JP2011054219A - 強誘電体メモリ及びメモリシステム - Google Patents

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Abstract

【課題】電源瞬間停止に対するデータ保全性を向上させることができるDDRインタフェースを有する強誘電体メモリ及びメモリシステムを提供する。
【解決手段】電源電圧が所定値Vdownを下回った場合には、DDRインタフェースのCKEピンを利用して強誘電体メモリに電源ダウンの通知が行われる。電源ダウンが通知されると、メモリセルからセンスアンプ回路へのデータ読み出しが終了するのを待ってから、センスアンプ回路に保持されているデータをメモリセルへ書き戻す。
【選択図】図2

Description

本発明は、強誘電体メモリ及びメモリシステムに関するものである。
プレート線駆動回路の面積を抑える強誘電体メモリとして、セルアレイ方式TC並列型ユニット直列接続型の強誘電体メモリが提案されている(例えば非特許文献1参照)。これはセルトランジスタ(T)のソース、ドレインに強誘電体キャパシタ(C)の両端をそれぞれ接続してユニットを構成し、このユニットセルを複数個直列接続してセルブロックを構成するものである。
強誘電体メモリは、キャパシタの電荷を取り出して読み出すという、データ破壊読み出し型のメモリである。そのため、読み出したデータをさらに保持するためには、DRAMのリフレッシュ動作と同様に、データをメモリセルに再書き込み(書き戻し)する必要がある。しかし、データを読み出している最中などの再書き込みを行う前に電源が停止すると、データが破壊されたままになり、データを失うという問題を有していた。
D.Takashima et al. , "High-density chain Ferroelectric random memory (CFeRAM)" in proc.VLSI Symp. June 1997,pp.83-84
本発明は、電源瞬間停止に対するデータ保全性を向上させることができるDDRインタフェースを有する強誘電体メモリ及びメモリシステムを提供することを目的とする。
本発明の一態様による強誘電体メモリは、電源ダウンの通知を受け取り、前記通知に基づいて第1の値から第2の値に変化する第1信号を出力する第1バッファと、内部クロック信号の生成及び供給を行い、前記第1信号が前記第1の値から前記第2の値へ変化するに伴って、前記内部クロック信号の供給を停止する第2バッファと、読み出し又は書き込み対象のデータに対応するアドレス信号を受け取って保持し、出力する第3バッファと、コマンド信号を受け取って出力する第1制御部と、前記第1制御部から出力される前記コマンド信号がバンクアクティブコマンドの時に第3の値となり、当該コマンド信号がプリチャージコマンドの時と前記第1信号が前記第2の値の時に第4の値となる基幹信号を生成し出力する第2制御部と、強誘電体キャパシタとセルトランジスタとを含むメモリセルが配列されたメモリセルアレイと、前記アドレス信号に対応するメモリセルからビット線対を介してデータを読み出すセンスアンプ回路と、前記基幹信号が前記第3の値となった時点から所定時間経過した後であり、かつ前記基幹信号が前記第4の値となっている時に、前記データが読み出されたメモリセルへの書き戻しが行われるよう制御する第3制御部と、を備えるものである。
本発明の一態様による強誘電体メモリは、電源ダウンの通知を受け取り、前記通知に基づいて第1の値から第2の値に変化する第1信号を出力する第1バッファと、コマンド信号を受信して出力すると共に、書き込みコマンドの受信に伴い第3の値から第4の値に変化し、書き込みデータの受信から所定時間経過後に前記第4の値から前記第3の値に変化する第2信号を生成して出力する第1制御部と、前記第1信号が前記第2の値から前記第1の値へ変化するに伴って第5の値から第6の値へ変化し、前記第1信号が前記第1の値から第2の値へ変化し、かつ前記第2信号が前記第3の値である時に前記第6の値から前記第5の値へ変化する第3信号を生成して出力する遅延部と、内部クロック信号の生成及び供給を行い、前記第3信号が前記第6の値から前記第5の値へ変化するに伴って、前記内部クロック信号の供給を停止する第2バッファと、読み出し又は書き込み対象のデータに対応するアドレス信号を受け取って保持し、出力する第3バッファと、前記第1制御部から出力される前記コマンド信号がバンクアクティブコマンドの時に第7の値となり、当該コマンド信号がプリチャージコマンドの時と前記第3信号が前記第5の値の時に第8の値となる基幹信号を生成し出力する第2制御部と、強誘電体キャパシタとセルトランジスタとを含むメモリセルが配列されたメモリセルアレイと、前記アドレス信号に対応するメモリセルからビット線対を介してデータを読み出すセンスアンプ回路と、前記基幹信号が前記第7の値となった時点から所定時間経過した後であり、かつ前記基幹信号が前記第8の値となっている時に、前記データが読み出されたメモリセルへの書き戻しが行われるよう制御する第3制御部と、を備えるものである。
本発明の一態様によるメモリシステムは、前記強誘電体メモリと、前記コマンド信号を前記第1制御部へ出力し、前記アドレス信号を前記第3バッファへ出力し、電源電圧を検出して当該電源電圧が所定値未満となった場合に前記第1バッファへ電源ダウンを通知するメモリコントローラと、を備えるものである。
本発明によれば、電源瞬間停止に対するデータ保全性を向上させることができる。
本発明の第1の実施形態に係るメモリシステムの概略構成図である。 電源ダウン通知が行われる場合の電源電圧及びCKEピンの信号の遷移図である。 同第1の実施形態に係る強誘電体メモリの概略構成図である。 同第1の実施形態に係るメモリセルアレイの概略構成図である。 CKEバッファの入力信号と出力信号の一例を示す図である。 同第1の実施形態に係るクロックバッファの概略構成図である。 内部クロック信号の一例を示す図である。 同第1の実施形態に係る第2制御部の概略構成図である。 同第1の実施形態に係る第3制御部の概略構成と出力信号の一例を示す図である。 同第1の実施形態に係る強誘電体メモリにおける信号の遷移図である。 本発明の第2の実施形態に係る強誘電体メモリの概略構成図である。 同第2の実施形態に係る強誘電体メモリにおける信号の遷移図である。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。なお、以下の説明において用いるバンクアクティブコマンドのバンクアクティブ、プリチャージコマンドのプリチャージ、書き込みコマンドは、JEDECで規格化され定義された用語の意味である。
(第1の実施形態)図1に本発明の第1の実施形態に係るメモリシステムの概略構成を示す。メモリシステムは、メモリコントローラ1及び強誘電体メモリ(FeRAM: Ferroelectric Random Access Memory)2を備える。メモリコントローラ1は電源瞬時停電検知機能を有し、電源電圧が所定値Vdownを下回った場合には、強誘電体メモリ2に電源ダウンを通知する。本実施形態では、強誘電体メモリ2はDDRインタフェースを備え、DDRインタフェースのCKEピンを利用して電源ダウンの通知が行われるものとする。図2に電源ダウン通知が行われる場合の電源電圧及びCKEピンの信号の遷移の一例を示す。CKEピンの信号をローレベルにすることで電源ダウンを通知する。
図3に、強誘電体メモリ2の概略構成を示す。強誘電体メモリ2はCKEピン10、CKEバッファ11、Clockピン12、クロックバッファ13、Addressピン14、アドレスバッファ15、Commandピン16、第1制御部17、第2制御部18、及びメモリ領域MAを有する。また、強誘電体メモリ2はバックアップ電源としてのキャパシタ(図示せず)を備えており、電源が停止しても一定時間動作可能となっている。
メモリ領域MAは複数のバンクに分割され、並列にアクセスできるようになっている。ここでは一例として4つのバンク20〜23に分割されているものとした。各バンクは第3制御部30を有する。
メモリ領域MAにおけるメモリセルアレイの一例を図4に示す。1つのメモリセルMCは、並列接続された強誘電体キャパシタCとセルトランジスタTrとを有する。このようなメモリセルMCが、この例では8個直列接続されて、セルブロックMCB0、MCB1が構成される。図4では一対のビット線BL、/BLに接続される2つのセルブロックMCB0、MCB1が示されている。
セルブロックMCB0、MCB1の一端は、ブロック選択トランジスタBST0、BST1を介してビット線BL、/BLに接続されている。セルブロックMCB0、MCB1の他端はプレート線PL、/PLに接続されている。セルブロックMCB0、MCB1のセルトランジスタTrのゲートは、ワード線WL0〜WL7に接続されている。ビット線BL、/BLには、イコライズ回路40、読み出しデータを検知増幅するセンスアンプ回路SA、及びカラムゲート42が接続されている。プレート線PL、/PLには、プレート線駆動回路PDが接続されている。カラムゲート42はカラムデコーダ(図示せず)により制御される。
また、ワード線WL0〜WL7にはワード線の選択駆動を行うロウデコーダ回路RDが接続されている。また、ブロック選択トランジスタBST0、BST1のゲートは、データの読み出しを行うセルブロックの選択を行うブロック選択回路BSに接続されている。
読み出しデータは、カラムゲート42を構成するトランジスタ44、46、データ線LDQ、/LDQ、及びデータバッファ(図示せず)を介してI/O端子(図示せず)に出力される。また、I/O端子から入力される書き込みデータは、データバッファを介し、カラムゲート42により選択されたカラムのセンスアンプ回路SAに転送されて、選択されたメモリセルMCに書き込まれる。
図3に示すように、CKEバッファ11はCKEピン10を介して受信した信号から内部信号CKEINを生成し、クロックバッファ13、アドレスバッファ15、第1制御部17、及び第2制御部18へ出力する。クロックバッファ13、アドレスバッファ15、及び第1制御部17は信号CKEINがハイレベルの期間はイネーブルとなり、ローレベルの期間はディセーブルとなって消費電力を低減する。
CKEバッファ11はノイズフィルタ(図示せず)を有しており、数ns程度のパルスはノイズとしてフィルタリングする。図5に、CKEバッファ11の受信信号と、生成する内部信号CKEINとの一例を示す。
クロックバッファ13は、CLKピン12を介してクロック信号CLK、#CLKを受信する。クロックバッファ13はクロック信号CLK、#CLK、及び信号CKEINを用いて内部クロック信号CLKINを生成する。クロックバッファ13は、生成した内部クロック信号CLKINをCKEバッファ11、アドレスバッファ15、第1制御部17、及び第2制御部18へ出力する。
クロックバッファ13の構成の一例を図6に示す。クロックバッファ13は、このような構成にすることで、図7に示すような内部クロック信号CLKINを生成する。信号CKEINのローレベルへの遷移に伴い、内部クロック信号CLKINはローレベルに固定され、チップ内部へのクロック供給が停止する。
アドレスバッファ15はAddressピン14を介してメモリコントローラ1から読み出し/書き込みを行うデータに対応するアドレス信号を受け取り、第2制御部18へ出力する。
第1制御部17は、Commandピン16を介してメモリコントローラ1からコマンド信号を受け取り、第2制御部18へ出力する。
第2制御部18は、CKEバッファ11から出力される信号CKEIN及び第1制御部17から出力されるコマンド信号に基づいて基幹信号BANK#を生成し、各バンクの第3制御部30へ出力する。基幹信号BANK#は、バンクアクティブコマンド(Bank Active Command)が与えられているときはハイレベル、バンクプリチャージコマンド(Bank Precharge Command)が与えられているときはローレベルをとるようにする。また、信号CKEINがローレベルのときは、基幹信号BANK#がローレベルとなるようにする。
図8に、このような基幹信号BANK#を生成するための第2制御部18の回路構成の一例を示す。バンクアクティブコマンド及びバンクプリチャージコマンドの値がフリップフロップ80に与えられる。そして、フリップフロップ80の出力及び信号CKEINがAND回路82に与えられ、AND回路82から基幹信号BANK#が出力される。
また、第2制御部18は、バンクアクティブコマンド時のバンクアドレスに応じて、バンク毎のロウアドレスをラッチし、ロウデコーダ回路RDへ出力する。また、第2制御部18は、カラムアドレスをカラムデコーダへ出力する。
第2制御部18は、これらの制御をクロック同期で行う。但し、信号CKEINがローレベルとなった場合は、非同期で基幹信号BANK#をローレベルにする。
第3制御部30は、RC遅延回路(図示せず)を有し、基幹信号BANK#の立ち上がりエッジにおいてハイレベルとなり、所定時間ハイレベルを維持した後にローレベルとなるタイマー信号BANKTIMERを生成する。ここで、タイマー信号BANKTIMERがハイレベルを維持する前記所定時間は、読み出し/書き込み対象のメモリセルからセンスアンプ回路SAへデータを読み出す(転送する)ために必要な時間以上とする。
第3制御部は、図9(a)に示すような、基幹信号BANK#及びタイマー信号BANKTIMERを入力とし、信号BNKを出力するOR回路90を有する。信号BNKは、図9(b)に示すように、基幹信号BANK#の立ち上がりに伴いハイレベルとなり、基幹信号BANK#及びタイマー信号BANKTIMERが共にローレベルになるとローレベルに変化する。
各バンクは、信号BNKのローレベルからハイレベルへの変化に伴い、メモリセルMCのデータをセンスアンプ回路SAへ転送する。また、各バンクは、信号BNKのハイレベルからローレベルへの変化に伴い、センスアンプ回路SAに保持されているデータをメモリセルMCに書き戻す。
電源電圧が所定値Vdownを下回り、メモリコントローラ1から電源ダウンが通知されると、信号CKEINはローレベルとなり、基幹信号BANK#はローレベルとなる。基幹信号BANK#がローレベルになってすぐにセンスアンプ回路SAのデータをメモリセルMCに書き戻すと、バンクアクティブコマンドからすぐに電源ダウンした場合に、メモリセルMCのデータがセンスアンプ回路SAに転送しきれておらず、データが消失するおそれがあった。
しかし、本実施形態では、タイマー信号BANKTIMERがローレベルになるのを待って、センスアンプ回路SAのデータをメモリセルMCに書き戻す。そのため、メモリセルMCのデータはセンスアンプ回路SAにすべて転送されてから書き戻しが行われることになり、データ消失を防止できる。
図10に本実施形態における各信号の遷移の一例を示す。信号BNKのハイレベルからローレベルへの変化に伴いプレート線PLの電圧がハイレベルからローレベルへ変化し、メモリセルMCへの書き込み(書き戻し)が行われる。
このように、本実施形態は、電源ダウンが通知されると、メモリセルMCのデータがセンスアンプ回路SAへ転送されるのを待って、メモリセルMCにデータを書き戻すことで、電源瞬間停止に対するデータ保全性を向上させることができる。
上記実施形態では、メモリコントローラ1から強誘電体メモリ2への電源ダウンの通知にCKEピンを使用した例について説明したが、CKEピンでなく、追加設定したピンを使用するようにしてもよい。
(第2の実施形態)図11に本発明の第2の実施形態に係る強誘電体メモリ2の概略構成を示す。本実施形態は、データ書き込み中に電源が停止した場合についても、データを保全することができる。
本実施形態に係る強誘電体メモリは、図3に示す上記第1の実施形態に係る強誘電体メモリにさらに遅延部110を備えた構成となっている。遅延部110は、CKEバッファ11から受け取った信号CKEIN及び第1制御部17から受け取った信号PERIACTに基づいて信号CKEDLYを生成する。遅延部110は、生成した信号CKEDLYをCKEバッファ11、アドレスバッファ15、第1制御部17、及び第2制御部18へ出力する。クロックバッファ13、アドレスバッファ15、及び第1制御部17は信号CKEDLYがハイレベルの期間はイネーブルとなり、ローレベルの期間はディセーブルとなって消費電力を低減する。
第1制御部17は、書き込みデータを受信してから所定時間後に立ち上がってセンスアンプ回路SAへの書き込みのトリガとなる信号CSLを生成する。信号CSLは立ち上がってから所定時間後にローレベルに変化する。信号PERIACTは、書き込み(Write)コマンドの入力に伴いハイレベルに変化し、信号CSLのローレベルへの変化に伴いローレベルに変化する。
遅延部110は、信号CKEINがハイレベルへ変化すると、信号CKEDLYをハイレベルに変化させる。また、遅延部110は、信号PERIACTのローレベルへの変化に伴い、信号CKEDLYをローレベルに変化させる。
第2制御部18は、信号CKEDLYを用いて基幹信号BANK#を生成する。
図12に本実施形態における各信号の遷移の一例を示す。メモリコントローラから強誘電体メモリに書き込みコマンドが発行された後、データの書き込み途中に電源停止が通知された(CKEがローレベルになる)場合、信号CKEDLYは書き込みが終わるまでハイレベルを維持し、書き込み終了後にローレベルになる。従って、書き込みデータがセンスアンプ回路SAに記憶されてからメモリセルMCへの書き込み(書き戻し)が行われる。
このように、本実施形態は、データ書き込み途中での電源瞬間停止に対してもデータ保全性を向上させることができる。
上記実施形態は強誘電体メモリだけでなく、他の破壊読み出し型不揮発メモリに適用することができる。
なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
1 メモリコントローラ
2 強誘電体メモリ
10 CKEピン
11 CKEバッファ
12 CLKピン
13 CLKバッファ
14 Addressピン
15 アドレスバッファ
16 Commandピン
17 第1制御部
18 第2制御部
20〜23 バンク
30 第3制御部

Claims (5)

  1. 電源ダウンの通知を受け取り、前記通知に基づいて第1の値から第2の値に変化する第1信号を出力する第1バッファと、
    内部クロック信号の生成及び供給を行い、前記第1信号が前記第1の値から前記第2の値へ変化するに伴って、前記内部クロック信号の供給を停止する第2バッファと、
    読み出し又は書き込み対象のデータに対応するアドレス信号を受け取って保持し、出力する第3バッファと、
    コマンド信号を受け取って出力する第1制御部と、
    前記第1制御部から出力される前記コマンド信号がバンクアクティブコマンドの時に第3の値となり、当該コマンド信号がプリチャージコマンドの時と前記第1信号が前記第2の値の時に第4の値となる基幹信号を生成し出力する第2制御部と、
    強誘電体キャパシタとセルトランジスタとを含むメモリセルが配列されたメモリセルアレイと、
    前記アドレス信号に対応するメモリセルからビット線対を介してデータを読み出すセンスアンプ回路と、
    前記基幹信号が前記第3の値となった時点から所定時間経過した後であり、かつ前記基幹信号が前記第4の値となっている時に、前記データが読み出されたメモリセルへの書き戻しが行われるよう制御する第3制御部と、
    を備える強誘電体メモリ。
  2. 前記第1バッファはノイズを除去するフィルタを有することを特徴とする請求項1に記載の強誘電体メモリ。
  3. 前記所定時間は、前記センスアンプ回路が前記メモリセルから前記ビット線対を介してデータを読み出すために要する時間以上であることを特徴とする請求項1又は2に記載の強誘電体メモリ。
  4. 電源ダウンの通知を受け取り、前記通知に基づいて第1の値から第2の値に変化する第1信号を出力する第1バッファと、
    コマンド信号を受信して出力すると共に、書き込みコマンドの受信に伴い第3の値から第4の値に変化し、書き込みデータの受信から所定時間経過後に前記第4の値から前記第3の値に変化する第2信号を生成して出力する第1制御部と、
    前記第1信号が前記第2の値から前記第1の値へ変化するに伴って第5の値から第6の値へ変化し、前記第1信号が前記第1の値から第2の値へ変化し、かつ前記第2信号が前記第3の値である時に前記第6の値から前記第5の値へ変化する第3信号を生成して出力する遅延部と、
    内部クロック信号の生成及び供給を行い、前記第3信号が前記第6の値から前記第5の値へ変化するに伴って、前記内部クロック信号の供給を停止する第2バッファと、
    読み出し又は書き込み対象のデータに対応するアドレス信号を受け取って保持し、出力する第3バッファと、
    前記第1制御部から出力される前記コマンド信号がバンクアクティブコマンドの時に第7の値となり、当該コマンド信号がプリチャージコマンドの時と前記第3信号が前記第5の値の時に第8の値となる基幹信号を生成し出力する第2制御部と、
    強誘電体キャパシタとセルトランジスタとを含むメモリセルが配列されたメモリセルアレイと、
    前記アドレス信号に対応するメモリセルからビット線対を介してデータを読み出すセンスアンプ回路と、
    前記基幹信号が前記第7の値となった時点から所定時間経過した後であり、かつ前記基幹信号が前記第8の値となっている時に、前記データが読み出されたメモリセルへの書き戻しが行われるよう制御する第3制御部と、
    を備える強誘電体メモリ。
  5. 請求項1乃至4のいずれかに記載の強誘電体メモリと、
    前記コマンド信号を前記第1制御部へ出力し、前記アドレス信号を前記第3バッファへ出力し、電源電圧を検出して当該電源電圧が所定値未満となった場合に前記第1バッファへ電源ダウンを通知するメモリコントローラと、
    を備えるメモリシステム。
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