JP4875332B2 - プローブカード移載補助装置及び検査設備 - Google Patents

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Description

本発明は、プローブカードを用いてウエハ等の被検査体の電気的特性検査を行う検査装置を複数備えた検査設備に関し、更に詳しくは、検査設備内で検査装置と搬送台車との間でプローブカードの移載作業を補助するプローブカード移載補助装置及び検査設備に関するものである。
この種の検査装置は、例えば図7に示すように、被検査体(例えば、ウエハ)Wを搬送するローダ室1と、ローダ室1に隣接し且つローダ室1から受け取ったウエハWの電気的特性検査を行うプローバ室2と、を備えて構成されている。プローバ室2は、同図に示すように、X、Y、Z及びθ方向に移動可能に配設され且つウエハを載置する載置台(ウエハチャック)3と、このウエハチャック3の上方に配置されたカードホルダ付きプローブカード4と、プローブカード4を保持するクランプ機構5と、を備えている。プローバ室2内ではウエハチャック3がX、Y、Z及びθ方向に移動する間にアライメント機構6を介してウエハWとプローブカード4のプローブピン4Aとのアライメントを行った後、ウエハWのインデックス送りを行いながらウエハの電気的特性検査を実行する。尚、アライメント機構6は、上カメラ6A及び下カメラ6Bを有している。Tはテストヘッドである。
而して、プローブカード4をプローバ室2内のクランプ機構5に着脱する場合には、例えば本出願人が特開2001−24039号において提案したカード搬送装置が用いられる。このカード搬送装置は、図8に示すように、ウエハチャック3と、このウエハチャック3との間でプローブカード4を受け渡す受け渡し機構7とを備えている。受け渡し機構7は、図8に示すように、カードホルダ付きプローブカード4を着脱自在に保持するアダプタ8と、このアダプタ8を着脱自在に保持するように先端部が二股に分かれたフォーク状のアーム9と、このアーム9を矢印A方向に押し込んでプローブカード4を受け渡し位置まで移動案内する一対のガイドレール10と、これらのガイドレール10が固定されたアーム支持体11とを備え、アーム9とウエハチャック3に装着されたアダプタ支持体12との間でプローブカード4を搭載したアダプタ8の受け渡しを行なう。
そして、カード搬送装置を用いてプローブカード4をクランプ機構5に装着する場合には、オペレータ等が受け渡し機構7上にプローブカード4を設置した後、カード搬送装置を介してクランプ機構5の真下まで搬送し、この位置からウエハチャック3を上昇させた後、クランプ機構5でプローブカード4を検査装置本体側に固定する。尚、図8において、13は受け渡す受け渡し機構7を矢印Bと反対方向に折り畳んで収納する収納部である。
ところで、プローブカード4をカード搬送装置に設置する場合には、オペレータが所定の収納棚から検査装置までプローブカード4を運んで設置するか、オペレータが搬送台車等を用いて収納棚から検査装置まで運び、搬送台車からカード搬送装置に移載して設置するなどしている。
しかしながら、近年のプローブカード4の大型化に伴って、その重量が15〜25Kgと大重量化しているため、例えばオペレータ等がプローブカード4を搬送台車から持ち上げてカード搬送装置に移載して設置するには大きな力を必要とする上に、プローブカード4を持ち上げる際に掴む部分が制限され、取り扱いに慎重を要するため、オペレータに過度の負担がかかるという課題があった。
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、大重量化したプローブカードであってもオペレータの負担を軽減し、円滑にプローブカードを移載することができるプローブカード移載補助装置及び検査設備を提供することを目的としている。
本発明の請求項1に記載のプローブカード移載補助装置は、電気的検査を行う検査装置と上記検査装置に用いられるプローブカードを搬送する搬送手段との間で行われる上記プローブカードの移載作業を補助するプローブカード移載補助装置であって、上記プローブカードを保持する保持部と、上記保持部が先端部に取り付けられたアームと、上記アームを支持する旋回自在な支持体と、上記支持体を介して上記プローブカードをその重量に即して昇降させる昇降駆動装置と、を備え、上記昇降駆動装置は、上記アームを昇降させるシリンダ機構と、上記シリンダ機構に駆動流体を供給する流路を開閉するバルブと、上記駆動流体の圧力を制御するレギュレータと、上記レギュレータに対して上記プローブカードの重量を予め入力する入力端子と、上記駆動流体の圧力を検出する圧力センサと、上記プローブカードの有無を検出するカード検出センサと、を有することを特徴とするものである。
また、本発明の請求項2に記載のプローブカード移載補助装置は、請求項1に記載の発明において、上記保持部は、回転操作により上記プローブカードと連結可能な連結部材を有することを特徴とするものである。
また、本発明の請求項3に記載のプローブカード移載補助装置は、請求項1または請求項2に記載の発明において、上記アームは、上記支持体の上端部から水平方向に張り出して伸縮可能に構成されていると共に、上記支持体の上端部を基点に上記支持体側へ折り畳み可能に構成されていることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項4に記載のプローブカード移載補助装置は、請求項2または請求項3に記載の発明において、上記保持部は、上記連結部材の回転終端位置を確認するセンサを有することを特徴とすることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項5に記載のプローブカード移載補助装置は、請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の発明において、上記検査装置と上記検査装置に用いられるプローブカードを搬送する上記搬送手段との間で上記プローブカードの移載作業を補助する際に、上記検査装置と上記搬送手段の間に介在することを特徴とするものである。
また、本発明の請求項6に記載の検査設備は、電気的検査を行う検査装置と、上記検査装置と上記検査装置に用いられるプローブカードを搬送する搬送手段との間で行われる上記プローブカードの移載作業を補助するプローブカード移載補助装置と、を備え、上記プローブカード移載補助装置は、上記プローブカードを保持する保持部と、上記保持部が先端部に取り付けられたアームと、上記アームを支持する旋回自在な支持体と、上記支持体を介して上記プローブカードをその重量に即して昇降させる昇降駆動装置と、を備え、上記昇降駆動装置は、上記アームを昇降させるシリンダ機構と、上記シリンダ機構に駆動流体を供給する流路を開閉するバルブと、上記駆動流体の圧力を制御するレギュレータと、上記レギュレータに対して上記プローブカードの重量を予め入力する入力端子と、上記駆動流体の圧力を検出する圧力センサと、上記プローブカードの有無を検出するカード検出センサと、を有することを特徴とするものである。
また、本発明の請求項7に記載の検査設備は、請求項6に記載の発明において、上記保持部は、回転操作により上記プローブカードと連結な連結部材を有することを特徴とするものである。
本発明の請求項8に記載の検査設備は、請求項6または請求項7に記載の発明において、上記アームは、上記支持体の上端部から水平方向に張り出して伸縮可能に構成されていると共に、上記支持体の上端部を基点に上記支持体側へ折り畳み可能に構成されていることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項9に記載の検査設備は、請求項7または請求項8に記載の発明において、上記保持部は、上記連結部材の回転終端位置を確認するセンサを有することを特徴とするものである。
また、本発明の請求項10に記載の検査設備は、請求項6請求項9のいずれか1項に記載の発明において、上記検査装置と上記検査装置に用いられるプローブカードを搬送する上記搬送手段との間で上記プローブカードの移載作業を補助する際に、上記検査装置と上記搬送手段の間に介在することを特徴とするものである。
本発明によれば、重量化したプローブカードであっても、プローブカードの搬送手段と検査装置との間でのオペレータのプローブカードの移載作業の負担を軽減することができるプローブカード移載補助装置及び検査設備を提供することができる。
以下、図1〜図6に示す実施形態に基づいて本発明を説明する。尚、図1は本発明の検査設備の一実施形態を示す平面図、図2の(a)、(b)はそれぞれ図1に示す検査設備においてプローブカード移載補助装置を用いてプローブカードを移載する状態を示す斜視図、図3の(a)、(b)はそれぞれ図1に示す検査設備に適用されたプローブカード移載補助装置を示す斜視図で、(a)はその全体図、(b)はアームの先端部を示す図、図4の(a)、(b)はそれぞれ図3に示すプローブカード移載補助装置を示す斜視図で、(a)はアームを縮めた状態を示す全体図、(b)はアームを折り畳んだ状態を示す全体図、図5の(a)、(b)はそれぞれ図3に示すプローブカード移載補助装置で移載されるプローブカードを示す斜視図で、(a)はその上方からの全体図、(b)はその下方からの全体図、図6は図2に示すプローブカード移載補助装置の昇降駆動装置の構成を示すブロック図である。
本実施形態の検査設備50は、例えば図1に示すように、被検査体(例えば、ウエハ)(図示せず)の電気的特性検査を行うためのプローブカード51を有する検査装置52と、この検査装置52が複数配置された通路53に従ってプローブカード51を搬送する搬送台車54と、この搬送台車54と各検査装置52の装置本体52Aに設けられたカード搬送装置52Bとの間においてプローブカード51の移載作業を補助するプローブカード移載補助装置55と、を備えて構成されている。検査装置52は、同図では回転駆動機構52Cを介してテストヘッドTが通路53側へ旋回された状態で示されている。プローブカード51は、収納棚(図示せず)に保管され、プローブカード51を交換する時などに搬送台車54を用いて収納棚と複数の検査装置52との間を搬送される。尚、図1では1台の検査装置52のみを図示してある。
しかしながら、上記プローブカード51は、ウエハの大口径化やICチップの超高集積化等に伴って大型化、大重量化しているため、オペレータが持ち運ぶことは勿論のこと、検査装置52のカード搬送装置52Bと搬送台車54との間で移載作業を行うには大きな負担がかかる。そこで、本実施形態では、オペレータがプローブカード51を運ぶ場合には搬送台車54を使用し、検査装置5のカード搬送装置52B2と搬送台車54との間でプローブカード51の移載作業を行う場合にはプローブカード移載補助装置55を使用して、オペレータの負担を軽減させている。オペレータがプローブカード移載補助装置55を使用する場合には、プローブカード移載補助装置55の保持具でカード搬送装置52B上または搬送台車54上のプローブカード51を保持させ、保持を解除する作業を行うだけで実質的な力仕事を格段に軽減することができる。オペレータがプローブカード移載補助装置55を操作してプローブカード51を移載する場合には、図2の(a)、(b)に示すように搬送台車54と検査装置52のカード搬送装置52Bとの間でプローブカード51を移載する。尚、搬送台車54は、複数枚のプローブカード51を収納するように複数段に渡って引き出し可能に設けられた棚を有し、これらの棚にトレイに収納されたプローブカード51を収納するようにしてある。
而して、上記プローブカード移載補助装置55は、図3の(a)に示すように、プローブカード51を保持する保持具551と、この保持具551が先端部に取り付けられた伸縮可能なアーム552と、このアーム552を支持する旋回可能な支持体553と、この支持体553を介してプローブカード51を重量区分して昇降させる昇降駆動装置554を構成するエアシリンダ554Aと、を備え、検査装置52の側方に付設されている。
上記アーム552は、図3の(a)及び図4の(a)に示すように、第1アーム552Aと、第1アーム552Aに対して摺動自在に取り付けられた第2アーム552Bと、を有し、第2アーム552Bが第1アーム552Aに対して前後に移動して伸縮するように構成されている。アーム552の長さは、第2アーム552Bが第1アーム552Aを摺動しないように調整部材552Dを用いて第1アーム552Aに固定し適宜設定できるようにしてある。このアーム552は、各図に示すように第1アーム552Aの基端部が支持体553の上端部に固定された連結具555にピン結合され、最も縮んだ状態で図4の(b)に示すように支持体553側へ折り畳み可能に構成されている。アーム552の基端部には第1ピン552Cが取り付けられ、支持体553の上下方向中ほどにはピンを有するブラケット556が取り付けられている。そして、第1ピン552Cとブラケット556のピンにはリンク557の両端部が連結されている。従って、アーム552はリンク557を介して水平方向まで起こせるようになっている。リンク557のアーム552側の端部には第2ピン557Aが取り付けられ、また、支持体553側の連結具555の側面には引っ掛け部材558が取り付けられ、この引っ掛け部材558を第2ピン557Aに引っ掛けてリンク557がブラケット556のピンから外れないようにしてある。
上記支持体553及びエアシリンダ554Aは、図3の(a)に示すように、いずれも基台559の先端部に回転自在に取り付けられた回転体560に連結され、回転体560と一体的に回転して基台559の側方で旋回するように構成されている。支持体553の基台559側の垂直端面にはガイド部材561が略全長に渡って取り付けられ、このガイド部材561が基台559側の回転体560に対して垂直方向に取り付けられたガイドレール562(図4の(a)参照)に沿って摺動自在に結合している。また、エアシリンダ554Aは、シリンダの下端が回転体560から垂下する支柱563の下端に連結され、シリンダロッドの上端が支持体553の上端部に連結されている。従って、支持体553は、エアシリンダ554Aが駆動することでガイドレール562に従って昇降する。
また、上記保持具551は、図3の(b)に示すように、第2アーム552Bの先端から垂下するように装着された回転軸551Aと、回転軸551Aの中ほど及びその下方にそれぞれ取り付けられた円形部材551B及び三角部材551Cと、回転軸551Aの下端に取り付けられたプローブカード51との連結部材551Dと、回転軸551Aから径方向に延設された操作ハンドル551Eと、操作ハンドル551Eをロックするロック部材551Fと、を有し、操作ハンドル551Eによって連結部材551Dを回転操作して、保持具551とプローブカード51とを保持し、ロック部材551Fによって操作ハンドル551Eを保持位置にロックするようにしてある。また、操作ハンドル551Eはロックされた状態で、アーム552を旋回操作することができるようにしてある。連結部材551Dは、円板の周面から周方向へ互いに180°離間して位置で水平方向に延設された張り出し部を有し、この張り出し部がプローブカード51側に形成された溝内に入り込んでプローブカード51を保持する機能を有している。
また、上記三角部材551C内にはプローブカード51を例えば光学的に検出する後述のカード検出センサ554Gが設けられている。また、図3の(b)に示すように上記三角部材551Cの上面には操作ハンドル551Eをプローブカードを保持する側に操作した時に、操作ハンドル551Eの位置を例えば静電容量で検出する保持位置検出センサ554Hが設けられている。操作ハンドル551Eには操作スイッチ554Iが設けられ、操作ハンドル551Eを掴むと操作スイッチ554Iが入り、操作ハンドル551Eを放すと操作スイッチ554Iが切れるようにしてある。これらのカード検出センサ554G、保持位置検出センサ554H及び操作スイッチ554Iは、後述するように昇降駆動装置554の一部を構成している。
上記プローブカード移載補助装置55で取り扱うプローブカード51は、例えば図5の(a)、(b)に示すように構成されている。即ち、プローブカード51は、同図に示すように、例えば回路基板からなるカード本体51Aと、カード本体51Aの上面に取り付けられた補強部材51Bと、カード本体51Aの下面中央部に取り付けられた複数のプローブピンを有するコンタクタ51Cと、を有している。補強部材51Bは、カード本体51Aの中央部に形成された矩形部51Dと、矩形部51Dからカード本体51Aの外周まで放射状に伸びる放射状部51Eと、放射状部51Eの径方向中ほどに形成されたリング状部51Fとからなっている。矩形部51Dの上面左右にはそれぞれ取付部材51Gを介して一対の取っ手51Hが取り付けられている。
左右の取付部材51Gの対向面には保持具551の連結部材551Dに形成された張り出し部が入り込む溝51Iが形成されている。従って、連結部材551Dを一対の張り出し部が左右の取付部材51Gの間に来るように合わせ、保持具551の操作ハンドル551Eを操作すると一対の張り出し部が左右の溝51J内に入り込み、保持具551でプローブカード51を保持することができる。
ところで、上記昇降駆動装置554は、例えば図6に示すように、エアシリンダ554Aと、エアシリンダ554Aに駆動流体(圧縮空気)を供給する配管554Bを開閉する電磁バルブ(例えば3ポートバルブ)554Cと、圧縮空気の圧力をプローブカード51の重量に即して制御する電空レギュレータ554Dと、電空レギュレータ554Dに対してプローブカード51の重量に見合った圧縮空気の圧力値を予め選択して入力する入力端子554Eと、圧縮空気の圧力を検出する圧力センサ554Fと、を有し、入力端子554Eからの入力値に基づいて電磁バルブ554Cと電空レギュレータ554Dが協働してエアシリンダ554Aを駆動制御する。更に、昇降駆動装置554は、プローブカード51の有無を検出するカード検出センサ554Gと、操作ハンドル551Eがプローブカード51を保持する保持位置に移動したことを検出する保持位置検出センサ554Hと、操作ハンドル551Eを掴んで操作する時に機能する操作スイッチ554Iと、を有し、後述するように、カード検出センサ554Gと保持位置検出センサ554Hと圧力センサ554Fと操作スイッチ554Iが連携して電磁バルブ554Cと電空レギュレータ554Dとを開閉制御するようにしてある。
即ち、上記カード検出センサ554G、保持位置検出センサ554H、圧力センサ554F及び操作スイッチ554Iは、それぞれ制御部554Jを介して入力端子554Eに対して電気的に接続され、カード検出センサ554G、保持位置検出センサ554H、圧力センサ554F及び操作スイッチ554Iが全てオン状態になったときにのみ、制御部554Jを介して入力端子554Eの入力値に基づいて電空レギュレータ554Dが作動すると共に電磁バルブ554Cが開状態になる。
更に云えば、カード検出センサ554G、保持位置検出センサ554H、圧力センサ554F及び操作スイッチ554Iが全てオンの時には、制御部554Jを介して電磁バルブ554Cを開いて電空レギュレータ554Dの制御下でエアシリンダ554Aに圧縮空気を供給する。また、カード検出センサ554G、保持位置検出センサ554H、圧力センサ554F及び操作スイッチ554Iのいずれか一つでもオフの時には制御部554Jを介して電磁バルブ554Cを閉じて、圧縮空気をエアシリンダ554A内に封止し、エアシリンダ554Aの動作を止めてアーム552を下降途中で停止させる。例えば、プローブカード51の重量が入力端子554Eの入力重量より大きい時には、操作ハンドル551Eを掴んでアーム552を旋回させる時に、エアシリンダ554Aの押上げ力が不足し、アーム552が自重で下降し始める。この時、それに気付かないオペレータの手から操作ハンドル551Eが離れると、操作スイッチ554Iがオフになって電磁バルブ554Cを閉じ、それまでエアシリンダ554Aに供給された圧縮空気がエアシリンダ554A内に封止される。これによって、アーム552がプローブカード51の自重で下降して、圧縮空気の働きでアーム552は途中で停止し、プローブカード51の落下を防止することができる。また、入力端子554Eにプローブカード51の重量を過小に設定した場合にも、操作ハンドル551Eがオペレータの手を離れ、上述した場合と同様にエアシリンダ554Aの急激な上昇を停止させる。尚、図6において、554Kはミストセパレータである。
次に、動作について説明する。検査設備50において、オペレータが検査装置52のプローブカード51を装着しあるいは交換する時には、収納棚からプローブカード51を取り出し、搬送台車54にプローブカード51をトレイと一緒に必要枚数収納する。そして、図1及び図2の(a)、(b)に示すように搬送台車54を目的の検査装置52まで移動させる。
オペレータは、棚の上にトレイと一緒に収納されたプローブカード51を棚に載せた状態で搬送台車54から引き出し、搬送台車54の上面に載せる。プローブカード51のみをプローブカード移載補助装置55を使用して検査装置52に移載する。プローブカード移載補助装置55を使用する場合には、昇降駆動装置554の入力端子554Eを介してプローブカード51の重量を予め設定する。そして、アーム552を起こし、リンク557を用いてアーム552を水平状態にする。この状態で操作ハンドル551Eを操作してアーム552をプローブカード51の真上まで旋回させ、保持具551をプローブカード51の中央に合わせる。
そこで、操作ハンドル551Eをプローブカード51に向けて押し下げて保持具551の連結部材551Dをプローブカード51の中心部に着地させた後、操作ハンドル551Eを回転操作して連結部材551Dの張り出し部をプローブカード51の取付部材51Gに形成された溝51I内に入れ込んだ後、ロック部材551Fを操作して操作ハンドル551Eを固定する。この時、カード検出センサ554Gがプローブカード51を検出すると共に、保持位置検出センサ554Hで操作ハンドル551Eがプローブカード保持位置にあることを検出する。そしてこの時、オペレータが操作ハンドル551Eを掴んでいると操作スイッチ554Iはオンとなる一方、圧力センサ554Fは正常な圧縮空気の圧力を検出してオンとなっているため、電磁バルブ554Cは開状態となり電空レギュレータ554Dの制御下でエアシリンダ554A内にプローブカード51の入力重量に基づいた所定の圧力の圧縮空気が供給される。これによりアーム552がプローブカード51を搬送台車54の棚から持ち上げる方向に補助力が付与される。この状態でオペレータは操作ハンドル551Eを介してプローブカード51を搬送台車54の棚から持ち上げ、更にアーム552を検査装置52側へ旋回させ、プローブカード51を検査装置52のカード搬送装置52Bの真上まで搬送する。
カード搬送装置52Bの真上で操作ハンドル551Eを押し下げ、プローブカード51をカード搬送装置52B上に着地させた後、保持具551のロック部材551Fを解除し、操作ハンドル551Eを回転させて連結部材551Dの張り出し部を溝51Iから外し、保持具551からプローブカード51を開放し、プローブカード51の移載作業を終了する。
しかし、万一、プローブカード51の重量を、例えば実際の重量よりも軽いものとして誤って入力端子554Eに入力し、操作ハンドル551Eを掴んで操作スイッチ554Iがオンになってエアシリンダ554Aが電空レギュレータ554Dの制御下で作動すると、アーム552を旋回させる際にアーム552がプローブカード51の過大重量で降下し、操作ハンドル551Eがオペレータの手から離れることがある。この場合には、操作スイッチ554Iが自動的にオフになって電磁バルブ554Cを閉じて、エアシリンダ554A内にそれまで供給された圧縮空気を封止する。これによってアーム552は多少下降しても、その間のエアシリンダ554A内の圧縮空気の昇圧によって途中でアーム552の降下が止まり、プローブカード51が搬送台車54等に衝突することもなく、プローブカード51を損傷から防止することができる。
また、検査装置52から搬送台車54へプローブカード51を移載する場合にも上述した手順でプローブカード移載補助装置55を使用することで、プローブカード51を円滑に移載することができる。
以上説明したように本実施形態によれば、ウエハの電気的特性検査を行うためのプローブカード51を有する検査装置52(図1では1台のみ図示してある)と、この検査装置52が複数配置された通路53に従ってプローブカード51を搬送する搬送台車54と、この搬送台車54と各検査装置52の装置本体52Aに設けられたカード搬送装置52Bとの間においてプローブカード51の移載作業を補助するプローブカード移載補助装置55と、を備えた検査設備50であって、プローブカード移載補助装置55は、プローブカード51を保持する保持具551と、この保持具551が先端部に取り付けられた伸縮可能なアーム552と、このアーム552を支持する旋回自在な支持体553と、この支持体553を介してプローブカード51を重量区分して昇降させる昇降駆動装置554と、を備えているため、プローブカード51を保持具551で保持し、昇降駆動装置554でアーム552を搬送台車54または検査装置52のカード搬送装置52Bから持ち上げ、アーム552を旋回させるだけで、プローブカード51を搬送台車54と検査装置52のカード搬送装置52Bとの間で容易に移載することができ、オペレータの負荷を格段に軽減することができる。また、アーム552は、旋回して保持具551で保持されたプローブカード51を移動させるため、アーム552の基端を中心とする移動範囲を最小限に抑えることができる。従って、検査設備50の省スペース化のため複数の検査装置52が密集し、隣り合う検査装置52間の間隔が狭くてこの隙間に搬送台車54を配置できなくても、通路53に配置した搬送台車54から検査装置52側へのアーム552の旋回領域を確保することができると共にオペレータの入るスペースを確保することができる。
また、本実施形態によれば、保持具551は、操作ハンドル551Eの回転操作によりプローブカード51と連結可能な連結部材551Dを有するため、保持具551の操作ハンドル551Eで連結部材551Dを回転操作するだけで保持具551に対してプローブカード51を簡単に保持させることができる。
また、アーム552は、支持体553の上端部から水平方向に張り出し、支持体553側へ折り畳み可能に構成されているため、プローブカード移載補助装置55を使用しない時には検査装置52の側方にコンパクトに収納することができ、クリーンルーム内の占有スペースを最小限で済ませることができる。
また、昇降駆動装置554は、アーム552を昇降させるエアシリンダ554Aと、エアシリンダ554Aに圧縮空気を供給する配管554Bを開閉する電磁バルブ554Cと、圧縮空気の圧力をプローブカード51の重量に即して制御する電空レギュレータ554Dと、電空レギュレータ554Dに対してプローブカード51の重量を予め入力する入力端子554Eと、圧縮空気の圧力を検出する圧力センサ554Fと、を有するため、プローブカード51の重量に即してエアシリンダ554Aの駆動力を制御することができる。また、プローブカード51の重量を重量センサで測定して、測定重量に基づいてエアシリンダ554Aの駆動力を制御しても良い。
また、昇降駆動装置554は、プローブカード51の有無を検出するカード検出センサ554Gを有し、カード検出センサ554Gと入力端子554Eとが連携して電空レギュレータ554Dを作動させるため、プローブカード51の重量に即してエアシリンダ554Aを駆動させることができる。更に、昇降駆動装置554は、アーム552を操作する時に機能する操作スイッチ554Iを有し、操作スイッチ554Iと圧力センサ554Fとが連携して電磁バルブ554Cを開閉するため、オペレータの手から操作ハンドル551Eが離れると電磁バルブ554Cを閉じてアーム552がプローブカード51の自重で降下することを抑制し、プローブカード51の損傷を防止することができる。
尚、本発明は上記実施形態に何等制限されるものではなく、必要に応じて各構成要素を設計変更することができる。
本発明は、プローブカードを備えた検査装置が複数配置された検査設備に好適に利用することができる。
本発明の検査設備の一実施形態を示す平面図である。 (a)、(b)はそれぞれ図1に示す検査設備においてプローブカード移載補助装置を用いてプローブカードを移載する状態を示す斜視図である。 (a)、(b)はそれぞれ図1に示す検査設備に適用されたプローブカード移載補助装置を示す斜視図で、(a)はその全体図、(b)はアームの先端部を示す図である。 (a)、(b)はそれぞれ図3に示すプローブカード移載補助装置を示す斜視図で、(a)はアームを縮めた状態を示す全体図、(b)はアームを折り畳んだ状態を示す全体図ある。 (a)、(b)はそれぞれ図3に示すプローブカード移載補助装置で移載されるプローブカードを示す斜視図で、(a)はその上方からの全体図、(b)はその下方からの全体図である。 図3に示すプローブカード移載補助装置の昇降駆動装置の構成を示すブロック図である。 従来の検査装置の一例を部分的に破断して示す正面図である。 図7に示す検査装置に適用されたプローブカード搬送装置の動作説明図である。
符号の説明
50 検査設備
51 プローブカード
52 検査装置
53 通路
54 搬送台車
55 プローブカード移載補助装置
551 保持具(保持部)
551D 連結部材
552 アーム
553 支持体
554 昇降駆動装置
554A エアシリンダ(シリンダ機構)
554B 配管(流路)
554C 電磁バルブ
554D 電空レギュレータ
554E 入力端子
554F 圧力センサ
554H 保持位置検出センサ

Claims (10)

  1. 電気的検査を行う検査装置と上記検査装置に用いられるプローブカードを搬送する搬送手段との間で行われる上記プローブカードの移載作業を補助するプローブカード移載補助装置であって、
    上記プローブカードを保持する保持部と、
    上記保持部が先端部に取り付けられたアームと、
    上記アームを支持する旋回自在な支持体と、
    上記支持体を介して上記プローブカードをその重量に即して昇降させる昇降駆動装置と、を備え
    上記昇降駆動装置は、上記アームを昇降させるシリンダ機構と、上記シリンダ機構に駆動流体を供給する流路を開閉するバルブと、上記駆動流体の圧力を制御するレギュレータと、上記レギュレータに対して上記プローブカードの重量を予め入力する入力端子と、上記駆動流体の圧力を検出する圧力センサと、上記プローブカードの有無を検出するカード検出センサと、を有する
    ことを特徴とするプローブカード移載補助装置。
  2. 上記保持部は、回転操作により上記プローブカードと連結可能な連結部材を有することを特徴とする請求項1に記載のプローブカード移載補助装置。
  3. 上記アームは、上記支持体の上端部から水平方向に張り出して伸縮可能に構成されていると共に、上記支持体の上端部を基点に上記支持体側へ折り畳み可能に構成されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のプローブカード移載補助装置。
  4. 上記保持部は、上記連結部材の回転終端位置を確認するセンサを有することを特徴とする請求項2または請求項3に記載のプローブカード移載補助装置。
  5. 上記検査装置と上記検査装置に用いられるプローブカードを搬送する上記搬送手段との間で上記プローブカードの移載作業を補助する際に、上記検査装置と上記搬送手段の間に介在することを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載のプローブカード移載補助装置。
  6. 電気的検査を行う検査装置と、上記検査装置と上記検査装置に用いられるプローブカードを搬送する搬送手段との間で行われる上記プローブカードの移載作業を補助するプローブカード移載補助装置と、を備え、
    上記プローブカード移載補助装置は、
    上記プローブカードを保持する保持部と、
    上記保持部が先端部に取り付けられたアームと、
    上記アームを支持する旋回自在な支持体と、
    上記支持体を介して上記プローブカードをその重量に即して昇降させる昇降駆動装置と、を備え
    上記昇降駆動装置は、上記アームを昇降させるシリンダ機構と、上記シリンダ機構に駆動流体を供給する流路を開閉するバルブと、上記駆動流体の圧力を制御するレギュレータと、上記レギュレータに対して上記プローブカードの重量を予め入力する入力端子と、上記駆動流体の圧力を検出する圧力センサと、上記プローブカードの有無を検出するカード検出センサと、を有する
    ことを特徴とする検査設備。
  7. 上記保持部は、回転操作により上記プローブカードと連結可能な連結部材を有することを特徴とする請求項6に記載の検査設備。
  8. 上記アームは、上記支持体の上端部から水平方向に張り出して伸縮可能に構成されていると共に、上記支持体の上端部を基点に上記支持体側へ折り畳み可能に構成されていることを特徴とする請求項6または請求項7に記載の検査設備。
  9. 上記保持部は、上記連結部材の回転終端位置を確認するセンサを有することを特徴とする請求項7または請求項8に記載の検査設備。
  10. 上記検査装置と上記検査装置に用いられるプローブカードを搬送する上記搬送手段との間で上記プローブカードの移載作業を補助する際に、上記検査装置と上記搬送手段の間に介在することを特徴とする請求項6請求項9のいずれか1項に記載の検査設備。
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Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007147537A (ja) * 2005-11-30 2007-06-14 Tokyo Electron Ltd プローブカード移載補助装置及び検査設備
JP2007165715A (ja) * 2005-12-15 2007-06-28 Tokyo Electron Ltd プローブカードの装着方法及びこの方法に用いられるプローブカード移載補助装置
JP5074883B2 (ja) * 2007-10-25 2012-11-14 東京エレクトロン株式会社 プローブ装置に用いられる載置装置
JP5517344B2 (ja) * 2010-02-12 2014-06-11 東京エレクトロン株式会社 プローブカードの搬送機構、プローブカードの搬送方法及びプローブ装置
JP5510963B2 (ja) * 2010-10-07 2014-06-04 株式会社協同 プローブカード移載装置
JP2013191737A (ja) * 2012-03-14 2013-09-26 Tokyo Electron Ltd ウエハ検査装置
KR101402982B1 (ko) * 2013-07-15 2014-06-11 (주)케이코아 반도체 제조 장비용 진공펌프 배기라인 검사장치
JP6267928B2 (ja) * 2013-10-29 2018-01-24 東京エレクトロン株式会社 ウエハ検査装置の整備用台車及びウエハ検査装置の整備方法
JP6271257B2 (ja) * 2014-01-08 2018-01-31 東京エレクトロン株式会社 基板検査装置及びプローブカード搬送方法
CA2956172A1 (en) * 2014-07-24 2016-01-28 Nucleus Scientific, Inc. A measurement instrument for testing charge storage devices
US10003149B2 (en) 2014-10-25 2018-06-19 ComponentZee, LLC Fluid pressure activated electrical contact devices and methods
US9577358B2 (en) * 2014-10-25 2017-02-21 ComponentZee, LLC Fluid pressure activated electrical contact devices and methods
US9805891B2 (en) 2014-10-25 2017-10-31 ComponentZee, LLC Multiplexing, switching and testing devices and methods using fluid pressure
KR102338464B1 (ko) 2015-01-08 2021-12-15 삼성전자주식회사 운반물 반송 유닛, 그를 포함하는 운반물 관리 장치
KR102227072B1 (ko) * 2016-11-23 2021-03-12 주식회사 기가레인 프로브 카드용 나사 체결 장치 및 이를 구비한 프로브 카드 조립장치
US10261109B2 (en) 2017-05-17 2019-04-16 Globalfoundries Inc. Probe card support insert, container, system and method for storing and transporting one or more probe cards
CN107389983B (zh) * 2017-07-31 2020-05-12 京东方科技集团股份有限公司 定位装置及显示模组的电学检测系统
CN107942227A (zh) * 2017-11-15 2018-04-20 中电科技集团重庆声光电有限公司 圆片级芯片老化夹具
CN109596898B (zh) * 2018-12-18 2021-11-16 北京无线电计量测试研究所 一种探头支撑装置和同心锥形tem室
CN110286310B (zh) * 2019-07-30 2021-04-27 河北普兴电子科技股份有限公司 基于半导体晶片表面的测试装置
JP2020145446A (ja) * 2020-04-30 2020-09-10 東京エレクトロン株式会社 ウエハ検査装置
CN115602567A (zh) * 2021-07-07 2023-01-13 长鑫存储技术有限公司(Cn) 一种预防晶圆破损的系统及方法
JP2024083959A (ja) * 2022-12-12 2024-06-24 東京エレクトロン株式会社 ステージ、検査装置、およびステージの動作方法
TWI835675B (zh) * 2023-06-20 2024-03-11 京元電子股份有限公司 自動化探針卡取放裝置及其控制方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5748571A (en) * 1980-08-29 1982-03-19 Toray Eng Co Ltd Loading device
JPH0828166B2 (ja) * 1985-01-16 1996-03-21 松下電器産業株式会社 サ−モスタツト
JPH0719809B2 (ja) * 1987-03-06 1995-03-06 東京エレクトロン株式会社 ウエハプロ−バ
JPH0831518B2 (ja) * 1987-04-21 1996-03-27 東京エレクトロン株式会社 プロ−ブカ−ド保持搬送装置
JP2606554Y2 (ja) * 1992-01-17 2000-11-27 株式会社東京精密 プロービング装置
US5640100A (en) * 1994-10-22 1997-06-17 Tokyo Electron Limited Probe apparatus having probe card exchanging mechanism
KR970037491A (ko) * 1995-12-29 1997-07-24 한승준 자동차 리어 콤비네이션 램프의 구조
JP4104099B2 (ja) * 1999-07-09 2008-06-18 東京エレクトロン株式会社 プローブカード搬送機構
JP4798595B2 (ja) * 2001-08-07 2011-10-19 東京エレクトロン株式会社 プローブカード搬送装置及びプローブカード搬送方法
JP4391744B2 (ja) * 2002-12-27 2009-12-24 東京エレクトロン株式会社 移動式プローブカード搬送装置、プローブ装置及びプローブ装置へのプローブカードの搬送方法

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