JP2010532878A - 蛍光焦点変調顕微鏡システムおよびその方法 - Google Patents
蛍光焦点変調顕微鏡システムおよびその方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010532878A JP2010532878A JP2010514707A JP2010514707A JP2010532878A JP 2010532878 A JP2010532878 A JP 2010532878A JP 2010514707 A JP2010514707 A JP 2010514707A JP 2010514707 A JP2010514707 A JP 2010514707A JP 2010532878 A JP2010532878 A JP 2010532878A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- mirror
- light
- optical path
- phase modulator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0032—Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0056—Optical details of the image generation based on optical coherence, e.g. phase-contrast arrangements, interference arrangements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
Description
組織ファントムでイメージングを行い、焦点変調顕微鏡の散乱媒質における光学切片化性能を明らかにした。例えばアメリカ合衆国、カリフォルニア、カールスバッドのインビトロゲン・インコーポレイテッドのフルオスフェアス(FluoSpheres)F8843といったスカーレット蛍光ポリスチレンミクロスフェアを、カバースリップの表面に分布させた。該ミクロスフェアの励起/発光ピークは、それぞれ645/680ナノメートルである。
細胞および細胞内の構造および機能のインビボイメージングの方法を実際に示すために、ニワトリ軟骨組織をサンプル組織として焦点変調顕微鏡のパフォーマンスの評価を行った。軟骨細胞は、軟骨組織において見られる唯一の細胞である。当該細胞は、通常、丸い、あるいは、はっきりとした角を有する形状であって、2つもしくはそれより多くのグループになって、腺もしくは均質なマトリックスにある。脂溶性蛍光トレーサを用いて細胞膜をラベルし、蛍光焦点変調顕微鏡画像および共焦点顕微鏡画像において軟骨細胞のみが可視となるようにする。
新鮮なニワトリの翼を取得し、軟骨組織を厚さ1ミリメートルのスライスにカットする。当該軟骨組織スライスをPBSで洗浄し、摂氏4度で24時間かけて4%パラホルムアルデヒドで固定化する。固定化された組織を、摂氏4度で24時間以上、エタノール中1mM DiR(DilC18(7)、インビトロゲン)に浸漬し、深い領域において適切な細胞の染色を可能とする。ラベル付けしたサンプルをPBSでリンスしてから、例えば、アメリカ合衆国、ミズーリ、セントルイスのシグマ−アルドリッチの製品番号10981といったフェーディング防止ポリビニルアルコール封入剤(antifading polyvinyl alcohol mounting medium)を用いてスライドガラス上に載置し、カバーガラスで覆った。
18 ・・・ 空間的位相変調器
20 ・・・ 対物レンズ
28 ・・・ 高速ステアリングミラー
32 ・・・ 3Dステージ
38 ・・・ プロセッサ
40 ・・・ サンプル
80 ・・・ 波長走査源
102 ・・・ PMT
104 ・・・ 増幅器
106 ・・・ ロングパスフィルタ
108 ・・・ アクロマート
110 ・・・ ビーム・エキスパンダ
114 ・・・ ディスプレイ
116 ・・・ 入力部
118 ・・・ メモリ
Claims (28)
- 蛍光焦点変調顕微鏡システムであって、
光線を生成し、サンプルのターゲット領域へ照射する光源アセンブリと、
前記光線の光路上に配され、前記光線を第1ビームおよび第2ビームに分割する空間的位相変調器であって、前記第1ビームは、前記第2ビームと平行かつ空間的に離れており、前記第2ビームは、前記第1ビームと異なる位相遅延で変調される、空間的位相変調器と、
前記第1ビームおよび前記第2ビームを受けて前記サンプルの前記ターゲット領域へ照射する集束アセンブリと、
照射された前記サンプルの前記ターゲット領域が発したルミネセンス信号を受け、光検出器が検出した前記ルミネセンス信号を、直流成分および交流成分を含んだ光電信号へ変換する光検出器アセンブリと、を有する蛍光焦点変調顕微鏡システム。 - さらに、プロセッサおよびディスプレイを有し、
前記プロセッサは、前記光電信号を受信して前記交流成分および前記直流の大きさの総和から計算した最大発光強度に基づいて、前記ディスプレイ上の画像を処理する、請求項1に記載のシステム。 - さらに、プロセッサおよびディスプレイを有し、
前記プロセッサは、前記光電信号を受信して前記光電信号の前記交流成分の画像に基づいてディスプレイ上の画像を処理する、請求項1に記載のシステム。 - 前記空間的位相変調器は、波長走査源および示差遅延ラインを備える、請求項1ないし3のいずれか1つに記載のシステム。
- 前記波長走査源は、反復的に、前記光源の波長を掃引し、所定の光路長差を与える、請求項4に記載のシステム。
- 空間的位相変調器は、第1ミラーおよび第2ミラーを備え、
前記第2ミラーは、前記第1ミラーに対して可動であり、前記第2ビームを前記第1ビームに対して変調する、請求項1ないし5のいずれか1つに記載のシステム。 - 前記第2ミラーは、圧電アクチュエータ上に配され、
前記第1ビームと前記第2ビームとの間の相対的位相シフトは、前記圧電アクチュエータに印加される電圧に従う、請求項6に記載のシステム。 - 前記集束アセンブリは、ダイクロイックミラーおよび対物レンズを備える、請求項1ないし7のいずれか1つに記載のシステム。
- 前記空間的位相変調器は、前記光線の光路に沿って前記ダイクロイックミラーの上流側に配されている、請求項8に記載のシステム。
- 前記空間的位相変調器は、前記光線の光路に沿って前記ダイクロイックミラーの下流側に配されている、請求項8に記載のシステム。
- 前記空間的位相変調器は、前記光源から発せられた前記光線の光路、および、照射された前記サンプルの前記ターゲット領域が発したルミネセンスの光路に沿って配されている、請求項1ないし10のいずれか1つに記載のシステム。
- さらに、前記第1ビームおよび前記第2ビームを、前記サンプルに対して走査する走査アセンブリを有する、請求項1ないし11のいずれか1つに記載のシステム。
- 前記集束アセンブリは、前記第1ビームおよび前記第2ビームを、前記サンプルに対して走査するステアリングミラーを備える、請求項12に記載のシステム。
- 前記走査アセンブリは、前記サンプルを保持するホルダ、および、前記サンプルを、前記第1ビームおよび前記第2ビームに対して可動的に走査するアクチュエータを備える、請求項12に記載のシステム。
- さらに、照射された前記サンプルの前記ターゲット領域が発したルミネセンス信号の光路上に、前記サンプルの非ターゲット領域から発せられたルミネセンスが前記光検出器に到達することを阻止するアパーチャを有する、請求項1ないし14のいずれか1つに記載のシステム。
- 前記アパーチャは、ピンホール、スリット、ロングパスフィルタ、光ファイバケーブルからなる群から選択される、請求項15に記載のシステム。
- 前記光源は、単一光子励起型である、請求項1ないし16のいずれか1つに記載のシステム。
- 前記光源は、多光子励起型である、請求項1ないし16のいずれか1つに記載のシステム。
- 前記光検出器アセンブリは、さらに、前記光検出器が検出するルミネセンス信号を、直流成分および交流成分を含んだ光電信号に変換する光電子増倍器を備える、請求項1ないし18のいずれか1つに記載のシステム。
- 蛍光焦点変調顕微鏡法を実施する方法であって、
光線を生成してサンプルのターゲット領域へ照射するステップと、
前記光線の光路上に配された空間的位相変調器が、前記光線を、第1ビームおよび第2ビームに分割するステップであって、前記第1ビームは、前記第2ビームと平行かつ空間的に離れており、前記第2ビームは、前記第1ビームと異なる位相遅延で変調される、ステップと、
集束アセンブリが、前記第1ビームおよび前記第2ビームを集束するステップと、
前記第1ビームおよび前記第2ビームで前記サンプルの前記ターゲット領域を照射するステップと、
照射された前記サンプルの前記ターゲット領域が発したルミネセンス信号を受けるステップと、
光検出器が検出したルミネセンス信号を、直流成分および交流成分を含んだ光電信号へ変換するステップと、を有する、蛍光焦点変調顕微鏡法を実施する方法。 - さらに、前記光電信号を受信して前記交流成分および前記直流の大きさの総和から計算した最大発光強度に基づいて、前記ディスプレイ上の画像を処理するステップを有する、請求項20に記載の方法。
- さらに、前記光電信号を受信して前記光電信号の前記交流成分の画像に基づいてディスプレイ上の画像を処理するステップを有する、請求項20に記載の方法。
- 前記光線を第1ビームおよび第2ビームに分割するステップは、反復的に、前記光源の波長を掃引し、所定の光路長差を与えるステップを含む、請求項20ないし22のいずれか1つに記載の方法。
- 前記光線を第1ビームおよび第2ビームに分割するステップは、第1ミラーおよび第2ミラーを備える空間的位相変調器が、前記第2ミラーを前記第1ミラーに対して移動させて前記第2ビームを前記第1ビームに対して変調させるステップを含む、請求項20ないし23のいずれか1つに記載の方法。
- 前記第2ミラーは、圧電アクチュエータ上に配され、前記圧電アクチュエータに印加される電圧に従って前記第1ビームと前記第2ビームとの間に相対的位相シフトを与える、請求項24に記載の方法。
- さらに、前記第1ビームおよび前記第2ビームを、前記サンプルに対して走査するステップを有する、請求項20ないし25のいずれか1つに記載の方法。
- さらに、照射された前記サンプルの前記ターゲット領域が発した前記ルミネセンス信号の光路上にアパーチャを配して前記サンプルの非ターゲット領域から発せられたルミネセンスが前記光検出器に到達することを阻止するステップを有する、請求項20ないし26のいずれか1つに記載の方法。
- 前記光線を分割する前記空間的位相変調器は、前記光源から発せられた前記光線の光路、および、照射された前記サンプルの前記ターゲット領域が発したルミネセンスの光路に沿って配されている、請求項20ないし27のいずれか1つに記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US94828007P | 2007-07-06 | 2007-07-06 | |
US60/948,280 | 2007-07-06 | ||
PCT/SG2008/000240 WO2009008838A1 (en) | 2007-07-06 | 2008-07-07 | Fluorescence focal modulation microscopy system and method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010532878A true JP2010532878A (ja) | 2010-10-14 |
JP5551069B2 JP5551069B2 (ja) | 2014-07-16 |
Family
ID=39817028
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010514707A Active JP5551069B2 (ja) | 2007-07-06 | 2008-07-07 | 蛍光焦点変調顕微鏡システムおよびその方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20100214404A1 (ja) |
EP (1) | EP2171516A1 (ja) |
JP (1) | JP5551069B2 (ja) |
KR (1) | KR20100045964A (ja) |
CN (1) | CN101802675B (ja) |
WO (1) | WO2009008838A1 (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010197986A (ja) * | 2008-09-16 | 2010-09-09 | Yokogawa Electric Corp | 顕微鏡装置 |
JP2011028208A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-02-10 | Yokogawa Electric Corp | 顕微鏡装置 |
WO2012127907A1 (ja) * | 2011-03-18 | 2012-09-27 | 独立行政法人理化学研究所 | 非線形光学顕微鏡および非線形光学顕微鏡法 |
JP2014505903A (ja) * | 2011-01-20 | 2014-03-06 | アプライド プレシジョン インコーポレイテッド | 光走査システム |
JP2015522850A (ja) * | 2012-07-05 | 2015-08-06 | ナショナル ユニバーシティ オブ シンガポール | 光学顕微鏡およびその制御方法 |
JP2017502300A (ja) * | 2013-12-24 | 2017-01-19 | ティシュヴィジョン、インコーポレーテッド | 多焦点多光子イメージングシステム及び方法 |
JP2017198971A (ja) * | 2016-02-10 | 2017-11-02 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh | マルチスポット走査顕微鏡法のためのデバイスおよび方法 |
US10209502B2 (en) | 2014-04-24 | 2019-02-19 | Olympus Corporation | Microscope and microscopy method |
US10401293B2 (en) | 2015-09-15 | 2019-09-03 | Olympus Corporation | Microscope and microscope observation method |
US11519832B2 (en) | 2015-03-11 | 2022-12-06 | Tissuevision, Inc. | Systems and methods for serial staining and imaging |
Families Citing this family (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8558998B2 (en) | 2008-06-16 | 2013-10-15 | The Regents Of The University Of Colorado, A Body Corporate | Fourier domain sensing |
WO2010036972A1 (en) | 2008-09-25 | 2010-04-01 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Devices, apparatus and method for providing photostimulation and imaging of structures |
CN102754011B (zh) * | 2010-02-03 | 2015-08-05 | 株式会社尼康 | 观察装置及观察方法 |
DE102010013829A1 (de) | 2010-03-26 | 2011-09-29 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Mikroskop und Verfahren zur Erfassung von Probenlicht |
CN101862510B (zh) * | 2010-05-12 | 2013-05-29 | 中国科学院半导体研究所 | 基于双光子激发的肿瘤诊断和光动力肿瘤治疗仪器 |
JP5771422B2 (ja) * | 2010-06-17 | 2015-08-26 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡 |
DE102011013613A1 (de) * | 2010-10-01 | 2012-04-05 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Mikroskop und Mikroskopierverfahren |
DE102010047353A1 (de) | 2010-10-01 | 2012-04-05 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Laser-Scanning-Mikroskop mit umschaltbarer Betriebsweise |
SG182865A1 (en) * | 2011-01-13 | 2012-08-30 | Univ Singapore | Flexible spatial-temporal phase modulator for focal modulation microscopy |
CN103477209B (zh) * | 2011-03-01 | 2016-03-30 | 通用电气医疗集团生物科学公司 | 用于荧光显微镜中照明相位控制的系统和方法 |
JP5616824B2 (ja) | 2011-03-10 | 2014-10-29 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡装置 |
JP5798430B2 (ja) | 2011-10-03 | 2015-10-21 | 浜松ホトニクス株式会社 | 蛍光観測装置及び蛍光観測方法 |
US20140368904A1 (en) * | 2012-02-29 | 2014-12-18 | Agilent Technologies, Inc. | Software Defined Microscope |
CN102645739B (zh) * | 2012-03-20 | 2013-12-25 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 透射型样品相位显微装置和相位显微方法 |
DE102012010207B4 (de) | 2012-05-15 | 2024-02-29 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop und Mikroskopieverfahren |
WO2014172035A1 (en) * | 2013-03-15 | 2014-10-23 | University Of Utah Research Foundation | Coherent fluorescence super-resolution microscopy |
CN103631010B (zh) * | 2013-11-22 | 2016-01-20 | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 | 一种用于双光子显微镜的多点并行照明控制方法及装置 |
CN103885166A (zh) * | 2014-03-28 | 2014-06-25 | 天津大学 | 基于布拉格衍射晶体的超高分辨非线性激发荧光显微系统 |
CN104568884B (zh) * | 2014-12-31 | 2017-03-29 | 深圳先进技术研究院 | 基于焦点调制的荧光显微系统及方法 |
JP6783778B2 (ja) * | 2015-02-18 | 2020-11-11 | アボット ラボラトリーズ | 顕微鏡を基体上に自動的に合焦するための方法、システム、及び装置 |
GB201515862D0 (en) * | 2015-09-08 | 2015-10-21 | Univ Southampton | Polarisation microscope |
US10230927B2 (en) * | 2015-09-30 | 2019-03-12 | Wenzhou Medical University | Single snapshot multi-frequency demodulation method |
CN105245761B (zh) * | 2015-09-30 | 2018-08-24 | 温州医科大学 | 单次快照多频解调方法 |
WO2017104026A1 (ja) * | 2015-12-16 | 2017-06-22 | オリンパス株式会社 | 蛍光観察装置および蛍光観察システム、インキュベータ |
CN109477956B (zh) | 2016-05-30 | 2022-01-14 | 纽约市哥伦比亚大学理事会 | 使用扫掠、共焦对准的平面激发的三维成像 |
EP3465319A4 (en) * | 2016-05-30 | 2020-02-19 | The Trustees of Columbia University in the City of New York | SCAPE MICROSCOPY WITH PHASE MODULATION ELEMENT AND IMAGE RECONSTRUCTION |
KR101893433B1 (ko) * | 2016-11-30 | 2018-10-04 | 단국대학교 산학협력단 | 누화 현상이 방지되는 3차원 영상 획득장치 |
CN108333151B (zh) * | 2017-01-19 | 2021-01-26 | 北京大学 | 一种基于飞秒脉冲整形的超分辨显微成像系统及成像方法 |
CN107402197A (zh) * | 2017-02-23 | 2017-11-28 | 武汉能斯特科技有限公司 | 一种延迟发光的扫描探测方法及设备 |
CN107219617B (zh) * | 2017-05-09 | 2023-03-24 | 浙江大学 | 基于数字微镜器件的快速精准光学聚焦增强方法与系统 |
US10211024B1 (en) * | 2017-08-01 | 2019-02-19 | The Chinese University Of Hong Kong | System and method for axial scanning based on static phase masks |
CN107621463B (zh) * | 2017-10-16 | 2024-03-22 | 苏州微景医学科技有限公司 | 图像重建方法、装置及显微成像装置 |
IT201800003984A1 (it) * | 2018-03-27 | 2019-09-27 | Crestoptics S P A | Metodo di microscopia assistita da dispersione a super localizzazione e relativo apparato |
CN110711937B (zh) * | 2019-11-14 | 2022-01-04 | 安徽同兴科技发展有限责任公司 | 一种切割机激光对焦的参数确定方法 |
CN111060485A (zh) * | 2019-12-31 | 2020-04-24 | 苏州栢科昇科技有限公司 | 微生物多模态成像系统和微生物多模态成像检测方法 |
CN111208531A (zh) * | 2020-01-19 | 2020-05-29 | 中国科学技术大学 | 一种基于宽谱光源的单光子成像激光雷达系统 |
CN112857568A (zh) * | 2021-03-17 | 2021-05-28 | 中国科学技术大学 | 一种基于拓展景深的快速光谱采集系统 |
CN113835207A (zh) * | 2021-08-12 | 2021-12-24 | 浙江大学 | 基于三维照明调制的双物镜单分子荧光显微成像方法和装置 |
CN114414545B (zh) * | 2022-01-21 | 2024-03-05 | 江苏禹视科技有限公司 | 一种荧光扫描检测系统和方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001272344A (ja) * | 2000-03-23 | 2001-10-05 | Olympus Optical Co Ltd | 二重共鳴吸収顕微鏡 |
JP2002323660A (ja) * | 2001-04-07 | 2002-11-08 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 試料の光学的深部分解による光学的把握のための方法および装置 |
JP2003084206A (ja) * | 2001-09-14 | 2003-03-19 | Nikon Corp | 格子照明顕微鏡 |
JP2004170977A (ja) * | 2002-11-15 | 2004-06-17 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 分解能の深度で試料を光学的に把握する方法および配置 |
JP2005515493A (ja) * | 2002-01-15 | 2005-05-26 | エコール ポリテクニック フェデラル デ ローザンヌ | 画像発生用の顕微鏡使用画像化装置および方法 |
JP2006268004A (ja) * | 2005-02-25 | 2006-10-05 | Nikon Corp | 顕微鏡装置 |
WO2007043313A1 (ja) * | 2005-10-11 | 2007-04-19 | Nikon Corporation | 顕微鏡装置及び観察方法 |
WO2007043314A1 (ja) * | 2005-10-13 | 2007-04-19 | Nikon Corporation | 顕微鏡装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3013467A (en) * | 1957-11-07 | 1961-12-19 | Minsky Marvin | Microscopy apparatus |
US5671085A (en) * | 1995-02-03 | 1997-09-23 | The Regents Of The University Of California | Method and apparatus for three-dimensional microscopy with enhanced depth resolution |
DE10118463A1 (de) * | 2001-04-07 | 2002-10-10 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe |
DE10250568A1 (de) * | 2002-10-28 | 2004-05-13 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren zur Verbesserung der Tiefendiskriminierung optisch abbildender Systeme |
US7170675B2 (en) * | 2004-05-19 | 2007-01-30 | Celloptic, Inc. | Method and system for wide-field multi-photon microscopy having a confocal excitation plane |
JP2006235420A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点顕微鏡 |
DE102005046755A1 (de) * | 2005-09-29 | 2007-04-19 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen eines Bildes eines Objektes |
-
2008
- 2008-07-07 KR KR1020107000241A patent/KR20100045964A/ko not_active Application Discontinuation
- 2008-07-07 CN CN200880023668.0A patent/CN101802675B/zh active Active
- 2008-07-07 EP EP08767315A patent/EP2171516A1/en not_active Withdrawn
- 2008-07-07 JP JP2010514707A patent/JP5551069B2/ja active Active
- 2008-07-07 WO PCT/SG2008/000240 patent/WO2009008838A1/en active Application Filing
- 2008-07-07 US US12/667,782 patent/US20100214404A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001272344A (ja) * | 2000-03-23 | 2001-10-05 | Olympus Optical Co Ltd | 二重共鳴吸収顕微鏡 |
JP2002323660A (ja) * | 2001-04-07 | 2002-11-08 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 試料の光学的深部分解による光学的把握のための方法および装置 |
JP2003084206A (ja) * | 2001-09-14 | 2003-03-19 | Nikon Corp | 格子照明顕微鏡 |
JP2005515493A (ja) * | 2002-01-15 | 2005-05-26 | エコール ポリテクニック フェデラル デ ローザンヌ | 画像発生用の顕微鏡使用画像化装置および方法 |
JP2004170977A (ja) * | 2002-11-15 | 2004-06-17 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 分解能の深度で試料を光学的に把握する方法および配置 |
JP2006268004A (ja) * | 2005-02-25 | 2006-10-05 | Nikon Corp | 顕微鏡装置 |
WO2007043313A1 (ja) * | 2005-10-11 | 2007-04-19 | Nikon Corporation | 顕微鏡装置及び観察方法 |
WO2007043314A1 (ja) * | 2005-10-13 | 2007-04-19 | Nikon Corporation | 顕微鏡装置 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
CORLE T R, CONFERENCE ON LASERS AND ELECTRO OPTICS, vol. V7, JPN5010010005, 25 April 1988 (1988-04-25), US, ISSN: 0002738382 * |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010197986A (ja) * | 2008-09-16 | 2010-09-09 | Yokogawa Electric Corp | 顕微鏡装置 |
JP2011028208A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-02-10 | Yokogawa Electric Corp | 顕微鏡装置 |
JP2014505903A (ja) * | 2011-01-20 | 2014-03-06 | アプライド プレシジョン インコーポレイテッド | 光走査システム |
WO2012127907A1 (ja) * | 2011-03-18 | 2012-09-27 | 独立行政法人理化学研究所 | 非線形光学顕微鏡および非線形光学顕微鏡法 |
JP5930220B2 (ja) * | 2011-03-18 | 2016-06-08 | 国立研究開発法人理化学研究所 | 非線形光学顕微鏡および非線形光学顕微鏡法 |
JP2015522850A (ja) * | 2012-07-05 | 2015-08-06 | ナショナル ユニバーシティ オブ シンガポール | 光学顕微鏡およびその制御方法 |
JP2017502300A (ja) * | 2013-12-24 | 2017-01-19 | ティシュヴィジョン、インコーポレーテッド | 多焦点多光子イメージングシステム及び方法 |
US10209502B2 (en) | 2014-04-24 | 2019-02-19 | Olympus Corporation | Microscope and microscopy method |
US11519832B2 (en) | 2015-03-11 | 2022-12-06 | Tissuevision, Inc. | Systems and methods for serial staining and imaging |
US10401293B2 (en) | 2015-09-15 | 2019-09-03 | Olympus Corporation | Microscope and microscope observation method |
JP2017198971A (ja) * | 2016-02-10 | 2017-11-02 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh | マルチスポット走査顕微鏡法のためのデバイスおよび方法 |
JP7071800B2 (ja) | 2016-02-10 | 2022-05-19 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハー | マルチスポット走査顕微鏡法のためのデバイスおよび方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101802675B (zh) | 2014-09-17 |
US20100214404A1 (en) | 2010-08-26 |
WO2009008838A1 (en) | 2009-01-15 |
KR20100045964A (ko) | 2010-05-04 |
CN101802675A (zh) | 2010-08-11 |
EP2171516A1 (en) | 2010-04-07 |
JP5551069B2 (ja) | 2014-07-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5551069B2 (ja) | 蛍光焦点変調顕微鏡システムおよびその方法 | |
US9618445B2 (en) | Optical microscopy systems based on photoacoustic imaging | |
Ortega-Arroyo et al. | Interferometric scattering microscopy (iSCAT): new frontiers in ultrafast and ultrasensitive optical microscopy | |
US8705172B2 (en) | Microscopy method and microscope with enhanced resolution | |
JP6276913B2 (ja) | 試料を照明する方法及びシステム | |
Clausen et al. | A straightforward approach for gated STED-FCS to investigate lipid membrane dynamics | |
Tserevelakis et al. | Hybrid multiphoton and optoacoustic microscope | |
CN108303421B (zh) | 三维高速宽视场层析成像方法及装置 | |
JP2010505094A (ja) | 解像度を高めたルミネセンス顕微鏡検査 | |
JP2006195240A (ja) | 断層画像化装置 | |
CN105527261B (zh) | 一种双光子荧光显微镜的多模态扫描装置 | |
JP2005121796A (ja) | レーザー顕微鏡 | |
Watson et al. | Two-photon microscopy with diffractive optical elements and spatial light modulators | |
Chong et al. | High-speed focal modulation microscopy using acousto-optical modulators | |
Ping et al. | Propagating-path uniformly scanned light sheet excitation microscopy for isotropic volumetric imaging of large specimens | |
Lin et al. | Two-photon scanned light sheet fluorescence microscopy with axicon imaging for fast volumetric imaging | |
Friedrich et al. | Axial resolution beyond the diffraction limit of a sheet illumination microscope with stimulated emission depletion | |
Field et al. | Differential multiphoton laser scanning microscopy | |
CN115656129A (zh) | 一种荧光发射比率超分辨成像方法 | |
Chen et al. | Recent advances in optical microscopy methods for subcellular imaging of thick biological tissues | |
Chang et al. | Temporal focusing multiphoton microscopy with optimized parallel multiline scanning for fast biotissue imaging | |
Olivier et al. | Confocal laser scanning microscopy | |
Shao et al. | Addressable, large-field second harmonic generation microscopy based on 2D acousto-optical deflector and spatial light modulator | |
Young | Applications of Confocal Microscopy | |
Neu et al. | Time-resolved confocal microscopy using a digital micromirror device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110517 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120914 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121106 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130205 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130213 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130306 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130313 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130401 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130408 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130502 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140204 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140507 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140521 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5551069 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |