JP6282641B2 - 顕微鏡およびspim顕微鏡検査方法 - Google Patents

顕微鏡およびspim顕微鏡検査方法 Download PDF

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Description

本発明は、検出器上に試料を結像するための結像対物レンズと、結像対物レンズの焦点面内またはこの焦点面の付近の規定の平面内でシート光により試料を照明するための手段とを含む顕微鏡に関する。照明のための手段は、コヒーレント光を放射する照明源を含んでいる。
照明用ビーム経路および検出用ビーム経路が実質的に互いに垂直に配置されており、かつ試料が結像対物レンズの焦点面内で、しかも結像対物レンズの光軸に垂直にシート光により照明される顕微鏡は、選択的平面照明顕微鏡検査(SPIM)の方法に基づいて試料を調査するために設計されている。3次元の試料を、深度の異なる個々の平面内で1点1点走査し、その際に取得された画像情報を続いて試料の3次元の結像へと組み立てる共焦点レーザ走査型顕微鏡検査(LSM)とは異なり、SPIM技術は、広視野顕微鏡検査を基礎としており、試料の個々の平面の光学的断面に基づく試料の画像表示を可能にしている。
SPIM技術の利点は、なかでも、画像情報の捕捉を行う速度が比較的速いこと、生物試料の退色の危険性が比較的小さいこと、および試料への焦点の侵入深度が比較的大きいことに在る。
原理的には、SPIM技術では、試料中に含まれているかまたは試料に導入された蛍光体を、いわゆるシート光へと成形したレーザ光により励起する。試料の深度で選択した平面を1つずつシート光により照明し、結像光学系によりこれらの試料面の画像を光学的断面の形態で取得する。このような静止したシート光による励起に実質的に同等なのは、結像対物レンズの焦点面内で、薄くて回転対称のレーザビームが高速で往復移動することである。これにより実質的に、つまり観察時間全体の時間平均では、シート光の形態が生じる。
SPIM技術は、例えば(非特許文献1)、(非特許文献2)、(特許文献1)、および(特許文献2)に記載されている。
図1では、最初にSPIM顕微鏡の基本構造が示されている。照明源1の光は、照明光学系2によりシート光へと成形され、試料3へと誘導される。試料およびシート光は結像対物レンズ4の焦点面内に存在している。結像対物レンズ4の光軸は、試料3が照明される方向に対して垂直である。照明光学系2は一般的に複数の光学素子を含んでおり、これらの光学素子が、照明源1のコヒーレント光をコリメートし、それを基にシート光を成形する。現況技術では、一般的に照明光学系2が円柱レンズも含んでおり、この円柱レンズの平坦な側を試料に向け、アーチ状の側を照明源の方に向けている。以下に、現況技術から知られている構成に対して被写界深度を上昇させ、かつ影投射を減少させたシート光の生成が可能な、照明光学系2の複数の例を説明する。
独国特許出願公開第10257423号明細書 国際公開第2004/0530558号
シュテルツァー(Stelzer)他、Optics Letters 31、1477(2006) シュテルツァー(Stelzer)他、Science 305、1007(2004)
1方向(y方向)では1μm未満の広がりであるが、ほかの2つの方向ではできるだけ大きく広がっている光分布(シート光)が望ましく、これに関しy方向ではシート光の上および下に光が存在しないことが望ましい。このシート光の上および下の光は、観察方向(y方向)からの測定を妨害する可能性がある。
これまでに知られている解決策
a)干渉パターンは、y方向では薄く、かつ原理的には理論的にx方向およびz方向に無限に広がることができるが、ただしy方向に周期的に連なっており、したがってシート光の外に非常に多くの光が存在している。
b)ベッセルビーム(独国特許出願公開第102007063274号明細書)は、理論的にはz方向に無限に広がることができ、yでは所望の直径を有しているが、ただしビームの外ではy方向で出力を非常に多く復活させる。すなわちベッセルビームをx方向にスキャンすると確かにシート光は得られるが、所望の平面の上および下に非常に多くの光出力が伴う。
c)円柱レンズによる線焦点:円柱レンズによりx方向の焦点を生成することができる。すなわちこのビームをデフォーカスによりz方向にスキャンすると、同様にシート光を実現することができる。
円柱レンズは、入射するコリメートされたレーザビームから、x方向の線焦点を成形する(円柱レンズの後ろに間隔fをあけて)。この線焦点をz方向に変位することができる(デフォーカス、例えば変位可能なレンズまたはSLMによる焦点距離fの変更によって実現可能)。ただし、この線焦点はz方向の広がりが非常に小さく(DOF≒λ/NA、DOF=焦点深度)、この広がりは、線焦点がy方向で薄くなればなるほど、ますます小さくなる。
例:NA=0.5→λ=0.488μmの場合、DOF≒λ/NA≒2μmとなる。
上に挙げた解決策の欠点は、単一ビームの広がりが小さいということ、またはビームをスキャンしなければならないという必要条件である。さらに、ベッセルビームの場合はy方向に、およびx線焦点の場合はz方向に、非常に多くの光が存在しており、この光は試料を退色させる可能性がある。したがって、さらなる目標は、光の焦点の広がりを大きくすることである。
本発明は独立請求項の特徴によって特徴づけられる。
好ましい変形形態は従属請求項の対象である。
特許請求項は、明確に本発明の開示内容に含まれている。
本発明は、「SPIM」顕微鏡検査のための顕微鏡ならびに帰属の顕微鏡方法ならびに顕微鏡の動作方法ならびに特許請求項に挙げたSPIM顕微鏡検査のためのSincフィルタおよびマシュービームの有利な使用に関する。
これに関し、本発明により以下のことを提案する。
z方向における伝播不変性のまたは、明確に規定された分布は、光の周波数スペクトルにおけるz成分を制限することによって得られる。各々のz成分には、「伝播」により、もう1つの位相シフトが生じるので、周波数スペクトルのz成分をフィルタ関数によって限定することが有利である。とりわけ、z方向のフィルタ関数としてSinc(z)関数を使用することが提案される。
原理的には、Sinc(z)^2関数のようなその他の関数も考えられるが、Sinc関数は、zでの(理想的に)一定のプロフィルを可能にするという特別な利点を提供する。
もちろん、正確なフィルタ関数はさらに最適化することができ、それゆえSinc関数はここでは、z方向において比較的大きな領域にわたり、軸上でのほぼ一定のビームプロフィルを可能にする関数のために特に有利として挙げられている。
つまり、本発明によれば、線焦点の広がりは、z方向では、円柱レンズの前のSinc(z)フィルタによって大きくすることができる。このためにSinc(z)フィルタはy方向に変形され、y方向のフィルタとして実現される。ただし、これに関しては、Sinc関数は正および負の値を有するので、構造が比較的複雑なフィルタが必要である。純粋な振幅フィルタは正の値しか透過できない。フィルタ透過の負の値は、λ/2の位相シフトに相当する。ただし、追加的な例えばλ/2の位相シフトにより負の値も透過することができる。このフィルタ関数はx方向では一定であることができる。
図2は、このような、複素フィルタの理論的に理想的な透過軌道の一例を示している。コリメートされたレーザビームLKが概略的に示されており、このレーザビームは、使用された光学系の瞳内に配置された空間フィルタFを通り抜け、この空間フィルタにより振幅および位相において影響を及ぼされる。対応する空間的な光分布は、変調されたレーザビームMLとして概略的に示されている。
ここでは、最初に空間周波数フィルタsinc(ν)が示されている。
照明方向において、円柱レンズZLおよび生成されたシート光LBが続いている。sinc(ν)は、エヴァルトの方程式によりν方向にリスケーリングされたν=0(軸上)でゼロ位のSincに相当することが有利である。したがって、y軸上に投射されたSinc(ν)はz方向での広がりを生じさせる。
ただし、ν軸に投射されたSinc(ν)は、未だ、y方向でのビームプロフィルを理想的には制限していない。したがって、y方向に投射されるsinc(ν)は、例えばsinc(ν)と(掛け算で)重ね合わされる。すなわち、このsinc(ν)がシート光をy方向において制限し、その一方で、ν軸に投射されたSinc(ν)はシート光を特定のz距離にわたって一定にする。
両方のSinc関数は、影響し合う。すなわち、小さなy広がりは、広げられたsinc(ν)を必要とし、この広げられたsinc(ν)は、例に示したように、例えば投射されたsinc(ν)に相当するのが望ましい。
これにより、この例では、DOF≒8μmを達成することができる。さらなる例を以降のページに挙げる。
さらなる一例では、実質的にx軸に沿って一定に形成された円柱光学系を用いる代わりに、通常の回転対称な例えば球面を有する光学系を用いてもシート光を実施することができる。この場合、z方向のフィルタ関数(Sinc(ν))は、回転対称の関数としてx−y平面内に投射され、そして、yでの所望の制限ならびにxおよびzでの所望の広がりを得るため、1つまたは2つのさらなるxおよびyのフィルタ関数と掛け合わされ、つまり、例えばy方向において薄いシート光のためのy方向での非常に広いsinc(ν)関数およびx方向での大きな広がりのためのx方向での非常に狭いsinc(ν)関数と掛け合わされる。
図3では、図2のY軸に沿った、Y/Z切断面に沿った断面での、3つのフィルタ関数(x、y、z)を重ね合わせた振幅分布Aを例示的に示している。
こうすることで意外にも、図示した円柱レンズのようなアナモフィック光学系を使用しなくても、y方向で約1μmの厚さで、z方向で10μmの焦点長さの、広げられた線焦点(波長0.488μm)を実現することができる(100μm×10μm×1μm X×Z×Y)。
さらに、100μm×100μm×4μm(xの幅×zの深度×yの厚さ)のシート光を実現することができる。
軸上(角度ゼロ)で、Sinc関数は単純に重なり合っており、かつ相互に「破壊」し合っており、つまり常にその時々のより小さな幅のSinc関数が優位である(図3も参照)。
Sinc関数を互いから分離するため、つまり、できるだけ多くの周波数情報を伝送するために、軸外で対物レンズの瞳内に、理想的にはできるだけ大きな開口で(例えば対物レンズのNA=1の場合にNA=0.85で)フィルタを設けることができる。これにより意外にも、さらに厚さの小さいシート光、例えば100μm×100μm×2μm(x×z×y)が可能である。一般にSinc関数のゼロ点は、照明光学系の瞳内で自由に選択することができる。
yの直径が1μmの、より小さいシート光も可能である(例えば波長0.5μmで10μm×100μm×1μm X×Z×Y)。とりわけ、この新規のフィルタにより、側方の広さが大きいと同時にy方向の厚さが小さく、かつy方向でのシート光の外の光が少ないシート光を生成することができ、このシート光は、現況技術から知られている例えばガウスビームとしての、xもしくはzでの寸法が少なくとも2倍大きいシート光、またはベッセルビームもしくは2ビーム干渉パターンとしての、y方向でのシート光の外の光強度が少なくとも10分の1のシート光より明らかに優れている。
このシート光はさらに、z方向にもx方向にも延びていることができる(瞳内でのフィルタの位置に応じて)。これは構成を特に柔軟にする。
シート光をx方向、y方向、およびz方向に変位させるために(焦点またはシフト)、シート光を位相関数によって変調することができる。つまり、このシート光は、例えばSLM(空間光変調器)を用いて、その空間全体を移動(スキャン)することもできる。このSLMは単独でまたは振幅フィルタと協働して用いられ、シート光の変位を例えばy方向で生じさせる。これにより、例えばy方向からの観察ビームによる試料全体の共焦点スキャンが可能である。
さらに、複数のSinc^3フィルタ、したがって、シート光を、相並べてまたは重ね合わせて配置することができる。これによりシート光面を拡大することができ、または例えばSTEDのために、励起領域の周縁での追加的な脱励起を促すことができる。
例えば、デフォーカスまたは位相シフトなしで2つのSinc^3フィルタを瞳内に設けることにより、シート光を変調(構造化)することができる。これにより、変調周波数を自由に調整することができる。発生する干渉場は、SIM(ZEISS Elyra S.1)または構造化された照明を用いる類似の方法に利用することができる。シート光の厚さをさらに小さくすることができ(例えば0.7μm)、その際、シート光の広がりはより小さくなる。
数式および定義
SINC関数:
エヴァルトの方程式:
軸外:軸外位置rνで:
したがって
特別な場合:ν=0で軸上位置:
後の図4に基づく表示では右上および左上にそれぞれ、生成されたsinc(ν)関数がZ軸に沿って、異なるピーク配置で示されている。
ピークを中心に配置すると、より良いZプロフィルが生じることが明らかになっている。
左下には例として、
でのSinc(ν)を示しており(左の図、ν軸は右に向かっている)、右下では同じSinc(ν)フィルタが、エヴァルトの方程式に基づいて横座標に投射されている(右の図)。すなわち、この軌道は、z方向での相応の部分的に一定の軌道を得るために用いなければならない瞳内の複素フィルタに対応している。
この本発明による、sinc(ν)関数のエヴァルトの方程式に基づくy方向へのリスケーリング(変形または投射)は、意外にも非常に有利である。
図5の表示はそれぞれ、最初に左上に、図4で右下に示したようなサイドの主ピークを有する断面画像としての、瞳内の複素フィルタとしてのSinc(ν)フィルタを示している。中央上では、瞳内にSinc(z)フィルタが配置されたレンズ(対物レンズ)の理想的な焦点位置(z=0)でのx−y平面の断面(フィルタを有するシステムの点広がり関数PSF)(対数スケーリング)を示しており、右上にはy−z軌道(z、すなわち光の伝播方向に沿って)を示している。
下の列には左から右へと、上記の素子が、右側の実際の光分布に対応するリニアスケーリングで示されている。
左下:x−y平面(z=0)の断面 − リニアスケーリングでのPSF
中央下:x−z軌道
右下:y−z軌道、リニアスケーリング、「光針」の左の領域へのズーム。
十分に長いZ軌道にわたって、方向を強く一定に制限されたビーム軌道が達成できるのが有利であることが明らかになっている。
一般的なSinc^3フィルタ
arg=π[ν−rν]/Δ
arg=π[ν−rν]/Δ
複素フィルタ
図6の表示は、上では例として、本発明に基づく瞳内での片側の軸外関数を対数スケーリングまたはリニアスケーリングで示しており(左上および左下)、X−Y方向(中央上)およびXZ方向(中央下)での焦点内の照明状況を示しており、かつ光のy/Z分布を対数スケーリング(右上)およびリニアスケーリング(右下)で示している。
図7では、瞳内で形成された非対称で片側のsinc関数FSincの例を部分的に認識することができる。
SPIM顕微鏡の基本構造を示す図。 複素フィルタの理論的に理想的な透過軌道の一例を示す図。 図2のY軸に沿った、Y/Z切断面に沿った断面での、3つのフィルタ関数(x、y、z)を重ね合わせた振幅分布Aを示すグラフ。 (右上)生成されたsinc(ν)関数を示すグラフ。(左上)生成されたsinc(ν)関数を示すグラフ。(左下)Sinc(ν)の例を示すグラフ。(右下)図4左下のSinc(ν)をエヴァルトの方程式に基づいて横座標に投射したグラフ。 (左上)瞳内の複素フィルタとしてのSinc(ν)フィルタを示す図。(中央上)瞳内にSinc(z)フィルタが配置されたレンズ(対物レンズ)の理想的な焦点位置(z=0)でのx−y平面の断面図。(右上)y−z軌道を示す図。(左下)x−y平面(z=0)の断面図。(中央下)x−z軌道を示す図。(右下)y−z軌道を示す図。 (左上)本発明に基づく瞳内での片側の軸外関数を対数スケーリングで示す図。(左下)本発明に基づく瞳内での片側の軸外関数をリニアスケーリングで示す図。(中央上)X−Y方向での焦点内の照明状況を示す図。(中央下)XZ方向での焦点内の照明状況を示す図。(右上)光のy/Z分布を対数スケーリングで示す図。(右下)光のy/Z分布をリニアスケーリングで示す図。 瞳内で形成された非対称で片側のsinc関数FSincの例を示す図。 a)一般的な実現例のY/Z平面に沿った概略的な断面図。b)一般的な実現例のX/Z平面に沿った概略的な断面図。 a)ガウス状レーザビームLSからのマシュービームMSの生成を光学的な照明軸zに沿って概略的に示すZ平面での側断面図。b)ガウス状レーザビームLSからのマシュービームMSの生成を光学的な照明軸zに沿って概略的に示すZ平面での側断面図。c)レンズ構成Lの手前の焦点面内の照明状況を示す図。 a)円柱レンズ構成の後ろに配置されたアキシコンAXによってマシュービームが生成されることを示す図。b)強度変調器IMの後ろに配置されたアキシコンAXによってマシュービームが生成されることを示す図。c)円柱レンズ構成と強度変調器の組合せの後ろに配置されたアキシコンAXによってマシュービームが生成されることを示す図。 (上)生成されたマシュービームの照明分布を光軸におけるz0位置でのXY平面において示す図。(下)生成されたマシュービームの照明分布を光軸zに沿った切断でのXZ平面において示す図。
図8:一般的な実現化(例として)
上述の複素フィルタは、瞳内の1つの単純な複素フィルタによって実現することができる(これに対応してF(ν,ν))。ただし、ほとんどどこでもF(ν,ν)=0なので、この場合は非常に低い透過率となる。
その代わりに、2つのフィルタで非常に高い透過率を達成することができる。第1のフィルタ1は、瞳内で所望の強度を生成するように設計されており、この強度はフィルタの振幅に対応している。フィルタ1は、例えばCGH(計算機合成ホログラム)として設計することができ、既知の方式に基づいて簡単に計算および作製することができる。この場合の第2のフィルタは、(下で概略的に示したように)純粋な位相素子であり、この位相素子は、複素フィルタの透過の負の値を、単純なλ/2の位相ジャンプによって生成する。
これらのフィルタは、コリメートされた、またはあらゆる任意のその他の入射するコヒーレントレーザビームのために設計することができる。
図8の例では、屈折力の一部が第1のフィルタから、コリメータ(ビーム成形望遠鏡)に移されている。
図8の表示は、a)ではY/Z平面に沿った概略的な断面を、b)ではX/Z平面に沿った概略的な断面を示している。照明方向において、ビーム成形のための素子(望遠鏡TL)の後ろに、振幅フィルタであり得る第1のフィルタF1と位相フィルタとしての第2のフィルタF2との組合せが続いており、この第2のフィルタF2が光学系Oの入射瞳内に配置されていることが有利である。
光学系Oは標準的な対物レンズであることができる。
F1およびF2は2つの位相フィルタであってもよい。このF1およびF2は一緒に入射瞳内の光分布を生成し、この光分布は、光が光学系Oを通過した後に生じる光分布のための空間フィルタ関数としての3次元の(X、Y、Z)sinc関数に対応している。
この複素フィルタ関数により、Z方向に広げられた平面的な光分布LVが、Y方向(光面に垂直)では有利には5マイクロメートルの範囲より小さい(それどころか最大で2マイクロメートルより小さい)非常に少ない広がりで生じる。
上述のフィルタ組合せの実現および製造については、補充的および例示的に下記の文献を参照されたい。
「Iterative design of a holographic beamformer」、アイスマン(Eismann)、タイ(Tai)、セダークィスト(Cederquist)、Applied Optics Vol.28、No.13、1989年7月1日。
マシュービーム
国際公報第2004/053558号では、シート光による平面的な照明のほかに、「線状の」点状光ビーム(そこでは図7)のスキャン移動によってシート光を生成し得ることが記載されている。この場合、試料と照明の相対移動は、試料または平面的な照明領域を生成するための光ビームの移動によって行うことができる。
そもそも、バーコードスキャナの照明ビームを成形するためのマシュービームの使用が米国特許出願公開第2003/0189097(A1)号明細書から知られている。
マシュービームは、z方向においてほぼ伝播不変性であり、すなわちマシュービームのxy平面でのビームプロフィルはz位置にはほとんど左右されない。z方向では、y方向での広がりが約1μmの線焦点が可能である。このビームは確かにy方向に拡散するが、これは抑制することができる。したがって、観察方向(y方向)では観察ビームの開口内に妨害光が存在しないので、マシュービームを用い、x方向にスキャンすることにより、意外にもSPIMシート光を実現することができる。
周波数領域では、マシュービームは2つの相対する周波数寄与分からなり、これはx方向でビームの高周波変調を生じさせる。この変調は、両方の周波数寄与分の一方をブロックすること、例えば瞳の半分を遮蔽するか、またはマシュースペクトルの半分だけを生成することにより抑制できることが有利である。
物理的な根拠については、「Experimental demonstration of optical Mathieu beams」、Optics Communications 195(2001)、35−40を参照のこと。
以下に、上述のSPIMを適用する際に特に有利に使用できるような、1方向で強く制限されたマシュービームを生成するための有利な光学的構成を説明する。
図9a)および図9b)ではそれぞれ、ガウス状レーザビームLSからのマシュービームMSの生成を、光学的な照明軸zに沿って、Z平面での側断面において概略的に示している。
図9c)は、レンズ構成Lの手前の焦点面内の照明状況を示しており、この焦点面内にリング絞りRBが配置されている。リング絞りは、マシュービームを生成するため、楕円形のガウスビームによって照明されなければならない。この光分布を生成するための有利な方式が図9a)に示されている。この場合、2つの適切な円柱レンズZL1、ZL2からなる円柱レンズ構成が、必要な楕円形の照明分布を生成する。リング絞りを通り抜ける際、リング絞りは照明分布によって部分的にのみ捕捉され、瞳面内では2つの対称的な半円状の部分R1、R2が生じ、このR1、R2が、その後の軌道でレンズ構成の後ろに、y制限されたマシュービームを生成する。
例えば、リング絞りを部分的に閉じることにより、両方の部分R1またはR2の一方を遮蔽すると、マシュービームとは異なって周期的な構造を有さず、y方向で制限されたビームを生成することができる。
原理的にはもちろん、図9cに基づく2つの半円状の領域を生成するために、楕円形のビーム断面の代わりに、上および下が覆われたリング絞りを形成することが考えられる。
図9bでは、円柱レンズによるビーム成形の代わりに、「空間光変調器」(SLM)のような平面的な光変調器が、ガウス状レーザビームの後ろに配置されており、この光変調器は、ここでも図9aでのようにマシュービームを生成するため、リング絞りの必要な領域だけに光を当てることができる。
しかし、原理的には、手前の焦点面内にリング絞りの代わりにSLMを配置し、図9c)に示したような部分リング領域だけを放出することもできる。
図10a)〜図10c)では、円柱レンズ構成(10a)、強度変調器IM(10b)、または円柱レンズ構成と強度変調器の組合せ(10c)の後ろに配置されたアキシコンAXによってマシュービームが生成されている。
円柱レンズ構成によってここでも楕円形の光分布が生成され、したがって、アキシコンにリング状の光分布は当たらず、よって、ベッセルビームではなくマシュービームが生成される。
図10bでは、図9bに類似してここでも強度変調器IMがこのビーム成形を担っている。
ここでは、径方向にスケーリングされた楕円形でガウス状の強度分布をアキシコン上に生成する強度影響により、ベッセルビームとマシュービームの混合を回避できることが利点である。
図10a〜図10cの右には、左横にある図に対してアキシコンに届く強度分布が示されており、それぞれ左には楕円形のガウス分布による強度分布が、またb)およびc)では右側に光変調器によって生成された径方向にスケーリングされたガウス分布による強度分布が示されている。
IMによりそれぞれ、図示したように照明分布の中心領域が追加的にブロックされ、かつサイドの領域内でのみ径方向にスケーリングされた楕円形の分布が生成される。
図に制限されることなく、IM、SLM、または適切なアナモフィック光学系により、ビーム成形のさらなる最適化を行うことができる。
マシュービーム生成のさらなる可能性は、レンズLの手前の焦点面内にホログラムまたは回折性素子を設け、これをレーザで照明することである。回折性素子またはSLMを使用する場合は、さらにレンズLをなくすこともできる。
マシュービームは、x方向での高周波の強度変調を示す。したがって、このビームは、構造化された照明により軸方向の解像度を上昇させるために利用することができる。この場合、1つの静止したマシュービームで試料の3つの蛍光画像が生成され、このビームは、各々の画像で位相をそれぞれx方向に120°シフトさせている。この3つの画像を計算処理し、結果的にセクショニングが高められた画像を得る。図11では、例として、生成されたマシュービームの照明分布が、光軸におけるz0位置でのXY平面において、または光軸zに沿った切断でのXZ平面において示されている。Y方向でのビームプロフィルの有利な制限が明らかになっている。
X方向は、平面的な光分布を生成するためのスキャン方向に相当する。

Claims (13)

  1. 試料()から第1の開口角内に放射された光を、結像対物レンズ()により第1の方向で受光する結像光学系、
    該試料()から該第1の開口角内に放射され、該結像光学系によって受光された光を検出するための検出機構、
    波長λの照明光源()と、該第1の方向に対して実質的に垂直な第2の方向において該試料()を照明光分布で照明するための照明用ビーム経路とを含む照明機構
    を備える顕微鏡において、
    該照明機構が、該第2の方向の一区間(LZ)内では該照明光分布が実質的に一定となる手段を有しており、
    該第1の方向の広がり(LY)の領域外での該第1の開口角によって開かれた円錐内では、照明光の出力が20%未満であり、その際、
    LY<2λ、
    LZ>8λ
    が当てはまり、
    前記手段が空間周波数スペクトルにおけるz成分を制限するSinc(z)フィルタ関数を有するフィルタを含むことを特徴とする顕微鏡。
  2. 前記手段が、前記照明機構の瞳内への光分布を実質的に円形の領域内に制限する複素フィルタを含む、請求項1に記載の顕微鏡。
  3. 前記複素フィルタが、前記照明機構の前記瞳内に、少なくとも2つのSinc関数の重ね合わせからなる照明光分布を生成する、請求項1または2に記載の顕微鏡。
  4. 前記両方のSinc関数の一方が、エヴァルトの方程式に対応して好ましくはX−Y平面内に投射されたSinc(z)関数に相当する、請求項3に記載の顕微鏡。
  5. 前記複素フィルタが、前記照明機構の前記瞳内に、マシュービームのスペクトルに対応する照明光分布を生成する、請求項2乃至4のいずれか1項に記載の顕微鏡。
  6. 照明光源()と、シート光により前記試料()を照明するための照明用ビーム経路とを含む照明機構、
    前記試料()から放射された光を検出するための検出機構、
    前記試料()を、結像用ビーム経路内の結像対物レンズ()により、少なくとも部分的に該検出機構上に結像する結像光学系からなり、
    該シート光が、該結像対物レンズ()の焦点内または該結像対物レンズの幾何学的焦点の付近の規定の平面内では実質的に平らであり、かつ該結像対物レンズ()が、該シート光の平面とゼロとは異なる角度で、好ましくは垂直に交差する光軸を有しており、
    生じる空間周波数をsinc(z)関数によってフィルタリングすることにより照明光を前記照明用ビーム経路の光学軸と平行である少なくとも1つの空間方向で制限することでSinc空間フィルタとして作用する振幅フィルタおよび位相フィルタのうちの少なくとも一つが、該照明用ビーム経路内に設けられてい、顕微鏡。
  7. 前記振幅フィルタおよび位相フィルタのうちの少なくとも一つが、少なくとも部分的には照明光学系の瞳面内または瞳面の付近に配置されており、
    かつ/または
    前記フィルタが、ホログラム(CGH)および/または回折性光学系によって実現されており、
    かつ/または
    前記フィルタが、少なくとも部分的には、光のための空間変調器(空間光変調器(SLM)によって構成されており、
    かつ/または
    前記シート光の光方向に垂直な変位が、SLMによって行われ、
    かつ/または
    前記シート光が変位する際に前記結像対物レンズの焦点面の変位が行われること、
    および/または
    非対称Sinc関数/軸外分布が、該瞳面内で生成されること、および/または
    光軸に対して軸外で作用するsincフィルタが設けられており、
    かつ/または
    シート光構造化のために複数のSincフィルタが重ね合わされており、
    かつ/または
    エヴァルトの方程式によってリスケーリングされたsinc関数がフィルタ関数として提供されており、かつ/または
    照明用ビーム経路内で、ビーム成形のために前記フィルタとアナモフィック光学系が組み合わされている
    ことを特徴とする請求項6に記載の顕微鏡。
  8. 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の顕微鏡の動作方法。
  9. 照明光源()と、シート光により試料()を照明するための照明用ビーム経路とを含む照明機構、
    前記試料()から放射された光を検出するための検出機構、
    前記試料()を、結像用ビーム経路内の結像対物レンズ()により、少なくとも部分的に該検出機構上に結像する結像光学系からなり、
    該シート光が、該結像対物レンズ()の焦点内または該結像対物レンズの幾何学的焦点の付近の規定の平面内では実質的に平らであり、かつ該結像対物レンズ()が、該シート光の平面とゼロとは異なる角度で、好ましくは垂直に交差する光軸を有している顕微鏡において、
    SPIMの際のシート光生成のためのマシュービームの使用を特徴とする顕微鏡。
  10. SPIMの際のシート光生成のための、スキャンするマシュービームの使用を特徴とする請求項9に記載の顕微鏡。
  11. 照明光源()と、シート光により前記試料()を照明するための照明用ビーム経路とを含む照明機構、
    前記試料()から放射された光を検出するための検出機構、
    前記試料()を、結像用ビーム経路内の結像対物レンズ()により、少なくとも部分的に該検出機構上に結像する結像光学系からなり、
    該シート光が、該結像対物レンズ()の焦点内または該結像対物レンズの幾何学的焦点の付近の規定の平面内では実質的に平らであり、かつ該結像対物レンズ()が、該シート光の平面とゼロとは異なる角度で、好ましくは垂直に交差する光軸を有している顕微鏡において、
    度変調器および/または位相変調器、とりわけ下に挙げた光学素子1)部分的なリング絞り、とりわけ2つの向かい合う半円からなる絞り
    2)光のための空間変調器(空間光変調器(SLM)
    3)アキシコン
    4)ホログラム
    5)回折性素子
    の少なくとも1つによってマシュービームを生成するための手段を備える
    ことを特徴とする顕微鏡。
  12. 前記リング絞りの前での楕円形ガウス分布の生成
    および/または
    前記リング絞りの前での、前記リング絞りの上および下の部分に当たらないガウス分布の生成、
    および/または
    アナモフィック光学系および/またはSLMのような強度変調器によるビーム成形
    および/または
    前記アキシコン上での楕円形ガウス分布の生成
    および/または
    前記アキシコン上での、前記アキシコンの上および下の部分に当たらないガウス分布の生成、
    および/または
    光分布を最適化するための強度変調器の使用
    および/または
    光分布を最適化するためのアナモフィック光学系と強度変調器の組み合わせ
    および/または
    前記ビームの周期的な強度変調を回避するための前記マシュービームの周波数成分の抑制
    および/または
    構造化された照明の生成
    および/または
    平面検出器、とりわけCCD受光器またはEMCCD受光器またはCMOSまたはsCMOSカメラ上でのラインごとの検出
    および/または
    平面検出器上での、該平面検出器の検出面積全体より小さい検出面積での平面的な検出を特徴とする請求項11に記載の顕微鏡。
  13. 請求項9乃至12のいずれか1項に記載の顕微鏡の動作方法。
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