JP2019518242A - 位相変調素子および像再構成部を用いるscape顕微鏡法 - Google Patents

位相変調素子および像再構成部を用いるscape顕微鏡法 Download PDF

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Abstract

スキャニング素子は、光学コンポーネントの第1のセットを介して、斜角で試料に入射する、励起光のシートまたはビームの経路を決定する。試料における励起光の位置は、スキャニング素子の向きに応じて変化する。試料における蛍光体は、蛍光検出光を放射する。光学コンポーネントの第1のセットは、スキャニング素子へと戻る検出光の経路を決定し、スキャニング素子は、光学コンポーネントの第2のセットを介するカメラへの検出光の経路を決定する。光学コンポーネントの第2のセットは位相変調素子を含んでおり、この位相変調素子は、制御された収差をもたらし、それによってカメラにおいて測定された際の、焦平面、焦平面の上方および焦平面の下方の各点の点拡がり関数を均質化する。一部の実施形態においては、点拡がり関数のデコンボリューションを実施することによって収差を補正するために、カメラによって捕捉された像が処理される。

Description

関連出願の相互参照
本願は、米国仮特許出願第62/343,112号(2016年5月30日出願)の利益を主張するものであり、これは参照によりその全体が本願に組み込まれる。
連邦政府資金による研究開発の記載
本発明は、NIHによって採択された5U01NS094296−01、1R01NS076628、1R01NS063226およびR21NS053684、NSFによって採択されたCBET−0954796およびIGERT0801530、DoDによって採択されたMURIW911NF−12−1−0594に基づいて、米国政府の支援を受けて成された。米国政府は、本発明について一定の権利を有している。
SCAPE顕微鏡法は、掃引共焦点配置平面励起(swept confocally aligned planar excitation)を利用する高速3D顕微鏡法に関する技術である。SCAPE撮像システムの一部の例は、刊行物WO2015/109323に開示されており、この刊行物は、参照によりその全体が本願に組み込まれる。SCAPEにおいては、斜めの光のシート(例えば、レーザ光)によって試料が掃引され、試料に由来する蛍光がカメラによって捕捉され、像が生成される。SCAPEは、光シート顕微鏡法、共焦点顕微鏡法、および2光子顕微鏡法などの技術に匹敵する分解能を達成することができるが、より高速に動作することができる。
SCAPEシステムにおいては、励起経路が、光源から試料までの間の複数の光学コンポーネントを含んでおり、また検出経路が、試料からカメラまでの間の複数の光学コンポーネントを含んでいる。SCAPE顕微鏡法の一部の実施形態は、像回転のために、相互に所定の角度で配置されている、検出アームにおける2つの対物レンズを使用している。しかしながら、この構成では、検出器において捕捉される光の純損失が生じることになり、これは撮像システムの開口数、分解能、および光スループットに悪影響を及ぼす可能性がある。
本発明の1つの態様は、近位端部および遠位端部を有している光学コンポーネントの第1のセットを含んでいる第1の装置に関し、この光学コンポーネントの第1のセットは、光学コンポーネントの第1のセットの遠位端部に配置されている対物レンズを含んでいる。この装置は、近位端部および遠位端部を有している光学コンポーネントの第2のセットも含んでおり、この光学コンポーネントの第2のセットは、位相変調素子を含んでいる。この装置は、光学コンポーネントの第1のセットの近位端部に関して近位側に配置されており、かつ光学コンポーネントの第2のセットの近位端部に関して近位側に配置されている、スキャニング素子も含んでいる。スキャニング素子は、このスキャニング素子に到達する励起光の経路を決定するように構成されており、それによって励起光は、近位から遠位の方向において光学コンポーネントの第1のセットを通過し、また対物レンズを超えて遠位側に位置決めされている試料に投影されることになる。励起光は、斜角で試料に投影され、また励起光は、スキャニング素子の向きに応じて変化する位置において試料に投影される。光学コンポーネントの第1のセットは、遠位から近位の方向においてスキャニング素子へと戻る、試料に由来する検出光の経路を決定するように構成されている。スキャニング素子は、検出光の経路を決定するようにも構成されており、それによって検出光は、近位から遠位の方向において光学コンポーネントの第2のセットを通過することになる。この装置は、光学コンポーネントの第2のセットを通過した検出光によって形成された像を捕捉するように、光学的に位置決めされているカメラも含んでいる。位相変調素子は、制御された収差をもたらし、それによってカメラにおいて測定された際の、焦平面、焦平面の上方および焦平面の下方の各点の点拡がり関数を均質化する。
第1の装置の一部の実施形態においては、位相変調素子には、位相板が含まれる。第1の装置の一部の実施形態においては、位相変調素子には、空間光変調器が含まれる。第1の装置の一部の実施形態においては、位相変調素子には、可変ミラーが含まれる。
第1の装置の一部の実施形態においては、対物レンズが、瞳面を有しており、また位相変調素子が、対物レンズの瞳面に共役である平面に位置決めされている。それらの実施形態の一部は、さらに、(a)位相変調素子に隣接して位置決めされており、かつ(b)位相変調素子に関して近位側に位置決めされているアパーチャ絞りを含んでいる。
第1の装置の一部の実施形態においては、検出光が、光学コンポーネントの第2のセットの近位端部と遠位端部との間において、固定の共役像面を形成している。
第1の装置の一部の実施形態においては、光検出器アレイが、2Dイメージセンサを含んでおり、またカメラが、光学コンポーネントの第2のセットを通過した検出光によって形成された複数の像を連続的に捕捉し、複数の像の各々が、像データのフレームの各々に対応する。それらの実施形態においては、装置が、さらに、像データのフレームにおける収差を補正するようにプログラミングされているプロセッサを含んでいる。それらの実施形態の一部においては、プロセッサが、点拡がり関数のデコンボリューションを実施することによって、像データのフレームにおける収差を補正する。それらの実施形態の一部においては、点拡がり関数が、測定された点拡がり関数であるか、またはシミュレートされた点拡がり関数である。
第1の装置の一部の実施形態においては、光検出器アレイが、線形イメージセンサを含んでいる。それらの実施形態の一部においては、スキャニング素子が、X−Yガルバノメータを含んでいる。それらの実施形態の一部においては、励起光が、試料における蛍光の励起が複数の光子のほぼ同時の吸収を要求する波長を有している。
第1の装置の一部の実施形態は、さらに、光学コンポーネントの第2のセットの近位端部とスキャニング素子との間に配置されているビームスプリッタと、励起光の光源と、を含んでいる。それらの実施形態においては、励起光がビームスプリッタへと方向付けられるように、励起光の光源の照準が定められており、ビームスプリッタが、スキャニング素子へと向かう励起光の経路を決定するように構成されており、またビームスプリッタが、スキャニング素子から到達する検出光の、光学コンポーネントの第2のセットの近位端部への経路を決定するように構成されている。
第1の装置の一部の実施形態においては、励起光には、励起光のシートが含まれる。励起光のシートを、(a)光源に由来する光を励起光のシートに展開するように構成されているシリンドリカルレンズ、(b)光源に由来する光を励起光のシートに展開するように構成されている非球面ミラー、(c)光源に由来する光を励起光のシートに展開するように構成されている空間光変調器、(d)光源に由来する光を励起光のシートに展開するように構成されている第2のスキャニング素子、および(e)光源に由来する光を励起光のシートに展開するように構成されている振動ガルバノメータミラー、のうちの少なくとも1つによって生成することができる。
第1の装置の一部の実施形態は、さらに、光学コンポーネントの第2のセットの近位端部とスキャニング素子との間に配置されているビームスプリッタと、励起光の光源と、を含んでいる。それらの実施形態においては、励起光がビームスプリッタへと方向付けられるように、励起光の光源の照準が定められており、ビームスプリッタが、スキャニング素子へと向かう励起光の経路を決定するように構成されており、ビームスプリッタが、スキャニング素子から到達する検出光の、光学コンポーネントの第2のセットの近位端部への経路を決定するように構成されており、光検出器アレイが、2Dイメージセンサを含んでおり、励起光には、励起光のシートが含まれ、カメラが、光学コンポーネントの第2のセットを通過した検出光によって形成された複数の像を連続的に捕捉し、複数の像の各々が、像データのフレームの各々に対応し、また装置が、さらに、像データのフレームにおける収差を補正するようにプログラミングされているプロセッサを含んでいる。それらの実施形態の一部においては、プロセッサが、点拡がり関数のデコンボリューションを実施することによって、像データのフレームにおける収差を補正する。それらの実施形態の一部においては、対物レンズが、瞳面を有しており、また位相変調素子が、対物レンズの瞳面に共役である平面に位置決めされている。それらの実施形態の一部においては、位相変調素子が、
θ(x,y)=2πα(x+y
の位相プロファイルを有しており、ただし、xおよびyは、正規化された瞳座標であり、αは、|Ψ/2|に設定される調整パラメータであり、ただし
Ψ(u,v;dz)=−(1/2λ)×NA×(u +v )×dz/n
であり、ただし、λは、位相変調素子を通過する光の波長であり、NAは、対物レンズの開口数であり、uおよびvは、正規化された瞳座標であり、nは、対物レンズの下に位置する浸漬媒体の屈折率であり、dzは、結像されるべき深度の範囲の1/2である。
第1の装置の一部の実施形態においては、位相変調素子が、
θ(x,y)=2πα(x+y
の位相プロファイルを有しており、ただし、xおよびyは、正規化された瞳座標であり、αは、|Ψ/2|に設定される調整パラメータであり、ただし
Ψ(u,v;dz)=−(1/2λ)×NA×(u +v )×dz/n
であり、ただし、λは、位相変調素子を通過する光の波長であり、NAは、対物レンズの開口数であり、uおよびvは、正規化された瞳座標であり、nは、対物レンズの下に位置する浸漬媒体の屈折率であり、dzは、結像されるべき深度の範囲の1/2である。
本発明の別の態様は、対物レンズと、その対物レンズに由来する光を受け取るように構成されている検出経路に配置されている複数の光学素子と、含んでいる第2の装置に関する。検出経路に配置されている複数の光学素子には、スキャニング素子が含まれる。スキャニング素子は、(a)対物レンズの前側焦平面にわたる掃引励起ビームを生成するように対物レンズへの励起光の経路を決定する、かつそれと同時に(b)共役像を形成するために検出経路に沿って対物レンズを介して戻ってくる像光の経路を決定する、ように構成されている。装置は、さらに、共役像の像を捕捉するように位置決めされている光検出器アレイと、スキャニング素子と光検出器アレイとの間の検出経路に配置されている位相変調素子と、を含んでいる。位相変調素子は、検出経路における被写界深度を拡大する。
第2の装置の一部の実施形態においては、位相変調素子が、制御された収差をもたらすことによって被写界深度を拡大し、それによって光検出器アレイにおいて測定された際の、焦平面、焦平面の上方および焦平面の下方の各点の点拡がり関数を均質化する。
第2の装置の一部の実施形態においては、収差が、画像処理アルゴリズムによって補正される。第2の装置の一部の実施の形態においては、収差が、測定された点拡がり関数またはシミュレートされた点拡がり関数のデコンボリューションによって補正される。第2の装置の一部の実施形態においては、光検出器アレイが、2Dイメージセンサを含んでいる。第2の装置の一部の実施形態においては、光検出器アレイが、線形イメージセンサを含んでいる。
本発明の別の態様は、光源と、光源に由来する光を光のシートに展開するシリンドリカルレンズまたはスキャナと、光のシートの経路に配置されているビームスプリッタと、光のシートの経路に配置されているスキャニング素子と、近位端部および遠位端部を有しており、かつその遠位端部に配置されている対物レンズを備えている第1のテレスコープと、近位端部および遠位端部、ならびに光軸を有している、第2のテレスコープと、を含んでいる、第3の装置に関する。ビームスプリッタは、スキャニング素子へと向かう光のシートの経路を決定する。スキャニング素子は、第1のテレスコープの近位端部への光のシートの経路を決定する。第1のテレスコープは、対物レンズを介する近位から遠位の方向への光のシートの経路を決定し、対物レンズを通過した蛍光を受け取り、かつ遠位から近位の方向においてスキャニング素子へと戻る蛍光の経路を決定する。スキャニング素子は、ビームスプリッタを通過する、第2のテレスコープの近位端部への蛍光の経路を決定する。第2のテレスコープは、蛍光に由来する像を、共役像面において形成する。この装置は、さらに、第2のテレスコープと同一の光軸に位置決めされており、かつ共役像面のぼけが生じた像を捕捉するように構成されているカメラと、第2のテレスコープとカメラとの間に配置されている位相変調素子と、カメラによって捕捉された像のぼけを修正するようにプログラミングされているイメージプロセッサと、を含んでいる。
第3の装置の一部の実施形態においては、光源には、レーザが含まれる。第3の装置の一部の実施形態においては、位相変調素子には、位相板が含まれる。第3の装置の一部の実施形態においては、位相変調素子には、空間光変調器および可変ミラーのうちの少なくとも1つが含まれる。第3の装置の一部の実施形態においては、イメージプロセッサが、デコンボリューションアルゴリズムを使用して、像のぼけを修正するようにプログラミングされている。
本発明の別の態様は、試料を撮像するための第1の方法に関する。この方法は、励起光のシートを試料に投影するステップを含み、この場合、励起光のシートは、斜角で試料に投影され、また励起光のシートは、スキャニング素子の向きに応じて変化する位置において、試料に投影される。この方法は、また、スキャニング素子へと戻る、試料から到達する検出光の経路を決定するステップと、スキャニング素子を使用して、制御された収差をもたらす光学系への検出光の経路を再度決定し、カメラにおいて測定された際の、焦平面、焦平面の上方および焦平面の下方の各点の点拡がり関数を均質化するステップと、を含んでいる。この方法は、また、収差の生じた検出光を使用して、それぞれがスキャニング素子の異なる向きに対応する複数の時点において複数の像を形成するステップと、複数の像を捕捉するステップと、を含んでいる。
第1の方法の一部の実施形態は、さらに、複数の像における収差を補正するステップを含んでいる。
第1の方法の一部の実施形態においては、補正ステップが、点拡がり関数のデコンボリューションを実施することを含んでいる。第1の方法の一部の実施形態においては、点拡がり関数が、測定された点拡がり関数であるか、またはシミュレートされた点拡がり関数である。
第1の方法の一部の実施形態においては、収差が、
θ(x,y)=2πα(x+y
の位相プロファイルを有している位相変調素子によってもたらされる。
ただし、xおよびyは、正規化された瞳座標であり、αは、|Ψ/2|に設定される調整パラメータであり、ただし
Ψ(u,v;dz)=−(1/2λ)×NA×(u +v )×dz/n
であり、ただし、λは、位相変調素子を通過する光の波長であり、NAは、対物レンズの開口数であり、uおよびvは、正規化された瞳座標であり、nは、対物レンズの下に位置する浸漬媒体の屈折率であり、dzは、結像されるべき深度の範囲の1/2である。
位相変調素子を使用するSCAPE顕微鏡の1つの実施形態を示す。 シートのいずれの位置も同時に照明される光のシートを形成するための設計を示す。 仮想的な光のシートを形成するために、光のペンシルビームで高速なスキャニングを行うための設計を示す。 位相関数を示す。 相応の放射点拡がり関数を示す。 SCAPE顕微鏡法において使用される斜めの光のシートのセクショニング効果を示す。 SCAPE顕微鏡法において使用される斜めの光のシートのセクショニング効果を示す。 反射性の位相変調素子を使用するSCAPE顕微鏡の1つの実施形態を示す。 位相変調素子、2自由度を有しているスキャニング素子、および線形センサを使用するSCAPE顕微鏡の1つの実施形態を示す。
以下では、複数の実施形態を添付の図面を参照しながら詳細に説明する。各図において、同様の参照番号は、同様の構成要素を表している。
本願は、像回転のために相互に所定の角度で配置されている、検出アームにおける2つの対物レンズを使用するSCAPEの実施形態に関連する問題の大部分を回避する、SCAPE顕微鏡法を実現するための代替的なアプローチを開示する。この代替的なアプローチは、検出アームの実効被写界深度を拡大するための位相変調素子を基礎としている。
図1には、位相変調素子(PME)170を使用する、SCAPE顕微鏡の第1の実施形態が示されている。しかしながら、この実施形態において使用することができる位相変調素子の例には、(例えば、キューブ型、対数型等の)位相板および空間光変調器(SLM)が含まれる。ただし、位相変調素子の例は、これらに限定されるものではない。
関心対象の蛍光体の励起スペクトル内にある波長を有している、光源(例えば、レーザ100またはLED)に由来する光のビームが、シート形成光学系110を通過する。シート形成光学系110は、ビームを光のシートに変換し、また試料において蛍光を励起することになる光の幾何学的な特性を決定する。
一部の実施形態においては、シート形成光学系110が、光源100からの光を、実際の光のシート(すなわち、光のシートのいずれの位置も同時に照明されるシート)に成形する。これを達成するための1つのアプローチが、図2Aに示されている。光源(例えば、レーザ100またはLED)は、光(例えば、単色光、コヒーレント光、偏光;またはインコヒーレント光)を放射し、その光は、光源の輪郭を一様に拡大する等方性のビームエキスパンダ201、202を通過するように方向付けられる。その等方性のビームエキスパンダから、光は、真円状の形状から楕円状の形状にビームを拡大する、異方性のビームエキスパンダを通過する。この異方性のビームエキスパンダを、例えばシリンドリカルレンズ211、212のペア、および/または整合プリズムのペア、および/またはスリット付きアパーチャ等を使用して、実現することができる。
続いて光は、スライドミラー220において反射され、また展開された寸法方向に沿って、第3のシリンドリカルレンズ230によって焦点合わせされ、続いて、展開されていない寸法方向に沿って、スリット状アパーチャ240によって制限される。このアパーチャ240のスリット幅は、(図1において参照番号140で示されている)対物レンズ下でのシートの厚さ、さらには顕微鏡の被写界深度を制御するために使用される。本明細書において使用されているように、「対物レンズ」という用語は、その一般的な意味において使用されており、試料145の手前に位置している最後の光学コンポーネントを表していることを言及しておく。対物レンズは、例えば、単純なレンズ素子、顕微鏡式の対物レンズ等であってよい。オプションとして、スライドミラー220、第3のシリンドリカルレンズ230およびアパーチャスリット240のすべてを相互に機械的に連結させて、1つのマウント250を形成することができる。このマウント250は、単一のユニットとして左右に並進移動することができ、またそれによって調整を行うことができる。この調整を、モータ駆動式にまたは手動で行うことができ、また同等の作用を有している種々の調整手段も当業者には明らかであろう。シートのいずれの位置も同時に照明される光のシートを生成するための広範な代替的なアプローチも、当業者には容易に分かるであろう。
代替的な実施形態においては、シート形成光学系110が、光のペンシルビームで高速なスキャニングを行うことによって、光源100に由来する光を成形し、それによって仮想の光のシートが生成される。それらの実施形態においては、シートにおける異なる位置における照明が、異なる時点に行われる。これらの実施形態は、対物レンズを超えて斜めの線を生成し、続いて、この斜めの線で、横方向の視野にわたり前後にスキャニングを行うことによって仮想のシートが形成される。
図2Bには、この仮想のシートを実現するための1つのアプローチの実施形態が示されている。光源(例えば、レーザ100)は、光(例えば、単色光、コヒーレント光、偏光)を放射し、その光は、光源の輪郭を一様に拡大する等方性のビームエキスパンダ201、202を通過するように方向付けられる。等方性に展開されたビームは、続いて、ガルバノメータミラー260に方向付けられ、このガルバノメータミラー260は、光を偏向させ、その光でシートのスキャニングを行う。続けて、光のシートは、リレーテレスコープ271、272およびアパーチャスリット280を通過するように方向付けられる。この実施形態におけるリレーテレスコープ271、272の機能は、必要に応じてさらなる拡大を提供することであり、またガルバノメータミラー260を、(図1において参照番号140で示されている)対物レンズの後焦点面に共役である平面に結像させる。またアパーチャスリット280の機能は、上記において説明した図2Aの実施形態に類似するものである。オプションとして、ガルバノメータミラー260、リレーテレスコープ271、272およびアパーチャスリット280のすべてを相互に機械的に連結させて、1つのマウント250を形成することができる。このマウント250は、単一のユニットとして左右に並進移動することができ、またそれによって図2Aの実施形態と同様の調整を行うことができる。仮想の光のシートを生成するためにスキャニングを使用する広範な代替的なアプローチも、当業者には容易に分かるであろう。
再び図1を参照する。シート形成光学系110を離れた光は、ダイクロイックビームスプリッタ120に入射し、このダイクロイックビームスプリッタ120は、蛍光を励起させるために使用されるより短い波長の光を、蛍光分子によって放出されたより長い波長の光から分離させる。この実施形態においては、蛍光がダイクロイックビームスプリッタを介して伝播する長距離経路の構成で顕微鏡が組み立てられているので、ダイクロイックビームスプリッタ120が選択されている。ダイクロイックビームスプリッタ120は、より短い波長の励起光をスキャニング素子125に向けて反射する。
代替的な実施形態(例えば、2光子を使用する実施形態、この場合、励起光は蛍光よりも長い波長を有している)においては、ダイクロイックビームスプリッタ120が、より長い波長を反射し、より短い波長を通過させるように構成されることが望ましい。一部の代替的な実施形態においては、顕微鏡が短距離経路の構成で組み立てられている場合に、短距離型のダイクロイックビームスプリッタを使用することも可能である。この場合、試料に由来する、収集された蛍光は、ダイクロイックビームスプリッタ120において反射されることになる。
図1の実施形態においては、スキャニング素子125を、1自由度を有している平面スキャニングミラーを使用して実現することができる。しかしながら、代替的な実施形態においては、非平面スキャニングミラー、可動プリズム等も含めて、スキャニングを実現するための広範な代替的なアプローチを使用することができる。ただし、代替的なアプローチは、上記の例に限定されるものではない。ダイクロイックビームスプリッタ120からスキャニング素子125に到達する励起光は、スキャニングを行うためにスキャニング素子125によって反射され、その後、光学コンポーネント(例えば、スキャンチューブレンズテレスコープ131、132および対物レンズ140)の第1のセットに向かって伝播し続ける。光学コンポーネントの第1のセットは、近位端部および遠位端部を有しており、またスキャニング素子125は、励起光が近位から遠位の方向において光学コンポーネント131〜140の第1のセットを通過することになるように、励起光の経路を決定する。
対物レンズ140は、光学コンポーネントの第1のセットの遠位端部に配置されている。光学コンポーネント131〜140の第1のセットを通過した後に、励起光は、対物レンズ140を超えて遠位側に位置決めされている試料145に投影されることになる。励起光は、斜角で試料145に投影され、また試料145における励起光の位置は、スキャニング素子125の向きに応じて変化する。
一部の実施形態においては、励起光が、対物レンズ140の背面アパーチャにオフアクシス(off−axis)で、すなわち軸外で到達する。Bouchard等によって(2015年に)既に説明されているように、これによって、試料145にわたる斜めの光のシート142が生成される。それらの実施形態においては、(図2Aおよび図2Bにおいて参照番号250で示されている)調整可能なスライドマウントが使用され、また調整可能なスライドマウントの位置によって、試料145にわたる斜めの光のシートの角度が決定される。種々異なる対物レンズ140の種々の背面アパーチャサイズを適合させるために、調整可能なスライドマウント250の位置を調整することも可能である。
斜めの光のシート142によって、試料145において蛍光が励起されることになる。この試料から収集された蛍光は、同一の対物レンズ140によって収集される。対物レンズ140および光学コンポーネントの第1のセットのうちの残りの光学コンポーネント131、132は、遠位から近位の方向においてスキャニング素子125へと戻る、試料に由来する検出光の経路を決定する。検出光の共役像は、コンポーネント131とコンポーネント132との間に形成される。この共役像面の位置は、レーザ光による試料145の掃引に並行して変化する。
スキャニング素子125に到達した検出光は、スキャニング素子125によって経路が再度決定され、それによって検出光は、近位から遠位の方向において、光学コンポーネント149〜170の第2のセットを通過することになる。図示した実施形態においては、光学コンポーネントの第2のセットが、オプションとしての吸収フィルタ149、またそれに続く、テレスコープ151、155、アパーチャ絞り160、およびPME170を含んでいる。図1における実施形態では、検出光が、光学コンポーネントの第2のセットの最も近位の素子(すなわち、レンズ151)に入射する前に、ダイクロイックビームスプリッタ120を通過することになることを言及しておく。共役像面は、レンズ151とレンズ155との間に存在している。特に、スキャニング素子125は、到来する検出光のデスキャニングを行う。励起光によって対象物空間における試料145の種々異なる区間がスキャニングされるにもかかわらず、デスキャニングが行われることによって、この共役像面は固定されたままである。
共役像面に由来する光は、その後、テレスコープの遠位側のレンズ155を介してPME170へと伝播し続ける。位相変調素子は、ダイクロイックビームスプリッタ120に対して遠位の位置で、検出光路に位置決めされている。一部の有利な実施形態においては、PME170が、対物レンズ140の瞳面に共役に位置決めされている。
従来の顕微鏡においては、カメラの焦点が一次レンズの焦平面に合わせられている場合には、試料の非常にシャープな像が形成される。つまり、この平面における分解能は、その平面の上方および下方の平面の分解能よりも高く、またシステムの点拡がり関数によって特徴付けられている。PME170の役割は、制御された収差をシステムにもたらすことであり、それによって、カメラ190において測定された際の、焦平面、焦平面の上方および焦平面の下方の各点(すなわち、Z軸に沿った異なる位置)の点拡がり関数が均質化される。この収差は、焦平面における顕微鏡の点拡がり関数を劣化させるが、しかしながらその劣化した点拡がり関数を、広範な深度にわたり保持する。これによって顕微鏡を、事実上、複数の平面(すなわち複数の深度)において、(たとえ低減されていたとしても)同一の面内分解能(in−plane resolution)でもって結像させることができる。したがって、PME170の導入は、システムの分解能を改善し、またシステムの被写界深度を拡大する。一般的な技術は、他の分野において、波面コード化(wave−front encoding)として公知である。しかしながら、ここでは、この技術は共役の斜めの像面を回転させないために使用される。
一部の有利な実施形態においては、PMEがキューブ型の位相板である。それらの実施形態においては、キューブ型の位相板の位相プロファイルを次式によって表すことができる:
θ(x,y)=2πα(x+y
ただし、xおよびyは、正規化された瞳座標であり、αは、一般的に|Ψ/2|に設定される調整パラメータであり、ただし、
Ψ(u,v;dz)=−(1/2λ)×NA×(u +v )×dz/n
であり、ただし、λは、位相板を通過する光の波長であり、NAは、対物レンズ140の開口数であり、uおよびvは、正規化された瞳座標であり、nは、対物レンズの下に位置する浸漬媒体の屈折率であり、dzは、焦点深度(すなわち、結像されるべき深度の範囲)の1/2である。位相板の特性に関するさらなる情報は、S.Quirin等の「Instantaneous Three−Dimensional Sensing Using Spatial Light Modulator Illumination with Extended Depth of Field Imaging」、Opt.Express 21、16007−16021(2013)から得ることができる。
キューブ型の位相板の位相関数を、一連のゼルニケ多項式の和として、次式のように表すこともできる:
φ(x,y)=(πα/2)(2Z+2Z+Z+Z+Z10−Z11
1つの例においては、キューブ型の位相板の数学的表現は、FRED Optical Engineering Softwareを使用して作成されており、また2つの薄いレンズ間のものとしてシミュレートされた。それらのレンズのうちの一方の焦平面におけるオンアクシス(on−axis)の、すなわち軸内の点の放射拡がり関数が求められた。36のα値を用いて計算された位相関数およびその相応の放射点拡がり関数が、図3Aおよび図3Bにそれぞれ示されている。
位相板は、一般的に、厳密な公差(+/−0.02λ)で製造されており、また特定の波長範囲にわたり使用されることが意図されている。一部の実施形態においては、この波長範囲は、試料において励起されるものであればどのようなものであってもよい蛍光指示薬の放射スペクトルに相当するものであってよい。それらの波長に関する典型的な範囲は、500nm〜700nmである。一部の実施形態においては、試料145において励起される蛍光体の波長に応じて、複数の異なる位相板のうちの1つに交換されるように、システムを構成することができる。
S. Quirin等の「Simultaneous Imaging of Neural Activity in Three Dimensions」、Front.Neural Circuits 8、29(2014)において説明されているように、位相板の実際の高さを、次式を使用して計算することができる:
h(x,y)={(θ(x,y)×π)/2}{λ/(n−1)}
ここで、hは、位相板の高さであり、nは、位相板を形成している材料の屈折率である。
より密な波長範囲に特化させて位相板を設計することによって、設計波長からの偏差に由来する色収差も低減される。位相板に続くレンズの後方にイメージスプリッタを配置することによって、慣例のやり方で、多色撮像を実施することができる。代替的に、位相プレートの手前において、放射された蛍光のスペクトル分離を実施することも可能である。位相板を標準的なイメージスプリッタに組み込むことによって、各位相板を、より狭いスペクトル範囲に合わせて設計することができる。
代替的な実施形態においては、代替的な方程式を位相板において実現することができる、かつ/または異なるクラスの位相板(例えば対数型の位相板)を、上記において説明したキューブ型の位相板の代わりに使用することができる。一部の実施形態においては、所望の位相プロファイルを、ガラスのような基板に(例えば、リソグラフィを使用して)エッチングすることができる。
一部の実施形態においては、異なるタイプの位相変調素子170を、上記において説明した位相板の代わりに使用することができる。そのような代替的な位相変調素子の例には、空間光変調器および可変ミラーが含まれる。それらの代替的な位相変調素子の一部は、プログラミング可能である(例えば、SLMである)ことを言及しておく。それらのケースにおいては、上記において説明した位相プロファイルのうちのいずれかを、プログラミング可能な位相変調素子に与えることができる。
オプションとして、環状のアパーチャ(アパーチャ絞り160)を、PME170の前(すなわち、PMEの近位側)に配置して、顕微鏡の検出側光学系の開口数を調節することができる。オプションとして、長距離経路吸収フィルタ149を、光学コンポーネントの第2のセット内の任意の適切な場所(例えば、図1に示したようにダイクロイックビームスプリッタ120とレンズ151との間、またはレンズ155とカメラ190との間)に位置決めすることができる。
位相変調素子170(例えば、位相板)によって変調された後に、カメラ190を使用して光を捕捉することができる。カメラは、光学コンポーネントの第2のセットを通過した検出光によって形成された像を捕捉するように、光学的に位置決めされている。その最も簡潔な形態においては、カメラ190が、像光を2Dカメラセンサ195に収束させる単一のレンズ192である。代替的な実施形態においては、システムに可変の倍率を提供するために、図示されている単一のレンズ192を、より複雑なズームレンズモジュールに交換することができる。オプションとして、改善されたSNRおよびスペクトル分離それぞれのために、イメージインテンシファイアおよびイメージスプリッタを追加することもできる。
カメラ190のセンサ195は、異なる時点において試料145における平面から発せられた蛍光の2D像をそれぞれが表している、複数のフレームを捕捉する。
レンズ151とレンズ155との間に生じる共役像面は、その像がカメラ190のセンサ195に到達した際に、光学コンポーネントの第2のセットの軸方向の軸線に直交していないので、センサ195によって捕捉される像の大部分にはぼけが生じることになる(すなわち、焦点が外れている)。PME170は、検出経路における被写界深度を拡大することによって、このぼけが生じた状態を大幅に緩和する。
このぼけが生じた状態を、カメラのセンサ195によって捕捉された2D像を処理することによって、飛躍的に改善することができる。より詳細には、カメラのセンサ195によって捕捉された各像が、メモリ(例えば、RAM、ハードディスクドライブ、またはSSD)に記憶され、それらの像を適切にプログラミングされているプロセッサ199によって処理することによって、各像における収差を補正することができる。一部の実施形態においては、この処理は、測定された点拡がり関数のデコンボリューションを実施することによって、収差を補正する。別の実施形態においては、この処理は、シミュレートされた点拡がり関数のデコンボリューションを実施することによって、収差を補正する。収差の補正に関する代替的なアプローチを使用することもできる。収差が補正された像は、続いてメモリに記憶される。
カメラのセンサ195によって捕捉された各2D像を処理するための1つの適切なアプローチは以下の通りである:最初に、キューブ型の位相板を備えたシステムの横断方向の点拡がり関数(X−Y)は、深度に依存することを言及しておく。一部の実施形態においては、各深度において経験的に求められた横断方向の点拡がり関数をルックアップテーブルに記憶し、ウィナーフィルタまたは反復デコンボリューションのいずれかによるデコンボリューションを実施することによって、像回転を実施することができる。デコンボリューションを実現するために広範な技術のうちのいずれかを使用することができ、それらの技術には、線形自己回帰フィルタ、ARMAフィルタおよびウィナーフィルタ、ルーシー・リチャードソンデコンボリューション、ベイズ最尤期待値最大化法の解、ランドウェーバーデコンボリューション、ウェーブレットを基礎とするデコンボリューション、および最大エントロピを基礎とするデコンボリューションが含まれる。ただし、技術の例は、これらに限定されるものではない。参照によりそれぞれ本願に組み込まれる、以下に挙げる3つの刊行物に開示されているアプローチも使用することができる:S.Quirin等「Calcium imaging of neural circuits with extended depth−of−field Lightsheet Microscopy」、Opt.Lett.41、855(2016);4.D.C.Andreo等「Master in Photonics Fast Image Restoration in Light−Sheet Fluorescence Microscopy with Extended Depth of Field Using GPUs」(2015);O.Olarte等「Decoupled Illumination Detection in Light Sheet Microscopy for Fast Volumetric Imaging」、Optica2、702−705(2015)。
図4Aおよび図4Bには、SCAPE顕微鏡法において使用される斜めの光のシート142のセクショニング効果が示されている。光のシート142によって、試料145においてはX方向に沿って前後にスキャンが行われ、またカメラは、Y−Z’の次元におけるシートの像を捕捉する。SCAPEにおけるシートは、SPIM光シートシステムにおける光シートがZ次元におけるセクショニングを提供するやり方と同様のやり方で、X次元に沿ったセクショニングを提供する。横断方向(X−Y)の点拡がり関数のX次元に沿った二次ローブが、Z’軸に投影される。横断方向のプロファイルは深度の範囲わたり僅かに変化するので、カメラフレームによって取得された像は、空間的に変化するPSFを有することになる。しかしながら、PMEの設計に依存して、像の一部または全体にわたり均一性を推定することができる。完全な均一性を推定した場合には、単一の点拡がり関数を、Y−Z’像の中心において取得/計算することができ、また収差の生じた像を、非ブラインドデコンボリューション技術によって復元することができる。
点拡がり関数が深度(Z’)の範囲にわたり飛躍的に変化する場合には、各深度において点拡がり関数を取得/計算することができ、また空間的に変化するカーネルを用いるより複雑なデコンボリューション技術が使用されることになる。点拡がり関数における変化を処理するための適切な技術の例は、Lauer、Tod「Deconvolution with a Spatially−Variant PSF」、Astronomical Telescopes and Instrumentation、International Society for Optics and Photonics(2002)から得ることができ、この文献は参照により本願に組み込まれる。当業者には明らかであろう代替的な技術を使用することもできる。
キューブ型の位相板において観測される二次シフトは、より高次の逆対象位相マスクの特性であることを言及しておく。回転対称性の位相マスク、例えば動径4次関数および対数関数は、像アーチファクトをもたらすことはないが、しかしながら、M.Demenikov等「Image Artifacts in Hybrid Imaging Systems with a Cubic Phase Mask」、Opt.Express 18、8207−8212(2010)において説明されているように、コントラストと被写界深度との間のより顕著なトレードオフに直面する。それにもかかわらず、SCAPEにおいてそのような位相マスクを実現することによって、類似のプロセスに従うことができ、また像復元のために非ブラインドデコンボリューション技術も使用される。
再び図1を参照する。スキャニング素子125の任意の所定の位置に関して、励起光のシート142が、相応の位置において試料145に投影され、また試料145における照明された平面142に由来する蛍光の2D像が、カメラのセンサ195によって捕捉される。より詳細には、照明された平面142に由来する蛍光が、レンズ131とレンズ132との間の共役像面に結像され、スキャニング素子125によってデスキャニングされ、ダイクロイックビームスプリッタ120を通過して、レンズ151とレンズ155との間の固定の共役像面に結像される。この共役像面は、スキャニング素子125によって実施されるデスキャニングに起因して固定である。続いて、この共役像には、上記において説明したように、PME170によって収差がもたらされて、カメラ190のセンサ195に結像される。
各フレームは、続いて、メモリに順次読み込まれ、またプロセッサ199によって、経験的に求められたシステム点拡がり関数を用いて、デコンボリューションされ、それによって、斜めの区間の再構成された(すなわち、ぼけが修正された)像が取得される。上記において説明したように、スキャニング素子125の移動によって、励起光のシート142は、試料における異なる場所に移動する。その結果、2D像がスキャニング素子125の複数の位置の各々の位置に応じて捕捉され、またそれらの像の各々が、上記において説明したように再構成される/ぼけ修正される場合、その結果は、ぼけが修正された2Dフレームのスタックであり、これを、試料145におけるターゲットボリュームを表す3Dボリュームに組み立てることができる。
オプションとして、それらの複数の3Dボリュームを、複数の異なる時点(例えば1/10秒毎)に捕捉して、結像されているボリューム(すなわち試料におけるボリューム)の時間にわたる変化を表すことができる。
図5には、透過性の位相変調素子(すなわち、図1の実施形態におけるPME170の)の代わりに反射性の位相変調素子370が使用されている点を除き、図1の実施形態に類似する代替的な実施形態が示されている。それらの実施形態において使用することができる反射性の位相変調素子370の例には、反射性の空間光変調器(SLM)および可変ミラー(DM)が含まれ、それらはそれぞれ、検出された蛍光の位相プロファイルを変調するために使用される。それらの実施形態においては、反射性の位相変調素子370が、有利には、一次対物レンズ140の瞳面に共役である平面に位置決めされている。他の点に関して、この図5の実施形態は、上記において説明した図1の実施形態と同様に動作する。
図6には、図1の実施形態と多くの類似点を有しているが、しかしながら顕著な相異点も多数有している、別の代替的な実施形態が示されている。より詳細には、図6の実施形態は、2自由度を有しているスキャニング素子625(例えば、X−Yガルバノメータスキャナ)を使用して、ペンシル形状のビームによって、試料をスキャニングする。さらに、図6の実施形態は、図1の実施形態と関連させて上記において説明した2Dセンサの代わりに、線形センサ695(すなわち、1次元センサ)を使用する。
図6の実施形態は、光(例えば、単色光、コヒーレント光、偏光)を放射する光源(例えば、レーザ100)を含んでおり、またその光を、ビーム成形光学系610を通過するように方向付け、それによってペンシル形状のビームの特性が改善される。一部の実施形態においては、ビーム成形光学系610が、光源の輪郭を一様に拡大するために、等方性のビームエキスパンダと、そのビームエキスパンダの後段に設けられている、ビームの周縁部を制限する環状のアパーチャと、を含んでいる。このアパーチャの大きさを、対物レンズ140下におけるビームの太さ、さらには顕微鏡の被写界深度を制御するために使用することができる。
ビーム成形光学系610を離れた光は、ダイクロイックビームスプリッタ120に入射し、このダイクロイックビームスプリッタ120は、蛍光を励起させるために使用されるより短い波長の光を、蛍光分子によって放出されたより長い波長の光から分離させる。このビームスプリッタ120の動作は、図1と関連させて上記において説明した動作に類似するものである。ビームスプリッタ120は、励起光をスキャニング素子625に向けて方向付ける。
スキャニング素子625を、2自由度を有している平面スキャニングミラー、例えばX−Yガルバノメータを使用して実現することができる。しかしながら、代替的な実施形態においては、非平面スキャニングミラー、可動プリズム等も含めて、2軸スキャニングを実現するための広範な代替的なアプローチを使用することができる。ただし、代替的なアプローチの例は、これらに限定されるものではない。ダイクロイックビームスプリッタ120からスキャニング素子625に到達する励起光は、スキャニングを行うためにスキャニング素子625によって反射され、その後、光学コンポーネント131〜140の第1のセットを介して伝播し続ける。これらのコンポーネント131〜140の動作は、図1と関連させて上記において説明した動作に類似するものである。
光学コンポーネント131〜140の第1のセットを通過した後に、励起光は、対物レンズ140を超えて遠位側に位置決めされている試料145に投影されることになる。励起光は、斜角で試料145に投影され、また試料145における励起光の位置は、スキャニング素子625の向きに応じて変化する。図6の実施形態の動作は、この点に関して、励起光の実際のシートまたは仮想のシートが試料145に斜角で投影される代わりに、図6の実施形態は、励起光のペンシル形状のビーム642を斜角で試料145に投影するという、大きな1つの例外を除き、上記において説明した図1の実施形態の動作に類似するものである。X方向およびY方向の両方向においてスキャニング素子625の位置を制御することで、この図6の実施形態における励起光のペンシル形状のビームによって、図1の実施形態におけるシートによってスキャンされる試料における同一のボリュームにわたりスキャニングを行うことができる。
斜めの光のビーム642によって、試料145において蛍光が励起されることになる。この試料から収集された蛍光は、同一の対物レンズ140によって収集される。対物レンズ140および光学コンポーネントの第1のセットのうちの残りの光学コンポーネント131、132は、遠位から近位の方向においてスキャニング素子625へと戻る、試料に由来する検出光の経路を決定する。検出光の共役像は、コンポーネント131とコンポーネント132との間に形成される。この共役像面の位置は、レーザ光による試料145の掃引に並行して変化する。
スキャニング素子に到達した検出光は、スキャニング素子625によって経路が再度決定され、それによって検出光は、近位から遠位の方向において、光学コンポーネント149〜170の第2のセットを通過することになる。図示した実施形態においては、光学コンポーネントの第2のセットが、オプションとしての吸収フィルタ149、またそれに続く、テレスコープ151、155、アパーチャ絞り160、およびPME170を含んでいる。図6における実施形態では、検出光が、光学コンポーネントの第2のセットの最も近位の素子(すなわち、レンズ151)に入射する前に、ダイクロイックビームスプリッタ120を通過することになることを言及しておく。共役像面は、レンズ151とレンズ155との間に存在している。特に、スキャニング素子625は、到来する検出光のデスキャニングを行う。励起光によって対象物空間における試料145の種々異なる区間がスキャニングされるにもかかわらず、デスキャニングが行われることによって、この共役像面は固定されたままである。
共役像面に由来する光は、テレスコープの遠位側のレンズ155を介して位相変調素子170へと伝播し続ける。位相変調素子は、ダイクロイックビームスプリッタ120に対して遠位の位置で、検出光路に位置決めされている。一部の有利な実施形態においては、PME170が、対物レンズ140の瞳面に共役に位置決めされている。この図6の実施形態におけるPME170の実現形態は、図1の実施形態と関連させて上記において説明した原理と同一の原理に従う。
オプションとして、図1の実施形態と関連させて上記において説明したように、環状のアパーチャ160および/または長距離経路吸収フィルタ149を含めることができる。
PME170によって変調された後に、カメラ690を使用して光が捕捉される。カメラは、光学コンポーネントの第2のセットを通過した検出光によって形成された像を捕捉するように、光学的に位置決めされている。その最も簡潔な形態においては、この実施形態におけるカメラ690が、像光を1次元センサ695(すなわち、線形アレイ)に収束させる単一のレンズ692である。
スキャニング素子625の任意の所定の位置において、励起光のビーム642が、相応の位置において試料145に投影され、また試料145において照明された線642に由来する蛍光の線形の像が、カメラのセンサ695によって捕捉される。より詳細には、照明された線642に由来する蛍光が、レンズ131とレンズ132との間の共役像面に結像され、スキャニング素子625によってデスキャニングされ、ダイクロイックビームスプリッタ120を通過して、レンズ151とレンズ155との間の固定の共役像面に結像されることになる。この共役像面は、スキャニング素子625によって実施されるデスキャニングに起因して固定である。続いて、この共役像には、上記において説明したように、PME170によって収差がもたらされて、カメラ690のセンサ695にデータのフレームとして結像される。
データのフレームの各々は、異なる時点における、試料145における線642から発せられる蛍光の単一の線に対応する。この線は、複数の画素から構成されることになる。一部の実施形態においては、線形センサ695における各画素の大きさは、5μm〜10μmである。代替的な実施形態においては、より大きい画素が使用され、その場合には、深度方向における分解能は低くなる。他の代替的な実施形態においては、画素の大きさは同一のまま(すなわち、5μm〜10μm)であるが、しかしながら隣接する画素が、相互に(例えば、4つまたは8つのグループに)結合され、たとえ深度方向において分解能が低下していたとしても、向上した感度が提供される。
スキャニング素子625の移動によって、励起光のビーム642のいずれも試料における異なる場所に移動させられるので、線形の像がスキャニング素子625の複数の位置の各々に応じて捕捉される場合には、結果は(爪楊枝の束に類似する)フレームの束であり、これをプロセッサおよび対応付けられたメモリ199によって、試料145におけるターゲットボリュームを表す3Dボリュームに組み立てることができる。
オプションとして、それらの複数の3Dボリュームを、複数の異なる時点(例えば1/10秒毎)に捕捉して、結像されているボリューム(すなわち試料におけるボリューム)の時間にわたる変化を表すことができる。
この図6の実施形態においては、デコンボリューションは不要である。しかしながら一部の実施形態においては、1Dの像の各々のぼけを、それらの像が3Dボリュームに組み立てられる前に修正するために、1Dデコンボリューションを、オプションとして実現することができる。代替的な実施形態においては、線形のフィルタリング技術を、1Dデコンボリューションの代わりに使用することができる。
代替的な実施形態においては、図6の実施形態のPME170を、図1の実施形態におけるPME170が図3の実施形態における反射性のPME370に置換されたのと同様に、反射性のPMEに置換することができる。
相互に所定の角度で配置されている、検出アームにおける2つの対物レンズを使用して像回転を実施するSCAPEのそれらの実施形態とは異なり、図1、図5および図6の実施形態のカメラ190/690および検出アームにおける光学コンポーネント149〜170は、単一の光軸を共有している。その結果として、検出アームにおけるテレスコープ151〜155を通過するほぼすべての光は、カメラ190/690に向かって伝播し続けることになる。この構成は、有利には、オフアクシスのカメラを使用する多くの従来技術のSCAPEの設計に固有である大きい損失を回避する。この設計を複雑にする1つの要因は、カメラ190/690および検出アームが単一の光軸を共有する場合には、これが像に収差をもたらすことである。しかしながらこの収差は、上記において説明したように、アルゴリズムによって補正される。
この場合、共役像面は、光軸に関して斜めであるにもかかわらず、(斜角に整列されているのではなく、光軸に沿って整列されている)カメラ190/690は、その斜めの共役像面を、1次元に圧縮された投影として、自身のセンサ195/695の表面に結像する。PME170は、カメラ190/690に到達する像の被写界深度の拡大に付加的に、結果として生じる像に収差をもたらす。それらの収差は、例えば上記において説明したような測定された点拡がり関数またはシミュレートされた点拡がり関数のデコンボリューションによって、プロセッサ199においてアルゴリズムによって補正される。
上記において説明した図1、図5および図6の実施形態は、有利には、整列を単純化し、分解能を改善し、光スループットを改善し、また(2つの対物レンズの実施形態に関して)実効検出開口数を向上させることができる。それらの改善に起因して、優れた信号対雑音比を達成することができる。この改善されたS/Nを、種々のやり方で高めることができ、このやり方には、より高いボリュメトリックフレームレートを達成するためのより短い露光時間でのより高速な撮像と、試料にもたらされるダメージおよびフォトブリーチングを低減するより低いレーザ強度での撮像と、が含まれる。この構成は、より低いNA(例えば、NA〜0.5)を有している顕微鏡型の対物レンズを使用することによって、また総フットプリントを低減することによって、システムのコストを削減することもできる。人体組織での高速な生体内病理学のために、または光量不足でも多光子でSCAPEを実現するために、この構成をSCAPEの内視鏡での実現形態に適用することができる。それらの実現形態においては、蛍光がNIR−IR(700nm〜1,600nm)のスペクトルのレーザで非常に低い確率で励起される。その結果、収集されるべき蛍光は、(300nm〜700nmのレーザを用いる)単一光子用途に関する蛍光よりも著しく弱いので、図1、図5および図6の実施形態の改善された光収集効率の恩恵を受けると考えられる。
特に、図1、図5および図6の実施形態の開口数、分解能および光スループットは、いずれも単一の一次対物レンズ140の特性によって管理される。(例えば、ターレットを使用して)このレンズを変更することによって、大きい視野にわたる高速なボリュメットリックイメージングを提供しつつ、(例えば、複数の標準的な倍率、分解能、および被写界深度を有している)卓上顕微鏡のモジュール性を提供することが可能となる。一部の実施形態においては、これには、対物レンズの切換に並行して行われる、異なるPME170(例えば、異なる位相板)への切り替え、もしくは変更された対物レンズまたは代替的な修正を占めるための、プログラミング可能な位相変調素子(例えば、可変ミラーまたはSLM)における位相プロファイルの変更が含まれると考えられる。最後に、Olarte、TomerおよびQuirinの、光シート顕微鏡法における分離式照明/検出スキームと比較して、SCAPEシステムには直交ビーム経路が省略されていることで、技術の用途が、齧歯類の皮質のような大きい試料に拡大される。
本発明を、特定の実施形態を参照しながら説明したが、添付の特許請求の範囲に記載されているような本発明の範囲および精神から逸脱することなく、上述の実施形態についての種々の修正形態、代替形態および変更が可能である。したがって、本発明は、上記において説明した実施形態に限定されることは意図されていないが、しかしながら、添付の特許請求の範囲、およびそれと等価のものの言語によって定義されているすべての範囲を有するものである。

Claims (37)

  1. 撮像装置において、
    光学コンポーネントの第1のセットと、光学コンポーネントの第2のセットと、スキャニング素子と、カメラと、を含んでおり、
    前記光学コンポーネントの第1のセットは、近位端部および遠位端部を有しており、前記光学コンポーネントの第1のセットの遠位端部に配置されている対物レンズを含んでおり、
    前記光学コンポーネントの第2のセットは、近位端部および遠位端部を有しており、位相変調素子を含んでおり、
    前記スキャニング素子は、前記光学コンポーネントの第1のセットの近位端部に関して近位側に配置されており、前記光学コンポーネントの第2のセットの近位端部に関して近位側に配置されており、
    ただし、前記スキャニング素子は、前記スキャニング素子に到達する励起光の経路を決定するように構成されており、それによって前記励起光は、近位から遠位の方向において前記光学コンポーネントの第1のセットを通過し、前記対物レンズを超えて遠位側に位置決めされている試料に投影され、前記励起光は、斜角で前記試料に投影され、前記励起光は、前記スキャニング素子の向きに応じて変化する位置において前記試料に投影され、
    前記光学コンポーネントの第1のセットは、遠位から近位の方向において前記スキャニング素子へと戻る、前記試料に由来する検出光の経路を決定するように構成されており、
    前記スキャニング素子は、前記検出光の経路を決定するようにも構成されており、それによって前記検出光は、近位から遠位の方向において前記光学コンポーネントの第2のセットを通過し、
    前記カメラは、前記光学コンポーネントの第2のセットを通過した前記検出光によって形成された像を捕捉するように、光学的に位置決めされており、
    前記位相変調素子は、制御された収差をもたらし、それによって前記カメラにおいて測定された際の、焦平面、焦平面の上方および焦平面の下方の各点の点拡がり関数を均質化する、
    撮像装置。
  2. 前記位相変調素子には、位相板が含まれる、
    請求項1記載の装置。
  3. 前記位相変調素子には、空間光変調器が含まれる、
    請求項1記載の装置。
  4. 前記位相変調素子には、可変ミラーが含まれる、
    請求項1記載の装置。
  5. 前記対物レンズは、瞳面を有しており、前記位相変調素子は、前記対物レンズの前記瞳面に共役である平面に位置決めされている、
    請求項1記載の装置。
  6. 前記装置は、(a)前記位相変調素子に隣接して位置決めされており、かつ、(b)前記位相変調素子に関して近位側に位置決めされているアパーチャ絞りをさらに含んでいる、
    請求項5記載の装置。
  7. 前記検出光は、前記光学コンポーネントの第2のセットの近位端部と遠位端部との間において、固定の共役像面を形成している、
    請求項1記載の装置。
  8. 光検出器アレイが、2Dイメージセンサを含んでおり、
    前記カメラは、前記光学コンポーネントの第2のセットを通過した前記検出光によって形成された複数の像を連続的に捕捉し、前記複数の像の各々は、像データのフレームの各々に対応し、
    前記装置は、さらに、前記像データのフレームにおける収差を補正するようにプログラミングされているプロセッサを含んでいる、
    請求項1記載の装置。
  9. 前記プロセッサは、点拡がり関数のデコンボリューションを実施することによって、前記像データのフレームにおける収差を補正する、
    請求項8記載の装置。
  10. 前記点拡がり関数は、測定された点拡がり関数であるか、またはシミュレートされた点拡がり関数である、
    請求項9記載の装置。
  11. 光検出器アレイが、線形イメージセンサを含んでいる、
    請求項1記載の装置。
  12. 前記スキャニング素子は、X−Yガルバノメータを含んでいる、
    請求項11記載の装置。
  13. 前記励起光は、前記試料における蛍光の励起が複数の光子のほぼ同時の吸収を要求する波長を有している、
    請求項11記載の装置。
  14. 前記装置は、さらに、
    前記光学コンポーネントの第2のセットの近位端部と前記スキャニング素子との間に配置されているビームスプリッタと、
    前記励起光の光源と、
    を含んでおり、
    前記励起光が前記ビームスプリッタへと方向付けられるように、前記励起光の前記光源の照準が定められており、
    前記ビームスプリッタは、前記スキャニング素子へと向かう前記励起光の経路を決定するように構成されており、
    前記ビームスプリッタは、前記スキャニング素子から到達する検出光の、前記光学コンポーネントの第2のセットの近位端部への経路を決定するように構成されている、
    請求項1記載の装置。
  15. 前記励起光には、励起光のシートが含まれる、
    請求項1記載の装置。
  16. 前記励起光のシートは、
    (a)光源に由来する光を前記励起光のシートに展開するように構成されているシリンドリカルレンズ、
    (b)光源に由来する光を前記励起光のシートに展開するように構成されている非球面ミラー、
    (c)光源に由来する光を前記励起光のシートに展開するように構成されている空間光変調器、
    (d)光源に由来する光を前記励起光のシートに展開するように構成されている第2のスキャニング素子、および
    (e)光源に由来する光を前記励起光のシートに展開するように構成されている振動ガルバノメータミラー、のうちの少なくとも1つによって生成される、
    請求項15記載の装置。
  17. 前記装置は、さらに、
    前記光学コンポーネントの第2のセットの近位端部と前記スキャニング素子との間に配置されているビームスプリッタと、
    前記励起光の光源と、
    を含んでおり、
    前記励起光が前記ビームスプリッタへと方向付けられるように、前記励起光の前記光源の照準が定められており、
    前記ビームスプリッタは、前記スキャニング素子へと向かう前記励起光の経路を決定するように構成されており、
    前記ビームスプリッタは、前記スキャニング素子から到達する検出光の、前記光学コンポーネントの第2のセットの近位端部への経路を決定するように構成されており、
    光検出器アレイが、2Dイメージセンサを含んでおり、
    前記励起光には、励起光のシートが含まれ、
    前記カメラは、前記光学コンポーネントの第2のセットを通過した前記検出光によって形成された複数の像を連続的に捕捉し、前記複数の像の各々は、像データのフレームの各々に対応し、
    前記装置は、さらに、前記像データのフレームにおける収差を補正するようにプログラミングされているプロセッサを含んでいる、
    請求項1記載の装置。
  18. 前記プロセッサは、点拡がり関数のデコンボリューションを実施することによって、前記像データのフレームにおける収差を補正する、
    請求項17記載の装置。
  19. 前記対物レンズは、瞳面を有しており、前記位相変調素子は、前記対物レンズの前記瞳面に共役である平面に位置決めされている、
    請求項18記載の装置。
  20. 前記位相変調素子は、
    θ(x,y)=2πα(x+y
    の位相プロファイルを有しており、ただし、xおよびyは、正規化された瞳座標であり、αは、|Ψ/2|に設定される調整パラメータであり、ただし
    Ψ(u,v;dz)=−(1/2λ)×NA×(u +v )×dz/n
    であり、ただし、λは、前記位相変調素子を通過する光の波長であり、NAは、前記対物レンズの開口数であり、uおよびvは、正規化された瞳座標であり、nは、前記対物レンズの下に位置する浸漬媒体の屈折率であり、dzは、結像されるべき深度の範囲の1/2である、
    請求項18記載の装置。
  21. 前記位相変調素子は、
    θ(x,y)=2πα(x+y
    の位相プロファイルを有しており、ただし、xおよびyは、正規化された瞳座標であり、αは、|Ψ/2|に設定される調整パラメータであり、ただし
    Ψ(u,v;dz)=−(1/2λ)×NA×(u +v )×dz/n
    であり、ただし、λは、前記位相変調素子を通過する光の波長であり、NAは、前記対物レンズの開口数であり、uおよびvは、正規化された瞳座標であり、nは、前記対物レンズの下に位置する浸漬媒体の屈折率であり、dzは、結像されるべき深度の範囲の1/2である、
    請求項1記載の装置。
  22. 撮像装置において、
    対物レンズと、複数の光学素子と、光検出器アレイと、位相変調素子と、を含んでおり、
    前記複数の光学素子は、前記対物レンズに由来する光を受け取るように構成されている検出経路に配置されており、前記検出経路に配置されている前記複数の光学素子には、スキャニング素子が含まれ、
    前記スキャニング素子は、(a)前記対物レンズの前側焦平面にわたる掃引励起ビームを生成するように前記対物レンズへの励起光の経路を決定する、かつ、それと同時に(b)共役像を形成するために前記検出経路に沿って前記対物レンズを介して戻ってくる像光の経路を決定する、ように構成されており、
    前記光検出器アレイは、前記共役像の像を捕捉するように位置決めされており、
    前記位相変調素子は、前記スキャニング素子と前記光検出器アレイとの間の前記検出経路に配置されており、前記検出経路における被写界深度を拡大する、
    撮像装置。
  23. 前記位相変調素子は、制御された収差をもたらすことによって前記被写界深度を拡大し、それによって前記光検出器アレイにおいて測定された際の、焦平面、焦平面の上方および焦平面の下方の各点の点拡がり関数を均質化する、
    請求項22記載の装置。
  24. 前記収差は、画像処理アルゴリズムによって補正される、
    請求項23記載の装置。
  25. 前記収差は、測定された点拡がり関数またはシミュレートされた点拡がり関数のデコンボリューションによって補正される、
    請求項23記載の装置。
  26. 前記光検出器アレイは、2Dイメージセンサを含んでいる、
    請求項25記載の装置。
  27. 前記光検出器アレイは、線形イメージセンサを含んでいる、
    請求項22記載の装置。
  28. 撮像装置において、
    光源と、シリンドリカルレンズまたはスキャナと、ビームスプリッタと、スキャニング素子と、第1のテレスコープと、第2のテレスコープと、カメラと、位相変調素子と、イメージプロセッサと、を含んでおり、
    前記シリンドリカルレンズまたはスキャナは、前記光源に由来する光を光のシートに展開し、
    前記ビームスプリッタは、前記光のシートの経路に配置されており、
    前記スキャニング素子は、前記光のシートの経路に配置されており、
    前記第1のテレスコープは、近位端部および遠位端部を有しており、前記第1のテレスコープの前記遠位端部に配置されている対物レンズを備えており、
    前記第2のテレスコープは、近位端部および遠位端部ならびに光軸を有しており、
    前記ビームスプリッタは、前記スキャニング素子へと向かう前記光のシートの経路を決定し、前記スキャニング素子は、前記第1のテレスコープの近位端部への前記光のシートの経路を決定し、前記第1のテレスコープは、前記対物レンズを介する近位から遠位の方向への前記光のシートの経路を決定し、前記対物レンズを通過した蛍光を受け取り、遠位から近位の方向において前記スキャニング素子へと戻る前記蛍光の経路を決定し、前記スキャニング素子は、前記ビームスプリッタを通過する、前記第2のテレスコープの近位端部への前記蛍光の経路を決定し、前記第2のテレスコープは、前記蛍光に由来する像を、共役像面において形成し、
    前記カメラは、前記第2のテレスコープと同一の光軸に位置決めされており、前記共役像面のぼけが生じた像を捕捉するように構成されており、
    前記位相変調素子は、前記第2のテレスコープと前記カメラとの間に配置されており、
    前記イメージプロセッサは、前記カメラによって捕捉された像のぼけを修正するようにプログラミングされている、
    撮像装置。
  29. 前記光源には、レーザが含まれる、
    請求項28記載の装置。
  30. 前記位相変調素子には、位相板が含まれる、
    請求項28記載の装置。
  31. 前記位相変調素子には、空間光変調器および可変ミラーのうちの少なくとも1つが含まれる、
    請求項28記載の装置。
  32. 前記イメージプロセッサは、デコンボリューションアルゴリズムを使用して、前記像のぼけを修正するようにプログラミングされている、
    請求項28記載の装置。
  33. 試料を撮像するための方法において、
    励起光のシートを、斜角でかつスキャニング素子の向きに応じて変化する位置において、試料に投影するステップと、
    前記スキャニング素子へと戻る、前記試料から到達する検出光の経路を決定するステップと、
    スキャニング素子を使用して、制御された収差をもたらす光学系への検出光の経路を再度決定し、カメラにおいて測定された際の、焦平面、焦平面の上方および焦平面の下方の各点の点拡がり関数を均質化するステップと、
    収差の生じた検出光を使用して、それぞれが前記スキャニング素子の異なる向きに対応する複数の時点において複数の像を形成するするステップと、
    前記複数の像を捕捉するステップと、
    を含んでいる方法。
  34. 前記方法は、さらに、前記複数の像における収差を補正するステップを含んでいる、
    請求項33記載の方法。
  35. 前記補正ステップが、点拡がり関数のデコンボリューションを実施するステップを含んでいる、
    請求項34記載の方法。
  36. 前記点拡がり関数は、測定された点拡がり関数であるか、またはシミュレートされた点拡がり関数である、
    請求項35記載の方法。
  37. 前記収差を、
    θ(x,y)=2πα(x+y
    の位相プロファイルを有している位相変調素子によってもたらし、
    ただし、xおよびyは、正規化された瞳座標であり、αは、|Ψ/2|に設定される調整パラメータであり、ただし
    Ψ(u,v;dz)=−(1/2λ)×NA×(u +v )×dz/n
    であり、ただし、λは、前記位相変調素子を通過する光の波長であり、NAは、対物レンズの開口数であり、uおよびvは、正規化された瞳座標であり、nは、前記対物レンズの下に位置する浸漬媒体の屈折率であり、dzは、結像されるべき深度の範囲の1/2である、
    請求項33記載の方法。
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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10061111B2 (en) 2014-01-17 2018-08-28 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Systems and methods for three dimensional imaging
EP3465318B1 (en) 2016-05-30 2022-03-23 The Trustees of Columbia University in the City of New York Three-dimensional imaging using swept, confocally aligned planar excitation
WO2017210182A1 (en) 2016-05-30 2017-12-07 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Scape microscopy with phase modulating element and image reconstruction
EP3482238A1 (en) 2016-07-10 2019-05-15 The Trustees of Columbia University in the City of New York Three-dimensional imaging using swept, confocally aligned planar excitation with an image relay
JP7021190B2 (ja) * 2016-08-15 2022-02-16 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ライトシート顕微鏡
CN109964163B (zh) 2016-09-16 2022-07-26 纽约市哥伦比亚大学理事会 使用扫掠共焦对准平面激发进行三维成像以及定制图像分离器
WO2018064149A1 (en) 2016-09-30 2018-04-05 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Three-dimensional imaging using swept, confocally aligned planar excitation with a powell lens and/or deliberate misalignment
US11036037B2 (en) 2016-11-12 2021-06-15 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Microscopy devices, methods and systems
WO2019075424A1 (en) * 2017-10-12 2019-04-18 Howard Hughes Medical Institute HIGH-RESOLUTION REAL-TIME IMAGING WITH ADAPTIVE OPTICAL ELEMENTS AND NETWORK LIGHT SHEETS
CN115078319A (zh) * 2018-06-27 2022-09-20 因纽美瑞克斯公司 用于透明化液滴成像的光片荧光显微成像装置及检测方法
EP3885813A1 (en) * 2020-03-27 2021-09-29 Leica Microsystems CMS GmbH Method and device for estimating a sted resolution
CN112857568A (zh) * 2021-03-17 2021-05-28 中国科学技术大学 一种基于拓展景深的快速光谱采集系统
US20220364848A1 (en) * 2021-05-13 2022-11-17 Industrial Technology Research Institute Depth measurement apparatus and depth measurement method
CN115184317B (zh) * 2022-06-16 2024-08-27 华中科技大学 一种点扩散函数可编程的3d荧光成像方法和系统
CN117562488A (zh) * 2023-11-14 2024-02-20 卓外(上海)医疗电子科技有限公司 基于波前编码技术的荧光内窥镜摄像系统及成像方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005070780A (ja) * 2003-08-21 2005-03-17 Carl Zeiss Ag 焦点深度を拡大させた結像光学系
JP2006067171A (ja) * 2004-08-26 2006-03-09 Ohkura Industry Co カラー撮像装置
WO2015109323A2 (en) * 2014-01-17 2015-07-23 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Systems and methods for three-dimensional imaging
WO2015124648A1 (de) * 2014-02-20 2015-08-27 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und anordnung zur lichtblattmikroskopie
CN204719330U (zh) * 2015-04-09 2015-10-21 中国科学院西安光学精密机械研究所 波前编码成像系统

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7054051B1 (en) 2004-11-26 2006-05-30 Alces Technology, Inc. Differential interferometric light modulator and image display device
WO2007047761A1 (en) * 2005-10-17 2007-04-26 Arryx, Inc. Apparatus and method for detecting deformability of cells using spatially modulated optical force microscopy
TW200733240A (en) * 2005-12-05 2007-09-01 Univ Columbia Systems and methods for processing a film, and thin films
DE102006047912A1 (de) 2006-10-06 2008-04-10 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren und Anordnung zur parallelisierten mikroskopischen Bildgebung
WO2009005748A1 (en) 2007-06-29 2009-01-08 The Trustees Of Columbia University In The City Ofnew York Optical imaging or spectroscopy systems and methods
KR20100045964A (ko) * 2007-07-06 2010-05-04 내셔널 유니버시티 오브 싱가포르 형광 초점변조 현미경 시스템 및 방법
HUP0700635A2 (en) * 2007-09-28 2009-05-28 Mta Szegedi Biolog Koezpont Differential-polarizing accessory measuring block for laser scanning microscopes
US8441633B2 (en) * 2009-10-29 2013-05-14 California Institute Of Technology Multiple-photon excitation light sheet illumination microscope
US8619237B2 (en) 2009-12-04 2013-12-31 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Laser-scanning intersecting plane tomography such as for high speed volumetric optical imaging
CN102980875B (zh) * 2012-11-19 2015-04-22 深圳大学 大景深三维纳米分辨成像方法、光学组件及成像系统
WO2014117079A1 (en) * 2013-01-25 2014-07-31 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Depth of field 3d imaging slm microscope
US9581798B2 (en) * 2013-07-22 2017-02-28 Fundacio Institut De Ciencies Fotoniques Light sheet-based imaging device with extended depth of field
US10061111B2 (en) 2014-01-17 2018-08-28 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Systems and methods for three dimensional imaging
US10187626B2 (en) * 2015-04-10 2019-01-22 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Apparatuses and methods for three-dimensional imaging of an object
WO2017210182A1 (en) 2016-05-30 2017-12-07 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Scape microscopy with phase modulating element and image reconstruction
EP3465318B1 (en) 2016-05-30 2022-03-23 The Trustees of Columbia University in the City of New York Three-dimensional imaging using swept, confocally aligned planar excitation
EP3482238A1 (en) 2016-07-10 2019-05-15 The Trustees of Columbia University in the City of New York Three-dimensional imaging using swept, confocally aligned planar excitation with an image relay
CN109964163B (zh) 2016-09-16 2022-07-26 纽约市哥伦比亚大学理事会 使用扫掠共焦对准平面激发进行三维成像以及定制图像分离器
WO2018064149A1 (en) 2016-09-30 2018-04-05 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Three-dimensional imaging using swept, confocally aligned planar excitation with a powell lens and/or deliberate misalignment
US11036037B2 (en) * 2016-11-12 2021-06-15 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Microscopy devices, methods and systems
DE102018122652A1 (de) * 2018-09-17 2020-03-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Spektralauflösende, hochauflösende 3D-Lokalisierungmikroskopie

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005070780A (ja) * 2003-08-21 2005-03-17 Carl Zeiss Ag 焦点深度を拡大させた結像光学系
JP2006067171A (ja) * 2004-08-26 2006-03-09 Ohkura Industry Co カラー撮像装置
WO2015109323A2 (en) * 2014-01-17 2015-07-23 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Systems and methods for three-dimensional imaging
WO2015124648A1 (de) * 2014-02-20 2015-08-27 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und anordnung zur lichtblattmikroskopie
CN204719330U (zh) * 2015-04-09 2015-10-21 中国科学院西安光学精密机械研究所 波前编码成像系统

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