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上記目的を達成する第1の観点に係る顕微鏡の発明は、
照明光を空間変調する第一の領域と第二の領域とを含む複数の領域を有する変調光学素子と、
該変調光学素子により変調される前記照明光の光学特性を調整する調整素子と、
を備え
前記調整素子は、前記第一の領域及び前記第二の領域の各領域の面積、および、前記各領域により変調された前記照明光の位相および透過率、に基づいて、前記第一の領域および前記第二の領域を透過した前記照明光の電場が、前記照明光の集光位置において干渉により相殺されるように調整する、ことを特徴とするものである。
第2の観点に係る発明は、第1の観点に係る顕微鏡において、
前記調整素子は、前記各領域の前記面積、記透過率および前記位相のが相殺されるように調整する、ことを特徴とするものである。
第3の観点に係る発明は、第の観点に係る顕微鏡において、
前記調整素子は、前記変調光学素子により空間変調された前記照明光の瞳面内における前記複数の領域に対応する各領域iの面積をS、当該領域iを通過した光の位相をθ、透過率をT、エネルギー密度をUとするとき、以下の関係式を満たすように調整する、ことを特徴とするものである。
Figure 2012098692
第4の観点に係る発明は、第1乃至3のいずれかの観点に係る顕微鏡において、
前記調整素子は、前記変調光学素子に一体に形成されている、ことを特徴とするものである。
第5の観点に係る発明は、第1乃至4のいずれかの観点に係る顕微鏡において、
前記変調光学素子は、前記複数の領域として、光軸を中心として動径方向に分割された領域を含む、ことを特徴とするものである。
第8の観点に係る発明は、第1乃至7のいずれかの観点に係る顕微鏡において、
前記変調光学素子は、前記複数の領域として、同心円状に分割された領域を含む、ことを特徴とするものである。
第17の観点に係る発明は、第9乃至16のいずれかの観点に係る顕微鏡において、
前記第1照明光および前記第2照明光を発生可能な照明光源を有し、
前記第1照明光および前記第2照明光は、前記照明光源から同時に発生される、ことを特徴とするものである。
前記照明光学系からの前記第1照明光および前記第2照明光の照射により前記試料から発生する光を検出する光検出器と、
該光検出器の入射面側で前記対物レンズの焦点位置と共役な位置に配置された開口が可変の共焦点ピンホールと、
該共焦点ピンホールの前記開口を可変する駆動部と、
前記複数の照明光源を制御して前記第1照明光および前記第2照明光を同時に発生させるとともに、前記第1照明光および前記第2照明光に応じて、前記共焦点ピンホールの前記開口が下式を満たすように、前記駆動部を介して前記開口を制御する制御部と、
を備えることを特徴とするものである
Figure 2012098692
NA:対物レンズの開口数
M:対物側の集光像に対する光検出器側の倍率
lp:第1照明光波長
le:第2照明光波長
sdip:蛍光抑制断面積
Ce0:第2照明光のピーク強度
ee:第2照明光のフォトンフラックス

第19の観点に係る発明は、第9乃至18のいずれかの観点に係る顕微鏡において、
2種類以上の波長の照明光を発生可能な複数の照明光源を有し、
前記第1照明光および前記第2照明光は、前記複数の照明光源から同時に発生される、ことを特徴とするものである。
第20の観点に係る発明は、第1乃至19のいずれかの観点に係る顕微鏡において、
前記変調光学素子は、前記複数の領域の少なくとも1つの領域において、前記透過率および前記位相の少なくとも一つが不均一である、ことを特徴とするものである。
第21の観点に係る発明は、第1乃至20のいずれかの観点に係る顕微鏡において、
前記調整素子は、前記変調光学素子の前記複数の領域の少なくとも1つの領域において、当該領域を透過した前記照明光の前記透過率および前記位相の少なくとも一つを均一になるように調整する、ことを特徴とするものである。
第22の観点に係る発明は、第21の観点に係る顕微鏡において、
前記調整素子は、前記透過率を補償する素子である、ことを特徴とするものである。

Claims (22)

  1. 照明光を空間変調する第一の領域と第二の領域とを含む複数の領域を有する変調光学素子と、
    該変調光学素子により変調される前記照明光の光学特性を調整する調整素子と、
    を備え
    前記調整素子は、前記第一の領域及び前記第二の領域の各領域の面積、および、前記各領域により変調された前記照明光の位相および透過率、に基づいて、前記第一の領域および前記第二の領域を透過した前記照明光の電場が、前記照明光の集光位置において干渉により相殺されるように調整する、顕微鏡。
  2. 前記調整素子は、前記各領域の前記面積、記透過率および前記位相のが相殺されるように調整する、請求項1に記載の顕微鏡。
  3. 前記調整素子は、前記変調光学素子により空間変調された前記照明光の瞳面内における前記複数の領域に対応する各領域iの面積をS、当該領域iを通過した光の位相をθ、透過率をT、エネルギー密度をUとするとき、以下の関係式を満たすように調整する、請求項に記載の顕微鏡。
    Figure 2012098692
  4. 前記調整素子は、前記変調光学素子に一体に形成されている、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の顕微鏡。
  5. 前記変調光学素子は、前記複数の領域として、光軸を中心として動径方向に分割された領域を含む、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の顕微鏡。
  6. 前記変調光学素子における前記複数の領域は、光軸を挟んで位置する領域aおよび領域bにおける透過率をそれぞれTおよびTとし、面積をそれぞれSおよびSとし、位相をそれぞれθおよびθとするとき、
    sinθ+Tsinθ=0
    を満たす、請求項5に記載の顕微鏡。
  7. 前記領域aおよび前記領域bの面積が等しい、請求項6に記載の顕微鏡。
  8. 前記変調光学素子は、前記複数の領域として、同心円状に分割された領域を含む、請求項1乃至7のいずれか一項に記載の顕微鏡。
  9. 前記照明光は、少なくとも2以上の励起量子状態をもつ物質を安定状態から第1量子状態に励起して発光させるための第1照明光と、前記物質を更に他の量子状態に遷移させて発光を抑制する第2照明光とを有し、
    前記第1照明光と前記第2照明光とを一部重ね合わせて前記物質を含む試料に集光する対物レンズを含む照明光学系を、さらに備え、
    前記照明光学系に前記変調光学素子および前記調整素子が配置されている、請求項1に記載の顕微鏡。
  10. 前記変調光学素子は、前記第2照明光を位相変調する、請求項9に記載の顕微鏡。
  11. 前記変調光学素子は、前記第1照明光を電場の符号を変えずに透過させる、請求項10に記載の顕微鏡。
  12. 前記変調光学素子は、光学多層膜を備える、請求項11に記載の顕微鏡。
  13. 前記照明光学系は、前記第1照明光の光軸と前記第2照明光の光軸とを空間的に一致させて重ね合わせる、請求項9に記載の顕微鏡。
  14. 前記照明光学系は、シングルモードファイバを有し、
    前記第1照明光および前記第2照明光は、前記シングルモードファイバを経て前記変調光学素子および前記調整素子に入射される、請求項13に記載の顕微鏡。
  15. 前記調整素子は、前記照明光の光束径を調整するアイリスからなる、請求項9に記載の顕微鏡。
  16. 前記アイリスは、入射する照明光の光軸に対して直交する方向に移動可能である、請求項15に記載の顕微鏡。
  17. 前記第1照明光および前記第2照明光を発生可能な照明光源を有し、
    前記第1照明光および前記第2照明光は、前記照明光源から同時に発生される、請求項9乃至16のいずれか一項に記載の顕微鏡。
  18. 前記照明光学系からの前記第1照明光および前記第2照明光の照射により前記試料から発生する光を検出する光検出器と、
    該光検出器の入射面側で前記対物レンズの焦点位置と共役な位置に配置された開口が可変の共焦点ピンホールと、
    該共焦点ピンホールの前記開口を可変する駆動部と、
    前記複数の照明光源を制御して前記第1照明光および前記第2照明光を同時に発生させるとともに、前記第1照明光および前記第2照明光に応じて、前記共焦点ピンホールの前記開口が下式を満たすように、前記駆動部を介して前記開口を制御する制御部と、
    を備えることを特徴とする請求項17に記載の顕微鏡。
    Figure 2012098692
    NA:対物レンズの開口数
    M:対物側の集光像に対する光検出器側の倍率
    lp:第1照明光波長
    le:第2照明光波長
    sdip:蛍光抑制断面積
    Ce0:第2照明光のピーク強度
    ee:第2照明光のフォトンフラックス
  19. 2種類以上の波長の照明光を発生可能な複数の照明光源を有し、
    前記第1照明光および前記第2照明光は、前記複数の照明光源から同時に発生される、請求項9乃至18のいずれか一項に記載の顕微鏡。
  20. 前記変調光学素子は、前記複数の領域の少なくとも1つの領域において、前記透過率および前記位相の少なくとも一つが不均一である、請求項1乃至19のいずれか一項に記載の顕微鏡。
  21. 前記調整素子は、前記変調光学素子の前記複数の領域の少なくとも1つの領域において、当該領域を透過した前記照明光の前記透過率および前記位相の少なくとも一つを均一になるように調整する、請求項1乃至20のいずれか一項に記載の顕微鏡。
  22. 前記調整素子は、前記透過率を補償する素子である、請求項21に記載の顕微鏡。
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Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010013830A1 (de) * 2010-03-26 2011-09-29 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskop und Verfahren zur mikroskopischen Erfassung von Licht einer Probe
US9052500B2 (en) * 2011-11-01 2015-06-09 Intelligent Imaging Innovations, Inc. Fast pinhole changer for confocal microscopy or spatial filter
FR2993677B1 (fr) * 2012-07-18 2015-03-27 Valeo Etudes Electroniques Dispositif et procede d'emission d'un faisceau lumineux destine a former une image, systeme de projection et afficheur utilisant ledit dispositif
DE102012214568A1 (de) * 2012-08-16 2014-02-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Optische Anordnung und ein Mikroskop
CN103090787B (zh) * 2013-01-29 2016-01-20 哈尔滨工业大学 基于被测表面荧光激发的共焦显微测量装置
JP2014182239A (ja) 2013-03-19 2014-09-29 Olympus Corp 超解像顕微鏡
JP6234105B2 (ja) * 2013-08-05 2017-11-22 オリンパス株式会社 超解像顕微鏡
CN103411554B (zh) * 2013-08-15 2015-11-18 哈尔滨工业大学 基于量子点效应的量子随动针孔微结构角谱扫描测量装置
CN103735249B (zh) * 2013-12-27 2015-04-22 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 荧光检测仪
JP6365662B2 (ja) * 2014-04-01 2018-08-01 株式会社ニコン 超解像観察装置及び超解像観察方法
US10257918B2 (en) * 2015-09-28 2019-04-09 Kla-Tencor Corporation System and method for laser-sustained plasma illumination
EP3365721B1 (en) 2015-10-19 2022-04-27 Deutsches Krebsforschungszentrum Chromatic phase plate
JP6642705B2 (ja) 2016-05-19 2020-02-12 株式会社ニコン 顕微鏡
DE102016119727A1 (de) * 2016-10-17 2018-04-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung zur Strahlmanipulation für ein Scanning-Mikroskop und Mikroskop
DE102016122528A1 (de) 2016-11-22 2018-05-24 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zum Steuern oder Regeln einer Mikroskopbeleuchtung
EP3781977A1 (en) * 2018-04-17 2021-02-24 ChemoMetec A/S Depicting of objects
CN108918475A (zh) * 2018-05-23 2018-11-30 哈尔滨工业大学 基于径向偏振光照明反射式共焦收集谐波显微成像方法
CN108982428A (zh) * 2018-05-23 2018-12-11 哈尔滨工业大学 椭球反射镜照明自适应谐波共焦显微测量方法
US20210315535A1 (en) * 2018-10-23 2021-10-14 Lensfree Ltd. System and method for use in x-ray imaging
DE102019218912A1 (de) * 2019-12-04 2021-06-10 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung einer Probenebene
CN116683271B (zh) * 2023-08-04 2023-11-21 北京卓镭激光技术有限公司 一种脉冲宽度连续可调的光纤激光器

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0801759B1 (de) 1994-02-01 2001-08-08 Stefan Dr. Hell Vorrichtung und verfahren zum optischen messen eines probenpunktes einer probe mit hoher ortsauflösung
US5866911A (en) 1994-07-15 1999-02-02 Baer; Stephen C. Method and apparatus for improving resolution in scanned optical system
JP3164989B2 (ja) 1994-12-28 2001-05-14 科学技術振興事業団 試料観察方法および多波長光光学顕微鏡
JP3020453B2 (ja) 1996-11-13 2000-03-15 科学技術振興事業団 光学顕微鏡
JP3350442B2 (ja) 1998-04-09 2002-11-25 科学技術振興事業団 顕微鏡システム
JP4614495B2 (ja) * 2000-03-23 2011-01-19 オリンパス株式会社 二重共鳴吸収顕微鏡
US6859313B2 (en) * 2001-03-23 2005-02-22 Japan Science & Technology Corporation Super resolution microscope
JP2003167196A (ja) * 2001-12-04 2003-06-13 Nikon Corp 反射屈折光学系
JP2003262798A (ja) * 2002-03-12 2003-09-19 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡
JP4334835B2 (ja) * 2002-08-28 2009-09-30 独立行政法人科学技術振興機構 顕微鏡
JP2004239660A (ja) * 2003-02-04 2004-08-26 Japan Science & Technology Agency 顕微鏡
JP2004317741A (ja) * 2003-04-15 2004-11-11 Olympus Corp 顕微鏡およびその光学調整方法
US20060043302A1 (en) * 2003-11-10 2006-03-02 Prelewitz David F Digital imaging assembly & methods thereof
JP2007510963A (ja) * 2003-11-10 2007-04-26 テクノロジー イノヴェイションズ リミテッド ライアビリティ カンパニー デジタル画像化組立品、及びその方法
JP2006047912A (ja) * 2004-08-09 2006-02-16 Olympus Corp 超解像顕微鏡
JP2006058477A (ja) * 2004-08-18 2006-03-02 Olympus Corp 超解像顕微鏡
JP4425098B2 (ja) * 2004-09-06 2010-03-03 浜松ホトニクス株式会社 蛍光顕微鏡および蛍光相関分光解析装置
JP2008058003A (ja) * 2006-08-29 2008-03-13 Olympus Corp 顕微鏡
KR20100045964A (ko) * 2007-07-06 2010-05-04 내셔널 유니버시티 오브 싱가포르 형광 초점변조 현미경 시스템 및 방법
JP5206681B2 (ja) * 2007-09-05 2013-06-12 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置
JP2010015026A (ja) * 2008-07-04 2010-01-21 Olympus Corp 超解像顕微鏡およびこれに用いる空間変調光学素子
US8275226B2 (en) * 2008-12-09 2012-09-25 Spectral Applied Research Ltd. Multi-mode fiber optically coupling a radiation source module to a multi-focal confocal microscope
US8174761B2 (en) * 2009-06-10 2012-05-08 Universitat Heidelberg Total internal reflection interferometer with laterally structured illumination

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