JP2005531781A - 走査型プローブ顕微鏡 - Google Patents
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Abstract
Description
好ましくは、プローブ検出機構は、プローブと試料との間の界面の両端間に、その特性を調節して電気容量に影響を及ぼすために、変調電圧を印加するように構成された変調信号生成器と、プローブ及び試料を組み込んだ回路における共振電界を確立するように構成された共振器と、この電界の共振周波数を測定して、変調電圧が印加されるときの界面のキャパシタンスの変化が測定されるように構成された検出器とを備える。本発明のこの実施形態の利点は、この実施形態が、走査型キャパシタンス顕微鏡においてキャパシタンスを測定するための極めて感度のよい技術を提供することである。
第2の態様では、本発明は、ナノメートル・スケールの形状を有する試料の走査範囲から画像データを迅速に収集する方法を提供する。この方法は、
(a)サブナノメートルの寸法の先端を持つプローブを、プローブと試料との間で相互作用が確立されるように、試料の近傍に移動させるステップと、
(b)プローブを、試料の表面を横切って、その共振周波数又はその共振周波数付近で振動させるか、或いは、プローブの下の試料を、その共振周波数又はその共振周波数付近で振動させて、振動の振幅により最大長が決まる或る走査ラインの配列が走査範囲をカバーするように、プローブと表面とを相対的に移動させるステップと、
(c)相互作用の強度を示すパラメータを測定するステップと、
(d)ステップ(c)で測定されるパラメータ、或いは、これもまたプローブと試料との間の相互作用を示すものである第2パラメータを監視し、この監視パラメータの値が、所定の設定値よりも小さくなるか或いは大きくなる場合、プローブと試料との分離間隔を調整して、この監視パラメータの値を設定値へ向かって戻すステップと、
(e)ステップ(c)で取得された測定値を処理して、試料のナノメートル・スケールの構造に関係する情報を抽出するステップと
を含む。
図3に、本発明によるSPMの代替実施形態が示されている。この実施形態は、プローブと試料の分離が、1つのパラメータを監視することによって制御され、相互作用が、別のパラメータを用いて測定される態様の1つである。これは、原子間力顕微鏡(AFM)に基づくものであり、単一のパラメータのみを画像及びフィードバックに適合させていることが当業者には明らかであろう。
Claims (23)
- 試料(12)とプローブ(20、54)との間の相互作用に従って前記試料(12)を画像化する走査型プローブ顕微鏡(10、50)であって、
前記プローブ(20、54)と前記試料の表面とを相対的に移動させるように構成され、且つ前記試料(12)とプローブ(20、54)との間で検出可能な相互作用が確立されるのに十分な近接した状態に、前記試料(12)とプローブ(20、54)とをもっていくことができる駆動手段(16、18、22)と、
前記プローブ(20、54)又は前記試料(12)の何れかを振動させて、前記表面を横切る前記プローブ(20、54)の相対的な振動運動を提供する手段(22、52)と、
前記プローブ(20、54)と前記試料(12)との間の前記相互作用の強度を示す少なくとも1つのパラメータを測定するように構成されたプローブ検出機構(24、56、58)と、
前記少なくとも1つのパラメータのうちの1つのパラメータの平均値が、所定の設定値から離れるように変化することに応答して、前記駆動手段(16、22)の動作を介して、前記プローブと前記試料の分離を調整するように構成されたフィードバック機構(26)と
を備え、
前記顕微鏡(10、50)が、動作時に、前記試料の表面の走査を実行するように構成され、走査範囲は走査ラインの配列によりカバーされ、各走査ラインは、前記プローブ(20、54)又は前記試料(12)の何れかを、その共振周波数又はその共振周波数付近で振動させることによって集められ、振動の振幅が最大走査ライン長を決め、前記走査ラインの配列が前記駆動手段(16、22)の動作によって形成される、
ことを特徴とする顕微鏡。 - 請求項1に記載の顕微鏡であって、前記プローブが金属であり、前記相互作用を示す前記パラメータが、前記プローブと前記試料との界面のキャパシタンスである、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項1に記載の顕微鏡であって、前記相互作用を示す前記パラメータが振動の振幅である、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項2に記載の顕微鏡であって、前記相互作用を示し且つ前記フィードバック機構(26)の動作の基となる第2パラメータが振動の振幅である、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項2又は4に記載の顕微鏡であって、前記プローブ検出機構(24、56、58)が、前記プローブ(20、54)と前記試料(12)との間の界面の両端間に、前記界面の特性を変調して前記界面の電気容量に影響を及ぼすために変調電圧を印加するように構成された変調信号生成器(48)と、前記プローブ(20、54)及び前記試料(12)を組み込んだ回路において共振電界を確立するように構成された共振器(42)と、前記電界の共振周波数を測定して、前記変調電圧が印加されるときに前記界面の前記キャパシタンスの変化が測定され得るように構成された検出器(46)とを備える、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項1に記載の顕微鏡であって、前記プローブ(20)が、磁界と相互作用するように適合され、前記プローブ検出機構(24、56、58)が、前記プローブ(20、52)と前記試料(12)との間の磁気的な相互作用を示すパラメータを測定するように構成される、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項1に記載の顕微鏡であって、前記プローブ(20)が、カンチレバーと、前記カンチレバーを「タッピング」モードで駆動するように構成されたアクチュエータとを備える、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項7に記載の顕微鏡であって、前記相互作用の強度を示す前記パラメータが、前記カンチレバーが前記試料(12)をたたくときの前記カンチレバーの曲がりである、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項1に記載の顕微鏡であって、前記プローブ(54)がAFMのカンチレバーであり、前記プローブ検出機構(24、56、58)によって測定され且つ前記フィードバック機構(26)によって用いられる前記相互作用の前記強度を示す前記少なくとも1つのパラメータのうちの前記1つのパラメータが、前記プローブ(54)の曲がりである、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項9に記載の顕微鏡であって、前記プローブ検出機構(24、56、58)が、前記プローブ(54)と前記試料(12)との間の前記相互作用の強度を示す少なくとも1つのパラメータを測定するように構成された相互作用検出機構(56)と、前記フィードバック機構(26)にリンクされ且つ前記プローブ(54)の曲がりを測定するように構成された偏差検出機構(58)とを備える、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項9又は10に記載の顕微鏡であって、前記プローブ(54)が、前記カンチレバーを「タッピング」モードで駆動するように構成されたアクチュエータを備える、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項1ないし11の何れかに記載の顕微鏡であって、前記駆動手段(22)が、前記プローブ(20)を振動させるように構成される、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項12に記載の顕微鏡であって、前記駆動手段(22)が音叉を含む、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項1ないし11の何れかに記載の顕微鏡であって、前記プローブ又は前記試料の何れかを振動させる前記手段(22、52)が、前記試料(12)を振動させるように構成される、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項14に記載の顕微鏡であって、前記試料を振動させる前記手段が音叉(52)であり、前記試料(12)が前記音叉に取り付けられる、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項1ないし15の何れかに記載の顕微鏡であって、前記フィードバック機構(26)は、時定数を用いて動作するものであり、該時定数は、プローブの振動の1サイクルよりも長く、走査を実施するのにかかる総時間よりもかなり短いものである、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項12又は13に記載の顕微鏡であって、前記プローブが実質的に垂直に向けられ、前記駆動手段(16、22)が、前記プローブ(20)と前記試料(12)とを、前記プローブが振動する面に実質的に直交する方向に、相対的に線形的に並進移動させ、それによって実質的に矩形の走査範囲を画定するように構成される、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項12又は13に記載の顕微鏡であって、前記プローブが実質的に水平に向けられ、前記駆動手段(16、22)が、前記プローブ(20)と前記試料(12)とを、前記振動の軸に実質的に平行な方向に相対的に線形的に並進移動させ、それによって実質的に矩形の走査範囲を画定するように構成される、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項12又は13に記載の顕微鏡であって、前記プローブが実質的に垂直に向けられ、前記駆動手段(16、22)が、前記プローブ(20)と前記試料(12)とを、前記プローブ(20)が振動する軸と実質的に一致する軸について相対的に回転させ、それによって円形配列の走査ラインで前記走査範囲をカバーするように構成される、ことを特徴とする顕微鏡。
- 請求項1ないし19の何れかに記載の顕微鏡であって、前記顕微鏡は、半導体デバイスの電荷分布を監視するように適合される、ことを特徴とする顕微鏡。
- ナノメートル・スケールの形状を有する試料(12)の走査範囲から画像データを迅速に収集する方法であって、
(a)サブナノメートルの寸法の先端を有するプローブ(20、54)を、前記プローブ(20、54)と試料(12)との間で相互作用が確立され得るように、前記試料(12)の近傍に移動させるステップと、
(b)前記試料(12)の表面を横切って前記プローブ(20、54)を、その共振周波数又はその共振周波数付近で振動させるか、或いは、前記プローブ(20、54)の下の前記試料(12)を、その共振周波数又はその共振周波数付近で振動させ、前記プローブ(20、54)と表面との間での相対的な運動を提供し、振動の振幅によって最大長が決まる走査ラインの配列が前記走査範囲をカバーするようにするステップと、
(c)前記相互作用の強度を示すパラメータを測定するステップと、
(d)前記ステップ(c)で測定される前記パラメータ、或いは、やはり前記プローブ(20、54)と前記試料(12)との間の相互作用を示す第2パラメータを監視し、監視した前記パラメータの値が、所定の設定値よりも小さくなるか又は大きくなる場合に、前記プローブ(20、54)と前記試料(12)との分離間隔を調整して、監視した前記パラメータの値を前記設定値に向かって戻すステップと、
(e)前記ステップ(c)で取得された測定値を処理して、前記試料の前記ナノメートル・スケールの構造に関係する情報を抽出するステップと
を備える方法。 - 試料とAFMのカンチレバー・プローブとの間の相互作用によって前記試料に情報を書き込む走査型プローブ顕微鏡であって、
前記プローブと前記試料の表面との間の相対的運動を提供し、且つ前記試料と前記プローブとを近づけることができるように構成される駆動手段と、
前記プローブ又は前記試料の何れかを振動させて、前記表面を横切る前記プローブの相対的な振動運動を提供する手段と、
プローブ又は試料の振動の1周期よりも短い時間尺度で、前記プローブと前記試料との間の前記相互作用の強度を間欠的に変えて、前記プローブが位置する前記試料の表面の特性を間欠的に変化させるように構成される、プローブによる書込み機構と
を備える走査型プローブ顕微鏡において、
前記顕微鏡が、動作時に、前記試料の表面の書込み走査を実行するように構成され、走査範囲は、書込みラインの配列によってカバーされ、各書込みラインは、前記プローブ又は前記試料の何れかを、その共振周波数又はその共振周波数付近で振動させることによって集められ、振動の振幅が最大走査ライン長を決め、前記走査ラインの配列は前記駆動手段の動作によって与えられる、
ことを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。 - 請求項22に記載の、試料に情報を書き込む走査型プローブ顕微鏡であって、前記プローブと前記試料との間の前記相互作用の強度を示す少なくとも1つのパラメータを測定するように構成されたプローブ検出機構と、前記少なくとも1つのパラメータのうちの1つのパラメータの平均値が所定の設定値から離れるように変化することに応答して、前記駆動手段の動作を介して、前記プローブと前記試料との分離を調整するように構成されたフィードバック機構とを更に含み、前記平均値は、前記プローブ又は前記試料の振動の1周期の時間間隔よりも長い時間間隔にわたって取得される、ことを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB0215581A GB0215581D0 (en) | 2002-07-04 | 2002-07-04 | Scanning probe microscope |
GB0310344A GB0310344D0 (en) | 2003-05-06 | 2003-05-06 | Scanning probe microscope |
PCT/GB2003/002903 WO2004005844A2 (en) | 2002-07-04 | 2003-07-04 | Scanning probe microscope |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010106324A Division JP2010210636A (ja) | 2002-07-04 | 2010-05-06 | 走査型プローブ顕微鏡 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005531781A true JP2005531781A (ja) | 2005-10-20 |
Family
ID=30117097
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004518977A Pending JP2005531781A (ja) | 2002-07-04 | 2003-07-04 | 走査型プローブ顕微鏡 |
JP2010106324A Pending JP2010210636A (ja) | 2002-07-04 | 2010-05-06 | 走査型プローブ顕微鏡 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010106324A Pending JP2010210636A (ja) | 2002-07-04 | 2010-05-06 | 走査型プローブ顕微鏡 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7473887B2 (ja) |
EP (1) | EP1540270A2 (ja) |
JP (2) | JP2005531781A (ja) |
KR (1) | KR100961571B1 (ja) |
CN (1) | CN1304867C (ja) |
AU (1) | AU2003242859A1 (ja) |
CA (1) | CA2491404C (ja) |
RU (1) | RU2334214C2 (ja) |
WO (1) | WO2004005844A2 (ja) |
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- 2003-07-04 WO PCT/GB2003/002903 patent/WO2004005844A2/en active Application Filing
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060629 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081201 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090302 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090309 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090601 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100104 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100506 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20100628 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20100813 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20101130 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20101203 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110630 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110705 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20121122 |