JP4875332B2 - プローブカード移載補助装置及び検査設備 - Google Patents
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Description
51 プローブカード
52 検査装置
53 通路
54 搬送台車
55 プローブカード移載補助装置
551 保持具(保持部)
551D 連結部材
552 アーム
553 支持体
554 昇降駆動装置
554A エアシリンダ(シリンダ機構)
554B 配管(流路)
554C 電磁バルブ
554D 電空レギュレータ
554E 入力端子
554F 圧力センサ
554H 保持位置検出センサ
Claims (10)
- 電気的検査を行う検査装置と上記検査装置に用いられるプローブカードを搬送する搬送手段との間で行われる上記プローブカードの移載作業を補助するプローブカード移載補助装置であって、
上記プローブカードを保持する保持部と、
上記保持部が先端部に取り付けられたアームと、
上記アームを支持する旋回自在な支持体と、
上記支持体を介して上記プローブカードをその重量に即して昇降させる昇降駆動装置と、を備え、
上記昇降駆動装置は、上記アームを昇降させるシリンダ機構と、上記シリンダ機構に駆動流体を供給する流路を開閉するバルブと、上記駆動流体の圧力を制御するレギュレータと、上記レギュレータに対して上記プローブカードの重量を予め入力する入力端子と、上記駆動流体の圧力を検出する圧力センサと、上記プローブカードの有無を検出するカード検出センサと、を有する
ことを特徴とするプローブカード移載補助装置。 - 上記保持部は、回転操作により上記プローブカードと連結可能な連結部材を有することを特徴とする請求項1に記載のプローブカード移載補助装置。
- 上記アームは、上記支持体の上端部から水平方向に張り出して伸縮可能に構成されていると共に、上記支持体の上端部を基点に上記支持体側へ折り畳み可能に構成されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のプローブカード移載補助装置。
- 上記保持部は、上記連結部材の回転終端位置を確認するセンサを有することを特徴とする請求項2または請求項3に記載のプローブカード移載補助装置。
- 上記検査装置と上記検査装置に用いられるプローブカードを搬送する上記搬送手段との間で上記プローブカードの移載作業を補助する際に、上記検査装置と上記搬送手段の間に介在することを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載のプローブカード移載補助装置。
- 電気的検査を行う検査装置と、上記検査装置と上記検査装置に用いられるプローブカードを搬送する搬送手段との間で行われる上記プローブカードの移載作業を補助するプローブカード移載補助装置と、を備え、
上記プローブカード移載補助装置は、
上記プローブカードを保持する保持部と、
上記保持部が先端部に取り付けられたアームと、
上記アームを支持する旋回自在な支持体と、
上記支持体を介して上記プローブカードをその重量に即して昇降させる昇降駆動装置と、を備え、
上記昇降駆動装置は、上記アームを昇降させるシリンダ機構と、上記シリンダ機構に駆動流体を供給する流路を開閉するバルブと、上記駆動流体の圧力を制御するレギュレータと、上記レギュレータに対して上記プローブカードの重量を予め入力する入力端子と、上記駆動流体の圧力を検出する圧力センサと、上記プローブカードの有無を検出するカード検出センサと、を有する
ことを特徴とする検査設備。 - 上記保持部は、回転操作により上記プローブカードと連結可能な連結部材を有することを特徴とする請求項6に記載の検査設備。
- 上記アームは、上記支持体の上端部から水平方向に張り出して伸縮可能に構成されていると共に、上記支持体の上端部を基点に上記支持体側へ折り畳み可能に構成されていることを特徴とする請求項6または請求項7に記載の検査設備。
- 上記保持部は、上記連結部材の回転終端位置を確認するセンサを有することを特徴とする請求項7または請求項8に記載の検査設備。
- 上記検査装置と上記検査装置に用いられるプローブカードを搬送する上記搬送手段との間で上記プローブカードの移載作業を補助する際に、上記検査装置と上記搬送手段の間に介在することを特徴とする請求項6〜請求項9のいずれか1項に記載の検査設備。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005273195A JP4875332B2 (ja) | 2005-09-21 | 2005-09-21 | プローブカード移載補助装置及び検査設備 |
| US11/523,710 US7541801B2 (en) | 2005-09-21 | 2006-09-20 | Probe card transfer assist apparatus, and inspection equipment and method using same |
| TW095134833A TWI410632B (zh) | 2005-09-21 | 2006-09-20 | Probe card loading support device, testing equipment and detection methods |
| CNB2006101392814A CN100552454C (zh) | 2005-09-21 | 2006-09-20 | 探针卡移载辅助装置、检查设备和检查方法 |
| KR1020060091232A KR100843783B1 (ko) | 2005-09-21 | 2006-09-20 | 프로브 카드 탑재이송 보조 장치, 검사설비 및 검사 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005273195A JP4875332B2 (ja) | 2005-09-21 | 2005-09-21 | プローブカード移載補助装置及び検査設備 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2007088117A JP2007088117A (ja) | 2007-04-05 |
| JP2007088117A5 JP2007088117A5 (ja) | 2008-11-06 |
| JP4875332B2 true JP4875332B2 (ja) | 2012-02-15 |
Family
ID=37883434
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005273195A Expired - Fee Related JP4875332B2 (ja) | 2005-09-21 | 2005-09-21 | プローブカード移載補助装置及び検査設備 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7541801B2 (ja) |
| JP (1) | JP4875332B2 (ja) |
| KR (1) | KR100843783B1 (ja) |
| CN (1) | CN100552454C (ja) |
| TW (1) | TWI410632B (ja) |
Families Citing this family (29)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007147537A (ja) * | 2005-11-30 | 2007-06-14 | Tokyo Electron Ltd | プローブカード移載補助装置及び検査設備 |
| JP2007165715A (ja) * | 2005-12-15 | 2007-06-28 | Tokyo Electron Ltd | プローブカードの装着方法及びこの方法に用いられるプローブカード移載補助装置 |
| JP5074883B2 (ja) * | 2007-10-25 | 2012-11-14 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブ装置に用いられる載置装置 |
| JP5517344B2 (ja) * | 2010-02-12 | 2014-06-11 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブカードの搬送機構、プローブカードの搬送方法及びプローブ装置 |
| JP5510963B2 (ja) * | 2010-10-07 | 2014-06-04 | 株式会社協同 | プローブカード移載装置 |
| JP2013191737A (ja) * | 2012-03-14 | 2013-09-26 | Tokyo Electron Ltd | ウエハ検査装置 |
| KR101402982B1 (ko) * | 2013-07-15 | 2014-06-11 | (주)케이코아 | 반도체 제조 장비용 진공펌프 배기라인 검사장치 |
| JP6267928B2 (ja) * | 2013-10-29 | 2018-01-24 | 東京エレクトロン株式会社 | ウエハ検査装置の整備用台車及びウエハ検査装置の整備方法 |
| JP6271257B2 (ja) * | 2014-01-08 | 2018-01-31 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板検査装置及びプローブカード搬送方法 |
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| US9805891B2 (en) | 2014-10-25 | 2017-10-31 | ComponentZee, LLC | Multiplexing, switching and testing devices and methods using fluid pressure |
| US10003149B2 (en) | 2014-10-25 | 2018-06-19 | ComponentZee, LLC | Fluid pressure activated electrical contact devices and methods |
| KR102338464B1 (ko) | 2015-01-08 | 2021-12-15 | 삼성전자주식회사 | 운반물 반송 유닛, 그를 포함하는 운반물 관리 장치 |
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| CN110286310B (zh) * | 2019-07-30 | 2021-04-27 | 河北普兴电子科技股份有限公司 | 基于半导体晶片表面的测试装置 |
| CN110850123A (zh) * | 2019-11-26 | 2020-02-28 | 深圳市矽电半导体设备有限公司 | 一种针卡运输装置及探针台 |
| JP2020145446A (ja) * | 2020-04-30 | 2020-09-10 | 東京エレクトロン株式会社 | ウエハ検査装置 |
| CN115602567A (zh) * | 2021-07-07 | 2023-01-13 | 长鑫存储技术有限公司(Cn) | 一种预防晶圆破损的系统及方法 |
| CN115712051A (zh) * | 2022-09-22 | 2023-02-24 | 浙江确安科技有限公司 | 一种具有抗形变加强板的测试机探针卡 |
| KR102867964B1 (ko) * | 2022-11-14 | 2025-10-14 | 주식회사 쎄믹스 | 프로버의 카드 승강 장치 |
| JP2024083959A (ja) * | 2022-12-12 | 2024-06-24 | 東京エレクトロン株式会社 | ステージ、検査装置、およびステージの動作方法 |
| TWI835675B (zh) * | 2023-06-20 | 2024-03-11 | 京元電子股份有限公司 | 自動化探針卡取放裝置及其控制方法 |
| KR102827010B1 (ko) * | 2023-09-25 | 2025-06-30 | 주식회사 쎄믹스 | 프로브 카드 핸들링 장치 |
| TWI896011B (zh) * | 2024-02-29 | 2025-09-01 | 萬潤科技股份有限公司 | 電子元件測試裝置 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5748571A (en) * | 1980-08-29 | 1982-03-19 | Toray Eng Co Ltd | Loading device |
| JPH0828166B2 (ja) * | 1985-01-16 | 1996-03-21 | 松下電器産業株式会社 | サ−モスタツト |
| JPH0719809B2 (ja) * | 1987-03-06 | 1995-03-06 | 東京エレクトロン株式会社 | ウエハプロ−バ |
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| JP2606554Y2 (ja) * | 1992-01-17 | 2000-11-27 | 株式会社東京精密 | プロービング装置 |
| US5640100A (en) * | 1994-10-22 | 1997-06-17 | Tokyo Electron Limited | Probe apparatus having probe card exchanging mechanism |
| KR970037491A (ko) * | 1995-12-29 | 1997-07-24 | 한승준 | 자동차 리어 콤비네이션 램프의 구조 |
| JP4104099B2 (ja) * | 1999-07-09 | 2008-06-18 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブカード搬送機構 |
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| JP4391744B2 (ja) * | 2002-12-27 | 2009-12-24 | 東京エレクトロン株式会社 | 移動式プローブカード搬送装置、プローブ装置及びプローブ装置へのプローブカードの搬送方法 |
-
2005
- 2005-09-21 JP JP2005273195A patent/JP4875332B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-09-20 KR KR1020060091232A patent/KR100843783B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2006-09-20 US US11/523,710 patent/US7541801B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-09-20 TW TW095134833A patent/TWI410632B/zh not_active IP Right Cessation
- 2006-09-20 CN CNB2006101392814A patent/CN100552454C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US7541801B2 (en) | 2009-06-02 |
| CN100552454C (zh) | 2009-10-21 |
| TWI410632B (zh) | 2013-10-01 |
| CN1936594A (zh) | 2007-03-28 |
| JP2007088117A (ja) | 2007-04-05 |
| US20070063720A1 (en) | 2007-03-22 |
| TW200732667A (en) | 2007-09-01 |
| KR100843783B1 (ko) | 2008-07-03 |
| KR20070033275A (ko) | 2007-03-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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