JP2010140978A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2010140978A
JP2010140978A JP2008313854A JP2008313854A JP2010140978A JP 2010140978 A JP2010140978 A JP 2010140978A JP 2008313854 A JP2008313854 A JP 2008313854A JP 2008313854 A JP2008313854 A JP 2008313854A JP 2010140978 A JP2010140978 A JP 2010140978A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing
substrate
control unit
controller
carrier
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008313854A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5491022B2 (ja
Inventor
Satoru Takahata
覚 高畑
Yukio Ozaki
行雄 尾崎
Reizo Nunosawa
礼三 布澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Kokusai Electric Inc
Original Assignee
Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Kokusai Electric Inc filed Critical Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority to JP2008313854A priority Critical patent/JP5491022B2/ja
Priority to US12/631,152 priority patent/US9437465B2/en
Priority to TW098141805A priority patent/TWI406191B/zh
Priority to KR1020090121238A priority patent/KR101132236B1/ko
Publication of JP2010140978A publication Critical patent/JP2010140978A/ja
Priority to KR1020110060449A priority patent/KR101132227B1/ko
Priority to KR1020110141884A priority patent/KR101223152B1/ko
Priority to KR1020120041959A priority patent/KR101280859B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of JP5491022B2 publication Critical patent/JP5491022B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67276Production flow monitoring, e.g. for increasing throughput
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/52Controlling or regulating the coating process
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/54Apparatus specially adapted for continuous coating
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/18Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/406Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by monitoring or safety
    • G05B19/4063Monitoring general control system
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/418Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
    • G05B19/41875Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by quality surveillance of production
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/31From computer integrated manufacturing till monitoring
    • G05B2219/31437Monitoring, global and local alarms
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/45Nc applications
    • G05B2219/45031Manufacturing semiconductor wafers
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • General Factory Administration (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

【課題】ステップの進行が停滞してしまった場合に、ステップの進行に停滞が発生したことをオペレータに迅速に認識させる。
【解決手段】基板を処理する処理系と、複数のステップを処理系に順次実行させるように処理系を制御する制御部と、処理系によるステップの進行状態を操作画面に表示する操作部とを備え、制御部は、所定のステップの実行を開始してからの経過時間が、ステップの実行に予め割り当てられた許容時間を超過したら、許容時間を超過した旨を示すアラームメッセージを操作部に送信する。
【選択図】 図9

Description

本発明は複数のステップを順次実行する基板処理装置に関する。
ICやDRAM等の半導体装置の製造方法の一工程として、例えば、基板を処理炉内に搬入する搬入ステップと、処理炉内の温度を成膜温度へと昇温させる昇温ステップと、処理炉内に処理ガスを供給して基板を処理する基板処理ステップと、処理炉内の温度を待機温度へと降温させる降温ステップと、処理後の基板を処理炉内から搬出する搬出ステップと、が順次実行される基板処理工程が実施されていた。
係る基板処理工程は、基板を処理する処理炉を備えた処理系と、処理系に対する指示の入力を受け付けると共に基板の処理状態を操作画面に表示する操作部と、複数のステップを順次実行するように処理系を制御する制御部と、を備える基板処理装置により実施されてきた。
上述の基板処理工程を実施する際、基板処理装置の不具合や誤動作等によりステップの進行が停滞してしまう場合があった。しかしながら、従来の基板処理装置では、ステップの進行に停滞が発生していることをオペレータに迅速に認識させることは困難であり、ステップ停滞時に必要となるリカバリー処理(エラー処理)の実施等が遅れてしまう場合があった。例えば、高温の処理炉内に基板が長時間放置されてしまい、基板が熱により損傷を受けてしまう(ロットアウトが発生してしまう)場合があった。
本発明は、ステップの進行が何らかの原因で停滞してしまった場合に、ステップの進行に停滞が発生したことをオペレータに迅速に認識させることが可能な基板処理装置を提供することを目的とする。
本発明の一態様によれば、基板を処理する処理系と、複数のステップを前記処理系に順次実行させるように前記処理系を制御する制御部と、前記処理系による前記ステップの進行状態を操作画面に表示する操作部と、を備える基板処理装置であって、前記制御部は、前記複数のステップのうち所定のステップの実行を前記処理系に開始させたら、次のステップの実行を前記処理系に開始させることなく前記ステップの実行完了を待機すると共に、前記所定のステップの実行を開始してからの経過時間が、前記ステップの実行に予め割り当てられた許容時間を超過したら、前記許容時間を超過した旨を示すアラームメッセージを前記操作部に送信する基板処理装置が提供される。
本発明に係る基板処理装置によれば、ステップの進行が何らかの原因で停滞してしまった場合に、ステップの進行に停滞が発生したことをオペレータに迅速に認識させることが可能となる。
(1)基板処理装置の構成
本実施形態に係る基板処理装置は、一例として、半導体装置(ICやDRAM等)の製造方法における基板処理工程を実施する半導体製造装置として構成されている。また、本
実施形態に係る基板処理装置は、基板に例えば酸化処理、拡散処理、CVD処理などを行なう縦型の処理装置として構成されている。
本発明の一実施形態にかかる基板処理装置は、基板を処理する処理系と、処理系に対する指示の入力を受け付けると共に基板の処理状態を操作画面に表示する操作部と、複数のステップを順次実行するように処理系を制御する制御部と、を備えている。まず、本実施形態にかかる処理系の構成について説明する。図10は、本実施形態に係る処理系100の斜透視図である。図11は、図10に示す処理系100の側面透視図である。
図10、図11に示すように、本実施形態に係る処理系100は、耐圧容器として構成された筐体111を備えている。筐体111の正面壁111aの正面前方部(図11の左側)には、メンテナンス可能なように設けられた開口部としての正面メンテナンス口103が開設されている。正面メンテナンス口103には、正面メンテナンス口103を開閉する一対の正面メンテナンス扉104が設けられている。基板としてのウエハ200を筐体111内外へ搬送するには、ウエハ200を収納する基板収納容器としてのキャリア(ポッド)110が使用される。
筐体111の正面壁111aには、キャリア搬送口(基板収納容器搬送口)112が、筐体111内外を連通するように開設されている。キャリア搬送口112は、フロントシャッタ(基板収納容器搬送口開閉機構)113によって開閉されるように構成されている。キャリア搬送口112の正面前方側には、ロードポート(基板収納容器受渡し台)114が設置されている。ロードポート114上には、キャリア110が載置されるキャリア配置予定位置が設けられている。キャリア110は、ロードポート114上に載置されて位置合わせされるように構成されている。キャリア110は、搬送系としての工程内搬送装置(図示せず)によって処理系100外からロードポート114上に搬送されるように構成されている。
筐体111内の前後方向の略中央部における上部には、回転式キャリア棚(基板収納容器載置棚)105が設置されている。回転式キャリア棚105上には、複数個のキャリア110が保管されるように構成されている。回転式キャリア棚105は、垂直に立設されて水平面内で間欠回転される支柱116と、支柱116に上中下段の各位置において放射状に支持された複数枚の棚板(基板収納容器載置台)117と、を備えている。複数枚の棚板117上には、キャリア110が載置されるキャリア配置予定位置がそれぞれ設けられている。
筐体111内におけるロードポート114と回転式キャリア棚105との間には、搬送系としてのキャリア搬送装置(基板収納容器搬送装置)118が設置されている。キャリア搬送装置118は、キャリア110を保持したまま昇降可能なキャリアエレベータ(基板収納容器昇降機構)118aと、キャリアエレベータ118aを水平方向に搬送可能なキャリア搬送機構(基板収納容器搬送機構)118bと、を備えている。キャリア搬送装置118は、キャリアエレベータ118aとキャリア搬送機構118bとの連続動作により、ロードポート114、回転式キャリア棚105、後述するキャリアオープナ(基板収納容器蓋体開閉機構)121との間で、キャリア110を相互に搬送するように構成されている。
筐体111内の下部には、サブ筐体119が、筐体111内の前後方向の略中央部から後端に亘り設けられている。サブ筐体119の正面壁119aには、ウエハ200をサブ筐体119内外に搬送する一対のウエハ搬送口(基板搬送口)120が、垂直方向に上下に並べられて設けられている。上下段のウエハ搬送口120には、キャリアオープナ121がそれぞれ設置されている。
各キャリアオープナ121は、一対の載置台122と、キャリア110のキャップ(蓋体)を着脱するキャップ着脱機構(蓋体着脱機構)123と、を備えている。載置台122上には、キャリア110が載置されるキャリア配置予定位置が設けられている。キャリアオープナ121は、載置台122上に載置されたキャリア110のキャップをキャップ着脱機構123によって着脱することにより、キャリア110のウエハ出し入れ口を開閉するように構成されている。
サブ筐体119内には、キャリア搬送装置118や回転式キャリア棚105等が設置された空間から流体的に隔絶された移載室124が構成されている。移載室124の前側領域には、搬送系としてのウエハ移載機構(基板移載機構)125が設置されている。ウエハ移載機構125は、ウエハ200を水平方向に回転ないし直動可能なウエハ移載装置(基板移載装置)125aと、ウエハ移載装置125aを昇降させるウエハ移載装置エレベータ(基板移載装置昇降機構)125bと、で構成されている。図10に示すように、ウエハ移載装置エレベータ125bは、サブ筐体119の移載室124前方領域右端部と筐体111右側端部との間に設置されている。ウエハ移載装置125aは、ウエハ200の載置部としてのツイーザ(基板保持体)125cを備えている。これらウエハ移載装置エレベータ125b及びウエハ移載装置125aの連続動作により、基板保持具としてのボート217に対してウエハ200を装填(ウエハチャージ)したり脱装(ウエハディスチャージ)したりすることが可能なように構成されている。ボート217は、複数枚のウエハ200を水平姿勢で多段に積層した状態で保持するように構成されている。
移載室124の後側領域には、ボート217を収容して待機させるボート配置予定位置としての待機部126が構成されている。待機部126の上方には、処理系としての処理炉202が設けられている。処理炉202の下端部は、炉口シャッタ(炉口開閉機構)147により開閉されるように構成されている。
なお、図示しないが、処理系100は、処理炉202及びボート217をそれぞれ複数備えている。そして、移載室124の後側領域には、ボート217を収容して待機させるボート配置予定位置としての待機部126が複数設けられている。各ボート217は、移載室124の後側領域内に設けられた複数の待機部126の間を、搬送系としてのボート搬送機構(図示せず)によって搬送されるように構成されている。
図10に示すように、サブ筐体119の待機部126右端部と筐体111右側端部との間には、ボート217を昇降させる搬送系としてのボートエレベータ(基板保持具昇降機構)115が、処理炉202毎に設置されている。ボートエレベータ115の昇降台には、連結具としてのアーム128がそれぞれ連結されている。アーム128には、蓋体としてのシールキャップ219が水平姿勢で据え付けられている。シールキャップ219上にはボート配置予定位置が設けられている。シールキャップ219は、ボート217を下方から垂直に支持し、上昇したときに処理炉202の下端部を閉塞可能なように構成されている。
図10に示すように、移載室124のウエハ移載装置エレベータ125b側及びボートエレベータ115側と反対側である左側端部には、清浄化した雰囲気もしくは不活性ガスであるクリーンエア133を供給する供給ファン及び防塵フィルタで構成されたクリーンユニット134が設置されている。ウエハ移載装置125aとクリーンユニット134との間には、ウエハの円周方向の位置を整合させる基板整合装置としてのノッチ合わせ装置(図示せず)が設置されている。
クリーンユニット134から吹き出されたクリーンエア133は、図示しないノッチ合
わせ装置、ウエハ移載装置125a、待機部126にあるボート217の周囲を流通した後、図示しないダクトにより吸い込まれて筐体111の外部に排気されるか、もしくはクリーンユニット134の吸い込み側である一次側(供給側)にまで循環されてクリーンユニット134によって移載室124内に再び吹き出されるように構成されている。
次に、本実施形態に係る処理系100の動作について、図10,図11を参照しながら説明する。なお、以下の説明に係る処理系100の各部の動作は、後述するプロセス制御モジュールにより制御される。
図10,図11に示すように、キャリア110がロードポート114に供給されると、キャリア搬送口112がフロントシャッタ113によって開放される。そして、ロードポート114の上のキャリア110が、キャリア搬送装置118によってキャリア搬送口112から筐体111内部へと搬入される。
筐体111内部へと搬入されたキャリア110は、キャリア搬送装置118によって回転式キャリア棚105の棚板117上へ自動的に搬送されて一時的に保管された後、棚板117上から一方のキャリアオープナ121の載置台122上に移載される。なお、筐体111内部へと搬入されたキャリア110は、キャリア搬送装置118によってキャリアオープナ121の載置台122上に直接移載されてもよい。この際、キャリアオープナ121のウエハ搬送口120はキャップ着脱機構123によって閉じられており、移載室124内にはクリーンエア133が流通され、充満されている。例えば、移載室124内にクリーンエア133として窒素ガスが充満することにより、移載室124内の酸素濃度が例えば20ppm以下となり、大気雰囲気である筐体111内の酸素濃度よりも遥かに低くなるように設定されている。
載置台122上に載置されたキャリア110は、その開口側端面がサブ筐体119の正面壁119aにおけるウエハ搬送口120の開口縁辺部に押し付けられるとともに、そのキャップがキャップ着脱機構123によって取り外され、ウエハ出し入れ口が開放される。その後、ウエハ200は、ウエハ移載装置125aのツイーザ125cによってウエハ出し入れ口を通じてキャリア110内からピックアップされ、ノッチ合わせ装置にて方位が整合された後、移載室124の後方にある待機部126内へ搬入され、ボート217内に装填(ウエハチャージ)される。ボート217内にウエハ200を装填したウエハ移載装置125aは、キャリア110に戻り、次のウエハ200をボート217内に装填する。
この一方(上段または下段)のキャリアオープナ121におけるウエハ移載機構125によるウエハのボート217への装填作業中に、他方(下段または上段)のキャリアオープナ121の載置台122上には、別のキャリア110が回転式キャリア棚105上からキャリア搬送装置118によって搬送されて移載され、キャリアオープナ121によるキャリア110の開放作業が同時進行される。
予め指定された枚数のウエハ200がボート217内に装填されると、炉口シャッタ147によって閉じられていた処理炉202の下端部が、炉口シャッタ147によって開放される。続いて、ウエハ200群を保持したボート217は、図示しないボート搬送機構によって処理炉202の下方の待機部126に搬送された後、シールキャップ219がボートエレベータ115によって上昇されることにより処理炉202内へ搬入(ローディング)されていく。
ローディング後は、処理炉202内にてウエハ200に任意の処理が実施される。処理後は、ノッチ合わせ装置でのウエハの整合工程を除き、上述の手順とほぼ逆の手順で、処
理後のウエハ200を格納したボート217が処理炉202内(処理室)より搬出され、処理後のウエハ200を格納したキャリア110が筐体111外へと搬出される。
続いて、処理系100を構成する各部の動作を制御する装置コントローラとしてのプロセス制御モジュール1及びその周辺のブロック構成を、図9を参照しながら説明する。
プロセス制御モジュール1は、CPU(中央処理装置)1a、メモリ(RAM)1b、固定記憶装置としてのハードディスク(HDD)1c、送受信モジュール1d、時計機能(図示せず)を備えたコンピュータとして構成されている。ハードディスク1cには、操作部プログラムファイル、制御部プログラムファイル、プロセスレシピファイル、アラーム条件テーブルファイル等の他、各種画面ファイル、各種アイコンファイル等(いずれも図示せず)が格納されている。プロセス制御モジュール1には、操作画面としてのモニタ7が接続されている。プロセス制御モジュール1には、ホストコンピュータやモニタサーバ等の管理装置15が、送受信モジュール1dを介して通信可能に接続されている。尚、モニタ7はタッチパネルとして構成されており、一体に構成された表示画面と入力手段(例えばキーボード)とを備えている。
プロセス制御モジュール1には、サブコントローラとしての外燃コントローラ10、搬送コントローラ11、温度コントローラ12、圧力コントローラ13、ガス供給コントローラ14が、送受信モジュール1dを介して通信可能にそれぞれ接続されている。外燃コントローラ10は、処理系100が備える外燃装置(図示せず)による燃焼動作を制御するように構成されている。搬送コントローラ11は、上述の工程内搬送装置、キャリア搬送装置118、ウエハ移載機構125、ボート搬送機構、ボートエレベータ115の搬送動作をそれぞれ制御するように構成されている。温度コントローラ12は、処理炉202の外周を囲うヒータ(図示せず)の温度を制御することで処理炉202内の温度を調節するように構成されている。圧力コントローラ13は、処理炉202内を排気する排気管(図示せず)に設けられた減圧排気装置としての真空ポンプの動作を制御し、排気管に設けられた圧力調整バルブの開度を調整するように構成されている。ガス供給コントローラ14は、処理炉202内に連通する単一又は複数本の処理ガス供給管(図示せず)からのガスの供給や停止を、処理ガス供給管に設けられたガスバルブ(図示せず)を開閉させることにより制御するように構成されている。また、ガス供給コントローラ14は、処理炉202内に供給するガス流量を、処理ガス供給管に設けられた流量制御器(図示せず)の開度を調整することにより制御するように構成されている。
プロセスレシピファイルは、基板処理工程のシーケンスを定めるファイルである。プロセスレシピファイルには、外燃コントローラ10、搬送コントローラ11、温度コントローラ12、圧力コントローラ13、ガス供給コントローラ14等のサブコントローラに送信する設定値(制御値)が、基板処理のステップ毎に設定されている。また、アラーム条件テーブルファイルには、アラーム条件テーブルが格納されている。図8は、プロセスレシピのステップ毎にアラーム条件テーブルで指定されるエラー処理が設定されている例を示す概略図である。図8によれば、各ステップにアラーム条件テーブルが設定され、発生するエラーに応じてそれぞれ選択される。尚、アラーム条件テーブルで指定されるエラー処理には、BUZZER,END,SYSTEM,RESET,JUMP等の処理がある。ここで、BUZZERは、ブザーを鳴動させる処理、ENDはレシピを終了させる処理、SYSTEMはアラームレシピを実行させる処理、JUMPは指定したステップへジャンプさせる処理、RESETは装置をリセットモードにする処理である。
操作部プログラムファイルは、ハードディスク1cからメモリ1bに読み出されてCPU1aに実行されることにより、プロセス制御モジュール1に操作部2を実現するように構成されている。操作部2は、上述の処理系100に対する指示の入力を受け付けると共
に、ウエハ200の処理状態をモニタ7に表示するように構成されている。
制御部プログラムファイルは、ハードディスク1cからメモリ1bに読み出されてCPU1aに実行されることにより、プロセス制御モジュール1に制御部3を実現するように構成されている。制御部3は、複数のステップを順次実行するように処理系100を制御するように構成されている。具体的には、制御部3は、プロセスレシピファイル、リカバリーレシピファイル、アラーム条件テーブルファイル等をハードディスク1cから読み出して、これらのレシピに定義されている各種設定値(制御値)を、外燃コントローラ10、搬送コントローラ11、温度コントローラ12、圧力コントローラ13、ガス供給コントローラ14等のサブコントローラに所定のタイミングでそれぞれ送信し、処理系100の動作を制御するように構成されている。
操作部2と制御部3とは、操作部プログラム及び制御部プログラムが起動するときにメモリ1b内に動的に確保される共有メモリ領域等を利用して、相互に通信(プロセス間通信)可能なように構成されている。例えば、操作部2或いは制御部3のいずれか一方が共有メモリ領域等にメッセージを書き込むと、他方が所定のタイミングで共有メモリ領域等に書き込まれたメッセージを読み出すように構成されている。また、操作部2及び制御部3は、プロセス制御モジュール1が備える時計機能から時刻を取得できるように構成されている。
(2)基板処理工程
続いて、上述の基板処理装置により実施される半導体装置の製造工程の一工程としての基板処理工程について説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る基板処理装置が備える制御部の動作を例示するフロー図である。図2は、本発明の一実施形態に係る基板処理工程を例示するフロー図である。
(通常時の動作)
まず、ステップに停滞が発生していない通常時の基板処理工程について説明する。
図2に示すように、本実施形態に係る基板処理装置は、ウエハ200を保持したボート217を待機温度に保持された処理炉202内(処理室内)に搬入する搬入(Boat Load)ステップ(S10)と、処理炉202内を大気圧から処理圧力へと減圧させる減圧(Slow Vac.及びLeak Check)ステップ(S20)と、処理炉202内に処理ガスを供給してウエハ200を処理する成膜(DEPO)ステップ(S30)と、処理炉202内を処理圧力から大気圧へと復帰させる大気圧復帰(Purge)ステップ(S40)と、処理後のウエハ200を保持したボート217を処理炉202内から搬出する搬出(Boat Unload)ステップ(S50)と、を順次実行するように構成されている。なお、減圧ステップ(S20)と並行して処理炉202内の温度を待機温度から成膜温度へと昇温させる昇温ステップが実施され、大気圧復帰ステップ(S40)と並行して処理炉202内の温度を成膜温度から待機温度へと降温させる降温ステップが実施されるが、昇温ステップ及び降温ステップについてはそれぞれ図示を省略している。
図1に、上述の基板処理工程を実施する際の制御部3の動作を例示する。図1は、本発明の一実施形態に係る基板処理装置が備える制御部3の動作を例示するフロー図である。
まず、操作部2は、オペレータによる「レシピ開始指示」の入力を受け付けて、メモリ1b内に確保されている共有メモリ領域に「レシピ開始指示」があった旨を書き込む。制御部3は、共有メモリ領域からレシピ開始指示があった旨を読み出して、レシピの進行を開始する(S100)。
制御部3は、レシピを構成する複数のうち最初のステップ(本実施形態では搬入(Boat Load)ステップ(S10))を開始する(S110)。具体的には、制御部3は、プロセスレシピファイルを参照しながら、搬送コントローラ11に所定のタイミングで各種設定値を送信していく。なお、制御部3は、搬送コントローラ11に各種設定値を送信した時刻(レシピ開始時刻)を取得して、共有メモリ領域に記録しておく。
その後、制御部3は、実行を完了した旨の応答(実行完了応答)をサブコントローラから受信するまで、次のステップの実行を開始することなく待ち状態(HOLD状態)となる(S120)。そして、実行を完了した旨の応答をサブコントローラから受信したら(S120の「Yes」の場合)、実行を完了したステップがレシピを構成する最後のステップ(本実施形態では搬出(Boat Unload)ステップ(S50))であるか否かを確認する(S130)。
制御部3は、実行を完了したステップが最後のステップでないことから、工程S130では「No」に進み、次のステップ(減圧(Slow Vac.及びLeak Check)ステップ(S20))を開始する(S140)。具体的には、制御部3は、プロセスレシピファイルを参照しながら、圧力コントローラ13、ガス供給コントローラ14に、所定のタイミングで各種設定値を送信していく。その後、制御部3は、工程S120〜S140を繰り返すことにより、搬入(Boat Load)ステップ(S10)、減圧(Slow Vac. 及び Leak Check)ステップ(S20)、成膜(DEPO)ステップ(S30)、大気圧復帰(Purge)ステップ(S40)、搬出(Boat Unload)ステップ(S50)を順次実行していく。
そして制御部3は、最後のステップ(搬出(Boat Unload)ステップ(S50))を実行したら(工程S130の「Yes」の場合)、レシピを正常終了(Normal End)した旨のメッセージを共有メモリ領域に書き込むと共に、かかるメッセージを管理装置15に送信する(S150)。なお、操作部2は、レシピを正常終了した旨のメッセージを共有メモリ領域から読み出して、その旨をモニタ7に表示し、オペレータに通知する。
(ステップ停滞時の動作)
上述した通り、基板処理装置の不具合や誤動作等により、各ステップ(S10〜S50)の進行が停滞してしまう場合があった。
例えば、搬入(Boat Load)ステップ(S10)や搬出(Boat Unload)ステップ(S50)の停滞要因としては、工程内搬送装置、キャリア搬送装置118、ウエハ移載機構125、ボート搬送機構、ボートエレベータ115の故障や誤動作が挙げられる。また、制御部3からサブコントローラへ送信された設定値やサブコントローラから制御部3へ送信された動作完了通知が、制御部3とサブコントローラとの間の通信障害により不達となってしまう事などが挙げられる。これらの停滞要因により、搬送動作の開始や終了ができない場合があったのである。また、実際には搬送動作が正常に開始や終了しているにもかかわらず、所望の動作をしていないように誤認されてしまう場合があったのである。
また、減圧(Slow Vac.及びLeak Check)ステップ(S20)、昇温ステップ、大気圧復帰(Purge)ステップ(S40)、降温ステップの停滞要因としては、処理炉202内に設けられた各種センサ(圧力センサ、温度センサ)、ヒータ、真空ポンプ、圧力調整バルブの劣化や誤動作等が挙げられる。また、制御部3とサブコントローラとの間の通信障害などが挙げられる。これらの停滞要因により、処理炉202内
の温度や圧力が所望の温度や圧力にすることが出来ない場合があったのである。また、実際には所望の温度や圧力に調整出来ているにもかかわらず、調整出来ていないように誤認されてしまう場合があったのである。
また、成膜(DEPO)ステップ(S30)の停滞要因としては、処理炉202内に設けられた各種センサ(圧力センサ、温度センサ)、真空ポンプ、圧力調整バルブ、ガスバルブ、流量制御器の劣化や誤動作等が挙げられる。また、制御部3とサブコントローラとの間の通信障害などが挙げられる。これらの停滞要因により、処理炉202内に所望の流量のガスの供給を開始したり、停止したり、処理炉202内のガス濃度を所定の濃度に調整することが出来ない場合があったのである。また、実際には処理炉202内へのガス供給制御やガス濃度調整が出来ているにも関わらず、出来ていないように誤認されてしまう場合があったのである。
従来の基板処理装置では、ステップの進行に停滞が発生していることをオペレータが迅速に認識することが困難であった。従来の基板処理装置では、ステップの進行が停滞しているか否かは、オペレータが能動的に操作画面等を操作して基板処理装置の状態を確認しなければ認識することが出来ず、オペレータが受動的に認識することは困難であったからである。また、ステップの進行が遅延したとしても、待機していれば正常に完了する場合も少なからずあったため、従来の基板処理装置では、ステップの進行が停滞したとしても異常状態が発生したとは判断していなかったからである。そのため、従来の基板処理装置では、ステップ停滞時に必要となるリカバリー処理の実施等が遅れてしまうことがあった。その結果、例えば高温の処理炉内に基板が長時間放置されてしまい、ウエハ200が熱によって損傷を受けてしまう(ロットアウトが発生してしまう)ことがあった。
これに対し、本実施形態に係る基板処理装置では、ステップの進行が何らかの原因で停滞してしまった場合に、ステップの進行に停滞が発生したことをオペレータに迅速に認識させることが出来るように構成されている。以下に、ステップ停滞時の制御部3の動作を、図1を参照して説明する。
上述したように、ステップS10〜S50のいずれかを開始した制御部3は待ち状態(HOLD状態)となり、実行完了応答をサブコントローラから受信するまでHOLD状態を継続する(S120で「No」に分岐する)。
HOLD状態にある制御部3は、実行完了応答をサブコントローラから受信するまで、ステップを開始してからの経過時間(t1)を所定の時間間隔で取得する(S170)。具体的には、制御部3は、上述の工程S110にてレシピ上に設定された時間の計測を実行し、その時間が経過してもサブコントローラから応答が受信できない状態をHOLD時間としてカウントすることにより、経過時間(t1)を取得する。
経過時間(t1)を取得した制御部3は、ハードディスク1cに格納されているアラーム条件テーブルファイルを参照して、実行中のステップに予め割り当てられている許容時間(t2)を取得する(S180)。例えば、実行中のステップが搬入(Boat Load)ステップ(S10)であれば、制御部3は許容時間(t2)として“00:20:00”を取得する。
そして制御部3は、経過時間(t1)と許容時間(t2)との大小関係を比較する(S190)。制御部3は、経過時間(t1)が許容時間(t2)を超過していなければ(S190で「No」の場合)、HOLD状態を継続することとして、上述のS120以降の工程を繰り返す。また、経過時間(t1)が許容時間(t2)を超過していれば(S190で「Yes」の場合)、制御部3は、経過時間(t1)が許容時間(t2)を超過した
旨を示すアラームメッセージを共有メモリ領域へ書きこむことにより、実行中のステップの進行が何らかの理由で停滞していることを操作部2へ通知する(S200)。その後、制御部3は、後述するように操作部2によって「リカバリー処理」指示が共有メモリ領域に書きこまれるまで待ち状態となり、HOLD状態を継続しつつ、所定の時間間隔でS170以降の工程を繰り返す(S210で「No」の場合)。
経過時間(t1)が許容時間(t2)を超過した旨を示すアラームメッセージを共有メモリ領域から読み出した操作部2は、実行中のステップ(停滞が発生したステップ)のリカバリー処理の実行を促す画面(例えば、許容時間(t2)を超過しアラームが発生している要因を示す画面)である待機モニタ画面7wをモニタ7に表示する。
図7は、操作部2がモニタ7に表示する待機モニタ画面7wの構成を例示する概略図である。図7に示すように、待機モニタ画面7wには、レシピを構成するステップに対応してランプ(アイコン)B1〜B5がそれぞれ表示されるように構成されている。そして、停滞が発生したステップに対応するランプが点灯し、その他のステップ(実行完了済みのステップ、或いはこれから実行するステップ)に対応するランプは消灯する等して、どのステップで停滞が発生しているのかをオペレータが容易に把握できるように構成されている(図7では、ランプB1が点灯し、ランプB2〜B5が消灯し、(搬入(Boat Load)ステップ(S10)にて停滞が発生している様子を例示している)。
なお、図7に示す待機モニタ画面7wには、ランプB1〜B5と共に、経過時間(t1)及び許容時間(t2)が欄C1,C2内にそれぞれ表示される。操作部2は、待機モニタ画面7wを表示する際に、上述の工程S110にて共有メモリ領域に記録されたレシピ開始時刻を読み出す。また、操作部2は、アラーム条件テーブルファイルを参照して、実行中のステップに予め割り当てられている許容時間(t2)を取得する。そして、レシピのSTEP単位のHOLD時間から経過時間(t1)を取得する。なお、操作部2は、所定の時間間隔で欄C1に表示する経過時間(t1)を時間の経過と共に逐次更新する。
HOLD状態を継続していた制御部3は、共有メモリ領域からアラーム条件テーブル内のエラー処理を読み出して、所定のリカバリー処理を実行する(S210で「Yes」に分岐しS220に進む)。具体的には、アラーム条件テーブルファイルを参照し、強制終了させるステップに対応したリカバリー処理を読み出す。例えば、リカバリー処理が図8よりSYSTEMであれば、アラームレシピを実行することなので、プロセスレシピと同様に、搬送コントローラ11、温度コントローラ12、圧力コントローラ13、ガス供給コントローラ14に、所定のタイミングで各種設定値を送信していく。制御部3は、リカバリー処理の実行を完了した旨の応答(リカバリー実行完了応答)をサブコントローラから受信するまでHOLD状態となる。
リカバリー処理の実行を完了した旨の応答をサブコントローラから受信した制御部3は、レシピを異常終了(Abnormal End)した旨のメッセージを共有メモリ領域に書き込むと共に、管理装置15に送信する。又、リカバリー処理後、再度レシピに戻り、該レシピが継続された場合、制御部3は、該レシピが終了した後に、レシピを異常終了した旨のメッセージを共有メモリ領域に書き込むと共に管理装置15に送信するようにしてもよい(S230)。操作部2は、異常終了した旨のメッセージを共有メモリ領域から読み出して、その旨をモニタ7に表示する。
(3)本実施形態にかかる効果
本実施形態によれば、以下に示す1つ又は複数の効果を奏する。
(a)本実施形態によれば、ステップS10〜S50のいずれかを開始した制御部3は待
ち状態(HOLD状態)となり、所定の時間間隔で経過時間(t1)と許容時間(t2)との大小関係を比較するように構成されている。そして、制御部3は、経過時間(t1)が許容時間(t2)を超過していれば、経過時間(t1)が許容時間(t2)を超過した旨を示すアラームメッセージを共有メモリ領域へ書きこむことにより、実行中のステップの進行が何らかの理由で停滞していることを操作部2へ通知するように構成されている。待機モニタ画面7wには、レシピを構成するステップに対応してランプB1〜B5がそれぞれ表示されるように構成され、どのステップで停滞が発生しているのかをオペレータが容易に把握できるように構成されている。
その結果、オペレータは、能動的にモニタ7やタッチパネルを操作して基板処理装置の状態を確認することなく、ステップの進行に停滞が発生していることを容易且つ迅速に認識することが可能となる。その結果、例えば、高温の処理炉内に基板が長時間放置されてしまい、ウエハ200が熱によって損傷を受けてしまうような事態を回避することが可能となる。
(b)本実施形態によれば、操作部2がモニタ7に表示する待機モニタ画面7wには、ランプB1〜B5と共に、経過時間(t1)及び許容時間(t2)が欄C1,C2内にそれぞれ表示される。また、操作部2は、所定の時間間隔で欄C1に表示する経過時間(t1)を時間の経過と共に逐次更新する。
その結果、オペレータは、ステップのどのぐらいの時間停滞しているのかを容易に認識することが可能となり、ステップを強制終了させるべきか否かの判断を容易に行うことが可能となる。
又、オペレータは、速やかに所定のリカバリー処理を実施することが可能となる。すなわち、リカバリー処理は、ステップ毎に予め登録されているアラーム条件テーブルに指定されているエラー処理から選択するだけでよいため、オペレータはリカバリー処理に関する詳細な手順を都度調べたりすることなく、速やかにリカバリーを開始させることが可能となる。
以上(a)〜(c)で述べたように、本実施形態によれば、レシピ実行中にウエハ200の品質に関わるようなエラーが発生してステップの進行が停滞したら、次のステップの実行を停止しつつステップの遅延をオペレータに通知し、ステップの強制終了を促すことで、連続バッチ処理時におけるウエハ200の二次的な損害を回避することが可能となる。
以下に、本発明の実施例について、図3から図9を参照しながら説明する。
(実施例1)
図3は、搬入(Boat Load)ステップ(S10)の経過時間が許容時間を超過したときの基板処理装置の動作を例示するフロー図である。
図3によれば、搬入(Boat Load)ステップ(S10)の進行に停滞が生じたら、HOLD状態を継続していた制御部3は、経過時間(t1)が許容時間(t2)を超過した旨を示すアラームメッセージを共有メモリ領域へ書きこむことにより、搬入(Boat Load)ステップ(S10)の進行が何らかの理由で停滞していることを操作部2へ通知する。そして、HOLD状態を継続していた制御部3は、共有メモリ領域から「エラー処理(アラーム条件テーブル)」の指示を読み出して、所定のリカバリー処理(本実施例では搬出(Boat Unload)ステップ(S11))を実行する。リカバリ
ー処理の実行を完了した旨の応答をサブコントローラから受信した制御部3は、レシピを異常終了した旨のメッセージを共有メモリ領域に書き込むと共に、管理装置15に送信する。操作部2は、異常終了した旨のメッセージを共有メモリ領域から読み出して、その旨をモニタ7に表示する。
本実施例によれば、オペレータは、モニタ7やタッチパネルを能動的に操作して基板処理装置の状態を確認することなく、搬入(Boat Load)ステップ(S10)の進行に停滞が発生していることを容易且つ迅速に認識することが可能となる。また、オペレータは、速やかに所定のリカバリー処理を実施して、ウエハ200を保持したボート217が高温の処理炉202内に放置されてダメージを受けてしまうことを回避できる。
(実施例2)
図4は、搬入(Boat Load)ステップ(S10)の経過時間が許容時間を超過したときの基板処理装置の他の動作を例示するフロー図である。
図4によれば、搬入(Boat Load)ステップ(S10)の進行に停滞が生じたら、HOLD状態を継続していた制御部3は、経過時間(t1)が許容時間(t2)を超過した旨を示すアラームメッセージを共有メモリ領域へ書きこむことにより、搬入(Boat Load)ステップ(S10)の進行が何らかの理由で停滞していることを操作部2へ通知する。そして、HOLD状態を継続していた制御部3は、共有メモリ領域から「エラー処理(アラーム条件テーブル)」の指示を読み出して、所定のリカバリー処理を実行する。本実施例ではリカバリー処理として、搬入(Boat Load)ステップの再実施(S12))した後、減圧(Slow Vac.及びLeak Check)ステップ(S20)、成膜(DEPO)ステップ(S30)、大気圧復帰(Purge)ステップ(S40)、搬出(Boat Unload)ステップ(S50)を順次実施する。リカバリー処理(S12〜S50)の実行を完了した旨の応答をサブコントローラから受信した制御部3は、レシピを異常終了した旨のメッセージを共有メモリ領域に書き込むと共に、管理装置15に送信する。操作部2は、異常終了した旨のメッセージを共有メモリ領域から読み出して、その旨をモニタ7に表示する。
本実施例によれば、オペレータは、モニタ7やタッチパネルを能動的に操作して基板処理装置の状態を確認することなく、搬入(Boat Load)ステップ(S10)の進行に停滞が発生していることを容易且つ迅速に認識することが可能となる。また、オペレータは、速やかに所定のリカバリー処理を実施して、搬入(Boat Load)ステップの再実施(S12)が成功した場合には、基板処理を継続させることが可能となる。
(実施例3)
図5は、減圧(Slow Vac.及びLeak Check)ステップ(S20)の経過時間が許容時間を超過したときの基板処理装置の動作を例示するフロー図である。
図5によれば、減圧(Slow Vac.及びLeak Check)ステップ(S20)の進行に停滞が生じたら(例えば、処理炉202内の排気(Slow Vac.)を複数回リトライしてもリーク有無チェック(Leak Check)をクリアできなかったら)、HOLD状態を継続していた制御部3は、経過時間(t1)が許容時間(t2)を超過した旨を示すアラームメッセージを共有メモリ領域へ書きこむことにより、減圧(Slow Vac.及びLeak Check)ステップ(S20)の進行が何らかの理由で停滞していることを操作部2へ通知する。そして、HOLD状態を継続していた制御部3は、共有メモリ領域から「エラー処理(アラーム条件テーブル)」の指示を読み出して、所定のリカバリー処理(本実施例では大気圧復帰(Purge)ステップ(S21)、搬出(Boat Unload)ステップ(S22))を実行する。リカバリー処理の
実行を完了した旨の応答をサブコントローラから受信した制御部3は、レシピを異常終了した旨のメッセージを共有メモリ領域に書き込むと共に、管理装置15に送信する。操作部2は、異常終了した旨のメッセージを共有メモリ領域から読み出して、その旨をモニタ7に表示する。
本実施例によれば、オペレータは、モニタ7やタッチパネルを能動的に操作して基板処理装置の状態を確認することなく、減圧(Slow Vac.及びLeak Check)ステップ(S20)の進行に停滞が発生していることを容易且つ迅速に認識することが可能となる。また、オペレータは、速やかに所定のリカバリー処理を実施して、減圧されていない処理炉202内にウエハ200を保持したボート217が放置されてダメージを受けてしまうことを回避できる。
(実施例4)
図6は、搬出(Boat Unload)ステップ(S50)の経過時間が許容時間を超過したときの基板処理装置の動作を例示するフロー図である。
図6によれば、搬出(Boat Unload)ステップ(S50)の進行に停滞が生じたら、HOLD状態を継続していた制御部3は、経過時間(t1)が許容時間(t2)を超過した旨を示すアラームメッセージを共有メモリ領域へ書きこむことにより、搬出(Boat Unload)ステップ(S50))の進行が何らかの理由で停滞していることを操作部2へ通知する。そして、HOLD状態を継続していた制御部3は、共有メモリ領域から「エラー処理(アラーム条件テーブル)」の指示を読み出して、所定のリカバリー処理(本実施例では搬出(Boat Unload)ステップの再実行(S51))を実行する。リカバリー処理の実行を完了した旨の応答をサブコントローラから受信した制御部3は、レシピを異常終了した旨のメッセージを共有メモリ領域に書き込むと共に、管理装置15に送信する。操作部2は、異常終了した旨のメッセージを共有メモリ領域から読み出して、その旨をモニタ7に表示する。
本実施例によれば、オペレータは、モニタ7やタッチパネルを能動的に操作して基板処理装置の状態を確認することなく、搬出(Boat Unload)ステップ(S50)の進行に停滞が発生していることを容易且つ迅速に認識することが可能となる。また、オペレータは、速やかに所定のリカバリー処理を実施して、処理後のウエハ200を迅速に搬出して、レシピを速やかに完了させることが出来る。
<本発明の好ましい態様>
以下に本発明の好ましい態様について付記する。
本発明の一態様によれば、
基板を処理する処理系と、
複数のステップを前記処理系に順次実行させるように前記処理系を制御する制御部と、
前記処理系による前記ステップの進行状態を操作画面に表示する操作部と、
を備える基板処理装置であって、
前記制御部は、
前記複数のステップのうち所定のステップの実行を前記処理系に開始させたら、次のステップの実行を前記処理系に開始させることなく前記ステップの実行完了を待機すると共に、前記所定のステップの実行を開始してからの経過時間が、前記ステップの実行に予め割り当てられた許容時間を超過したら、前記許容時間を超過した旨を示すアラームメッセージを前記操作部に送信する
基板処理装置が提供される。
好ましくは、
前記制御部は、
基板を保持した基板保持具を待機温度に保持された処理炉内に搬入する搬入ステップと、
前記処理炉内を大気圧から処理圧力へと減圧させる減圧ステップと、
前記処理炉内に処理ガスを供給して前記基板を処理する成膜ステップと、
前記処理炉内を処理圧力から大気圧へと復帰させる大気圧復帰ステップと、
前記処理後の基板を保持した基板保持具を前記処理炉内から搬出する搬出ステップと、を前記処理系に順次実行させるように前記処理系を制御する。
好ましくは、
前記制御部は、前記アラームメッセージを受信したらHOLD時間を監視し、一定時間経過後にアラーム条件テーブル内のエラー処理を実行するように前記処理系を制御する。
本発明の他の態様によれば、
基板を処理する処理系と、
前記処理系に複数のステップを順次実行させるように前記処理系を制御する制御部と、
前記処理系による前記基板の処理状態を操作画面に表示する操作部と、
を備える基板処理装置により実施される半導体装置の製造方法であって、
前記制御部は、
前記複数のステップのうち所定のステップの実行を前記処理系に開始させたら、次のステップの実行を開始させることなく前記所定のステップの実行完了を待機すると共に、前記所定のステップの実行を開始してからの経過時間が、前記ステップの実行に予め割り当てられた許容時間を超過したら、前記許容時間を超過した旨を示すアラームメッセージを前記操作部に送信する半導体装置の製造方法が提供される。
<本発明の他の実施形態>
上記の実施形態では基板処理装置の一例として半導体製造装置を示しているが、半導体製造装置に限らず、LCD装置のようなガラス基板を処理する装置であってもよい。また、基板処理の具体的内容は不問であり、成膜処理だけでなく、アニール処理、酸化処理、窒化処理、拡散処理等の処理であってもよい。また、成膜処理は、例えばCVD、PVD、酸化膜、窒化膜を形成する処理、金属を含む膜を形成する処理であってもよい。また、他の基板処理装置(露光装置、リソグラフィ装置、塗布装置、プラズマを利用したCVD装置等)にも好適に適用可能である。
本発明の一実施形態に係る基板処理装置が備える制御部の動作を例示するフロー図である。 本発明の一実施形態に係る基板処理工程を例示するフロー図である。 本発明の一実施形態に係る基板処理工程において、搬入ステップ(Boat Load)の経過時間が許容時間を超過したときの基板処理装置の動作を例示するフロー図である。 本発明の一実施形態に係る基板処理工程において、搬入ステップ(Boat Load)の経過時間が許容時間を超過したときの基板処理装置の他の動作を例示するフロー図である。 本発明の一実施形態に係る基板処理工程において、減圧ステップ(「Slow Vac.」及び「Leak Check」)の経過時間が許容時間を超過したときの基板処理装置の動作を例示するフロー図である。 本発明の一実施形態に係る基板処理工程において、搬出ステップ(Boat UnLoad)の経過時間が許容時間を超過したときの基板処理装置の動作を例示するフロー図である。 本発明の一実施形態に係る基板処理装置が備える操作部が操作画面に表示する待機モニタ画面の構成を例示する概略図である。 プロセスレシピのステップ毎にアラーム条件テーブルで指定されるエラー処理が設定されている例を示す概略図である。 本発明の一実施形態に係る基板処理装置が備えるプロセス制御モジュール及びその周辺のブロック構成を例示する概略図である。 本発明の一実施形態に係る処理系の斜視図である。 本発明の一実施形態に係る処理系の側面透視図である。
符号の説明
1 プロセス制御モジュール
2 操作部
3 制御部
7 モニタ(操作画面)
7w 待機モニタ画面(ステップを強制終了させるか否かの選択を促す画面)
100 処理系
200 ウエハ(基板)

Claims (1)

  1. 基板を処理する処理系と、
    複数のステップを前記処理系に順次実行させるように前記処理系を制御する制御部と、
    前記処理系による前記ステップの進行状態を操作画面に表示する操作部と、
    を備える基板処理装置であって、
    前記制御部は、
    前記複数のステップのうち所定のステップの実行を前記処理系に開始させたら、次のステップの実行を前記処理系に開始させることなく前記ステップの実行完了を待機すると共に、前記所定のステップの実行を開始してからの経過時間が、前記ステップの実行に予め割り当てられた許容時間を超過したら、前記許容時間を超過した旨を示すアラームメッセージを前記操作部に送信する
    ことを特徴とする基板処理装置。
JP2008313854A 2008-12-10 2008-12-10 基板処理装置、半導体装置の製造方法、基板処理装置の制御方法および基板処理装置の表示方法 Active JP5491022B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008313854A JP5491022B2 (ja) 2008-12-10 2008-12-10 基板処理装置、半導体装置の製造方法、基板処理装置の制御方法および基板処理装置の表示方法
US12/631,152 US9437465B2 (en) 2008-12-10 2009-12-04 Substrate processing apparatus and method of manufacturing semiconductor device
KR1020090121238A KR101132236B1 (ko) 2008-12-10 2009-12-08 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법
TW098141805A TWI406191B (zh) 2008-12-10 2009-12-08 基板處理裝置及半導體裝置之製造方法
KR1020110060449A KR101132227B1 (ko) 2008-12-10 2011-06-22 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법
KR1020110141884A KR101223152B1 (ko) 2008-12-10 2011-12-26 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법
KR1020120041959A KR101280859B1 (ko) 2008-12-10 2012-04-23 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008313854A JP5491022B2 (ja) 2008-12-10 2008-12-10 基板処理装置、半導体装置の製造方法、基板処理装置の制御方法および基板処理装置の表示方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014035457A Division JP5709286B2 (ja) 2014-02-26 2014-02-26 基板処理装置、基板処理装置の制御方法及び半導体装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010140978A true JP2010140978A (ja) 2010-06-24
JP5491022B2 JP5491022B2 (ja) 2014-05-14

Family

ID=42231562

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008313854A Active JP5491022B2 (ja) 2008-12-10 2008-12-10 基板処理装置、半導体装置の製造方法、基板処理装置の制御方法および基板処理装置の表示方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9437465B2 (ja)
JP (1) JP5491022B2 (ja)
KR (4) KR101132236B1 (ja)
TW (1) TWI406191B (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015090890A (ja) * 2013-11-05 2015-05-11 株式会社荏原製作所 基板処理装置
JP2021012969A (ja) * 2019-07-08 2021-02-04 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム及び基板処理方法
WO2022014509A1 (ja) * 2020-07-17 2022-01-20 ファナック株式会社 真空圧供給システム

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012023164A (ja) * 2010-07-14 2012-02-02 Hitachi High-Technologies Corp プラズマ処理装置
JP2012171179A (ja) * 2011-02-21 2012-09-10 Seiko Epson Corp 印刷装置
US8932945B2 (en) * 2012-07-09 2015-01-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Wafer alignment system and method
JP6107327B2 (ja) * 2013-03-29 2017-04-05 東京エレクトロン株式会社 成膜装置及びガス供給装置並びに成膜方法
JP6259698B2 (ja) * 2014-03-28 2018-01-10 株式会社荏原製作所 基板処理方法
CN105321845A (zh) * 2014-07-28 2016-02-10 Psk有限公司 基板处理装置及基板处理装置监控方法
US11685998B2 (en) * 2018-06-21 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus, storage medium and substrate processing method
JP7170438B2 (ja) * 2018-07-03 2022-11-14 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置及び判定方法
CN110164803B (zh) * 2019-06-23 2021-04-09 郑州工业应用技术学院 一种释放机台程式的方法及系统
JP2021174349A (ja) * 2020-04-28 2021-11-01 キヤノン株式会社 情報処理装置、表示制御方法、プログラム、基板処理システム、及び物品の製造方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0832280A (ja) * 1994-07-18 1996-02-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 作業ラインの品質管理装置
JPH103304A (ja) * 1996-06-14 1998-01-06 Sony Corp 処理装置における動作開始指示監視装置
JPH10178082A (ja) * 1996-12-19 1998-06-30 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09319622A (ja) 1996-05-27 1997-12-12 Meidensha Corp 異常停止プログラム検出方法
JPH1091234A (ja) 1996-09-11 1998-04-10 Toshiba Corp プラント監視装置
JP3936030B2 (ja) * 1997-06-23 2007-06-27 東京エレクトロン株式会社 被処理体の回収方法
US6383402B1 (en) * 1998-04-23 2002-05-07 Sandia Corporation Method and apparatus for monitoring plasma processing operations
DE19822075C2 (de) * 1998-05-16 2002-03-21 Enthone Gmbh Verfahren zur metallischen Beschichtung von Substraten
JP2001291650A (ja) 2000-04-10 2001-10-19 Canon Inc 半導体製造装置及びその保守方法並びに同装置を用いた半導体デバイス製造方法及び半導体製造工場
US6733594B2 (en) * 2000-12-21 2004-05-11 Lam Research Corporation Method and apparatus for reducing He backside faults during wafer processing
US6990380B2 (en) * 2000-12-27 2006-01-24 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus and information storage apparatus and method
TW592889B (en) 2001-12-20 2004-06-21 United Microelectronics Corp Protection device of preventing overpolish on a chemical mechanical polish machine and method thereof
KR20040040625A (ko) 2002-11-07 2004-05-13 삼성전자주식회사 포토 스피너의 웨이퍼 관리 방법 및 시스템
KR100529627B1 (ko) * 2003-04-08 2005-11-17 동부아남반도체 주식회사 콘택 형성 방법 및 이 방법에 의해 제조된 콘택을구비하는 반도체 소자
JP2005045131A (ja) 2003-07-25 2005-02-17 Trecenti Technologies Inc 半導体装置の製造システムおよび製造方法
KR100513404B1 (ko) * 2003-12-08 2005-09-09 삼성전자주식회사 반도체 제조설비 관리시스템의 제어방법
US20050233477A1 (en) * 2004-03-05 2005-10-20 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus, substrate processing method, and program for implementing the method
JP4367347B2 (ja) * 2005-01-21 2009-11-18 セイコーエプソン株式会社 膜形成方法及び電気光学装置の製造方法並びに電子機器
KR20060125997A (ko) 2005-06-03 2006-12-07 삼성전자주식회사 공정 시간 비교에 의한 반도체 공정 오류 제어 방법
WO2007102582A1 (ja) 2006-03-09 2007-09-13 Hitachi Kokusai Electric Inc. 基板処理装置システム
JP5179767B2 (ja) 2007-03-12 2013-04-10 株式会社日立国際電気 基板処理装置及びその表示方法、データ収集方法、並びにイベント収集プログラム
JP4912926B2 (ja) 2007-03-14 2012-04-11 光洋電子工業株式会社 工程異常条件自動抽出方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0832280A (ja) * 1994-07-18 1996-02-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 作業ラインの品質管理装置
JPH103304A (ja) * 1996-06-14 1998-01-06 Sony Corp 処理装置における動作開始指示監視装置
JPH10178082A (ja) * 1996-12-19 1998-06-30 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015090890A (ja) * 2013-11-05 2015-05-11 株式会社荏原製作所 基板処理装置
JP2021012969A (ja) * 2019-07-08 2021-02-04 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム及び基板処理方法
JP7303678B2 (ja) 2019-07-08 2023-07-05 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム及び基板処理方法
WO2022014509A1 (ja) * 2020-07-17 2022-01-20 ファナック株式会社 真空圧供給システム

Also Published As

Publication number Publication date
KR20120046145A (ko) 2012-05-09
TWI406191B (zh) 2013-08-21
KR101280859B1 (ko) 2013-07-02
US20100144145A1 (en) 2010-06-10
JP5491022B2 (ja) 2014-05-14
KR101223152B1 (ko) 2013-01-17
KR101132227B1 (ko) 2012-03-30
KR101132236B1 (ko) 2012-03-30
US9437465B2 (en) 2016-09-06
TW201028965A (en) 2010-08-01
KR20110074840A (ko) 2011-07-04
KR20120013282A (ko) 2012-02-14
KR20100067054A (ko) 2010-06-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5491022B2 (ja) 基板処理装置、半導体装置の製造方法、基板処理装置の制御方法および基板処理装置の表示方法
JP6403431B2 (ja) 基板処理装置、流量監視方法及び半導体装置の製造方法並びに流量監視プログラム
US11869785B2 (en) Method of manufacturing semiconductor device and non-transitory computer-readable recording medium
JP4917660B2 (ja) 基板処理装置、基板処理装置の制御方法、半導体デバイスの製造方法、装置状態遷移方法、基板処理装置の保守方法及び状態遷移プログラム
JP6600081B2 (ja) 基板処理装置、半導体装置の製造方法及びプログラム
JP5545795B2 (ja) 基板処理装置及び半導体製造装置管理方法
JP5709286B2 (ja) 基板処理装置、基板処理装置の制御方法及び半導体装置の製造方法
JP2011243677A (ja) 基板処理装置
JP2006261285A (ja) 基板処理装置
JP5531003B2 (ja) 基板処理装置、基板処理装置のメンテナンス方法および半導体装置の製造方法
US20210134683A1 (en) Method of Manufacturing Semiconductor Device, Non-transitory Computer-readable Recording Medium and Substrate Processing Apparatus
JP2010153602A (ja) 基板処理装置
JP2011204865A (ja) 基板処理装置
JP2013055239A (ja) 基板処理装置
JP6262020B2 (ja) 基板処理装置及び半導体装置の製造方法並びにプログラム
JP2013239656A (ja) 基板処理装置
JP2012104700A (ja) 基板処理システム
JP2011114264A (ja) 基板処理装置
JP2014130895A (ja) 基板処理装置及び基板搬送方法及び半導体装置の製造方法
JP2011071165A (ja) 基板処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111206

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130829

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130829

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131024

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131113

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140109

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140128

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140227

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5491022

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250