JP5132480B2 - 顕微鏡 - Google Patents
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Description
S PH2 / S OB2 ≦ 0.05 ・・・(3)
を満たすことによって解決される。
上記構成によれば、位相膜の面積が小さくなっているので、蛍光観察に用いることも可能である。また、必然的に第1の位相差対物レンズと第2の位相差対物レンズの瞳位置におけるリングスリットの像がほぼ等しい位置に構成され、同じリングスリットを利用しても位相差観察が行える。
上記構成の顕微鏡において、前記第2の位相差対物レンズは100倍以上であり、以下の条件式
SPH2 / SOB2 ≦ 0.03 ・・・(4)
を満たすことが好ましい。
2本の対物レンズを備えた構成では両者の倍率差はある程度離れているほうが好ましく、この場合は第2の位相差対物レンズは上記条件式を満たすことが好ましい。
さらに上記構成の顕微鏡において、前記第1の位相差対物レンズと前記第2の位相差対物レンズの間の倍率をもつ第3の位相差対物レンズをさらに備え、前記第1の位相差対物レンズと前記第2の位相差対物レンズと前記第3の位相差対物レンズとでリングスリットを共通化して使用することが好ましい。
さらに、前記第2の位相差対物レンズの瞳径をOB2とし、前記第2の位相差対物レンズの位相膜のリングの中心径をPHOB2としたとき、以下の条件式
PHOB2 / OB2 ≦ 0.2 ・・・(1)
を満たすことが望ましい。
PHOB2 / OB2 ≦ 0.15 ・・・(2)
を満たすことが望ましい。
さらに好ましくは、前記第1の位相差対物レンズと前記第2の位相差対物レンズの間の倍率をもつ第3の位相差対物レンズをさらに備え、前記第1の位相差対物レンズと前記第2の位相差対物レンズと前記第3の位相差対物レンズとでリングスリットを共通化して使用することが望ましい。
さらに、前記位相膜の中心径をPHとし、前記レーザー光の長径の半値全幅をFWHMとしたときに、以下の条件式
0.1 ≦ PH / FWHM ≦ 1 ・・・(5)
を満たすことが好ましい。
上記構成の顕微鏡において、前記第1の検出器と前記第2の検出器の検出結果を画像化する画像処理手段を備え、蛍光観察と位相差観察を同時に行うことが好ましい。
図1は本発明の実施例となる顕微鏡の構成を表している。図1に示されるように、本実施例ではレーザー光源1から射出したレーザー光はダイクロイックミラーなどの光線分離手段2によって蛍光検出光路に結合される。その後、レーザー光はガルバノミラーなどの走査手段3によってスキャンされる。その後、瞳投影光学系4によって、レーザー光は対物レンズ5の瞳に入射される。このとき、対物レンズ5は位相差対物レンズであり、瞳位置にリング状の位相膜6(と半透膜)を備え、レーザー光の光束をリング状に一部だけを±1/4位相だけ変化させる。その後、最終的にレーザー光は対物レンズ5によって標本面7に集光される。
0.1 ≦ PH / FWHM ≦ 1 ・・・(5)
を満たす構成をしている。
一般に、位相差対物レンズでは倍率ごと(あるいは近い倍率ごと)に異なるリングスリットを用いる。その理由は、低倍率の対物レンズはNAが小さく、高倍率の対物レンズではNAが大きい傾向があり、それぞれに最適なNAのリングスリットが存在するからである。本発明では、低倍率と高倍率のリングスリットを共有することによって、操作の簡便化と部品点数の削減をしている。
図4(a)は低倍率の対物レンズ5における位相膜6とリングスリット10の関係を模式的に表したものである。低倍率の対物レンズは一般的にNAが小さく、また焦点距離も長い。その結果、リングスリット10の開口部は対物レンズ5の瞳面の比較的大きいリングに投影される。つまり、リングスリット10と位相膜6を対応付けるためには位相膜6は大きなリングとなる。
リングスリットAのNA
内側 外側 中心
0.13 0.15 0.14
このリングスリットAに対して以下のように対物レンズを組み合わせて用いることができる。
リングスリットBのNA
内側 外側 中心
0.16 0.19 0.175
このリングスリットBに対して以下のように対物レンズを組み合わせて用いることができる。
リングスリットBのNA
内側 外側 中心
0.19 0.22 0.205
このリングスリットBに対して以下のように対物レンズを組み合わせて用いることができる。
以下に、上記実施例の効果を示す顕微鏡写真を掲げる。
図5(a)は、組み合わせC1における10倍の対物レンズ(NA=0.4)を用いてHela細胞を撮影したものである。すなわち、本撮影で用いられたリングスリットは、開口部のNAが0.19から0.22であり、それに対応して対物レンズの位相膜のNAが0.18から0.23である条件で撮影されたものである。以上を条件式(1)に当てはめて考えると、PHOB2/OB2=0.17<0.2であり、確かに条件式(1)を満たしていることがわかる。
2・・・光線分離手段
3・・・走査手段
4・・・瞳投影光学系
5・・・対物レンズ
6・・・位相膜
7・・・標本面
8・・・透過検出光学系
9・・・透過光検出器
10・・・リングスリット
11・・・共焦点レンズ
12・・・共焦点ピンホール
13・・・蛍光検出器
14・・・画像処理部
Claims (10)
- 倍率20倍以下の第1の位相差対物レンズと倍率60倍以上の第2の位相差対物レンズとを少なくとも備える顕微鏡において、
レーザー光を発するレーザー光源と、
前記レーザー光のスポットを標本面上で走査する走査手段と、
前記標本面からの放射光を検出するための第1の検出器と、
前記標本面からの透過光を検出するための第2の検出器とをさらに備え、
前記レーザー光は前記位相差対物レンズの像側から入射され、
前記第1の検出器では蛍光観察を行い、
前記第2の検出器では位相差観察を行い、
前記第1の位相差対物レンズと前記第2の位相差対物レンズとでリングスリットを共通化して使用し、
前記第2の位相差対物レンズの瞳の面積をSOB2とし、前記第2の位相差対物レンズの位相膜の面積をSPH2としたとき、以下の条件式
SPH2 / SOB2 ≦ 0.05
を満たすことを特徴とする顕微鏡。 - 請求項1に記載の顕微鏡において、
前記第2の位相差対物レンズは100倍以上であり、以下の条件式
SPH2 / SOB2 ≦ 0.03
を満たすことを特徴とする顕微鏡。 - 請求項2に記載の顕微鏡において、前記第1の位相差対物レンズと前記第2の位相差対物レンズの間の倍率をもつ第3の位相差対物レンズをさらに備え、
前記第1の位相差対物レンズと前記第2の位相差対物レンズと前記第3の位相差対物レンズとでリングスリットを共通化して使用することを特徴とする顕微鏡。 - 前記第2の位相差対物レンズの瞳径をOB2とし、前記第2の位相差対物レンズの位相膜のリングの中心径をPHOB2としたとき、以下の条件式
PHOB2 / OB2 ≦ 0.2
を満たすことを特徴とする請求項1または2に記載の顕微鏡。 - 請求項4に記載の顕微鏡において、
前記第2の位相差対物レンズは100倍以上であり、以下の条件式
PHOB2 / OB2 ≦ 0.15
を満たすことを特徴とする顕微鏡。 - 請求項5に記載の顕微鏡において、前記第1の位相差対物レンズと前記第2の位相差対物レンズの間の倍率をもつ第3の位相差対物レンズをさらに備え、
前記第1の位相差対物レンズと前記第2の位相差対物レンズと前記第3の位相差対物レンズとでリングスリットを共通化して使用することを特徴とする顕微鏡。 - 請求項1から6のいずれか1項に記載の顕微鏡において、
前記第1の検出器は共焦点検出であり、前記第2の検出器は非共焦点検出であることを特徴とする顕微鏡。 - 請求項1から7のいずれか1項に記載の顕微鏡において、
前記位相膜の中心径をPHとし、前記レーザー光の長径の半値全幅をFWHMとしたときに、以下の条件式
0.1 ≦ PH / FWHM ≦ 1
を満たすことを特徴とする顕微鏡。 - 請求項1から8のいずれか1項に記載の顕微鏡において、
前記レーザー光源は半導体レーザーであり、前記レーザー光は光ファイバーを経由しないで前記レーザー光源から前記位相差対物レンズまで導かれることを特徴とする顕微鏡。 - 請求項1から9のいずれか1項に記載の顕微鏡において、
前記第1の検出器と前記第2の検出器の検出結果を画像化する画像処理手段を備え、
蛍光観察と位相差観察を同時に行うことを特徴とする顕微鏡。
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