CN108172155B - 一种检测装置及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种检测装置及检测方法，检测控制单元控制电流源与各检测线分时导通，并仅在一条检测线与电流源导通时，控制该检测线与检测输出单元导通，以使检测输出单元根据第一参考电压、第二参考电压以及导通的检测线上的电压，向数据处理单元输出与导通的检测线对应的检测信号。数据处理单元根据各检测线对应的检测信号，确定各检测线对应的充电时间，根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各检测线对应的充电时间比值，从而在对像素进行外部补偿时，可以根据各条检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各检测线对应的数据电压进行调整，以提高外部补偿计算得到的数据电压的精确度，提高画面显示效果。

Description

一种检测装置及检测方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种检测装置及检测方法。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)、量子点发光二极管(Quantum Dot Light Emitting Diodes，QLED)等电致发光二极管具有自发光、低能耗等优点，是当今电致发光显示面板应用研究领域的热点之一。目前，电致发光二极管一般属于电流驱动型，需要稳定的电流来驱动其发光，因此一般采用像素电路来驱动电致发光二极管发光。现有的像素电路如图1所示，一般包括：驱动晶体管T1、开关晶体管T2以及存储电容Cst。该像素电路通过控制开关晶体管T2打开以将数据信号端Data的数据电压写入驱动晶体管T1的栅极，控制驱动晶体管T1产生工作电流以驱动电致发光二极管L发光。然而随着使用时间的增加，驱动晶体管T1会出现老化等情况，导致驱动晶体管T1的特性，例如阈值电压与迁移率发生漂移，从而会造成显示亮度差异。

为了保证显示质量，可以通过外部补偿的方式对驱动晶体管的阈值电压和迁移率进行补偿。如图1所示，还需要在电致发光显示面板中设置检测线SL以及在像素电路中设置连接于驱动晶体管T1与检测线SL之间的检测晶体管T3。其中，在对电致发光显示面板中的像素进行补偿时，通过控制像素中的像素电路对检测线SL充电，再通过检测该检测线SL上的电压，并根据检测到的计算流经驱动晶体管T1的电流大小以进行补偿计算，得到该像素对应的用于显示的数据电压。然而，由于电致发光显示面板还具有多种信号线和膜层，使得检测线与其他信号线和膜层之间存在寄生电容，在外部补偿时需要用到该寄生电容值。由于工作制备原因，不同检测线的寄生电容值也不尽相同。从而在外部补偿时，由于不同检测线的寄生电容值之间存在差异，导致补偿计算得到的数据电压不准确，影响画面显示效果的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种检测装置及检测方法，用以解决现有技术中由于不同检测线的寄生电容值之间的差异，导致补偿计算得到的数据电压不准确，影响画面显示效果的问题。

因此，本发明实施例提供了一种检测装置，所述检测装置包括：电流源、检测控制单元、检测输出单元，数据处理单元；

所述检测控制单元用于在预设检测阶段中，控制所述电流源与电致发光显示面板中的各检测线分时导通；针对一条检测线，仅在所述检测线与所述电流源导通时，控制所述检测线与所述检测输出单元导通；

所述检测输出单元用于仅在与一条检测线导通时，根据第一参考电压、第二参考电压以及导通的所述检测线上的电压，向所述数据处理单元输出与导通的所述检测线对应的检测信号，以及在与导通的所述检测线断开时进行复位；其中，所述检测信号具有第一电位信号和第二电位信号；

所述数据处理单元用于接收各所述检测线对应的检测信号，并根据接收的检测信号，确定各所述检测线对应的充电时间，以及根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各所述检测线对应的充电时间比值，并在对所述有机发光显示面板中的像素进行外部补偿时，根据各所述检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整；以及在所述预设检测阶段中，控制所述电致发光显示面板中的各所述像素与对应的检测线断开。

可选地，在本发明实施例提供的上述检测装置中，所述检测控制单元包括：第一开关以及与各所述检测线一一对应的第二开关；

各所述第二开关的第一端分别与对应的检测线电连接，各所述第二开关的第二端均与所述第一开关的第一端以及所述电流源电连接；

所述第一开关的第二端与所述检测输出单元电连接。

可选地，在本发明实施例提供的上述检测装置中，所述检测输出单元包括：积分运算放大器、比较器以及第三开关；

所述积分运算放大器的正相输入端用于接收所述第一参考电压，负相输入端分别与所述检测控制单元以及所述第三开关的第一端电连接，输出端分别与所述第三开关的第二端以及所述比较器的第一输入端电连接；

所述比较器的第二输入端用于接收所述第二参考电压，所述比较器的输出端与所述数据处理单元电连接，用于输出所述检测信号。

可选地，在本发明实施例提供的上述检测装置中，各所述像素包括像素电路；

所述像素电路中的驱动晶体管为N型晶体管，所述数据处理单元具体用于针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；

所述像素电路中的驱动晶体管为P型晶体管，所述数据处理单元具体用于针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压。

可选地，在本发明实施例提供的上述检测装置中，所述数据处理单元包括：处理器：

所述处理器的输入端与所述检测输出单元电连接，用于接收所述检测信号。

相应地，本发明实施例还挺了一种显示装置，包括电致发光显示面板与本发明实施例提供的上述任一种检测装置。

可选地，在本发明实施例提供的上述显示装置中，所述显示装置还包括：源极驱动芯片；所述检测装置中的检测控制单元与检测输出单元设置于所述源极驱动芯片中。

相应地，本发明实施例还提供了一种本发明实施例提供的上述任一种检测装置的检测方法，包括：

在预设检测阶段中，控制所述电致发光显示面板中的各所述像素与对应的检测线断开；

控制电流源与各所述检测线分时导通，确定各所述检测线对应的检测信号；其中，针对一条检测线，所述检测控制单元仅控制所述检测线与所述电流源以及所述检测输出单元导通；所述检测输出单元在与所述检测线导通时，根据第一参考电压、第二参考电压以及所述检测线上的电压输出所述检测线对应的检测信号；所述检测输出单元在所述电流源与所述检测线断开时进行复位；

接收各所述检测线对应的检测信号，并根据接收的检测信号，确定各所述检测线对应的充电时间，并根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各所述检测线对应的充电时间比值；

在对所述有机发光显示面板中的像素进行外部补偿时，根据各所述检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整。

可选地，在本发明实施例提供的上述检测方法中，所述像素电路中的驱动晶体管为N型晶体管，所述对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整，具体包括：

针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压。

可选地，在本发明实施例提供的上述检测方法中，所述像素电路中的驱动晶体管为P型晶体管，所述对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整，具体包括：

针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压。

本发明有益效果如下：

本发明实施例提供了的检测装置及检测方法，包括：电流源、检测控制单元、检测输出单元，数据处理单元；其中，通过数据处理单元在预设检测阶段中，控制电致发光显示面板中的各像素与对应的检测线断开，以通过检测控制单元控制电流源与各检测线分时导通，以通过同一电流源分时对各检测线充电，并仅在一条检测线与电流源导通时，控制该检测线与检测输出单元导通，以使检测输出单元根据第一参考电压、第二参考电压以及导通的检测线上的电压，向数据处理单元输出与导通的检测线对应的检测信号。由于各检测线与电流源是分时导通的，因此检测输出单元与检测线也是分时导通的，这样可以将各检测线与电流源导通时得到的检测信号分时输出给数据处理单元。并且，在检测输出单元与导通的检测线断开时进行复位，以使得到的不同检测线对应的检测电压互不影响。数据处理单元根据各检测线对应的检测信号，确定各检测线对应的充电时间，以及根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各检测线对应的充电时间比值，从而在对像素进行外部补偿时，可以根据各条检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各检测线对应的数据电压进行调整，以提高外部补偿计算得到的数据电压的精确度，提高画面显示效果。

附图说明

图1为现有技术中的像素电路的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的检测装置的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的检测信号的示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图，对本发明实施例提供的检测装置及检测方法的具体实施方式进行详细地说明。应当理解，下面所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

本发明实施例提供的电致发光显示面板Panel，如图2所示，可以包括多个像素PX与多条检测线SL_n(n＝1、2、3…N，N为电致发光显示面板Panel中像素的总列数)，每列像素PX对应一条检测线SL_n。在实际应用中，各像素PX中一般设置如图1所示的像素电路(当然也可以设置其他结构的像素电路，本发明仅以图1所示的像素电路为例进行说明)，以通过图1所示的像素电路实现显示以及外部补偿。其中，外部补偿的方式一般为：在外部补偿时，通过检测数据电压控制一行中每个像素中的像素电路对对应的检测线SL充电，使所有检测线SL_n充入相同的电压V_t。根据公式I_{_n}T_{_n}＝c₀V_t，T_{_n}代表检测线SL_n充入电压V_t所用的时间，c₀代表检测线SL_n上的寄生电容值(该寄生电容值是工艺制备时预先设定的)。根据上述公式，可以计算出检测线SL_n对应的驱动晶体管T1产生的工作电流I_{_n}，之后再根据计算出的工作电流I_{_n}得到检测线SL_n对应的像素在显示时对应的数据电压，以实现外部补偿。由于工艺制备导致检测线SL_n的实际的寄生电容值c_{_n}与预先设定的寄生电容值c₀不尽相同，使得计算得到的工作电流I_{_n}有偏差，从而导致外部补偿计算得到的数据电压也有偏差，进而导致影响画面显示效果。

基于此，本发明实施例提供了一种检测装置，应用于对电致发光显示面板中的检测线的性能进行检测，以通过检测到的性能对通过外部补偿得到的数据电压进行调整。如图2所示，该检测装置可以包括：电流源10、检测控制单元20、检测输出单元30，数据处理单元40；

检测控制单元20用于在预设检测阶段中，控制电流源与各检测线SL_n分时导通；并且针对一条检测线SL_n，仅在检测线SL_n与电流源10导通时，控制检测线SL_n与检测输出单元30导通；

检测输出单元30用于仅在与一条检测线SL_n导通时，根据第一参考电压VREF1、第二参考电压VREF2以及导通的检测线SL_n上的电压，向数据处理单元40输出与导通的检测线SL_n对应的检测信号，以及在与导通的检测线断开时进行复位；其中，检测信号具有第一电位信号和第二电位信号；

数据处理单元40用于接收各检测线SL_n对应的检测信号，并根据接收的检测信号，确定各检测线SL_n对应的充电时间，以及根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各检测线SL_n对应的充电时间比值，并在对有机发光显示面板中的像素进行外部补偿时，根据各条检测线SL_n对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各检测线SL_n对应的数据电压进行调整；以及在预设检测阶段中，控制电致发光显示面板Panel中的各像素PX与对应的检测线SL_n断开。

本发明实施例提供的上述检测装置，包括：电流源、检测控制单元、检测输出单元，数据处理单元；其中，通过数据处理单元在预设检测阶段中，控制电致发光显示面板中的各像素与对应的检测线断开，以通过检测控制单元控制电流源与各检测线分时导通，以通过同一电流源分时对各检测线充电，并仅在一条检测线与电流源导通时，控制该检测线与检测输出单元导通，以使检测输出单元根据第一参考电压、第二参考电压以及导通的检测线上的电压，向数据处理单元输出与导通的检测线对应的检测信号。由于各检测线与电流源是分时导通的，因此检测输出单元与检测线也是分时导通的，这样可以将各检测线与电流源导通时得到的检测信号分时输出给数据处理单元。并且，在检测输出单元与导通的检测线断开时进行复位，以使得到的不同检测线对应的检测电压互不影响。数据处理单元根据各检测线对应的检测信号，确定各检测线对应的充电时间，以及根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各检测线对应的充电时间比值，从而在对像素进行外部补偿时，可以根据各条检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各检测线对应的数据电压进行调整，以提高外部补偿计算得到的数据电压的精确度，提高画面显示效果。

在实际应用中，检测装置可以独立设置，或者也可以设置在显示装置中。一般在显示面板的扫描过程中，扫描总是从图像的左上角开始，水平向前行进，同时扫描点也以较慢的速率向下移动。扫描一帧完整的图像时，在扫描点扫描完一帧后，要从图像的右下角返回到图像的左上角，开始新一帧的扫描，这一时间间隔，叫做场消隐。在场消隐时，不进行用于显示图像的数据电压的传输。为了实现信号检测，由于场消隐并没有进行图像显示，因此场消隐的时间可以被用于进行信号检测以及确定。在具体实施时，在本发明实施例提供的检测装置中，预设检测阶段可以为一个显示帧中的场消隐所处于的时长。然而，显示面板的分辨率越来越高，像素列越来越多，使得检测线也越来越多，从而导致在显示帧的场消隐内可能不会将全部检测线进行检测。因此在具体实施时，预设检测阶段也可以为显示装置开机时间段中的部分时间。例如，显示装置的开机时间2～3s，在该时间内即可完成对全部检测线对应的充电时间比值的检测工作。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测装置中，第一参考电压大于第二参考电压。并且，第一参考电压与第二参考电压的具体电压值需要根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测装置中，数据处理模块具体可以用于控制图1所示的像素电路中的信号G2以控制检测晶体管T3截止，以使电致发光显示面板中的各像素中的像素电路与对应的检测线断开。或者，也可以控制图1所示的像素电路的数据信号端Data输入低灰阶对应的数据电压(例如0灰阶对应的数据电压)，以使驱动晶体管T1不产生能够驱动电致发光二极管L发光的驱动电流，使像素电路无电流充入对应的检测线，即相当于像素电路与对应的检测线断开。当然，在实际应用中，还可以采用其他方式将像素电路与检测线断开。

一般像素电路中的驱动晶体管可以为N型晶体管或者也可以为P型晶体管。在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测装置中，像素电路中的驱动晶体管可以设置为N型晶体管，数据处理单元具体用于针对每一条检测线，在检测线对应的充电时间比值小于预设比值时，减小外部补偿得到的检测线对应的数据电压；在检测线对应的充电时间比值大于预设比值时，增加外部补偿得到的检测线对应的数据电压。像素电路中的驱动晶体管也可以设置为P型晶体管，数据处理单元具体用于针对每一条检测线，在检测线对应的充电时间比值小于预设比值时，增加外部补偿得到的检测线对应的数据电压；在检测线对应的充电时间比值大于预设比值时，减小外部补偿得到的检测线对应的数据电压。其中，为了更精确，预设比值可以等于1，当然，由于存在误差，因此预设比值可以为非常接近1的实数，例如可以为0.999～1.001范围内的实数。在实际应用中，由于所需的精确度不同，因此预设比值可以根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测装置中，预设充电时间阈值可以为根据经验得到的。或者，为了使电致发光显示面板的发光均一性提高，预设充电时间阈值也可以在数据处理单元接收各检测线对应的检测信号后，通过对各检测线对应的充电时间求平均值或正态分布等方法得到。或者，也可以将一条检测线对应的充电时间作为预设充电时间阈值。当然，在实际应用中，预设充电时间阈值也可以采用其他方式确定，在此不作限定。

下面结合具体实施例，对本发明进行详细说明。需要说明的是，本实施例中是为了更好的解释本发明，但不限制本发明。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测装置中，如图2所示，检测控制单元20可以包括：第一开关JP以及与各检测线SL_n一一对应的第二开关JS_n；

各第二开关JS_n的第一端分别与对应的检测线SL_n电连接，各第二开关JS_n的第二端均与第一开关JP的第一端以及电流源10电连接；

第一开关JP的第二端与检测输出单元30电连接。

在具体实施时，各第二开关可以使对应的检测线与电流源分时导通，以通过电流源对检测线分时进行充电。并在电流源与一条检测线导通时，第一开关控制该条与电流源导通的检测线与检测输出单元导通。

在具体实施时，检测控制单元还可以包括：信号控制器，以通过信号控制器控制第一开关与各第二开关的导通与断开。当然，第一开关与各第二开关也可以通过数据处理模块输出的信号进行控制，在此不作限定。

在具体实施时，第一开关与第二开关可以分别采用开关晶体管。当然，第一开关与第二开关也可以分别采用其他可以实现控制导通与断开的元件，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测装置中，如图2所示，检测输出单元30可以包括：积分运算放大器OP、比较器CO以及第三开关JQ；其中，积分运算放大器OP的正相输入端用于接收第一参考电压VREF1，负相输入端分别与检测控制单元20以及第三开关JQ的第一端电连接，输出端分别与第三开关JQ的第二端以及比较器CO的第一输入端电连接。比较器CO的第二输入端用于接收第二参考电压VREF2，比较器CO的输出端与数据处理单元40电连接，用于输出检测信号。具体地，积分运算放大器OP的负相输入端与检测控制单元20中的第一开关JP的第二端电连接。

在具体实施时，积分运算放大器可以包括放大器和积分电容。其中，放大器的正相输入端用于接收第一参考信号，负相输入端分别与第一开关的第二端、第三开关的第一端以及积分电容的第一端电连接，输出端分别与第三开关的第二端、积分电容的第二端以及比较器的负相输入端电连接。

在具体实施时，积分运算放大器在输入其负相输入端的电压大于输入其正相输入端的电压时，其输出端输出的电压降低。并且，积分运算放大器在其负相输入端与其输出端直接电连接时，变为负反馈方式，可以使其输出端的电压等于输入其正相输入端的电压。

在具体实施时，比较器的第一输入端可以为其负相输入端，第二输入端可以为其正相输入端。当然，也可以使比较器的第一输入端为其正相输入端，第二输入端为其负相输入端，在此不作限定。以下均是以比较器的第一输入端为其负相输入端，第二输入端为其正相输入端为例进行说明。比较器在输入其负相输入端的电压大于输入其正相输入端的电压时，输出端输出低电位信号。并且比较器在输入其负相输入端的电压小于输入其正相输入端的电压时，输出端输出高电位信号。

具体地，在电流源与检测线断开时，第三开关导通，控制积分运算放大器的输出端的电压进行复位，使其输出端的电压为第一参考电压。并且，由于第一参考电压大于第二参考电压，比较器输出低电位信号，即第二电位信号。在电流源与一条检测线导通时，第三开关断开，第一开关导通，通过控制积分运算放大器与该条检测线导通，以使电流源对积分运算放大器中的积分电容进行充电，使积分运算放大器的负相输入端的电压抬高，从而使积分运算放大器的输出端的电压从第一参考电压开始降低，直至积分运算放大器的输出端的电压小于第二参考电压时，比较器输出高电位信号，即第一电位信号。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测装置中，如图2所示，数据处理单元可以包括：处理器MCU：处理器MCU的输入端与检测输出单元30电连接，用于接收检测信号。

在具体实施时，处理器可以用于接收各检测线对应的检测信号，并根据接收的检测信号，确定各检测线对应的充电时间，以及根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各检测线对应的充电时间比值，并在对像素进行外部补偿时，根据各条检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各检测线对应的数据电压进行调整；以及在预设检测阶段中，控制电致发光显示面板中的各像素与对应的检测线断开。其中，具体地，在本发明实施例采用图1所示的像素电路时，驱动晶体管T1为N型晶体管，从而针对每一条检测线，在检测线对应的充电时间比值小于预设比值时，减小外部补偿得到的检测线对应的数据电压；在检测线对应的充电时间比值大于预设比值时，增加外部补偿得到的检测线对应的数据电压。在实际应用中，处理器可以是采用软件和硬件相结合的方式实现其功能的，并且处理器的结构可以与现有技术中的结构相同，在此不作限定。

下面结合图3所示的信号时序图，对图2所示的检测装置的具体工作过程进行说明。下面以“1”代表比较器输出的第一电位信号，“0”代表比较器输出的第二电位信号。并且，针对每一条检测线进行检测时，其检测过程均相同，具体可以分为复位阶段F0与充电检测阶段F1。下面以控制检测线SL_1～SL_2分时与电流源导通为例进行说明。

对检测线SL_1进行检测。其中在复位阶段F0，控制第一开关JP与各第二开关JS_n均断开，以使各检测线SL_n以及流源10与积分运算放大器OP断开。控制第三开关JQ导通，以使积分运算放大器OP进行复位，使积分运算放大器OP的输出端的电压为VREF1。由于VREF1>VREF2，因此比较器CO的输出端也进行复位，即输出具有“0”的第二电位信号的信号V₀，即低电位的信号V₀。

在充电检测阶段F1，仅控制第二开关JS_1与第一开关JP导通，其余第二开关以及第三开关JQ均断开，以使检测线SL_1与电流源10以及积分运算放大器OP均连通，使电流源10同时对检测线SL_1与积分运算放大器OP的积分电容Cf进行充电，积分运算放大器OP的负相输入端的电压抬高，从而使其输出端的电压V_{t_1}从VREF1开始降低。但是由于降低后的电压V_{t_1}>VREF2,比较器CO输出具有“0”的第二电位信号的检测信号V_{_1}，即低电位的检测信号V_{s_1}。直至在V_{t_1}<VREF2时，比较器CO输出具有“1”的第一电位信号的检测信号V_{s_1}，即高电位的检测信号V_{s_1}。并将该检测信号V_{s_1}提供给处理器MCU，以通过处理器MCU存储。

对检测线SL_2进行检测，其中在复位阶段F0，控制第一开关JP与各第二开关JS_n均断开，以使各检测线SL_n以及电流源10与积分运算放大器OP断开。控制第三开关JQ导通，以使积分运算放大器OP进行复位，使积分运算放大器OP的输出端的电压为VREF1。由于VREF1>VREF2，因此比较器CO的输出端也进行复位，即输出具有“0”的第二电位信号的信号V₀，即低电位的信号V₀。

在充电检测阶段F1，仅控制第二开关JS_2与第一开关JP导通，其余第二开关以及第三开关JQ均断开，以使检测线SL_2与电流源10以及积分运算放大器OP均连通，使电流源10同时对检测线SL_1与积分运算放大器OP的积分电容Cf进行充电，积分运算放大器OP的负相输入端的电压抬高，从而使其输出端的电压从VREF1开始降低。但是由于降低后的电压V_{t_2}>VREF2,比较器CO输出具有“0”的第二电位信号的检测信号V_{s_2}，即低电位的检测信号V_{s_2}。直至在V_{t_2}<VREF2时，比较器CO输出具有“1”的第一电位信号的检测信号V_{s_2}，即高电位的检测信号V_{s_2}。并将该检测信号V_{s_2}提供给处理器MCU，以通过处理器MCU存储。

因此可以看出，对检测线SL_2进行检测的过程与检测线SL_1的检测过程相同，其不同仅是由于检测线SL_2与检测线SL_1的寄生电容的电容值不同，导致其充入相同电压VREF1-VREF2的充电时间不同，进而导致得到的V_{s_2}不同。因此，对其余检测线SL_3～SL_N，可以参照上述过程，在此不作赘述。

处理器可以对接受的所有的检测信号V_{s_n}进行存储。由于各检测线SL_n对应的复位阶段F0的时长相同，因此可以通过各检测线SL_n在充电检测阶段F1中的检测信号V_{s_n}处于“0”的时长，确定检测线SL_n对应的充电时间T_{0_n}。由于充电时间T_{0_n}与检测线SL_n对应的寄生电容的电容值c_{SL_n}可以满足公式：I₀T_{0_n}＝(c_{SL_n}+c_f)V_{t_n}，I₀代表电流源10输出的电流，c_f代表积分运算放大器OP中的积分电容Cf的电容值。并且V_{t_n}＝VREF1-VREF2，电流源10输出的电流I₀相同，积分电容Cf的电容值c_f与检测线SL_n的寄生电容的电容值c_{SL_n}相比非常小，其影响可以忽略不计。因此可以得到：

即可以通过充电时间T_{0_n}来表征检测线SL_n的寄生电容的电容值。之后可以根据充电时间T_{0_n}与预设充电时间阈值T₀₀求其比例关系，即得到各检测线SL_n的充电时间比值

其中，通过对所有检测线SL_n的充电时间T_{0_n}求平均值的方式可以得到预设充电时间阈值T₀₀，即

其中，

检测线SL_n对应的充电时间比值

其中，

代表电致发光显示面板Panel中检测线的寄生电容的平均电容值。因此充电时间比值可以表征每一条检测线SL_n的寄生电容的电容值c_{SL_n}与平均电容值之间的关系。从而在检测线SL_n对应的充电时间比值

小于预设比值时，说明检测线SL_n对应的寄生电容的电容值小于平均电容值，从而在外部补偿时减小外部补偿得到的检测线对应的数据电压；在检测线SL_n对应的充电时间比值

大于预设比值时，说明检测线SL_n对应的寄生电容的电容值大于平均电容值，在外部补偿时增加外部补偿得到的检测线对应的数据电压。这样可以在通过外部补偿得到的数据电压的基础上，再通过各检测线对应的充电时间对通过外部补偿得到的数据电压进行调整，从而可以进一步提高显示的均一性。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种本发明实施例提供的上述任一种检测装置的检测方法，该检测方法可以包括：

在预设检测阶段中，控制电致发光显示面板中的各像素与对应的检测线断开；

控制电流源与各检测线分时导通，确定各检测线对应的检测信号；其中，针对一条检测线，检测控制单元仅控制检测线与电流源以及检测输出单元导通；检测输出单元在与检测线导通时，根据第一参考电压、第二参考电压以及检测线上的电压输出检测线对应的检测信号；检测输出单元在电流源与检测线断开时进行复位；

接收各检测线对应的检测信号，并根据接收的检测信号，确定各检测线对应的充电时间，并根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各检测线对应的充电时间比值；

在对有机发光显示面板中的像素进行外部补偿时，根据各检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各检测线对应的数据电压进行调整。

本发明实施例提供的检测方法，可以根据各条检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各检测线对应的数据电压进行调整，以提高外部补偿计算得到的数据电压的精确度，提高画面显示效果。

在具体实施时，在本发明实施例提供的检测方法中，像素电路中的驱动晶体管为N型晶体管，对外部补偿得到的各检测线对应的数据电压进行调整，具体可以包括：

针对每一条检测线，在检测线对应的充电时间比值小于预设比值时，减小外部补偿得到的检测线对应的数据电压；在检测线对应的充电时间比值大于预设比值时，增加外部补偿得到的检测线对应的数据电压。

在具体实施时，在本发明实施例提供的检测方法中，像素电路中的驱动晶体管为P型晶体管，对外部补偿得到的各检测线对应的数据电压进行调整，具体可以包括：

针对每一条检测线，在检测线对应的充电时间比值小于预设比值时，增加外部补偿得到的检测线对应的数据电压；在检测线对应的充电时间比值大于预设比值时，减小外部补偿得到的检测线对应的数据电压。

在具体实施时，对有机发光显示面板中的像素进行外部补偿的方式可以与现有技术中的相同，在此不作赘述。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括电致发光显示面板、以及本发明实施例提供的上述任一种检测装置。该显示装置解决问题的原理与前述检测装置相似，因此该显示装置的实施可以参见上述检测装置的实施例，重复之处不再赘述。

一般显示装置通过设置源极驱动芯片以输出数据电压信号。在具体实施时，在本发明实施例提供的显示装置中，还可以包括：源极驱动芯片；检测装置中的检测控制单元与检测输出单元设置于源极驱动芯片中。这样可以提高显示装置中的芯片的集成度。

在具体实施时，在本发明实施例提供的显示装置中，电致发光显示面板可以为有机发光显示面板或量子点发光显示面板，在此不作限定。

在具体实施时，本发明实施例提供的显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于该显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。

本发明实施例提供的检测装置及检测方法，包括：电流源、检测控制单元、检测输出单元，数据处理单元；其中，通过数据处理单元在预设检测阶段中，控制电致发光显示面板中的各像素与对应的检测线断开，以通过检测控制单元控制电流源与各检测线分时导通，以通过同一电流源分时对各检测线充电，并仅在一条检测线与电流源导通时，控制该检测线与检测输出单元导通，以使检测输出单元根据第一参考电压、第二参考电压以及导通的检测线上的电压，向数据处理单元输出与导通的检测线对应的检测信号。由于各检测线与电流源是分时导通的，因此检测输出单元与检测线也是分时导通的，这样可以将各检测线与电流源导通时得到的检测信号分时输出给数据处理单元。并且，在检测输出单元与导通的检测线断开时进行复位，以使得到的不同检测线对应的检测电压互不影响。数据处理单元根据各检测线对应的检测信号，确定各检测线对应的充电时间，以及根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各检测线对应的充电时间比值，从而在对像素进行外部补偿时，可以根据各条检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各检测线对应的数据电压进行调整，以提高外部补偿计算得到的数据电压的精确度，提高画面显示效果。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：电流源、检测控制单元、检测输出单元，数据处理单元；

所述检测控制单元用于在预设检测阶段中，控制所述电流源与电致发光显示面板中的各检测线分时导通；针对一条检测线，仅在所述检测线与所述电流源导通时，控制所述检测线与所述检测输出单元导通；

所述检测输出单元用于仅在与一条检测线导通时，根据第一参考电压、第二参考电压以及导通的所述检测线上的电压，向所述数据处理单元输出与导通的所述检测线对应的检测信号，以及在与导通的所述检测线断开时进行复位；其中，所述检测信号具有第一电位信号和第二电位信号；

所述数据处理单元用于接收各所述检测线对应的检测信号，并根据接收的检测信号，确定各所述检测线对应的充电时间，以及根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各所述检测线对应的充电时间比值，并在对有机发光显示面板中的像素进行外部补偿时，根据各所述检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整；以及在所述预设检测阶段中，控制所述电致发光显示面板中的各所述像素与对应的检测线断开；

各所述像素包括像素电路；

所述像素电路中的驱动晶体管为N型晶体管，所述数据处理单元具体用于针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；

所述像素电路中的驱动晶体管为P型晶体管，所述数据处理单元具体用于针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压。

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测控制单元包括：第一开关以及与各所述检测线一一对应的第二开关；

各所述第二开关的第一端分别与对应的检测线电连接，各所述第二开关的第二端均与所述第一开关的第一端以及所述电流源电连接；

所述第一开关的第二端与所述检测输出单元电连接。

3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测输出单元包括：积分运算放大器、比较器以及第三开关；

所述积分运算放大器的正相输入端用于接收所述第一参考电压，负相输入端分别与所述检测控制单元以及所述第三开关的第一端电连接，输出端分别与所述第三开关的第二端以及所述比较器的第一输入端电连接；

所述比较器的第二输入端用于接收所述第二参考电压，所述比较器的输出端与所述数据处理单元电连接，用于输出所述检测信号。

4.如权利要求1-3任一项所述的检测装置，其特征在于，所述数据处理单元包括：处理器：

所述处理器的输入端与所述检测输出单元电连接，用于接收所述检测信号。

5.一种显示装置，包括电致发光显示面板，其特征在于，还包括：如权利要求1-4任一项所述的检测装置。

6.如权利要求5所述的显示装置，其特征在于，所述显示装置还包括：源极驱动芯片；所述检测装置中的检测控制单元与检测输出单元设置于所述源极驱动芯片中。

7.一种如权利要求1-4任一项所述的检测装置的检测方法，其特征在于，包括：

在预设检测阶段中，控制所述电致发光显示面板中的各所述像素与对应的检测线断开；

控制电流源与各所述检测线分时导通，确定各所述检测线对应的检测信号；其中，针对一条检测线，所述检测控制单元仅控制所述检测线与所述电流源以及所述检测输出单元导通；所述检测输出单元在与所述检测线导通时，根据第一参考电压、第二参考电压以及所述检测线上的电压输出所述检测线对应的检测信号；所述检测输出单元在所述电流源与所述检测线断开时进行复位；

接收各所述检测线对应的检测信号，并根据接收的检测信号，确定各所述检测线对应的充电时间，并根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各所述检测线对应的充电时间比值；

在对所述有机发光显示面板中的像素进行外部补偿时，根据各所述检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整。

8.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述像素电路中的驱动晶体管为N型晶体管，所述对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整，具体包括：

针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压。

9.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述像素电路中的驱动晶体管为P型晶体管，所述对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整，具体包括：

针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压。

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