤａ）の抵抗値を調節する。つまり、基準画素に第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）が入力される時に発生する画素電流に対応する基準測定電圧と、第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）との基準電圧差、及び第１電圧差によって、測定抵抗（ＲＤＤａ）の抵抗値が調節される。

万一、ＳＡＲロジック６４０で測定できる範囲が０Ｖ〜３Ｖに限定されていれば、パネルのばらつきを考慮して、第１増幅電圧（ＶＡＭＰ１）とターゲット電圧（ＶＴＲＧＴ）との差に応じた第２増幅電圧が０Ｖ〜３Ｖ範囲内に入れる抵抗値で測定抵抗（ＲＤＤａ）がセッティングされる。以降、高階調に相当する第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）によって発生する第１画素電流（Ｉｄｓ１）が流れる時、第１画素電流（Ｉｄｓ１）を考慮して測定抵抗（ＲＤＤａ）を調節する。つまり、補償部６００は、第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）と第１測定電圧との第１電圧差によって測定抵抗（ＲＤＤａ）を調節する。

例えば、第１データ電圧（Ｖｄａｔ１）が測定画素（ＰＸａ）に印加されて発生する第１増幅電圧（ＶＡＭＰ１）とターゲット電圧（ＶＴＲＧＴ）との差が大きい場合、測定誤差が発生し得る。反対に、第１増幅電圧（ＶＡＭＰ１）とターゲット電圧（ＶＴＲＧＴ）との差が小さい場合、測定の正確度が低くなる。二つの電圧差が大きい場合は、二つの電圧差が減少するように測定抵抗（ＲＤＤａ）を調節し、二つの電圧差が小さい場合は、二つの電圧差が増加するように測定抵抗（ＲＤＤａ）を調節して、再び第１画素電流（Ｉｄｓ１）を測定する。例えば、第１増幅電圧（ＶＡＭＰ１）がターゲット電圧（ＶＴＲＧＴ）に比べて非常に小さい場合、測定抵抗（ＲＤＤａ）を減少させて第１増幅電圧（ＶＡＭＰ１）を増加させる。反対に、第１増幅電圧（ＶＡＭＰ１）がターゲット電圧（ＶＴＲＧＴ）に比べて非常に大きい場合、測定抵抗（ＲＤＤａ）を増加させて第１増幅電圧（ＶＡＭＰ１）を減少させる。

第１画素電流（Ｉｄｓ１）の測定と同一の方式により第２画素電流（Ｉｄｓ２）を測定する。つまり、第２データ電圧（Ｖｄａｔ２）と、第２データ電圧（Ｖｄａｔ２）によって発生する第２画素電流（Ｉｄｓ２）が変換された第２測定電圧との第２電圧差により測定抵抗（ＲＤＤａ）が調節される。第２画素電流（Ｉｄｓ２）が基準画素（ＰＸｂ）の画素電流にさらに細密に近接するように、測定抵抗（ＲＤＤａ）の抵抗値が調節される。基準画素（ＰＸｂ）に第２データ電圧（Ｖｄａｔ２）が入力される際に発生する画素電流に対応する基準測定電圧と、第２データ電圧（Ｖｄａｔ２）との基準電圧差、及び第２電圧差によって、測定抵抗（ＲＤＤａ）の抵抗値が調節される。

高い階調における一階調当り電流量の大きさと、低い階調における一階調当り電流量の大きさが互いに異なる。上述のように、高い階調に相当するデータ電圧と低い階調に相当するデータ電圧に応じて測定抵抗（ＲＤＤａ）の抵抗値を調節することによって、画素電流の測定範囲を拡大させることができ、測定精密度を向上させることができる。

ＳＡＲロジック６４０は、測定された第１画素電流（Ｉｄｓ１）及び第２画素電流（Ｉｄｓ２）を利用して、測定画素（ＰＸａ）の駆動トランジスタ（Ｍ２ａ）の特性偏差を算出する（Ｓ１３０）。つまり、ＳＡＲロジック６４０は、測定画素（ＰＸａ）の駆動トランジスタ（Ｍ２ａ）の実際しきい電圧及び移動度を算出する。

数式１は、第１画素電流（Ｉｄｓ１）としきい電圧と移動度の関係を示す一例である。

ここで、βは移動度を示す。

数式２は、第２画素電流（Ｉｄｓ２）としきい電圧と移動度の関係を示す一例である。

数式１及び数式２によって測定画素（ＰＸａ）の実際しきい電圧を求めることができる。数式３は、測定画素の実際しきい電圧を示す一例である。

数式１及び数式２によって測定画素（ＰＸａ）の実際移動度を求めることができる。数式４は、測定画素の実際移動度を示す一例である。

ＳＡＲロジック６４０は、測定画素（ＰＸａ）の実際しきい電圧及び移動度を補償する映像データ補償量を算出する（Ｓ１４０）。

数式５は、映像データ補償量を示す一例である。

ここで、ＧＲＡＹは階調、ΔＧＲＡＹは階調補償値、γは映像表示のためのガンマ値である。この時、階調補償値は映像データ補償量を意味する。

ＳＡＲロジック６４０は、算出される映像データ補償量を信号制御部１００に伝達し、信号制御部１００は、映像データ補償量を反映して映像データ信号（ＤＡＴ）を生成する。信号制御部１００は、映像データ補償量を映像信号による映像データ信号に加えて、偏差が補償された映像データ信号を生成する。映像信号による映像データ信号は、所定ビット、例えば、８ビット単位のデジタル信号が配列された信号であって、８ビット単位で対応する画素の階調を決定する。映像データ補償量もデジタルデータであって、信号制御部１００は映像信号による８ビット単位の映像データ信号に映像データ補償量を加えて、所定ビット、例えば、１０ビット単位の映像データ信号を生成することができる。

以上、参照した図面と記載した発明の詳細な説明は、単に本発明の例示的なものであって、これは本発明を説明するために用いられたものであり、意味の限定や特許請求の範囲に記載された本発明の範囲を制限するために用いられたものではない。したがって、本技術分野の通常の知識を有する者であれば、これらから多様な変形及び均等な他の実施形態が可能であるという点を理解するはずである。したがって、本発明の真の技術的な保護範囲は、添付された特許請求の範囲の技術的な思想によって決められなければならない。

１００ 信号制御部
２００ 走査駆動部
３００ データ駆動部
３５０ データ選択部
４００ 表示部
５００ 感知駆動部
６００ 補償部
６１０ 測定部
６２０ ターゲット部
６３０ 比較部
６４０ ＳＡＲロジック

Claims (28)

1. 複数の画素を含む表示部；
   データ電圧によって前記複数の画素で生成される画素電流の伝達を受け、各画素の駆動トランジスタの特性偏差を補償する映像データ補償量を算出する補償部；及び
   前記データ電圧を前記複数の画素に伝達するか、または前記画素電流を前記補償部に伝達するデータ選択部；
   を含み、
   前記補償部は、互いに異なる階調に相当する第１データ電圧及び第２データ電圧によって発生する第１画素電流及び第２画素電流を測定して、測定画素の実際しきい電圧及び移動度を算出し、前記第１データ電圧に相当する第１画素電流を第１測定電圧に変換し、前記第２データ電圧に相当する第２画素電流を第２測定電圧に変換する測定抵抗の抵抗値を調節する表示装置。
2. 前記補償部は、前記第１データ電圧と前記第１測定電圧間の第１電圧差により前記測定抵抗を調節する請求項１に記載の表示装置。
3. 前記補償部は、所定の基準しきい電圧及び基準移動度を有する基準画素に前記第１データ電圧が入力される時に発生する画素電流に対応する基準測定電圧と前記第１データ電圧間の基準電圧差、及び前記第１電圧差によって、前記測定抵抗を調節する請求項２に記載の表示装置。
4. 前記補償部は、前記第２データ電圧と前記第２測定電圧間の第２電圧差により前記測定抵抗を調節する請求項１に記載の表示装置。
5. 前記補償部は、所定の基準しきい電圧及び基準移動度を有する基準画素に前記第２データ電圧が入力される時に発生する画素電流に対応する基準測定電圧と前記第２データ電圧間の基準電圧差、及び前記第２電圧差によって、前記測定抵抗を調節する請求項４に記載の表示装置。
6. 前記補償部は、
   前記測定画素の画素電流を測定する測定部；
   前記測定部で発生するノイズを除去するためのターゲット部；
   前記測定部及び前記ターゲット部の出力値を比較する比較部；及び
   前記比較部の出力値を処理するＳＡＲ（Ｓｕｃｃｅｓｓｉｖｅ Ａｐｐｒｏｘｉｍａｔｉｏｎ Ｒｅｇｉｓｔｅｒ）ロジック；
   を含む、請求項１に記載の表示装置。
7. 前記測定部は、
   前記測定画素の画素電流を電圧に変換する測定抵抗、及び
   所定のテストデータ電圧と前記画素電流から変換される電圧との差を出力する差動増幅器を含む請求項６に記載の表示装置。
8. 前記差動増幅器は、
   前記所定のテストデータ電圧が入力される非反転入力端；
   前記画素電流から変換する電圧が入力される反転入力端；及び
   前記所定のテストデータ電圧と前記画素電流から変換される電圧との差を出力する出力端；
   を含む請求項７に記載の表示装置。
9. 前記測定抵抗は、
   直列に接続する複数の抵抗、及び
   前記複数の抵抗それぞれに並列に接続する複数の調節スイッチを含む請求項７に記載の表示装置。
10. 前記測定抵抗は、
    前記測定抵抗の最小抵抗値を決定する基本抵抗；
    前記測定抵抗の全体抵抗値を低くする第１抵抗部；及び
    前記測定抵抗の全体抵抗値を高くする第２抵抗部；
    を含む請求項９に記載の表示装置。
11. 前記第１抵抗部は、少なくとも一つの抵抗、及び各抵抗に並列に接続する少なくとも一つの調節スイッチを含み、前記少なくとも一つの調節スイッチは、初期に開かれた状態にセッティングされる請求項１０に記載の表示装置。
12. 前記第２抵抗部は、少なくとも一つの抵抗、及び各抵抗に並列に接続する少なくとも一つの調節スイッチを含み、前記少なくとも一つの調節スイッチは、初期に閉じられた状態にセッティングされる請求項１０に記載の表示装置。
13. 前記ターゲット部は、所定の基準しきい電圧及び基準移動度を有する基準画素に接続して、前記測定部と同一に構成される請求項７に記載の表示装置。
14. 前記ターゲット部は、前記所定のテストデータ電圧と前記画素電流から変換される電圧との差の目標値であるターゲット電圧を出力する請求項１３に記載の表示装置。
15. 前記比較部は、
    前記測定部の出力電圧が入力される非反転入力端；
    前記ターゲット部の出力電圧が入力される反転入力端；及び
    前記測定部の出力電圧と前記ターゲット部の出力電圧との差を出力する出力端；を含む差動増幅器を含む請求項６に記載の表示装置。
16. 前記複数の画素は、
    有機発光ダイオード；
    前記データ電圧が印加されるゲート電極、ＥＬＶＤＤ電源に接続する一端、及び前記有機発光ダイオードのアノード電極に接続する他端を含む駆動トランジスタ；並びに
    前記画素電流を前記補償部に伝達するための感知走査信号が印加されるゲート電極、前記駆動トランジスタの他端に接続する一端、及び前記データ電圧が印加されるデータ線に接続する他端を含む感知トランジスタを含む請求項１に記載の表示装置。
17. 前記感知トランジスタに前記感知走査信号を印加する感知駆動部をさらに含む請求項１６に記載の表示装置。
18. 基準画素の画素電流と測定画素の画素電流とを比較して、前記測定画素の駆動トランジスタのしきい電圧を設定する段階；
    前記設定されたしきい電圧が適用された第１データ電圧を前記測定画素に印加して発生する第１画素電流を第１測定電圧に変換する測定抵抗を調節して、前記第１画素電流を測定する段階；
    前記設定されたしきい電圧が適用された第２データ電圧を前記測定画素に印加して発生する第２画素電流を第２測定電圧に変換する測定抵抗を調節して、前記第２画素電流を測定する段階；
    前記第１画素電流及び前記第２画素電流を利用して、前記測定画素の駆動トランジスタの実際しきい電圧及び移動度を算出する段階；及び
    前記測定画素の実際しきい電圧及び移動度を補償する映像データ補償量を算出する段階を含む表示装置の駆動方法。
19. 前記映像データ補償量を反映した映像データ信号を生成する段階をさらに含む請求項１８に記載の表示装置の駆動方法。
20. 前記しきい電圧を設定する段階は、前記測定画素に最大画素電流が発生できるデータ電圧を印加して発生する最大画素電流を測定して、前記基準画素と対比した前記測定画素の駆動トランジスタのしきい電圧差を算出する請求項１８に記載の表示装置の駆動方法。
21. 前記第１データ電圧と前記第１測定電圧間の第１電圧差により前記測定抵抗を調節する請求項１８に記載の表示装置の駆動方法。
22. 前記基準画素に前記第１データ電圧が入力される時に発生する画素電流に対応する基準測定電圧と前記第１データ電圧との基準電圧差、及び前記第１電圧差によって、前記測定抵抗を調節する請求項２１に記載の表示装置の駆動方法。
23. 前記第２データ電圧と前記第２測定電圧間の第２電圧差により前記測定抵抗を調節する請求項１８に記載の表示装置の駆動方法。
24. 前記基準画素に前記第２データ電圧が入力される時に発生する画素電流に対応する基準測定電圧と前記第２データ電圧との基準電圧差、及び前記第２電圧差によって、前記測定抵抗を調節する請求項２３に記載の表示装置の駆動方法。
25. 前記第１データ電圧及び前記第２データ電圧は互いに異なる階調に相当するデータ電圧である請求項１８に記載の表示装置の駆動方法。
26. 前記第１データ電圧及び前記第２データ電圧のいずれか一つは、最高画素電流を発生させるデータ電圧である請求項１８に記載の表示装置の駆動方法。
27. 前記第１データ電圧及び前記第２データ電圧のいずれか一つは、最低画素電流を発生させるデータ電圧である請求項１８に記載の表示装置の駆動方法。
28. 前記測定抵抗の抵抗値は、前記第１データ電圧及び前記第２データ電圧に相当する階調により調節される請求項１８に記載の表示装置の駆動方法。

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