JP5771422B2 - 顕微鏡 - Google Patents
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Description
この顕微鏡は、二重共鳴吸収を用いて特定の分子を選択して、特定の光学遷移に起因する吸収および蛍光を観察するものである。この原理について、図19〜図22を参照して説明する。図19は、試料を構成する分子の価電子軌道の電子構造を示すもので、先ず、図19に示す基底状態(S0状態:安定状態)の分子がもつ価電子軌道の電子を波長λ1の光により励起して、図20に示す第1励起状態(S1状態)とする。次に、別の波長λ2の光により同様に励起して、図21に示す第2励起状態(S2状態)とする。この励起状態により、分子は蛍光あるいは燐光を発光して、図22に示すように基底状態に戻る。
照明光を空間変調する複数の領域を有する変調光学素子と、
該変調光学素子により変調される前記照明光の光学特性を調整する調整素子と、
を備え、
前記調整素子は、前記複数の領域の各領域の面積、および、前記各領域により変調された前記照明光の位相および透過率、に基づいて、前記複数の領域を透過した前記照明光の電場が、前記照明光の集光位置において干渉により相殺されるように調整し、
前記照明光は、少なくとも2以上の励起量子状態をもつ物質を安定状態から第1量子状態に励起して発光させるための第1照明光と、前記物質を更に他の量子状態に遷移させて発光を抑制する第2照明光とを有し、
前記第1照明光と前記第2照明光とを一部重ね合わせて前記物質を含む試料に集光する対物レンズを含む照明光学系を、さらに備え、
前記照明光学系に前記変調光学素子および前記調整素子が配置されており、
前記調整素子は、前記照明光の光束径を調整するアイリスからなり、
前記アイリスは、入射する照明光の光軸に対して直交する方向に移動可能である、ことを特徴とするものである。
照明光を空間変調する複数の領域を有する変調光学素子と、
該変調光学素子により変調される前記照明光の光学特性を調整する調整素子と、
を備え、
前記調整素子は、前記複数の領域の各領域の面積、および、前記各領域により変調された前記照明光の位相および透過率、に基づいて、前記複数の領域を透過した前記照明光の電場が、前記照明光の集光位置において干渉により相殺されるように調整し、
前記照明光は、少なくとも2以上の励起量子状態をもつ物質を安定状態から第1量子状態に励起して発光させるための第1照明光と、前記物質を更に他の量子状態に遷移させて発光を抑制する第2照明光とを有し、
前記第1照明光と前記第2照明光とを一部重ね合わせて前記物質を含む試料に集光する対物レンズを含む照明光学系を、さらに備え、
前記照明光学系に前記変調光学素子および前記調整素子が配置されており、
2種類以上の波長の照明光を発生可能な複数の照明光源を有し、
前記第1照明光および前記第2照明光は、前記複数の照明光源から同時に発生され、
さらに、前記照明光学系からの前記第1照明光および前記第2照明光の照射により前記試料から発生する光を検出する光検出器と、
該光検出器の入射面側で前記対物レンズの焦点位置と共役な位置に配置された開口が可変の共焦点ピンホールと、
該共焦点ピンホールの前記開口を可変する駆動部と、
前記複数の照明光源を制御して前記第1照明光および前記第2照明光を同時に発生させるとともに、前記第1照明光および前記第2照明光に応じて、前記共焦点ピンホールの前記開口が下式を満たすように、前記駆動部を介して前記開口を制御する制御部と、
を備える、ことを特徴とするものである。
M:対物側の集光像に対する光検出器側の倍率
lp:第1照明光波長
le:第2照明光波長
s dip :蛍光抑制断面積
C e0 :第2照明光のピーク強度
e e :第2照明光のフォトンフラックス
第3の観点に係る発明は、第1または2の観点に係る顕微鏡において、
前記調整素子は、前記各領域の前記面積、前記透過率および前記位相の積が相殺されるように調整する、ことを特徴とするものである。
前記調整素子は、前記変調光学素子により空間変調された前記照明光の瞳面内における前記複数の領域に対応する各領域iの面積をSi、当該領域iを通過した光の位相をθi、透過率をTi、エネルギー密度をUiとするとき、以下の関係式を満たすように調整する、ことを特徴とするものである。
前記変調光学素子は、前記複数の領域として、光軸を中心として動径方向に分割された領域を含む、ことを特徴とするものである。
前記変調光学素子における前記複数の領域は、光軸を挟んで位置する領域aおよび領域bにおける透過率をそれぞれTaおよびTbとし、面積をそれぞれSaおよびSbとし、位相をそれぞれθaおよびθbとするとき、
TaSasinθa+TbSbsinθb=0
を満たす、ことを特徴とするものである。
前記領域aおよび前記領域bの面積が等しい、ことを特徴とするものである。
前記変調光学素子は、前記複数の領域として、同心円状に分割された領域を含む、ことを特徴とするものである。
前記変調光学素子は、前記第2照明光を位相変調する、ことを特徴とするものである。
前記変調光学素子は、前記第1照明光を電場の符号を変えずに透過させるものである、ことを特徴とするものである。
前記変調光学素子は、光学多層膜を備える、ことを特徴とするものである。
前記照明光学系は、前記第1照明光の光軸と前記第2照明光の光軸とを空間的に一致させて重ね合わせる、ことを特徴とするものである。
前記照明光学系は、シングルモードファイバを有し、
前記第1照明光および前記第2照明光は、前記シングルモードファイバを経て前記変調光学素子および前記調整素子に入射される、ことを特徴とするものである。
前記調整素子は、前記照明光の光束径を調整するアイリスからなる、ことを特徴とするものである。
前記アイリスは、入射する照明光の光軸に対して直交する方向に移動可能である、ことを特徴とするものである。
2種類以上の波長の照明光を発生可能な複数の照明光源を有し、
前記第1照明光および前記第2照明光は、前記複数の照明光源から同時に発生される、ことを特徴とするものである。
前記変調光学素子は、前記複数の領域の各領域間の透過率が異なる、ことを特徴とするものである。
第18の観点に係る発明は、第1乃至17のいずれかの観点に係る顕微鏡において、
前記調整素子は、前記変調光学素子を透過した前記照明光において、前記変調光学素子の前記複数の領域間で、前記照明光の光軸を中心として透過率および位相の少なくとも一つの非対称成分が相殺されるように調整する、ことを特徴とするものである。
第19の観点に係る発明は、第18の観点に係る顕微鏡において、
前記調整素子は、前記透過率を補償する素子である、ことを特徴とするものである。
先ず、本発明の概要について、2色光を用いた物質からの発光を抑制して超解像を実現する発光抑制型の超解像顕微鏡を例にとって説明する。
図4は、本発明の第1実施の形態に係る超解像顕微鏡の要部の概略構成を示す図である。この超解像顕微鏡は、2色光を用いる発光抑制型のもので、ポンプ光光源31と、イレース光光源32とを有する。ポンプ光光源31は、例えばNd:YAGレーザを備え、その2倍高調波である波長532nmの光をポンプ光として射出する。また、イレース光光源32は、例えばクリプトンレーザを備え、その発振波長647nmの光をイレース光として射出する。
図7は、本発明の第2実施の形態に係る超解像顕微鏡の要部の概略構成を示す図である。なお、図7において、図4に示した構成要素と同一作用をなす構成要素には、同一参照符号を付して、その説明を省略する。この超解像顕微鏡は、図4に示した超解像顕微鏡において、ダイクロイックミラー35により同軸にコンバインされたポンプ光およびイレース光を、集光レンズ60により集光してシングルモードファイバ61に入射させる。シングルモードファイバ61から射出されるポンプ光およびイレース光は、コリメータレンズ62により平行光に変換されて、アイリス37を経て変調光学素子38に入射される。
図8は、本発明の第3実施の形態に係る超解像顕微鏡の要部の概略構成を示す図である。なお、図8において、図7に示した構成要素と同一作用をなす構成要素には、同一参照符号を付して、その説明を省略する。本実施の形態に係る超解像顕微鏡は、多様な色素分子に対応できるように構成されたものである。すなわち、特に生物分野においては、様々な観測対象が多様な色素で染色されて、生命現象の解明が行われている。
図13は、本発明の第4実施の形態に係る超解像顕微鏡の要部の概略構成を示す図である。本実施の形態に係る超解像顕微鏡は、図11に示した構成において、図8に示した光検出器44側の共焦点ピンホール96が、図13に示すように、X方向およびY方向のスリット幅が可変の矩形状の開口に形成されて、それぞれのスリット幅がPZT等からなる対応する駆動部111x,111yにより開口の大きさが調整可能に構成されている。また、レーザ光源71〜75および駆動部111x,111yの制御部112を備え、これによりレーザ光源71〜75の駆動および組み合わせ、つまり使用するポンプ光およびイレース光の発生が制御されるとともに、発生させるポンプ光およびイレース光に応じて、共焦点ピンホール96の開口(この場合、内接する円の直径)aが、次式(4)を満たすように、駆動部111x,111yを介して制御される。
2 透過率補償プレート
10 変調光学素子
11 中央部領域
20 フレネルゾーンプレート
21 透過率補償プレート
31 ポンプ光光源
32 イレース光光源
34 反射ミラー
35 ダイクロイックミラー
37 アイリス
38 変調光学素子
39 ビームスプリッタ
40 顕微鏡対物レンズ
41 試料ステージ
42 試料
43 分光器
44 光検出器
50 変調光学素子
60 集光レンズ
61 シングルモードファイバ
62 コリメータレンズ
63 ガルバノスキャンユニット
64 瞳投影レンズ
71,72,73,74,75 レーザ光源
86,91 回転型NDフィルタ
92,93 音響光学波長可変フィルタ
96 共焦点ピンホール
97 フィルタ部
101,102 回転フィルタ
111x,111y 駆動部
112 制御部
Claims (19)
- 照明光を空間変調する複数の領域を有する変調光学素子と、
該変調光学素子により変調される前記照明光の光学特性を調整する調整素子と、
を備え、
前記調整素子は、前記複数の領域の各領域の面積、および、前記各領域により変調された前記照明光の位相および透過率、に基づいて、前記複数の領域を透過した前記照明光の電場が、前記照明光の集光位置において干渉により相殺されるように調整し、
前記照明光は、少なくとも2以上の励起量子状態をもつ物質を安定状態から第1量子状態に励起して発光させるための第1照明光と、前記物質を更に他の量子状態に遷移させて発光を抑制する第2照明光とを有し、
前記第1照明光と前記第2照明光とを一部重ね合わせて前記物質を含む試料に集光する対物レンズを含む照明光学系を、さらに備え、
前記照明光学系に前記変調光学素子および前記調整素子が配置されており、
前記調整素子は、前記照明光の光束径を調整するアイリスからなり、
前記アイリスは、入射する照明光の光軸に対して直交する方向に移動可能である、
顕微鏡。 - 照明光を空間変調する複数の領域を有する変調光学素子と、
該変調光学素子により変調される前記照明光の光学特性を調整する調整素子と、
を備え、
前記調整素子は、前記複数の領域の各領域の面積、および、前記各領域により変調された前記照明光の位相および透過率、に基づいて、前記複数の領域を透過した前記照明光の電場が、前記照明光の集光位置において干渉により相殺されるように調整し、
前記照明光は、少なくとも2以上の励起量子状態をもつ物質を安定状態から第1量子状態に励起して発光させるための第1照明光と、前記物質を更に他の量子状態に遷移させて発光を抑制する第2照明光とを有し、
前記第1照明光と前記第2照明光とを一部重ね合わせて前記物質を含む試料に集光する対物レンズを含む照明光学系を、さらに備え、
前記照明光学系に前記変調光学素子および前記調整素子が配置されており、
2種類以上の波長の照明光を発生可能な複数の照明光源を有し、
前記第1照明光および前記第2照明光は、前記複数の照明光源から同時に発生され、
さらに、前記照明光学系からの前記第1照明光および前記第2照明光の照射により前記試料から発生する光を検出する光検出器と、
該光検出器の入射面側で前記対物レンズの焦点位置と共役な位置に配置された開口が可変の共焦点ピンホールと、
該共焦点ピンホールの前記開口を可変する駆動部と、
前記複数の照明光源を制御して前記第1照明光および前記第2照明光を同時に発生させるとともに、前記第1照明光および前記第2照明光に応じて、前記共焦点ピンホールの前記開口が下式を満たすように、前記駆動部を介して前記開口を制御する制御部と、
を備える、
顕微鏡。
M:対物側の集光像に対する光検出器側の倍率
lp:第1照明光波長
le:第2照明光波長
sdip:蛍光抑制断面積
Ce0:第2照明光のピーク強度
ee:第2照明光のフォトンフラックス - 前記調整素子は、前記各領域の前記面積、前記透過率および前記位相の積が相殺されるように調整する、請求項1又は2に記載の顕微鏡。
- 前記変調光学素子は、前記複数の領域として、光軸を中心として動径方向に分割された領域を含む、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の顕微鏡。
- 前記変調光学素子における前記複数の領域は、光軸を挟んで位置する領域aおよび領域bにおける透過率をそれぞれTaおよびTbとし、面積をそれぞれSaおよびSbとし、位相をそれぞれθaおよびθbとするとき、
TaSasinθa+TbSbsinθb=0
を満たす、請求項5に記載の顕微鏡。 - 前記領域aおよび前記領域bの面積が等しい、請求項6に記載の顕微鏡。
- 前記変調光学素子は、前記複数の領域として、同心円状に分割された領域を含む、請求項1乃至7のいずれか一項に記載の顕微鏡。
- 前記変調光学素子は、前記第2照明光を位相変調する、請求項1乃至8のいずれか一項に記載の顕微鏡。
- 前記変調光学素子は、前記第1照明光を電場の符号を変えずに透過させる、請求項9に記載の顕微鏡。
- 前記変調光学素子は、光学多層膜を備える、請求項10に記載の顕微鏡。
- 前記照明光学系は、前記第1照明光の光軸と前記第2照明光の光軸とを空間的に一致させて重ね合わせる、請求項1乃至11のいずれか一項に記載の顕微鏡。
- 前記照明光学系は、シングルモードファイバを有し、
前記第1照明光および前記第2照明光は、前記シングルモードファイバを経て前記変調光学素子および前記調整素子に入射される、請求項12に記載の顕微鏡。 - 前記調整素子は、前記照明光の光束径を調整するアイリスからなる、請求項2に記載の顕微鏡。
- 前記アイリスは、入射する照明光の光軸に対して直交する方向に移動可能である、請求項14に記載の顕微鏡。
- 2種類以上の波長の照明光を発生可能な複数の照明光源を有し、
前記第1照明光および前記第2照明光は、前記複数の照明光源から同時に発生される、請求項1に記載の顕微鏡。 - 前記変調光学素子は、前記複数の領域の各領域間の透過率が異なる、請求項1乃至16のいずれか一項に記載の顕微鏡。
- 前記調整素子は、前記変調光学素子を透過した前記照明光において、前記変調光学素子の前記複数の領域間で、前記照明光の光軸を中心として透過率および位相の少なくとも一つの非対称成分が相殺されるように調整する、請求項1乃至17のいずれか一項に記載の顕微鏡。
- 前記調整素子は、前記透過率を補償する素子である、請求項18に記載の顕微鏡。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011059176A JP5771422B2 (ja) | 2010-06-17 | 2011-03-17 | 顕微鏡 |
CN201110162402.8A CN102288588B (zh) | 2010-06-17 | 2011-06-16 | 显微镜 |
US13/162,993 US8699132B2 (en) | 2010-06-17 | 2011-06-17 | Ultra-high resolution microscope |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010138096 | 2010-06-17 | ||
JP2010138096 | 2010-06-17 | ||
JP2010227698 | 2010-10-07 | ||
JP2010227698 | 2010-10-07 | ||
JP2011059176A JP5771422B2 (ja) | 2010-06-17 | 2011-03-17 | 顕微鏡 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012098692A JP2012098692A (ja) | 2012-05-24 |
JP2012098692A5 JP2012098692A5 (ja) | 2014-04-10 |
JP5771422B2 true JP5771422B2 (ja) | 2015-08-26 |
Family
ID=45328431
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011059176A Expired - Fee Related JP5771422B2 (ja) | 2010-06-17 | 2011-03-17 | 顕微鏡 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8699132B2 (ja) |
JP (1) | JP5771422B2 (ja) |
CN (1) | CN102288588B (ja) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102010013830A1 (de) * | 2010-03-26 | 2011-09-29 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Mikroskop und Verfahren zur mikroskopischen Erfassung von Licht einer Probe |
US9052500B2 (en) * | 2011-11-01 | 2015-06-09 | Intelligent Imaging Innovations, Inc. | Fast pinhole changer for confocal microscopy or spatial filter |
FR2993677B1 (fr) * | 2012-07-18 | 2015-03-27 | Valeo Etudes Electroniques | Dispositif et procede d'emission d'un faisceau lumineux destine a former une image, systeme de projection et afficheur utilisant ledit dispositif |
DE102012214568A1 (de) * | 2012-08-16 | 2014-02-20 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Optische Anordnung und ein Mikroskop |
CN103090787B (zh) * | 2013-01-29 | 2016-01-20 | 哈尔滨工业大学 | 基于被测表面荧光激发的共焦显微测量装置 |
JP2014182239A (ja) | 2013-03-19 | 2014-09-29 | Olympus Corp | 超解像顕微鏡 |
JP6234105B2 (ja) * | 2013-08-05 | 2017-11-22 | オリンパス株式会社 | 超解像顕微鏡 |
CN103411554B (zh) * | 2013-08-15 | 2015-11-18 | 哈尔滨工业大学 | 基于量子点效应的量子随动针孔微结构角谱扫描测量装置 |
CN103735249B (zh) * | 2013-12-27 | 2015-04-22 | 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 | 荧光检测仪 |
JP6365662B2 (ja) * | 2014-04-01 | 2018-08-01 | 株式会社ニコン | 超解像観察装置及び超解像観察方法 |
US10257918B2 (en) * | 2015-09-28 | 2019-04-09 | Kla-Tencor Corporation | System and method for laser-sustained plasma illumination |
EP3365721B1 (en) * | 2015-10-19 | 2022-04-27 | Deutsches Krebsforschungszentrum | Chromatic phase plate |
JP6642705B2 (ja) | 2016-05-19 | 2020-02-12 | 株式会社ニコン | 顕微鏡 |
DE102016119727A1 (de) * | 2016-10-17 | 2018-04-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Vorrichtung zur Strahlmanipulation für ein Scanning-Mikroskop und Mikroskop |
DE102016122528A1 (de) * | 2016-11-22 | 2018-05-24 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zum Steuern oder Regeln einer Mikroskopbeleuchtung |
EP3781977A1 (en) * | 2018-04-17 | 2021-02-24 | ChemoMetec A/S | Depicting of objects |
CN108982428A (zh) * | 2018-05-23 | 2018-12-11 | 哈尔滨工业大学 | 椭球反射镜照明自适应谐波共焦显微测量方法 |
CN108918475A (zh) * | 2018-05-23 | 2018-11-30 | 哈尔滨工业大学 | 基于径向偏振光照明反射式共焦收集谐波显微成像方法 |
US20210315535A1 (en) * | 2018-10-23 | 2021-10-14 | Lensfree Ltd. | System and method for use in x-ray imaging |
DE102019218912A1 (de) | 2019-12-04 | 2021-06-10 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung einer Probenebene |
CN116683271B (zh) * | 2023-08-04 | 2023-11-21 | 北京卓镭激光技术有限公司 | 一种脉冲宽度连续可调的光纤激光器 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ATE204086T1 (de) | 1994-02-01 | 2001-08-15 | Hell Stefan | Vorrichtung und verfahren zum optischen messen eines probenpunktes einer probe mit hoher ortsauflösung |
US5866911A (en) | 1994-07-15 | 1999-02-02 | Baer; Stephen C. | Method and apparatus for improving resolution in scanned optical system |
JP3164989B2 (ja) | 1994-12-28 | 2001-05-14 | 科学技術振興事業団 | 試料観察方法および多波長光光学顕微鏡 |
JP3020453B2 (ja) | 1996-11-13 | 2000-03-15 | 科学技術振興事業団 | 光学顕微鏡 |
JP3350442B2 (ja) | 1998-04-09 | 2002-11-25 | 科学技術振興事業団 | 顕微鏡システム |
JP4614495B2 (ja) * | 2000-03-23 | 2011-01-19 | オリンパス株式会社 | 二重共鳴吸収顕微鏡 |
US6859313B2 (en) * | 2001-03-23 | 2005-02-22 | Japan Science & Technology Corporation | Super resolution microscope |
JP2003167196A (ja) * | 2001-12-04 | 2003-06-13 | Nikon Corp | 反射屈折光学系 |
JP2003262798A (ja) * | 2002-03-12 | 2003-09-19 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡 |
JP4334835B2 (ja) * | 2002-08-28 | 2009-09-30 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 顕微鏡 |
JP2004239660A (ja) * | 2003-02-04 | 2004-08-26 | Japan Science & Technology Agency | 顕微鏡 |
JP2004317741A (ja) * | 2003-04-15 | 2004-11-11 | Olympus Corp | 顕微鏡およびその光学調整方法 |
US7282716B2 (en) * | 2003-11-10 | 2007-10-16 | Technology Innovations, Llc | Digital imaging assembly and methods thereof |
US20060043302A1 (en) * | 2003-11-10 | 2006-03-02 | Prelewitz David F | Digital imaging assembly & methods thereof |
JP2006047912A (ja) * | 2004-08-09 | 2006-02-16 | Olympus Corp | 超解像顕微鏡 |
JP2006058477A (ja) * | 2004-08-18 | 2006-03-02 | Olympus Corp | 超解像顕微鏡 |
JP4425098B2 (ja) * | 2004-09-06 | 2010-03-03 | 浜松ホトニクス株式会社 | 蛍光顕微鏡および蛍光相関分光解析装置 |
JP2008058003A (ja) * | 2006-08-29 | 2008-03-13 | Olympus Corp | 顕微鏡 |
KR20100045964A (ko) * | 2007-07-06 | 2010-05-04 | 내셔널 유니버시티 오브 싱가포르 | 형광 초점변조 현미경 시스템 및 방법 |
JP5206681B2 (ja) * | 2007-09-05 | 2013-06-12 | 株式会社ニコン | 構造化照明顕微鏡装置 |
JP2010015026A (ja) * | 2008-07-04 | 2010-01-21 | Olympus Corp | 超解像顕微鏡およびこれに用いる空間変調光学素子 |
US8275226B2 (en) * | 2008-12-09 | 2012-09-25 | Spectral Applied Research Ltd. | Multi-mode fiber optically coupling a radiation source module to a multi-focal confocal microscope |
US8174761B2 (en) * | 2009-06-10 | 2012-05-08 | Universitat Heidelberg | Total internal reflection interferometer with laterally structured illumination |
-
2011
- 2011-03-17 JP JP2011059176A patent/JP5771422B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2011-06-16 CN CN201110162402.8A patent/CN102288588B/zh active Active
- 2011-06-17 US US13/162,993 patent/US8699132B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8699132B2 (en) | 2014-04-15 |
CN102288588B (zh) | 2015-10-14 |
US20110310475A1 (en) | 2011-12-22 |
CN102288588A (zh) | 2011-12-21 |
JP2012098692A (ja) | 2012-05-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140221 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140221 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140807 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140826 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150331 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150525 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150616 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150629 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5771422 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |