JP2008512682A - 遠隔でテストチャンネルをバッファリングする方法および装置 - Google Patents
遠隔でテストチャンネルをバッファリングする方法および装置 Download PDFInfo
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Claims (26)
- テストシステムのテストチャネルにおいて提供された分離バッファと、
該テストチャネルにおいて、該分離バッファの信号入力と出力との間に提供されたバッファバイパス素子と
を含む、装置。 - 前記バッファバイパス素子が抵抗器を含む、請求項1に記載の装置。
- 前記バッファバイパス素子が伝送ゲートを含む、請求項1に記載の装置。
- 前記分離バッファがトライステートバッファである、請求項3に記載の装置。
- 信号が、前記トライステートバッファが動作可能にされるときには前記伝送ゲートを動作不能にするために、該トライステートバッファが動作不能にされるときには該伝送ゲートを動作可能にするために提供される、請求項3に記載の装置。
- 前記バッファバイパス素子がトランジスタを含む、請求項1に記載の装置。
- 前記トランジスタが、前記分離バッファの入力と出力との間に接続されたソースドレイン経路を有するCMOS装置である、請求項6に記載の装置。
- テストチャネルにおいて提供された分離バッファと、
該分離バッファと並列に提供されたバッファバイパス素子と
を含む、プローブカード。 - 前記テストチャネルはそれぞれ、プローブ接触点において終了している、請求項8に記載のプローブカード。
- 前記プローブ接触点は弾力性のばねを含む、請求項9に記載のプローブカード。
- 前記バッファバイパス素子は抵抗器を含む、請求項8に記載の装置。
- 前記バッファバイパス素子は伝送ゲートを含む、請求項8に記載の装置。
- 共通節点からの分岐を有する回路と、
分離バッファであって、該分離バッファのそれぞれは該分岐のうちの一つにおいて提供される、分離バッファと、
バッファバイパス素子であって、該バッファバイパス素子それぞれは該分離バッファのうちの1つの入力と出力との間に提供される、バッファバイパス素子と
を含む、装置。 - 前記共通節点に接続される信号ライン経路において提供されるさらなるバッファであって、前記分離バッファの入力に接続される入力を有するさらなるバッファをさらに含み、前記バッファバイパス素子は該さらなるバッファの入力と該分離バッファそれぞれの出力との間に提供されている、請求項13に記載の装置。
- 前記バッファバイパス素子は抵抗器を含む、請求項13に記載の装置。
- 前記バッファバイパス素子は伝送ゲートを含む、請求項13に記載の装置。
- 前記さらなるバッファはトライステートバッファを含む、請求項16に記載の装置。
- 信号が、前記トライステートバッファが動作可能にされるときには前記伝送ゲートを動作不能にするため、該トライステートバッファが動作不能とされるときには該伝送ゲートを動作可能とするために提供される、請求項17に記載の装置。
- さらなるバッファであって、該さらなるバッファそれぞれは、前記分岐それぞれにおいて前記分離バッファのうちの1つと直列に提供される、さらなるバッファをさらに含み、前記バッファバイパス素子は該分岐それぞれにおいて該直列バッファと並列に提供される、請求項13に記載の装置。
- 前記分離バッファに可変遅延制御入力を提供する出力を有する遅延制御回路であって、遅延時間基準を通して遅延を実質的に合わせるように該分離バッファを通して遅延を制御するために、その出力で遅延制御電位を設定する該遅延制御回路をさらに含む、請求項13に記載の装置。
- テスト回路におけるバッファの遅延を測定する方法であって、該方法は、
該バッファを通して信号パルスを提供することと、
該バッファの入力と出力との間に提供されたバッファバイパス素子から反射される該信号パルスを測定することと、
時間領域反射率計算を使用して、該反射された信号パルスから、該バッファによってもたらされた遅延を決定することと
を含む、方法。 - 前記バッファ出力はテストプローブに接続されている、請求項21に記載の方法。
- テスト回路におけるバッファの遅延を測定する方法であって、該バッファは第1伝送ラインに提供され、該方法は、
該第1伝送ラインおよび該バッファの遅延を測定することと、
バッファなしの該第1伝送ラインと実質的に同様な第2伝送ラインの遅延を測定することと、
該バッファ付該第1伝送ラインを通る遅延と該第2伝送ラインを通る遅延との間での相違を決定することによって、該バッファを通る遅延を計算することと
を含む、方法。 - バッファバイパス素子は前記バッファの入力と出力との間に提供される、請求項23に記載の方法。
- テスト回路におけるバッファの遅延を校正する方法であって、該方法は、
該バッファ付テスト装置を使用して、既知の遅延を有する装置の遅延を測定することと、
該既知の遅延を有する該装置の該測定された遅延と比較することによって、該バッファの該遅延を校正することと
を含む、方法。 - バッファバイパス素子が、前記バッファの入力と出力との間に提供された、請求項25に記載の方法。
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