JP2005515493A - 画像発生用の顕微鏡使用画像化装置および方法 - Google Patents
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Abstract
使用画像装置を提供するものである。前記方法は、変調する空間的周期的な照
明パターンで試料を照明するステップと、結合する画像面に前記試料を画像化
するステップと、各信号が各位置での入射光強度に対応し、照明パターンの変
調により引き起こされる振動性構成要素を有し、前記画像面上のそれぞれの位
置で複数の信号を収集するステップと、各々の前記信号の振動性構成要素の特
性を測定するステップとを備えることより、測定された特性が、その相対的な
位置に一体化された場合に、前記試料の光学的に区分化された画像を発生させ
ることを特徴とする。
Description
そのひとつに、ピンホールがいくつかの共焦点容積の平行な観察を可能とする、多孔回転円盤により置き換えられるニプコウ(Nipkow)円盤の使用が含まれる。
それでさえも、照明光使用量全体のたった約二パーセントしか画像化に用いられない。
前記試料の光学的に区分化された画像を発生させることを特徴とする。
代表的には、各画像画素の値(例えば、明度値または色値)はそれぞれの振動性構成要素の測定された特性と画像面上のそれぞれの位置に対応する各画素の位置により判定され、光学的に区分化された画像は画素化される。
好ましくは、空間的に周期的な照明パターンがそれぞれの試料位置で所定の変調周波数を生成するように変調されることにより、画素面上の対応する位置で収集した信号の振動性構成要素は実質的に同じ周波数を有する。「変調周波数」は、試料のある位置が明から暗へ、そして再び明へと完全な一照明サイクル行うのに要する往復時間を意味するものとする。
代表的には、画像面での入射光は反射光または透過光を含み、かつ/または前記照明パターンに応じて試料(蛍光灯等)により発せられた光を含む。
例えば、前記方法は受信と測定のステップの間にさらに振動性構成要素を隔離するために、各収集した信号を透過するステップを備える。
代表的には、前記処理装置は画像発生時間を低減するために併行で作動する。
好ましくは、前記処理手段は信号から効果的に振動性構成要素を隔離するために、実質的に同じ周波数で収集した信号を透過するようになっている。
前記転用道具一式は、前の態様の顕微鏡使用画像化装置の好ましいまたは随意の特徴 に対応した、他の好ましいまたは随意の特徴を有してもよい。
直線状で平行な縞を含む空間的に周期的な照明パターンは、例えば、ふたつの互いに干渉性ビーム間の干渉により形成してもよい。前記干渉縞は、光軸に基本的に平行に延びる均一な照明強度の平面により形成される。このように、光軸(焦点面等)に垂直な面上において、干渉縞は波シフトベクトル
図2は、ADDAの各対の検出器・処理装置により実行される信号収集および処理ステップを模式的に示す。光検出器1は光を捕らえ、相当する電気信号を発生する。増幅器2はローパスフィルター3および電流源4と共に、電気信号の直流構成要素の除去および交流構成要素の増幅となるフィードバックループを提供する。交流構成要素は整流器5で整流され、最終段のローパスフィルター6はさらに交流構成要素を透過し、かつ平滑化する。
そのような周波数応答の利点は、従来の顕微鏡画像に対してもまた抑制されることである。
Claims (20)
- 試料の光学的に区分化された画像を発生させる方法であって、
変調する空間的に周期的な照明パターンで試料を照明するステップと、
結合する画像面に前記試料を画像化するステップと、
各信号が各位置での入射光強度に対応し、照明パターンの変調により引き起こされる振動性構成要素を有し、前記画像面上のそれぞれの位置で複数の前記信号を収集するステップと、
各々の前記信号の振動性構成要素の特性を測定するステップとを備えることにより、測定された特性が、その相対的な位置に一体化された場合に、前記試料の光学的に区分化された画像を発生させることを特徴とする画像を発生させる方法。 - 請求項1において、測定された前記特性が前記振動性構成要素の振幅であることを特徴とする画像を発生させる方法。
- 請求項1または2において、収集ステップと測定ステップの間に前記振動性構成要素を隔離するために、各収集した信号を透過するステップをさらに備えることを特徴とする画像を発生させる方法。
- 請求項1乃至3のいずれかにおいて、前記照明パターンは縞パターンであることを特徴とする画像を発生させる方法。
- 請求項4において、前記縞パターンは干渉パターンであることを特徴とする画像を発生させる方法。
- 請求項1乃至5のいずれかににおいて、前記照明パターンを試料対象面に相対的に移動させることにより前記照明パターンを変調することを特徴とする画像を発生させる方法。
- 請求項1乃至6のいずれかにおいて、前記照明パターンを少なくとも100ヘルツの照明変調周波数を生成するように変調することを特徴とする画像を発生させる方法。
- 請求項1乃至7のいずれかにおいて、画像面での入射光は反射光または透過光を含むことを特徴とする画像を発生させる方法。
- 請求項1乃至8のいずれかにおいて、前記画像面での前記入射光は、前記照明パターンに応じて試料により発せられた光を含むことを特徴とする画像を発生させる方法。
- 光学的に区分化された画像発生させる画像データを処理する方法であって、
試料を変調する空間的に周期的な照明パターンで照明するステップと、結合する画像面上の前記試料を画像化するステップと、各信号が各位置での入射光強度に対応し、前記照明パターンの変調により引き起こされる振動性構成要素を有し、前記画像上のそれぞれの位置で複数の前記信号を収集するステップとを実行することにより、前に収集される複数の前記信号を含むデータを受信する手順と、
各々の前記信号の振動性構成要素の特性を測定する手順とを含むことにより、測定された前記特性が、相対的な位置に一体化された場合に、試料の光学的に区分化された画像発生させることを特徴とする画像データを処理する方法。 - 顕微鏡使用画像化装置であって、
前記装置は変調する空間的に周期的な照明パターンで試料を照明する照明手段と、
結合する画像面上で前記試料を画像化する画像化手段と、
各信号が各位置での入射光強度に対応し、変調する照明パターンにより引き起こされる振動性構成要素を有し、前記画像上のそれぞれの位置で複数の前記信号を収集する収集手段と、
各々の前記信号の振動性構成要素の特性を測定する処理手段とを備えることにより、測定された前記特性が、相対的な位置に一体化する場合に、前記試料の光学的に区分化された画像を発生させることを特徴とする画像化装置。 - 請求項11において、前記処理手段は前記振動性構成要素の特性を測定する前に、前記振動性構成要素を隔離するために、各収集した信号をも透過することを特徴とする画像化装置。
- 請求項12において、前記照明手段は所定の変調周波数を生成するように前記照明パターンを変調し、前記処理手段は実質的に同じ周波数で収集した信号を透過するようになっていることを特徴とする画像化装置。
- 請求項11乃至13のいずれかにおいて、前記照明手段は空間的に周期的な干渉照明パターンを発生させる手段を備えることを特徴とする画像化装置。
- 請求項11乃至14のいずれかにおいて、前記収集手段は複数の画像面位置で光強度をそれぞれ検出する光検出器の配列を備えることを特徴とする画像化装置。
- 請求項15において、光検出器の前記配列は二次元配列であることを特徴とする画像化装置。
- 請求項11乃至16のいずれかにおいて、前記処理手段は収集した光信号の前記振動性構成要素の特性をそれぞれ測定する複数の信号処理装置を備えることを特徴とする画像化装置。
- 請求項13乃至17のいずれかにおいて、前記照明手段は変調周波数が少なくとも100ヘルツであるように、前記照明パターン照明を変調することを特徴とする画像化装置。
- 従来の顕微鏡を請求項13乃至18のいずれかに記載の顕微鏡使用画像化装置に転用する転用道具一式であって、
変調する空間的に周期的な照明パターンで試料を照明する照明手段と、
各信号が各位置での入射光強度に対応し、かつ照明パターンの変調により引き起こされる振動性構成要素を有し、顕微鏡が試料を画像化する、結合する画像面上のそれぞれの位置で複数の信号を収集する収集手段と、
各々の前記信号の振動性構成要素の特性を測定する処理手段とを備えることにより、測定された特性が、相対位置に一体化される場合に、試料の光学的に区分化された画像を発生させることを特徴とする転用道具一式。 - 顕微鏡使用画像化装置であって、添付図面を参照して記載または示された画像化装置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010197986A (ja) * | 2008-09-16 | 2010-09-09 | Yokogawa Electric Corp | 顕微鏡装置 |
JP2010532878A (ja) * | 2007-07-06 | 2010-10-14 | ナショナル ユニヴァーシティー オブ シンガポール | 蛍光焦点変調顕微鏡システムおよびその方法 |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2682401B1 (fr) * | 1991-10-09 | 1993-11-26 | Sochata | Procede de depot electrophoretique de poudre metallique pour rechargement de pieces par brasage-diffusion et bain utilise. |
US7329029B2 (en) * | 2003-05-13 | 2008-02-12 | Light Prescriptions Innovators, Llc | Optical device for LED-based lamp |
US8075147B2 (en) * | 2003-05-13 | 2011-12-13 | Light Prescriptions Innovators, Llc | Optical device for LED-based lamp |
US7698068B2 (en) | 2004-06-17 | 2010-04-13 | Cadent Ltd. | Method for providing data associated with the intraoral cavity |
US8631787B2 (en) * | 2005-07-28 | 2014-01-21 | Light Prescriptions Innovators, Llc | Multi-junction solar cells with a homogenizer system and coupled non-imaging light concentrator |
WO2007016363A2 (en) * | 2005-07-28 | 2007-02-08 | Light Prescriptions Innovators, Llc | Free-form lenticular optical elements and their application to condensers and headlamps |
WO2007014371A2 (en) * | 2005-07-28 | 2007-02-01 | Light Prescriptions Innovators, Llc | Etendue-conserving illumination-optics for backlights and frontlights |
US8260008B2 (en) | 2005-11-11 | 2012-09-04 | Eyelock, Inc. | Methods for performing biometric recognition of a human eye and corroboration of same |
DE102006027836B4 (de) | 2006-06-16 | 2020-02-20 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop mit Autofokuseinrichtung |
EP2064487A4 (en) * | 2006-07-14 | 2010-09-01 | Light Prescriptions Innovators | FILM ENHANCING BRIGHTNESS |
WO2008022064A2 (en) * | 2006-08-10 | 2008-02-21 | Light Prescriptions Innovators, Llc | Led light recycling device |
WO2008022065A2 (en) * | 2006-08-11 | 2008-02-21 | Light Prescriptions Innovators, Llc | Led luminance-enhancement and color-mixing by rotationally multiplexed beam-combining |
DE102007018048A1 (de) * | 2007-04-13 | 2008-10-16 | Michael Schwertner | Verfahren und Anordnung zur optischen Abbildung mit Tiefendiskriminierung |
WO2009158662A2 (en) * | 2008-06-26 | 2009-12-30 | Global Rainmakers, Inc. | Method of reducing visibility of illimination while acquiring high quality imagery |
US8422026B2 (en) * | 2009-06-15 | 2013-04-16 | Artur G. Olszak | Spectrally controllable light sources in interferometry |
US8675205B2 (en) * | 2009-06-15 | 2014-03-18 | Artur G. Olszak | Optical coherence tomography using spectrally controlled interferometry |
US8878905B2 (en) | 2009-06-17 | 2014-11-04 | 3Shape A/S | Focus scanning apparatus |
WO2012158825A2 (en) | 2011-05-17 | 2012-11-22 | Eyelock Inc. | Systems and methods for illuminating an iris with visible light for biometric acquisition |
EP2783184A4 (en) | 2011-11-23 | 2015-07-15 | Univ Columbia | SYSTEMS, METHOD AND MEDIA FOR IMPLEMENTING SHAPE MEASUREMENTS |
WO2015118120A1 (en) | 2014-02-07 | 2015-08-13 | 3Shape A/S | Detecting tooth shade |
US9675430B2 (en) | 2014-08-15 | 2017-06-13 | Align Technology, Inc. | Confocal imaging apparatus with curved focal surface |
WO2017154171A1 (ja) * | 2016-03-10 | 2017-09-14 | オリンパス株式会社 | 画像取得装置および画像取得方法 |
US11506877B2 (en) | 2016-11-10 | 2022-11-22 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Imaging instrument having objective axis and light sheet or light beam projector axis intersecting at less than 90 degrees |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4584484A (en) | 1983-10-03 | 1986-04-22 | Hutchin Richard A | Microscope for producing high resolution images without precision optics |
US4794550A (en) * | 1986-10-15 | 1988-12-27 | Eastman Kodak Company | Extended-range moire contouring |
GB9102903D0 (en) | 1991-02-12 | 1991-03-27 | Oxford Sensor Tech | An optical sensor |
US5598265A (en) * | 1995-04-06 | 1997-01-28 | Zygo Corporation | Method for profiling an object surface using a large equivalent wavelength and system therefor |
US5867604A (en) | 1995-08-03 | 1999-02-02 | Ben-Levy; Meir | Imaging measurement system |
US6690474B1 (en) * | 1996-02-12 | 2004-02-10 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for surface contour measurement |
PT888522E (pt) * | 1996-03-22 | 2001-10-30 | Univ Loughborough | Processo e aparelho para a medicao da forma de objectos |
AU737617B2 (en) * | 1997-04-04 | 2001-08-23 | Isis Innovation Limited | Microscopy imaging apparatus and method |
ATE272224T1 (de) | 1997-11-17 | 2004-08-15 | Max Planck Gesellschaft | Konfokales spektroskopiesystem und -verfahren |
JPH11242189A (ja) | 1997-12-25 | 1999-09-07 | Olympus Optical Co Ltd | 像形成法、像形成装置 |
EP1065809B1 (en) * | 1999-07-02 | 2006-06-21 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA | Adaptive array sensor and electrical circuit therefore |
JP4429431B2 (ja) | 1999-10-21 | 2010-03-10 | オリンパス株式会社 | 光学装置 |
JP2001330555A (ja) | 2000-05-19 | 2001-11-30 | Yokogawa Electric Corp | 光スキャナ及びこれを用いた断層画像取得装置 |
-
2002
- 2002-01-15 GB GBGB0200819.1A patent/GB0200819D0/en not_active Ceased
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010532878A (ja) * | 2007-07-06 | 2010-10-14 | ナショナル ユニヴァーシティー オブ シンガポール | 蛍光焦点変調顕微鏡システムおよびその方法 |
JP2010197986A (ja) * | 2008-09-16 | 2010-09-09 | Yokogawa Electric Corp | 顕微鏡装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ATE392638T1 (de) | 2008-05-15 |
DE60320369D1 (de) | 2008-05-29 |
US7385709B2 (en) | 2008-06-10 |
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GB0200819D0 (en) | 2002-03-06 |
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