JP2005311199A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2005311199A5
JP2005311199A5 JP2004128803A JP2004128803A JP2005311199A5 JP 2005311199 A5 JP2005311199 A5 JP 2005311199A5 JP 2004128803 A JP2004128803 A JP 2004128803A JP 2004128803 A JP2004128803 A JP 2004128803A JP 2005311199 A5 JP2005311199 A5 JP 2005311199A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
manufacturing
composite
gettering layer
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2004128803A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005311199A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2004128803A priority Critical patent/JP2005311199A/ja
Priority claimed from JP2004128803A external-priority patent/JP2005311199A/ja
Priority to US11/110,666 priority patent/US20050239267A1/en
Publication of JP2005311199A publication Critical patent/JP2005311199A/ja
Publication of JP2005311199A5 publication Critical patent/JP2005311199A5/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Claims (15)

  1. 少なくとも表面に絶縁体を有する第1の基板に第2の基板を結合した結合基板を準備する工程と、
    前記結合基板の表面に金属不純物を捕獲するためのゲッタリング層を形成し複合基板を作製する工程と、
    前記複合基板を熱処理する工程と、
    前記複合基板から前記ゲッタリング層を除去する工程と、
    を含むことを特徴とする基板の製造方法。
  2. 前記複合基板を作製する工程では、前記結合基板の前記第2の基板側の露出面に前記ゲッタリング層を形成することを特徴とする請求項1に記載の基板の製造方法。
  3. 前記ゲッタリング層を除去する工程の後に、前記第2の基板を薄くする工程を更に含むことを特徴とする請求項2に記載の基板の製造方法。
  4. 前記複合基板を作製する工程では、前記結合基板の前記第1の基板側の露出面に前記ゲッタリング層を形成することを特徴とする請求項1に記載の基板の製造方法。
  5. 前記複合基板を作製する工程では、前記結合基板の前記第1、第2の基板側の露出面にそれぞれ前記ゲッタリング層を形成することを特徴とする請求項1に記載の基板の製造方法。
  6. 前記ゲッタリング層を除去する工程では、前記複合基板の前記第2の基板側の露出面に形成された前記ゲッタリング層を除去することを特徴とする請求項5に記載の基板の製造方法。
  7. 前記ゲッタリング層を除去する工程の後に、前記第2の基板を薄くする工程を更に含むことを特徴とする請求項6に記載の基板の製造方法。
  8. 前記第2の基板を薄くする工程の後に、前記複合基板の前記第1の基板側の露出面に形成された前記ゲッタリング層を除去する工程を更に含むことを特徴とする請求項7に記載の基板の製造方法。
  9. 前記ゲッタリング層を除去する工程の後に、さらに、還元性雰囲気、不活性ガス雰囲気又は両者の混合ガス雰囲気中で、前記複合基板に熱処理を施す工程を含むことを特徴とする請求項1乃至請求項8のいずれか1項に記載の基板の製造方法。
  10. 前記結合基板を準備する工程の後で且つ前記複合基板を作製する工程の前に、該結合基板に熱処理を施す工程を含むことを特徴とする請求項1に記載の基板の製造方法。
  11. 前記熱処理を施す工程の後で且つ前記複合基板を作製する工程の前に、さらに、前記結合基板に含まれる前記第2の基板を薄くする工程を含むことを特徴とする請求項10に記載の基板の製造方法。
  12. 前記複合基板を作製する工程の後で且つ前記ゲッタリング層を除去する工程の前に、還元性雰囲気、不活性ガス雰囲気又は両者の混合ガス雰囲気中で、前記複合基板に熱処理を施す工程を含むことを特徴とする請求項10又は請求項11に記載の基板の製造方法。
  13. 前記結合基板を準備する工程では、前記第1の基板に多孔質層を形成し、更に前記多孔質層の上に移設層を形成し、これにより第1の基板を作製し、該第1の基板と第2の基板とを結合して、結合基板を作製し、
    当該製造方法は、前記熱処理する工程の後に、さらに、前記複合基板を前記多孔質層の部分で分離する工程を含むことを特徴とする請求項1乃至請求項12のいずれか1項に記載の基板の製造方法。
  14. 少なくとも表面に絶縁体を有する第1の基板と表面に金属不純物を捕獲するためのゲッタリング層が形成された第2の基板とを準備する工程と、
    その表面に前記ゲッタリング層が配置されるように前記第1の基板と前記第2の基板とを結合して複合基板を作製する工程と、
    前記複合基板を熱処理する工程と、
    前記複合基板から前記ゲッタリング層を除去する工程と、
    を含むことを特徴とする基板の製造方法。
  15. 前記準備する工程では、前記第1の基板に多孔質層を形成し、更に前記多孔質層の上に移設層を形成し、これにより第1の基板を作製し、
    当該製造方法は、前記熱処理する工程の後に、さらに、前記複合基板を前記多孔質層の部分で分離する工程を含むことを特徴とする請求項14に記載の基板の製造方法。
JP2004128803A 2004-04-23 2004-04-23 基板の製造方法 Withdrawn JP2005311199A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004128803A JP2005311199A (ja) 2004-04-23 2004-04-23 基板の製造方法
US11/110,666 US20050239267A1 (en) 2004-04-23 2005-04-21 Substrate manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004128803A JP2005311199A (ja) 2004-04-23 2004-04-23 基板の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005311199A JP2005311199A (ja) 2005-11-04
JP2005311199A5 true JP2005311199A5 (ja) 2007-01-18

Family

ID=35137022

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004128803A Withdrawn JP2005311199A (ja) 2004-04-23 2004-04-23 基板の製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20050239267A1 (ja)
JP (1) JP2005311199A (ja)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9177828B2 (en) 2011-02-10 2015-11-03 Micron Technology, Inc. External gettering method and device
CN100437899C (zh) * 2006-01-27 2008-11-26 台湾积体电路制造股份有限公司 减少制程环境内的杂质的装置及其方法
KR100770268B1 (ko) * 2006-05-18 2007-10-25 삼성에스디아이 주식회사 박막트랜지스터의 제조방법
KR100770269B1 (ko) * 2006-05-18 2007-10-25 삼성에스디아이 주식회사 박막트랜지스터의 제조방법
JP4952069B2 (ja) * 2006-06-02 2012-06-13 大日本印刷株式会社 加速度センサの製造方法
JP2008060220A (ja) * 2006-08-30 2008-03-13 Disco Abrasive Syst Ltd ゲッタリング層形成装置
WO2008053042A1 (en) * 2006-11-02 2008-05-08 Interuniversitair Microelektronica Centrum Removal of impurities from semiconductor device layers
US7795111B2 (en) * 2007-06-27 2010-09-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Manufacturing method of SOI substrate and manufacturing method of semiconductor device
FR2933684B1 (fr) * 2008-07-09 2011-05-06 Commissariat Energie Atomique Procede de purification d'un substrat en silicium cristallin et procede d'elaboration d'une cellule photovoltaique
US9281197B2 (en) * 2008-10-16 2016-03-08 Sumco Corporation Epitaxial substrate for solid-state imaging device with gettering sink, semiconductor device, back illuminated solid-state imaging device and manufacturing method thereof
DE102009051009A1 (de) * 2009-10-28 2011-05-05 Siltronic Ag Verfahren zum Polieren einer Halbleiterscheibe aus einkristallinem Silizium
JP2012116741A (ja) * 2010-11-12 2012-06-21 Sumitomo Electric Ind Ltd Iii族窒化物複合基板
US8846500B2 (en) * 2010-12-13 2014-09-30 Semiconductor Components Industries, Llc Method of forming a gettering structure having reduced warpage and gettering a semiconductor wafer therewith
KR20130069935A (ko) * 2011-12-19 2013-06-27 주식회사 엘지실트론 웨이퍼 제조 방법
JP2015032690A (ja) * 2013-08-02 2015-02-16 株式会社ディスコ 積層ウェーハの加工方法
WO2019052194A1 (zh) * 2017-09-13 2019-03-21 厦门三安光电有限公司 一种半导体元件的固晶方法及半导体元件
US11232974B2 (en) * 2018-11-30 2022-01-25 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Fabrication method of metal-free SOI wafer
JP2022144977A (ja) * 2021-03-19 2022-10-03 キオクシア株式会社 半導体装置の製造方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4412255A (en) * 1981-02-23 1983-10-25 Optical Coating Laboratory, Inc. Transparent electromagnetic shield and method of manufacturing
US4910090A (en) * 1987-10-21 1990-03-20 Southwall Technologies, Inc. EMI/RFI shield for visual display terminals
EP0322720A3 (en) * 1987-12-25 1990-01-17 Asahi Glass Company Ltd. Electromagnetic wave shielding transparent body
DE69334324D1 (de) * 1992-01-30 2010-05-06 Canon Kk Herstellungsverfahren für Halbleitersubstrat
JP2908150B2 (ja) * 1992-11-27 1999-06-21 日本電気株式会社 Soi基板構造及びその製造方法
JP2806277B2 (ja) * 1994-10-13 1998-09-30 日本電気株式会社 半導体装置及びその製造方法
US5827602A (en) * 1995-06-30 1998-10-27 Covalent Associates Incorporated Hydrophobic ionic liquids
JPH115064A (ja) * 1997-06-16 1999-01-12 Canon Inc 試料の分離装置及びその方法並びに基板の製造方法
US5897362A (en) * 1998-04-17 1999-04-27 Lucent Technologies Inc. Bonding silicon wafers
US6376335B1 (en) * 2000-02-17 2002-04-23 Memc Electronic Materials, Inc. Semiconductor wafer manufacturing process
US6353220B1 (en) * 2000-02-01 2002-03-05 Raytheon Company Shielding of light transmitter/receiver against high-power radio-frequency radiation
US6376336B1 (en) * 2001-02-01 2002-04-23 Advanced Micro Devices, Inc. Frontside SOI gettering with phosphorus doping

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2005311199A5 (ja)
EP1434263A3 (en) Separating method for a layer that is to be transferred
TWI456637B (zh) 絕緣層上覆矽(soi)基板之製造方法
JP2006080314A5 (ja)
JP2006528422A5 (ja)
JP2009111375A5 (ja)
JP2008505486A5 (ja)
JP2005340423A5 (ja)
WO2008149584A1 (ja) 電子部品装置およびその製造方法
JP2009111362A5 (ja)
JP2010245412A5 (ja)
JP2014187166A5 (ja)
JP2008509562A5 (ja)
EP1978554A3 (en) Method for manufacturing semiconductor substrate comprising implantation and separation steps
JP2010272851A5 (ja)
JP2010050444A5 (ja)
JP2005347302A5 (ja)
JP2010251724A5 (ja)
JP2004532515A5 (ja)
JP2009044136A5 (ja)
JP2011512040A5 (ja)
JP2014103329A5 (ja)
JP2008177531A5 (ja)
JP2005508448A5 (ja)
JP2010109356A5 (ja)