JP2006178408A - スキャナ素子、光走査装置および画像形成装置 - Google Patents

スキャナ素子、光走査装置および画像形成装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2006178408A
JP2006178408A JP2005269244A JP2005269244A JP2006178408A JP 2006178408 A JP2006178408 A JP 2006178408A JP 2005269244 A JP2005269244 A JP 2005269244A JP 2005269244 A JP2005269244 A JP 2005269244A JP 2006178408 A JP2006178408 A JP 2006178408A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
movable plate
scanner element
moment
inertia
torsion bar
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005269244A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuo Saito
哲郎 齋藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2005269244A priority Critical patent/JP2006178408A/ja
Priority to US11/282,655 priority patent/US7315410B2/en
Publication of JP2006178408A publication Critical patent/JP2006178408A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/0816Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
    • G02B26/0833Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
    • G02B26/0841Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD the reflecting element being moved or deformed by electrostatic means

Abstract

【課題】部材の加工精度のばらつきに起因して発生するミラーの共振周波数のばらつきを抑制し、ミラーの振れ角を一定にする。
【解決手段】ミラー部1の側面に慣性モーメントの変動を調整する凹凸部20を設ける。
加工時に全体にオーバーエッチングがおこり、梁3の幅が細くなり、バネ定数が設計値KよりΔKだけ小さくなる。また、ミラー1が全体に小さくなり、慣性モーメントが設計値IよりΔIだけ小さくなるが、K/I=(K+ΔK)/(I+ΔI)の関係がほぼ維持され、共振周波数は殆ど変化しない。
【選択図】図1

Description

本発明は、微小なミラーを揺動させて光ビームの偏向を行うスキャナ素子、該スキャナ素子を備えた光走査装置に関し、特に電子写真による露光光の走査に用いる光書込装置に関する。
近年、レーザー光等の光ビームを走査する光走査装置が、バーコードリーダ、レーザープリンタ、ヘッドマウントディスプレー等の光学機器に用いられている。この種の光スキャナとして、マイクロマシニング技術を利用した微小ミラーを揺動させる構成のものが提案されている。
図5は、マイクロマシニング技術を利用した微小ミラー(マイクロミラー)の例を示す。図5(a)は斜視図、(b)は断面図、(c)は平面図である。基板2は、2枚の導電性シリコン基板(200、201)が絶縁性の酸化珪素膜(202)を介して張り付けられているSOIの2層基板を用いている。同一直線上に設けた2本の梁としての弾性部材(トーションバー)3を回転軸として支持された可動板であるミラー1と、ミラー1に設けた可動電極8と、可動電極8に対向して固定部材5に設けた固定電極9を有し、可動電極8と固定電極9は分離溝6で分離されている。また、固定電極9のボンディングパッド4、可動電極8のボンディングパッド7は導電性のシリコン200を介して各々可動電極8と固定電極9に繋がっている。光スキャナ10は、可動電極8と固定電極9との間の静電吸引力で、2本の弾性部材3を捻り回転軸としてミラー1を往復振動させる。
このようなミラーの形成法としては、SOIの2層基板の片面にレジスト膜をスピンコートで形成し、その後、フォトリソグラフィ法でフレーム部5、ミラー部1、梁部3、可動電極部8、固定電極部9、分離溝6を形成するフォトマスクを用いてレジストを現像定着し、そのパターンを形成したレジスト膜を用いて、ドライエッチング法で酸化珪素膜面まで形状を形成する。
次いで、SOI基板の反対面に同様にレジスト膜を形成し、フレーム部5、固定電極部9のみを残すパターンのフォトマスクでレジストのパターニングを行った後、ドライエッチングでフレーム部5、固定電極部9を除いた部分を酸化珪素膜面までエッチングする。その後、露出している酸化珪素膜をエッチングで除去し、所定の位置に電極4、7を形成する。
図6は、このような光スキャナ10を実装するステム12の例である。ステム12の中央には、光スキャナ10の揺動を妨げないように、座グリ部分11が形成されている。この光スキャナ10とステム12を実装した状態を図7に示す。
また、上記したような微小ミラーを用いた光走査装置の例として、複数の光スキャナを配備した構成が提案されている。図8は、光走査装置の構成の断面を示す。ベース101上には複数の光スキャナ102が設けられている。103は、駆動電圧を印加する駆動装置、104はレーザー光源、105はミラー1により反射されたレーザービームである。
また、このような光走査装置を用いた画像形成装置として以下のようなものが提案されている。図9は、画像形成装置の一例であるレーザープリンタの概略構成図を示す。画像形成装置としてのレーザープリンタ106は、上記した構成の光走査装置107と、光走査装置107のミラー1により偏向された反射レーザー光により静電潜像が形成される感光体108と、感光体108に形成された静電潜像をトナーにより現像する現像手段109と、感光体108上に形成されたトナー像を被記録体に転写するための転写手段110と、被記録体を画像形成部に供給するための被記録体供給手段111と、被記録体上のトナー像を定着させるための定着手段112とを備える。
図10は、光走査装置107と感光体108を上から見た図である。光スキャナが主走査方向に複数配置されている。レーザー光源104は、図示しない画像信号生成装置による画像信号に基づき発光する。レーザー光源104より照射されるレーサービームは、光走査装置107に入射する。光走査装置107のミラー1により偏向された反射レーザー光105が感光体108上に静電潜像を形成する。
このような画像形成装置では、光走査装置を形成する光スキャナの共振周波数のバラツキが問題となる。図11は、各光スキャナの共振周波数f0を測定した結果を示す。各光スキャナは、図11に示すように、それぞれの共振周波数を有している。このような共振周波数のバラツキは以下のような原因で発生する。
図12は、光スキャナの共振周波数の説明のために、光スキャナを簡易化した斜視図(a)と断面図(b)である。同一直線上に設けた2本の梁としての弾性部材3を回転軸として支持されたミラー1と、ミラー1に設けた可動電極8と、可動電極8に対向して固定部材5に設けた固定電極9を有し、可動電極8と固定電極9との間の静電吸引力で、2本の弾性部材3を捻り回転軸としてミラー1を往復振動させる光スキャナである。上記光スキャナにおいて、ミラー1の共振周波数f0は概略以下の式で与えられる。
f0=1/2π√(K/I) ・・・(式1)
但し、Iはミラー慣性モーメント、Kは2本の弾性部材(トーションバー)によって決まるバネ定数を表す。
前述したように、このような小型のミラー形成では、フォトリソグラフによるエッチングマスクの形成と、そのエッチングマスクを用いたエッチングで形状を形成することが一般に行われている。ところが、このような工程では、フォトマスクパターンの露光現像工程でレジストパターンがフォトマスクパターンに対して大きくなったり、小さくなったりする転写ばらつきや、レジストパターンに対してエッチングで加工される対象が小さくなったり、大きくなったりするオーバーエッチング、アンダーエッチングが起こる。
このように、弾性部材3は加工時によって精度にばらつきを生じる。これらの加工誤差のためトーションバーの形状が当初の設計からズレ、これによりバネ定数Kにばらつきが生じる。また、同様の加工誤差のためミラー形状も設計値からズレ、それがミラーの慣性モーメントの設計値からのズレとなる。
従って、式1で示される共振周波数f0の値にも、ばらつきを生じることになる。複数の光スキャナを有する光走査装置において、各光スキャナ間でミラー1の共振周波数f0にばらつきがあると、図12(b)に示すミラーの振れ角θにばらつきを生じる。
図13は、トーションバーの加工誤差が共振周波数に影響を与えている一例である。測定に使用した光スキャナは、重量約1.5mg、慣性モーメント2.3×10^−5erg・cmで、トーションバーの断面が0.09mm×0.2mmで、長さ2mmである。図13では、光スキャナの加工時のエッチングバラツキによる共振周波数の変動を示している。このように、設計値に対して±2μmのエッチングバラツキが、140Hzの共振周波数のバラツキを発生させていることがわかる。
そのため、このような光スキャナを用いた画像形成装置では、隣接する光スキャナ間によって形成される画像のつなぎ目が視認できるようになり、画質の劣化を招くという問題点がある。そこで、光スキャナの共振周波数を調整する方法が従来から提案されている。
図14は、共振周波数を調整する第1の方法を示す(例えば、特許文献1を参照)。可動板の両端に質量負荷部13、14を形成したプレーナ型ガルバノミラーを動作させながら初期共振周波数と予め設定されたねらいの共振周波数の差を読みとり、照射するレーザーパルス数を計算する工程と、前記照射するレーザーパルス数に基づきレーザーを質量負荷部に照射して質量を減少して周波数を調整し、ねらい値に追い込むという方法である。
また、図15は、共振周波数を調整する第2の方法を示す(例えば、特許文献2を参照)。第2の方法では、ミラー1の端部に、ミラー慣性モーメント調整用の櫛歯状の切片18を設け、切片18の歯の幅Wを数100μmとしている。この切片18とミラー1との境界面をCO2レーザー17によるレーザービーム15で照射し、ミラー1に対して十分小さい切片18の温度を急激に上昇させ、ミラー1から割断する。このときに減少するミラー慣性モーメントの割合は、切片18の割断に相当する分となるため、共振周波数の定量的な調節が可能となる。
さらに、ガルバノミラーの製造工程で、ミラーへの金属蒸着量やエッチング量を制御して共振周波数を制御する第3の方法もある(例えば、特許文献3を参照)。
特開2002−40355号公報 特開2003−84226号公報 特開2002−40353号公報
上記した第1、第2の方法では、周波数の調整に高出力のレーザー装置が必要になり、コストの上昇を招くほか、レーザー照射で飛散した物質がミラー面等に付着し、ミラーの汚染を招くという問題がある。また、ミラー面の近傍に高出力のレーザーを照射するため、ミラー構成部材の温度上昇を防ぐことが難しく、部分的なミラー部の温度上昇がミラー部の歪みを発生する。また、個別にデバイス毎の調整工程が入るため、工程数が増加し、コストが上昇する。
上記した第3の方法のような金属蒸着やエッチングでは、半導体技術などを用いて半導体ウェハー上に複数のガルバノミラー(スキャナ)をまとめて作成する場合には、ウェハー内での蒸着量やエッチング量の分布を制御することが困難であり、ウェハー内の個々のガルバノミラーを最適化することが難しい。
本発明は上記した問題点に鑑みてなされたもので、
本発明の目的は、部材の加工精度のばらつきに起因して発生するミラーの共振周波数のばらつきを抑制し、ミラーの振れ角を一定にするスキャナ素子、光走査装置および画像形成装置を提供することにある。
本発明(請求項1)は、基板に、可動板と可動板を基板に対し揺動可能に軸支するトーションバーとトーションバーを支持するフレーム部を一体に形成し、前記可動板を揺動するスキャナ素子で、設計時の可動板の慣性モーメントがI、トーションバーのバネ定数がKであり、スキャナ素子の作成時の加工工程で可動板の慣性モーメントがI+ΔI、バネ定数がK+ΔKとなるスキャナ素子において、おおよそK/I=(K+ΔK)/(I+ΔI)となることを最も主要な特徴とする。これにより、作成時に慣性モーメント、バネ定数が設計値からズレても共振周波数はほとんど変動しない。
本発明(請求項2)は、加工工程において加工量の変動により、トーションバーのバネ定数が、設計時の値Kに対してΔK変動した場合において、設計時の可動板の慣性モーメントの設計値Iに対する変動量ΔIが(ΔK/K)Iとなるように作用する慣性モーメント調整機構を可動板または可動板の周囲に具備することを特徴とする。これにより、トーションバーのバネ定数が設計値からズレてもスキャナ素子の共振周波数はほとんど変動しない。
本発明(請求項3)は、可動板の慣性モーメント調整機構は、スキャナ素子の可動板としての機能を提供する部位とは異なる部位に構成されており、加工工程の加工量の変動で慣性モーメントが変動する複数の構造物から構成されていることを特徴とする。これにより周波数調整用の構造物は分割された複数の小さな構造物として可動板の周辺に配置することができるので、スキャナ素子の可動板としての機能を阻害することなくスキャナ素子の周波数調整を行うことができる。
本発明(請求項4)は、複数の構造物の加工工程における加工量の変動でうける慣性モーメントの変動量がΔI(i) i=1,2,3・・・n(nは構造物の個数:整数)であるとき、ΔI(1)+ΔI(2)+・・・+ΔI(n)=(ΔK/K)Iであるように構造物を可動板または可動板近傍に適宜配置構成したことを特徴とする。これにより可動板の周辺に配置した複数の小さな慣性モーメント調整用の構造物の作用は調整機構全体としてバネ定数の変動を補正するように慣性モーメント調整することができるので、スキャナ素子の可動板としての機能を阻害することなくスキャナ素子の周波数調整を行うことができる。
本発明(請求項5)は、加工工程の加工量の変動により、可動板の慣性モーメントが、設計時の値Iに対してΔI変動した場合において、設計時のトーションバーのバネ定数の設計値Kに対する変動量ΔKが(ΔI/I)Kとなるように作用するバネ定数調整機構をトーションバーに具備することを特徴とする。これにより、可動板の慣性モーメントが設計値からズレてもスキャナ素子の共振周波数はほとんど変動しない。
本発明(請求項6)は、可動板及びトーションバーの形状を同一の加工工程によって作製する。これにより、可動板及びトーションバー加工時の加工誤差を可動板及びトーションバーが等しく受けることができ、K/I=(K+ΔK)/(I+ΔI)の関係を維持しやすくなる。
本発明(請求項7)は、可動板及びトーションバーの形状を加工する加工方法がエッチングによるものである。これにより、可動板及びトーションバーの加工時に、可動板及びトーションバーは等しい量のエッチングによる加工誤差を受けることができ、K/I=(K+ΔK)/(I+ΔI)の関係を維持しやすくなる。
本発明(請求項8)は、可動板の慣性モーメントの加工時の変動値ΔIが主として可動板の加工時のオーバーエッチングまたはアンダーエッチングによる加工誤差によるものであることである。これにより、可動板及びトーションバーの加工時に、可動板及びトーションバーは等しい量のエッチングによる加工誤差を受けることができ、K/I=(K+ΔK)/(I+ΔI)の関係を維持しやすくなる。
本発明(請求項9)は、トーションバーのバネ定数の加工時の変動値ΔKが主としてトーションバーの加工時のオーバーエッチングまたはアンダーエッチングによる加工誤差によるものであることである。これにより、可動板及びトーションバーの加工時に、可動板及びトーションバーは等しい量のエッチングによる加工誤差を受けることができ、K/I=(K+ΔK)/(I+ΔI)の関係を維持しやすくなる。
本発明(請求項10)、慣性モーメント調整機構は、可動板の周辺に設けた凹凸の形状であることを特徴とする。これにより、簡易な構造の慣性モーメント調整機構での共振周波数調整が可能になる。
本発明(請求項11)は、慣性モーメント調整機構は、可動板の内部に設けた凹部または貫通した穴部はであることを特徴とする。これにより、簡易な構造の慣性モーメント調整機構での共振周波数調整が可能になる。
本発明(請求項12)は、可動板の周辺に凹凸の形状を設けている。これにより、凹凸部の形状で可動板の加工変動による影響をうける範囲を調整できるので、加工変動による慣性モーメントの変動が制御しやすくなる。
本発明(請求項13)は、可動板の内部に凹部または貫通した穴部を設けている。これにより、凹部または貫通部の形状で可動板の加工変動による影響をうける範囲を調整できるので、加工変動による慣性モーメントの変動が制御しやすくなる。
本発明(請求項14)の光走査装置は、スキャナ素子と光源を備えることにより、制御性の良いミラーの揺動を行うことで、制御性の高い光の走査を行うことが可能になる。
本発明(請求項15)の画像形成装置は、光走査装置と、該光走査装置により静電潜像を形成する感光体と、該静電潜像をトナーにより顕像化する現像手段と、トナー像を用紙に転写する転写手段とを有することにより、制御性の良い光の走査を行うことで、高画質の画像の出力が可能になる。
本発明(請求項16)の画像形成装置は、光走査装置を複数搭載していることにより、
制御性の良い光の走査を行うことで、高画質の画像の出力が可能になる。
本発明(請求項1)のスキャナ素子は、作成時に慣性モーメント、バネ定数が設計値からズレても共振周波数がほとんど変動しない。
本発明(請求項2)のスキャナ素子は、トーションバーのバネ定数が設計値からズレてもスキャナ素子の共振周波数はほとんど変動しない。
本発明(請求項3、4)のスキャナ素子は、スキャナ素子の可動板としての機能を阻害することなくスキャナ素子の周波数調整を行うことができる。
本発明(請求項5)のスキャナ素子は、可動板の慣性モーメントが設計値からズレてもスキャナ素子の共振周波数はほとんど変動しない。
本発明(請求項6)のスキャナ素子は、可動板及びトーションバー加工時の加工誤差を可動板及びトーションバーが等しく受けることができ、作成時に慣性モーメント、バネ定数が設計値からズレても共振周波数がほとんど変動しない。
本発明(請求項7〜9)のスキャナ素子は、可動板及びトーションバーのエッチングによる加工時の加工誤差を可動板及びトーションバーが等しく受けることができ、作成時に慣性モーメント、バネ定数が設計値からズレても共振周波数がほとんど変動しない。
本発明(請求項10〜13)のスキャナ素子は、可動板及びトーションバー加工時の加工誤差を可動板及びトーションバーが等しく受けることができるような構造を採っているので、作成時に慣性モーメント、バネ定数が設計値からズレても共振周波数がほとんど変動しない。
本発明(請求項14)においては、高精度に共振周波数が調整された光スキャナ素子を提供できる。
本発明(請求項15)においては、制御性の良いミラーの揺動を行うことで、制御性の高い光の走査を行うことが可能になる。
本発明(請求項16)においては、制御性の良い光の走査を行うことで、高画質の画像の出力が可能になる。
以下、発明の実施の形態について図面により詳細に説明する。
実施例1:
図1は、本発明の実施例1の光スキャナ素子を示す。図1(a)はその斜視図、(b)は平面図である。図1の参照番号1〜10で示す各構成要素は、前述した図5のものと同様である。基板2は、2枚の導電性シリコン基板(200、201)が絶縁性の酸化珪素膜(202)を介して張り付けられているSOIの2層基板を用いている。同一直線上に設けた2本の梁3としての弾性部材(トーションバー)を回転軸として支持された可動板であるミラー1と、ミラー1に設けた可動電極8と、可動電極8に対向して固定部材5に設けた固定電極9を有し、可動電極8と固定電極9は分離溝6で分離している。
固定電極9のボンディングパッド4、可動電極8のボンディングパッド7は導電性のシリコン200を介して各々可動電極8と固定電極9に繋がっている。可動電極8と固定電極9との間の静電吸引力で、2本の弾性部材3を捻り回転軸としてミラー1を往復振動させる。
実施例1では、ミラー1の側面に、慣性モーメント調整機構として凹凸形状20が形成されている。本実施例のミラーの形成法を説明すると、まず、SOIの2層基板の片面にレジスト膜をスピンコートで形成し、その後、フォトリソグラフィ法でフレーム部5、ミラー部1、梁部3、可動電極部8、固定電極部9、凹凸部20、分離溝6を形成するフォトマスクを用いてレジストを現像定着し、そのパターンを形成したレジスト膜を用いて、ドライエッチング法で酸化珪素膜面まで形状を形成する。
次いで、SOI基板の反対面に同様にレジスト膜を形成し、フレーム部5、固定電極部9のみを残すパターンのフォトマスクでレジストのパターニングを行った後、ドライエッチングでフレーム部5、固定電極部9を除いた部分を酸化珪素膜面までエッチングする。その後、露出している酸化珪素膜をエッチングで除去し、その後、所定の位置に電極4、7を形成する。
ドライエッチングによる形状の形成時には、前述したように設計値と実際の形状がズレる加工誤差が生じ、そのため梁部3のバネ定数K、ミラー1の慣性モーメントIが共に、設計値からズレてしまう。
これに対して、本発明の実施例1では、ミラー部1に慣性モーメントの変動を調整する慣性モーメント調整機構としての凹凸部20を設けているので、加工時に全体にオーバーエッチングまたはアンダーエッチングがおこった場合、たとえばオーバーエッチングが起きた場合には、梁3の幅が細くなりバネ定数が設計値KよりΔKだけ小さくなっても、またミラー1が全体に小さくなり、慣性モーメント調整機構により慣性モーメントが設計値Iより(ΔK/K)Iだけ小さくなるので、オーバーエッチングによりバネ常数が設計値からΔKだけずれ、慣性モーメントが設計値からΔIだけズレても、K/I=(K+ΔK)/(I+ΔI)となりバネ常数と慣性モーメントの比は変わらないので、共振周波数は変化しない。同様にアンダーエッチングが起きた場合は、オーバーエッチングとは反対に梁3の幅が太くなり、ミラー1が全体に大きくなるが慣性モーメント調整機構により同様に、バネ常数と慣性モーメントの比は変わらないので、共振周波数は変化しない。
また、図1に示す複数の凹凸部は複数の構造物である。この複数の構造物の各々の慣性モーメントをI1、I2、・・・Ii、・・・Inとし、加工量の変動による慣性モーメントの変動量をΔI1、ΔI2、ΔI3、・・・、ΔIi、・・・ΔInとしたとき、構造物のトータルの慣性モーメントの変動を(ΔK/K)*Iにするように配置している。
一例を挙げると、設計時のミラーの総周囲長を約245500(μm)、重量1.5(mg)、全体積0.67(mm^3)、慣性モーメント2.98×10^−5(kgf・s2/cm)、梁長さ1950(μm)、梁幅94(μm)、バネ定数29440(kgf・cm/rad)、共振周波数5000(Hz)のミラーが加工時のオーバーエッチングにより、全体に2(μm)小さくなってしまった時の慣性モーメントは2.64×10^−5(kgf・s2/cm)、バネ定数は26160(kgf・cm/rad)であり、K/I=985587450、(K+ΔK)/(I+ΔI)=988551250となり、ほとんど一致している。
そして、共振周波数は設計値で4996Hz、加工後で5004Hzとなり、共振周波数の変動もわずかな値に抑えられている。図2は、エッチングが設計値に対して±2μmズレた場合の共振周波数のバラツキを示すが、このように非常に小さなバラツキに抑えることができる。
図3は、このようなマイクロミラー10をステム12に実装した状態を示す。このようなマイクロミラーを用いることにより、コストのかかる調整工程を用いずに品質のバラツキが小さなスキャナを提供できる。
実施例2:
図4は、本発明の実施例2の光スキャナ素子を示す。図4(a)はその斜視図、(b)は平面図である。図4に示す各構成要素は、ミラーを除き前述した図1のものと同様である。
実施例2では、ミラー1(可動板の内部)に、慣性モーメント調整機構として角形形状の貫通部21(複数の構造物)が形成されている。本実施例のミラーの形成法を説明すると、まず、SOIの2層基板の片面にレジスト膜をスピンコートで形成し、その後、フォトリソグラフィ法でフレーム部5、ミラー部1、梁部3、可動電極部8、固定電極部9、角形貫通部21、分離溝6を形成するフォトマスクを用いてレジストを現像定着し、そのパターンを形成したレジスト膜を用いて、ドライエッチング法で酸化珪素膜面まで形状を形成する。
次いで、SOI基板の反対面に同様にレジスト膜を形成し、フレーム部5、固定電極部9のみを残すパターンのフォトマスクでレジストのパターニングを行った後、ドライエッチングでフレーム部5、固定電極部9を除いた部分を酸化珪素膜面までエッチングする。その後、露出している酸化珪素膜をエッチングで除去し、所定の位置に電極4、7を形成する。
ドライエッチングでの形状の形成時には前述したように設計値と実際の形状がズレる加工誤差が生じ、そのため梁部のバネ定数、ミラーの慣性モーメントが共に、設計値からズレてしまう。
これに対して、実施例2では、ミラー部1に慣性モーメントの変動を調整する慣性モーメント調整機構として貫通部21を設けているので、加工時に全体にオーバーエッチングまたはアンダーエッチングがおこった場合、たとえばオーバーエッチングが起きた場合には、梁3の幅が細くなりバネ定数が設計値KよりΔKだけ小さくなっても、またミラー1が全体に小さくなり、慣性モーメント調整機構により慣性モーメントが設計値Iより(ΔK/K)Iだけ小さくなるので、オーバーエッチングによりバネ常数が設計値からΔKだけずれ、慣性モーメントが設計値からΔIだけズレても、K/I=(K+ΔK)/(I+ΔI)となりバネ常数と慣性モーメントの比は変わらないので、共振周波数は変化しない。同様にアンダーエッチングが起きた場合は、オーバーエッチングとは反対に梁3の幅が太くなり、ミラー1が全体に大きくなるが慣性モーメント調整機構により同様に、バネ常数と慣性モーメントの比は変わらないので、共振周波数は変化しない。
このように、マイクロミラー内のミラーとしての機能に使われない部分に多数の開口部21を設けることで、加工時のバラツキによる影響を抑えることができ、このようなマイクロミラーを用いることにより、コストのかかる調整工程を用いることなく品質のバラツキが小さい光スキャナ素子を提供できる。
実施例3:
図16は、本発明の実施例3の光スキャナ素子を示す。図16(a)はその斜視図、(b)は側面図、(c)は平面図である。図16に示す各構成要素は、ミラーを除き前述した図1のものと同様である。
実施例3では、トーションバーとして作用する梁部3に、バネ常数調整機構として角形形状の貫通部22が形成されている。本実施例のミラーの形成法を説明すると、まず、SOIの2層基板の片面にレジスト膜をスピンコートで形成し、その後、フォトリソグラフィ法でフレーム部5、ミラー部1、梁部3、可動電極部8、固定電極部9、角形貫通部22、分離溝6を形成するフォトマスクを用いてレジストを現像定着し、そのパターンを形成したレジスト膜を用いて、ドライエッチング法で酸化珪素膜面まで形状を形成する。
次いで、SOI基板の反対面に同様にレジスト膜を形成し、フレーム部5、固定電極部9のみを残すパターンのフォトマスクでレジストのパターニングを行った後、ドライエッチングでフレーム部5、固定電極部9を除いた部分を酸化珪素膜面までエッチングする。その後、露出している酸化珪素膜をエッチングで除去し、所定の位置に電極4、7を形成する。
ドライエッチングでの形状の形成時には前述したように設計値と実際の形状がズレる加工誤差が生じ、そのため梁部のバネ定数、ミラーの慣性モーメントが共に、設計値からズレてしまう。
これに対して、実施例3では、梁部3にバネ常数の変動を調整するバネ常数調整機構として貫通部22を設けているので、加工時に全体にオーバーエッチングまたはアンダーエッチングがおこった場合、たとえばオーバーエッチングが起きた場合には、ミラー部1の面積が小さくなり慣性モーメントが設計値IよりΔIだけ小さくなっても、また梁部3の幅も狭くなり、バネ常数調整機構によりバネ常数が設計値Kより(ΔI/I)Kだけ小さくなるので、オーバーエッチングによりバネ常数が設計値からΔKだけずれ、慣性モーメントが設計値からΔIだけズレても、K/I=(K+ΔK)/(I+ΔI)となりバネ常数と慣性モーメントの比は変わらないので、共振周波数は変化しない。同様にアンダーエッチングが起きた場合は、オーバーエッチングとは反対にミラー1の面積が大きくなり、梁3の幅も広くなるがバネ常数調整機構により同様に、バネ常数と慣性モーメントの比は変わらないので、共振周波数は変化しない。
このように、マイクロミラー内のミラーとしての機能に使われない部分に開口部22を設けることで、加工時のバラツキによる影響を抑えることができ、このようなマイクロミラーを用いることにより、コストのかかる調整工程を用いることなく品質のバラツキが小さい光スキャナ素子を提供できる。
上記した実施例1、2、3の光スキャナ素子を用いて図8に示す光走査装置を構成することができる。また、本発明の光スキャナ素子を用いた光走査装置によって、図9、10に示す画像形成装置を構成することができる。
以上、説明したように、本発明により、弾性部材を捻り回転軸としてミラーを往復振動させて光源からの照射光を偏向する光スキャナの部材の加工精度のばらつきによって生じるミラーの共振周波数のばらつきを抑制し、コストのかかる調整工程が無くても(つまり、ΔK、ΔIの調整が不要である構造を採っている)ミラーの振れ角を一定にする光スキャナを有する光走査装置を提供することができる。更には、上記した光走査装置を備え、隣接する光スキャナ間でミラーの振れ角にばらつきを生じることなく、良好な画質の画像形成を行うことができる画像形成装置を提供できる。
本発明の実施例1の光スキャナ素子を示す。 本発明によって共振周波数のバラツキを抑えた図を示す。 本発明のマイクロミラーをステムに実装した状態を示す。 本発明の実施例2の光スキャナ素子を示す。 従来の微小ミラーの例を示す。 光スキャナを実装するステムの例を示す。 光スキャナをステムに実装した状態を示す。 光走査装置の構成の断面を示す。 画像形成装置の一例であるレーザープリンタの概略構成図を示す。 光走査装置と感光体を上から見た図である。 各光スキャナの共振周波数を測定した結果を示す。 従来の光走査装置に用いられる光スキャナの斜視図(a)と断面図(b)を示す。 トーションバーの加工誤差が共振周波数に影響を与えている一例を示す。 共振周波数を調整する第1の従来方法を示す。 共振周波数を調整する第2の従来方法を示す。 本発明の実施例3の光スキャナ素子を示す。
符号の説明
1 ミラー
2 基板
3 トーションバー
4、7 ボンディングパッド
5 固定部材
6 分離溝
8 可動電極
9 固定電極
10 光スキャナ
20 凹凸部

Claims (16)

  1. 基板と、可動板と、該可動板を前記基板に対し揺動可能に支持するトーションバーと、前記基板に一体に形成し、前記トーションバーを支持するフレーム部とを有するスキャナ素子であって、スキャナ素子の設計時の可動板の慣性モーメントがI、トーションバーのバネ定数がKであり、スキャナ素子の作成時の加工工程で可動板の慣性モーメントがI+ΔI、バネ定数がK+ΔKとなるスキャナ素子において、設計時のK/Iと作成時の(K+ΔK)/(I+ΔI)が略等しいことを特徴とするスキャナ素子。
  2. 請求項1記載のスキャナ素子において、加工工程における加工量の変動により、前記トーションバーのバネ定数が設計時の値Kに対してΔK変動した場合に、設計時の可動板の慣性モーメントの設計値Iに対する変動量ΔIが(ΔK/K)Iとなるように作用する慣性モーメント調整機構を、前記可動板または可動板の周囲に具備することを特徴とするスキャナ素子。
  3. 請求項2記載のスキャナ素子において、前記可動板の慣性モーメント調整機構は、スキャナ素子の可動板としての機能を提供する部位とは異なる部位に構成され、加工工程の加工量の変動により慣性モーメントが変動する複数の構造物から構成されていることを特徴とするスキャナ素子。
  4. 請求項3記載のスキャナ素子において、前記複数の構造物の加工工程における加工量の変動による慣性モーメントの変動量がΔI(i) i=1,2,3・・・n(nは構造物の個数:整数)であるとき、ΔI(1)+ΔI(2)+・・・+ΔI(n)=(ΔK/K)Iであるように構造物を可動板または可動板近傍に適宜配置構成したことを特徴とするスキャナ素子。
  5. 請求項1記載のスキャナ素子において、加工工程の加工量の変動により、前記可動板の慣性モーメントが設計時の値Iに対してΔI変動した場合に、設計時のトーションバーのバネ定数の設計値Kに対する変動量ΔKが(ΔI/I)Kとなるように作用するバネ定数調整機構をトーションバーに具備することを特徴とするスキャナ素子。
  6. 請求項1記載のスキャナ素子において、前記可動板およびトーションバーの形状を同一の加工工程によって作製することを特徴とするスキャナ素子。
  7. 請求項6記載のスキャナ素子において、前記同一の加工工程はエッチングによる工程であることを特徴とするスキャナ素子。
  8. 請求項1記載のスキャナ素子において、前記可動板の慣性モーメントの加工時の変動値ΔIは、可動板の加工時のオーバーエッチングまたはアンダーエッチングによる加工誤差によるものであることを特徴とするスキャナ素子。
  9. 請求項1記載のスキャナ素子において、前記トーションバーのバネ定数の加工時の変動値ΔKは、トーションバーの加工時のオーバーエッチングまたはアンダーエッチングによる加工誤差によるものであることを特徴とするスキャナ素子。
  10. 請求項2のスキャナ素子において、前記慣性モーメント調整機構は、前記可動板の周辺に設けた凹凸の形状であることを特徴とするスキャナ素子。
  11. 請求項2のスキャナ素子において、前記慣性モーメント調整機構は、前記可動板の内部に設けた凹部または貫通した穴部であることを特徴とするスキャナ素子。
  12. 請求項6のスキャナ素子において、前記可動板の周辺に凹凸の形状を設けていることを特徴とするスキャナ素子。
  13. 請求項6のスキャナ素子において、前記可動板の内部に凹部または貫通した穴部を設けていることを特徴とするスキャナ素子。
  14. 請求項1乃至13のいずれか1項に記載のスキャナ素子と、光源とを備えることを特徴とする光走査装置。
  15. 請求項14記載の光走査装置と、該光走査装置により静電潜像を形成する感光体と、該静電潜像をトナーにより顕像化する現像手段と、トナー像を用紙に転写する転写手段とを備えることを特徴とする画像形成装置。
  16. 請求項15記載の画像形成装置において、請求項8記載の光走査装置を複数搭載していることを特徴とする画像形成装置。
JP2005269244A 2004-11-25 2005-09-15 スキャナ素子、光走査装置および画像形成装置 Pending JP2006178408A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005269244A JP2006178408A (ja) 2004-11-25 2005-09-15 スキャナ素子、光走査装置および画像形成装置
US11/282,655 US7315410B2 (en) 2004-11-25 2005-11-21 Scanner element having a constant resonance frequency, and optical scanning apparatus and image forming apparatus using such a scanner element

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004340129 2004-11-25
JP2005269244A JP2006178408A (ja) 2004-11-25 2005-09-15 スキャナ素子、光走査装置および画像形成装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006178408A true JP2006178408A (ja) 2006-07-06

Family

ID=36595342

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005269244A Pending JP2006178408A (ja) 2004-11-25 2005-09-15 スキャナ素子、光走査装置および画像形成装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7315410B2 (ja)
JP (1) JP2006178408A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008090921A1 (ja) * 2007-01-26 2008-07-31 Panasonic Electric Works Co., Ltd. 光走査ミラーと、半導体構造及びその製造方法
JP2008181042A (ja) * 2007-01-26 2008-08-07 Matsushita Electric Works Ltd 半導体構造及びその製造方法
JP2008181040A (ja) * 2007-01-26 2008-08-07 Matsushita Electric Works Ltd 光走査ミラー
JP2008254162A (ja) * 2006-06-07 2008-10-23 Canon Inc 揺動体装置、光偏向器、及びそれを用いた光学機器
JP2010002636A (ja) * 2008-06-19 2010-01-07 Canon Electronics Inc 光走査装置
JP2011095290A (ja) * 2009-10-27 2011-05-12 Seiko Epson Corp 光偏向素子、光偏向器、及び画像形成装置

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4881073B2 (ja) * 2006-05-30 2012-02-22 キヤノン株式会社 光偏向器、及びそれを用いた光学機器
JP5098254B2 (ja) * 2006-08-29 2012-12-12 富士通株式会社 マイクロ揺動素子
US7898561B2 (en) * 2007-01-26 2011-03-01 Miradia Inc. MEMS mirror system for laser printing applications
JP2008197452A (ja) 2007-02-14 2008-08-28 Canon Inc 光走査装置及びそれを用いた画像形成装置
US7619802B2 (en) * 2007-04-26 2009-11-17 Microvision, Inc. Suspension for maintaining mirror flatness of a MEMS device in a scanner system or the like
US7550713B2 (en) * 2007-04-26 2009-06-23 Microvision, Inc. System for determining an operational state of a MEMS based laser scanner
JP4477659B2 (ja) * 2007-06-29 2010-06-09 富士通株式会社 マイクロ揺動素子およびマイクロ揺動素子アレイ
JP5432440B2 (ja) * 2007-07-04 2014-03-05 キヤノン株式会社 揺動体装置
JP2009134243A (ja) * 2007-10-30 2009-06-18 Canon Inc 揺動体装置の製造方法、該製造方法により製造された揺動体装置によって構成される光偏向器及び光学機器
WO2009057801A1 (en) * 2007-10-30 2009-05-07 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing oscillator device, and optical deflector and optical instrument with oscillator device based on it
JP2009163198A (ja) * 2007-12-10 2009-07-23 Canon Inc 揺動体装置の製造方法、光偏向器、画像形成装置
WO2009075381A1 (en) * 2007-12-10 2009-06-18 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing oscillator device, and optical deflector and image forming apparatus
US8546995B2 (en) * 2009-11-06 2013-10-01 Opus Microsystems Corporation Two-dimensional micromechanical actuator with multiple-plane comb electrodes
US10349543B2 (en) * 2013-02-22 2019-07-09 Vibrant Composites Inc. Layered assemblies
JP2015230989A (ja) 2014-06-05 2015-12-21 株式会社リコー 撮像モジュール及び撮像装置
EP3447560B1 (en) * 2017-08-23 2021-02-24 Murata Manufacturing Co., Ltd. A mems reflector system

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001519726A (ja) * 1997-04-01 2001-10-23 クセロス・インク 微細加工捩り振動子の動的特性の調整
JP2002040353A (ja) * 2000-07-25 2002-02-06 Miyota Kk ガルバノ装置の製造方法及びガルバノ装置
JP2002228965A (ja) * 2001-01-31 2002-08-14 Miyota Kk ガルバノ装置の製造方法
JP2003084226A (ja) * 2001-09-14 2003-03-19 Ricoh Co Ltd 光走査装置
JP2003241134A (ja) * 2002-02-15 2003-08-27 Ricoh Co Ltd 光走査装置、その製造方法、その光走査装置を具備する画像形成装置、及び読取装置
WO2004017119A1 (ja) * 2002-08-14 2004-02-26 Fujitsu Limited トーションバーを備えるマイクロ揺動素子
JP2004109651A (ja) * 2002-09-19 2004-04-08 Ricoh Co Ltd 光走査装置、光書き込み装置及び画像形成装置
JP2004219889A (ja) * 2003-01-17 2004-08-05 Ricoh Co Ltd 振動ミラー、振動ミラーの製造方法、光走査装置、光書込装置および画像形成装置

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2203894B (en) 1987-03-03 1990-11-21 Fumio Inaba Surface emission type semiconductor light-emitting device
JPH08139366A (ja) 1994-11-11 1996-05-31 Ricoh Co Ltd 発光素子およびアレイ状光源並びにその製造方法および光信号送信装置
US6577332B2 (en) 1997-09-12 2003-06-10 Ricoh Company, Ltd. Optical apparatus and method of manufacturing optical apparatus
US6476551B1 (en) 1998-01-30 2002-11-05 Ricoh Company, Ltd. LED array head and minute reflection optical elements array for use in the LED array head
JP4516673B2 (ja) 2000-07-28 2010-08-04 シチズンファインテックミヨタ株式会社 プレーナ型ガルバノミラーの製造方法
JP2002127492A (ja) 2000-10-27 2002-05-08 Ricoh Co Ltd 光書き込みユニットおよび光書き込みユニットの検査装置
US6657765B2 (en) 2001-03-01 2003-12-02 Ricoh Company, Ltd. Optical deflecting unit, optical scanning unit, image forming apparatus, and method of producing optical unit
US7423787B2 (en) 2001-03-01 2008-09-09 Ricoh Company, Ltd. Optical scanning module, device, and method, and imaging apparatus
US7170660B2 (en) 2001-04-24 2007-01-30 Ricoh Company, Ltd. Optical scanner and image forming device
US7593029B2 (en) 2001-08-20 2009-09-22 Ricoh Company, Ltd. Optical scanning device and image forming apparatus using the same
US6972883B2 (en) 2002-02-15 2005-12-06 Ricoh Company, Ltd. Vibration mirror, optical scanning device, and image forming using the same, method for making the same, and method for scanning image
US7532227B2 (en) 2002-07-02 2009-05-12 Ricoh Company, Ltd. Optical scanner and image forming apparatus
US7031040B2 (en) 2003-05-16 2006-04-18 Ricoh Company, Ltd. Optical scanning apparatus, optical writing apparatus, image forming apparatus, and method of driving vibration mirror
JP2005024722A (ja) 2003-06-30 2005-01-27 Ricoh Co Ltd 振動ミラー、光走査装置および画像形成装置
US7529011B2 (en) 2004-04-12 2009-05-05 Ricoh Company, Ltd. Deflector mirror with regions of different flexural rigidity
JP4653473B2 (ja) * 2004-08-06 2011-03-16 株式会社リコー 光走査装置・画像形成装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001519726A (ja) * 1997-04-01 2001-10-23 クセロス・インク 微細加工捩り振動子の動的特性の調整
JP2002040353A (ja) * 2000-07-25 2002-02-06 Miyota Kk ガルバノ装置の製造方法及びガルバノ装置
JP2002228965A (ja) * 2001-01-31 2002-08-14 Miyota Kk ガルバノ装置の製造方法
JP2003084226A (ja) * 2001-09-14 2003-03-19 Ricoh Co Ltd 光走査装置
JP2003241134A (ja) * 2002-02-15 2003-08-27 Ricoh Co Ltd 光走査装置、その製造方法、その光走査装置を具備する画像形成装置、及び読取装置
WO2004017119A1 (ja) * 2002-08-14 2004-02-26 Fujitsu Limited トーションバーを備えるマイクロ揺動素子
JP2004109651A (ja) * 2002-09-19 2004-04-08 Ricoh Co Ltd 光走査装置、光書き込み装置及び画像形成装置
JP2004219889A (ja) * 2003-01-17 2004-08-05 Ricoh Co Ltd 振動ミラー、振動ミラーの製造方法、光走査装置、光書込装置および画像形成装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008254162A (ja) * 2006-06-07 2008-10-23 Canon Inc 揺動体装置、光偏向器、及びそれを用いた光学機器
WO2008090921A1 (ja) * 2007-01-26 2008-07-31 Panasonic Electric Works Co., Ltd. 光走査ミラーと、半導体構造及びその製造方法
JP2008181042A (ja) * 2007-01-26 2008-08-07 Matsushita Electric Works Ltd 半導体構造及びその製造方法
JP2008181040A (ja) * 2007-01-26 2008-08-07 Matsushita Electric Works Ltd 光走査ミラー
US8164812B2 (en) 2007-01-26 2012-04-24 Panasonic Corporation Optical scanning mirror, semiconductor structure and manufacturing method thereof
JP2010002636A (ja) * 2008-06-19 2010-01-07 Canon Electronics Inc 光走査装置
JP2011095290A (ja) * 2009-10-27 2011-05-12 Seiko Epson Corp 光偏向素子、光偏向器、及び画像形成装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20060132883A1 (en) 2006-06-22
US7315410B2 (en) 2008-01-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006178408A (ja) スキャナ素子、光走査装置および画像形成装置
JP2006099045A (ja) スキャナ素子、スキャナ素子の調整方法、光走査装置および画像形成装置
JP3203277B2 (ja) 共振ミラーとその製造法
US7417780B2 (en) Vibration mirror, optical scanning device, and image forming using the same, method for making the same, and method for scanning image
JP4390174B2 (ja) 光走査装置
US7643197B2 (en) Method of manufacturing oscillator device, and optical deflector and optical instrument having oscillator device
JP5400925B2 (ja) 揺動体装置、光偏向器、及びそれを用いた光学機器
KR20070117487A (ko) 진동자 장치, 광 편향기 및 그를 이용한 광학기기
JP2011095290A (ja) 光偏向素子、光偏向器、及び画像形成装置
JP2008070863A (ja) 振動ミラー、光書込装置および画像形成装置
JP2009058577A (ja) 揺動体装置及びその製造方法、光偏向器、画像形成装置
KR20020044377A (ko) 마이크로미러 액튜에이터
JP2009069675A (ja) 光スキャナ、光走査装置、画像形成装置及び光スキャナの製造方法
JP2009031642A (ja) 揺動体装置、光偏向器およびそれを用いた画像形成装置
US8324113B2 (en) Silicon processing method and silicon substrate with etching mask
US20100118370A1 (en) Oscillating body apparatus and manufacturing method thereof, optical deflector and image forming apparatus
JP4838698B2 (ja) 露光装置およびデバイス製造方法
JP2003005124A (ja) 可動板の変位検出機能を備えた光偏向器、及び光偏向器を用いた光学機器
JP2007241169A (ja) スキャナ配列基板、被覆素子配列基板、光走査装置および画像形成装置
JP2009031643A (ja) 揺動体装置、光偏向器およびそれを用いた画像形成装置
JP2006154315A (ja) 静電櫛歯型揺動体装置、及びその作製方法
JP2008020540A (ja) 光走査装置及び画像形成装置
JP2009058580A (ja) 揺動体装置及びその製造方法、光偏向器、画像形成装置
JP2004333803A (ja) 光走査装置および画像形成装置
TW200946957A (en) Method of manufacturing oscillator device, and optical deflector and image forming apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080910

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101203

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101222

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110216

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110309