JP2008204600A - Otpセル及びこれを備えるメモリ装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明のOTPセル及びこれを備えるメモリ装置は、読み出し制御信号に応じて、第1及び第2ノード間に電流経路を形成する第1MOSトランジスタと、書き込み制御信号に応じて、第3及び前記第2ノード間に電流経路を形成する第2MOSトランジスタと、前記第2ノードと接地電圧の供給端との間に接続されるアンチヒューズとを備え、前記第2ノードにかかった電圧を出力信号として出力する。
【選択図】図4
Description
400 供給選択部
Claims (20)
- 読み出し制御信号に応じて、第1及び第2ノード間に電流経路を形成する第1MOSトランジスタと、
書き込み制御信号に応じて、第3及び前記第2ノード間に電流経路を形成する第2MOSトランジスタと、
前記第2ノードと接地電圧の供給端との間に接続されるアンチヒューズとを備え、
前記第2ノードにかかった電圧を出力信号として出力することを特徴とするOTPセル。 - 前記第1MOSトランジスタが、
前記読み出し制御信号をゲートで受信し、かつ、前記第1及び第2ノード間にソース・ドレイン経路を有する第1PMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1に記載のOTPセル。 - 前記第2MOSトランジスタが、
前記書き込み制御信号をゲートで受信し、かつ、前記第3及び第2ノード間にソース・ドレイン経路を有する第2PMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1に記載のOTPセル。 - 前記第1MOSトランジスタが、
前記読み出し制御信号をゲートで受信し、かつ、前記第1及び第2ノード間にドレイン・ソース経路を有する第1NMOSトランジスタであり、
前記第2MOSトランジスタが、
前記書き込み制御信号をゲートで受信し、かつ、前記第3及び第2ノード間にドレイン・ソース経路を有する第2NMOSトランジスタである
ことを特徴とする請求項2に記載のOTPセル。 - 前記第2ノードにかかった電圧を感知及び増幅するインバータ式感知増幅器を更に備えることを特徴とする請求項4に記載のOTPセル。
- 前記第1PMOSトランジスタ及び第1NMOSトランジスタが、
高電圧トランジスタであることを特徴とする請求項5に記載のOTPセル。 - カラム方向に形成されて、読み出し駆動時に印加される該当アドレスによって活性化される複数の読み出し駆動ラインと、
カラム方向に形成されて、書き込み駆動時に印加される該当アドレスによって活性化される複数の書き込み駆動ラインと、
互いに異なる前記読み出し駆動ライン及び前記書き込み駆動ラインに接続されてデータを書き込む複数の単位OTPセルと、
ロウ方向に形成されて、前記複数の単位OTPセルからの出力データを伝達する複数のデータラインと、
前記各データラインに接続されて、伝達されるデータを感知及び増幅して出力する複数の感知増幅器と
を備えることを特徴とするメモリ装置。 - 前記複数の単位OTPセルに高電圧を印加する高電圧供給部を更に備えることを特徴とする請求項7に記載のメモリ装置。
- 前記単位OTPセルが、
前記読み出し駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、外部電圧の供給端とノードとの間に接続される第1MOSトランジスタと、
前記書き込み駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、前記高電圧供給部の出力端と前記ノードとの間に接続される第2MOSトランジスタと、
前記ノードと接地電圧の供給端との間に配置されるアンチヒューズとを備え、
前記ノードにかかった電圧を前記データラインを介して出力することを特徴とする請求項8に記載のメモリ装置。 - 前記第1MOSトランジスタが、
前記読み出し駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、前記外部電圧の供給端と前記ノードとの間にソース・ドレイン経路を有する第1PMOSトランジスタであり、
前記第2MOSトランジスタが、
前記書き込み駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、前記高電圧供給部の出力端と前記ノードとの間にソース・ドレイン経路を有する第2PMOSトランジスタである
ことを特徴とする請求項9に記載のメモリ装置。 - 前記第1PMOSトランジスタが、
高電圧CMOSトランジスタであることを特徴とする請求項10に記載のメモリ装置。 - カラム方向に形成されて、読み出し駆動時に印加される該当アドレスによって活性化される複数の読み出し駆動ラインと、
カラム方向に形成されて、書き込み駆動時に印加される該当アドレスによって活性化される複数の書き込み駆動ラインと、
互いに異なる前記読み出し駆動ライン及び前記書き込み駆動ラインに接続されてデータを書き込む複数の単位OTPセルと、
ロウ方向に形成されて、前記複数の単位OTPセルからの出力データを伝達する複数のデータラインと
を備えることを特徴とするメモリ装置。 - 前記単位OTPセルが、
前記読み出し駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、外部電圧の供給端とノードとの間に接続される第1MOSトランジスタと、
前記書き込み駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、高電圧の供給端と前記ノードとの間に接続される第2MOSトランジスタと、
前記ノードと接地電圧の供給端との間に配置されるアンチヒューズと、
前記ノードにかかった電圧を感知及び増幅して、前記データラインを介して出力する感知増幅器と
を備えることを特徴とする請求項12に記載のメモリ装置。 - 前記第1MOSトランジスタが、
前記読み出し駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、前記外部電圧の供給端と前記ノードとの間にソース・ドレイン経路を有する第1PMOSトランジスタであり、
前記第2MOSトランジスタが、
前記書き込み駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、前記高電圧の供給端と前記ノードとの間にソース・ドレイン経路を有する第2PMOSトランジスタである
ことを特徴とする請求項13に記載のメモリ装置。 - カラム方向に形成されて、読み出し駆動時に印加される該当アドレスによって活性化される第1ないし第N読み出し駆動ラインと、
カラム方向に形成されて、書き込み駆動時に印加される該当アドレスによって活性化される第1ないし第N書き込み駆動ラインと、
前記読み出し駆動ライン及び書き込み駆動ラインに接続されてデータを書き込む複数の単位OTPセルと、
ロウ方向に形成されて、前記複数の単位OTPセルからの出力データを伝達する第1ないし第Mデータラインと、
前記各データラインに接続されて、伝達されるデータを感知及び増幅して出力する第1ないし第M感知増幅器と、
ロウ方向に形成されて、前記複数のデータラインのうち、共通のデータラインに接続される前記複数の単位OTPセルに高電圧を供給する第1ないし第M高電圧供給ラインと、
書き込み駆動時に印加される前記該当アドレスに対応する高電圧供給ラインに選択的に前記高電圧を供給する供給選択手段と
を備えることを特徴とするメモリ装置。 - 前記単位OTPセルが、
前記読み出し駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、外部電圧の供給端とノードとの間に接続される第1MOSトランジスタと、
前記書き込み駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、高電圧の供給端と前記ノードに接続される第2MOSトランジスタと、
前記ノードと接地電圧の供給端との間に配置されるアンチヒューズとを備え、
前記ノードにかかった電圧を前記データラインを介して出力することを特徴とする請求項15に記載のメモリ装置。 - 前記第1MOSトランジスタが、
前記読み出し駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、前記外部電圧の供給端と前記ノードとの間にソース・ドレイン経路を有する第1PMOSトランジスタであり、
前記第2MOSトランジスタが、
前記書き込み駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、前記高電圧の供給端と前記ノードとの間にソース・ドレイン経路を有する第2PMOSトランジスタである
ことを特徴とする請求項16に記載のメモリ装置。 - カラム方向に形成されて、読み出し駆動時に印加される該当アドレスによって活性化される第1ないし第N読み出し駆動ラインと、
カラム方向に形成されて、書き込み駆動時に印加される該当アドレスによって活性化される第1ないし第N書き込み駆動ラインと、
互いに異なる前記読み出し駆動ライン及び前記書き込み駆動ラインに接続されてデータを書き込む複数の単位OTPセルと、
ロウ方向に形成されて、前記複数の単位OTPセルからの出力データを伝達する第1ないし第Mデータラインと、
ロウ方向に形成されて、前記複数のデータラインのうち、共通のデータラインに接続される前記複数の単位OTPセルに高電圧を供給する第1ないし第M高電圧供給ラインと、
書き込み駆動時に印加される前記該当アドレスに対応する高電圧供給ラインに選択的に前記高電圧を供給する供給選択手段と
を備えることを特徴とするメモリ装置。 - 前記単位OTPセルが、
前記読み出し駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、外部電圧の供給端とノードとの間に接続される第1MOSトランジスタと、
前記書き込み駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、高電圧の供給端と前記ノードとの間に接続される第2MOSトランジスタと、
前記ノードと接地電圧の供給端との間に配置されるアンチヒューズと、
前記ノードにかかった電圧を感知及び増幅して、前記データラインを介して出力する感知増幅器と
を備えることを特徴とする請求項18に記載のメモリ装置。 - 前記第1MOSトランジスタが、
前記読み出し駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、外部電圧の供給端と前記ノードとの間にソース・ドレイン経路を有する第1PMOSトランジスタであり、
前記第2MOSトランジスタが、
前記書き込み駆動ラインにゲート端が接続され、かつ、前記高電圧の供給端と前記ノードとの間にソース・ドレイン経路を有する第2PMOSトランジスタである
ことを特徴とする請求項19に記載のメモリ装置。
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