JPH05342648A - 情報読取り及び/又は入力装置 - Google Patents

情報読取り及び/又は入力装置

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JPH05342648A
JPH05342648A JP17616992A JP17616992A JPH05342648A JP H05342648 A JPH05342648 A JP H05342648A JP 17616992 A JP17616992 A JP 17616992A JP 17616992 A JP17616992 A JP 17616992A JP H05342648 A JPH05342648 A JP H05342648A
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JP
Japan
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probe
scanning
recording
voltage
electrode
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Application number
JP17616992A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunihiro Sakai
邦裕 酒井
Katsuhiko Shinjo
克彦 新庄
Katsunori Hatanaka
勝則 畑中
Harunori Kawada
春紀 河田
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPH05342648A publication Critical patent/JPH05342648A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 より正確な情報の読取り及び/又は入力を行
う。 【構成】 高精度のXYステージ10の上に取り付けら
れたZ方向の粗動を行う粗動機構11により記録媒体1
2が支持され、記録媒体12に対向して白金製のプロー
ブ電極16が、微動機構17により支持されている。基
板電極14とプローブ電極16には電源18及びトンネ
ル電流を検出しサーボ回路21とマイクロコンピュータ
19に伝達するプローブ電流増幅器22が接続され、マ
イクロコンピュータ19が電源18に、またXY方向走
査駆動回路20を介して微動機構17のXY方向駆動用
の圧電素子に接続されており、サーボ回路21を介して
微動機構17のZ方向駆動用の圧電素子に接続されてい
る。サーボ回路21はトンネル電流が一定になるように
微動機構17を制御する。XY方向走査駆動回路20は
走査における折り返し点において角部が生じないように
プローブ電極16を駆動する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、試料面に対向して配置
したプローブを走査させながらこの試料面に対して情報
読取り及び/又は入力を行う情報読取り及び/又は入力
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、メモリ材料の用途は、コンピュー
タ及びその関連機器、ビデオディスク、ディジタルオー
ディオディスク等のエレクトロニクス産業の中核をなす
ものであり、その材料開発も極めて活発に進んでいる。
メモリ材料に要求される性能は用途により異なるが、一
般的には、(1) 高密度で記録容量が大きい、(2) 記録再
生の応答速度が早い、(3) 消費電力が少ない、(4) 生産
性が高く価格が安い、等の利点が上げられる。
【0003】従来までは、磁性体や半導体を素材とした
半導体メモリや磁気メモリが主であったが、近年レーザ
ー技術の進展に伴ない、有機色素、フォトポリマ等の有
機薄膜を用いた光メモリによる安価で高密度な記録媒体
が登場してきた。
【0004】一方、最近では導体の表面原子の電子構造
を直接観察できる走査型トンネル顕微鏡(以後STMと
云う)が開発され[G.Binnig et.al., Helvetica Physic
a Acta, 55,726(1982)] 、単結晶、非晶質を問わず実空
間像の高い分解能の測定ができるようになり、しかも電
流による損傷を媒体に与えずに低電力で観察できる利点
をも有し、更に大気中でも動作し、種々の材料に対して
用いることができるため広範囲な応用が期待されてい
る。
【0005】STMは金属の探針と導電性物質の間に電
圧を加えて1nm程度の距離まで近付けるとトンネル電
流が流れることを利用している。この電流は両者の距離
変化に極めて敏感であり、トンネル電流を一定に保つよ
うに探針を走査することにより実空間の表面構造を描く
ことができると同時に、表面原子の全電子雲に関する種
々の情報をも読み取ることができる。STMを用いた解
析は導電性試料に限られるが、導電性材料の表面に非常
に薄く形成された単分子膜の構造解析にも応用され始め
ており、個々の有機分子の状態の違いを利用した高密度
記録の再生技術としての応用も考えられている。
【0006】このSTMの原理を用いて、記録媒体上に
電子状態の変化を起こして、nmオーダで記録再生する
方法が、例えば特開昭63−161552号公報、特開
昭63−161553号公報等に提案されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このようなSTMの原
理を用いた記録再生において、その記録或いは再生の具
体的方法としては、記録媒体に対向して配置したプロー
ブを、記録媒体に対し相対的に往復動走査させながら、
このプローブを用いて記録再生動作を行うことが考えら
れる。
【0008】本発明の目的は、プローブを相対的に往復
動させながら、このプローブで情報読取り及び/又は入
力を行う装置において、より正確な情報読取り及び/又
は入力を行うことが可能な情報読取り及び/又は入力装
置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めの本発明に係る情報読取り及び/又は入力装置は、試
料面に対向して配置したプローブを前記試料面に対して
相対的に折り返し走査させながら、前記試料面からの情
報読取り及び/又は前記試料面への情報入力を行う装置
において、前記プローブを前記試料面に対して相対的に
連続して折り返し走査させる駆動手段と、主として基本
波及び5次以下の高調波によって構成される折り返し走
査信号によって前記駆動手段を制御する制御手段とを設
けたことを特徴とするものである。
【0010】
【作用】上述の構成を有する情報読取り及び/又は入力
装置は、プローブの相対的往復駆動の折り返し時に、プ
ローブに急激な方向変化による微小振動が発生し難い。
従って、この微小振動による読取り又は入力時のプロー
ブの振れを防止し、より正確な情報読取り及び/又は入
力が可能となる。
【0011】
【実施例】本発明を図1〜図10に図示の実施例に基づ
いて詳細に説明する。図1は本発明の第1の実施例に係
る記録再生装置を示すブロック回路構成図であり、記録
位置の移動のための任意方向に高精度で動く任意方向に
XYステージ10の上にZ方向の粗動を行う粗動機構1
1が取り付けられ、粗動機構11の上に記録媒体12が
載置されている。記録媒体12は基板13の上にAuで
基板電極14を形成し、その上にスクアリリュウム−ビ
ス−6−オクチルアズレン(以下SOAZと略す)の8
層のLB膜から成る記録層15を形成したものである。
記録層15に対向して白金製のプローブ電極16が圧電
素子を用いた微動機構17に支持され、XYZ何れの方
向にも微動可能とされている。
【0012】基板電極14とプローブ電極16には記録
層15に電圧を印加するための電源18が接続され、電
源18に接続しているマイクロコンピュータ19によっ
て、記録/消去時には記録/消去用のパルス電圧を発生
し、再生時には情報再生用の一定電圧を発生するように
なっている。マイクロコンピュータ19はXY方向走査
駆動回路20を介して微動機構17のXY方向駆動用の
圧電素子に接続されており、更にサーボ回路21を介し
て微動機構17のZ方向駆動用の圧電素子に接続されて
いる。
【0013】基板電極14とプローブ電極16にはプロ
ーブ電流増幅器22が接続され、プローブ電極16から
基板電極14に流れるトンネル電流を検出かつ増幅し、
サーボ回路21とマイクロコンピュータ19に伝えるよ
うになっている。サーボ回路21は再生時にはトンネル
電流が一定になるように微動機構17を制御し、記録/
消去時にはパルス電圧を印加する時にプローブ電流が急
激に変化するので、その間は出力電圧が一定になるよう
にホールド回路を作動させながら、同様にトンネル電流
が一定になるように微動機構17を制御するようになっ
ている。また、マイクロコンピュータ19には粗動機構
11を駆動するZ方向粗動駆動回路23と、再生情報の
表示等を行う表示手段24にも接続されている。
【0014】XY方向走査駆動回路20はXY方向にプ
ローブ電極16を移動させるように微動機構17を制御
する。粗動機構11と粗動駆動回路23は、予め10-9
アンペア程度のプローブ電流が得られるように、プロー
ブ電極16と記録媒体12との距離を粗動制御する。こ
れらの各機器は、全てマイクロコンピュータ19により
制御されている。
【0015】プローブ電極16はサーボ回路21により
記録層15の表面との距離zを制御するために、トンネ
ル電流を一定に保つように微動機構17のZ方向圧電素
子により微動制御されている。また、微動機構17は距
離zを一定に保ったままXY平面内にも微動制御できる
ようにされている。微動機構17のXY方向の駆動は圧
電素子によってなされ、この圧電素子はXY方向走査駆
動回路20からの指令信号としての走査電圧に比例し
て、X方向とY方向が独立に変位する。即ち、プローブ
電極16は圧電素子に印加された走査電圧の変化量に比
例した量だけ駆動されて、記録、再生等の時の記録層1
5の表面に沿って往復動走査を行う。
【0016】次に、Auで形成した基板電極14の上に
形成されたSOAZのLB膜を用いた場合の記録・再生
・消去について述べると、SOAZの8層を累積した記
録層15を持つ記録媒体12に対し、先ず目視によりプ
ローブ電極16の位置を決め、確実に固定する。アース
側の基板電極14とプローブ電極16の間に電圧を印加
し、プローブ電流増幅器22で得られるトンネル電流を
モニタしながらプローブ電極16と記録層15の表面と
の距離zを調整する。
【0017】続いて、再生時にはプローブ電極16と基
板電極14との間に電気メモリ効果を生ずる閾値電圧を
越えていない電圧の読取用電圧を印加して、後述するよ
うにプローブ電極16を往復動させ、この時のサーボ回
路21の制御電圧をマイクロコンピュータ19に送るこ
とにより情報再生を行う。記録時には、この往復動中に
オン状態を生ずる閾値電圧を越えるパルス電圧を印加
し、消去時には逆にオフ状態を生ずる閾値電圧を越える
パルス電圧を印加する。
【0018】図2はXY方向走査駆動回路20のブロッ
ク回路図である。プローブ電極16の走査タイミングを
制御する走査制御ロジック回路26は、マイクロコンピ
ュータ19の指令に応じて、X方向の走査を制御するX
カウンタ27とY方向の走査を制御するYカウンタ28
にクロック信号CLK を伝達する。Xカウンタ27はクロ
ック信号CLK に従いカウントアップ動作を行い、nクロ
ックカウント後にリセットされ、再び零からカウントア
ップする。Yカウンタ28はクロック信号CLKを1/m
(ただし、m≪n)に分周したクロック信号によりカウ
ントアップする。X走査ROM29はXカウンタ27の
カウント出力をX走査電圧データに変換し、Y走査RO
M30はYカウンタ28のカウント出力をY走査電圧デ
ータに変換する。
【0019】このX走査ROM29には、Nクロックカ
ウントに対して波形関数のフーリエ級数が次の式で表現
されて、予め書き込まれている。 f(φ)=sin(φ) +A・sin( 2φ) +B・sin( 3φ) +C・sin( 4φ) +D・sin( 5φ) (ただし、φ=2πN/n、A〜Dは1以下の定数)
【0020】定数A〜Dはクロックに対する変化量が比
較的一定となるように、つまりリニアリティが高くなる
ように好適な値を選ぶことができ、本実施例ではA=
0.3、B=0.06、C=0、D=0としている。こ
のA〜Dの値が大きいと前述の微小振動を引き起こし易
く、高次の項(B、C、D)においてこの傾向は著しく
なる。Bは0.3以下が望ましく、更には0.1以下が
好ましい。なお、Dは0.1以下が好ましい。6次以上
の高次の項sin(6φ) 〜は駆動部の固有振動に影響を与
え易いので、上述のような波形で振動させることにより
微小振動を防止する効果がある。勿論、定数が十分に小
さければ6次以上の高次項を含むことは問題とはならな
い。
【0021】X走査ROM29、Y走査ROM30の出
力はそれぞれD/A変換器31x、31y及びホルダ3
2x、32yを介してドライバ33x、33yに接続さ
れている。D/A変換器31x、31yはX走査ROM
29及びY走査ROM30の走査電圧データをアナログ
電圧に変換する。ホルダ32x、32yはD/A変換器
の離散的な変換出力からグリッジを取り除き、滑らかな
アナログ信号にするものであるが、クロック周波数がX
Y走査周波数に比べ十分に高いため、通常用いられてい
る1次のローパスフィルタに置きかえても十分に使用可
能である。ドライバ33x、33yはそれぞれホルダ3
2x、32yの出力に応じて、X方向及びY方向微動用
の圧電素子の駆動に必要な走査電圧Vx、Vyを微動機構1
7に供給する。
【0022】図3はXY方向走査駆動回路20における
走査電圧Vx、Vyのタイミングチャート図を示している。
上述のデータを書き込んだX走査ROM29を用いるこ
とにより、電圧波形VxがD/A変換器31xから出力さ
れる。Y走査ROM30には、a、b区間とc、d区間
では滑らかな反転波形のデータが予め書き込まれてお
り、b、c区間とd、a区間では直線的に変化するデー
タが予め書き込まれているので、D/A変換器7の出力
は電圧波形Vyとなる。走査電圧発生のタイミングは、走
査制御ロジック回路26により生成されるクロック信号
CLK により得られる。
【0023】図4はこのXY方向走査駆動回路20によ
る記録層15上でのプローブ電極16の走査軌跡の例を
示している。ここで15aは記録ビット、15bはプロ
ーブ電極16の走査軌跡である。このように走査の折り
返し点でプローブ電極16の軌跡15bは滑らかに反転
する。即ち、プローブ電極16の往復動の軌跡中に角部
が生じないようにしているので、走査軌跡15b中で速
度が急変する部所がなく、このような速度急変部所で発
生しがちな微小振動の発生が防止される。
【0024】このように、往路、復路共に歪や、経路ず
れのない再現性の高い走査が可能になり、より正確な記
録再生ができる。また、圧電素子が高剛性、大慣性質量
のものを駆動する形態でも、駆動が円滑に行われるの
で、アクチュエータの駆動電力を低減することが可能で
ある。従って、より小型のアクチュエータの使用が可能
となり、更にピエゾ型アクチュエータを用いた場合で
も、駆動の屈曲点で生ずる大きな逆起電力がないため、
駆動機構の寿命が延び信頼性が向上する。
【0025】また、第2の実施例に係るXY方向走査駆
動回路20もほぼ図2に示す回路構成とされ、走査制御
ロジック回路26は、Xカウンタ27の出力をモニタ
し、Xカウンタ27のカウント値が図3における区間
a、b又は区間c、dにあるとき図5のタイミングチャ
ート図に示すように信号YENBを出力する。Yカウンタ2
8は信号YENBがHレベルの期間のみカウント動作を行
い、Xカウンタ27と同様にクロック信号CLK によりカ
ウントアップする。そして、X走査ROM29はXカウ
ンタ27のカウント出力をX走査電圧データに変換し、
Y走査ROM30はYカウンタ28のカウント出力をY
走査電圧データに変換するようになっている。
【0026】このX走査ROM29には、Nクロックカ
ウントに対して波形関数のフーリエ級数が次の式で表現
されて、予め書き込まれている。 f(φ)=sin(φ) +A・sin( 2φ) +B・sin( 3φ) (ただし、φ=2πN/n、A及びBは1以下の定数)
【0027】A及びBはクロック信号CLK に対する変化
量が比較的一定となるように好適な値を選ぶことがで
き、本実施例では、A=0、B=0.1としている。こ
の値が大きいと前述の微小振動を引き起こし易くなる。
この傾向はBにおいて著しく、Bは0.3以下が望まし
く、更に0.1以下が好ましい。Xカウンタ27はクロ
ック信号CLK に従いカウントアップ動作を行い、nクロ
ックカウント後にリセットされ、再び零からカウントア
ップする。
【0028】図5に示すように、走査電圧発生のタイミ
ングは走査制御ロジック回路26より生成されるクロッ
ク信号CLK 、及び信号YENBにより行われる。Y走査RO
M30には区間a、bに及び区間c、d相当するカウン
ト入力に対して滑らかなステップアップ電圧を発生する
波形データが予め書き込まれている。これにより、D/
A変換器31yの出力は図5の電圧波形Vyとなる。上述
のデータを書き込んだX走査ROM29を用いることに
より、図5に示す電圧波形VxがD/A変換器31xから
出力される。
【0029】図6はこのXY方向走査駆動回路20によ
る記録層15上でのプローブ電極16の走査軌跡の例を
示している。15aは記録ビット、15bはプローブ電
極16の走査軌跡、15Tは記録領域の位置検出に用い
るトラッキングパターンである。
【0030】本実施例では、Y方向の駆動はX方向走査
が折り返す区間のみで行われる。従って、各X方向走査
のプローブ軌跡は等間隔かつ平行となる。このため、本
実施例では第1の実施例の効果に加え、往復走査の往
路、復路両方を利用し記録再生を行い、かつ各X方向デ
ータ列を平行に並べることができるため、より高い記録
密度を達成することが可能になる。
【0031】図7は第3の実施例に係る記録再生装置を
示すブロック回路構成図である。片持ち梁35にはプロ
ーブ電極36が取り付けられており、プローブ電極36
は記録媒体37に対向して設けられ、Z方向に変位でき
るようになっている。片持ち梁35のプローブ電極36
の裏側には、Z軸駆動装置38に支持されているトンネ
ル電流検知電極39が対向している。基台40上に固定
されXYZステージを使用したXYZ粗動機構41が支
持するXYZ微動機構42により記録媒体37は支持さ
れている。XYZ微動機構42のXY方向微動部として
は、アクチュエータとして各方向ごとに設けられた圧電
素子を有する公知の微動ステージを用いることができ
る。また、記録媒体37はガラス基板43上に下地電極
44、記録層45が順次に積層されている。
【0032】片持ち梁35はSiの結晶の性質を高度に
利用した[K.E.Petersen,Proc.IEEE70,420(1982)]によ
って公知である異方性エッチングの手法で形成した長さ
100μm、幅20μm、厚さ1μmのSiO2 の片持
ち梁部材46を基に造られている。片持ち梁部材46の
一端にSiイオンをフォーカスド・イオン・ビーム装置
で打ち込み、このSi上に選択的にSiを結晶成長さ
せ、真空蒸着法によりAuを厚さ300オングストロー
ム蒸着してプローブ電極36が形成されている。更に、
片持ち梁部材46のプローブ電極36の反対側には、真
空蒸着法によりAuを200オングストローム蒸着し、
電極47が作成されている。トンネル電流検知電極39
は直径1mmのタングステン棒をKOH溶液中で電解研
磨することにより作成し、先端の曲率は0.1μmR以
下となっている。
【0033】Z軸駆動装置38は圧電素子を使用して一
軸の変位を行うものであり、トンネル電流検知電極39
を支持し、Z軸方向の駆動を行う。XYZ微動機構42
は円筒形圧電素子を使用しており、任意の電圧を印加す
ることでX、Y及びZ方向に記録媒体37を微動できる
ようになっている。微動制御可能範囲はX、Y、Z方向
について全て0.1nm〜1μmであり、機械的分解能
は0.01nmである。
【0034】制御回路48はXY方向走査制御部として
第1の実施例又は第2実施例におけるXY方向走査駆動
回路20を内蔵し、片持ち梁35及びXYZ微動機構4
2を駆動する。記録再生消去回路49は記録媒体37の
下地電極44とプローブ電極36とに接続されており、
両電極間に記録/再生/消去用の電圧を印加するための
回路と電流電圧変換を行う回路とから成り、これらの機
器、回路はマイクロコンピュータ50に接続され制御さ
れる。
【0035】この場合の記録媒体37は次の工程により
作成した。光学研磨したガラス基板43を中性洗剤及び
トリクレンを用いて洗浄した後に、下引き層としてCr
を真空蒸着法により厚さ50オングストローム堆積さ
せ、更にAuを同法により400オングストローム蒸着
して下地電極44を形成する。次に、SOAZを濃度
0.2mg/mlで溶かしたクロロホルム溶液を20℃
の水相上に展開し、水面上に単分子膜を形成する。溶媒
の蒸発を待ち単分子膜の表面圧を20mN/mまで高
め、これを一定に保ちながらガラス基板43を水面を横
切るように速度5mm/分で静かに浸漬し、引上げ2層
のY形単分子膜の累積を行う。この操作を4回繰り返す
ことにより、8層のSOAZを累積した記録層45を持
つ記録媒体37が作成される。
【0036】次に、記録/再生/消去について次のよう
な実験を行った。トンネル電流検知電極39と電極47
の間にバイアス電圧+100mVを印加し、Z軸駆動装
置38を動かし両電極間に流れるトンネル電流が1nA
になる位置で停止する。ここで、XYZ粗動機構41、
次にXYZ微動機構42のZ軸を駆動し、記録媒体37
をプローブ電極36に対して近付ける。プローブ電極3
6の頂点原子の電子雲が、記録層45の表面上の原子の
電子雲と重なる距離まで記録媒体37がプローブ電極3
6に接近すると原子間力が生ずる。この力はプローブ電
極36を支持している片持ち梁35を撓ませ、片持ち梁
35が撓むことで電極47とトンネル電流検知電極39
との距離が変化し、これにより1nアンペアに設定して
あったトンネル電流が変化する。
【0037】このトンネル電流の変化を検出し、制御回
路48がトンネル電流を元の1nアンペアに戻すように
XYZ微動機構42のZ軸駆動部にフィードバックを行
う。この状態を維持すれば、プローブ電極36は記録層
45に対して常に一定の距離にあることになる。ここ
で、XYZ微動機構42を用いてX、Y方向の走査を行
えば、プローブ電極36は記録層45に対して一定の距
離を保った状態で記録層45の表面を移動可能である。
【0038】プローブ電極36と下地電極44との間に
電気メモリ効果を生ずる閾値電圧以下である読取用電圧
1.5Vを印加して電流値を測定したところ、1μアン
ペア以下のオフ状態を示した。次に、オン状態を生ずる
閾値電圧Von 以上の電圧である±8Vの三角波パルス電
圧を、プローブ電極36と下地電極44との間に印加し
た後に、再び1.5Vの読取用電圧を印加して電流値を
測定したところ、0.7mアンペア程度のオン状態を示
した。次に、オン状態からオフ状態へ変化する閾値電圧
Voff以上の電圧である±5Vの三角波パルス電圧を印加
した後に、再び1.5Vを印加して電流値を測定したと
ころ、1μアンペア以下のオフ状態に戻ることが確認さ
れた。
【0039】次に、前記と同様にプローブ電極36と記
録層45との距離を一定に保ちながら、XYZ微動機構
42をX方向に100nmの等間隔で移動させながら、
±8Vの三角波パルス電圧をプローブ電極36と下地電
極44の間に印加し、オン状態を書き込んだ。その後
に、両電極36、44間に読取用電圧1.5Vを印加
し、同様にX方向へ移動させると、オン状態領域とオフ
状態領域に流れる電流値を読取ることができた。
【0040】本実施例では、オン状態領域を流れるプロ
ーブ電流が、記録前又はオフ状態領域と比較して3桁以
上異なることを確認した。更に、両電極36、44間に
閾値電圧Voff以上である10Vを印加しながら再び記録
位置を移動させた結果、全ての記録状態が消去されオフ
状態になったことも確認した。また、0.001μmか
ら0.1μmの間の種々のピッチで記録/再生/消去を
行い分解能を測定したところ、0.01μm以下である
ことが分った。実験後に、プローブ電極36をSEMに
より観察した結果、記録媒体37とプローブ電極37の
接触による損傷は見られなかった。
【0041】本実施例においても、第1の実施例又は第
2の実施例で示したような走査電圧Vx、Vyにより図4又
は図6に示したような走査軌跡で記録又は再生、消去を
行う。
【0042】また、第1、第2の実施例においても、本
実施例のようにプローブ電極と記録層との間の原子間力
を一定にするように制御する機構を設けてもよい。
【0043】図8は第4の実施例に係る記録再生装置の
構成を示し、XY方向走査信号回路52はドライバ33
x、33yがないことを除いて第2の実施例で説明した
XY方向走査駆動回路20と同じ構成である。XYステ
ージ53は特開平2−52286号公報に見られる構成
のもので、記録媒体54を載置しており、記録媒体54
上には凹状の溝又は表面電子状態が異なるパターンであ
るトラッキングパターン55が形成されている。プロー
ブ電極16はバイモルフ型のカンチレバー56の先端に
記録媒体54に対向して設けられている。電流増幅器5
7はプローブ電極16に流れるトンネル電流を電圧に変
換し、誤差増幅器58の正入力に入力し、誤差増幅器5
8は負入力に接続された基準電圧Vrとの差をローパスフ
ィルタ59に出力する。ローパスフィルタ59の出力は
サンプルホールド回路60を介してドライバ61に入力
され、ドライバ61はカンチレバー56をZ方向に駆動
する。誤差増幅器58はトンネル電流検出電圧とプロー
ブ媒体間距離を制御する基準電圧Vrとの誤差を検出し、
ローパスフィルタ59は情報ビットの検出信号の周波数
の領域をカットする。
【0044】電流増幅器57の出力はコンパレータ62
の正入力にも入力され、コンパレータ62の負入力には
トラッキングエッジ検出レベルVeが入力されており、コ
ンパレータ62の出力であるトラッキングエッジ信号Ex
は、サンプルホールド回路60とエッジ検出器63に接
続されている。エッジ検出器63の出力はXY方向走査
信号回路52の走査信号Vxをホールドするサンプルホー
ルド回路64に入力しており、走査信号Vxはサンプルホ
ールド回路64及び誤差検出器65を介して追跡信号Δ
Xとなり、加算器66に走査信号Vxと共に入力される。
加算器66の出力はドライバ67を経てXYステージ5
3のX方向アクチュエータに接続されており、パルス発
生器68はプローブ電極16に書込みパルスを印加す
る。電流増幅器57に接続されたハイパスフィルタ69
はトンネル電流からデータ信号を分離出力する。XY方
向走査信号回路52の出力である走査信号Vyはドライバ
70を介して、XYステージ53のY方向アクチュエー
タに接続されている。
【0045】コンパレータ62はトンネル電流とトラッ
キングエッジ検出レベルVeとを比較し、エッジ検出器6
3はコンパレータ62の出力であるトラッキングエッジ
信号Exの立ち上がりに同期したパルスTxを生成する。サ
ンプルホールド回路64はエッジ検出器63のパルスタ
イミングTxによりX走査電圧Vxをサンプリングする。誤
差検出器65は記録媒体54上のトラッキングパターン
55とプローブX走査との相対位置を求めるものであ
り、基準電圧Vtとサンプルホールド回路64の出力電圧
の差を積分して追跡信号ΔXを出力し、加算器66は走
査信号Vxと誤差検出器65の出力ΔXを加算する。ドラ
イバ67は加算器66の出力を増幅してX方向駆動電圧
FVX を出力し、XYステージ53のX方向アクチュエー
タを駆動する。走査信号Vyが入力されるドライバ70は
XYステージ53のY方向アクチュエータを駆動する。
上述した構成から、データ入出力及びZ軸制御を行う制
御回路71が形成されている。
【0046】図9は図8の記録再生装置におけるタイミ
ングチャート図を示している。プローブ電極16のZ方
向制御は、誤差増幅器58、ローパスフィルタ59、サ
ンプルホールド回路60、ドライバ61によるフィード
バック回路によりトンネル電流Jtの平均値が一定となる
ように制御する。ただし、トラッキングエッジ信号Exに
より、プローブ電極16がトラッキングパターン55上
を走査する時はサンプルホールド回路60をホールド状
態とする。
【0047】記録媒体54の表面におけるプローブ走査
はXYステージ53により行い、XY方向走査信号回路
52より屈曲点つまり角部のない連続的に変化する走査
信号Vx、Vyを出力する。信号Vyはドライバ70を経由し
てそのままY方向のアクチュエータを駆動する。信号Vx
はトラッキングのための追跡信号ΔXと加算され、ドラ
イバ67を経由してX方向のアクチュエータを駆動す
る。追跡信号ΔXはプローブ電極16が記録媒体54上
のトラッキングパターン55のエッジを通過するタイミ
ングを表す信号Txから生成し、信号TxとVxとの位相関係
のずれを検出する。信号Vxの電圧をサンプルホールド回
路64で、信号Txのタイミングでサンプリングすること
により、この位相情報を電圧に変換することができ、更
にこの信号と基準電圧Vtとの差を比較積分することによ
り追跡信号ΔXを得る。
【0048】このように、X方向駆動電圧FVXにはトラ
ッキング追跡電圧が重畳され、記録媒体54上のトラッ
キングパターン55を追跡しながらX方向走査を行う。
このような屈曲点のないXY走査軌跡を用いて記録再生
装置のトラッキング制御を行うことにより、次のような
利点を生ずる。
【0049】(a) トラッキングエッジ検出からX走査方
向の反転までの走査が滑らかに行えるので、カンチレバ
ー56及びXYステージ53の相対微小振動が極力抑え
られる。従って、エッジ検出時におけるトンネル電流の
ばらつき、ジッタ等が低減され、安定したトラッキング
が行える。
【0050】(b) X方向走査の反転動作においては、プ
ローブ電極16、記録媒体54間の相対移動速度が減速
されながら行われるため、記録媒体54の基板の凹凸等
に起因する雑音成分に対し、その雑音周波数を低減して
検出する。従って、プローブ電極16の走査の反転時
に、周波数が高く読出しデータに近い帯域の雑音の発生
を抑えることができる。
【0051】図10は第5の実施例に係るカンチレバー
とプローブ電極を複数個配置した記録再生装置を示して
いる。XY方向走査信号回路52は図7と同様に、信号
Vyをドライバ67に、信号Vxをドライバ70に入力す
る。記録媒体73はステージ上の基台74上に固定さ
れ、これに面してマルチプローブヘッド75が、カンチ
レバー76を介して複数のプローブ電極77を支持して
いる。ピエゾアクチュエータ78はステージをX方向に
駆動するよう接続されドライバ67の出力が入力され
る。ピエゾアクチュエータ79はステージをY方向に駆
動するように支持し、ドライバ70から入力される。ピ
エゾアクチュエータ80はトラッキング制御回路部82
の出力を入力されて、マルチプローブヘッド75をX方
向に駆動する。制御回路部81は各プローブ電極77ご
とのデータ入出力とZ軸方向の駆動制御を並行して行う
ように、図8で示した制御回路71が複数個のプローブ
電極77ごとに設けられて内蔵されており、マルチプロ
ーブヘッド75及びトラッキング制御回路部82に出力
が接続されている。
【0052】トラッキング制御回路部82は制御回路部
81からのトンネル電流信号からトラッキングパターン
の位置信号を検出してトラッキングずれを測定し、それ
を補正するためにピエゾアクチュエータ80を駆動す
る。
【0053】本実施例における各カンチレバー76の制
御は第4の実施例と同様に行い、トラッキングパターン
の追跡はマルチプローブヘッド75に取り付けられたピ
エゾアクチュエータ80により行う。XY方向走査信号
回路52は第4の実施例と同様に屈曲点のない反転走査
を行わせる信号の出力を行い、このように複数のプロー
ブ電極77を設けた場合も本発明は良好に適用可能であ
る。
【0054】以上の各実施例は記録再生装置について説
明したが、記録のみ又は再生のみの装置であってもよい
ことは云うまでもない。また、往復動しながら試料面を
プローブ電極で走査し、試料面の観察を行う往復動走査
型のSTM装置或いはAFM装置、MFM装置等に本発
明を適用してもよい。この場合に、折り返し部での微小
振動による観察像の歪を発生を防止できるという効果を
有する。
【0055】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る情報読
取り及び/又は入力装置は、折り返し部における微小振
動を防止してより正確な情報読取り及び/又は入力を実
施できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】全体構成のブロック回路図である。
【図2】XY方向走査駆動回路のブロック回路図であ
る。
【図3】第1の実施例に係る記録再生装置におけるXY
方向走査信号を示すタイミングチャート図である。
【図4】プローブ電極の走査軌跡の例を示す模式図であ
る。
【図5】第2の実施例おける各信号のタイミングチャー
ト図である。
【図6】プローブ電極の走査軌跡の例を示す模式図であ
る。
【図7】第3の実施例に係る記録再生装置の構成を示す
ブロック回路図である。
【図8】第4の実施例に係る記録再生装置の構成を示す
ブロック回路図である。
【図9】各信号のタイミングチャート図である。
【図10】第5の実施例に係る記録再生装置の構成を示
すブロック回路図である。
【符号の説明】
16、36、77 プローブ電極 12、37、54、73 記録媒体 17 微動機構 20 XY方向走査駆動回路 26 走査制御ロジック回路 29 X走査ROM 30 Y走査ROM 39 トンネル電流検知電極 42 XYZ微動機構 48 制御回路 52 XY方向走査信号回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 河田 春紀 東京都大田区下丸子三丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料面に対向して配置したプローブを前
    記試料面に対して相対的に折り返し走査させながら、前
    記試料面からの情報読取り及び/又は前記試料面への情
    報入力を行う装置において、前記プローブを前記試料面
    に対して相対的に連続して折り返し走査させる駆動手段
    と、主として基本波及び5次以下の高調波によって構成
    される折り返し走査信号によって前記駆動手段を制御す
    る制御手段とを設けたことを特徴とする情報読取り及び
    /又は入力装置。
  2. 【請求項2】 前記折り返し走査信号は主として基本波
    及び3次以下の高調波によって構成される請求項1に記
    載の情報読取り及び/又は入力装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005531781A (ja) * 2002-07-04 2005-10-20 ユニバーシティ・オブ・ブリストル 走査型プローブ顕微鏡
JP2006523361A (ja) * 2003-04-11 2006-10-12 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 2次元マイクロ電気機械的システム(mems)ベースのスキャナのためのサーボ・システムおよびそのサーボ・システムを使用するための方法

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JP2005531781A (ja) * 2002-07-04 2005-10-20 ユニバーシティ・オブ・ブリストル 走査型プローブ顕微鏡
JP2006523361A (ja) * 2003-04-11 2006-10-12 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 2次元マイクロ電気機械的システム(mems)ベースのスキャナのためのサーボ・システムおよびそのサーボ・システムを使用するための方法
JP4848269B2 (ja) * 2003-04-11 2011-12-28 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 2次元マイクロ電気機械的システム(mems)ベースのスキャナのためのサーボ・システムおよびそのサーボ・システムを使用するための方法

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