JP2011165995A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2011165995A5
JP2011165995A5 JP2010028521A JP2010028521A JP2011165995A5 JP 2011165995 A5 JP2011165995 A5 JP 2011165995A5 JP 2010028521 A JP2010028521 A JP 2010028521A JP 2010028521 A JP2010028521 A JP 2010028521A JP 2011165995 A5 JP2011165995 A5 JP 2011165995A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
card
probe
substrate
probe card
transport mechanism
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010028521A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011165995A (ja
JP5517344B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2010028521A priority Critical patent/JP5517344B2/ja
Priority claimed from JP2010028521A external-priority patent/JP5517344B2/ja
Priority to TW100104495A priority patent/TWI506287B/zh
Priority to KR1020110012135A priority patent/KR101272449B1/ko
Priority to CN201110038311.3A priority patent/CN102193059B/zh
Publication of JP2011165995A publication Critical patent/JP2011165995A/ja
Publication of JP2011165995A5 publication Critical patent/JP2011165995A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5517344B2 publication Critical patent/JP5517344B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

また、本発明の請求項6に記載のプローブカード搬送方法は、プローブ装置に用いられるテストヘッドを上記プローブ装置のインサートリングまで旋回させる旋回駆動機構側に設けられた第1のカード搬送機構にプローブカードを設置する工程と、上記第1のカード搬送機構のカード保持具が直進して上記プローブ装置内に設けられた第2のカード搬送機構まで上記プローブカードを搬送する工程と、
上記第2のカード搬送機構の複数の昇降機機構の支持体が上昇して上記プローブカードを支持する工程と、上記複数の昇降機構の内側に設けられた載置台が上記複数の昇降機構と同時に上昇して上記プローブカードを上記カード保持具から受け取る共に上記カード保持具が上記載置台から後退する工程と、上記載置台及び上記複数の昇降機構が同時に昇降して上記プローブカードを上記インサートリングまで搬送する工程と、を備えたことを特徴とするものである。
本実施形の搬送機構10は、図1の(a)、(b)に示すように、ヘッド旋回駆動機構57の駆動軸57Aの下方に形成されたプローブ装置50の基台58上に設けられている。この搬送機構10は、同図に示すように、プローバ室51の外側へ張り出した基台58とプローバ室51内との間でプローブカード56を搬送する第1のカード搬送機構11(図2参照)と、第1のカード搬送機構11とインサートリング54との間でプローブカード56を搬送する第2のカード搬送機構12(図3参照)と、を備え、制御装置の制御下でプローブカード56を搬送する。プローブカード56をインサートリング54へ取り付ける時には、第1のカード搬送機構11がプローブカード56をプローバ室51の外側から内部へ搬送し、第2のカード搬送機構12が第1のカード搬送機構11からプローブカード56を受け取ってインサートリング54のプローブカード56の装着部位まで搬送する。インサートリング54は、第2のカード搬送機構12によって搬送されたプローブカード56をクランプ機構によって固定する。プローブカード56をインサートリング54から取り外す時には搬送機構10はプローブカード56を装着する時とは逆方向にプローブカード56を搬送する
また、第1基板14Aには図2の(b)に示すようにカード保持具13の連結部材13Bを介してカード保持具13を検出する復帰センサ14Aが設けられ、復帰センサ14Aが第1基板13上に復帰するカード保持具13を検出するようにしてある。
また、第2基板14Bには図2の(b)に示すように第1基板14Aを検出する進出センサ14Bが設けられ、進出センサ14Bが第1基板14Aを検出しないことによってカード保持具13が第1基板14Aを介して搬送方向への進出を検出するようにしてある。
第2基板14Bは、図2の(a)に示すように、第3基板14C上に配置された第3直進駆動機構15Cを介して第3基板14C上でプローブカード56の搬送方向に直進するようにしてある。この第3直進駆動機構15Cは、第3基板14Cの内側の前後に配置された一対のローラ15Cと、一対のローラ15Cにそれぞれ掛け回された無端ベルト15Cと、無端ベルト15Cの両側に無端ベルト15Aと平方に配設された一対のガイドレール15Cと、を有し、一対のガイドレール15Cが第2基板14Bの下面に形成された溝と係合している。一対のローラ15Cは、第1直進駆動機構15Aのものと同様に駆動ローラと従動ローラによって構成されている。従って、第3直進駆動機構15Cが駆動して一対のローラ15Cを介して無端ベルト15Cが回転すると、第2基板14Bが第3基板14上で一対のガイドレール15Cに従って第2基板14からプローブカード56の搬送方向に直進するようになっている。
また、第2基板14Bには図2の(b)に示すように第2基板14Bを介して第1基板14Aにカード保持具13を検出する復帰センサ14 が設けられ、復帰センサ14 がカード保持具13第2基板14B上への復帰を検出するようにしてある。
第3基板14Cは、図2の(a)に示すように、第4基板14D上に配置された第4直進駆動機構15Dを介して第4基板14D上でプローブカード56の搬送方向に直進するようにしてある。この第4直進駆動機構15Dは、第2の直進駆動機構15Bと同様にシリンダ機構15Dと、シリンダ機構15Dの両側にシリンダ機構15Dと平行に配設された一対のガイドレール15Dと、を有し、一対のガイドレール15Dが第3基板14Cの下面に形成された溝と係合している。従って、第4直進駆動機構15Dのシリンダ機構15Dが駆動すると、第3基板14Cが第4基板1D上で一対のガイドレール15Dに従ってプローブカード56の搬送方向に直進するようになっている。
また、第4基板14Dには第3基板14Cの直進を検出する一対のセンサ15が搬送方向の前後にそれぞれ設けられ、前後のセンサ15が第3基板14を検出し第3基板14が第4基板14Dから搬送方向の前後への直進を検出するようにしてある。この第4基板14Dは、プローバ室51からヘッド旋回駆動機構57側に張り出した基台58上に固定されている。
第1、第2昇降機構16A、16Bの支持体16A、16Bの上面には、図3の(a)、(b)に示すようにカードホルダ55を支持する支持面16A、16Bと、各支持面16A、16Bより低い低位面16A、16Bがそれぞれ形成されている。各低位面16A、16Bには図3の(b)に示すようにカードホルダ55の下面に形成された凹部55Aに嵌入する位置決めピン16A、16Bがぞれぞれの支持面16、16Bに隣接して設けられている。これらの位置決めピン16A、16Bはそれぞれの支持面6A、16Bから上方に突出する高さで、カード保持具13の位置決めピン13Cに対応して形成されていてカードホルダ55の凹部55Aに嵌入し、プローブカード56をインサートリング54に装着できる向きに位置決めするようにしてある。また、 第1、第2昇降機構16A、16Bの位置決めピン16A、16Bは、図3の(b)に示すように初期位置では載置台52の載置面の高さと同一かそれ以下の高さに設定されている。
ところで、第1のカード搬送機構11は、使用しない時には第1、第2、第3、第4基板が垂直に積み重なり、カード保持具13が最上段の第1基板14A上に積み重なってヘッド旋回駆動機構57の駆動軸57Aの真下に収納され、プローバ室51の側面(側壁)に対向する。第1のカード搬送機構11が対向するプローバ室51の側壁51Aの上部には図4の(a)、(b)に示すように開口部51Bが形成されている。また、この側壁51Aには開口部51Bを開閉する開閉扉51Cが設けられている。この開閉扉51Cは、その内面の左右両側に設けられた一対のエアシリンダ等からなる開閉駆動機構51Dによって上下して開口部51Bを開閉するようにしてある。また、側壁51Aの内面には開閉扉51Cの下部に設けられた被検出部51Eを検出することによって開閉扉51Cの開閉を確認する開閉センサ51Fが設けられている。この開閉扉51Cは、第1のカード搬送機構11を使用しない時には開口部51Bを閉鎖してプローバ室51を外部から遮断する。
次に、図1〜図5を参照しながら本実施形態のプローブカードの搬送機構10を用いる本発明のプローブカードの搬送方法の一実施形態について説明する。プローブカード56をインサートリング54に装着する場合には、まず、制御装置の制御下で第1のカード搬送機構11の第3、第4直進駆動機構15C、15Dが同期して駆動し、第3基板14Cが第4基板14D上でプローバ室51の側壁51Aから離れる方向へ直進すると共に第2基板14Bが第3基板14C上で第3基板14Cと同一方向へ直進し、第4基板14D上のセンサ15が第3基板14Cの先端を検出すると、第3、第4直進駆動機構15C、15Dが停止し、第1のカード搬送機構11が図1の(a)、図2の(b)に示す状態になる。この時、第1、第2直進駆動機構15A、15Bは駆動しないため、カード保持具13及び第基板14Aが第基板14上に積み重なって収納された状態にある。この状態で図1の(a)に示すように位置決めピン13Cを基準にしてカード保持具13上にプローブカード56を載置する。このようにカード保持具13がプローバ室51の外側へ延びても、この場所がテストヘッドの旋回空間であるため、プローブ装置50の正面側の通路を阻害する虞がない。
プローブカード56をカード保持具13上に載置し、第3、第4直進駆動機構15C、15Dが逆方向に駆動してカード保持具13と第1、第2、第3基板14A、14B、14Cが元の位置に戻ると、センサ15が第3基板14Cを検出し一時的に上下に重なる。引き続きプローバ室51の側壁51Aの開閉扉51Cが開閉駆動機構51Dを介して開くと共に第1、第2直進駆動機構15A、15Bが駆動してカード保持具13及び第1基板14Aが開口部51Bを通ってプローバ室51内へ一定の距離だけ進出し、カード保持具13上のプローブカード56が第2のカード搬送機構12の載置台52の真上に達した時点で第1、第2直進駆動機構15A、15Bが停止する。
図5の(a)に示すようにプローブカード56が載置台52の真上に達すると、同図の(b)に示すように第1、第2、第3昇降機構16A、16B、16Cが駆動し、それぞれの支持体16A、16B、16Cの支持面16A、16B 、16C が載置台52の載置面を越えて上昇する。各支持体16A、16B、16Cが上昇端に達してもそれぞれの位置決めピン16A、16Bはカードホルダ55に達しない。その後は、載置台52の昇降駆動機構が駆動し、載置台52が各昇降機構16A、16B、16Cと同時に上昇し、同図の(c)に示すように第1、第2昇降機構16A、16Bの位置決めピン16A、16Bがそれぞれカードホルダ55の凹部55Aに嵌入すると共に各支持体16A、16B、16Cの支持面16A、16B 、16C がカードホルダ55の下面と接触してプローブカード56を安定した状態で支持する。更に、載置台52が各昇降機構16A、16B、16Cと一体的に上昇すると、同図の(d)に示すように各昇降機構16A、16B、16Cで支持されたプローブカード56がカード保持具13から浮上し、カード保持具13から第2のカード搬送機構12へのプローブカード56の引渡しを終了する。この時、第1のカード搬送機構11が駆動しカード保持具13及び第1基板14Aが後退し、初期位置へ戻ると同時に開閉扉51Cが開口部51Bを閉じてプローバ室51内を外部から遮断する。
その後も載置台52が各昇降機構16A、16B、16Cと一体的に同時に上昇すると、プローブカード56がインサートリング54内に進入する。この状態でインサートリング54ではクランプ機構が作動してプローブカード56をインサートリング54に固定してプローブカード56の装着を終了すると共に載置台52及び各昇降機構16A、16B、16Cが下降し、それぞれ初期位置に戻る。この際、インサートリング54にプローブカード56が装着されずに第2のカード搬送機構12に残っていると、カードセンサ13Dによってそのことを確認することができる。
また、本実施形態によれば、第1のカード搬送機構11は、積層された第1、第2、第3、第4基板14A、14B、14C、14Dと、各基板を直進させる第1、第2、第3、第4直進駆動機構15A、15B、15C、15Dと、を有し、カード保持具13が第1基板14A上に設けられ、各直進駆動機構を介して直進するため、プローブカードの搬送機構10を小型化することができると共にプローブカード56の搬送作業を自動化することができる。
また、本実施形態によれば、第1のカード搬送機構11及び第1、第2昇降機構16A、16Bは、それぞれプローブカード56を検出するセンサ13、16A、16Bを有するため、第1、第2のカード搬送機構11、12においてプローブカード56を確実に検出することができ、プローブカード56の搬送漏れを確実に防止することができる。また、第1、第2昇降機構16A、16Bは、プローブカード56の位置決めピン16A、16Bを有するため、インサートリング54に対するプローブカード56の位置決めを確実に行うことができ、プローブカード56の着脱ミスを確実に防止することができる。

Claims (1)

  1. プローブ装置に用いられるテストヘッドを上記プローブ装置のインサートリングまで旋回させる旋回駆動機構側に設けられた第1のカード搬送機構にプローブカードを設置する工程と、
    上記第1のカード搬送機構のカード保持具が直進して上記プローブ装置内に設けられた第2のカード搬送機構まで上記プローブカードを搬送する工程と、
    上記第2のカード搬送機構の複数の昇降機機構の支持体が上昇して上記プローブカードを支持する工程と、
    上記複数の昇降機構の内側に設けられた載置台が上記複数の昇降機構と同時に上昇して上記プローブカードを上記カード保持具から受け取る共に上記カード保持具が上記載置台から後退する工程と、
    上記載置台及び上記複数の昇降機構が同時に昇降して上記プローブカードを上記インサートリングまで搬送する工程と、を備えた
    ことを特徴とするプローブカードの搬送方法。
JP2010028521A 2010-02-12 2010-02-12 プローブカードの搬送機構、プローブカードの搬送方法及びプローブ装置 Active JP5517344B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010028521A JP5517344B2 (ja) 2010-02-12 2010-02-12 プローブカードの搬送機構、プローブカードの搬送方法及びプローブ装置
TW100104495A TWI506287B (zh) 2010-02-12 2011-02-11 A probe card conveying mechanism, a probe card conveying method and a probe device
KR1020110012135A KR101272449B1 (ko) 2010-02-12 2011-02-11 프로브 카드의 반송 기구, 프로브 카드의 반송 방법 및 프로브 장치
CN201110038311.3A CN102193059B (zh) 2010-02-12 2011-02-12 探针卡的输送机构、探针卡的输送方法和探针装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010028521A JP5517344B2 (ja) 2010-02-12 2010-02-12 プローブカードの搬送機構、プローブカードの搬送方法及びプローブ装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2011165995A JP2011165995A (ja) 2011-08-25
JP2011165995A5 true JP2011165995A5 (ja) 2013-03-14
JP5517344B2 JP5517344B2 (ja) 2014-06-11

Family

ID=44596307

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010028521A Active JP5517344B2 (ja) 2010-02-12 2010-02-12 プローブカードの搬送機構、プローブカードの搬送方法及びプローブ装置

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP5517344B2 (ja)
KR (1) KR101272449B1 (ja)
CN (1) CN102193059B (ja)
TW (1) TWI506287B (ja)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102507996B (zh) * 2011-09-27 2014-02-26 沈玉良 探针卡升降机构
JP5970218B2 (ja) * 2012-03-26 2016-08-17 東京エレクトロン株式会社 プローブ装置
JP6054150B2 (ja) 2012-11-22 2016-12-27 日本電子材料株式会社 プローブカードケース及びプローブカードの搬送方法
KR101503143B1 (ko) * 2013-01-31 2015-03-18 세메스 주식회사 프로브 카드의 반송 방법
JP6220596B2 (ja) * 2013-08-01 2017-10-25 東京エレクトロン株式会社 プローバ
JP6271257B2 (ja) * 2014-01-08 2018-01-31 東京エレクトロン株式会社 基板検査装置及びプローブカード搬送方法
KR102335827B1 (ko) 2014-12-24 2021-12-08 삼성전자주식회사 프로브 카드 로딩 장치, 그를 포함하는 프로브 카드 관리 시스템
JP6523838B2 (ja) * 2015-07-15 2019-06-05 東京エレクトロン株式会社 プローブカード搬送装置、プローブカード搬送方法及びプローブ装置
CN106873195B (zh) * 2015-12-11 2020-10-30 De&T株式会社 探针单元更换装置
JP6861580B2 (ja) * 2017-06-05 2021-04-21 東京エレクトロン株式会社 検査装置および検査システム
JP7186647B2 (ja) * 2019-03-22 2022-12-09 東京エレクトロン株式会社 搬送装置
KR102480726B1 (ko) * 2020-12-31 2022-12-26 주식회사 쎄믹스 프로브 카드 체인저가 구비된 프로버 시스템

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01161173A (ja) * 1987-12-16 1989-06-23 Tokyo Electron Ltd プローブ装置のプローブカード自動交換方法
JP2575074B2 (ja) * 1991-08-13 1997-01-22 東京エレクトロン株式会社 ウエハプローバ
JP2606554Y2 (ja) * 1992-01-17 2000-11-27 株式会社東京精密 プロービング装置
JPH10308424A (ja) * 1997-05-08 1998-11-17 Tokyo Electron Ltd プローブカードクランプ機構及びプローブ装置
JP4104099B2 (ja) * 1999-07-09 2008-06-18 東京エレクトロン株式会社 プローブカード搬送機構
JP4798595B2 (ja) * 2001-08-07 2011-10-19 東京エレクトロン株式会社 プローブカード搬送装置及びプローブカード搬送方法
JP4123408B2 (ja) * 2001-12-13 2008-07-23 東京エレクトロン株式会社 プローブカード交換装置
JP4875332B2 (ja) * 2005-09-21 2012-02-15 東京エレクトロン株式会社 プローブカード移載補助装置及び検査設備
WO2007074509A1 (ja) * 2005-12-27 2007-07-05 Advantest Corporation Tcpハンドリング装置およびtcpハンドリング装置における接続端子の位置合わせ方法
US20080016676A1 (en) * 2006-07-18 2008-01-24 Jones Robert M Automatic winder for an inside brushless stator
KR100847577B1 (ko) * 2006-12-27 2008-07-21 세크론 주식회사 프로빙 검사장치
JP5049419B2 (ja) * 2007-07-25 2012-10-17 東京エレクトロン株式会社 プローブカード用台車及びこの台車を用いるプローブカードの取り扱い方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2011165995A5 (ja)
KR101272449B1 (ko) 프로브 카드의 반송 기구, 프로브 카드의 반송 방법 및 프로브 장치
US8814490B2 (en) Article storage facility
KR101559352B1 (ko) 타이어 이송기
JP4387416B2 (ja) 加工テーブル
CN107534009B (zh) 衬底搬送机器人及衬底检测方法
TW201447522A (zh) 搬送系統
JP4166813B2 (ja) 検査装置及び検査方法
JP5269328B2 (ja) インライン自動検査装置及びインライン自動検査システム
JP6341760B2 (ja) 検出装置、検出方法、基板搬送装置、基板処理装置
KR20110013713A (ko) 팔레트 수하물 센터링 머신
JP2009059930A (ja) オープンカセットロードポート
CN110497131B (zh) 一种激光拼焊机的预定位平台
KR101991419B1 (ko) 프로파일용 호차 자동 장착장치
JP2014184998A (ja) 板状被搬送物の受渡方法、受渡装置およびパターン形成装置
KR100934761B1 (ko) 평판표시소자 제조장치
KR101705858B1 (ko) 프로브 장치 및 웨이퍼 반송 유닛
KR20120128215A (ko) 트레이 물류시스템
KR20120119269A (ko) 기판 이송 장치 및 기판 이송 방법
JP4976811B2 (ja) 基板処理システム、基板搬送装置、基板搬送方法、および記録媒体
JP5295702B2 (ja) 冊子供給装置
KR100473872B1 (ko) 아이씨소자용 실드의 포장장치
KR100719914B1 (ko) 완성타이어 규격인식 검사장치
CN210155265U (zh) 一种带升降机的双层fct自动测机
TWI493644B (zh) Built-in adjustment unit type loading room