JP2005294198A - 接点腐食防止装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 接点の腐食の検知時にのみ腐食防止電流を流し、腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には保護動作を行うことができる接点腐食防止装置を提供する。
【解決手段】 電源6には、内部または近傍に過熱検知手段11が設けられ、腐食防止電流が連続または高頻度で流れるような場合の温度上昇による過熱状態を検知する。低インピーダンス手段7には、切換スイッチ15が設けられ、過熱検知手段11からの出力に応じて切換えられる。過熱検知手段11が過熱状態を検知していないときは、コンパレータ9の論理出力はスイッチング素子12の制御入力端子に与えられ、入力信号ライン4の電位が基準電位源10の所定電位よりも高くなるとスイッチング素子12がオンに制御され、入力信号ライン4のインピーダンスを低くすることができる。過熱検知手段11が過熱状態を検知すると、切換スイッチ15はスイッチング素子13側に切換えられ、接点3に流す腐食防止電流を減少させることができる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、スイッチやコネクタなどの接点に生じる酸化被膜を、大電流を流して破壊し、腐食を防止する接点腐食防止装置に関する。
従来から、各種電子制御のための入力は、スイッチやコネクタなどの接点に接続されることが多い。たとえば、自動車で各種制御を行うためには、多くの電子制御ユニット(ECU)に制御用の入力信号を与える必要がある。入力信号は、機械的に開閉するスイッチの接点から、さらにコネクタの接点を介して電子制御ユニットの入力端子に与えられる。
スイッチやコネクタなどの接点は、導電性の良好な金属材料で形成され、電気的な接続時の接触抵抗が小さいようにされている。このような接点は、非接続時に接触部分の表面が酸化されて接触抵抗が増加するおそれがある。また、接触部分の周辺で露出している部分の表面が酸化されて、形成される酸化物が接触部分に巻込まれ、接触抵抗を増加させるおそれもある。接点が酸化によって接触抵抗が増加しても、接触状態と非接触状態とが適宜繰返され、接触状態で比較的大電流が流れれば、電流による発熱等で酸化物を除去し、接触抵抗の増加を防ぐことができる。
ただし、接点に腐食防止が可能な大電流を常に流すようにすることは、電子機器への入力に関しては一般に必要ではなく、大電流の断続では、ノイズによる誤動作等の原因にもなりうる。また接点に大電流を流すと、接点の電気的寿命が極度に低下したり、接点が溶着したりするおそれもある。これらの問題点を解決するために、接点の接触抵抗を検出して、接触抵抗が予め定める基準値以上になると接点間に大電流を流す接点の電流制御装置が開示されている(たとえば、特許文献1参照)。
大電流用スイッチを電子化ユニットなどの低電流化されたシステムに使用するときに、スイッチの接点がオンの期間にパルス状に大電流を流すスイッチの腐食防止回路も開示されている(たとえば、特許文献2参照)。パルス状の腐食防止電流を、コンデンサへの充放電を利用して周期的に流す接点信号判別装置も開示されている(たとえば、特許文献3参照。)。本件出願人も、スイッチの接点が開状態から閉状態に遷移する時点から少なくとも一定の保持時間は腐食防止用の大電流を流し、スイッチの接点が開状態のときには、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを低くするスイッチの接点腐食防止装置を開示している(たとえば、特許文献4参照)。
特開平2−297818号公報 特開平6−96637号公報 特開平7−14463号公報 特開2002−343171号公報
特許文献2〜4に開示されている先行技術では、スイッチの接点の接触抵抗の検知は行わず、接点の閉状態でパルス状に腐食防止電流を流すようにしている。このためにスイッチの開閉の頻度が高いときには、接点の接触抵抗が増加していなくても、パルス状の腐食防止電流が流れる頻度も高くなって、消費電力が増加したり、ノイズ発生の原因になるおそれがある。また、腐食防止電流は比較的大電流であるので、大規模集積化されている半導体集積回路(LSI)などから供給する場合、頻度が高くなると発熱を招く。
特許文献1に開示されている先行技術のように、接点の接触抵抗を検出して、接触抵抗が高い期間に腐食防止電流を流すようにすれば、腐食防止が不要な場合には腐食防止電流を流さないようにすることができる。またこの先行技術では、スイッチの接点の接触抵抗の増加を検出する回路構成がスイッチがオフの状態にも同様に検出して、低インピーダンスにすることができる。しかしながら、接触抵抗の増加を検出して腐食防止電流を流しても、接触抵抗が減少しないような場合は、腐食防止電流が続けて流れることになる。接点の電流制御装置をLSI化しているような場合、腐食防止電流を供給し続けるため、LSIの損失が増加し、LSIの熱破壊に繋がる可能性がある。たとえば接点が摩耗して接触面積が減少しているような場合は、腐食防止電流を流しても接触抵抗が減少しない異常な事態が生じうると考えられる。
さらに、接点の腐食による接触不良の状態を接触抵抗の増加に対応する電位変化で検知する場合、腐食による接触抵抗の増加とは異なる異常な原因で電位変化が生じても腐食と検知され、腐食防止電流が流れる。電位変化が接点の腐食によるものでなければ、腐食防止電流が流れても電位は戻らず、腐食と検知される状態が継続して、腐食防止電流も続けて流れてしまい、損失の増加や熱破壊の問題が生じうる。異常な原因としては、接点または入力信号ラインが電源電位と接地電位との中間の電位のラインなどに短絡していることや、接点が接続されている接地電位が実際の接地電位から浮いていることなどが考えられる。
本発明の目的は、接点の腐食の検知時にのみ腐食防止電流を流し、腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には保護動作を行うことができる接点腐食防止装置を提供することである。
本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインに腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっているか否かを検知する過熱検知手段を含み、
低インピーダンス手段は、過熱検知手段の検知結果に応答し、該過熱状態が検知されるとき、能動化される期間に、入力信号ラインから接点に流れる腐食防止電流を低減させることを特徴とする接点腐食防止装置である。
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、過熱検知手段を含む。低インピーダンス手段は、能動化によって、接点に接続される入力信号ラインを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な状態とする。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段が能動化されない期間に、その能動化時よりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流すことが可能な状態にしうる。過熱検知手段は、入力信号ラインに腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっているか否かを検知する。低インピーダンス手段は、過熱検知手段の検知結果に応答し、過熱状態が検知されるとき、能動化される期間に、入力信号ラインから接点に流れる腐食防止電流を低減させるので、腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には、腐食防止電流による発熱を低減するための保護動作を行うことができる。
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを、
複数の接点の各接点毎に備える接点腐食防止装置において、
いずれかの入力信号ラインに腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっているか否かを検知する過熱検知手段と、
過熱検知手段の検知結果に応答し、過熱検知手段によって過熱状態が検知されるときに、腐食防止電流を流している低インピーダンス手段が該腐食防止電流を流す動作を禁止するように制御する動作禁止手段とを、
含むことを特徴とする接点腐食防止装置である。
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを、複数の接点の各接点毎に備え、過熱検知手段と動作禁止手段とを含む。低インピーダンス手段は、能動化によって、接点に接続される入力信号ラインを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な状態とする。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段が能動化されない期間に、その能動化時よりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流すことが可能な状態にしうる。過熱検知手段は、入力信号ラインに腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっているか否かを検知する。動作禁止手段は、過熱検知手段の検知結果に応答し、過熱状態が検知されるとき、腐食防止電流を流している低インピーダンス手段がその腐食防止電流を流す動作を禁止するように制御するので、腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には、その腐食防止電流が流れないようにして、発熱を低減するための保護動作を行い、かつ他の接点については腐食防止機能が無効になるのを防ぐことができる。
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインに腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっているか否かを検知する過熱検知手段を含み、
比較手段は、過熱検知手段の検知結果に応答し、該過熱状態が検知されるとき、該所定電位を、腐食の非判定側に変更することを特徴とする接点腐食防止装置である。
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、過熱検知手段を含む。低インピーダンス手段は、能動化によって、接点に接続される入力信号ラインを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な状態とする。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段が能動化されない期間に、その能動化時よりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流すことが可能な状態にしうる。過熱検知手段は、入力信号ラインに腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっているか否かを検知する。比較手段は、過熱検知手段の検知結果に応答し、過熱状態が検知されるとき、所定電位を、腐食の非判定側に変更するので、その所定電位では腐食防止電流の通電頻度が高くなるような場合に、所定電位を非判定側に変更して、通電頻度を下げて発熱を低減することができる。他の中間電位への短絡などで、入力信号ラインの電位が異常になっている場合にも、所定電位を非判定側に変更して、腐食防止機能が動作しにくくし、腐食防止電流による発熱を低減するための保護動作を行うことができる。
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインに腐食防止電流を供給し、供給する腐食防止電流を、温度上昇時に制限するような温度特性を有する電流供給手段を含むことを特徴とする接点腐食防止装置である。
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、電流供給手段を含む。低インピーダンス手段は、能動化によって、接点に接続される入力信号ラインを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な状態とする。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段が能動化されない期間に、その能動化時よりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流すことが可能な状態にしうる。電流供給手段は、入力信号ラインに腐食防止電流を供給し、供給する腐食防止電流を、温度上昇時に制限するような温度特性を有するので、腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には、腐食防止電流による発熱で、自己の温度特性によって電流を低減するように、保護動作を行うことができる。
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインに腐食防止電流を流す供給経路に直列に挿入され、温度上昇時に抵抗値が上昇するような正温度特性を有する抵抗素子を含むことを特徴とする接点腐食防止装置である。
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、抵抗素子を含む。低インピーダンス手段は、能動化によって、接点に接続される入力信号ラインを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な状態とする。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段が能動化されない期間に、その能動化時よりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流すことが可能な状態にしうる。抵抗素子は、入力信号ラインに腐食防止電流を流す供給経路に直列に挿入され、温度上昇時に抵抗値が上昇するような正温度特性を有するので、腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には、抵抗素子の抵抗値が正の温度特性に基づいて増加し、腐食防止電流を制限して発熱を低減するように、保護動作を行わせることができる。
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインの電位が、比較手段の所定電位を、接点の接触抵抗の増に対応する電位の変化方向側に越える量に応じて、異常か否かを判定する異常判定手段と、
異常判定手段の判定結果に応答し、入力信号ラインの電位が異常と判定される期間が予め定める時間継続すると、予め定める保護処理を行う異常保護手段とを、
含むことを特徴とする接点腐食防止装置である。
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、異常判定手段と異常保護手段とを含む。低インピーダンス手段は、能動化によって、接点に接続される入力信号ラインを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な状態とする。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段が能動化されない期間に、その能動化時よりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流すことが可能な状態にしうる。異常判定手段は、入力信号ラインの電位が、比較手段の所定電位を、接点の接触抵抗の増に対応する電位の変化方向側に越える量に応じて、異常か否かを判定する。異常保護手段は、異常判定手段の判定結果に応答し、入力信号ラインの電位が異常と判定される期間が予め定める時間継続すると、予め定める保護処理を行う。正常な接点に腐食防止電流が流れれば接触抵抗が減少するので、電位が比較手段の所定電位を接点の接触抵抗の増に対応する電位の変化方向側に、接点の非接触時の電位を除いて越え続けるはずはなく、腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には、予め定める保護処理を行うことができる。
また本発明で、前記比較手段の所定電位は、入力信号ラインの電位を論理判定するスレッショルドレベルに対して異なる電位レベルで、かつ接点の接触抵抗の減に対応する電位の変化方向側に設定されており、
前記異常判定手段は、比較手段の判定結果と、前記入力信号ラインが入力側に接続される論理回路による論理判定結果とに基づいて、前記異常か否かの判定を行うことを特徴とする。
本発明に従えば、比較手段の所定電位は、入力信号ラインの電位を論理判定するスレッショルドレベルに対して異なる電位レベルで、かつ接点の接触抵抗の減に対応する電位の変化方向側に設定される。スレッショルドレベルは、接点の接触抵抗が充分に小さければ、接点が電源電位側または接地電位側に接続される場合の入力信号ラインの電位に対して充分なマージンが得られるように設定されている。このため、比較手段の所定電位が接触抵抗の増を検知するように設定されるとしても、スレッショルドレベルに対しては、接点の接触抵抗の減に対応する電位の変化方向側に設定することができる。入力信号ラインの電位が所定電位を接触抵抗の増に対応する電位の変化方向側に越えても、スレッショルドレベルに達するまでは、論理判定結果は接点の接触状態を表す。接点の非接触状態は、接触抵抗が非常に大きくなる状態と等価であり、入力信号ラインの電位は所定電位およびスレッショルドレベルを接触抵抗の増に対応する電位の変化方向側に越えることになる。したがって、論理判定結果が接点の接触状態である側の論理となるときに、比較手段の判定結果が接点の腐食と判定することになれば、接点の腐食を判定して腐食防止電流を流しても、接触抵抗が減少しない状態であり、腐食防止機能が無効になっている異常動作時と判定することができる。
また本発明で、前記入力信号ラインの電位をアナログ/デジタル変換して監視するアナログ/デジタル変換手段を含み、
前記比較手段または前記異常判定手段のうちの少なくとも一方は、アナログ/デジタル変換手段が監視する電位のデジタル変換値に基づいて、前記判定を行うことを特徴とする。
本発明に従えば、アナログ/デジタル変換手段によって、入力信号ラインの電位をアナログ/デジタル変換して監視し、監視する電位のデジタル変換値に基づいて、腐食の判定または異常動作時の判定のうちの少なくとも一方を行うので、デジタル/アナログ変換手段を有効に利用して判定を行うことができる。
また本発明で、前記異常保護手段は、前記保護処理として、前記入力信号ラインのインピーダンスを、前記低インピーダンス手段が能動化される状態よりも低くすることを特徴とする。
本発明に従えば、異常保護手段は、異常動作時の保護処理として、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段が能動化される状態よりも低くするので、接点が接触して流れる腐食防止電流を増加させることができる。予め設定されている腐食防止電流を流しても接触抵抗が減少しないで、回復が困難になるような異常時は、腐食防止電流を増やすことができる。
また本発明で、前記異常保護手段は、前記保護処理として、外部に接点の異常信号を出力することを特徴とする。
本発明に従えば、異常保護手段は、保護処理として外部に接点の異常信号を出力するので、外部に接点の腐食防止機能に異常が生じていることを知らせることができ、接点を信号入力に使用する制御システムなどに備えられている自己診断機能などで、有効に利用することができる。
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを、
複数の接点の各接点毎に備える接点腐食防止装置において、
該複数のうちの2以上の入力信号ラインで、腐食防止電流が流れる期間のうちの少なくとも一部が重複すると異常と判定する異常判定手段を、
含むことを特徴とする接点腐食防止装置である。
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを、複数の接点の各接点毎に備え、異常判定手段を含む。低インピーダンス手段は、能動化によって、接点に接続される入力信号ラインを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な状態とする。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段が能動化されない期間に、その能動化時よりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流すことが可能な状態にしうる。本来、腐食防止電流の通電頻度は低いので、複数の接点のうちの2以上の接点に、頻繁に腐食防止電流が重複して流れることはないはずである。接点異常時は2以上の接点に対する腐食防止動作がそれぞれ独立して行われ、時間的に重複する可能性がある。異常判定手段は、各入力信号ラインに流れる腐食防止電流を監視し、2以上の入力信号ラインで、腐食防止電流が流れる期間のうちの少なくとも一部が重複すると異常と判定するので、接点の異常判定を容易に行うことができる。
本発明によれば、接点が接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流すことができる。入力信号ラインに腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっていれば、腐食防止電流を低減させるので、腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には、腐食防止電流による発熱を低減するための保護動作を行うことができる。
さらに本発明によれば、接点が接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流すことができる。入力信号ラインに腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっていることが検知されるとき、腐食防止電流を流している低インピーダンス手段がその腐食防止電流を流す動作を禁止するように制御する。腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には、その腐食防止電流が流れないようにして、発熱を低減するための保護動作を行い、かつ他の接点については腐食防止機能が無効になるのを防ぐことができる。
さらに本発明によれば、接点が接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流すことができる。入力信号ラインに腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっていれば、所定電位を、腐食の非判定側に変更するので、その所定電位では腐食防止電流の通電頻度が高くなるような場合に、所定電位を非判定側に変更して、通電頻度を下げて発熱を低減することができる。他の中間電位への短絡などで、入力信号ラインの電位が異常になっている場合にも、所定電位を非判定側に変更して、腐食防止機能が動作しにくくし、腐食防止電流による発熱を低減するための保護動作を行うことができる。
さらに本発明によれば、接点が接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流すことができる。入力信号ラインに腐食防止電流を供給する電流供給手段は、温度上昇時に電流を制限するような温度特性を有するので、腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には、自己の温度特性によって電流を低減するように、保護動作を行うことができる。
さらに本発明によれば、接点が接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流すことができる。入力信号ラインに腐食防止電流を流す供給経路に直列に挿入される抵抗素子は、温度上昇時に抵抗値が上昇するような正温度特性を有するので、腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には、腐食防止電流を制限して発熱を低減するように、保護動作を行わせることができる。
さらに本発明によれば、接点が接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流すことができる。入力信号ラインの電位が、比較手段の所定電位を、接点の接触抵抗の増に対応する電位の変化方向側に越える量に応じて、異常か否かを判定し、入力信号ラインの電位が異常と判定される期間が予め定める時間継続すると、予め定める保護処理を行う。腐食防止電流が流れれば接触抵抗が減少して電位が比較手段の所定電位を接点の接触抵抗の増に対応する電位の変化方向側に、接点の非接触時の電位を除いて越え続けるはずがなく、そのような異常動作時には、予め定める保護処理を行うことができる。
また本発明によれば、入力信号ラインの電位を論理判定するスレッショルドレベルに対して異なる電位で、かつ接点の接触抵抗の減に対応する電位の変化方向側に設定されるように腐食と判定するための所定電位を設定し、接点の腐食を検知して腐食防止電流を流しても、接触抵抗が減少しないような異常動作時を、容易に判定することができる。
また本発明によれば、デジタル/アナログ変換手段を有効に利用して腐食の判定または異常動作時の判定のうちの少なくとも一方を行うことができる。
また本発明によれば、異常動作時の保護処理として、接点が接触して流れる腐食防止電流を増加させることができる。腐食防止電流を流しても接触抵抗が減少しないで、回復が困難になるような異常時は、インピーダンスが低くなって腐食防止電流を増やすことができる。
また本発明によれば、腐食防止機能の異常時には、保護処理として外部に接点の異常信号を出力するので、接点を信号入力に使用する制御システムなどに備えられている自己診断機能などで、有効に利用することができる。
さらに本発明によれば、接点が接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段によって入力信号ラインが低インピーダンスになるように制御するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流すことができる。本来、腐食防止電流の通電頻度は低いので、頻繁に複数の接点で腐食防止電流が重複して流れることはないはずであるけれども、接点異常時は複数の接点に対する腐食防止動作がそれぞれ独立して行われ、時間的に重複する可能性がある。複数の入力信号ラインで、腐食防止電流が流れる期間のうちの少なくとも一部が重複すると異常と判定するので、接点の異常判定を容易に行うことができる。
以下、本発明の実施の各形態について、図を参照して説明する。実施の各形態で、先行して説明している部分に対応する機能を有する部分には同一の参照符を付し、重複する説明を省略する。ただし、同一の参照符を付している部分は全く同一の構成を有しているとは限らず、種々の変形形態を含むことはもちろんである。また実施の各形態は、特徴部分を他の実施の形態と組合わせることもできる。
図1は、本発明の実施の第1形態である接点腐食防止装置1の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置1は、スイッチ2の接点3の腐食防止の機能を有する。接点3は、入力信号ライン4を介して後段の電子制御装置5の入力側に接続される。接点3は、コネクタなどの接点であってもよい。接点腐食防止装置1は、LSIの一部として実現される。電源6は、LSIの外部から供給される電力から論理回路動作用の電源電圧を生成して、LSIの内部に供給する。論理回路動作用の電源電圧は、たとえば5Vや3.3Vである。この電源電圧は、ローサイド側を接地してハイサイド側に出力される。なお、スイッチ2やコネクタの形式や構造に従って、接点3の数や構造も異なる。いずれにしても、接点3の接触抵抗は、相互に接触して電気的接続がなされる表面部分間の電気抵抗である。
スイッチ2は電源6のローサイド側に接続され、スイッチ2がオンになると、接点3は接地電位に接続される。入力信号ライン4には、低インピーダンス手段7および抵抗8が電源6のハイサイド側に接続される。低インピーダンス手段7は、コンパレータ9が入力信号ライン4の電位を基準電位源10によって与えられ、接点3の腐食となりうる所定電位と比較して、電位が所定電位よりも高いと判定するときに能動化される。コンパレータ9は、反転入力端子が入力信号ライン4に接続され、非反転入力端子が基準電位源10によって与えられる所定電位に接続される。入力信号ライン4の電位が所定電位よりも接地電位側に低い場合、コンパレータ9からはハイレベルの論理出力が導出され、PチャネルMOSトランジスタであるスイッチング素子12,13は両方ともオフ状態となって能動化されない。入力信号ライン4の電位が所定電位よりも電源6のハイサイド側に高い場合、コンパレータ9からはローレベルの論理出力が導出され、PチャネルMOSトランジスタであるスイッチング素子12,13はオン状態となって能動化される。スイッチ2がオフであれば、入力信号ライン4の電位は所定電位よりも高くなり、低インピーダンス手段7のスイッチング素子12,13のうちの一方はオン状態となる。低インピーダンス手段7がオン動作となるので、入力信号ライン4のインピーダンスは、オフ動作時よりも低くなるけれども、スイッチ2はオフであるので、接点3には電流が流れず、消費電力が増加することはない。
低インピーダンス手段7は、スイッチング素子12,13の一方のオン動作時に抵抗8よりも低いインピーダンスで、入力信号ライン4と電源6のハイサイド側とを接続する。このときスイッチ2がオンであれば、接点3には酸化物を除去可能な腐食防止電流が流れる。低インピーダンス手段7の不動作時には、低インピーダンス手段7のインピーダンスは抵抗8の抵抗値よりも高くなり、入力信号ライン4と電源6のハイサイド側との間のインピーダンスも高くなり、スイッチ2がオンになっても、接点3に流れる電流は小さく、酸化物の除去の機能はなくなるけれども、消費電力は低減される。
電源6には、内部または近傍に過熱検知手段11が設けられ、腐食防止電流が連続または高頻度で流れるような場合の温度上昇による過熱状態を検知する。接点腐食防止装置1が半導体チップ上の集積回路として形成されるときは、その半導体チップの過熱状態を検知すればよい。
低インピーダンス手段7は、PチャネルMOSトランジスタなどのスイッチング素子12,13、抵抗14および切換スイッチ15を含む。スイッチング素子12,13は、MOSトランジスタとしてのドレイン・ソース間が入力信号ライン4と電源6のハイサイド側との間にそれぞれ接続され、コンパレータ9の論理出力がローレベルになるとオン状態、ハイレベルになるとオフ状態となる。コンパレータ9の論理出力とMOSトランジスタとしてのゲートであるスイッチング素子12,13の制御入力端子との間には、切換スイッチ15が設けられ、過熱検知手段11からの出力に応じて切換えられる。過熱検知手段11が過熱状態を検知していないときは、コンパレータ9の論理出力はスイッチング素子12の制御入力端子に与えられ、入力信号ライン4の電圧が基準電位源10の所定電位よりも高くなるとスイッチング素子12がオンに制御され、入力信号ライン4のインピーダンスを低くすることができる。過熱検知手段11が過熱状態を検知すると、切換スイッチ15は、コンパレータ9の論理出力をスイッチング素子13の制御入力端子に与えるように切換える。スイッチング素子13側には、抵抗14が直列に接続され、オンとなるときのインピーダンスがスイッチング素子12がオンとなるときのインピーダンスよりも高くなる。これによって、接点3に流す腐食防止電流を減少させることができる。ただし、減少しても接点の酸化物除去には充分な程度の電流値の範囲に留めるものとする。
すなわち、接点腐食防止装置1は、接点3に接続される入力信号ライン4のインピーダンスを、接点3に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンスに制御しうる低インピーダンス手段7と、入力信号ライン4のインピーダンスを、低インピーダンス手段7を能動化しない期間に、高いインピーダンスに保つ高インピーダンス手段としての抵抗8と、入力信号ライン4の電位を、接点3の腐食となりうる電位に対応して基準電位源10に予め設定される所定電位と比較して、接点3が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段7を能動化して入力信号ライン4が低インピーダンスになるように制御する比較手段であるコンパレータ9とを備える。コンパレータ9は、入力信号ライン4の電位を、たとえば接点3の腐食による接触抵抗の増に対応して基準電位源10によって予め設定される所定電位と比較して、接点3が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段7を能動化して入力信号ライン4が低インピーダンスになるように制御するので、接点3の腐食の検知時にのみ腐食防止電流を流すことができる。なお、基準電位源10は、たとえば電源6のハイサイド側の電源電位とローサイド側の接地電位とを抵抗16,17で分圧するような構成で簡単に実現することができる。
接点腐食防止装置1は、入力信号ライン4に腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっているか否かを検知する過熱検知手段11を含む。低インピーダンス手段7は、過熱検知手段11の検知結果に応答し、過熱状態が検知されるとき、能動化されて入力信号ライン4が低インピーダンスとなるように制御される期間に流れる腐食防止電流を低減させる。過熱検知手段11が過熱状態を検知すると、切換スイッチ15がスイッチング素子13側に切換えられ、腐食防止電流は抵抗14によって制限されるからである。なお、切換スイッチ15は、論理回路などによって実現され、電子的に切換えを行う。低インピーダンス手段7での腐食防止電流の制限は、スイッチング素子13として、スイッチング素子12よりも導通抵抗が高いものを選択することでも可能である。過熱検知手段11によって過熱状態が検知されるとき、入力信号ライン4が低インピーダンスとなるように制御される期間に流れる腐食防止電流を低減させるので、腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には、腐食防止電流による発熱を低減するための保護動作を行うことができる。
図2は、本発明の実施の第2形態である接点腐食防止装置21の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置21では、基準電位源10と電源6のハイサイド側との間に、抵抗22およびスイッチング素子23を挿入する。抵抗22は、基準電位源10のハイサイド側の抵抗16と直列に接続される。スイッチング素子23は、たとえばPチャネルMOSトランジスタで実現され、そのソースおよびドレインが抵抗22の両端にそれぞれ接続される。すなわち、スイッチング素子23は、抵抗22と並列に接続される。スイッチング素子23としてのPチャネルMOSトランジスタのゲートは、過熱検知手段11の検知出力によって駆動され、過熱状態が検知されないときにスイッチング素子23はオフになる。スイッチング素子23がオフになると、基準電位源10の所定電位は、電源6の電源電位を、抵抗23,13の合成抵抗値と抵抗14の抵抗値とで分圧した電位となる。過熱状態が検知されると、スイッチング素子23はオンになり、所定電位は、電源6の電源電位を、抵抗13の抵抗値と抵抗14の抵抗値とで分圧した電位となる。したがって、過熱状態が検知されると、所定電位は電源6のハイレベル側に上昇する。上昇前の所定電位と上昇後の所定電位との中間の電位は、上昇前には腐食と判定され、上昇後には腐食と判定されなくなるので、所定電位の上昇は、非判定側への変化を意味することになる。なお、低インピーダンス手段としては、スイッチング素子12のみを使用するけれども、前述のように、実施の形態の組合わせとして、実施の第1形態と同様な低インピーダンス手段7を用いることもできる。
接点腐食防止装置21は、入力信号ライン4に腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっているか否かを検知する過熱検知手段11を含み、比較手段であるコンパレータ9の基準電位源10は、過熱検知手段11の検知結果に応答し、過熱状態が検知されるとき、所定電位を、腐食の非判定側に変更している。これによって、上昇前の所定電位では腐食防止電流の通電頻度が高くなるような場合に、所定電位を非判定側に変更して、通電頻度を下げて発熱を低減することができる。接点3や入力信号ライン4が他の中間電位へ短絡しているためなどで、入力信号ライン4の電位が異常になっている場合にも、所定電位を非判定側に変更して、腐食防止機能が動作しにくくし、腐食防止電流による発熱を低減するための保護動作を行うことができる。
図3は、本発明の実施の第3形態である接点腐食防止装置31の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置31では、図1や図2に示す過熱検知手段11と同様に電源6の過熱状態を検知する過熱検知手段32を設け、電源6から低インピーダンス手段としてのスイッチング素子12へ電流を供給する経路の途中に設ける電流制限手段33を制御する。電流制限手段33は、MOSトランジスタやバイポーラトランジスタなどで実現され、過熱状態が検知されないときは低インピーダンスとなって電流供給に対する制限を少なくし、過熱状態が検知されるときは高インピーダンス状態となって電流供給を制限するように制御される。
すなわち、接点腐食防止装置31では、入力信号ライン4に腐食防止電流を供給し、供給する腐食防止電流を、温度上昇時に制限するような温度特性を有する電流供給手段を、電流制限手段33を設けることによって実現している。電源6として、温度上昇時の電流制限の機能を備えるようにしてもよい。このような電流供給手段は、入力信号ライン4に腐食防止電流を供給し、供給する腐食防止電流を、温度上昇時に制限するような温度特性を有するので、腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には、腐食防止電流による発熱で、自己の温度特性によって電流を低減するように、保護動作を行うことができる。
図4は、本発明の実施の第4形態である接点腐食防止装置41の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置41では、低インピーダンス手段としてのスイッチング素子12と直列に、正温度特性抵抗素子42を挿入する。正温度特性抵抗素子42は、スイッチング素子12としてのPチャネルMOSトランジスタのドレイン側に挿入しているけれども、ソース側に挿入したり、図3の電流制限手段33の位置に挿入することもできる。
正温度特性抵抗素子41は、温度上昇とともに抵抗値も大きくなる正の温度特性を有する。一般に、金属などの導電体は、温度上昇とともに抵抗値も大きくなる。たとえば、断面積を小さくして熱容量を小さくすれば、腐食防止電流が連続して流れると、電流値の2乗と抵抗値との積として算出される電力が熱に変化するので、発熱による温度上昇で抵抗値も大きくなり、さらに発熱するようになって抵抗値も大きくなる。正温度特性抵抗素子42の抵抗値が大きくなると腐食防止電流が制限される。すなわち、正温度特性抵抗素子42は、入力信号ライン4に腐食防止電流を流す供給経路に直列に挿入され、温度上昇時に抵抗値が上昇するような正温度特性を有する抵抗素子である。このような正温度特性抵抗素子42は、正温度特性サーミスタなどによっても実現され、金属などの抵抗体を使用する場合よりも温度係数を大きくして、電流制限の効果を高めることができる。正温度特性抵抗素子42をLSI内部に形成することが困難であれば、入力信号ライン4をLSIの外部に接続するための端子と接点3との間に挿入することもできる。
図5は、本発明の実施の第5形態である接点腐食防止装置51の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置51では、OR回路52を設けて、コンパレータ9の論理出力と入力信号ライン4の電位との論理和を出力する。コンパレータ9の出力は、入力信号ライン4の電位が基準電位源10の所定電位よりも低いときにハイレベル(Hi)となり、電位が所定電位よりも高くなるときにローレベル(Lo)となる。所定電位を、OR回路52などの論理判定のためのスレッショルドレベルよりは低くしておくと、入力信号ライン4の電位が所定電位を超えてもスレッショルドレベルよりは低い状態が生じうる。この状態でOR回路52の出力はローレベルとなり、ローレベルの期間が所定時間継続すると異常保護手段53は外部端子54に異常信号を導出するなどの保護動作を行う。
図6は、入力信号ライン4の電位変化の例を(a)で示し、対応するコンパレータ9、論理判定結果、およびOR回路52の論理出力の変化を、(b)、(c)および(c)でそれぞれ示す。(a)に示すように、入力信号ライン4の電位は、時刻t0でスイッチ2がオフからオンに遷移する間ではハイレベルであり、時刻t0で所定電位よりも低下する。時刻t0では、(b)に示すコンパレータ9の論理出力がローレベルからハイレベルに遷移し、(c)に示す論理判定結果はハイレベルからローレベルに変化する。したがって、(d)に示すOR回路52の論理出力はハイレベルのままで変化しない。
接点3での接触抵抗が増加すると、入力信号ライン4の電位も上昇し、時刻t1で検知ラインを超える。(a)に示すように、時刻t1で入力信号ライン4の電位が所定電位を越えると、(b)に示すコンパレータ9の論理出力はハイレベルからローレベルに遷移し、(c)に示す論理判定結果はローレベルのままで変化しない。したがって、(d)に示すように、OR回路52の論理出力はハイレベルからローレベルに遷移する。時刻t1以降、コンパレータ9の出力でスイッチング素子12はオン状態になり、接点3には腐食防止電流が流れる。通常、接点腐食で接触抵抗が増加しても、腐食防止電流が流れれば、(a)に二点鎖線で示すように、時刻t2までには接触抵抗が減少し、入力信号ライン4の電圧も所定電位より低下することが期待される。異常保護手段53は、OR回路52の出力がローレベルの期間が、時刻t1と時刻t2との差よりも長く設定される時間twが経過する時刻t3を越えても、OR回路52の出力がローレベルであれば、接点3に異常が生じていると判定する。
すなわち、比較手段であるコンパレータ9の所定電位である基準電位源10の電位は、入力信号ライン4の電位を論理判定するスレッショルドレベルに対して異なる電位で、かつ接点3の接触抵抗の減に対応する電位の変化方向側に設定されている。異常判定手段であるOR回路52は、コンパレータ9の判定結果と、入力信号ライン4が入力側に接続される論理回路による論理判定結果としての自己の入力論理レベルに基づいて、異常か否かの判定を行い、たとえば、異常時にはローレベルを出力し、異常がなければハイレベルを出力する。スレッショルドレベルは、接点3の接触抵抗が充分に小さければ、接点3が電源電位側または接地電位側に接続される場合の入力信号ライン4の電位に対して充分なマージンが得られるように設定されている。このため、コンパレータ9の所定電位が接触抵抗の増を検知するように設定されるとしても、スレッショルドレベルに対しては、接点3の接触抵抗の減に対応する電位の変化方向側に設定することができる。入力信号ライン4の電位が所定電位を接触抵抗の増に対応する電位の変化方向側に越えても、スレッショルドレベルに達するまでは、論理判定結果は接点3の接触状態を表す。接点3の非接触状態は、接触抵抗が非常に大きくなる状態と等価であり、入力信号ライン4の電位は所定電位およびスレッショルドレベルを接触抵抗の増に対応する電位の変化方向側に越えることになる。したがって、論理判定結果が接点3の接触状態である側の論理となるときに、コンパレータ9の判定結果が接点3の腐食と判定することになれば、接点3の腐食を判定して腐食防止電流を流しても、接触抵抗が減少しない状態であり、腐食防止機能が無効になっている異常動作時と判定することができる。
異常保護手段53は、異常判定手段の判定結果に応答し、入力信号ライン4の電位が異常と判定される期間が予め定める時間継続すると、予め定める保護処理を行うので、腐食防止電流が流れれば接触抵抗が減少するはずであって、接点の非接触時の電位を除いて、入力信号ライン4の電位がコンパレータ9の所定電位を接点の接触抵抗の増に対応する電位の変化方向側に越え続けるはずがなく、そのような異常動作時には、予め定める保護処理を行うことができる。
図7は、本発明の実施の第6形態である接点腐食防止装置61の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置61では、入力信号ライン4の電位をアナログ/デジタル変換して監視するアナログ/デジタル変換(A/D)手段62を含み、デジタル変換値に基づいて処理手段63が腐食の判定と異常動作の判定とを行う。ただし、腐食の判定は、前述の実施の各形態のようにコンパレータ9を用いて行い、異常動作の判定を処理手段63で行うようにすることもできる。また、腐食の判定を処理手段63で行い、異常動作については図5と同様に判定し、処理手段63では腐食の判定を行うようにすることもできる。
すなわち、比較手段または異常判定手段としての機能のうちの少なくとも一方は、アナログ/デジタル変換手段62が監視する電圧のデジタル変換値に基づいて、腐食または異常の判定を行う。アナログ/デジタル変換手段62によって、入力信号ライン4の電位をアナログ/デジタル変換して監視し、監視する電位のデジタル変換値に基づいて、腐食の判定または異常動作時の判定のうちの少なくとも一方を行うので、デジタル/アナログ変換手段62を有効に利用して判定を行うことができる。
異常保護手段53は、異常動作時の保護処理として、低インピーダンス手段であるスイッチング素子12などによって低インピーダンスに制御される入力信号ライン4のインピーダンスを、さらに低くするようにすることもできる。腐食防止電流を流しても接点3の接触抵抗が減少しないような異常時に、入力信号ライン4のインピーダンスをさらに低くするので、接点3が接触して流れる腐食防止電流を増加させることができる。予め設定されている腐食防止電流を流しても接触抵抗が減少しないで、回復が困難になるような異常時は、入力信号ライン4のインピーダンスが低くなって腐食防止電流を増やすことができる。腐食防止電流が増えれば、酸化物等の除去能力が向上し、接触抵抗が減少すると期待される。
また、図5および図7で異常保護手段53は、保護処理として、外部端子54を介して接点腐食防止装置51,61の外部に接点の異常信号を出力する。保護処理として外部に接点の異常信号を出力するので、外部に接点の腐食防止機能に異常が生じていることを知らせることができ、接点3を信号入力に使用する制御システムなどに備えられている自己診断機能などで、有効に利用することができる。
図8は、本発明の実施の第7形態である接点腐食防止装置101の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置101は、複数の入力信号を選択する機能を有するLSIとして形成されている。すなわち、複数のチャネルを有する入力回路ブロック102を有し、入力回路ブロック102からの複数チャネルの出力をマルチプレクサ103で選択して、コンパレータ104で論理判定し、判定結果を出力する。入力回路ブロック102は、回路構成が異なる入力回路ブロックA102A、入力回路ブロックB102Bおよび入力回路ブロックC102Cを有する。マルチプレクサ103は、入力回路ブロックA102Aのチャネルを選択するMPX103A、入力回路ブロックB102Bのチャネルを選択するMPX103B、および入力回路ブロックC102Cのチャネルを選択するMPX103Cを有する。MPX103A,103B,103Cでそれぞれ選択された入力は、コンパレータ104内のコンパレータ104A,104B,104Cでそれぞれ論理値として判定される。マルチプレクサ103でのチャネルの選択は、デコーダ105からの出力に応じて行われる。
入力回路ブロック102には、電源106から正の電源電圧VBが供給される。コンパレータ104には、電源106から+5Vである論理回路用の電源電圧VOM5が供給される。電源106に近接して、過熱検知手段107および異常判定手段108が設けられる。過熱検知手段107の検知結果および異常判定手段108の判定結果は、処理手段109に与えられ、保護動作として、外部端子110への異常信号出力を含む動作が行われる。
入力回路ブロックA102Aの複数の入力チャネルは、入力端子111,112,113,…にそれぞれ接続される。入力回路ブロックB102Bの複数の入力チャネルは、入力端子121,122,123,…にそれぞれ接続される。入力回路ブロックC102Cの複数の入力チャネルは、入力端子131,132,133,…にそれぞれ接続される。なお、入力端子111,112,113,…,121,122,123,…,131,132,133,…には、外部のスイッチやコネクタなどの接点が接続される。
図9は、入力回路ブロック102Aの1つのチャネルの接点腐食防止装置102Axの概略的な電気的構成を示す。入力信号ライン4は、コンパレータ104Aに最終的には接続されるもので、その電位によりスイッチやコネクタ等のオン・オフ判定がなされる。入力信号ライン4が接続される入力端子11xは、図1〜図5および図7と同様に、電源のローサイド側の接点に接続して使用することを想定している。高インピーダンス手段である抵抗8には、直列にダイオード8dが接続され、逆方向の電流を阻止する。比較手段であるコンパレータ9の出力は、ディレイ回路140およびゲート回路141を介して低インピーダンス手段であるスイッチング素子12に与えられる。抵抗8のインピーダンスは、スイッチング素子12のオン時のインピーダンスよりも高くしておく。スイッチング素子12がPチャネルMOSトランジスタで実現されるとき、ドレインと入力信号ライン4との間にはダイオード12dが接続され、逆方向の電流を阻止する。PチャネルMOSトランジスタのバックゲートと電源電圧VBとの間にもダイオード12eが接続される。図8の処理手段109からの過熱検知信号は、ゲート回路141の1つの入力に与えられる。過熱検知信号は、過熱状態が検知されなければローレベルであり、過熱状態が検知されるとハイレベルとなり、スイッチング素子12をオンにすることが禁止される。ゲート回路141は、OR回路と等価である。入力信号ライン4には、減衰回路142が挿入され、MPX103Aへの出力となる。なお、ディレイ回路140の機能については後述する。
図10は、入力回路ブロック102Bの1つのチャネルの接点腐食防止装置102Bxの概略的な電気的構成を示す。入力信号ライン4は、コンパレータ104Bに最終的には接続されるもので、その電位によりスイッチやコネクタ等のオン・オフ判定がなされる。入力信号ライン4が接続される入力端子12xは、図1〜図5および図7とは異なり、電源のハイサイド側の接点に接続して使用することを想定している。低インピーダンス手段としてのスイッチング素子143は、NチャネルMOSトランジスタで実現され、高インピーダンス手段である抵抗144とともに、入力信号ライン4と接地との間に接続される。スイッチング素子143であるNチャネルMOSトランジスタのドレインと入力信号ライン4との間には、直列にダイオード143dが接続され、逆方向の電流を阻止する。比較手段であるコンパレータ9の出力は、ディレイ回路140およびゲート回路145を介してスイッチング素子143に与えられる。図8の処理手段109からの過熱検知信号は、ゲート回路145の1つの入力に与えられる。過熱検知信号は、過熱状態が検知されなければローレベルであり、過熱状態が検知されるとハイレベルとなって、スイッチング素子143をオンにすることが禁止される。入力信号ライン4には、減衰回路142が挿入され、MPX103Bへの出力となる。
図11は、入力回路ブロック102Cの1つのチャネルの接点腐食防止装置102Cxの概略的な電気的構成を示す。入力信号ライン4は、コンパレータ104Cに最終的には接続されるもので、その電位によりスイッチやコネクタ等のオン・オフ判定がなされる。入力信号ライン4が接続される入力端子13xは、図1〜図5および図7とは異なり、電源のローサイド側のみではなくハイサイド側の接点に接続して使用することも想定している。コンパレータ9の論理出力は、スイッチング素子12にはディレイ回路140からの出力が1つの入力として与えられるNAND回路151を介して与えられる。NAND回路151の他の入力には、AND回路152からの出力が与えられる。コンパレータ9の論理出力は、スイッチング素子143にはディレイ回路140からの出力が1つの入力として与えられるNOR回路153を介して与えられる。NOR回路153の他の入力には、OR回路154からの出力が与えられる。AND回路152には、ゲート回路155からの出力とSEL1の入力とが与えられる。OR回路154には、ゲート回路155の出力をインバータ156で論理反転した信号と、SEL2の入力をインバータ157で論理反転した信号とが与えられる。ゲート回路155には、SEL3の入力信号と、過熱検知信号とが与えられる。
SEL1の入力がハイレベルになると、スイッチ158がオンになって、抵抗8が入力信号ライン4と電源電圧VBとの間に高インピーダンス手段として接続される。SEL2の入力がハイレベルになると、スイッチ159がオンになって、抵抗144が入力信号ライン4と接地との間に高インピーダンス手段として接続される。SEL2およびSEL1は、ハイレベルになると、基準電位源160のスイッチ161,162をそれぞれオンにする。これによって、抵抗16,163,164で形成する分圧回路を切換えて、コンパレータ9の所定電位を変化させることができる。
図12は、図11の3つの選択信号SEL1,SEL2,SEL3による入力回路ブロック102Cでの機能の選択状態を示す。SEL1をハイレベルにすると、入力回路ブロック102Aと同様に、ローサイド側にスイッチを接続することができる。SEL2をハイレベルにすると、入力回路ブロック102Bと同様に、ハイサイド側にスイッチを接続することができる。SEL3をハイレベルにすると、接点腐食防止機能を有りにすることができる。
図13は、図9〜図11に示すディレイ回路140の動作を示す。(a)はコンパレータ9への入力電圧の変化を示し、(b)はコンパレータ9の論理出力を示し、(c)はディレイ回路140の出力を示す。(a)に示すように、時刻t10から時刻t11までに、コンパレータ9の入力が所定電位を越えると、(b)に示すようにコンパレータ9の出力はハイレベルになる。ディレイ回路140は、たとえば5μs程度の遅延時間tdを有し、しかもこの遅延時間tdの間継続して同一の論理となる場合に、遅延時間td後にその論理を出力するように形成される。したがって、(c)に示すように、時刻t10から遅延時間td経過後に、ディレイ回路140の出力はハイレベルになり、破線で示すように、最小時間tminとして、遅延時間tdと同一の時間はハイレベルを続ける。時刻t10から時刻t11までの時間が遅延時間tdよりも長ければ、時刻t11から遅延時間td経過後の時刻にディレイ回路140の出力はローレベルに変化する。
以上のように、腐食防止装置101では、複数の接点の各接点毎に入力信号ライン4が接続されるチャネルが備えられる。過熱検知手段107は、いずれかのチャネルの入力信号ライン4に腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっているか否かを検知する。腐食防止電流が流れないときには、発熱はほとんどないので、過熱状態にはならない。処理手段109は、過熱検知手段107の検知結果に応答し、過熱検知手段107によって過熱状態が検知されるときに、腐食防止電流を流しているチャネルの低インピーダンス手段であるスイッチング素子12,143が該腐食防止電流を流す動作を禁止するように制御する動作禁止手段として機能する。制御手段109は、各チャネル毎に腐食防止電流が流れているか否かを検知する機能と、過熱検知信号を、腐食防止電流が流れているチャネルのみハイレベルにする機能とを備えている。腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には、その腐食防止電流が流れないようにして、発熱を低減するための保護動作を行い、かつ他の接点については腐食防止機能が無効になるのを防ぐことができる。
また、異常判定手段108は、各低インピーダンス手段のスイッチング素子12,13,143を能動化する制御信号や電源106から各入力信号ライン4に流れる腐食防止電流を監視し、複数の入力信号ライン4で、腐食防止電流が流れる期間のうちの少なくとも一部が重複すると異常と判定する。本来、腐食防止電流の通電頻度は低いので、頻繁に複数の接点で腐食防止電流が重複して流れることはないはずである。接点異常時は複数の接点に対する腐食防止動作がそれぞれ独立して行われ、時間的に重複する可能性がある。異常判定手段は、各低インピーダンス手段への能動化信号や各入力信号ラインに流れる腐食防止電流を監視し、複数の入力信号ラインで、腐食防止電流が流れる期間のうちの少なくとも一部が重複すると異常と判定するので、接点の異常判定を容易に行うことができる。
本発明の実施の第1形態である接点腐食防止装置1の概略的な電気的構成を示すブロック図である。 本発明の実施の第2形態である接点腐食防止装置21の概略的な電気的構成を示すブロック図である。 本発明の実施の第3形態である接点腐食防止装置31の概略的な電気的構成を示すブロック図である。 本発明の実施の第4形態である接点腐食防止装置41の概略的な電気的構成を示すブロック図である。 本発明の実施の第5形態である接点腐食防止装置51の概略的な電気的構成を示すブロック図である。 図5の入力信号ライン4の電位変化の例、対応するコンパレータ9、論理判定結果、およびOR回路52の論理出力の変化をそれぞれ示すタイムチャートである。 本発明の実施の第6形態である接点腐食防止装置61の概略的な電気的構成を示すブロック図である。 本発明の実施の第7形態である接点腐食防止装置101の概略的な電気的構成を示すブロック図である。 図8の入力回路ブロック102Aに含まれる腐食防止装置102Axの概略的な電気的構成を示すブロック図である。 図8の入力回路ブロック102Bに含まれる腐食防止装置102Bxの概略的な電気的構成を示すブロック図である。 図8の入力回路ブロック102Cに含まれる腐食防止装置102Cxの概略的な電気的構成を示すブロック図である。 図11の腐食防止装置102Cxの機能を示す図表である。 図9〜図11のディレイ回路140の動作を示すタイムチャートである。
符号の説明
1,21,31,41,51,61,101,102Ax,102Bx,102Cx 腐食防止装置
2,158,159,161,162 スイッチ
3 接点
4 入力信号ライン
6,106 電源
7 低インピーダンス手段
8,14,16,17,22,144,163,164 抵抗
9 コンパレータ
10,160 基準電位源
11,32 過熱検知手段
12,13,23,143 スイッチング素子
15 切換スイッチ
33 電流制限手段
42 正温度特性抵抗素子
140 ディレイ回路

Claims (11)

  1. 接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
    入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
    入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
    入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
    入力信号ラインに腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっているか否かを検知する過熱検知手段を含み、
    低インピーダンス手段は、過熱検知手段の検知結果に応答し、該過熱状態が検知されるとき、能動化される期間に、入力信号ラインから接点に流れる腐食防止電流を低減させることを特徴とする接点腐食防止装置。
  2. 接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
    入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
    入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
    入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを、
    複数の接点の各接点毎に備える接点腐食防止装置において、
    いずれかの入力信号ラインに腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっているか否かを検知する過熱検知手段と、
    過熱検知手段の検知結果に応答し、過熱検知手段によって過熱状態が検知されるときに、腐食防止電流を流している低インピーダンス手段が該腐食防止電流を流す動作を禁止するように制御する動作禁止手段とを、
    含むことを特徴とする接点腐食防止装置。
  3. 接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
    入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
    入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
    入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
    入力信号ラインに腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっているか否かを検知する過熱検知手段を含み、
    比較手段は、過熱検知手段の検知結果に応答し、該過熱状態が検知されるとき、該所定電位を、腐食の非判定側に変更することを特徴とする接点腐食防止装置。
  4. 接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
    入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
    入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
    入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
    入力信号ラインに腐食防止電流を供給し、供給する腐食防止電流を、温度上昇時に制限するような温度特性を有する電流供給手段を含むことを特徴とする接点腐食防止装置。
  5. 接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
    入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
    入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
    入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
    入力信号ラインに腐食防止電流を流す供給経路に直列に挿入され、温度上昇時に抵抗値が上昇するような正温度特性を有する抵抗素子を含むことを特徴とする接点腐食防止装置。
  6. 接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
    入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
    入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
    入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
    入力信号ラインの電位が、比較手段の所定電位を、接点の接触抵抗の増に対応する電位の変化方向側に越える量に応じて、異常か否かを判定する異常判定手段と、
    異常判定手段の判定結果に応答し、入力信号ラインの電位が異常と判定される期間が予め定める時間継続すると、予め定める保護処理を行う異常保護手段とを、
    含むことを特徴とする接点腐食防止装置。
  7. 前記比較手段の所定電位は、入力信号ラインの電位を論理判定するスレッショルドレベルに対して異なる電位で、かつ接点の接触抵抗の減に対応する電位の変化方向側に設定されており、
    前記異常判定手段は、比較手段の判定結果と、前記入力信号ラインが入力側に接続される論理回路による論理判定結果とに基づいて、前記異常か否かの判定を行うことを特徴とする請求項6記載の接点腐食防止装置。
  8. 前記入力信号ラインの電位をアナログ/デジタル変換して監視するアナログ/デジタル変換手段を含み、
    前記比較手段または前記異常判定手段のうちの少なくとも一方は、アナログ/デジタル変換手段が監視する電位のデジタル変換値に基づいて、前記判定を行うことを特徴とする請求項6または7のいずれかに記載の接点腐食防止装置。
  9. 前記異常保護手段は、前記保護処理として、前記入力信号ラインのインピーダンスを、前記低インピーダンス手段が能動化される状態よりも低くすることを特徴とする請求項6〜8のいずれか1つに記載の接点腐食防止装置。
  10. 前記異常保護手段は、前記保護処理として、外部に接点の異常信号を出力することを特徴とする請求項6〜9のいずれか1つに記載の接点腐食防止装置。
  11. 接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
    入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
    入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
    入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを、
    複数の接点の各接点毎に備える接点腐食防止装置において、
    該複数のうちの2以上の入力信号ラインで腐食防止電流が流れる期間のうちの少なくとも一部が重複すると、異常と判定する異常判定手段を、
    含むことを特徴とする接点腐食防止装置。
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